JPS6358324A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
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- JPS6358324A JPS6358324A JP61202179A JP20217986A JPS6358324A JP S6358324 A JPS6358324 A JP S6358324A JP 61202179 A JP61202179 A JP 61202179A JP 20217986 A JP20217986 A JP 20217986A JP S6358324 A JPS6358324 A JP S6358324A
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Landscapes
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はカメラの測光装置に関し、より詳細には画面の
中心からずれた位置に主被写体が存在する場合でも精度
の高い測光を行うようにしたものである。
中心からずれた位置に主被写体が存在する場合でも精度
の高い測光を行うようにしたものである。
(従来の技術)
最近のカメラには自動露出(AE)機構が大抵段けられ
、カメラに内蔵されたマイクロコンピータが測光値と他
の所定データとから適正露出のための絞り値やシャッタ
速度を計算し、その計算結果に応じて絞りやシャッタ速
度を自動的に制御するようになっている。このようなA
E機構においても、測光値は以前と同様に被写体の明る
さく輝度)を電気信号、に変換する形式の測光装置によ
り得られる。
、カメラに内蔵されたマイクロコンピータが測光値と他
の所定データとから適正露出のための絞り値やシャッタ
速度を計算し、その計算結果に応じて絞りやシャッタ速
度を自動的に制御するようになっている。このようなA
E機構においても、測光値は以前と同様に被写体の明る
さく輝度)を電気信号、に変換する形式の測光装置によ
り得られる。
従来の測光方式を画面内の感度分布の点から分類すると
、画面の全領域をほぼ同じ感度で1p31光する平均測
光方式と、画面の中の小部分(通常は画面中央部)のみ
を測光するスポット測光方式と、画面中央部で感度が高
く周辺部にいくにしたがってなだらかに感度が落ちるよ
うな中央重点測光方式とがある。
、画面の全領域をほぼ同じ感度で1p31光する平均測
光方式と、画面の中の小部分(通常は画面中央部)のみ
を測光するスポット測光方式と、画面中央部で感度が高
く周辺部にいくにしたがってなだらかに感度が落ちるよ
うな中央重点測光方式とがある。
平均測光方式は、扱いやすいが、主被写体についての高
精度な測光が困難で、例えば画面に空や電灯等の明るい
部分が入ると、その部分に影響されて平均の測光値が高
くなり、主被写体が露出不ヱになってしまうという欠点
がある。
精度な測光が困難で、例えば画面に空や電灯等の明るい
部分が入ると、その部分に影響されて平均の測光値が高
くなり、主被写体が露出不ヱになってしまうという欠点
がある。
スポット測光方式は、主被写体の各部分の明るさく輝度
)を何点か測定し、それから総合的に判断して露出を決
めるようにしており、熟練者に好まれているが、使い方
がむずかしく、未熟な撮影者には扱いにくい。
)を何点か測定し、それから総合的に判断して露出を決
めるようにしており、熟練者に好まれているが、使い方
がむずかしく、未熟な撮影者には扱いにくい。
中央重点測光方式は、平均測光方式とスポット測光方式
との中間的なもので、現在段も多用されている。
との中間的なもので、現在段も多用されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、中央重点測光方式でも、主被写体が画面
の周辺に位置する構図の場合には、主被写体についての
高精度な測光ができず、そのまま撮影すれば適正な露出
の画像は得られない。
の周辺に位置する構図の場合には、主被写体についての
高精度な測光ができず、そのまま撮影すれば適正な露出
の画像は得られない。
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたもので、画面
の中心からずれた位置に主被写体が存在する場合でも精
度の高い測光値を得る測光装置を提供することを目的と
する。
の中心からずれた位置に主被写体が存在する場合でも精
度の高い測光値を得る測光装置を提供することを目的と
する。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成する本発明の構成は、主要な被写体の存
在方向を検出する手段と;該検出手段とほぼ同じ視野を
有する一体的な複数の受光素子と該検出手段の検出結果
にしたがって主要な被写体の存在方向からの光を受ける
該複数の受光素子アレイ中の受光素子を決定し、その受
光素子の出力信号を基に測光値を得る手段とを具備する
ことを特徴とする。
在方向を検出する手段と;該検出手段とほぼ同じ視野を
有する一体的な複数の受光素子と該検出手段の検出結果
にしたがって主要な被写体の存在方向からの光を受ける
該複数の受光素子アレイ中の受光素子を決定し、その受
光素子の出力信号を基に測光値を得る手段とを具備する
ことを特徴とする。
(作用)
本発明では、まず主要な被写体、例えばカメラ、に対し
て近距離に位置する被写体の存在方向が検出される。検
出手段としては、例えばスリット状光束を被写体に投光
してその反射光の結像点の位置から主要な被写体の存在
位置ないし方向を判定するような装置が使用される。
て近距離に位置する被写体の存在方向が検出される。検
出手段としては、例えばスリット状光束を被写体に投光
してその反射光の結像点の位置から主要な被写体の存在
位置ないし方向を判定するような装置が使用される。
一方、受光素子アレイは検出手段とほぼ同じ視野または
画面を望むようになされ、各受光素子は所定の方向をに
らむ。そして、主要な被写体の存在位置が判明すると、
その方向をにらむ受光素子の出力信号に基づいて測光値
が割り出される。
画面を望むようになされ、各受光素子は所定の方向をに
らむ。そして、主要な被写体の存在位置が判明すると、
その方向をにらむ受光素子の出力信号に基づいて測光値
が割り出される。
したがって、主要な被写体が画面内の任意の方向、例え
ば画面中央部からずれた方向に位置した状態で撮影され
ても、その被写体について精度の高い測光値が得られ、
それを基に適正な露光制御を行うことができる。
ば画面中央部からずれた方向に位置した状態で撮影され
ても、その被写体について精度の高い測光値が得られ、
それを基に適正な露光制御を行うことができる。
(実施例)
以下、添付図を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は、一実施例による銀塩スチルカメラの前面部を
示す。カメラボディ1の前面中央部に撮影レンズ2が取
り付けられ、前面上部にファインダ3およびストロボ発
光部4が並設されている。
示す。カメラボディ1の前面中央部に撮影レンズ2が取
り付けられ、前面上部にファインダ3およびストロボ発
光部4が並設されている。
撮影レンズ2とファインダ3との間には近赤外光のスリ
ット状光束を被写体に向けて投光する投光部6が設けら
れ、撮影レンズ2の下には近赤外光投光部6に対してス
リット状光束の長手方向と垂直な所定の基線長りを隔て
て近赤外光受光部7が設けられ、その下に可視光受光部
18が設けられている。投光部6と近赤外光受光部7は
、後に詳述するように、主要な被写体の存在方向を検出
するとともに、その被写体の距離を測定する手段として
働く。可視光受光部18は、露出計として機能する。カ
メラボディ1の上面にはシャツタレリーズボタン5が取
り付けられている。
ット状光束を被写体に向けて投光する投光部6が設けら
れ、撮影レンズ2の下には近赤外光投光部6に対してス
リット状光束の長手方向と垂直な所定の基線長りを隔て
て近赤外光受光部7が設けられ、その下に可視光受光部
18が設けられている。投光部6と近赤外光受光部7は
、後に詳述するように、主要な被写体の存在方向を検出
するとともに、その被写体の距離を測定する手段として
働く。可視光受光部18は、露出計として機能する。カ
メラボディ1の上面にはシャツタレリーズボタン5が取
り付けられている。
第2図は、近赤外光投光部6.近赤外光受光部7および
可視光受光部18の構成を示す。
可視光受光部18の構成を示す。
投光部6は、近赤外光を放出する発光ダイオード10と
その手前に配置されたスリット板11およびンリンドリ
カJレレンズ12とで構成される。
その手前に配置されたスリット板11およびンリンドリ
カJレレンズ12とで構成される。
発光ダイオード10から放出された近赤外光はスリット
板11およびシリンドルカルレンズ12を通ってスリッ
ト状の光束LBになり、このスリット状光束LBは第3
図(A)のように被写体15゜16に向かって投光され
る。そして、両波写体15.16でそれぞれ反射された
近赤外光LBa。
板11およびシリンドルカルレンズ12を通ってスリッ
ト状の光束LBになり、このスリット状光束LBは第3
図(A)のように被写体15゜16に向かって投光され
る。そして、両波写体15.16でそれぞれ反射された
近赤外光LBa。
LBbは近赤外光受光部7のレンズ14を通って受光セ
ンサ13上の異なる位置に結像される。すなわち、第3
図(B)に示す撮影画面20内の受光センサ13におい
て、カメラに対して近距離にある被写体16からの反射
光LBaは第2行第3列の画素PX2,3に結像され、
遠距離にある被写体1Bからの反射光LBbは第4行第
5列の画素PI3,5に結像される。このように、被写
体がカメラに近いほど受光センサ13上の結像点は下部
(第1行側)に位置し、反対に被写体がカメラがら遠い
ほど受光センサ13上の結像点は上部(第5行側)に位
置する。また、被写体がカメラからみて左方に寄ってい
るほど受光センサ13上の結像点は左部(第1列側)に
位置し、反対に被写体が右方に寄っているほど受光セン
サ13上の結像点は右部(第7列側)に位置する。した
がって結像点の位置する画素が判別されることによって
被写体の存在方向と距離が割り出される。そして本実施
例では、カメラから最も近い距離に位置する被写体(こ
の例では被写体15)が主要な被写体と判定される。な
お、受光センサ13は、CCDもしくはMOSからなる
蓄積型のエリアイメージセンサで構成されてよい。また
第3図(B)に示す5行×7列のマトリクス構成は説明
のための例示であり、任意のm行×n列のマトリクス構
成が可能である。
ンサ13上の異なる位置に結像される。すなわち、第3
図(B)に示す撮影画面20内の受光センサ13におい
て、カメラに対して近距離にある被写体16からの反射
光LBaは第2行第3列の画素PX2,3に結像され、
遠距離にある被写体1Bからの反射光LBbは第4行第
5列の画素PI3,5に結像される。このように、被写
体がカメラに近いほど受光センサ13上の結像点は下部
(第1行側)に位置し、反対に被写体がカメラがら遠い
ほど受光センサ13上の結像点は上部(第5行側)に位
置する。また、被写体がカメラからみて左方に寄ってい
るほど受光センサ13上の結像点は左部(第1列側)に
位置し、反対に被写体が右方に寄っているほど受光セン
サ13上の結像点は右部(第7列側)に位置する。した
がって結像点の位置する画素が判別されることによって
被写体の存在方向と距離が割り出される。そして本実施
例では、カメラから最も近い距離に位置する被写体(こ
の例では被写体15)が主要な被写体と判定される。な
お、受光センサ13は、CCDもしくはMOSからなる
蓄積型のエリアイメージセンサで構成されてよい。また
第3図(B)に示す5行×7列のマトリクス構成は説明
のための例示であり、任意のm行×n列のマトリクス構
成が可能である。
再び第2図において、可視光受光部18は受光素子アレ
イ19とレンズ20とで構成される。受光素子アレイ1
9は、5PD(シリコンフォトダイオード)等の測光用
受光素子をライン状に配列してなり、近赤外光受光部7
の受光センサ13とほぼ同じ視野を有する。すなわち、
受光素子アレイ19は第3図(A)の撮影画面20とほ
ぼ同じ撮影画面を望む。しかして、被写体15.16か
らの可視光SBa、SBbはレンズ20を通って受光素
子アレイ19上に結像され、第3図(C)に示すように
、受光素子PQ3上に被写体15の像15°が映り、受
光素子PQS上に被写体16の像16′が映る。本実施
例では、受光素子アレイ19中の全ての受光素子で平均
測光を行うのではなく、主被写体15の方向からの光を
受ける受光素子PQ3だけに基づいて測光を行うように
しており、これにより、図示の例のように主被写体IS
が画面中央部からずれていてもその主被写体15につい
て適正な露出制御を行うことができ適正露出の画像が得
られる。なお、第3図(C)に示す7個の受光素子PQ
I−PQ7は例示でありそれ以外の個数の受光素子PQ
を配列することももちろん可能であり、またエリアイメ
ージセンサのようにマトリクス状の配列も可能である。
イ19とレンズ20とで構成される。受光素子アレイ1
9は、5PD(シリコンフォトダイオード)等の測光用
受光素子をライン状に配列してなり、近赤外光受光部7
の受光センサ13とほぼ同じ視野を有する。すなわち、
受光素子アレイ19は第3図(A)の撮影画面20とほ
ぼ同じ撮影画面を望む。しかして、被写体15.16か
らの可視光SBa、SBbはレンズ20を通って受光素
子アレイ19上に結像され、第3図(C)に示すように
、受光素子PQ3上に被写体15の像15°が映り、受
光素子PQS上に被写体16の像16′が映る。本実施
例では、受光素子アレイ19中の全ての受光素子で平均
測光を行うのではなく、主被写体15の方向からの光を
受ける受光素子PQ3だけに基づいて測光を行うように
しており、これにより、図示の例のように主被写体IS
が画面中央部からずれていてもその主被写体15につい
て適正な露出制御を行うことができ適正露出の画像が得
られる。なお、第3図(C)に示す7個の受光素子PQ
I−PQ7は例示でありそれ以外の個数の受光素子PQ
を配列することももちろん可能であり、またエリアイメ
ージセンサのようにマトリクス状の配列も可能である。
第4図は、近赤外光投光部6および受光部7をカメラボ
ディに対して斜めに配置した例を示す。
ディに対して斜めに配置した例を示す。
このようにすると、第5図(A)に示すように、スリッ
ト状光束LBが撮影画面2oに対して斜めになり、また
第5図(B)に示すように受光センサ13も撮影画面2
0に対して斜めになる。これにより、数人が並んだ撮影
シーンにおいてカメラ姿勢を縦位置しても、スリット状
光束LBは被写体をとらえることができる。
ト状光束LBが撮影画面2oに対して斜めになり、また
第5図(B)に示すように受光センサ13も撮影画面2
0に対して斜めになる。これにより、数人が並んだ撮影
シーンにおいてカメラ姿勢を縦位置しても、スリット状
光束LBは被写体をとらえることができる。
第6図は、本実施例によるカメラの構成をブロック形式
で示す。
で示す。
レリーズスイッチ22は、シャツタレリーズボタン5(
第1図)が半分押されたときにONになって測距スター
ト信号STをマイクロコンピュータ23に与える。マイ
クロコンピュータ23は、クロックパルス発生器24か
らシステムクロックCLを受けてシーケンス制御を行う
もので、スタート信号STに応答してドライバ29を介
し投光部7の発光ダイオード10を所定時間だけ点灯さ
せる。上述のように発光ダイオード10が点灯すると、
そこから放出された光はスリット板11゜シリンドリカ
ルレンズ12によりスリット状光束LBとされ、被写体
に向けて投光される。
第1図)が半分押されたときにONになって測距スター
ト信号STをマイクロコンピュータ23に与える。マイ
クロコンピュータ23は、クロックパルス発生器24か
らシステムクロックCLを受けてシーケンス制御を行う
もので、スタート信号STに応答してドライバ29を介
し投光部7の発光ダイオード10を所定時間だけ点灯さ
せる。上述のように発光ダイオード10が点灯すると、
そこから放出された光はスリット板11゜シリンドリカ
ルレンズ12によりスリット状光束LBとされ、被写体
に向けて投光される。
一方、クロックパルス発生器24からクロックパルスφ
がドライバ25に送られ、ドライバ25により受光セン
サ13が駆動される。受光センサ13はm行n列(第3
図Bでは5行7列)のマトリクス状に配列された画素P
X 1,1〜PXm、nを有し、第1行の画素PXI
、I ”PXI、nには画面内においてカメラから最も
近距離の位置にある被写体から反射された近赤外光が結
像され、第m行の画素PXm、I〜PXm、nにはカメ
ラから最も遠距離の位置にある被写体から反射された近
赤外光が結像される。また、画面内において被写体が最
も左方に寄っていると、その結像点は第1列の画素PX
I、l−PXm、Iに位置し、反対に被写体が最も右方
に寄っていると、その結像点は第n列の画素PXI、n
”PXm、nに位置することになる。
がドライバ25に送られ、ドライバ25により受光セン
サ13が駆動される。受光センサ13はm行n列(第3
図Bでは5行7列)のマトリクス状に配列された画素P
X 1,1〜PXm、nを有し、第1行の画素PXI
、I ”PXI、nには画面内においてカメラから最も
近距離の位置にある被写体から反射された近赤外光が結
像され、第m行の画素PXm、I〜PXm、nにはカメ
ラから最も遠距離の位置にある被写体から反射された近
赤外光が結像される。また、画面内において被写体が最
も左方に寄っていると、その結像点は第1列の画素PX
I、l−PXm、Iに位置し、反対に被写体が最も右方
に寄っていると、その結像点は第n列の画素PXI、n
”PXm、nに位置することになる。
さて、受光センサ13では、ドライバ25からの読出用
クロックパルスにより第1行から第m行まで順次読出し
が行われ、各行において第1列から第n列まで1顕次読
み出される。そして、各画素PXI、Jから読み出され
た電気信号は、アンプ26で増幅され信号■1.」とし
て二値化回路27に送られる。
クロックパルスにより第1行から第m行まで順次読出し
が行われ、各行において第1列から第n列まで1顕次読
み出される。そして、各画素PXI、Jから読み出され
た電気信号は、アンプ26で増幅され信号■1.」とし
て二値化回路27に送られる。
二値化回路27は基準電圧発生回路28から基準電圧V
rを受け、第7図に示すように、信号V1、Jを基準電
圧Vrと比較することにより二値化信号DI;Jを生成
する。この二値化信号DI、jはマイクロコンピュータ
23に取り込まれる。マイクロコンピュータ23は、′
1”の二値化信号DLJに対応した受光センサ13の画
素PXI、Jを識別し、その画素P X i+jの位置
にしたがって被写体距離を割り出し、ドライバ30を介
してモータ31を回転させ撮影レンズ2をピント位置に
移動させる。なお、受光センサ13の異なる行から“1
”の二値化信号DI、jが得られた場合には、第1行に
近いほうの行が近距離の被写体、すなわち主被写体に対
応しているので、その行から得られた“1”の二値化信
号DI、Jが優先される。
rを受け、第7図に示すように、信号V1、Jを基準電
圧Vrと比較することにより二値化信号DI;Jを生成
する。この二値化信号DI、jはマイクロコンピュータ
23に取り込まれる。マイクロコンピュータ23は、′
1”の二値化信号DLJに対応した受光センサ13の画
素PXI、Jを識別し、その画素P X i+jの位置
にしたがって被写体距離を割り出し、ドライバ30を介
してモータ31を回転させ撮影レンズ2をピント位置に
移動させる。なお、受光センサ13の異なる行から“1
”の二値化信号DI、jが得られた場合には、第1行に
近いほうの行が近距離の被写体、すなわち主被写体に対
応しているので、その行から得られた“1”の二値化信
号DI、Jが優先される。
さらに、マイクロコンピュータ23は、上述のようにし
て識別ないし選択された画素PXi、jの位置に対応し
た受光素子アレイ19中の受光素子PQkを割り出し、
選択回路32にその受光素子PQkの出力信号SFXだ
けをゲートさせる選択制御信号SEを送る。これにより
、受光素子PQにの出力信号SFKは、アンプ33に送
られてそこで増幅されたのち、A/D変換器34により
ディジタル信号DSFKに変換されてマイクロコンピュ
ータ23に供給される。マイクロコンピュータ23は、
そのディジタル信号DSFKに基づいて主被写体の輝度
または測光値を割り出して露出量を算出し、ドライバ3
5を介してモータ36を回転させアイリス37を適当な
絞り位置に合わせる。また必要に応じて、マイクロコン
ピュータ23はシャッタ速度を適当な値にセットする。
て識別ないし選択された画素PXi、jの位置に対応し
た受光素子アレイ19中の受光素子PQkを割り出し、
選択回路32にその受光素子PQkの出力信号SFXだ
けをゲートさせる選択制御信号SEを送る。これにより
、受光素子PQにの出力信号SFKは、アンプ33に送
られてそこで増幅されたのち、A/D変換器34により
ディジタル信号DSFKに変換されてマイクロコンピュ
ータ23に供給される。マイクロコンピュータ23は、
そのディジタル信号DSFKに基づいて主被写体の輝度
または測光値を割り出して露出量を算出し、ドライバ3
5を介してモータ36を回転させアイリス37を適当な
絞り位置に合わせる。また必要に応じて、マイクロコン
ピュータ23はシャッタ速度を適当な値にセットする。
しかして、シャツタレリーズボタン5が押されると、設
定されたシャッタ速度でシャッタ(図示せず)が開閉動
作し、適正露出でピントの合った撮影が行われる。
定されたシャッタ速度でシャッタ(図示せず)が開閉動
作し、適正露出でピントの合った撮影が行われる。
なお、上述のようにして割り出された受光素子PQKは
主被写体からの可視光を受ける素子であるが、これは1
個に限るものではなく複数個の場合もある。
主被写体からの可視光を受ける素子であるが、これは1
個に限るものではなく複数個の場合もある。
第8図は、本実施例の動作を示すフローチャートである
。ステップ■でDI、jが“1″になるとステップ@に
飛越すようになっているが、このようにすると近距離の
被写体が検出されればこれを主被写体とみなして以後の
判定は行わないことになる。もっとも、最後(i=m+
j=n)まで判定を行って“1”になっている全て
のDLJを検出し、それから測距および測光に必要なり
1.jを選択するようにしてもよい。
。ステップ■でDI、jが“1″になるとステップ@に
飛越すようになっているが、このようにすると近距離の
被写体が検出されればこれを主被写体とみなして以後の
判定は行わないことになる。もっとも、最後(i=m+
j=n)まで判定を行って“1”になっている全て
のDLJを検出し、それから測距および測光に必要なり
1.jを選択するようにしてもよい。
【肱九
上述した実施例は銀塩スチルカメラに係るものであった
が、本発明は電子スチルカメラや電子ビデオカメラ等に
も適用可能である。これらのカメラでは、主に固体撮像
素子が用いられるので、これを上記受光素子アレイ19
の代わりとして利用するようにしてよい。すなわち、は
ぼ同じ画面内の望む(にらむ)方向にしたがって固体撮
像素子の各画素を受光センサ13の各画素に対応させて
おき、上述のようにして“1”の二値信号Di+jに対
応した受光センサ13の画素P X ! l jが識別
されたなら、その画素PXI、Jに対応した固体撮像素
子中の画素を割り出し、その画素の出力信号に基づいて
測光値を得て露出制御を行ってよい。
が、本発明は電子スチルカメラや電子ビデオカメラ等に
も適用可能である。これらのカメラでは、主に固体撮像
素子が用いられるので、これを上記受光素子アレイ19
の代わりとして利用するようにしてよい。すなわち、は
ぼ同じ画面内の望む(にらむ)方向にしたがって固体撮
像素子の各画素を受光センサ13の各画素に対応させて
おき、上述のようにして“1”の二値信号Di+jに対
応した受光センサ13の画素P X ! l jが識別
されたなら、その画素PXI、Jに対応した固体撮像素
子中の画素を割り出し、その画素の出力信号に基づいて
測光値を得て露出制御を行ってよい。
露出制御としては、アイリスの絞り位置を制御したり、
あるいは映像信号増幅器の増幅特性を制御する等の各種
方式が使用可能である。
あるいは映像信号増幅器の増幅特性を制御する等の各種
方式が使用可能である。
なお、主要な被写体を検出する手段は、上述したような
スリット状光投光式のものに限定されず既知の各種方式
が適用可能である。
スリット状光投光式のものに限定されず既知の各種方式
が適用可能である。
(発明の効果)
以上のように、本発明によれば、主要な被写体の存在方
向を検出してその方向からの光を受ける受光素子の出力
信号を基に測光値を得るようにしたので、たとえ主要な
被写体が画面中央部からずれていてもその被写体につい
て高精度な測光を行い適正露出の画像を得ることができ
る。
向を検出してその方向からの光を受ける受光素子の出力
信号を基に測光値を得るようにしたので、たとえ主要な
被写体が画面中央部からずれていてもその被写体につい
て高精度な測光を行い適正露出の画像を得ることができ
る。
第1図は、本発明の一実施例による銀塩スチルカメラの
前面部を示す正面図、 第2図は、近赤外光投光部6.近赤外光受光部7および
可視光受光部18の構成を示す斜視図、第3図は、近赤
外光投光部6.近赤外光受光部7および可視光受光部1
8の作用を説明するための図、 第4図は、変形例の銀塩スチルカメラの前面部を示す正
面図、 第5図は、第4図のカメラの作用を説明するための図、 第6図は、上記実施例による銀塩スチルカメラの主要な
構成を示すブロック図、 第7図は、第6図の二値化回路の作用を示すタイミング
図、および 第8図は、上記実施例の作用を示すフローチャートであ
る。 6・・・・近赤外光投光部、 7・・・・近赤外光受光
部、10・・・・発光ダイオード、 11・・・・ス
リット仮、12・・・・シリンドリカルレンズ、 1
3曲受光センサ、 14・・・・レンズ、 15曲
主波写体、18・・・・可視光受光部、 19・・・
・受光素子アレイ、 20・・・・レンズ、 20・・
・・撮影画面、 PX■、J聞画素、 PQk・・・・
受光素子、 23聞マイクロコンピユータ、 25.
29・・・・ドライバ、 27・・・・二値化回路、
32・・・・選択回路。
前面部を示す正面図、 第2図は、近赤外光投光部6.近赤外光受光部7および
可視光受光部18の構成を示す斜視図、第3図は、近赤
外光投光部6.近赤外光受光部7および可視光受光部1
8の作用を説明するための図、 第4図は、変形例の銀塩スチルカメラの前面部を示す正
面図、 第5図は、第4図のカメラの作用を説明するための図、 第6図は、上記実施例による銀塩スチルカメラの主要な
構成を示すブロック図、 第7図は、第6図の二値化回路の作用を示すタイミング
図、および 第8図は、上記実施例の作用を示すフローチャートであ
る。 6・・・・近赤外光投光部、 7・・・・近赤外光受光
部、10・・・・発光ダイオード、 11・・・・ス
リット仮、12・・・・シリンドリカルレンズ、 1
3曲受光センサ、 14・・・・レンズ、 15曲
主波写体、18・・・・可視光受光部、 19・・・
・受光素子アレイ、 20・・・・レンズ、 20・・
・・撮影画面、 PX■、J聞画素、 PQk・・・・
受光素子、 23聞マイクロコンピユータ、 25.
29・・・・ドライバ、 27・・・・二値化回路、
32・・・・選択回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 主要な被写体の存在方向を検出する手段と、前記検出手
段とほぼ同じ視野を有する一体的な複数の受光素子と、 前記検出手段の検出結果にしたがって前記被写体の存在
方向からの光を受ける前記複数の受光素子の中の受光素
子を決定し、その受光素子の出力信号を基に測光値を得
る手段と、 を具備することを特徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61202179A JPS6358324A (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61202179A JPS6358324A (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6358324A true JPS6358324A (ja) | 1988-03-14 |
Family
ID=16453268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61202179A Pending JPS6358324A (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6358324A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5448412A (en) * | 1992-07-13 | 1995-09-05 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Telephoto zoom lens system |
| WO2018078793A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 富士通フロンテック株式会社 | ビーム生成光学系及びビーム生成光学系を備える撮像装置 |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP61202179A patent/JPS6358324A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5448412A (en) * | 1992-07-13 | 1995-09-05 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Telephoto zoom lens system |
| WO2018078793A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 富士通フロンテック株式会社 | ビーム生成光学系及びビーム生成光学系を備える撮像装置 |
| JPWO2018078793A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2019-06-24 | 富士通フロンテック株式会社 | ビーム生成光学系及びビーム生成光学系を備える撮像装置 |
| US11287621B2 (en) | 2016-10-28 | 2022-03-29 | Fujitsu Frontech Limited | Beam generation optical system and image capturing apparatus provided with the same |
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