JPS6358101A - 位置検出装置 - Google Patents
位置検出装置Info
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- JPS6358101A JPS6358101A JP61201418A JP20141886A JPS6358101A JP S6358101 A JPS6358101 A JP S6358101A JP 61201418 A JP61201418 A JP 61201418A JP 20141886 A JP20141886 A JP 20141886A JP S6358101 A JPS6358101 A JP S6358101A
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- JP
- Japan
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- voltage
- output voltage
- magnetized
- output
- circuit
- Prior art date
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、外部磁界により抵抗値が変化する磁気抵抗効
果型素子を用いた、位置検出装置に関する。
果型素子を用いた、位置検出装置に関する。
磁気抵抗効果型素子(以後、■素子と略す〕は外部磁界
により抵抗値が変化する突子である。従って、皿素子の
抵抗値変化を検出することにより、外部磁界の変化を知
ることができる。
により抵抗値が変化する突子である。従って、皿素子の
抵抗値変化を検出することにより、外部磁界の変化を知
ることができる。
抵抗値の変化の検出法は、種々考案されているが、最も
簡単な方法としては、思素子と固定抵抗器を直列接続し
て直流電圧を印加し、接続点より直流電圧(以下、MR
出力電圧とする)を取り出し、この直流電圧の変化によ
り皿素子の抵抗値の変化を検出できる。
簡単な方法としては、思素子と固定抵抗器を直列接続し
て直流電圧を印加し、接続点より直流電圧(以下、MR
出力電圧とする)を取り出し、この直流電圧の変化によ
り皿素子の抵抗値の変化を検出できる。
また、磁気カードの読み取り装置のように、高速で磁界
が変化する場合の抵抗値の変化の検出は例えば、特開昭
60−40504号公報においては、■素子に直流電圧
を印加し、抵抗値の変化による電流の変化を電圧の変化
に変換し増巾して高周波信号電圧として取り出している
。
が変化する場合の抵抗値の変化の検出は例えば、特開昭
60−40504号公報においては、■素子に直流電圧
を印加し、抵抗値の変化による電流の変化を電圧の変化
に変換し増巾して高周波信号電圧として取り出している
。
■素子による外部磁界変化の検出の応用として、部分的
に着磁されている媒体をステップ状に直線、或いは回転
運動させ、着磁部を検出してその運動を停止させる位置
検出装置がある。
に着磁されている媒体をステップ状に直線、或いは回転
運動させ、着磁部を検出してその運動を停止させる位置
検出装置がある。
上記、第一の従来技術を用いて着磁部を検出するために
は、上記、■出力電圧に適当なしきい値を設け、独出力
電圧がしきい値を越えることを判定すればよい。しかし
ながら、■素子の抵抗のノ(うつき、温度特性、或いは
経時変化による抵抗の変化により以下の問題が生じる。
は、上記、■出力電圧に適当なしきい値を設け、独出力
電圧がしきい値を越えることを判定すればよい。しかし
ながら、■素子の抵抗のノ(うつき、温度特性、或いは
経時変化による抵抗の変化により以下の問題が生じる。
上記、■出力電圧は■素子に外部磁界が加わらない場合
の電圧(以下、中点電圧とする)を基準に、外部磁界に
よる抵抗値変化に応じた電圧の変化分(以下、変位電圧
とする)変位する。しかし、上記■素子の素子ごとの抵
抗のバラつき、置特性や経時変化による抵抗の変化によ
り、変位電圧は変わらなくても中点電圧が変化するため
、出力直流電圧の絶対値は変動し、上記しきい値を設定
しなおさなければならない。
の電圧(以下、中点電圧とする)を基準に、外部磁界に
よる抵抗値変化に応じた電圧の変化分(以下、変位電圧
とする)変位する。しかし、上記■素子の素子ごとの抵
抗のバラつき、置特性や経時変化による抵抗の変化によ
り、変位電圧は変わらなくても中点電圧が変化するため
、出力直流電圧の絶対値は変動し、上記しきい値を設定
しなおさなければならない。
また、上記位置検出装置では着磁媒体をステップ状に送
るが、ステップモータな駆動するパルスの飛び込み、パ
ルスを送ってからモータが動くまでの時間遅れ、機構部
のガタ等九より、着磁媒体を動かした直後は、出力直流
電圧は安定していない。このため上記、第1.第2の従
来技術を用いた場合、誤って出力電圧の変化を検出する
可能性がある。
るが、ステップモータな駆動するパルスの飛び込み、パ
ルスを送ってからモータが動くまでの時間遅れ、機構部
のガタ等九より、着磁媒体を動かした直後は、出力直流
電圧は安定していない。このため上記、第1.第2の従
来技術を用いた場合、誤って出力電圧の変化を検出する
可能性がある。
本発明の目的は、上記問題点を考慮して、誤動作の少な
い位置検出装置を提供することにある。
い位置検出装置を提供することにある。
上記目的は、皿素子の出力電圧を、着磁媒体の動きに同
期し、かつNFL出力電圧が安定した時にサンプリング
し、サンプリングした値を記憶する記憶回路と次のステ
ップで同様に■出力電圧をサンプリングし、上記記憶さ
れた値と比較する比較手段を設け、各ステップ毎の相対
的な、皿出力電圧の変化を検出することKより達成され
る。
期し、かつNFL出力電圧が安定した時にサンプリング
し、サンプリングした値を記憶する記憶回路と次のステ
ップで同様に■出力電圧をサンプリングし、上記記憶さ
れた値と比較する比較手段を設け、各ステップ毎の相対
的な、皿出力電圧の変化を検出することKより達成され
る。
サンプリングのタイミングを皿出力電圧が安定した時に
することにより、着磁媒体移動直後の雑音による誤動作
をなくし、またステップ毎の相対的な■出力電圧の変化
を検出することにより、中点電圧の変動による誤動作を
なくすことができる。
することにより、着磁媒体移動直後の雑音による誤動作
をなくし、またステップ毎の相対的な■出力電圧の変化
を検出することにより、中点電圧の変動による誤動作を
なくすことができる。
以下、本発明の詳細を図を用いて説明する。第1図は、
本発明の第1の実施例の構成図である。
本発明の第1の実施例の構成図である。
1は、所定の位置に着磁された物質(以下、着磁媒体と
呼ぶ)であり、駆動機構2により、ステップ状に移動す
る。3は、皿素子、4は固定抵抗、5は直流電源であり
、前記磁気抵抗効果型素子3と固定抵抗4の直列接続回
路に対して直流電圧を印加するものである。6は、上記
直列接続回路の接続点であり、ここから、MR素子3と
固定抵抗4とで、前記直流電圧を分圧した直流電圧C以
下■、4 。
呼ぶ)であり、駆動機構2により、ステップ状に移動す
る。3は、皿素子、4は固定抵抗、5は直流電源であり
、前記磁気抵抗効果型素子3と固定抵抗4の直列接続回
路に対して直流電圧を印加するものである。6は、上記
直列接続回路の接続点であり、ここから、MR素子3と
固定抵抗4とで、前記直流電圧を分圧した直流電圧C以
下■、4 。
出力電圧と呼ぶ)を取り出す。7は、前記分圧して取り
出した直流電圧をサンプリングするサンプリング回路、
8は、サンプリング回路7でサンプリングされた値を記
憶する記憶回路、9は、上記サンプリングされた値と1
ステツプ前にサンプリングされ記憶回路9に記憶されて
いた値とを比較する比較回路、10は、制御回路であり
比較回路9の出力に応じてサンプリング回路、及び次に
述べる駆動回路を制御するものである。11は、先述し
た駆動機構2を駆動する回路である。
出した直流電圧をサンプリングするサンプリング回路、
8は、サンプリング回路7でサンプリングされた値を記
憶する記憶回路、9は、上記サンプリングされた値と1
ステツプ前にサンプリングされ記憶回路9に記憶されて
いた値とを比較する比較回路、10は、制御回路であり
比較回路9の出力に応じてサンプリング回路、及び次に
述べる駆動回路を制御するものである。11は、先述し
た駆動機構2を駆動する回路である。
尚、第1図に示した構成では、固定された皿素子3に対
して着磁媒体1が働いているが、逆に固定されている着
磁媒体1に対し、■素子3が働いている場合でも、もち
ろんよい。要するに両者が相対的に運動する構造であれ
ばよい。
して着磁媒体1が働いているが、逆に固定されている着
磁媒体1に対し、■素子3が働いている場合でも、もち
ろんよい。要するに両者が相対的に運動する構造であれ
ばよい。
第2図に、着磁媒体1と胤素子3との相対位置及び皿出
力電圧の波形図を示す。但し、図中1゜3〜5で示した
ものは、第1図で説明したものと同シである。図は、ス
テップ数00時の■素子3と着磁媒体1の相対関係を示
しており、以後所定の時間毎に1ステツプづつステップ
状に着磁媒体1が矢印方向に動くものとする。下段は、
各ステップでの思出力電圧を示すものである。尚、■素
子の抵抗RMRは外部より磁界が加わった場合、l’r
MR(BMu >RMR)となり太き(なるものとする
。但し必ずしもこうなる必要はなく Rju (RMR
でもよい。
力電圧の波形図を示す。但し、図中1゜3〜5で示した
ものは、第1図で説明したものと同シである。図は、ス
テップ数00時の■素子3と着磁媒体1の相対関係を示
しており、以後所定の時間毎に1ステツプづつステップ
状に着磁媒体1が矢印方向に動くものとする。下段は、
各ステップでの思出力電圧を示すものである。尚、■素
子の抵抗RMRは外部より磁界が加わった場合、l’r
MR(BMu >RMR)となり太き(なるものとする
。但し必ずしもこうなる必要はなく Rju (RMR
でもよい。
この場合、以下説明する電圧の変化が逆になるだけであ
り、電圧の減少を検出するようにすればよい。
り、電圧の減少を検出するようにすればよい。
まず0ステツプの状態を考える。直流電源5の電圧なE
、固定抵抗4の抵抗を鳥とする。この時皿素子3には磁
界が加わっていないので抵抗は&Rである。従って■出
力電圧はERMR/(几wx + R,、)である。こ
れをvLとする。着磁媒体1が順次矢印方向へ送られた
時7ステツプまでは、■素子3には外部眼界が加わらな
いので0ステツプと同じく皿出力電圧はVX、である。
、固定抵抗4の抵抗を鳥とする。この時皿素子3には磁
界が加わっていないので抵抗は&Rである。従って■出
力電圧はERMR/(几wx + R,、)である。こ
れをvLとする。着磁媒体1が順次矢印方向へ送られた
時7ステツプまでは、■素子3には外部眼界が加わらな
いので0ステツプと同じく皿出力電圧はVX、である。
ところが、第8ステツプでは、■素子3に磁界が加わる
ので、黙素子の抵抗はFLtu (H,MR)l’js
u+ )となる。従ってこのときの独出力電圧はgRL
p /(R’MR十R1)であり、これをV■とすると
Vn >Vz、である。第9ステツプでは■は子3に磁
界が加わらないので、■出力電圧は再び′冑之なる。
ので、黙素子の抵抗はFLtu (H,MR)l’js
u+ )となる。従ってこのときの独出力電圧はgRL
p /(R’MR十R1)であり、これをV■とすると
Vn >Vz、である。第9ステツプでは■は子3に磁
界が加わらないので、■出力電圧は再び′冑之なる。
次にこの■出力電圧を用いて、着磁媒体1の着磁部を検
出して、着磁部が丁度狸素子3上に来た時に停止させる
動作について説明する。
出して、着磁部が丁度狸素子3上に来た時に停止させる
動作について説明する。
今、■素子3と着磁媒体の相対位置が、第2図の第0ス
テツプにあるとする。ここで制御回路10から駆動回路
11に信号を送り、着磁媒体を1ステップ動かす。この
時の駆動信号と同期して制御回路10から、サンプリン
グパルスをサンプリング回路7へ送り、■出力電圧をサ
ンプリングする。サンプリングした信号は、記憶回路8
に記憶する。
テツプにあるとする。ここで制御回路10から駆動回路
11に信号を送り、着磁媒体を1ステップ動かす。この
時の駆動信号と同期して制御回路10から、サンプリン
グパルスをサンプリング回路7へ送り、■出力電圧をサ
ンプリングする。サンプリングした信号は、記憶回路8
に記憶する。
続いて、再び着出媒体を1ステップ動かし、これに同期
して、■出力電圧をサンプリングする。このサンプリン
グした信号と、前ステップでサンプリングし記憶してお
いた値を比較回路9で比較する。比較した結果、前記両
信号のレベル差が所定のレベル以下であれば、■出力が
変化していないと判断し、今回サンプリングした信号を
記憶回路に入力したうえで、再び着磁媒体1を1ステッ
プ動かし、前述した過程をたどる。
して、■出力電圧をサンプリングする。このサンプリン
グした信号と、前ステップでサンプリングし記憶してお
いた値を比較回路9で比較する。比較した結果、前記両
信号のレベル差が所定のレベル以下であれば、■出力が
変化していないと判断し、今回サンプリングした信号を
記憶回路に入力したうえで、再び着磁媒体1を1ステッ
プ動かし、前述した過程をたどる。
一方、前記両信号のレベル差が所定のレベル以上であれ
ば皿出力が変化したと判定し、この状態を保ち、着磁媒
体を動かさない。これにより着磁位置の検出が完了する
。なお、判定の際にあるレベル以上の差を必要とするよ
5にしたのは雑音等により、独出力電圧が変動し、この
雑音による変動を誤って検出しないようにするためであ
り、上記判定の際の所定のレベルを、雑音のレベル以上
にとっておけば、雑音により誤動作することはな(′。
ば皿出力が変化したと判定し、この状態を保ち、着磁媒
体を動かさない。これにより着磁位置の検出が完了する
。なお、判定の際にあるレベル以上の差を必要とするよ
5にしたのは雑音等により、独出力電圧が変動し、この
雑音による変動を誤って検出しないようにするためであ
り、上記判定の際の所定のレベルを、雑音のレベル以上
にとっておけば、雑音により誤動作することはな(′。
また以上の説明では第2図に示すように■出力電圧は1
ステツプ送ると直ちにV■かvLのいずれかの電圧で安
定するものとした。しかし実際には第14図に示すよう
にステップモータを動かした直後はモータ駆動用のパル
スの飛び込みや、機構部のガタやモータの応答の遅れ等
によりM几出力電圧が安定しないことがある。この非安
定時に■出力電圧をサンプリングすれば正しい位置検出
ができない。そこでモータを動かしてから胤出力電圧が
安定するまでの時間をtとすると、サンプリングをモー
タを動かしてからt秒以上たってから行なう必要がある
。これは制御回路10において駆動回路11とサンプリ
ング回路7に送る信号に適当な時間差を持たせればよい
。これは以後述べる全ての実施例においても同様である
。時間tは、カム機構のガタや外乱等により定まる。通
常の磁気ディスク装置では数十から数百ns程度である
。
ステツプ送ると直ちにV■かvLのいずれかの電圧で安
定するものとした。しかし実際には第14図に示すよう
にステップモータを動かした直後はモータ駆動用のパル
スの飛び込みや、機構部のガタやモータの応答の遅れ等
によりM几出力電圧が安定しないことがある。この非安
定時に■出力電圧をサンプリングすれば正しい位置検出
ができない。そこでモータを動かしてから胤出力電圧が
安定するまでの時間をtとすると、サンプリングをモー
タを動かしてからt秒以上たってから行なう必要がある
。これは制御回路10において駆動回路11とサンプリ
ング回路7に送る信号に適当な時間差を持たせればよい
。これは以後述べる全ての実施例においても同様である
。時間tは、カム機構のガタや外乱等により定まる。通
常の磁気ディスク装置では数十から数百ns程度である
。
以下、上記実施例を磁気ディスク装置の磁気ヘッド送り
機構に適用した例について説明する。第3図はヘッド送
り機構の概略構成を示す斜視図である。同図において6
4は磁気ディスクであり、シャーシ73に固定されたデ
ィスクモータ63の回転部に設げられた・・ブ72に載
置されており、所定の回転数で回転する。71はシャー
シ73に固定された感知器(MR素子)である。
機構に適用した例について説明する。第3図はヘッド送
り機構の概略構成を示す斜視図である。同図において6
4は磁気ディスクであり、シャーシ73に固定されたデ
ィスクモータ63の回転部に設げられた・・ブ72に載
置されており、所定の回転数で回転する。71はシャー
シ73に固定された感知器(MR素子)である。
一方磁気ヘッド62はへラドキャリッジ61の先端に固
定され、磁気ディスク64と当接している。
定され、磁気ディスク64と当接している。
ヘッドキャリッジ61は、ガイド軸78に案内され摺動
する。ガイド軸78は、その両端とシャーシ73に固定
された高さピン65へ押え板75をネジ76で取り付け
ることによって高さと位置を決められている。従って、
磁気ヘッド62は、矢印79の方向へ移動が可能となる
。
する。ガイド軸78は、その両端とシャーシ73に固定
された高さピン65へ押え板75をネジ76で取り付け
ることによって高さと位置を決められている。従って、
磁気ヘッド62は、矢印79の方向へ移動が可能となる
。
カム66は、ディスクモータ63と同心上に回転穴69
を持ちディスクモータ63の下側に回動可として取り付
けられ、第4図に示す如(構成される。
を持ちディスクモータ63の下側に回動可として取り付
けられ、第4図に示す如(構成される。
カム66の外周には、歯車70が設げられ、パルスモー
タ82のピニオンギヤ77とかみ合っている。
タ82のピニオンギヤ77とかみ合っている。
カム面68には、ヘッドキャリッジ61に固定されたピ
ン65が適当な圧力で当接している。
ン65が適当な圧力で当接している。
カム面68は、矢印80方向の回転に伴って、その回転
方向が大となる様に構成される。従ってカム66の矢印
80方向の回転によって磁気ヘッド62は矢印79方向
(磁気ディスク64の内周から、外周方向)へ移動する
。
方向が大となる様に構成される。従ってカム66の矢印
80方向の回転によって磁気ヘッド62は矢印79方向
(磁気ディスク64の内周から、外周方向)へ移動する
。
磁性材で作られた着磁リング67は、カム66の外周壁
81の内側へ圧入されており、回転穴69を中心として
カム66が回転すると、着磁リング67も一体となって
回転するようになっている。上記着磁リンク67が、第
1図の着磁媒体1に相当する。
81の内側へ圧入されており、回転穴69を中心として
カム66が回転すると、着磁リング67も一体となって
回転するようになっている。上記着磁リンク67が、第
1図の着磁媒体1に相当する。
ここでパルスモータ82からカム66への回転速度の減
速比は1:10とし、パルスモータ82の10ステツプ
で磁気ヘッド62は、1トラツク分の距離移動する。本
来、カムの精度が十分であれば、毎回10ステツプづつ
パルスモータ82を送ることにより1トラツクづつ磁気
ヘッド62を送ることができるが、カム面68の誤差に
より、数ステップずれ、磁気ヘッド62が正確にトラッ
ク上に送られないことがある。
速比は1:10とし、パルスモータ82の10ステツプ
で磁気ヘッド62は、1トラツク分の距離移動する。本
来、カムの精度が十分であれば、毎回10ステツプづつ
パルスモータ82を送ることにより1トラツクづつ磁気
ヘッド62を送ることができるが、カム面68の誤差に
より、数ステップずれ、磁気ヘッド62が正確にトラッ
ク上に送られないことがある。
そこで本発明を用いて正確に磁気ヘッド62をトラック
上に送れるよう処する。
上に送れるよう処する。
第5図は、着磁リング67と感知器71の相対的位置関
係を示す図である。
係を示す図である。
着磁リング67には、着磁部、無着磁部が交互に形成さ
れており、この着磁部は、カム面68における停止位置
に対応している。
れており、この着磁部は、カム面68における停止位置
に対応している。
着磁リング67の近傍の固定位置に■、素子71が設け
られている。カム66を回転させ、■素子71.11
。
られている。カム66を回転させ、■素子71.11
。
の所に着磁部が来れば、同ヘッドの出力直流電圧が変化
するので、先述の方法を用いて検出しパルスモータ82
の回転を止めれば、正確にトラック上に磁気ヘッド62
を送ることができる。
するので、先述の方法を用いて検出しパルスモータ82
の回転を止めれば、正確にトラック上に磁気ヘッド62
を送ることができる。
本発明の第2の実施例を第6図に示す。図中、1〜6.
10及び11は、第1図で説明したものと同じである。
10及び11は、第1図で説明したものと同じである。
12〜14は、スイッチであり、それぞれの開閉は、制
御回路10により制御される。
御回路10により制御される。
15はコンデンサ16.17は抵抗、18はダイオード
、19は比較器である。8W、 125W213は、第
1の実施例のサンプリング回路に、コンデンサ15は同
じく記憶回路8、抵抗15.17、ダイオード18及び
比較器19で構成される部分が同じく比較回路9にそれ
ぞれ相当する。
、19は比較器である。8W、 125W213は、第
1の実施例のサンプリング回路に、コンデンサ15は同
じく記憶回路8、抵抗15.17、ダイオード18及び
比較器19で構成される部分が同じく比較回路9にそれ
ぞれ相当する。
尚、比較器19の出力は、入力の+側電圧が一側電圧よ
り高い時、高レベルV。H1低い時は、低レベルV。L
となるものとする。
り高い時、高レベルV。H1低い時は、低レベルV。L
となるものとする。
以下、本実施例の動作について説明する。抵抗16.1
7及び、比較器19の入力インピーダンスは十分大きい
ものとする。初期状態として、■、素子+12゜ 6と着磁媒体1の相対位置が第2図に示す第0ステツプ
の状態にあり、コンデンサ15には前述したt 圧VL
(= ERMR/ (R,十RMR)が充電されてお
り、また比較器19の出力電圧が低レベルにありV。L
(但し、VoL<vLとする)とする。SW1〜SW、
は全て開いているとする。この状態から着磁媒体1が1
ステツプ動いた時、これに同期してSW、 13.5W
314が閉じる。この時、比較器19の一側端子には、
コンデンサ15に蓄えられていた電圧VLが加わり、+
側端子には、皿出力電圧vMRとコンパレータ出力電圧
V。Lの差を抵抗16及び17で分圧した電圧が加わる
。即ちこの電圧をVin とするとVin −(V
MRVoJRa/(R2+1’% )となる。今第2図
の第1ステツプの状態にあるとすればVMRはVLであ
るからVin は、比較器19の一側端子電圧Vin(
”VJより低くなる。従って比較器出力はV。Lのまま
である。比較が終了したら5W213. SW、 14
を開きSW、12を閉じ、コンデンサ15に新たに独出
力電圧VMRを充電し、その後でSW、12を開く。
7及び、比較器19の入力インピーダンスは十分大きい
ものとする。初期状態として、■、素子+12゜ 6と着磁媒体1の相対位置が第2図に示す第0ステツプ
の状態にあり、コンデンサ15には前述したt 圧VL
(= ERMR/ (R,十RMR)が充電されてお
り、また比較器19の出力電圧が低レベルにありV。L
(但し、VoL<vLとする)とする。SW1〜SW、
は全て開いているとする。この状態から着磁媒体1が1
ステツプ動いた時、これに同期してSW、 13.5W
314が閉じる。この時、比較器19の一側端子には、
コンデンサ15に蓄えられていた電圧VLが加わり、+
側端子には、皿出力電圧vMRとコンパレータ出力電圧
V。Lの差を抵抗16及び17で分圧した電圧が加わる
。即ちこの電圧をVin とするとVin −(V
MRVoJRa/(R2+1’% )となる。今第2図
の第1ステツプの状態にあるとすればVMRはVLであ
るからVin は、比較器19の一側端子電圧Vin(
”VJより低くなる。従って比較器出力はV。Lのまま
である。比較が終了したら5W213. SW、 14
を開きSW、12を閉じ、コンデンサ15に新たに独出
力電圧VMRを充電し、その後でSW、12を開く。
次に着磁媒体1を1ステップ送り、前述の動作を行う。
これを繰り返していくが第2図に示す。
第8ステツプでは■出力電圧がvHになる。この時の比
較器19の+制電圧V説は Vin+= (VHVoL)& /(&十R,)となる
が、比較器19の一側電圧Viπに対してVlfl >
Vln となるようにR216とR317の値を決めておけば比
較器19の出力は高レベルV。Hとなる。制御回路1゜
は比較器19の出力がvoHとなったのを検出しだら着
磁媒体1を駆動するのをやめる。
較器19の+制電圧V説は Vin+= (VHVoL)& /(&十R,)となる
が、比較器19の一側電圧Viπに対してVlfl >
Vln となるようにR216とR317の値を決めておけば比
較器19の出力は高レベルV。Hとなる。制御回路1゜
は比較器19の出力がvoHとなったのを検出しだら着
磁媒体1を駆動するのをやめる。
つまり第1の実施例と同じくサンプリングした値が1ス
テツプ前にサンプリングした値に対して所定のレベル以
上の差がある状態を検出することにより位置検出を行う
。上記所定のレベルは抵抗1(t16とR117の値姉
より決まる。
テツプ前にサンプリングした値に対して所定のレベル以
上の差がある状態を検出することにより位置検出を行う
。上記所定のレベルは抵抗1(t16とR117の値姉
より決まる。
本実施例は、高価な部品を用いないので、安くかつ容易
に実現できる利点がある。
に実現できる利点がある。
本発明の第3の実施例を第7図に示す。図中1〜6.1
0.11.16〜19は第6図で示したものと同じであ
る。20はA/D変換器、21はメモIJ −RAM、
22.23はD/A変換器である。上記A/D変換器2
0、メモリー21、D/A変換器22.23の駆動は、
制御回路10により制御される。本実施例は第2の実施
例のスイッチ12〜14、コンデンサ15をA/D変換
器20、メモリー21、D/A変換器22゜23に置き
かえたものであり、基本的な動作は同じである。第2の
実施例では1ステツプ前の狸出力電圧を記憶するために
コンデンサを用いていたが、本実施例では、A/D変換
した後、メモリー21に書き込み記憶する。1ステツプ
後これを読み出しD/A変換(現在の■出力電圧と比較
器19で比較する。その他の動作は第2の実施例で説明
したものと同じである。また、本実施例では現ステップ
のMR出力電圧な一担A/D変換し更にD/A変換して
比較器19に入力しているが、第8図に示す構成にして
、直接、比較器19に入力しても、もちろんかまわない
。
0.11.16〜19は第6図で示したものと同じであ
る。20はA/D変換器、21はメモIJ −RAM、
22.23はD/A変換器である。上記A/D変換器2
0、メモリー21、D/A変換器22.23の駆動は、
制御回路10により制御される。本実施例は第2の実施
例のスイッチ12〜14、コンデンサ15をA/D変換
器20、メモリー21、D/A変換器22゜23に置き
かえたものであり、基本的な動作は同じである。第2の
実施例では1ステツプ前の狸出力電圧を記憶するために
コンデンサを用いていたが、本実施例では、A/D変換
した後、メモリー21に書き込み記憶する。1ステツプ
後これを読み出しD/A変換(現在の■出力電圧と比較
器19で比較する。その他の動作は第2の実施例で説明
したものと同じである。また、本実施例では現ステップ
のMR出力電圧な一担A/D変換し更にD/A変換して
比較器19に入力しているが、第8図に示す構成にして
、直接、比較器19に入力しても、もちろんかまわない
。
本発明の第4の実施例を第9図に示す。1〜6゜11、
20.21は既に説明したものと同じである。24.1
5゜ はマイコン、25は駆動回路11.A/D変換器20を
制御するための制御機能、26は演算機能でいずれもマ
イコンのソフトウェアにより行う。本実施例の動作は既
に述べた実施例と本質的に同じである。着磁媒体1の動
きと同期して■出力電圧をA/D変換器20を通してマ
イコンに取り込む。この値をRAMに記憶しておいた1
ステツプ前の値と比較し、その差が所定の値以上であれ
ば駆動をやめるようにする。比較は演算により行う。
20.21は既に説明したものと同じである。24.1
5゜ はマイコン、25は駆動回路11.A/D変換器20を
制御するための制御機能、26は演算機能でいずれもマ
イコンのソフトウェアにより行う。本実施例の動作は既
に述べた実施例と本質的に同じである。着磁媒体1の動
きと同期して■出力電圧をA/D変換器20を通してマ
イコンに取り込む。この値をRAMに記憶しておいた1
ステツプ前の値と比較し、その差が所定の値以上であれ
ば駆動をやめるようにする。比較は演算により行う。
本発明の第5の実施例を第10図に示す。図中3〜6は
既に述べたものと同じである。27〜32は抵抗、33
.34はコンデンサ、35.56はトランジスタ、37
はダイオード、38は比較器 、39は入力端子、40
は出力端子である。図に示した回路は三角波発生回路及
びこの三角波と漣出力の比較回路よりなる。まず三角波
発生回路について説明する。
既に述べたものと同じである。27〜32は抵抗、33
.34はコンデンサ、35.56はトランジスタ、37
はダイオード、38は比較器 、39は入力端子、40
は出力端子である。図に示した回路は三角波発生回路及
びこの三角波と漣出力の比較回路よりなる。まず三角波
発生回路について説明する。
今、入力端子39の電圧Vtが低レベルでダイオードD
、37がオフの状態とするとトランジスタQ36のベー
ス電圧は電源電圧V。を抵抗へとルで分圧したものにな
る。同エミッタ電圧は前記ベース電圧、16 。
、37がオフの状態とするとトランジスタQ36のベー
ス電圧は電源電圧V。を抵抗へとルで分圧したものにな
る。同エミッタ電圧は前記ベース電圧、16 。
にトランジスタQ、36のベース−エミッタ間電圧VB
Eを加えたもの妊なる。これをvtl、とする。次に入
力端子39の電圧Vtが高レベルになりダイオード37
がオンするとトランジスタQ、のエミッタ電圧が69の
入力電圧からダイオード37の順方向電圧を引いたもの
にトランジスタQ、のVBBを加えた電圧(VtINと
する)になるまでコンデンサC234に充電される。再
び入力端子を低レベルにするとトランジスタQ2がオン
し抵抗R032を通して放電されエミッタ電圧はvtb
になる。このように入力端子39の電圧Vtを、低レベ
ル、高レベルと順次切り換えることによりトランジスタ
Q!36のエミッタから三角波を得ることができる。
Eを加えたもの妊なる。これをvtl、とする。次に入
力端子39の電圧Vtが高レベルになりダイオード37
がオンするとトランジスタQ、のエミッタ電圧が69の
入力電圧からダイオード37の順方向電圧を引いたもの
にトランジスタQ、のVBBを加えた電圧(VtINと
する)になるまでコンデンサC234に充電される。再
び入力端子を低レベルにするとトランジスタQ2がオン
し抵抗R032を通して放電されエミッタ電圧はvtb
になる。このように入力端子39の電圧Vtを、低レベ
ル、高レベルと順次切り換えることによりトランジスタ
Q!36のエミッタから三角波を得ることができる。
第11図に本実施例の回路のタイミングチャートを示す
。上段より着磁媒体1を1ステツプづつ駆動する駆動パ
ルス。2段目が上記パルスに同期したパルスで端子39
に加えられるパルス。3段目がトランジスタQ、36の
エミッタ電圧で前述した説明より図に示すような三角波
となる。また、この波形と重ねて■出力電圧を示す。最
下段は比較器38の出力で胤出力電圧が三角波より高い
ときは高レベル、低い時は低レベルとなり、図に示すよ
うな波形になる。
。上段より着磁媒体1を1ステツプづつ駆動する駆動パ
ルス。2段目が上記パルスに同期したパルスで端子39
に加えられるパルス。3段目がトランジスタQ、36の
エミッタ電圧で前述した説明より図に示すような三角波
となる。また、この波形と重ねて■出力電圧を示す。最
下段は比較器38の出力で胤出力電圧が三角波より高い
ときは高レベル、低い時は低レベルとなり、図に示すよ
うな波形になる。
各ステップ毎に、例えば三角波が立ち上がった時から比
較器出力が低レベルになるまでの時間を求めれば■出力
電圧が高い時(t、)の方が低い時(tl+j3)より
長くなるのは、図から明らかであろう。従ってこの時間
を何らかの方法で計数すれば■1力電圧の高低を判定で
きる。例えば比較器38の出力をマイコンに取り込み、
同出力電圧が低レベルに落ちるまでの時間をカウントす
る。カウントした値はマイコン内のRAMに格納してお
き次のステップでカウントされた値と比較し、電圧が高
レベルか低レベルかを判定する。即ち本実施例では電圧
をパルス幅に変換しパルス長をカウントするという1種
のA/D変換を行なっているわけである。本実施例では
、高価なA/D変換器を用いないので、低廉化がはかれ
る。
較器出力が低レベルになるまでの時間を求めれば■出力
電圧が高い時(t、)の方が低い時(tl+j3)より
長くなるのは、図から明らかであろう。従ってこの時間
を何らかの方法で計数すれば■1力電圧の高低を判定で
きる。例えば比較器38の出力をマイコンに取り込み、
同出力電圧が低レベルに落ちるまでの時間をカウントす
る。カウントした値はマイコン内のRAMに格納してお
き次のステップでカウントされた値と比較し、電圧が高
レベルか低レベルかを判定する。即ち本実施例では電圧
をパルス幅に変換しパルス長をカウントするという1種
のA/D変換を行なっているわけである。本実施例では
、高価なA/D変換器を用いないので、低廉化がはかれ
る。
以上説明した第1〜第5の実施例では2端子型のMR素
子を用いた場合について説明した。しかし、上記実施例
は必ずしも2端子型の迎素子に限られず、2個の皿素子
より成る3端子型の■素子を用いても同様の効果が得ら
れる。
子を用いた場合について説明した。しかし、上記実施例
は必ずしも2端子型の迎素子に限られず、2個の皿素子
より成る3端子型の■素子を用いても同様の効果が得ら
れる。
第12図に第6の実施例を示す。これは第1の実施例で
は、2端子型皿素子3と固定抵抗4から成っている検出
部を、2つの皿素子、迎素子人3皿素子B41より成る
3端子型皿素子に置き換えたものである。1.2.5〜
11は既に述べたものと同じである。
は、2端子型皿素子3と固定抵抗4から成っている検出
部を、2つの皿素子、迎素子人3皿素子B41より成る
3端子型皿素子に置き換えたものである。1.2.5〜
11は既に述べたものと同じである。
各部より磁界が加わらない場合の皿素子の抵抗なA、B
いずれもRMR1磁界が加わった場合同じ(R’MR(
> RMR) トT ル。まずMRA3 、 MRB
41、いずれにも磁界が加わっていない場合、接続点6
の■出力電圧VMRをVMとすると VM= ERMR/(RMR+ RMR) =、。
いずれもRMR1磁界が加わった場合同じ(R’MR(
> RMR) トT ル。まずMRA3 、 MRB
41、いずれにも磁界が加わっていない場合、接続点6
の■出力電圧VMRをVMとすると VM= ERMR/(RMR+ RMR) =、。
となる。次にMR,3に磁界が加わった場合の皿出力電
圧VMRをVLとすると ■p = ERMR/ (&R+ R’MR) < V
Mどなる。MRn4jに磁界が加わった場合の■、出出
力電圧7只RMRとすると VH= ER’MR/(RMR+R’MR) > VM
となる。即ち、3端子型のMR素子を用いると、VL。
圧VMRをVLとすると ■p = ERMR/ (&R+ R’MR) < V
Mどなる。MRn4jに磁界が加わった場合の■、出出
力電圧7只RMRとすると VH= ER’MR/(RMR+R’MR) > VM
となる。即ち、3端子型のMR素子を用いると、VL。
VM、 VHの3種の出力電圧が得られる。第13図は
着磁媒体1と■素子A6及びB41との相対位置及び各
ステップでの■出力電圧を示すものである。
着磁媒体1と■素子A6及びB41との相対位置及び各
ステップでの■出力電圧を示すものである。
第0ステツプから第6ステツプまでは胤h 3.AfL
B 41いずれKも磁界が加わらないので、■出力電圧
は、VMである。第7ステツプではMRA3に磁界が加
わるので皿出力電圧はVLとなる。第8ステツプではM
RB 41に磁界が加わり、皿出力電圧はVHとなり、
第9ステツプで再びVMとなる。この独出力電圧の変化
を既に述べた方法を用い、皿出力電圧が、VHとなる状
態を検出する。3端子型■素子の場合は、2端子型縄素
子に比べて大きな電圧差を得られる。そのため電圧差を
比較検出する場合、しきい値を大きくとれるので雑音に
よる誤動作をより確実になくすことができる。
B 41いずれKも磁界が加わらないので、■出力電圧
は、VMである。第7ステツプではMRA3に磁界が加
わるので皿出力電圧はVLとなる。第8ステツプではM
RB 41に磁界が加わり、皿出力電圧はVHとなり、
第9ステツプで再びVMとなる。この独出力電圧の変化
を既に述べた方法を用い、皿出力電圧が、VHとなる状
態を検出する。3端子型■素子の場合は、2端子型縄素
子に比べて大きな電圧差を得られる。そのため電圧差を
比較検出する場合、しきい値を大きくとれるので雑音に
よる誤動作をより確実になくすことができる。
尚、本実施例は第1の実施例の皿素子を3端子型に置き
換えて説明したが第2〜第5の実施例についても同様に
適用できることは言うまでもない。
換えて説明したが第2〜第5の実施例についても同様に
適用できることは言うまでもない。
また、以上述べた実施例はいずれも着磁媒体とMR,f
、子がステップ状に相対位置を変える機構で説明したが
、連続的に相対位置が変わる機構においても、■出力電
圧な着磁媒体と皿素子の相対運動に同期してサンプリン
グすれば同じ効果が得られる。
、子がステップ状に相対位置を変える機構で説明したが
、連続的に相対位置が変わる機構においても、■出力電
圧な着磁媒体と皿素子の相対運動に同期してサンプリン
グすれば同じ効果が得られる。
本発明によれば、MR比出力安定した状態でサンプリン
グするので、着磁媒体移動直後の雑音による耶出力電圧
の変化を誤まって検出することがなく、また、ステップ
毎の相対的なMR出力電圧の変位を検出するので、経時
変化等で、MR素子の抵抗が変化して中点電圧が変動し
ても誤動作しないという効果がある。
グするので、着磁媒体移動直後の雑音による耶出力電圧
の変化を誤まって検出することがなく、また、ステップ
毎の相対的なMR出力電圧の変位を検出するので、経時
変化等で、MR素子の抵抗が変化して中点電圧が変動し
ても誤動作しないという効果がある。
第1図、第6図、第7図、第8図、第9図、第10図、
第12図は、本発明の実施例の構成図、第2図、第5図
、第16図は、皿素子と着磁媒体の相対位置及び、■出
力波形を示す波形図、第11図は、第5の実施例のタイ
ミングチャート、第3図と第4図はヘッド送り機構の斜
視図、第14図は、■出力電圧の波形図である。 1・・・着磁媒体、 3.41・・・MR素子、 7・・・サンプリング回路、 8・・・記憶回路、 9・・・比較回路。
第12図は、本発明の実施例の構成図、第2図、第5図
、第16図は、皿素子と着磁媒体の相対位置及び、■出
力波形を示す波形図、第11図は、第5の実施例のタイ
ミングチャート、第3図と第4図はヘッド送り機構の斜
視図、第14図は、■出力電圧の波形図である。 1・・・着磁媒体、 3.41・・・MR素子、 7・・・サンプリング回路、 8・・・記憶回路、 9・・・比較回路。
Claims (1)
- 所定位置に磁界を発生するようなされた第1の部材と;
少なくとも一方が磁気抵抗効果型素子である第1、第2
の抵抗素子の直列接続回路を備えた検出手段と;該第1
の部材の所定位置と該検出手段の磁気抵抗効果型素子と
の相対位置を変化させる位置移動手段を有し;上記第1
の抵抗素子と第2の抵抗素子との接続点の直流電圧によ
り、上記第1の部材の所定位置を検出する位置検出装置
において;該位置移動手段の移動速度に同期して上記第
1の抵抗素子と第2の抵抗素子との接続点の直流電圧を
サンプリングするサンプリング手段と;該直流電圧値を
記憶する記憶手段と;所定のサンプリングタイミングで
サンプリングされ該記憶手段に記憶された直流電圧値と
、時間的に連続する次のサンプリングタイミングでサン
プリングされた直流電圧値を比較する比較手段を有し;
前記比較した2値の差が所定のレベル以上になる位置を
検出することにより位置検出を行うことを特徴とする位
置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61201418A JPS6358101A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | 位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61201418A JPS6358101A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | 位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6358101A true JPS6358101A (ja) | 1988-03-12 |
Family
ID=16440751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61201418A Pending JPS6358101A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | 位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6358101A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0698771A (ja) * | 1990-04-20 | 1994-04-12 | Univ Wyoming | クモ絹糸タンパク質をコードする単離dna、複製可能なベクターおよび該単離dnaを含有する形質転換細胞、ならびにその生成物 |
| WO2003100065A1 (en) * | 2002-05-23 | 2003-12-04 | Japan As Represented By President Of Tokyo University Of Agriculture And Technology | Process for the mass production of silk protein and genetically modified silk-like protein having function imparted thereto |
| JP2004511429A (ja) * | 2000-05-25 | 2004-04-15 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 植物における絹様タンパク質の産生 |
| JP5748392B2 (ja) * | 2005-10-05 | 2015-07-15 | コモンウェルス サイエンティフィック アンド インダストリアル リサーチ オーガナイゼーション | 絹タンパク質 |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP61201418A patent/JPS6358101A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0698771A (ja) * | 1990-04-20 | 1994-04-12 | Univ Wyoming | クモ絹糸タンパク質をコードする単離dna、複製可能なベクターおよび該単離dnaを含有する形質転換細胞、ならびにその生成物 |
| JP2004511429A (ja) * | 2000-05-25 | 2004-04-15 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 植物における絹様タンパク質の産生 |
| WO2003100065A1 (en) * | 2002-05-23 | 2003-12-04 | Japan As Represented By President Of Tokyo University Of Agriculture And Technology | Process for the mass production of silk protein and genetically modified silk-like protein having function imparted thereto |
| JP5748392B2 (ja) * | 2005-10-05 | 2015-07-15 | コモンウェルス サイエンティフィック アンド インダストリアル リサーチ オーガナイゼーション | 絹タンパク質 |
Non-Patent Citations (4)
| Title |
|---|
| JPN6012011091; Gaodeng Xuexiao Huaxue Xuebao Vol. 17, No. 2, 1996, pp.323-325 * |
| JPN6012011092; J. Mol. Biol. Vol. 24, 1967, pp.139-141 * |
| JPN6012011093; J. Biosci. Vol. 28, No. 6, 2003, pp.753-764 * |
| JPN6012011094; Polym.-Plast. Technol. Eng. Vol. 35, No. 5, 1996, pp.697-726 * |
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