JPS6341004B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6341004B2 JPS6341004B2 JP55004228A JP422880A JPS6341004B2 JP S6341004 B2 JPS6341004 B2 JP S6341004B2 JP 55004228 A JP55004228 A JP 55004228A JP 422880 A JP422880 A JP 422880A JP S6341004 B2 JPS6341004 B2 JP S6341004B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- data
- crt
- sweep
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Indicating Measured Values (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアナログ信号波形をモニタする際に用
いて好適なデータ表示方法に関する。
いて好適なデータ表示方法に関する。
従来質量分析装置にはモニタ用のオシロスコー
プが付属されており、該オシロスコープにより磁
場掃引に伴なつて得られるマススペクトル信号を
モニタすることが行われている。ところがこの様
なオシロスコープでは掃引時間が長いと先に表示
した波形が消えてしまうし、掃引時間が固定の時
は良いが任意に変えられる場合オシロスコープの
掃引信号を作成することが困難になる等の問題が
あつた。又近時質量分析装置にはコンピユータを
用いてデータ処理を行う処理装置が付属されるこ
とが多く、この処理装置を用いてスペクトルをモ
ニタすることは可能であるが、データ転送時間の
遅れでリアルタイムにはならないし、高価な処理
装置を購入しなければならない。
プが付属されており、該オシロスコープにより磁
場掃引に伴なつて得られるマススペクトル信号を
モニタすることが行われている。ところがこの様
なオシロスコープでは掃引時間が長いと先に表示
した波形が消えてしまうし、掃引時間が固定の時
は良いが任意に変えられる場合オシロスコープの
掃引信号を作成することが困難になる等の問題が
あつた。又近時質量分析装置にはコンピユータを
用いてデータ処理を行う処理装置が付属されるこ
とが多く、この処理装置を用いてスペクトルをモ
ニタすることは可能であるが、データ転送時間の
遅れでリアルタイムにはならないし、高価な処理
装置を購入しなければならない。
本発明は上述した点に鑑みてなされたものであ
り、簡単な構成で信号波形をリアルタイムでモニ
タすることのできるデータ表示方法を提供するこ
とを目的とする。以下図面を用いて本発明を詳説
する。
り、簡単な構成で信号波形をリアルタイムでモニ
タすることのできるデータ表示方法を提供するこ
とを目的とする。以下図面を用いて本発明を詳説
する。
第１図は本発明にかかる方法を実施するための
装置の一例を示し、同図において１は質量分析装
置である。該質量分析装置は例えば分析磁場を掃
引することによりマススペクトルを測定し、得ら
れるスペクトル信号ａはＡ−Ｄ変換器２を介して
デジタルピークホールド回路３へ送られる。又上
記質量分析装置１は掃引期間“１”となりその他
の期間“０”となる掃引状態信号ｂを発し、該信
号ｂは直接又はズーム回路４を介してANDゲー
ト５へ送られる。６はそのための切換スイツチで
ある。該ANDゲート５には発振器７から発生す
る前記Ａ−Ｄ変換器２用のサンプリングクロツク
パルスも供給されており、該クロツクパルスは掃
引期間の間切換スイツチ８を介してカウンタ９又
は分周比可変の分周回路１０へ送られる。該分周
回路１０の分周比は上記カウンタ９のカウント値
をラスタ数信号発生器１１の出力で割つた値を求
める割算回路１２の出力によつて設定されると共
に、その分周出力は前記ピークホールド回路３へ
リセツト信号として送られると共に、書込み指令
信号として後述するメモリ１５へ送られる。
装置の一例を示し、同図において１は質量分析装
置である。該質量分析装置は例えば分析磁場を掃
引することによりマススペクトルを測定し、得ら
れるスペクトル信号ａはＡ−Ｄ変換器２を介して
デジタルピークホールド回路３へ送られる。又上
記質量分析装置１は掃引期間“１”となりその他
の期間“０”となる掃引状態信号ｂを発し、該信
号ｂは直接又はズーム回路４を介してANDゲー
ト５へ送られる。６はそのための切換スイツチで
ある。該ANDゲート５には発振器７から発生す
る前記Ａ−Ｄ変換器２用のサンプリングクロツク
パルスも供給されており、該クロツクパルスは掃
引期間の間切換スイツチ８を介してカウンタ９又
は分周比可変の分周回路１０へ送られる。該分周
回路１０の分周比は上記カウンタ９のカウント値
をラスタ数信号発生器１１の出力で割つた値を求
める割算回路１２の出力によつて設定されると共
に、その分周出力は前記ピークホールド回路３へ
リセツト信号として送られると共に、書込み指令
信号として後述するメモリ１５へ送られる。
１３は波形表示用陰極線管CRT、１４はCRT
制御装置、１５はCRT１３に表示するデータを
記憶するメモリである。そして上記CRT制御装
置１４はCRT１３を縦方向にラスタ走査すると
共にマルチプレクス回路１６を介してメモリ１５
へ読出し指令信号を送つて記憶データを順次読出
してCRT画面に輝点として表示する。上記メモ
リ１５へは前記ピークホールド回路３からリセツ
ト信号毎にその時のホールド値が記憶データとし
て送られ、そのデータの記憶番地指定は上記リセ
ツト信号をカウントするカウンタ１７の出力を
CRTの帰線期間に前記マルチプレクス回路１６
を介してメモリ１５へ送ることにより行われる。
制御装置、１５はCRT１３に表示するデータを
記憶するメモリである。そして上記CRT制御装
置１４はCRT１３を縦方向にラスタ走査すると
共にマルチプレクス回路１６を介してメモリ１５
へ読出し指令信号を送つて記憶データを順次読出
してCRT画面に輝点として表示する。上記メモ
リ１５へは前記ピークホールド回路３からリセツ
ト信号毎にその時のホールド値が記憶データとし
て送られ、そのデータの記憶番地指定は上記リセ
ツト信号をカウントするカウンタ１７の出力を
CRTの帰線期間に前記マルチプレクス回路１６
を介してメモリ１５へ送ることにより行われる。
上述の如き構成においてCRT１３には縦方向
ラスタ走査により例えば第２図に示す様に384本
のラスタが描かれると共に、各ラスタ毎に１点の
輝点が表示され、各輝点の連なりにより波形表示
が行われる。即ちメモリ１５は１本目から384本
目までの各ラスタ毎の輝点の位置を示すデータ
（例えば８ビツト）を記憶するための０番地から
383番地までの記憶領域を有しており、CRT制御
装置１４はラスタ走査に同期してその０番地から
383番地までのデータを順次繰返し読出し、各ラ
スタ毎にそのデータ値に応じた位置で輝度を上昇
させて輝点を表示する。
ラスタ走査により例えば第２図に示す様に384本
のラスタが描かれると共に、各ラスタ毎に１点の
輝点が表示され、各輝点の連なりにより波形表示
が行われる。即ちメモリ１５は１本目から384本
目までの各ラスタ毎の輝点の位置を示すデータ
（例えば８ビツト）を記憶するための０番地から
383番地までの記憶領域を有しており、CRT制御
装置１４はラスタ走査に同期してその０番地から
383番地までのデータを順次繰返し読出し、各ラ
スタ毎にそのデータ値に応じた位置で輝度を上昇
させて輝点を表示する。
次にメモリ１５へデータを格納する手順につい
て説明する。質量分析装置１は第３図ａに示す様
な掃引信号に基づいて分析磁場を繰返し掃引し、
その掃引期間毎に第３図ｂに示す様なスペクトル
信号ａを得る。そして該スペクトル信号はＡ−Ｄ
変換器２によつて十分短い周期でサンプリングさ
れデジタル信号に変換されてピークホールド回路
３に送られる。この時掃引期間内のサンプリング
データ数が例えばラスタ数384の４倍即ち1536で
あつたとすれば、分周器１０の分周比は１／４に設 定される。従つて該分周器１０からはサンプリン
グデータ４個毎に１個の分周出力信号が発生し、
該出力信号はピークホールド回路３へリセツト信
号として、メモリ１５へ書込み指令信号として
夫々送られる。該リセツト信号に基づいてピーク
ホールド回路３は、リセツト時にホールドされて
いるサンプリングデータ（４個のサンプリングデ
ータの内の最大値）を、書込み指令信号によつて
その時だけ書込み状態になつているメモリ１５へ
送る。一方、カウンタ１７は上記リセツト信号を
０から383まで（CRTのラスタ数に対応）カウン
トしており、そのカウント値はCRT制御装置１
４からの読取り指令信号が存在しない期間例えば
帰線期間毎にメモリ１５へ書込み番地指令信号と
して送られるため、該メモリ１５には各掃引期間
毎に得られるスペクトル信号データが順次置換え
られながら記憶される。従つて該メモリ１５のデ
ータを読出して表示するCRT１３の画面には掃
引に従つて得られるスペクトル波形がリアルタイ
ムで表示されることとなる。この様に得られる４
個のデータ中の最大のものを採用するためピーク
の見落しを少なくすることができる。
て説明する。質量分析装置１は第３図ａに示す様
な掃引信号に基づいて分析磁場を繰返し掃引し、
その掃引期間毎に第３図ｂに示す様なスペクトル
信号ａを得る。そして該スペクトル信号はＡ−Ｄ
変換器２によつて十分短い周期でサンプリングさ
れデジタル信号に変換されてピークホールド回路
３に送られる。この時掃引期間内のサンプリング
データ数が例えばラスタ数384の４倍即ち1536で
あつたとすれば、分周器１０の分周比は１／４に設 定される。従つて該分周器１０からはサンプリン
グデータ４個毎に１個の分周出力信号が発生し、
該出力信号はピークホールド回路３へリセツト信
号として、メモリ１５へ書込み指令信号として
夫々送られる。該リセツト信号に基づいてピーク
ホールド回路３は、リセツト時にホールドされて
いるサンプリングデータ（４個のサンプリングデ
ータの内の最大値）を、書込み指令信号によつて
その時だけ書込み状態になつているメモリ１５へ
送る。一方、カウンタ１７は上記リセツト信号を
０から383まで（CRTのラスタ数に対応）カウン
トしており、そのカウント値はCRT制御装置１
４からの読取り指令信号が存在しない期間例えば
帰線期間毎にメモリ１５へ書込み番地指令信号と
して送られるため、該メモリ１５には各掃引期間
毎に得られるスペクトル信号データが順次置換え
られながら記憶される。従つて該メモリ１５のデ
ータを読出して表示するCRT１３の画面には掃
引に従つて得られるスペクトル波形がリアルタイ
ムで表示されることとなる。この様に得られる４
個のデータ中の最大のものを採用するためピーク
の見落しを少なくすることができる。
尚分周器１０の分周比は最初の掃引期間の間の
み切換スイツチ８をカウンタ９側に倒し、該掃引
期間中のサンプリングクロツクパルス数換言すれ
ばサンプリングデータ数をカウンタ９でカウント
し、得られたカウント値1536を割算回路１２にお
いてラスタ数信号発生器１１の出力384で割つて
得た“４”を分周器１０へ送ることにより設定す
ることができる。そのため第１回の掃引期間には
波形表示が行われないが、掃引は繰返し行われる
ので全く問題とならない。
み切換スイツチ８をカウンタ９側に倒し、該掃引
期間中のサンプリングクロツクパルス数換言すれ
ばサンプリングデータ数をカウンタ９でカウント
し、得られたカウント値1536を割算回路１２にお
いてラスタ数信号発生器１１の出力384で割つて
得た“４”を分周器１０へ送ることにより設定す
ることができる。そのため第１回の掃引期間には
波形表示が行われないが、掃引は繰返し行われる
ので全く問題とならない。
又、本実施例ではズーム回路４を付属させてあ
るのでスペクトルの任意部分の拡大表示を容易に
行うことができる。即ちズーム回路４はパルス巾
可変のワンシヨツト回路を複数組合わせることに
より、第３図ｄに示す様に掃引期間中の任意の位
置に任意の巾ｔを持つパルスを作成し、ANDゲ
ート５へ送るため、その期間ｔの間に得られるス
ペクトル信号がメモリ１５へ書込まれることにな
り、それを読出してCRTに波形表示すれば、そ
の期間ｔに得られるスペクトル信号が第４図ａに
示すようにCRT画面の横幅一杯に拡大表示され
ることになる。第４図ｂはズーム回路４を使用し
ない場合にCRTに表示される掃引範囲全域のス
ペクトル波形を示し、当然ながら、第３図ｂに示
されているスペクトル信号ａに対応している。
尚、期間ｔの幅と掃引期間中の位置を変化させる
ことにより、掃引範囲中の任意の範囲を拡大表示
することが可能であることは言うまでもない。
るのでスペクトルの任意部分の拡大表示を容易に
行うことができる。即ちズーム回路４はパルス巾
可変のワンシヨツト回路を複数組合わせることに
より、第３図ｄに示す様に掃引期間中の任意の位
置に任意の巾ｔを持つパルスを作成し、ANDゲ
ート５へ送るため、その期間ｔの間に得られるス
ペクトル信号がメモリ１５へ書込まれることにな
り、それを読出してCRTに波形表示すれば、そ
の期間ｔに得られるスペクトル信号が第４図ａに
示すようにCRT画面の横幅一杯に拡大表示され
ることになる。第４図ｂはズーム回路４を使用し
ない場合にCRTに表示される掃引範囲全域のス
ペクトル波形を示し、当然ながら、第３図ｂに示
されているスペクトル信号ａに対応している。
尚、期間ｔの幅と掃引期間中の位置を変化させる
ことにより、掃引範囲中の任意の範囲を拡大表示
することが可能であることは言うまでもない。
以上詳述した如く本発明によれば掃引中リアル
タイムでCRTに波形表示できるので遅れがなく
高速掃引時に有効であり、デジタル化されたデー
タが表示されているので保持が容易であり、掃引
時間が長い時でも又有効である。更にオシロスコ
ープの様に掃引信号が必要でなく掃引状態信号が
与えられれば良いため構成が簡単となる等の効果
をも有する。
タイムでCRTに波形表示できるので遅れがなく
高速掃引時に有効であり、デジタル化されたデー
タが表示されているので保持が容易であり、掃引
時間が長い時でも又有効である。更にオシロスコ
ープの様に掃引信号が必要でなく掃引状態信号が
与えられれば良いため構成が簡単となる等の効果
をも有する。
尚上記実施例で示した各構成要素の働きをコン
ピユータのプログラムで行うようにすることも可
能であり、そうすればＡ−Ｄ変換器２以降の構成
をコンピユータに置きかえることができ、簡単な
構成となる。
ピユータのプログラムで行うようにすることも可
能であり、そうすればＡ−Ｄ変換器２以降の構成
をコンピユータに置きかえることができ、簡単な
構成となる。
第１図は本発明にかかる方法を実施するための
装置の一例を示す構成図、第２図はCRTの表示
状態を示す図、第３図は実施例の動作を説明する
ための波形図、第４図はCRTに表示されるスペ
クトル波形を示す図である。 １：質量分析装置、２：Ａ−Ｄ変換器、３：デ
ジタルピークホールド回路、４：ズーム回路、
５：ANDゲート、６，８：切換スイツチ、７：
発振器、９，１７：カウンタ、１０：分周器、１
１：ラスタ数信号発生器、１２：割算回路、１
３：CRT、１４：CRT制御装置、１５：メモ
リ。
装置の一例を示す構成図、第２図はCRTの表示
状態を示す図、第３図は実施例の動作を説明する
ための波形図、第４図はCRTに表示されるスペ
クトル波形を示す図である。 １：質量分析装置、２：Ａ−Ｄ変換器、３：デ
ジタルピークホールド回路、４：ズーム回路、
５：ANDゲート、６，８：切換スイツチ、７：
発振器、９，１７：カウンタ、１０：分周器、１
１：ラスタ数信号発生器、１２：割算回路、１
３：CRT、１４：CRT制御装置、１５：メモ
リ。
Claims (1)
- １ 一定周期で定まつたラスタ走査を行う陰極線
管に、メモリ内に各走査線に対応して記憶された
データを順次送つて表示するデータ表示方法にお
いて、表示されるべき信号を一定周期でサンプリ
ングして順次得られるサンプリングデータから、
予め定められた個数毎の最大値を求め、該最大値
を前記メモリに順次格納するようにしたことを特
徴とするデータ表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP422880A JPS56101518A (en) | 1980-01-18 | 1980-01-18 | Data indicating method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP422880A JPS56101518A (en) | 1980-01-18 | 1980-01-18 | Data indicating method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56101518A JPS56101518A (en) | 1981-08-14 |
| JPS6341004B2 true JPS6341004B2 (ja) | 1988-08-15 |
Family
ID=11578706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP422880A Granted JPS56101518A (en) | 1980-01-18 | 1980-01-18 | Data indicating method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56101518A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60190809A (ja) * | 1984-03-10 | 1985-09-28 | Trio Kenwood Corp | アナログ信号レベル測定装置 |
| DE3412115A1 (de) * | 1984-03-31 | 1985-10-03 | Barmag Barmer Maschinenfabrik Ag, 5630 Remscheid | Verfahren zur zentralen erfassung von messwerten einer vielzahl von messstellen |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS599615B2 (ja) * | 1974-09-25 | 1984-03-03 | 株式会社リケン | 超塑性を有する強靭球状黒鉛鋳鉄及び熱処理方法 |
| JPS5211544A (en) * | 1975-07-16 | 1977-01-28 | Shiyuuzou Miki | External transmission for bicycle |
| FR2381313A2 (fr) * | 1975-12-31 | 1978-09-15 | Labo Electronique Physique | Enregistrement et visualisation de signaux |
| US4271486A (en) * | 1979-07-30 | 1981-06-02 | Tektronix, Inc. | Waveform storage system |
-
1980
- 1980-01-18 JP JP422880A patent/JPS56101518A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56101518A (en) | 1981-08-14 |
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