JPS634379A - パタ−ンマツチング装置 - Google Patents
パタ−ンマツチング装置Info
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- JPS634379A JPS634379A JP61146786A JP14678686A JPS634379A JP S634379 A JPS634379 A JP S634379A JP 61146786 A JP61146786 A JP 61146786A JP 14678686 A JP14678686 A JP 14678686A JP S634379 A JPS634379 A JP S634379A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、パターンマツチング装置に関する。
(従来の技術)
従来のパターンマツチング装置は、基準パターンと比較
パターンとを記憶する画像メモリと、両メモリの濃淡に
基いて両画像の相互相関係数(実施例中の数式■〜■参
照)を演算するコンピュータ装置とを備えて構成され、
前記相n相関係数が斗分大ぎな値を示づことでパターン
マツチングを検出するものである。
パターンとを記憶する画像メモリと、両メモリの濃淡に
基いて両画像の相互相関係数(実施例中の数式■〜■参
照)を演算するコンピュータ装置とを備えて構成され、
前記相n相関係数が斗分大ぎな値を示づことでパターン
マツチングを検出するものである。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、従来のパターンマツチング装置は、両画
像メモリを、穫めて微細に形成されたi!ii素単位で
相互に移動させ、都度、前記相互11汲1係数を演算す
るような構成であったため、演弾処理に極めて多くの時
間を要することになるという問題点があった。
像メモリを、穫めて微細に形成されたi!ii素単位で
相互に移動させ、都度、前記相互11汲1係数を演算す
るような構成であったため、演弾処理に極めて多くの時
間を要することになるという問題点があった。
例えば、集積回路を走査型の電子顕微鏡で捉え、該顕微
鏡で得られたデジタル信号を画像メモリ上に記憶してパ
ターンマツチングしようとする場合、画像メモリの画素
数が多大となり、パターンマツチングに多くの時間が必
要となる。
鏡で得られたデジタル信号を画像メモリ上に記憶してパ
ターンマツチングしようとする場合、画像メモリの画素
数が多大となり、パターンマツチングに多くの時間が必
要となる。
そこで、この発明は、上記問題点を改善し、画像メモリ
の容量が大きくとも、高速処理をすることができるパタ
ーンマツチング装置を提供することを目的とする。
の容量が大きくとも、高速処理をすることができるパタ
ーンマツチング装置を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するためこの発明では、第1図に示すよ
うに、パターンマツチング装置を、基準パターンPSと
比較パターンpcを原画像として画像メモリに記憶する
基準及び比較画像形成手段1と、前記画像メモリの複数
画素に対応してこれら画素の平均濃度を単位画素上に表
わしたブロック画像を形成するブロック画像形成手段2
と、前記1パターン及び前記比較パターンに対応するブ
ロック画像に相対的に画素単位の変位を与えつつ両画像
を順次重ね合せる第1重ね合t=iiI制御手段と、重
ね合せの毎に相互相関係数を演紳することにより両画像
のパターンマツチングを検出づる巨視的マツチング検出
手段4と、両原画像上で比較的小さな面積の特徴部を指
定する特徴部指定手段5と、両特徴部を相対的に画素単
位の変位を与えつつ両特徴部を順次重ね合せる第2ff
iね合せ制御手段6と、重ね合せに応じて相互相関係数
を演算することにより両特徴部のパターンマツチングを
検出する精密マツチング検出手段7と、を備えて構成し
た。
うに、パターンマツチング装置を、基準パターンPSと
比較パターンpcを原画像として画像メモリに記憶する
基準及び比較画像形成手段1と、前記画像メモリの複数
画素に対応してこれら画素の平均濃度を単位画素上に表
わしたブロック画像を形成するブロック画像形成手段2
と、前記1パターン及び前記比較パターンに対応するブ
ロック画像に相対的に画素単位の変位を与えつつ両画像
を順次重ね合せる第1重ね合t=iiI制御手段と、重
ね合せの毎に相互相関係数を演紳することにより両画像
のパターンマツチングを検出づる巨視的マツチング検出
手段4と、両原画像上で比較的小さな面積の特徴部を指
定する特徴部指定手段5と、両特徴部を相対的に画素単
位の変位を与えつつ両特徴部を順次重ね合せる第2ff
iね合せ制御手段6と、重ね合せに応じて相互相関係数
を演算することにより両特徴部のパターンマツチングを
検出する精密マツチング検出手段7と、を備えて構成し
た。
(作用)
この発明では、ブロック画像形成手段2により、原画像
に対し画素数を1/n (nは原画像とブロック画像
との対応数)に減少させたブロック画素が得られ、第1
重ね合せ制御手段3及び巨視的マツチング検出手段4に
より、従来よりn十α倍速い速度でパターンマツチング
が行われる。倍率n+αにおけるnは重ね合せ回数を減
少させることができる利得であり、αは演nメ簡易なも
のとすることができることによる利得である。
に対し画素数を1/n (nは原画像とブロック画像
との対応数)に減少させたブロック画素が得られ、第1
重ね合せ制御手段3及び巨視的マツチング検出手段4に
より、従来よりn十α倍速い速度でパターンマツチング
が行われる。倍率n+αにおけるnは重ね合せ回数を減
少させることができる利得であり、αは演nメ簡易なも
のとすることができることによる利得である。
又、この発明では、次いで、特徴部指定手段5により特
徴部が指定され、第2重ね合せ制御手段6及び精密マツ
チング検出手段7により特徴部についての精密マツチン
グが行われるので、マツチング精度の向上を図ることが
できる。
徴部が指定され、第2重ね合せ制御手段6及び精密マツ
チング検出手段7により特徴部についての精密マツチン
グが行われるので、マツチング精度の向上を図ることが
できる。
なお、特徴部指定手段5が指定する特徴部の面積は、比
較パターンに応じて任意に定められるものであるが、こ
れは比較的微小面積について行ねれるので特徴部のパタ
ーンマツチングにW”Jる時間は微小なもので済む、。
較パターンに応じて任意に定められるものであるが、こ
れは比較的微小面積について行ねれるので特徴部のパタ
ーンマツチングにW”Jる時間は微小なもので済む、。
(実施例)
以下、添付図面を用いてこの発明の詳細な説明する。
まず、図面についてn単に説明づると、第2図はこの発
明の一実施例にかかるパターンマツチング装置t置のブ
ロック図、第3図は原画像の説明図、第4図<a>及び
第4図(b)は比較パターン及び基準パターンのブロッ
ク画像を示す説明図である。
明の一実施例にかかるパターンマツチング装置t置のブ
ロック図、第3図は原画像の説明図、第4図<a>及び
第4図(b)は比較パターン及び基準パターンのブロッ
ク画像を示す説明図である。
又、第5図は第1重ね合せ制御手段の作用を示づ説明図
、第6図(a)及び第6図(b)は相互相関係数の演口
対象たる2つのブロック画像についての重なり部分のメ
七り状態を糸す説明図である。
、第6図(a)及び第6図(b)は相互相関係数の演口
対象たる2つのブロック画像についての重なり部分のメ
七り状態を糸す説明図である。
更に、第7図は特徴部指定に際して参酌される濃度勾配
の説明図、第8図は特徴部のブロック位置を承り説明図
、第9図は第2重ね合せ制御手段の作用を示す説明図で
ある。
の説明図、第8図は特徴部のブロック位置を承り説明図
、第9図は第2重ね合せ制御手段の作用を示す説明図で
ある。
第2図に示すように、パターンマツチング装置は、3つ
つの画像メUすM 1 、 fvl 2、〜13を備え
た画像プロセッサ8で構成されている。
つの画像メUすM 1 、 fvl 2、〜13を備え
た画像プロセッサ8で構成されている。
画像メモリM1は、基準パターンpsを基準パターンの
原ii!ii像として記憶するしのである。
原ii!ii像として記憶するしのである。
画像メモリM2は、走査型電子顕微鏡9を介して比較パ
ターンPcの画像信号を取り込んで、これを比較パター
ンの原画像として記憶するらのである。
ターンPcの画像信号を取り込んで、これを比較パター
ンの原画像として記憶するらのである。
画像メモリM3は、画像プロセッサ8のワーキング用エ
リアとして利用されるメモリでおる。
リアとして利用されるメモリでおる。
画像プロセッサ8はこれらメモリM1.M2゜M3を備
えて、第1図に示した各手段1〜7を構成するものであ
る。
えて、第1図に示した各手段1〜7を構成するものであ
る。
以下、画像プロロサ8の行う処理の内容を順を追って説
明する。
明する。
まず、第1図に示した基準及び比較画像形成手段1は、
第3図に示すように、前記iTj象メセメモリに、基準
パターンPs (説明を簡易とするため英文字rFJ
で示す)の原画像ESを記憶させる。
第3図に示すように、前記iTj象メセメモリに、基準
パターンPs (説明を簡易とするため英文字rFJ
で示す)の原画像ESを記憶させる。
又、同様に、前記画像メモリM2に、比較パターンPc
の原画像ECを記憶させる。
の原画像ECを記憶させる。
記憶は、各画素に256(0〜255)の段階の濃度デ
ータを記憶して行われる。ここに、データrOJ &よ
黒を、データr255Jは白を意味するものであり、黒
地に白の打ち抜き文字rFJを示した本例では、画像メ
モリMl (M2)には、図示の如くにa淡データが記
憶されるようになる。
ータを記憶して行われる。ここに、データrOJ &よ
黒を、データr255Jは白を意味するものであり、黒
地に白の打ち抜き文字rFJを示した本例では、画像メ
モリMl (M2)には、図示の如くにa淡データが記
憶されるようになる。
ブロック画像形成手段2は、複数(本例では4とする)
画素ごとの平均濃淡データを弾出し、第4図(a)、(
b)に示すように、両象メモリM3に原画@Es (
Ec )の1/4の大ささのブロック画像0s(cc)
を記憶する。
画素ごとの平均濃淡データを弾出し、第4図(a)、(
b)に示すように、両象メモリM3に原画@Es (
Ec )の1/4の大ささのブロック画像0s(cc)
を記憶する。
以上の準備的処理を行った後、第1重ね合せ制手段4ひ
及び巨視的マツチング検出手段4の協動作業により、パ
ターンマツチングが行われる。
及び巨視的マツチング検出手段4の協動作業により、パ
ターンマツチングが行われる。
第1重ね合せ制御手段3は、第5図に示づように、例え
ば基準パターンのブロック画像aSを固定とし、比較パ
ターンのブロック画iecを左右、上下に一画素単位で
移動させて行く。
ば基準パターンのブロック画像aSを固定とし、比較パ
ターンのブロック画iecを左右、上下に一画素単位で
移動させて行く。
−方、巨視的マツチング検出手段4(よ、第1中ね合せ
制御手段3の各画素中位の移動円に、千4rり部分10
について、相互相関係数CORを演口する。
制御手段3の各画素中位の移動円に、千4rり部分10
について、相互相関係数CORを演口する。
相互相関係数CORは、まず、第6図(a) 、 (b
) ニ示すように、各ブロック画像の手なり部分10c
。
) ニ示すように、各ブロック画像の手なり部分10c
。
10sについて濃淡データの8行す列の行列(uij)
、(vij)を形成し、行列(uij ) 、 (v
ij >の平均値を、それぞれmu、 mv、その標準
偏差をσU、σVとして、次式で求められる。
、(vij)を形成し、行列(uij ) 、 (v
ij >の平均値を、それぞれmu、 mv、その標準
偏差をσU、σVとして、次式で求められる。
C0R= (1/a −b )
・・・■
ここに、
IJ ij= (uij −mu) /au
−■Vij= (vi
j −mv) /σ■ ・・・■である。
−■Vij= (vi
j −mv) /σ■ ・・・■である。
巨視的マツチング検出手段4は、第1重ね合せ手段3の
画素単位の移動制御に合せ、上記相互相関係数を都度演
算し、最大値をもってマッヂグの@適状態とみなす。
画素単位の移動制御に合せ、上記相互相関係数を都度演
算し、最大値をもってマッヂグの@適状態とみなす。
以上により、比較パターンPcが基準パターンPsと巨
視的に一致することが判明でき、又、第5図に示ザよう
に、このときの座標変位量ΔX。
視的に一致することが判明でき、又、第5図に示ザよう
に、このときの座標変位量ΔX。
Δyが求まる。
次に、特徴部指定手段5は、第7図に示すように基準パ
ターンPsの原画像ES又は比較パターンPcの原画像
ECについて微分を行って、濃度勾配の行列11をメモ
リM3上に形成する。
ターンPsの原画像ES又は比較パターンPcの原画像
ECについて微分を行って、濃度勾配の行列11をメモ
リM3上に形成する。
配列i、jの画素の濃度について濃度勾配をdijとす
ると、 dij =d P/dx+d P/dl/=(P!++
、j−Pi、j > + (Pi 、J、I PI 、J ) ・・
・■である。
ると、 dij =d P/dx+d P/dl/=(P!++
、j−Pi、j > + (Pi 、J、I PI 、J ) ・・
・■である。
又、特徴部指定手段5(よ、第7図において濃度勾配が
100以上となる画素を第8図に示すように抽出し、前
記ブロック画Dec<又はes)に対応して、勾配値d
ijが100以上の部分が占める面積が最大となるブロ
ックBLKSを特徴部とする。
100以上となる画素を第8図に示すように抽出し、前
記ブロック画Dec<又はes)に対応して、勾配値d
ijが100以上の部分が占める面積が最大となるブロ
ックBLKSを特徴部とする。
更に、特徴部指定手段5は、前記座標変位旧ΔX、Δy
を参酌して他のパターンの原画像EC(又はEs)上に
、第8図に示したブロックBしKに対応する部分を、他
のパターンについての特徴部(ブロックBLKCと称づ
)に指定する。
を参酌して他のパターンの原画像EC(又はEs)上に
、第8図に示したブロックBしKに対応する部分を、他
のパターンについての特徴部(ブロックBLKCと称づ
)に指定する。
そこで、第2重ね合せ制御手段6は、かくして得られた
ブロック8LKs 、BLKcの一方を他のブロックに
対し、第5図に示したと同様に第9図に示すように画素
l!愉で移動させ、又、精密マッヂング検出手段7は、
この移動に合せて■〜■式に示したと同様の演算を行っ
て精密なパターンマツチングを行う。
ブロック8LKs 、BLKcの一方を他のブロックに
対し、第5図に示したと同様に第9図に示すように画素
l!愉で移動させ、又、精密マッヂング検出手段7は、
この移動に合せて■〜■式に示したと同様の演算を行っ
て精密なパターンマツチングを行う。
パターンマツチングが良好に行われICか否かの判断は
、前記巨視的マツチング検出手段4の検出結果と、前記
精密マッヂンン検出手段7の検出結果を総合すれば良い
のである。
、前記巨視的マツチング検出手段4の検出結果と、前記
精密マッヂンン検出手段7の検出結果を総合すれば良い
のである。
以上により、本実施例では、パターンマツチングが高速
に行すれ、例えば集積回路のパターンマツチングを2〜
3分で行うことが可能となる。
に行すれ、例えば集積回路のパターンマツチングを2〜
3分で行うことが可能となる。
又、パターンマツチを巨視的に、更に、精密に行うので
、より完全なマツチング処理を実行することが可能であ
る。
、より完全なマツチング処理を実行することが可能であ
る。
本例では、特徴部指定手段5は濃度勾配の大きなブロッ
クを1ケ所指定したが、特徴部の指定は例えば、複数部
分について指定するなどパターン種に応じ任意に行われ
て良いものである。
クを1ケ所指定したが、特徴部の指定は例えば、複数部
分について指定するなどパターン種に応じ任意に行われ
て良いものである。
また、本例では、原画像の4画素を1ブロツクとしたが
、この数は6,9,8.12.16等他の数であっても
良いこと勿論である。
、この数は6,9,8.12.16等他の数であっても
良いこと勿論である。
又、本例では、第9図に示した精密マツチングに、おけ
る画素数を第4図(,1)、(b)及び、第8図に示し
たブロックど同じ大きさで示したが、聞密マツチングは
、指定されたvt徴部に対し、例えば6 (8(拡張円
)、9侶〈拡張角)笠、広領域について行っても良いも
のである。
る画素数を第4図(,1)、(b)及び、第8図に示し
たブロックど同じ大きさで示したが、聞密マツチングは
、指定されたvt徴部に対し、例えば6 (8(拡張円
)、9侶〈拡張角)笠、広領域について行っても良いも
のである。
この発明は以上示した実施例に限定されるものではなく
、この他通貨の設31的変更を行うことにより、各種の
態様で実施できるものである。
、この他通貨の設31的変更を行うことにより、各種の
態様で実施できるものである。
[発明の効果]
以上の通り、この発明に係るパターンマツチング装置に
よれば、巨視的、微視的にパターンマツチングを行うの
で、画像メモリの容量が大きくとも、高速処理をするこ
とができる。
よれば、巨視的、微視的にパターンマツチングを行うの
で、画像メモリの容量が大きくとも、高速処理をするこ
とができる。
第1図はこの発明の概要を示す図、第2図tよこの発明
の一実施例にかかるパターンマツチング装置のブロック
図、第3図は原画像の説明図、第4図(a)及び第4図
(b)は比較パターン及び基準パターンのブロック画像
を示ず説明図、第5図は第1巾ね合せ制御手段の作用を
示す説明図、第6図<a)及び第6図(b)は相互相関
係数の演綽対象たる2つのブロック画像についての重な
り部分のメモリ状態を示す説明図、第7図は特徴部指定
に際して参酌される濃度勾配の説明図、第8図tよ特徴
部のブロック位置を示す説明図、第9図は第2重ね合t
!11−手段の作用を示す説明図である。 1・・・基準及び比較画像形成手段 2・・・ブロック画像形成手段 3・・・第1重ね合せ制御手段 4・・・巨視的マツチング検出手段 5・・・特徴部指定手段 6・・・第2重ね合せ制御手段 7・・・精密マツチング検出手段 ps・・・基準パターン pc・・・比較パターン
の一実施例にかかるパターンマツチング装置のブロック
図、第3図は原画像の説明図、第4図(a)及び第4図
(b)は比較パターン及び基準パターンのブロック画像
を示ず説明図、第5図は第1巾ね合せ制御手段の作用を
示す説明図、第6図<a)及び第6図(b)は相互相関
係数の演綽対象たる2つのブロック画像についての重な
り部分のメモリ状態を示す説明図、第7図は特徴部指定
に際して参酌される濃度勾配の説明図、第8図tよ特徴
部のブロック位置を示す説明図、第9図は第2重ね合t
!11−手段の作用を示す説明図である。 1・・・基準及び比較画像形成手段 2・・・ブロック画像形成手段 3・・・第1重ね合せ制御手段 4・・・巨視的マツチング検出手段 5・・・特徴部指定手段 6・・・第2重ね合せ制御手段 7・・・精密マツチング検出手段 ps・・・基準パターン pc・・・比較パターン
Claims (1)
- 基準パターンと比較パターンを原画像として画像メモリ
に記憶する基準及び比較画像形成手段と、前記画像メモ
リの複数画素に対応してこれら画素の平均濃度を単位画
素上に表わしたブロック画像を形成するブロック画像形
成手段と、前記基準パターン及び前記比較パターンに対
応するブロック画像に相対的に画素単位の変位を与えつ
つ両画像を順次重ね合せる第1重ね合せ制御手段と、重
ね合せの毎に相互相関係数を演算することにより両画像
のパターンマッチングを検出する巨視的マッチング検出
手段と、両原画像上で比較的小さな面積の特徴部を指定
する特徴部指定手段と、両特徴部を相対的に画素単位の
変位を与えつつ両特徴部を順次重ね合せる第2重ね合せ
制御手段と、重ね合せに応じて相互相関係数を演算する
ことにより両特徴部のパターンマッチングを検出する精
密マッチング検出手段と、を備えて構成されるパターン
マッチング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61146786A JPS634379A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | パタ−ンマツチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61146786A JPS634379A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | パタ−ンマツチング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS634379A true JPS634379A (ja) | 1988-01-09 |
Family
ID=15415506
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61146786A Pending JPS634379A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | パタ−ンマツチング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS634379A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05159064A (ja) * | 1991-12-09 | 1993-06-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像探索装置 |
| JPH05159063A (ja) * | 1991-12-09 | 1993-06-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像検索装置 |
| JPH0721382A (ja) * | 1993-07-05 | 1995-01-24 | Asia Electron Inc | 画像処理装置 |
| JPH08263667A (ja) * | 1995-03-28 | 1996-10-11 | Nec Corp | ロールシャッハ画像認識方法 |
| JP2024160846A (ja) * | 2023-05-02 | 2024-11-15 | 株式会社ビバリー | 画像認識システム及び画像認識プログラム |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61146786A patent/JPS634379A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05159064A (ja) * | 1991-12-09 | 1993-06-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像探索装置 |
| JPH05159063A (ja) * | 1991-12-09 | 1993-06-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像検索装置 |
| JPH0721382A (ja) * | 1993-07-05 | 1995-01-24 | Asia Electron Inc | 画像処理装置 |
| JPH08263667A (ja) * | 1995-03-28 | 1996-10-11 | Nec Corp | ロールシャッハ画像認識方法 |
| JP2024160846A (ja) * | 2023-05-02 | 2024-11-15 | 株式会社ビバリー | 画像認識システム及び画像認識プログラム |
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