JPS6347955A - 電子部品用積層基板 - Google Patents
電子部品用積層基板Info
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- JPS6347955A JPS6347955A JP19192886A JP19192886A JPS6347955A JP S6347955 A JPS6347955 A JP S6347955A JP 19192886 A JP19192886 A JP 19192886A JP 19192886 A JP19192886 A JP 19192886A JP S6347955 A JPS6347955 A JP S6347955A
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- Japan
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- substrate
- layer
- melting point
- high melting
- point glass
- Prior art date
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- Pending
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- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
利用産業分野
この発明は、各種の電子部品を装着するための絶縁膜を
有する積層基板に係り、特に、基板上に載置するシリコ
ン半導体との熱膨脹係数差が少な(、耐熱強度がすぐれ
、かつ製造が容易なハイブリッLIC用の積層基板に関
する。
有する積層基板に係り、特に、基板上に載置するシリコ
ン半導体との熱膨脹係数差が少な(、耐熱強度がすぐれ
、かつ製造が容易なハイブリッLIC用の積層基板に関
する。
背景技術
ハイブリットICを装着、積載するための基板として、
従来、エポキシ樹脂板をガラス繊維にて補強してなる基
板上に、Cu板を被着した積層構造の所謂、銅張りガラ
スエポキシ基板が良く知られている。
従来、エポキシ樹脂板をガラス繊維にて補強してなる基
板上に、Cu板を被着した積層構造の所謂、銅張りガラ
スエポキシ基板が良く知られている。
また、アルミナ系基板あるいは40%Ni Fe合金
板、Cu合金板等の封着合金板上に、樹脂からなる絶縁
膜を被覆した積層構造の所謂、高分子絶縁膜形成金属、
阪、さらに、鉄板上にほうろうにて絶縁膜を)し成した
積層構造のほうろう引き鉄基板などが知られている。
板、Cu合金板等の封着合金板上に、樹脂からなる絶縁
膜を被覆した積層構造の所謂、高分子絶縁膜形成金属、
阪、さらに、鉄板上にほうろうにて絶縁膜を)し成した
積層構造のほうろう引き鉄基板などが知られている。
前記の銅張りガラスエポキシ基板は、熱伝導及び耐熱性
が低く、載置するシリコン半導体との熟膨脹係数差が大
きいため、割れ発生の問題があり、また、アルミナ系基
板は、熱伝導が悪い上に、耐衝撃に弱い欠点がある。
が低く、載置するシリコン半導体との熟膨脹係数差が大
きいため、割れ発生の問題があり、また、アルミナ系基
板は、熱伝導が悪い上に、耐衝撃に弱い欠点がある。
また、高分子絶縁膜形成金属板は、使用温度である45
0°Cでの耐、IjJ5性が悪い問題があり、はうろう
引き鉄基板は、装造上、1000°C以上の焼成を必要
とし、工程数、コスト的に種々の問題があった。
0°Cでの耐、IjJ5性が悪い問題があり、はうろう
引き鉄基板は、装造上、1000°C以上の焼成を必要
とし、工程数、コスト的に種々の問題があった。
発明の目的
この発明は、ハイブリットIC用の絶縁膜を有する積層
基板のかかる現状に鑑み、基板上に載置するシリコン半
導体との熱膨張係数差が少なく、耐熱強度がすぐれ、か
つ製造が容易な積層基板を目的としている。
基板のかかる現状に鑑み、基板上に載置するシリコン半
導体との熱膨張係数差が少なく、耐熱強度がすぐれ、か
つ製造が容易な積層基板を目的としている。
発明の構成と効果
この発明は、450°Cの使用温度におけるすぐれた耐
熱性、熱伝導性を有し、強度が高く、基板上に載置する
シリコン半導体との熱膨張係数差が少なく、削れ発生が
少なく、かつ製造が容易である絶縁膜を有する積層基板
を目的に、種々検討した結果、Cr含有の封着合金板の
主面に、熱処理によりCr2O3を主とする酸化被膜を
形成して、前記酸化被膜上に絶縁膜であるガラス層ある
いはフリット層を設けると、前記封着合金板と絶縁膜と
の密着性が改善され、前記目的が達成されることを知見
し、発明を完成したものである。
熱性、熱伝導性を有し、強度が高く、基板上に載置する
シリコン半導体との熱膨張係数差が少なく、削れ発生が
少なく、かつ製造が容易である絶縁膜を有する積層基板
を目的に、種々検討した結果、Cr含有の封着合金板の
主面に、熱処理によりCr2O3を主とする酸化被膜を
形成して、前記酸化被膜上に絶縁膜であるガラス層ある
いはフリット層を設けると、前記封着合金板と絶縁膜と
の密着性が改善され、前記目的が達成されることを知見
し、発明を完成したものである。
すなわち、この発明は、
Cr含有の封着合金板の少なくとも1主面に、Cr2O
3を主とする(凭先酸化被膜を介在させて、高融点ガラ
ス層を被覆したことを特徴とする電子部品用積層基板で
あり、 さらに、 Cr含有の封着合金板の両生面に、Cr2O3を主とす
る優先酸化被膜を介在させて、一主面に高融点ガラス層
を被覆し、他主面にフリット層を被覆したことを特徴と
する電子部品用積層基板である。
3を主とする(凭先酸化被膜を介在させて、高融点ガラ
ス層を被覆したことを特徴とする電子部品用積層基板で
あり、 さらに、 Cr含有の封着合金板の両生面に、Cr2O3を主とす
る優先酸化被膜を介在させて、一主面に高融点ガラス層
を被覆し、他主面にフリット層を被覆したことを特徴と
する電子部品用積層基板である。
発明の図面に基づく開示
第1図a、b、cはこの発明による積層基板の断面説明
図である。
図である。
この発明による積層基板の製造工程を説明すると、例え
ばa図に示す如く、板厚2mm以下のNi40〜50w
t%−Cr4〜8wt%−Fe合金板、あるいは、Cr
15〜30wt%−Fe合金板からなるCr含有の封着
合金基板(1)を、平坦なセラック板で挟み、加圧しな
がら露点10〜50℃の湿潤H2ガス中で、1000℃
〜1300°Cに加熱して、前記合金基板(1)の一主
面に、膜厚10μm以下、好ましくは1〜5pm厚みの
Cr2O3を主とする優先酸化被膜(2)を形成し、こ
の封着合金基板(1)のf発光酸化被膜(2)上に板厚
0.4mm〜1.0mmの溶融点550℃以上の高融点
ガラス板を配置し、高融点ガラス板の溶融温度以上に加
熱、加圧して、封着合金基板(1)上に優先酸化被膜(
2)を介して絶縁膜である高融点ガラス層(3)を被着
した積層基板を得る。
ばa図に示す如く、板厚2mm以下のNi40〜50w
t%−Cr4〜8wt%−Fe合金板、あるいは、Cr
15〜30wt%−Fe合金板からなるCr含有の封着
合金基板(1)を、平坦なセラック板で挟み、加圧しな
がら露点10〜50℃の湿潤H2ガス中で、1000℃
〜1300°Cに加熱して、前記合金基板(1)の一主
面に、膜厚10μm以下、好ましくは1〜5pm厚みの
Cr2O3を主とする優先酸化被膜(2)を形成し、こ
の封着合金基板(1)のf発光酸化被膜(2)上に板厚
0.4mm〜1.0mmの溶融点550℃以上の高融点
ガラス板を配置し、高融点ガラス板の溶融温度以上に加
熱、加圧して、封着合金基板(1)上に優先酸化被膜(
2)を介して絶縁膜である高融点ガラス層(3)を被着
した積層基板を得る。
また、b図に示す如く、前記合金基板(1)の両生面に
、Cr2O3を主とする優先酸化被膜(2)を形成し、
この封着合金基板(1)の両生面に前記高融点ガラス板
を配置し、高融点ガラス板の溶融温度以上に加熱、加圧
して、付着合金基板(1)両生面上に優先酸化被膜(2
)を介して絶縁膜である高融点ガラス層(3)を被着し
た積層基板を得ることができる。
、Cr2O3を主とする優先酸化被膜(2)を形成し、
この封着合金基板(1)の両生面に前記高融点ガラス板
を配置し、高融点ガラス板の溶融温度以上に加熱、加圧
して、付着合金基板(1)両生面上に優先酸化被膜(2
)を介して絶縁膜である高融点ガラス層(3)を被着し
た積層基板を得ることができる。
さらに、C図に示す如く、11着金合金板(1)の一主
面にイ憂先酸化波膜(2)を介して高融点ガラス層(3
)を被着した積層基板の他主面に、粒度100mesh
〜300meshのフリットをスクリーン印刷により被
着させ、乾燥、脱バインダーした後、フリットの軟化点
以上に加熱、溶融させることにより、封着合金基板(1
)上に優先酸化被膜(2)を介して絶縁膜であるフリッ
ト層(4)を被着し、封着合金基板(1)の一主面に高
融点ガラス層(3)を、他主面にはフリット層(4)を
設けた積層基板が得られる。
面にイ憂先酸化波膜(2)を介して高融点ガラス層(3
)を被着した積層基板の他主面に、粒度100mesh
〜300meshのフリットをスクリーン印刷により被
着させ、乾燥、脱バインダーした後、フリットの軟化点
以上に加熱、溶融させることにより、封着合金基板(1
)上に優先酸化被膜(2)を介して絶縁膜であるフリッ
ト層(4)を被着し、封着合金基板(1)の一主面に高
融点ガラス層(3)を、他主面にはフリット層(4)を
設けた積層基板が得られる。
発明の好ましい実施態様
この発明において、Crを含有した封着合金基板のFe
−Cr−Ni系合金は、Niが40%未満では、熟膨脹
係数が小さくなりすぎ、高融点ガラス板との熱膨張係数
差が大きくなり好ましくなく、また、50%を越えると
、前記の熟膨脹係数差が大きくなりすぎるため、Niは
40〜50%に限定する。
−Cr−Ni系合金は、Niが40%未満では、熟膨脹
係数が小さくなりすぎ、高融点ガラス板との熱膨張係数
差が大きくなり好ましくなく、また、50%を越えると
、前記の熟膨脹係数差が大きくなりすぎるため、Niは
40〜50%に限定する。
また、Crは4%未満では、熱処理後に緻密な酸化1漠
が生成されず好ましくなく、また、8%を越えると、前
記の熟膨脹係数差が大きくなりすぎるため、Crは4〜
8%に限定する。
が生成されず好ましくなく、また、8%を越えると、前
記の熟膨脹係数差が大きくなりすぎるため、Crは4〜
8%に限定する。
Cは、絶縁膜との反応により生成される発泡防止のため
に、0.05%以下にする必要がある。
に、0.05%以下にする必要がある。
また、封着合金の溶製時の脱酸、表面酸化膜の生成、合
金基板と酸化被膜層との密着性改善のため、前記封着合
金にはMn0.1〜0.5%、5iO11〜0.5%、
AI 0.1〜0.5%のうち少なくとも1種の含有が
好ましく、また、必要に応じて、被膜密着性の改善のた
め、Ti、 Zr、 RE、 AIの少なくとも1種を
0.3%以下含有してもよい。
金基板と酸化被膜層との密着性改善のため、前記封着合
金にはMn0.1〜0.5%、5iO11〜0.5%、
AI 0.1〜0.5%のうち少なくとも1種の含有が
好ましく、また、必要に応じて、被膜密着性の改善のた
め、Ti、 Zr、 RE、 AIの少なくとも1種を
0.3%以下含有してもよい。
また、この発明において、Crを含有した封着合金基板
のFe−Cr系合金は、Crは15%未満では、熱膨張
係数が大きくなりすぎるため好ましくなく、30%を越
えると合金基板の加工性が劣化するため、Crは15〜
30%に限定する。
のFe−Cr系合金は、Crは15%未満では、熱膨張
係数が大きくなりすぎるため好ましくなく、30%を越
えると合金基板の加工性が劣化するため、Crは15〜
30%に限定する。
Cは、絶縁膜との反応により生成される発泡防止のため
に、0.05%以下にする必要がある。
に、0.05%以下にする必要がある。
また、封着合金の溶製時の脱酸効果、表面酸化膜の生成
、合金基板と酸化被膜層との密着性改善のため、Mn
0.1〜0.5%、Si O,1〜0.5%、 AIo
、1〜0.5%のうち少なくとも1種の含有が好ましく
、また、必要に応じて、被膜密着性の改善のため、Ti
、 Zr、 RE、 AIの少なくとも1種を0.6%
以下含有してもよい。
、合金基板と酸化被膜層との密着性改善のため、Mn
0.1〜0.5%、Si O,1〜0.5%、 AIo
、1〜0.5%のうち少なくとも1種の含有が好ましく
、また、必要に応じて、被膜密着性の改善のため、Ti
、 Zr、 RE、 AIの少なくとも1種を0.6%
以下含有してもよい。
この発明において、高融点ガラスは、板厚0.4mm〜
1.0mmのソーダガラス、ホウ珪酸ガラスなどの高融
点ガラスが好ましく、溶融温度は、フリット層の溶融温
度より50℃以上高く、かつ550℃以上のものが好ま
しい。また、熱膨張係数は、前記合金基板の熱膨張係数
(90〜110 X 10−7/’C)より小さく、か
つ70 X 10−77’Cより大きいものが好ましい
。
1.0mmのソーダガラス、ホウ珪酸ガラスなどの高融
点ガラスが好ましく、溶融温度は、フリット層の溶融温
度より50℃以上高く、かつ550℃以上のものが好ま
しい。また、熱膨張係数は、前記合金基板の熱膨張係数
(90〜110 X 10−7/’C)より小さく、か
つ70 X 10−77’Cより大きいものが好ましい
。
また、フリット層としては、粒度100mesh〜30
0meshのPbO−B2O3系、PbO−B2O3−
8i02系、等のガラス粉末が好ましく、溶融温度は、
500℃以下のものが好ましく、熱膨張係数は、前記合
金基板の熱膨張係数(90〜110 X 10−7/’
C)より小さく、かつ70 X 10−7/℃より大き
いものが好ましい。
0meshのPbO−B2O3系、PbO−B2O3−
8i02系、等のガラス粉末が好ましく、溶融温度は、
500℃以下のものが好ましく、熱膨張係数は、前記合
金基板の熱膨張係数(90〜110 X 10−7/’
C)より小さく、かつ70 X 10−7/℃より大き
いものが好ましい。
前記フリット層を封着合金基板に設ける際、スクリーン
印刷によるフリット膜厚みは最大0.15mmであり、
厚く絶縁層を設けるには、高融点ガラス層にて形成し、
薄く形成するには7リツト層にて形成するのが好ましい
。
印刷によるフリット膜厚みは最大0.15mmであり、
厚く絶縁層を設けるには、高融点ガラス層にて形成し、
薄く形成するには7リツト層にて形成するのが好ましい
。
この発明による積層基板において、封着合金基板(A)
と前記基板の一生面に被着した高融点ガラス層(B)と
の層厚比は、人出=1010.5〜5が好ましく、層厚
比が1010.5を超えると、絶縁耐圧が小さくなり、
静電容量が大きくなり好ましくなく、また、層厚比が1
015未満では、熱膨張差による熱応力により、そりや
ガラスクラックの発生、また熱伝導低下等の問題を生じ
る。
と前記基板の一生面に被着した高融点ガラス層(B)と
の層厚比は、人出=1010.5〜5が好ましく、層厚
比が1010.5を超えると、絶縁耐圧が小さくなり、
静電容量が大きくなり好ましくなく、また、層厚比が1
015未満では、熱膨張差による熱応力により、そりや
ガラスクラックの発生、また熱伝導低下等の問題を生じ
る。
また、封着合金基板の両生面に高融点ガラス層を設ける
場合の層厚比は、 B/AfB = 0.5〜5/1010.5〜5が好ま
しい。
場合の層厚比は、 B/AfB = 0.5〜5/1010.5〜5が好ま
しい。
また、封着合金基板の一生面に高融点ガラス層、他主面
にフリット層(C)を設ける場合の層厚比は、B/A/
C= 0.5〜5/1010.5〜5が好ましい。A/
Cの層厚比が1010.5を越えると、絶縁耐圧が小さ
くなり、静電界′俄が大きくなり好ましくなく、また、
層厚比が1015未満では、熱膨張差による熱応力によ
り、そりやガラスクラックの発生等及び熱伝導の低下等
の問題を生じるため好ましくない。
にフリット層(C)を設ける場合の層厚比は、B/A/
C= 0.5〜5/1010.5〜5が好ましい。A/
Cの層厚比が1010.5を越えると、絶縁耐圧が小さ
くなり、静電界′俄が大きくなり好ましくなく、また、
層厚比が1015未満では、熱膨張差による熱応力によ
り、そりやガラスクラックの発生等及び熱伝導の低下等
の問題を生じるため好ましくない。
実施例
実施例I
CO,01wt%、Si 0.2wt%、Mn 0.2
wt%、Cr 6.0wt%、Ni 42.5wt%、
AI、0.25 wt%、Zr O,05wt%、残部
Feからなり、熟膨脹係数95 X 10−7℃を有し
輻100mmX板厚1.0mmX長さ300mm寸法か
らなる封着合金基板の両生面を、アルカリ脱脂により清
浄化した後、前記合金基板を平坦なアルミナ系セラミッ
ク板にて挟み、10 g/cm2の加圧力にて、露点4
0℃の湿潤H2中で1200℃に加熱し、前記合金基板
表面に、3pm厚みのCr2O3を主とする優先酸化被
膜層を形成した。
wt%、Cr 6.0wt%、Ni 42.5wt%、
AI、0.25 wt%、Zr O,05wt%、残部
Feからなり、熟膨脹係数95 X 10−7℃を有し
輻100mmX板厚1.0mmX長さ300mm寸法か
らなる封着合金基板の両生面を、アルカリ脱脂により清
浄化した後、前記合金基板を平坦なアルミナ系セラミッ
ク板にて挟み、10 g/cm2の加圧力にて、露点4
0℃の湿潤H2中で1200℃に加熱し、前記合金基板
表面に、3pm厚みのCr2O3を主とする優先酸化被
膜層を形成した。
前記合金基板の一生面の優先酸化被膜層」二に、溶融温
度760℃、熱膨張係数8? X 10−7/’Cの性
質を有し、幅95mmX板厚0.7mmX長さ280m
m寸法からなるソーダ系ガラスを載せ、30 g/cm
2の加圧力、900℃の加熱温度にて、加熱、加圧して
接着した。
度760℃、熱膨張係数8? X 10−7/’Cの性
質を有し、幅95mmX板厚0.7mmX長さ280m
m寸法からなるソーダ系ガラスを載せ、30 g/cm
2の加圧力、900℃の加熱温度にて、加熱、加圧して
接着した。
この積層時の合金基4反と高融点ガラス層との層厚比は
、1010.6であった。
、1010.6であった。
得られたこの発明による積層基板について、その耐熱性
、熱膨張率、熱伝導度及び強度を評価した。その結果は
第1表に示すとおりである。
、熱膨張率、熱伝導度及び強度を評価した。その結果は
第1表に示すとおりである。
耐熱性、熱膨張率、り(5伝導度及び強度の評価方法は
以下のとうりである。
以下のとうりである。
耐熱性;30℃×30分、500℃×30分、30°C
×30分のヒートパターンを3回繰り返し、 全体形状の変化及びガラス、フリット にクラック、欠は等の欠陥発生の有 無を確認する。
×30分のヒートパターンを3回繰り返し、 全体形状の変化及びガラス、フリット にクラック、欠は等の欠陥発生の有 無を確認する。
熱膨張率;30°Cから500℃までの伸びを測定した
。
。
熱伝導度:30℃における値を測定した。11を位はc
al/cm−s−degで表示する。
al/cm−s−degで表示する。
強度; 板厚みの100倍の半径を有する円弧面に71
¥って曲げが可能か否かにて評価した。表中の○印は割
れ発生せず、△印 は微小割れ発生、X印は完全に割れ る、を表している。
¥って曲げが可能か否かにて評価した。表中の○印は割
れ発生せず、△印 は微小割れ発生、X印は完全に割れ る、を表している。
なお、第1表の比較例の銅張りガラスエポキシ基板、ア
ルミナ系基板及びほうろう引き鉄基板の試料寸法は、幅
100mm X tFi、厚1mmX長さ300mmで
あった。
ルミナ系基板及びほうろう引き鉄基板の試料寸法は、幅
100mm X tFi、厚1mmX長さ300mmで
あった。
実施例2
CO,01wt%、Si O,2wt%、Mn 0.2
wt%、Cr 6.0wt%、Ni 42.5wt%、
Al 0.25 wt%、Zr O,05wt%、残部
Feからなり、熱膨張係数95 X 10−7/”Cを
有し、幅100mmX板厚1.0mmX長さ300mm
寸法からなる封着合金基板の両生面を、アルカリ脱脂に
より清浄化した後、前記合金基板を平jIiなアルミナ
系セラミック板にて挟み、10 g/cm2の加圧力に
て、露点40°Cの湿潤H2中で1150°Cに加熱し
、前記合金基板表面に、31.1m厚みのCr2O3を
主とする優先酸化被膜層を形成した。
wt%、Cr 6.0wt%、Ni 42.5wt%、
Al 0.25 wt%、Zr O,05wt%、残部
Feからなり、熱膨張係数95 X 10−7/”Cを
有し、幅100mmX板厚1.0mmX長さ300mm
寸法からなる封着合金基板の両生面を、アルカリ脱脂に
より清浄化した後、前記合金基板を平jIiなアルミナ
系セラミック板にて挟み、10 g/cm2の加圧力に
て、露点40°Cの湿潤H2中で1150°Cに加熱し
、前記合金基板表面に、31.1m厚みのCr2O3を
主とする優先酸化被膜層を形成した。
前記合金基板の両面の優先酸化被膜層上に、溶融温度7
60℃、熟膨脹係数87 X 10−7/’Cの性質を
有し、幅95mmX板厚0.55mmX長さ280mm
寸法からなるソーダガラスを載せ、25 g/cm2の
加圧力、880℃の加熱温度にて、加熱、加圧して接着
し、封着合金基板の両生面に高融点ガラス層を設けた積
層基板を得た。
60℃、熟膨脹係数87 X 10−7/’Cの性質を
有し、幅95mmX板厚0.55mmX長さ280mm
寸法からなるソーダガラスを載せ、25 g/cm2の
加圧力、880℃の加熱温度にて、加熱、加圧して接着
し、封着合金基板の両生面に高融点ガラス層を設けた積
層基板を得た。
この積層時の合金基板と高融点ガラス層の層厚比は、0
.5/ 1010.5であった。
.5/ 1010.5であった。
14トられたこの発明による積層基板について、その耐
熱性、熱膨張率、熱伝導度及び強度を評価した。その結
果は第1表に示すとおりである。
熱性、熱膨張率、熱伝導度及び強度を評価した。その結
果は第1表に示すとおりである。
実靭例3
CO,01wt%、Si O,2wt%、Mn O,2
wt%、Cr 18.0wt%、 Ti 0.5wt
%、 AI 0.25 wt%、Zr O,05wt
%、残部Feからなり、熟膨脹係数105 X 10−
7/”Cを有し、幅100mmX板厚1mmX長さ30
0mm寸法からなる封着合金基板の一生面を、アルカ1
月11L脂により清浄化した後、前記合金基板を平坦な
アルミナ系セラミック板にて挟み、20g/cm2の加
圧力にて、露点40℃の湿潤H2中で1200°Cに加
熱し、])11記重合基板表面に、3μm厚みのCr2
O3を主とする憂先酸化彼膜層を形成した。
wt%、Cr 18.0wt%、 Ti 0.5wt
%、 AI 0.25 wt%、Zr O,05wt
%、残部Feからなり、熟膨脹係数105 X 10−
7/”Cを有し、幅100mmX板厚1mmX長さ30
0mm寸法からなる封着合金基板の一生面を、アルカ1
月11L脂により清浄化した後、前記合金基板を平坦な
アルミナ系セラミック板にて挟み、20g/cm2の加
圧力にて、露点40℃の湿潤H2中で1200°Cに加
熱し、])11記重合基板表面に、3μm厚みのCr2
O3を主とする憂先酸化彼膜層を形成した。
この合金基板の一生面の優先酸化被膜層上に、溶融温度
760℃、熟膨脹係数87×10−7/°Cの性質を有
し、幅95mmX板厚0.7mmX長さ280 mm寸
法からなるソーダガラスを載せ、30 g/cm2の加
圧力、900℃の加熱温度にて、加熱、加圧して接着し
た。
760℃、熟膨脹係数87×10−7/°Cの性質を有
し、幅95mmX板厚0.7mmX長さ280 mm寸
法からなるソーダガラスを載せ、30 g/cm2の加
圧力、900℃の加熱温度にて、加熱、加圧して接着し
た。
さらに合金基板の他主面のイ憂先酸化被膜層上に、スク
リーン印刷により、溶融温度760°C,熟膨脹係数8
7X10−7/″Cの性質を有する粒度300mesh
のPbO系ガラス粉末を、幅95mmX長さ280mm
寸法に被着させ、乾燥、脱バインダーした後、前記フリ
ットの軟化点以上に加熱、溶融させることにより、封着
合金基板上に優先酸化被膜を介してフリット層を被着し
、封着合金基板の一生面に高融点ガラス層を、他主面に
はフリット層を設けた積層基板を得た。
リーン印刷により、溶融温度760°C,熟膨脹係数8
7X10−7/″Cの性質を有する粒度300mesh
のPbO系ガラス粉末を、幅95mmX長さ280mm
寸法に被着させ、乾燥、脱バインダーした後、前記フリ
ットの軟化点以上に加熱、溶融させることにより、封着
合金基板上に優先酸化被膜を介してフリット層を被着し
、封着合金基板の一生面に高融点ガラス層を、他主面に
はフリット層を設けた積層基板を得た。
この積層時の高融点ガラス層と合金基板とフリット層の
層厚比は、0.6/ 1010.10であった。
層厚比は、0.6/ 1010.10であった。
得られたこの発明による積層基板について、その耐熱性
、熱膨張率、熱伝導度及び強度を9・ト価した。その結
果は第1表に示すとおりである。
、熱膨張率、熱伝導度及び強度を9・ト価した。その結
果は第1表に示すとおりである。
第1表
第1図a、b、cは、この発明による積層基板の断面説
明図である。 1・・・封着合金基板、2・・・優先酸化被膜層、3・
・・高融点ガラス層、4・・・フリット層。 第1図 (a) (b) (C)
明図である。 1・・・封着合金基板、2・・・優先酸化被膜層、3・
・・高融点ガラス層、4・・・フリット層。 第1図 (a) (b) (C)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 Cr含有の封着合金板の少なくとも1主面に、Cr_2
O_3を主とする優先酸化被膜を介在させて、高融点ガ
ラス層を被覆したことを特徴とする電子部品用積層基板
。 2 Cr含有の封着合金板の両主面に、Cr_2O_3を主
とする優先酸化被膜を介在させて、一主面に高融点ガラ
ス層を被覆し、他主面にフリット層を被覆したことを特
徴とする電子部品用積層基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19192886A JPS6347955A (ja) | 1986-08-15 | 1986-08-15 | 電子部品用積層基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19192886A JPS6347955A (ja) | 1986-08-15 | 1986-08-15 | 電子部品用積層基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6347955A true JPS6347955A (ja) | 1988-02-29 |
Family
ID=16282774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19192886A Pending JPS6347955A (ja) | 1986-08-15 | 1986-08-15 | 電子部品用積層基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6347955A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5332376A (en) * | 1976-09-07 | 1978-03-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | Electric device substrate |
| JPS5344871A (en) * | 1976-10-04 | 1978-04-22 | Tokyo Shibaura Electric Co | Electric device substrate |
| JPS53116473A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-11 | Tokyo Shibaura Electric Co | Electric device board |
-
1986
- 1986-08-15 JP JP19192886A patent/JPS6347955A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5332376A (en) * | 1976-09-07 | 1978-03-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | Electric device substrate |
| JPS5344871A (en) * | 1976-10-04 | 1978-04-22 | Tokyo Shibaura Electric Co | Electric device substrate |
| JPS53116473A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-11 | Tokyo Shibaura Electric Co | Electric device board |
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