JPS63308590A

JPS63308590A - 汚染形態判別装置

Info

Publication number: JPS63308590A
Application number: JP62144791A
Authority: JP
Inventors: Jiro Sakurai; 次郎櫻井; Masaki Yoda; 正樹依田; Tetsuo Goto; 哲夫後藤; Hiroaki Kato; 裕明加藤
Original assignee: Toshiba Corp; Nippon Atomic Industry Group Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Nippon Atomic Industry Group Co Ltd
Priority date: 1987-06-10
Filing date: 1987-06-10
Publication date: 1988-12-15
Anticipated expiration: 2011-12-11
Also published as: JP2563341B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的コ（産業上の利用分野）本発明は、原子力発電所等の放射性物質取扱施設から発
生する放射性廃棄物が、表面汚染物であるか放射化物で
あるかを判別するための装置に関する。

（従来の技術）一般に、原子力発電所等の放射性物質取扱施設から発生
する放射性廃棄物には、表面汚染物と放射化物とがある
。これらの放射性廃棄物のうち表面汚染物については、
酸、合成洗剤等を用いた化学除染、あるいはサンドブラ
スト、ペースト状除去剤等を用いた機械除染等により放
射性物質を除去した後、通常の廃棄物として処理するこ
とができる。一方、放射化物については、上述した除染
等を施してもいたずらに２次汚染あるいは２次廃棄物を
発生させるのみで、放射性物質を除去することは不可能
であるなめ、減容処理等を行った後、放射性廃棄物貯蔵
庫等に保管する必要がある。

従来、放射性廃棄物か表面汚染物であるか放射化物であ
るかを判別する方法としては、対象となる放射性廃棄物
の発生場所から推測する方法がある。

〈発明が解決しようとする問題点）しかしながら、上述の従来の方法では、表面汚染物と放
射化物を正確に判別することが困難である。したかって
、たとえば放射化物か誤って表面汚染物として処理され
、２次汚染あるいは２次廃棄物を発生させる可能性があ
る。一方このような問題を避けるために、たとえば放射
性廃棄物を全て放射化物として処理すると、その処理量
は膨大となり、放射性廃棄物貯蔵スペースの確保か困難
になるという問題が発生する。

本発明は、このような問題点を解決するためになされた
ものであり、放射性廃棄物の汚染形態が表面汚染物であ
るか放射化物であるかを正確に判別することのできる、
汚染形態判別装置を提供することを目的とする。

［発明の構成］（問題点を解決するだめの手段）すなわち本発明の汚染形態判別装置は、被測定物が配置
可能な間隔を設けて対向配置されそれぞれβ線検出器お
よびγ線検出器を有する少なくとも１対の放射線測定手
段と、これらの放射線測定手段により測定されたβ線測
定値とγ線測定値の比をそれぞれの放射線測定手段ごと
に算出し、これらの比の差を基準値と比較して、前記放
射線測定手段の間に配置された被測定物が表面汚染物で
あるか放射化物であるかを判別する演算手段とを有する
ことを特徴とする。

（作　用）本発明の汚染形態判別装置においては、対向配置された
放射線測定手段によりこれらの放射線測定手段の間に配
置された被測定物から放出されるβ線およびγ線を測定
する。この測定結果は演算手段へ送られ、演算手段は、
放射線測定手段ごとのβ線測定値とγ線測定値の比を算
出し、対向する放射線測定手段で測定されたβ線測定値
とγ線測定値の比の差を算出し基準値と比較する。

ここで、β線はγ線に比べて透過力が小さくかつ自己吸
収が大きいため、被測定物か表面汚染物の場合には、汚
染面側の放射線測定手段で測定されたβ線測定値とγ線
測定値の比と、非汚染面側の放射線測定手段で測定され
たβ線測定値とγ線測定値の比との間には、大きな差が
生じる。これに対し被測定物が放射化物の場合には、放
射性廃棄物内部まで一様に汚染しているため、対向する
放射線測定部で測定されたβ線測定値とγ線測定値の比
は、はぼ等しくなる。

したがって、演算手段は、被測定物が配置可能な間隔を
設けて対向配置された少なくとも１対の放射線測定手段
から得られたβ線測定値とγ線測定値の比の差を基準値
と比較し、これらの差が基準値より大きければ表面汚染
物、基準値以下であれば放射化物であると判別する。

また同時に、表面汚染の際の汚染面をも同定することが
できる。

（実施例）次に本発明の実施例について図を用いて説明する。

第１図は、本発明の汚染形態判別装置の一実施例の概略
図である。

この実施例の汚染形態判別装置は、主に、被測定物１が
配置可能な間隔を設けて対向配置された２対の放射線測
定手段２ａ、２ｂおよび２ｃ。

２ｄと、測定されたβ線測定値およびγ線測定値の比を
放射線測定手段２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄごとに算出し、
対向する放射線測定手段２ａ、２ｂおよび２ｃ、２ｄ″
Ｃ″得られたこの比の差を基準値と比較することにより
、この被測定物１が表面汚染物であるか放射化物である
かを判別する演算手段３とから構成されている。

なお、放射線測定手段２ａ〜２ｄは、それぞれたとえば
カスフローカウンタ等からなるβ線検出器４ａ〜４ｄと
、これらのβ線検出器４ａ〜４ｄの外側に配置された、
たとえばプラスチックシンチレーションカウンタ等から
なるγ線検出器５ａ〜５ｄを備えている。また、これら
β線検出器４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄとγ線検出器５ａ、
５ｂ。

５ｃ、５ｄとの間には、いずれもγ線検出器５ａ。

５ｂ、５ｃ、５ｄかβ線により感応するのを防ぐため、
アルミニウム製の境界板６　ａ　＋　６　ｂ　ｙ　６ｃ
　。

６ｄが設けられている。

そして、この汚染形態判別装置により被測定物１の汚染
形態を判別するに際しては、第１図に示ずように、まず
、移送ライン７により送られた被測定物１から放出され
るβ線およびγ線を、放射線測定手段２ａ、２ｂ、２ｃ
、２ｄ上のβ線検出器４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄおよびγ
線検出器５ａ。

５ｂ、５ｃ、５ｄによりそれぞれ測定する。次に、この
測定結果は演算手段３へ送られ、演算手段３は、放射線
測定手段２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄごとのβ線測定値とγ
線測定値の比を算出し、対向する放射線測定手段２ａ、
２ｂおよび２ｃ、２ｄで得られた比の差を算出し、基準
値と比較する。すなわち、対向する放射線測定手段２ａ
、２ｂおよび２ｃ、２ｄ″Ｃ″得られたβ線測定値とγ
線測定値の比の差７の絶対値か基準値より大きければ表
面汚染物、基準値以下であれば放射化物であると判別す
る。

このときの汚染形態の判別原理を、第２図、第３図およ
び第４図により説明する。

第２図は、表面汚染物８の汚染面９側とそれに対向する
非汚染面１０側で、それぞれβ線およびγ線を測定した
場合を示す概略図である。

この図において、汚染面９側の放射線測定手段１１ａで
得られたβ線測定値とγ線測定値の比は、非汚染面１０
側の放射線測定手段１１ｂ”ｅ得られたβ線測定値とγ
線測定値の比より大きくなる。

これは、β線の透過力はγ線に比べて小さく、かつ自己
吸収が大きいため、非汚染面１０側の放射線測定手段１
１ｂではβ線がほとんど検出されないなめである。

したかって、これらの比の差の絶対値も大きくなる。

第３図は、放射化物１２の上面１３側と下面１４側で、
それぞれβ線およびγ線を測定した場合を示す概略図で
ある。

この図において、上面１３側の放射線測定手段１５ａで
得られたβ線測定値とγ線測定値の比と、下面１４側の
放射線測定手段１５ｂで得られたβ線測定値とγ線測定
値の比は、近似した値をとる。

これは、放射化物１２中では放射性物質がほとんど均一
に分布しているなめ、放射線測定手段１５ａおよび１５
ｂのどちらでも、はぼ同量のβ線およびγ線が測定され
るためである。

したがって、これらの比の差の絶対値は小さくなる。

第４図は、対向配置された放射線測定手段で得られたβ
線測定値とγ線測定値の比の差を、グラフ上に表した例
を示すものである。

このグラフにおいて、対向配置された１対の放射線測定
手段で得られたβ線測定値とγ線測定値の比の一方をｘ
Ｉ、他方を、ＹＩとしたとき、これらの比の差の絶対値
Ｉｘ＋ｙ＋ｌが小さければ、たとえば座標成分（ｘＩ　
＋　ｙＩ　）で表される点Ａのように、直線ｙ＝ｘ上ま
たはその近傍に示される。これに対し、ｌｘ＋　−ｙＩ
　１が大きければ、たとえば座標成分（Ｘ２　、　ｙ２
　）で表される点Ｂのように、直線ｙ＝ｘから離れた位
置に示される。

したかって、たとえば放射化物はグラフ中、斜線部で示
す領域Ｘ中に含まれる点として表すことができる。この
領域Ｘは、被測定物の形状、材質、検出器の検出効率等
により変化するが、領域Ｘの境界部が基準値となる。

＝　９　＝演算手段３はこの原理に基づき、被測定物１が表面汚染
物であるか放射化物であるかを判別する。

なおこれらの判別は、放射線測定手段２ａ。

２ｂおよび２ｃ、２ｄごとに行い、両方の判別結果から
被測定物質１の判別を行う。また、表面汚染物であった
場合、β線測定値とγ線測定値の比が最も大きい面が汚
染面である。

なお、本発明の汚染形態判別装置は第１図に示した実施
例に限定されるものではなく、例えば、β線検出器、γ
線検出器、境界板等は同様の機能を有するものであれば
、いかなるものを用いてもよい。また、放射線測定手段
は必ずしも２対である必要はなく、１対の放射線測定手
段により異なる２対向面以上を測定するようにしてもよ
いし、３対以−Ｆ用いてもよい。

さらに、各放射線測定手段と被測定物との距離は同一で
あることが望ましく、この調整は、各放射線測定手段に
距離センサを設置して自動測距により行う等いかなる方
法を用いてもよい。

「発明の効果」以上説明したように、本発明の汚染形態判別装置によれ
ば、放射性廃棄物の汚染形態が表面汚染物であるか放射
化物であるかを正確に判別することができる。これによ
り、表面汚染物に対しては除染工程、放射化物に対して
は圧縮減容等、それぞれ最適な工程を選択することがで
き、放射性廃棄物の処理コストおよび放射性廃棄物の貯
蔵スペースの低減並びに安全性の向上を図ることができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の汚染形態判別装置の一実施例の概略図
、第２図は表面汚染物の汚染面側とそれに対向する非汚
染面側から放出されるβ線およびγ線を測定した場合を
示す概略図、第３図は放射化物の上面側とそれに対向す
る下面側から放出されるβ線およびγ線を測定した場合
を示す概略図、第４図は対向配置された放射線測定手段
で得られたβ線測定値とγ線測定値の比の差を示すグラ
フである。１・・・・・・・・・・・・・・・被測定物３・・・・
・・・・・・・・・・・演算手段４ａ〜４ｄ・・・β線
検出器５ａ〜５ｄ・・・γ線検出器

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被測定物が配置可能な間隔を設けて対向配置され
それぞれβ線検出器およびγ線検出器を有する少なくと
も１対の放射線測定手段と、これらの放射線測定手段に
より測定されたβ線測定値とγ線測定値の比をそれぞれ
の放射線測定手段ごとに算出し、これらの比の差を基準
値と比較して、前記放射線測定手段の間に配置された被
測定物が表面汚染物であるか放射化物であるかを判別す
る演算手段とを有することを特徴とする汚染形態判別装
置。