JPS6338655B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6338655B2 JPS6338655B2 JP12715779A JP12715779A JPS6338655B2 JP S6338655 B2 JPS6338655 B2 JP S6338655B2 JP 12715779 A JP12715779 A JP 12715779A JP 12715779 A JP12715779 A JP 12715779A JP S6338655 B2 JPS6338655 B2 JP S6338655B2
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- JP
- Japan
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- wavelength
- fiber
- light
- measuring
- phase difference
- Prior art date
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- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/338—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring dispersion other than PMD, e.g. chromatic dispersion
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光フアイバの材料分散特性の測定方法
に関するものである。光フアイバを構成するガラ
ス材料の屈折率は波長により異なるため、使用す
る光の波長によつてフアイバのベースバンド周波
数特性が異なる。こうした光フアイバの材料分散
特性を測定することはフアイバの構造設計を行な
う際に重要となる。
に関するものである。光フアイバを構成するガラ
ス材料の屈折率は波長により異なるため、使用す
る光の波長によつてフアイバのベースバンド周波
数特性が異なる。こうした光フアイバの材料分散
特性を測定することはフアイバの構造設計を行な
う際に重要となる。
本発明は光フアイバの分散のうち、材料分散の
効果だけを分離測定する高精度な測定方法を示す
ものである。以下、図を用いて本発明の詳細を説
明する。図において、１は波長可変光源、２は外
部変調器、３は電気信号発生器、４は分波器、５
および６は長さを異にする同じ光フアイバ、７お
よび８は検波器、９は位相差測定器を示す。
効果だけを分離測定する高精度な測定方法を示す
ものである。以下、図を用いて本発明の詳細を説
明する。図において、１は波長可変光源、２は外
部変調器、３は電気信号発生器、４は分波器、５
および６は長さを異にする同じ光フアイバ、７お
よび８は検波器、９は位相差測定器を示す。
さて、１よりの光は外部変調器３を通過する際
に電気信号発生器３よりの高周波信号によつて振
幅変調される。この変調された光はハーフ・ミラ
ーなどの分波器４によつて二つに分岐され、一方
はフアイバ５に、他方はフアイバ６に入射され、
それぞれ検波器７および８によつて電気信号に変
換される。これらの電気信号はベクトルボルトメ
ータなどの位相差測定器９によつて位相差が測定
される。
に電気信号発生器３よりの高周波信号によつて振
幅変調される。この変調された光はハーフ・ミラ
ーなどの分波器４によつて二つに分岐され、一方
はフアイバ５に、他方はフアイバ６に入射され、
それぞれ検波器７および８によつて電気信号に変
換される。これらの電気信号はベクトルボルトメ
ータなどの位相差測定器９によつて位相差が測定
される。
次に、１の光源の波長を少し変化させ、再び位
相差を測定する。以下、順次１の波長を変えるこ
とによつて、その波長に対する位相変化量が測定
される。
相差を測定する。以下、順次１の波長を変えるこ
とによつて、その波長に対する位相変化量が測定
される。
いま、電気信号発生器の変調周波数を（Hz）、
フアイバ５および６の長さをそれぞれL1，L2と
し、波長λiでの光フアイバの群屈折率をＮ（λi）
とする。
フアイバ５および６の長さをそれぞれL1，L2と
し、波長λiでの光フアイバの群屈折率をＮ（λi）
とする。
ただし、
Ｎ（λ）＝ｎ（λ）−λdn（λ）／dλ (1)
であり、ｎは屈折率、λは光の波長である。さ
て、位相差測定器９の位相量は、 Qi＝L1−L2／λｇ×360゜ (2) となる。ここに、 λｇ＝Ｃ／Ｎ（λi） (3) である。ここで、光の波長をλiからλjに変化させ
ると、相対位相量は、 θ1−θ2＝（L1−L2）・360゜／Ｃ ｛Ｎ（λi）−Ｎ（λj）｝ (4) となる。式(4)において、（L1−L2），，Ｃは既
知であるため、波長λiを固定してλjを順次変化さ
せた場合の位相変化量より群屈折率の変化量｛Ｎ
（λi）−Ｎ（λj）｝を知ることができる。例えば、λ
i
＝0.85μm，λj＝1.3μm，L1−L2＝1000ｍとする
と、代表的な光フアイバの場合、＝100MHzで、
約56゜の位相量が測定される。こうした測定結果
をもとに、測定波長に対応する各測定点を結んだ
曲線の変化率が材料分散となるわけである。
て、位相差測定器９の位相量は、 Qi＝L1−L2／λｇ×360゜ (2) となる。ここに、 λｇ＝Ｃ／Ｎ（λi） (3) である。ここで、光の波長をλiからλjに変化させ
ると、相対位相量は、 θ1−θ2＝（L1−L2）・360゜／Ｃ ｛Ｎ（λi）−Ｎ（λj）｝ (4) となる。式(4)において、（L1−L2），，Ｃは既
知であるため、波長λiを固定してλjを順次変化さ
せた場合の位相変化量より群屈折率の変化量｛Ｎ
（λi）−Ｎ（λj）｝を知ることができる。例えば、λ
i
＝0.85μm，λj＝1.3μm，L1−L2＝1000ｍとする
と、代表的な光フアイバの場合、＝100MHzで、
約56゜の位相量が測定される。こうした測定結果
をもとに、測定波長に対応する各測定点を結んだ
曲線の変化率が材料分散となるわけである。
以上示したように、本発明は単一の正弦波で振
幅変調された光を二分割して、それぞれの光を長
さの異なるフアイバに入射し、フアイバ伝搬後の
検波信号の位相差を、光の波長を変えて測定する
ことを特徴とする。本発明によれば、従来のパル
ス遅延時間差測定におけるようなフアイバ伝搬後
のパルス波形の歪の影響をなくすことができ、高
精度な測定が可能である。
幅変調された光を二分割して、それぞれの光を長
さの異なるフアイバに入射し、フアイバ伝搬後の
検波信号の位相差を、光の波長を変えて測定する
ことを特徴とする。本発明によれば、従来のパル
ス遅延時間差測定におけるようなフアイバ伝搬後
のパルス波形の歪の影響をなくすことができ、高
精度な測定が可能である。
図は本発明の測定方法をあらわすブロツク図を
示す。 図中、１は波長可変光源、２は外部変調器、３
は電気信号発生器、４は分波器、５および６は光
フアイバ、７および８は検波器、９は位相差測定
器を示す。
示す。 図中、１は波長可変光源、２は外部変調器、３
は電気信号発生器、４は分波器、５および６は光
フアイバ、７および８は検波器、９は位相差測定
器を示す。
Claims (1)
- １ 一定の周波数で振幅変調された光を二個に分
岐し、これらの光を長さの異なる二個のフアイバ
に入射し、該フアイバを伝搬した光の検波信号の
位相差を、前記の光の波長を順次変えながら測定
し、各波長に対する各測定値の変化率を求めるこ
とを特徴とするフアイバの材料分散特性測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12715779A JPS5651636A (en) | 1979-10-01 | 1979-10-01 | Measuring method for material dispersion characteristic of fiber |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12715779A JPS5651636A (en) | 1979-10-01 | 1979-10-01 | Measuring method for material dispersion characteristic of fiber |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5651636A JPS5651636A (en) | 1981-05-09 |
| JPS6338655B2 true JPS6338655B2 (ja) | 1988-08-01 |
Family
ID=14953039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12715779A Granted JPS5651636A (en) | 1979-10-01 | 1979-10-01 | Measuring method for material dispersion characteristic of fiber |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5651636A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6073333A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバ分散測定法 |
| JPS6352034A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一モ−ド光フアイバの測定方法および装置 |
| FR2689632B1 (fr) * | 1992-04-02 | 1997-09-19 | Thomson Csf | Detecteur a fibre optique de contraintes. |
| JP3388227B2 (ja) * | 1999-11-05 | 2003-03-17 | 独立行政法人通信総合研究所 | 光分散測定装置およびそれを用いた測定方法 |
| WO2011042911A2 (en) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Hitesh Mehta | Method and apparatus for demonstration and determination of material dispersion in optical fiber |
-
1979
- 1979-10-01 JP JP12715779A patent/JPS5651636A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5651636A (en) | 1981-05-09 |
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