JPS6333476U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係るＩＣテスターの要部であ
るハンドリング機構の送り出し部の外観図、第２
図は従来のＩＣテスターの一構成例を示す概略図
、第３図はそのＩＣ方向変換部の詳細を示す斜視
図、第４図は同部分を横方向から見た図、第５図
は第１図の―′より上部の詳細を示す図、第
６図は第５図のＢ部分の詳細を示す図、第７図は
テスター全体の外観図、第８図は第７図の―
線矢視図、第９図は第７図の―線矢視図、第
１０図は送りプレートのＩＣ検出孔を示す図であ
る。 図中、１……ＩＣマガジンケース、２……ＩＣ
マガジンセツト部、３……固定部、４……送り出
し部、５……ＩＣ測定部、６……ＩＣストツカー
、７……送り出し部。

補正 昭６２．５．２９ 図面の簡単な説明を次のように補正する。 明細書第１３頁第５行ないし第６行の「ＩＣス
トツカー」を「良品ＩＣストツカー部」と訂正す
る。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 ＩＣマガジンケースに収納されている単体のＩ
   ＣをＩＣテスト部にてテストし良否を判定するＩ
   Ｃテスターにおいて、 テストするＩＣを収納していたＩＣマガジンケ
   ースに良品のＩＣのみを返納する構成とし、該Ｉ
   Ｃマガジンケースを固定する固定部と、ＩＣをテ
   ストするテスト部と、良品のＩＣをストツクする
   ＩＣストツク部とを水平に配置して、ＩＣが直線
   移動するようにすると共に、 前記ＩＣマガジンケースからＩＣを送り出す送
   りプレート並びにＩＣストツク部から良品のＩＣ
   をＩＣマガジンケースへ返納する送りプレートを
   備え、 ２個の送りプレートは送り出した時はガイドの
   作用で真直になり、収納する時はバネの復帰力に
   より渦巻き状になる弾性体よりなる巻き込み式送
   りプレートであることを特徴とするＩＣテスター
   におけるハンドリング機構。