JPS63501823A - トランスデュ−サインタ−フェ−スの改良 - Google Patents
トランスデュ−サインタ−フェ−スの改良Info
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- JPS63501823A JPS63501823A JP61506105A JP50610586A JPS63501823A JP S63501823 A JPS63501823 A JP S63501823A JP 61506105 A JP61506105 A JP 61506105A JP 50610586 A JP50610586 A JP 50610586A JP S63501823 A JPS63501823 A JP S63501823A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
トランスデユーサインターフェースの改良本発明は、トランスデユーサの測定誤
差をトランスデユーサの使用中に補正可能にする、電気式トランスデユーサのイ
ンターフェースに関するものである。
本明細書において“誤差”という用語は、観察中のパラメータの測定値とその真
値との偏差、または不一致と解釈されるべきものであり、また“誤差補正°とい
う用語は、測定値を真値に補正するために必要なあらゆるプロセス、すなわち信
号処理を意味する。
広い意味で、トランスデユーサの測定誤差は3種類に区分される。
A、)ランスデューサの作動環境の変化、すなわち供給電圧の変化、温度変化、
基本パラメータの実測値を変更する可能性のある調査の基本パラメータ以外の環
境パラメータの変化により生じる誤差。
B、同じ種類の個々のトランスデユーサの特性変化によ誤差。これらは製造公差
内のバラツキ、製造者によるキヤリプレーション工程での誤差および個々のトラ
ンスデユーサの長期の経年劣化作用が原因になる。
C6種類による誤差、これらは同じ種類のトランスデユーサの特性誤差である。
たとえば、すべての基本的サーミスタ型ガス流量監視トランスデユーサは、サー
ミスタ特性とその作動原理により、非線形出力を有している。また、たいていの
半導体圧力ドランスデューサは、静止(ゼロ変位)状態からの変位増加とのダイ
ヤフラムの適合性の減少により、その範囲のある部分にわたって非線形応答を呈
する。
これまで、このような誤差を補正するには一般にふたつの方法があった。
1、トランスデユーサに付随する回路の部品またはトランスデユーサ本体を構成
する部品であってトランスデユーサのメーカーによって調整された部品によるト
ランスデユーサのアナログ信号処理。
2、トランスデユーサがマイクロプロセッサまたはコンピュータとともに採用さ
れるばあい、個々のトランスデユーサをテストしてえられるそのトランスデユー
サに関するデータが、マイクロプロセッサまたはコンピュータのメモリに入力さ
れ、読み取りが行なわれるときに随時トランスデユーサ誤差の補正に利用される
。
ばあいによってはマイクロプロセッサがローカルな補正を行なうために、トラン
スデユーサの近くで要求されることがある。
いずれのシステムにも欠点があり、アナログ信号処理は必要な補正部品がトラン
スデユーサと組み合わせた回路へ組み込まされ、全回路(トランスデユーサを含
めて)が正しく調整されるために、予想される運転状態を通って反復サイクルさ
れる必要がある。このため生産時間とコストが増加し、修正回路がかなり精巧な
ものでない限り極端によい精度にはならない。
試験設備の精度に制約されるだけで、きわめて高い精度を実現するが、マイクロ
プロセッサまたはコンピュータの利用は、トランスデユーサの交換が必要になっ
たばあい、マイクロプロセッサ−またはコンピュータに記憶された補正データも
変更しなければならないという欠点がある。これに加えて、多数のトランスデユ
ーサが単一のマイクロプロセッサまたはコンピュータで制御されるばあい、マイ
クロプロセッサまたはコンピュータにより保持されるテーブル群に、各トランス
デユーサの関連データを記憶する必要があり、(この目的に利用できるメモリの
容量によって)特定容量のマイクロプロセッサまたはコンピュータが制御できる
トランスデユーサの数が制限されることになる。
本発明は、外部制御手段よりインターフェースにアドレスしたときに、補正デー
タがトランスデユーサからの測定データとともに制御手段へ返送できるように、
トランスデユーサに関連し以下に定義される誤差補正のための、補正データを記
憶する手段を有し、個々の電気式トランスデユーサと組み合わせでき、アドレス
可能なトランスデユーサインターフェースを提供するものである。
前記誤差補正データはデジタル形式で記憶されるのが好ましい。
また、インターフェースは個々のトランスデユーサのアナログ出力信号を、デジ
タル形式に変換するようにアレンジされたアナログ/デジタルコンバータを含む
のが好ましい。
さらに、誤差補正データおよびトランスデユーサ測定データはシリアルな形式で
制御手段に伝送されるのが好ましい。
本発明は、また誤差補正データが前記記憶手段で記憶されるトランスデユーサと
組み合わされるようなインターフェースをも提供する。
このようなアレンジメントにおいて、アドレス可能なトランスデユーサインター
フェースは、以下の情報項目のいくつかまたはすべてを含む回答を与えるために
アドレスされうる。
1、 応答しているインターフェースがアドレスされたものであることを確認す
る固有アドレス。
2、 クラスC誤差の補正に実施されるそのクラスに適した信号処理を可能にす
るための、その随伴トランスデユーサのクラス・アイデンティティ。
3、トランスデユーサにより測定される値に関する生(未処理)データ。
4、 クラスAタイプ誤差の補正のためのブリ・エンコードされたデータ。(通
常、A/Dの別の入力が、たとえば温度などの誤差を発生するパラメータを測定
するために利用される。)
5、 クラスB誤差補正のための個別トランスデユーサ特性に関するブリ・エン
コードされたデータ。
この手段によって、一般的なマイクロプロセッサ/コンピュータが、さまざまな
トランスデユーサ(マイクロプロセッサ−/コンピュータに近い、または遠く離
れた)をアドレスでき、また、ブリ・エンコードされたデータによってトランス
デユーサの種類を識別し、その種類に関して適切な信号処理プログラムを選択し
、回答(アドレスされたインターフェースからの)に含まれる補正係数/データ
を信号処理プログラムへ挿入することによって測定値をできる限り真値に近く補
正することができる。
別の局面において本発明は、これに限定されるものではないが、とくに前記アレ
ンジメントに使用されるアナログ信号をデジタル信号に変換するコンバータを提
供する。このコンバータは、特定の値の一定電流源から特定の値のキャパシター
を変化させる手段;前記キャパシターのチャージ電圧とアナログ信号の値を比較
するために設けられたコンパレータ手段;キャパシタのチャージが0状態から開
始されるときに、カウントを開始するようにアレンジされたデジタル型カウンタ
;シフトφレジスタ;およびキャパシタのチャージが前記コンパレータによりア
ナログ信号と等しいと検出された時点で、シフト・レジスタにロードされるべき
前記カウンタのインスタンチー二ヤスφカウント(Instantaneous
count)が生じるようにアレンジされたシフト・レジスタ用ローディング
回路からなっている。
複数の独立したアナログ信号がそれぞれ同時にデジタル信号に変換されるように
、複数個のシフト・レジスタが、それぞれのロード回路およびコンパレータ手段
とともに前記カウンタ定電流源およびキャパシタに接続されるのが好ましい。ト
ランスデユーサが抵抗型、電気またはデジタル出力を有するばあい、インターフ
ェースはひとつ以上のトランスデユーサからアナログまたはデジタル入力を受け
取る小さいプリント回路の形式をとることができる。所要のトランスデユーサは
インターフェースに取り付けられ、運転状態をシミュレートするテストによって
ためされて、補正に必要なデータがこれらテストの結果からえられる。トランス
デユーサに固有なほかのプリセット・データとともにこのデータが、リンク、ス
イッチまたはインターフェースに組み込まれた持久論理回路手段によってトラン
スデユーサインターフェースにエンコードされる。インターフェースを介してト
ランスデユーサの読み取りが行なわれる都度、補正データがトランスデユーサか
らのデータとともにエンコードされて、マイクロプロセッサ−またはコンピュー
タへ返送される。
データは、インターフェイス、およびマイクロプロセッサ−もしくはコンピュー
タが、計器の一部を構成するばあいには直接、またはマイクロプロセッサ−もし
くはコンピュータがシステム内の多数のトランスデユーサを制御するために利用
されているばあいには、1組の専用回線、モデムまたはそのほかの伝送手段を経
て送り返される。トランスデユーサとインターフェースは個々にキャリブレーシ
ョンされて、マイクロプロセッサまたはコンピュータによって制御される計器ま
たはマイクロプロセッサまたはシステムに、トランスデユーサの個々のデータを
そのマイクロプロセッサまたはコンピュータに移す必要なく、組み込めるユニッ
トになっている。トランスデユーサおよびインターフェースユニットは、マイク
ロプロセッサまたはコンピュータに保持されたデータを変更する必要なく取り変
えまたは互換できる。多数のトランスデユーサおよびインターフェースユニット
が大きいシステムの一部としてシングル・ペアの回線で作動しているばあいには
、インターフェースはひとつだけが使用されているときに直接アドレスでき、ス
イッチまたはインターフェースのプリント回路基板上のほかの類似な手段にによ
りエンコードされた固有アドレスに応答することになる。調査すべき基本量を測
定するトランスデユーサに加えて、温度変換器がインターフェースに取り付られ
て、ローカル温度に関連するデータが基本トランスデユーサデータおよび補正デ
ータに加えてエンコードされる。このシステムを利用して、安価な簡単に入手で
きるトランスデユーサがキャリブレーションでき、インターフェース上にエンコ
ードされたデータを利用して、マイクロプロセッサ−またはコンピュータが、そ
れらが補正データを保有する必要なく、近くの、または遠く離れたトランスデユ
ーサおよびインターフェース・ユニットから、正確なデータを入手でき、アドレ
ス・データ(関連のある)以外はマイクロプロセッサまたはコンピュータの保有
するデータを変更する必要なく、システム内のキャリブレーションされたトラン
スデユーサ・インターフェース・ユニットの完全な互換性が成立する。
本発明の前述およびほかの局面のより充分な理解を推進するために、単なる例と
してではあるが、一実施態様が添付図面を参照しながら記述されるであろう。
第1図はアドレス可能なトランスデユーサインターフェース・ユニットのブロッ
ク線図、
第2図は第1図のユニットに使用可能なデジジル・フェーズ・ロックド・ループ
の概略線図、および第3図は第1図のアレンジメントに使用可能なアナログ/デ
ジタルコンバータ回路の概略線図である。
記述される実施態様は、アドレス可能なトランスデユーサインターフェース・ユ
ニット(以下、TUという)であって、すべてのタイプ、すなわち圧力、流量、
温度、湿度などのトランスデユーサと広い範囲でインターフェースするように、
ならびにすべてのTOのコモン、動力線、アドレス・ラインおよびデータ・リタ
ーン・ラインとして機能し、長さが1100Kまでのケーブルのペアに接続され
るTOの数を許容するように設計されたTUである。各々のTOは、接続された
トランスデユーサ用に必要な補正データを用いてエンコードされるであろうし、
アドレスされたときに、コモン・ケーブル・ベアの1 k)lzパルス信号の形
でその固有のプリセット・アドレスを認知し、そのコモン・ケーブル・ベアを介
して、それ自身のアドレス(応答しているTUがアドレスされたものであること
を証明するため)を含むデータ争ストリームを用いて応答するであろう。製作段
階で、TUは所要のタイプのトランスデユーサが取り付けられ組み立てられる。
そののち、TOとトランスデユーサはユニットとしてテストされ、トランスデユ
ーサによって要求される温度サイクルおよびいかなるパラメータのサイクルがた
めされる。テストはコンピュータ・コントロールのもとで行なわれ、えられたデ
ータはそのTUとトランスデユーサの組合わせに特有の補正コードを提供するた
めに処理される。そののち、このコードは(スプリット争ソルダー・パッドまた
はカット・リンクまたはスイッチを用いて) TO内部にセットされる。使用中
において、そのTUはアドレスされる都度(各TUは固有アドレスにプリセット
される)、独自の補正コードを含むデータ拳ストリームを返送する。コントロー
ル・ユニット(以下、CUという)はアドレスされたTUからデータ・ストリー
ムを受け取り、正確なトランスデユーサの読み取り値を提供するために補正コー
ドを用いてそれを処理する。第1図のブロック線図は各々が順に処理されるTU
の機能的な部分を示す。
この回路は第1図において100として一般的に表わされており、CUから提供
される1 kHzパイロット・トーンをコモン・ケーブル・ベア90上で追跡す
るフj−一ズ・ロックド・ループ・システムを含み、以下のものを提供する。
a)システム・タイミングおよびA/Dコンバータに用いられる正確な基準周波
数。
b)「アドレス」をデコードするのに必要でありアドレス・デコーダおよびアド
レス−シフト・レジスタのために必要な基準波形。
アドレスは受け取られるとデコードされ、有効性がチェックされる。すなわち、
それが真のものであり、ノイズや妨害によってもたらされたものではないことを
確実にするためにチェックされ、アドレス・シフト・レジスタ101にクロック
(clocked)され、102で示される記憶手段にプリセットされた固有ア
ドレスと比較される。前記2個のアドレスが同一であるばあい、アドレスはシフ
ト・レジスタに「ロックコされ(locked)、回路の残りの部分に動力が供
給され測定サイクルが開始し、そのあいだほかのいかなるアドレスも無視される
。アドレスがプリセットされたアドレスと同一でないばあい、そのCUのコント
ロール下にあるシステム内のほかのすべてのTUに共通するほかの2個のプリセ
ットされたアドレスと比較される。これらのうち第1のものは「コモン・リセッ
ト信号」である。この信号は、アドレスされたTUが応答できるように充分に長
い時間、すべてのTllをリセットする。
このあいだ、TUはコモン・ライン上のすべてのデータを無視する。この「コモ
ン・リセット信号」は所要の「アドレス」が送られた直後に伝送される。アドレ
スされたTUは「ロック」され、リセットを無視し、測定を実行し、データを返
送し、ほかのすべてのTOはリセットし、このデータを無視する。共通なアドレ
スの第2は「スイッチ・オン」信号である。この信号は所要のTUのアドレスに
先行して伝送され、TOはこれを受け取ると“待期(ready)“状態に入る
。所要のTUのアドレスは、そののち伝送され、アドレスされたTOは、その通
常の「測定およびデータ返送」サイクルを実行し、さらに接続している補助的機
器のいかなる項目のスイッチをも、オン(または、すでにオンのときはオフ)に
する。「コモン・リセット」信号は、所要のTOのアドレスのあとから伝送され
るもので、ほかのすべてのTOは「待期」状態から抜は出て、通常状態にリセッ
トする。いかなるTUによって受取られたアドレスが真のものであっても、TU
のプリセットされたアドレス、「コモン・リセット」信号または「スイッチ・オ
ン」信号のいずれとも一致しないばあいは、無視される。
第1図のアレンジメントに使用されるクアジ・フェーズetffックド・ループ
(quasi phase 1ocked 1oop)の好適な形態を第2図に
概略の形態で示す。
前述のとおり、1 kHzライン90は周波数変調の形によってエンコードされ
た「アドレス」を含む1 kHzのクリスタル・コンドロールド−トーン(cr
ystalcontrol 1edtone)を搬送する。固有のアドレスは伝
送され、短い時間間隔ののち、「コモン・リセット・アドレス」によって追随さ
れる。1 kl(zのクリスタル・コンドロールド・トーンは、そののち、「ア
ドレス」されたユニットが応答できるように中断される。ライン上の「アドレス
」されていないすべてのユニットは「コモン・リセット・アドレス」に応答して
おり、名目上2秒というプリセットされた時間のあいだラインの信号を無視する
。固有アドレス、コモン・リセット・アドレスおよび応答時間の完全サイクルは
このように約2秒間である。
一般的な言い方をすれば、このファジーフェーズ・ロックド・ループは外部周波
数と局部周波数のあいだの)ニーズ・エラー(phase errors)を検
知する手段と、周波数分割器に供給する固定周波数のローカル・オシレータとを
有し、周波数分割器の出力が外部周波数と同じ周波数で同じ位相になるようにそ
の分割比がフェーズ・エラー検知器によって変更される。外部周波数が、クアジ
・フェーズ・ロックド・ループがある与えられた範囲内でいかなる新しい周波数
に自動的に「復帰」しつるように周波数変調された位相を含まないあいだは、周
波数分割器の分割比を自動的にプリセットする回路が含まれていてもよい。
第2図において、カウンタ202は2種の機能を有しており、「アドレスされた
」モードでは、そのカウント(ローカル1kHz)を上昇するコントロールライ
ン225から開始し、通常運転モードでは、ライン225が低位状態に復帰し、
カウンタ 202がリセットされるまえは、出力Aは応答時間2秒に対応するプ
リセットされた値には到達しない。ライン225が高いあいだにリセット値(約
2秒)に到達したときは、ユニットはフォールト・モードになり、「フェール・
セーフ・リセット・アンド・パワー・ダウン」信号が出力りに発生される。
休止(アドレスされていない)モードでは、出力Bのプリセット値がノーマル・
サイクル・タイムよりも大きくセットされているあいだは、カウンタ 202は
I KHzラインのパルスをカウントし、このモードではカウンタ202が20
7からのパルス(アドレス・リセット信号/2秒すセット信号)でリセットされ
るので、出力Bについてタイム・アウトしない。出力Bについてタイム・アウト
するときは、これは、ライン上の1kHz)−ンがアドレスを含んでいなかった
こと、または、この時間のあいだ中断していたこと、すなわち、現在は「キャリ
プレート」信号であることを意味する。カウンター・コントロール・ロジックは
、ここでカウンタ203および204をクリヤーし、それらが、名目上の周波数
100KHzで作動中のローカル・オシレータから100で割る分割機20Bお
よびインプット・セレクタ207を介してカウントし、カウンタ 202のC出
力(ライン・トーン100サイクル)によって決定される時間、カウント・アッ
プできるようにする。
この時間の最後では、カウンタ 203および−204は単一の1 kHzパイ
ロット・トーン・サイクルのあいだ存在するローカル・オシレータ・パルスの数
(または、フェーズ・ロッキング(phase locking)に必要な周波
数とローカル・オシレータ周波数との比)と同じカウント値を含んでいる。キャ
リプレート時間が終了するとただちに、回路201および付随するカウンタ 2
02は、アドレスまたはキャリプレート・モードのチェックという自身の役割に
戻る。キャリプレート時間のあいだ、回路201の出力は、別の制御回路209
をそれ自身のサイクルを開始するようにセットするのに用いられ、この出力を解
除したときは、回路209は次の1 kHzラインパルスの立ち上り(lead
ingedge)を検知して起動する。カウンタ 203および204は÷N・
バイナリ−・カウンタ211にカスケードする÷lO・カウンタである。したが
って、カウンタ 204に記憶された値は、203に記憶されたレムナンド(r
eαnant)の合計の1/10である。回路209は、カウンタ 211に2
04のカウント値を10回ロードしローカル・オシレータ 205を使用する都
度0に低下させたとき、カウンタ 210に203のカウント値をロードし、一
度低下させることになる。これは203および204の値と等しいローカル・オ
シレータ 205のパルスの合計カウント値、すなわち、1 kHzパイロット
・トーンの1サイクルと等しいローカル・オシレータ・パルスの数をもたらす。
211がロードされそして低下される都度、カウンタ 212のカウント値は1
ずつ増加する(0から開始する)。212の「4」出力は40%におよそ等しく
(最小40%最大44%で、203内の「レムナンド」値に依存する)、「5」
出力は50%におよそ等しく(最小50%、最大55%)、「6」出力は60%
におよそ等しい(最小60%、最大66%)。4および6出力は、ここで1 k
HzラインのPMデータのチェックに用いてもよく、5出力はフリップフロップ
回路213の出力をハイからローにトグル(toggle)するのに用いられる
。10出力は回路209で検知され一度(210)低下され、回路209はフリ
ップフロップ213を再びハイにトグルし、こうして出力ライン214の1 k
Hzの1サイクルが完了する。フェーズ・ディテクター208はここで、出力ラ
イン214の信号と1 kHzパイロット・トーンの立ち上りの同時発生をチェ
ックし、カウンタ 203および204の値の増分/減分にエラーが存在するか
どうかをチェックする。
ローカル・オシレータが、1nsecの時間あたり±1%の短期安定性と2 s
ecの時間あたり±1%の長期安定性を有ししておれば(これらの時間のあいだ
供給電圧と温度とが不変であると仮定する)、フェーズ・ロックド・ループは±
1%以内にロックを維持する。「アドレス」が受け取られたとき、または2秒間
リセットのとき、フェーズ・ロック・ディテクター208は全応答時間または2
秒間リセット時間のあいだ凍結される。凍結信号が解除されると、回路209は
そのシーケンスの開始点にリセットされ、凍結信号解除のあとに追随する次の1
kHzライン・パルスの立ち上りによる起動のための持切状態になる。
カウンタ・コントロールやロジック回路201は、ライン255を介してチップ
が休止モードにあるかアドレス・モードにあるるかを決定する。アドレス・モー
ドにあるとき、コントロール・ロジック 201はローカル1 kHzをカウン
タ 202に導く。休止モードにあるとき、コントロール・ロジック 201は
1 kHzライン・インプットをカウンタ202に導く。1 kHzラインの信
号がドロップ・アウトしたばあい、またはアドレスが受け取られたばあい、カウ
ンタ 202はリセットするであろう。カウンタ 202が出力Bについてタイ
ム・アウトするとき、コントロール・ロジック 201は203および204の
カウント値をクリアし、2050−カル・オ、シレータ・インプットを206お
よび207を介して203および204にセレクトし、1kllzライン・イン
プットを202に維持し、カウンタ 202が出力C(100ライン1 kHz
パルスに等しい)についてタイム・アウトするのを待つ。カウンタ202が出力
Cについてタイムアウトするときは、フェーズ・ロックド・ループの所要数は、
203および204内に存在する。カウンタ202が出力Cについてタイムアウ
トするまえに207にリセットがあられれるときは、コントロール・ロジック2
01は203および204をクリアし再びカウンタ 202が出力Cについてタ
イム・アウトするのを待つ。カウンタ202が出力Cについて一度タイム・アウ
トしたときは、コントロール・ロジック 201は202をリセットし、1kH
zライン・インプットを202に維持し、出力Bについての再度のタイム・アウ
トまたは25からのアドレス状態を待つ。フェーズ・ロック・ディテクタ208
が1 kHzライン信号とローカル1 kHzとの立ち上り(ローからハイへの
変化)を比較する。ライン1 kHzがローカル1 kHzより先行するときは
、カウンタ 203および204はU/Dラインを介してダウン・カウントする
ようにセットされ、U/Dエネーブル・ライン上の誤差パルスはセレクタ207
を介してカウンタ 203および204に供給される。ローカル1 k)lzが
ライン1 kHzよりも先行するときは、カウンタ 203および204はU/
Dライ−ンを介してアップ・カウントするようにセットされ1.U/Dエネーブ
ル・ライン上の誤差パルスはセレクタ 207を介してカウンタ 203および
204に再び供給される。このように、203および204に保持された値はロ
ックを維持するために増加または減少する。
カウンタ・ロード/コントロール・ロジック回路209は、つぎのシーケンスを
遂行する。
ライン225上の信号がハイであり、ユニットがすでにアドレスされたことを示
すとき、フェーズ・ロック・ディテクター208はそれ以上の誤差の補正が禁じ
られる。
「2秒間」リセットが宣せられたときは、ディテクター208もまた凍結される
。
カウンタ 203および204からのローディングとこれらのカウンタ中の誤差
補正とが矛盾しないことを確実にする手段が設けられてもよい。
゛第2図のかかるアレンジメントはっぎの利点をもたらす。
1)PLLシステムのあらゆる部分やローカル・オシレータの設定や調整が不要
。
2)運転中において、PLLは変化する信号(最大変化率はパルス繰返し周波数
に対してサイクルあたり1%)に対して広範囲にわたり1%よりも良好な正確さ
で追跡するであろう。(信号範囲は、ローカル・オシレータの運転周波数によっ
てのみ制限される)。
3)運転周波数は、2秒間より長い時間に必要な周波数を伝送することによって
範囲内のいかなる点にセットしてもよい。
4〉システムが適切な波形の立ち上がり(ローからハイへの変化)のときに追跡
し、ロックし、下降方向の伝送を無視するので、パルス繰り返し周波数が一定で
あれば、パルス幅変調を含む波形のときにロックし、追跡し、パルス幅変調のデ
コーディングに必要なタイミング情報を提供するであろう。「追跡」モードおよ
び「凍結」モードにおいてサイクルあたり1%以下という変化率が「凍結」時間
の最後にロックされ、ローカル・オシレータの安定性が2秒間あたり1%よりも
良好であれば、ローカル・オシレータの変化(温度または電圧の変動による)に
かかわらずロックを維持する。
2 : A/Dコンバータ
本発明のほかの局面を具体化するように設計されたAからDへのコンバータであ
る。パワーやアップされたとき(すなわち、TUがその固有アドレスを受けとっ
たとき)A/Dは単一の測定サイクルを遂行し、そのあいだ同時にそのデジタル
・インプットの各々に存在する電圧のアナログ値をデジタル値に変換する。本発
明のこの実施例に要求されるもものとして3個のアナログ・インプットがあるが
、このA/D回路は20またはそれを上回るアナログ・インプットを同時に測定
するようにアレンジしてもよい。各アナログ・インプットはアソシエイテド(a
ssociated)・シフト・レジスタ 104を有し、各インプットに関す
るデジタル値はそのパラレル・インプットを介してアソシエイテド・シフト・レ
ジスタにロードされる。これらのシフト・レジスタはそのインプットおよびアウ
トプット・ボートを介してシーケンシャルなチェーンに連結され、各アナログ・
インプットのデジタル値が組み合わせられてデジタル「ワード」を形成し、シフ
ト・レジスタのチェーンを通っておよび同チェーンから「クロック」できるよう
になっている。このシフト・レジスタのチェーンは、デコーダからえられた認知
されたアドレスを依然として保持しているアドレス・シフト・レジスタ 101
1およびパワー・アップされると、記憶手段107からプリセットされた補正デ
ータをロードする補正データ・シフト・レジスタのチェーン 106に連結され
る。シリアルなインプットおよびアウトプットは再びシフト・レジスタの連結に
用いられ、シフト・レジスタの完全なチェーンが、アドレス、A/D測定データ
およびプリセットされた補正データからなる単一の長いデジタル・ワードを含む
ようにされる。このワードはシフト・レジスタのチェーンを通っておよび同チェ
ーンから「リターン・データ・エンコーダおよびライン・ドライバー」105内
に(シリアルに)クロックされ、「リターン・データ・エンコーダおよびライン
・ドライバー」ではデータは(アドレシングのときに使用されているものとは異
なったフォーマットを使用して)エンコードされ、コモン・ケーブル・ベアを経
てCUに返送される。一度これが行なわれると、TUは測定用回路を「パワー・
ダウン」し、将来のアドレスのためにコモン・ケーブル・ペアをモニターする状
態に復帰する。
A/Dオペレーションおよびデータ補正システムこの実施態様においては3個の
A/Dアナログ・インプットのうち1個は基準電圧に結線され、1個は温度トラ
ンスデユーサに結線され、あとの1個は拘束されていない。基準電圧は0からT
U用動力供給電圧までのいかなる値でもよく、実際には、動力供給電圧の約半分
の値にセットされる。
テストおよびキャリブレーションのあいだ、拘束されていないインプットに所要
のタイプのトランスデユーサが取り付けられ、「フル・スケール」の出力を生ず
るように所要のパラメータがそのトランスデユーサに与えられる。たとえば所要
のトランスデユーサが0−30p、s、i、の絶対圧力ドランスデューサであれ
ば、30p、s、1.の絶対圧力が与えられ、テスト・コンピュータによってT
Oから関連のデジタル値かえられる。同時に基準電圧が測定され、そのデジタル
値かえられる。ふたつの値は比較され、補正データ・ワードの第1の部分を形成
する比として表現される。0インプツトが、ここで、テスト中のトランスデユー
サに与えられる。たと、えば、0−30p、s、i、の絶対圧力ドランスデュー
サにはOp、s、1.が与えられる。そして再びこれに対するA/D出力値と基
準電圧値とかえられ、補正データ・ワードの第2の部分を形成する比を生ずるよ
うに処理される。この動作がつぎに異なった温度において繰り返され、基準値に
対するフルスケールの値および基準値に対する0インプツトの値が比較され、0
インプツトの温度係数(これはトランスデユーサおよびA/D回路の本質的ない
かなるオフセットも含む)およびフル・スケール・インプットの温度係数を見出
すように処理される。これらの温度係数は補正データ・ワードの第3および第4
の部分を形成する。最後にトランスデユーサはインプットの全範囲、たとえば0
−30p、s、i、の絶対圧トランスデユーサのときにはOp、s、i、 、i
p、s、1..2p、s、1.など、にわたって運転され、えられた比はトラン
ス・デューサの出力特性が線形であることをチェックするために処理される。そ
うでないときは、非線形曲線の特性を生ずるようにデータはさらに処理される。
非線形のばあい、すべてのタイプのほとんどすべてのトランスデユーサは予測可
能な非線形曲線を有しており、ランダムまたは予測不可能な非線形性はまれであ
って通常は欠陥のあるトランスデユーサであることを示す。非線形曲線の特性は
、データ補正ワードの第5の部分を形成する。標準温度における温度トランスデ
ユーサの出力はA/Dと基準電圧からえられ、比を見出すために処理され、エン
コードされてデータ補正ワードの第6の部分を形成する。この補正データ・ワー
ドはここで、スプリット・パッド、プリセット・スイッチまたはリンクによって
エンコードされ、TOの補正データ・シフト・レジスタのチェーン 106のパ
ラレル・インプットに接続された記憶手段107を形成する。
第1図のアレンジメントに使用するアナログからデジタルへのコンバータの好ま
しい形態を第3図および第4図に概略の形で示す。
第3図においてEC5およびEC12はそれぞれ+5■およびOVの動力線であ
る。EC14はシフト・レジスタ 104のためのクロック・ラインである。E
C37はコンバージョン・シグナル・ラインの端部である。EC13はシフト・
レジスタ・シリアル・データ・アウトプット・ラインである。EC22は1 k
Hzインプット・ラインである。
パワー・アップしたとき、ハイレベル(ロジック「1」)のリセット・パルスが
、EC16を経てバイナリ−・カウンタ 3吋に与えられる。リセット・パルス
は約16Ilsecの長さで、繰り返されない。すなわち、EC18は測定時間
以外のあいだはロー・レベル(ロジック「0」)ヲ維持する。リセット・パルス
はシリコン・コンドロールド・スイッチ302にも供給され、シリコン・コンド
ロールド・スイッチ302はこの時間のあいだターン・オンし、キャパシター3
03を短絡させ、それが0ボルトまでディスチャージされることを確実にする。
同時に、リセット・パルスは304にインバートされ別のシリコン・コンドロー
ルド・スイッチ305に供給される。シリコン・コンドロールド・スイッチ30
4はリセット時間のあいだオフを維持する。リセット・パルスの最後ではEC1
6はロー・レベルに復帰し、これにより 302をターン・オフし、キャパシタ
ー303の短絡を解除し、インバータ 304を経てスイッチ305をターン・
オンし、一定電流源30Bをポジティブ・サプライに接続させ、一定電流回路3
06がキャパシター303をチャージしはじめる。 306と 303のジャン
クション309での電圧は、こうして線形的に上昇し始める。同時にバイナリ−
・カウンタ 3吋はそのインプットに存在する1OkHzパルスをカウントし始
める。これらのパルスはNANDゲート 308を介してカウンタ・インプット
に供給される。
ジャンクション309での上昇する電圧は、3個のコンパレータ 310.31
1.312のインバーテイング・インプットによってモニターされる。これらの
コンパレータのノン・インバーテイング・インプットは3つの別々なアナログ・
ボルテージ・インプットを形成し、その各々は別々の未知の電圧を測定すること
ができる。各々のコンパレータの出力は初期には「ハイ」 (ロジック「1」)
であり、コンパレータのアウトプットをインバートしシリアル/パラレル・イン
プットのシフト/ロードを制御するNANDゲート313、314、315を介
して、シリアル・アウトプット・シフト・レジスタ 316.317.318に
接続される。各シフト・レジスタ 3113. 317.318はそのパラレル
・インプットを介してバイナリ−・カウンタ301の出力をモニターする。ある
コンパレータのノン・インバーテイング・インプットの上昇する電圧が、そのコ
ンパレータのインバーテイング・インプットに存在する未知電圧の値をこえると
きは、そのコンパレータの出力はハイ(ロジック「1」)レベルからロー(ロジ
ック「0」)レベルへと変化する。これにより、そのコンパレータに接続してい
るNANDゲートの出力313.314.315は適当なシフト・レジスタの「
ロード」インプットにハイ(ロジック「1」)を与え、それをロードさせ、その
時点でバイナリ−・カウンタ301が伝達したカウント値を(そのパラレル・イ
ンプットを経て)記憶させる。
キャパシター303の値と 308の一定電流の大きさは、シフト・レジスタの
パラレル・インプットによってモニターされるカウンタの値によって与えられる
最大時間以内に、コンパレータがすべてのステートを変化しなければならないよ
うに選択される。こうして、このタイミングの時間の最後には、各シフト・レジ
スタは、関連するインプットに存在するアナログ電圧のレベルに直接比例する値
を記憶しているであろう。バイナリ−・カウンタ上のほかのアウトプット−ステ
ージは、測定時間よりも長い時間のあとでタイムψアウトし、さらにカウントす
ることを禁するため、およびEC37を介してコンバージョン信号の最終を提供
するために用いられる。各NANDゲート313.314.315のセカンド・
インプットはインバータ307の出力に接続され、インバータ 307はEC3
7上に存在するEOC(コンバージョン信号の最終)をインバートし、NAND
ゲート 308を介して、さらにカウントすることを防ぐためにそれを用いる。
同時にEOCはNANDゲート 313.314.315を介して(そのそれぞ
れのコンパレータのアナログ・インプット上のオーバーレンジ・インプット・シ
グナルのために)まだ「ロード」信号を受け取っていないシフト・レジスタ 3
1B、317.31gのうちいかなるものにも、0値をロードさせオーバーレン
ジ状態を表示させるよう強制するのに使用される。
シフト・レジスタは(それらのシリアル・インプットおよびアウトプットを介し
て)シリーズに接続され、ここで記憶された値はEC14上のクロック・パルス
の制御のもとてEC13を介して、1個の長いデータ・ワードとしてクロックド
・アウトできる。
3つのアナログ・インプットが示されているが、実際には、各インプットのため
の適当な回路を二重にすることによって多数のインプットが同時に測定できる。
示されているバイナリ−・カウンタおよびシフト・レジスタは「8ビツト」の測
定用であるが、6.10または12ビツトのカウンタおよびシフト・レジスタを
用いることによって6、lOおよび12ビツトの測定も可能である。カウントの
周波数は10kHzと示されているがより高いあるいはより低い周波数の使用も
可能である。
運転中においてTOがアドレスされる都度、「ロード」信号が補正データ・シフ
ト・レジスタのチェーン10Bに与えられ、パラレル・インプットのプリセット
された値が、伝送の用意ができた記憶手段107から、このようにロードされる
。ほかのアナログ・インプットに接続されたトランスデユーサに与えられる供給
電圧から、基準電圧がめられ、すべてのインプットが同時に測定されるので、供
給電圧のいかなる変化も、基準のおよびすべてのトランスデユーサに同等の変化
(パーセンテージとして表示されてたもの)を生じ、いかなるインプットに存在
する未知の電圧に対する基準電圧の比も不変である。
TOは測定時に、すべてのインプットの絶対値をアドレスおよびデータ補正ワー
ドとともに伝送する。CUはこれをデコードし、アドレスを検証したのち、各イ
ンプットと基準電圧のデコードされた値を処理し、基準電圧に対する各インプッ
トの電圧の比をめる。データ修正ワードはここでデコードされ、次のものを提供
する。
1: 温度に対する基準値の比(基準温度における)。これは温度値の現在の基
準値と比較され現在の温度がめられる。
2: フルースケールのトランスデユーサ出力に対する基準値の比。これは現在
の基準トランスデユーサ比と比較され、現在のトランスデユーサの出力レベルが
測定される。
3:0インプツトに対する基準値の比。これはフル・スケール比の基準値によっ
て処理され、0値(いかなるオフセット誤差をも含む)をめる。
4:0の温度係数(%/℃で表示されるもの)。これは現在の温度データととも
に用いられO値を補正する。
0値はここで現在のトランスデユーサの出力レベルから差引かれる。
5: スパンの温度係数(%/℃で表示されるもの)。これは現在の温度データ
とともに用いられ現在のトランスデユーサの出力レベルを補正する。
6: 非線形データ。現在のトランスデユーサの出力レベルは、ここまでに、フ
ル・スケールのパーセンテージで測定されており、非線形データは、最終的な誤
差補正に使用される。
これまでに概説したシステムおよびプロセスを使用することによって、離れた位
置のトランスデユーサの現在のインプット・レベルがローカルな温度や供給電圧
の変化にかかわらず正確に測定でき、それ自身の非線形特性に関して補正されう
る。
加えて、追加のシフト・レジスタ(示されていない)をデータ補正シフト・レジ
スタのチェーン108に付加し、さらにほかの補正データのエンコードを可能に
するか、ローカル(TUへの)のセキュリティ・システム(バーグラ−(Bur
glar) )アラーム、ファイヤー・アラームなど)または流量積算計もしく
はエクスターナル・ハイ・リゾリュージョンA/Dコンバータなどのデジタル出
力をともなうほかの機器からのパラレル・インプットのスイッチド・アウトプッ
トへの結線を可能にしてもよい。このように、アドレスされたトランスデユーサ
の追加のローカルなデジタル情報が、TUがアドレスされる都度、エンコードさ
れCUに返送されてもよい。
F/G、2
国際調査報告
A−’JNEX To ThE rNTER,NATICNAL 5EA−RC
H:’tEPORT 0NrNTERNAτl0NAL A??”、IC,1T
ICN No、 PCτ/C,B 86100705 (SA 15245)υ
5−A−3+315100 04106/74 None
Claims (17)
- 1.電気式トランスデューサをとくに随伴するアドレス可能なトランスデューサ 用インターフェスであって、該インターフェースが外部の制御手段によってアド レスされたときに、補正データが測定データとともにトランスデューサから制御 手段へ返送されるように、該トランスデューサに関してここに明示されるごとき 誤差の補正のための補正データを記憶する手段(107)を有することを特徴と するトランスデューサインターフェース。
- 2.前記記憶する手段が前記補正データをデジタルの形で記憶するようにアレン ジされていることを特徴とする請求の範囲第1項記載のインターフェース。
- 3.前記補正データが、随伴するトランスデューサ/インターフェースのための 固有アドレス、クラスCの誤差がここに明示されるごとく補正されうるような随 伴するトランスデューサのクラス・アイデンティティ、クラスBの誤差がここに 明示されるごとく補正されうるような随伴するトランスデューサの特性に関する データ、およびクラスAの誤差がここに明示されるごとく補正されうるような随 伴するトランスデューサの特性の変化に関するデータの各項目のうち少なくとも ひとつを含むことを特徴とする請求の範囲第1項または第2項記載のインターフ ェース。
- 4.前記補正データがシリアルな形で伝送されることを特徴とする請求の範囲第 1項、第2項または第3項記載のインターフェース。
- 5.前記記憶する手段が、少なくともひとつのシフト・レジスタ(106)から なることを特徴とする請求の範囲第1項、第2項、第3項または第4項記載のイ ンターフェース。
- 6.シフト・レジスタが記憶する手段内に前記各項目に対して設けられているこ とを特徴とする請求の範囲第3項に従属する請求の範囲第5項記載のインターフ ェース。
- 7.前記シフト・レジスタがシリアルな形のデータのワードの連続する部分とし て前記各項目のデータが伝送されるようにカスケードにて補正されることを特徴 とする請求の範囲第6項記載のインターフェース。
- 8.前記補正データの記憶のためのエンコード可能な手段(107)が設けられ ており、該データを前記または前記のうちのひとつのシフト・ジスタ(106) にロードするための手段が設けられていることを特徴とする請求の範囲第5項、 第6項または第7項記載のインターフェース。
- 9.前記制御手段のインターロゲーティング・シグナルの周波数にロックし、前 記制御手段からインターフェースヘのアドレス信号のデコーディングに使用され るインターフェース内部の周波数標準を提供するようにアレンジされたフェーズ ・ロックド・ループ回路(100)を有することを特徴とする請求の範囲第1項 、第2項、第3項、第4項、第5項、第6項、第7項または第8項記載のインタ ーフェース。
- 10.随伴するトランスデューサからのアナログ出力をデジタル信号に変換する ようにアレンジされたアナログからデジタルヘのコンバータ回路(104)を有 することを特徴とする請求の範囲第1項、第2項、第3項、第4項、第5項、第 6項、第7項、第8項または第9項記載のインターフェース。
- 11.随伴するトランスデューサと結合されている請求の範囲第1項、第2項、 第3項、第4項、第5項、第6項、第7項、第8項、第9項または第10項記載 のインターフェース。
- 12.特定の値の一定電流源から特定の値のキヤパシター(303)を変化させ る手段(305、306)、インプット上のアナログ電圧信号値を該キヤパシタ ーのチャージ電圧と比較するようにアレンジされた電圧コンパレータ手段(31 0、311、312)、キャパシターのチャージが0チャージから開始されると きに基準周波数のサイクルのカウントを開始するようにアレンジされたデジタル カウンタ(301)、シフト・レジスタ(316、317、318)ならびに前 記キャパシターにおけるチャージが前記コンパレータによって検知されアナログ 信号の値と等価であるときに前記シフト・レジスタにロードされるべき前記カウ ンタにおいてインスタンテーニァス・カウントを生ずるようにアレンジされたロ ーディング回路を有することを特徴とする請求の範囲第1項、第2項、第3項、 第4項、第5項、第6項、第7項、第8項、第9項、第10項または第11項記 載のインターフェースに使用されるアナログからデジタルヘのコンバータ回路。
- 13.複数の独立したアナログ信号が同時に前記シフト・レジスタに記憶される デジタル値に補正されうるような、前記キャパシターのチャージ電圧に応答し各 々がそれぞれインプットを随伴するコンパレータ手段およびロード回路を随伴す る複数の前記シフト・レジスタを有することを特徴とする請求の範囲第12項記 載のアナログからデジタルヘのコンバータ。
- 14.前記シフト・レジスタが、そこに記憶されるデジタル値がシリアルな形で データのワードの部分としてそこから伝送されるようにカスケードされているこ とを特徴とする請求の範囲第13項記載のアナログからデジタルヘのコンバータ 。
- 15.請求の範囲第12項、第13項または第14項記載のアナログからデジタ ルヘのコンバータ回路が、随伴するトランスデューサまたはその周辺からのひと つまたはそれ以上のアナログ値がデジタル値に補正されるようにアレンジされて いることを特徴とする請求の範囲第1項、第2項、第3項、第4項、第5項、第 6項、第7項、第8項、第9項、第10項または第11項記載のインターフェー ス。
- 16.前記アナログ値が、随伴するトランスデューサによ、って測定されたパラ メータに関する値、トランスデューサが発生している周囲温度に関する値および トランスデューサに与えられる基準電圧に関する値からなることを特徴とする請 求の範囲第15項記載のアドレス可能なインターフェース。
- 17.前記補正データが、 最大出力時に与えられる基準電圧に対するトランスデューサの最大スケール出力 の比をあらわすワード、0出力時に与えられる基準電圧に対するトランスデュー サの0スケール出力の比をあらわすワード、0スケール出力の温度係数をあらわ すワード、フル・スケール出力の温度係数をあらわすワード、トランスデューサ の出力曲線の特性をあらわすワード、および 標準温度における、トランスデューサの周囲温度を測定する手段の出力をあらわ すワードからなることを特徴とする請求の範囲第15項または第16項記載のア ドレス可能なインターフェース。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8528587 | 1985-11-20 | ||
| GB858528587A GB8528587D0 (en) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | Transducer interfaces |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63501823A true JPS63501823A (ja) | 1988-07-21 |
Family
ID=10588510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61506105A Pending JPS63501823A (ja) | 1985-11-20 | 1986-11-19 | トランスデュ−サインタ−フェ−スの改良 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4831380A (ja) |
| EP (2) | EP0225118A3 (ja) |
| JP (1) | JPS63501823A (ja) |
| CN (1) | CN1009769B (ja) |
| AU (1) | AU604659B2 (ja) |
| CA (1) | CA1287139C (ja) |
| GB (1) | GB8528587D0 (ja) |
| WO (1) | WO1987003436A2 (ja) |
| ZA (1) | ZA868764B (ja) |
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- 1985-11-20 GB GB858528587A patent/GB8528587D0/en active Pending
-
1986
- 1986-11-19 CA CA000523340A patent/CA1287139C/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-19 EP EP86309031A patent/EP0225118A3/en active Pending
- 1986-11-19 EP EP86906880A patent/EP0247117A1/en not_active Withdrawn
- 1986-11-19 ZA ZA868764A patent/ZA868764B/xx unknown
- 1986-11-19 AU AU66207/86A patent/AU604659B2/en not_active Ceased
- 1986-11-19 US US07/084,699 patent/US4831380A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-19 WO PCT/GB1986/000705 patent/WO1987003436A2/en not_active Ceased
- 1986-11-19 JP JP61506105A patent/JPS63501823A/ja active Pending
- 1986-11-20 CN CN86108362A patent/CN1009769B/zh not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8528587D0 (en) | 1985-12-24 |
| EP0225118A3 (en) | 1987-08-26 |
| AU604659B2 (en) | 1991-01-03 |
| CN86108362A (zh) | 1987-07-08 |
| US4831380A (en) | 1989-05-16 |
| CN1009769B (zh) | 1990-09-26 |
| AU6620786A (en) | 1987-07-01 |
| WO1987003436A2 (en) | 1987-06-04 |
| EP0247117A1 (en) | 1987-12-02 |
| WO1987003436A3 (en) | 1987-07-16 |
| CA1287139C (en) | 1991-07-30 |
| ZA868764B (en) | 1987-07-29 |
| EP0225118A2 (en) | 1987-06-10 |
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