JPS6361319A - タッチパネル装置 - Google Patents

タッチパネル装置

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JPS6361319A
JPS6361319A JP62208077A JP20807787A JPS6361319A JP S6361319 A JPS6361319 A JP S6361319A JP 62208077 A JP62208077 A JP 62208077A JP 20807787 A JP20807787 A JP 20807787A JP S6361319 A JPS6361319 A JP S6361319A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は、タッチパネル装置、特に使用者が指その他で
タッチ感応表面にタッチした位置を決定するタッチパネ
ル装置に関する。
本発明は使用者が選択する情報を表示する各種の表示装
置に広く応用し得る。−例として、使用者が質問に応答
する為に選択し、タッチするラップベルト(膝のせ)型
タブレットへの応用がある。
他の例として、コンピュータ情報処理システムに接続し
た陰極線管(CRT)端末の如き表示画面上の情報項目
(メニュ)を使用者が選択する装置への応用がある。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする問題点〕表示
画面上に複数のタッチ区分の設定パターンを有するタッ
チパネルを配置したCRT表示端末装置は周知である。
この端末装置では上記パターンのどの区分へのタッチに
も応答し、その区分の位置を確認できる。このようなシ
ステムでは静電容量検出技術を採用しているのが一般的
である。
即ち、コントローラは絶えずタッチパネル面に走査信号
を送り続け、タッチを検出するまでタッチ区分の監視を
続ける。使用者がタッチ区分の1つにタッチすると、使
用者の身体の静電容量が、この回路に加えられる。コン
トローラはこの静電容量の変化を検出し、そのタッチ区
分を確認する。
このようなタッチ応答型端末装置の一例はユタ州ソルト
・レイク・シティのRGBダイナミックス社により製造
されているやこの装置では、タッチ感応表面はガラス基
板に被着したインジウム・スズ酸化物より構成されてい
る。この表面被覆は各タッチ区分が分離するようパター
ン化して電気的検出回路と導体により接続している。こ
のようにパターン化すると、パターン化したタッチ区分
の寸法でタッチ検出分解能が制限されてしまう。
また、タッチ検出自体、形成したタッチ区分の特定パタ
ーンに制限されてしまう、更に、パターン化した各タッ
チ区分と電気的接触をする複雑な配線も必要である。こ
のような複雑な接続構造では簡単な構造のものに比べ故
障し易く経費もかかる。
他の周知の実用例としては、画面上に透明な機械的スイ
ッチを配置したものがある。カリフォルニア州シルマー
のシェラシン・イントレソクス・プロダクツ社がこの型
のスイッチをトランスフレックス(Transfleχ
)の商標で販売している。この型の装置では複数の薄膜
シートを用い、使用者がタッチするとシート間を押圧し
て電気的接触させている。この薄膜シートのある位置を
押圧すると、電流が特定回路に流れて、その押圧位置が
確認される。他の薄膜型タッチパネルはドーマン等によ
る米国特許第4.484,038号公報に開示されてい
る。
また、マサチューセッツ州アンドーバーのドーマン・ホ
ドノフ社の製品カタログによれば、パターン化していな
い薄膜を用いたタッチ・パネル・スイッチの1000シ
リーズタツチ・スクリーン装置の従来技術がある。この
1000シリーズタツチ・パネル装置は、タッチ・スク
リーンのX及びY軸間のスイッチング電流によって透明
タッチ・スクリーン上のスイッチの開閉を検出するコン
トローラを具えている。このタッチ・スクリーンの種々
のスイッチを通過した電流は電圧に変換され、次にアナ
ログX/Y信号更にデジタルX/Y位置座標に変換され
る。このような薄膜型スイッチ装置では、薄膜はキズが
つき易い。また、この装置に用いられている多層膜によ
り、光の反射率が高くなり、光の等何重及び分解能が比
較的低くなり易いという欠点がある。
タッチパネルの周囲に光源及び検出器のアレイを形成し
て、タッチパネル上のタッチした位置を検出する方法も
周知である。或は、超音波発振器及び超音波検出器のア
レイをタッチパネルの周囲に形成することもある。いず
れの場合でも、信号源及び検出器は電気的システムと接
続していて、信号源から検出器に送られる信号がパネル
にタッチすることにより妨害されるのに応じてその位置
を検出する。
他の静電容量タッチ検出装置はNg等による米国特許第
4.476.463号公報に開示されている。この特定
装置には導電性タッチ感応被覆表面が用いられ、この被
覆には4本の細長い導電性バー状電極が接続されている
。このタッチ感応被覆の各辺にこのバー状電極が1本ず
つ設けられている。この特許公報に記載されている如く
、静電容量性タッチによってタッチ検出表面を含む抵抗
−静電容jd (R−C)回路に起こるインピーダンス
の変化が測定される。このインピーダンス測定をするに
は、2本の交差する直線軸の各端部より繰返し行われる
測定により上記R−C回路の時定数を測定する。この測
定結果を総合してタッチした位置を検出する。この特許
の一実施例では、交流測定信号が電極に人力し、その信
号に応じて発生する電圧波形がこの電極で監視される。
この測定信号の周波数は監視される電圧波形が選択した
条件に達するまで変化する。この選択した条件と合う測
定信号周波数より、信号の入力した電極上に於けるタッ
チ位置を決めることができる。他の実施例では、2つの
選択した幅の直流信号を連続的に電極に加えている。こ
の信号の入力した電極上に於けるタッチ位置は電極に加
えた2つの直流信号による電極での電圧から決めること
ができる。即ち、第1測定信号はタッチにより生じた静
電容量を含んだタッチ感応被覆の静電容量を既知のレベ
ルまで充電する。それから、第2測定信号はタッチ感応
被覆の抵抗を介して部分的に放電させる。この部分的数
″Jl後に残る電極電圧により電極上に於けるタッチの
位置を求めることができる。この特許公報に記載されて
いる回路は入力信号の周波数を変化させたり、2つの連
続した直流信号を入力させたりする必要性がある等、相
当複雑になるという欠点があった。
タッチ感応表面を有する別のタッチ・パネル装置がペラ
パー・ジュニアによる米国特許第4,353゜552号
公報に開示されている。この装置によれば、使用者は指
又は他の身体の部分又は導電性のスタイラス等でタッチ
感応表面にタッチする。このタッチ感応表面の複数の終
端部(即ち、4つの角A。
B、C,D)は発振器により同じ瞬時レベルに同時に駆
動される。タッチ感応表面にタッチすると、電流がこれ
ら終端部を介して流れ、使用者のタッチによるインピー
ダンス変化とは無関係に、これらの電流によってタッチ
のX及びY座標が決められる。この方法ではタッチの位
置決定が不正確になるという問題があり、且つある応用
例では有用であるインピーダンス情報がなくなるという
欠点がある。一実施例では、ペラパーはタッチ位置の圧
力が閾値を越えると感応する圧力センサも用いている。
このようなタッチ位置決定方法により、ビデオ・ゲーム
の遊戯中に銃を発射するというような2つの作用を制御
し得る。
以上の装置の多くはノイズに対し非常に敏感なので、タ
ッチ位置の検出精度が著しく低下することもあり得る。
また、これら多くの従来型タッチパネル装置では、消費
電力が大きいとか回路が複雑になるとか経費がかさむ等
欠点が多い。
従って、従来技術の以上の欠点を解消し、且つタッチ感
応表面をパターン化していないタッチパネル装置の実現
が要望されている。
〔発明の目的〕
従って、本発明の目的は改良型のタッチ応答型表示装置
を提供することである。
本発明の他の目的は過大な電流及び電圧からタッチ感応
表面及びタッチ位置決定回路を保護するタッチパネル装
置を提供することである。
本発明の他の目的はタッチ感応表面上のタッチ位置の決
定精度及び信頼性の高いタッチパネル装置を提供するこ
とである。
本発明の他の目的は、種々の応用に対し使用者及び製造
上の調整箇所の数を最小にし、製造及び設置を容易にし
たタッチパネル装置を提供することである。
本発明の他の目的はタッチ位置決定回路の電気的部品点
数及び寸法を最小にすることである。
本発明の他の目的は従来の多くの装置と比較して耐久性
が高く、製造が容易且つ安価なタッチパネル装置を提供
することである。
〔発明の概要〕
本発明によるタッチパネル装置は人間の指等でタッチパ
ネルのタッチ感応表面上のどこにタッチしてもそのタッ
チを検出する。このタッチ感応表面上のタッチ位置を決
める回路が設けられている。
このタッチ位置は典型的には針によって正確にタッチし
たものとしてX−Y座標系により決められる。
このタッチ位置は、交流電圧パネル走査信号をタッチ感
応表面に選択的に印加し、それから発生するタッチ信号
(即ち電流)により決定される。
−走査方法によれば、これらパネル走査信号はタッチ感
応表面の第1辺から反対側の第2辺まで第1方向に交流
電圧勾配を形成するように印加される。このように走査
され、使用者がタッチ感応表面にタッチすると、第1タ
ツチ電流が使用者を介して流れ、検出される。更に、共
通の交流電圧パネル走査信号がタッチ感応表面の第1及
び第2辺の両辺に同時に印加されると、インピーダンス
・タッチ電流が使用者を介して流れ、検出される。
この第1方向に関するタッチ位置が検出された第1及び
インピーダンス・タッチ電流により決められる。また、
交流電圧走査パネル信号がタッチ感応表面の第3辺から
第4辺まで第2方向に交流電圧勾配を形成するように印
加される。パネルがタッチされると、第2タツチ電流が
流れ、検出される。一般に、第1及び第2方向は互いに
直交していて、X−Y座標系に対応している。それから
、タッチ位置は第1.第2.及びインピーダンス・タッ
チ電流によりこのX−Y座標系に対して決められる。他
の適当な走査法を採用しても良い。
本発明をより具体的に述べると、タッチ電流を処理する
パネル出力信号処理回路手段を設けている。この処理回
路手段の中にはパネル走査信号の信号源から出力された
基準信号とタッチ電流を乗算するアナログ・マルチプラ
イヤ回路手段が含まれている。この乗算の結果、アナロ
グ・マルチプライヤ回路手段の出力信号はパネル走査信
号と同期する。この乗算後のタッチ電流信号はパネル走
査信号と同期した積分期間に積分回路手段により積分さ
れる。また、アナログ・デジタル変換器(A D C)
手段により、積分後のタッチ電流信号がデジタル・タッ
チ電流信号に変換される。プロセッサ回路(MPU)手
段がこのデジタル・タッチ電流信号からタッチ位置を決
定する。
本発明の他の側面として、MPU手段はデジタル・イン
ピーダンス・タッチ電流信号の値を評価する。また、M
PU手段は積分期間を制御して、デジタル・インピーダ
ンス・タッチ電流の値を最小値以上の値又は所望の範囲
内の値にするように調整する。
本発明は更に、タッチ感応表面及び回路群を過大電流か
ら保護する手段を有する。−具体例として、この保護手
段は、積分期間が最短で且つ、タッチ電流(例えばイン
ピーダンス・タッチ電流)が闇値を超えたのを検出する
と、タッチ感応表面へのパネル走査信号の印加を停止す
る。また、タッチ感応表面の各辺に電圧クランプ・ダイ
オードの組を接続して、タッチ感応表面の過大電圧保護
を行ってもよい。
本発明の他の側面として、零化回路がMPUの制御によ
り、タッチ感応表面の非タッチ時にタッチ電流を自動的
に零化する。この零化により、非タッチの時に第1.第
2及びインピーダンス・タッチ電流は0になる。
本発明の他の側面としてMPUは自動周波数制御回路を
制御して、タッチパネル・システムの使用環境内のCR
Tフライバック信号の如き一定周波数の干渉信号スペク
トルからパネル走査信号の周波数を自動的に遠ざける。
本タッチパネル・システムはタッチ位置情報を送信する
並列及び直列データ通信出力端も有する。
タッチ位置は、使用者の指と同様に導電性のスタイラス
でタッチされても求めることができる。
また、手袋をしてタッチした場合でも、手袋が導電性物
質であるか、或いは導電性でなくとも充分に薄くてパネ
ル走査信号の周波数で容量性タッチ電流を測定できれば
、正確にタッチ位置を求めることができる。このような
タッチ電流を生じさせるものであれば、他の方法でタッ
チしてもよい。
ここに述\たように、手袋をした指とかスタイラスとか
によるタッチは、タッチ電流を生じさせるような物に限
定されると理解されたい。
〔実施例〕
(」園 第1図に示すように、本発明のタッチバ氷ル装置は表示
画面(14)を有する表示装置(12)を具えている。
図の表示装置はCRTコンピュータ端末装置を含むので
、表示画面(14)はCR’rの表面を含んでいる。光
学的に透明なタッチパネル(16)が画面(14)に重
ねられているので、タッチパネル(16)を等価して画
面(14)を見ることができる。これは光学的透明とい
うことであり、画面(14)上の画像がタッチパネル(
16)を介して見えるということである。他の応用例で
は表示装置(12)を削除する6例えば、質問及び回答
シートのような情報を含んだ一枚の用紙をタッチパネル
(16)の下に置き、この質問及び回答シートに関する
データを入力するのにタッチパネル(16)を利用して
もよい、別の応用例では、タッチパネル(16)は透明
でなくてもよい。例えば、タッチパネル(16)を単に
データ入力パッドとして用い、タッチした位置によって
コンピュータ或いは他の装置にデータを入力してもよい
。
タッチパネル(16)はガラス或いは他の光学的透過性
物質の基板を含み、その基板の外側表面上には導電性被
覆(18)を被着している。被覆(18)はタッチ・パ
ネルを施して表示画面(14)全体を覆ってもよく、或
いは画面の一部のみを覆って、そこに使用者の選択項目
(メニュ)を表示するようにしてもよい。
第2図に概要を示しているように、(詳細は後述する)
被覆(18)は、複数の電気的コンタクト或いは電極(
この場合20個のA乃至′l゛のコンタクト)を有する
タッチ感応表面を含んでいる。これらのコンタクトの第
1組(22)、即ちP乃至′rのコンタクトはタッチ感
応表面(18)の1辺に1列に配置している。コンタク
トの第2組(24)、即ちF乃至Jのコンタクトは第1
組(22)の対向する辺に1列に配置している。つまり
、第1及び第2組(22)及び(24)はタッチ感応表
面(18)の第1方向の両端に夫々位置する離れた列を
形成している。コンタクトの第3組(2B) 、即ちに
乃至0のコンタクトはタッチ感応表面(18)の下側(
第3)辺に1列に配置している。また、コンタクトの第
4組(26) 、即ちA乃至Eのコンタクトはこの面の
上側(第4)辺に1列に配置している。
従って、第3及び第4組(28)及び(26)はタッチ
感応表面の第2方向の両端に互いに離れて位置している
。これらコンタクトは約0.2平方インチの空気乾燥し
た銀接触塗料スポットであってもよい。各コンタクトに
は電気的接触を容易にするため導線が接続されている。
歪を軽減する為、コンタクトとの接続部分、付近の各導
線の一部はエポキシ樹脂などでタッチパネル基板の縁に
固定してもよい。
この構成では、コンタクトの第1及び第2組(22)及
び(24)は、タッチパネルの水平方向の対向する両端
に離れて位置している。別のコンタクトの組(26)及
び(28)はタッチパネルの鉛直方向の対向する両端に
夫々離れて位置している。
コンタクトの各組は必ずしも1列に並んでいなくともよ
いが、各組が夫々直線上にあり、且つ第1及び第2方向
が互いに垂直であれば、コンタクトにより基準座標系が
定義される。タッチ位置はこの座標系に従って、以下に
説明する回路により求められる。更に、タッチ・パネル
を固定し、校正しておけば、コンタクトは画面(14)
に関して既知の位置にある。従って、タッチ感応表面(
18)上でのタッチ位置を求めれば、これに対応する画
面(14)上での位置を求めることができる。本発明は
この特定のコンタクトの構成に限定されるものではない
ことに留意されたい。また、タッチ感応表面の各辺に設
けたコンタクトの数は増減してもよい。
第2図のタッチ位置ヰ★出システムでは、タッチ感応表
面(18)上で2つの方向に関してタッチ位置を求める
のに、対向するコンタクトの組のペア(22) 、  
(24)及び別のペア(26) 、  (2B)の2つ
のベアを用いている。もし、1方向に関してのみタッチ
位置を求めるのなら、一方のベアのみが使用される。即
ち、コンタクトの組(22)及び(24)は第1 (X
)方向のタッチ位置を求めるのに用いられ、また、組(
26)及び(28)は第2(Y)方向のタッチ位置を求
めるのに用いられる。
また、第1図及び第2図を参照すると、関数発生S即ち
、可変周波数信号源(30)は出力端(36)に交流電
圧タッチパネル走査信号を出力する。パネル駆動増幅器
(38)はパネル走査信号を受け、この信号を増幅し、
出力端(40)に出力したその信号をタッチパネル駆動
変成器(44)の1次巻線(42)に供給する。これは
変成器の2次巻線(46)の両端、即ち信号プラス(S
IG+)出力HA(48)及び信号マイナス(SIG−
)出力端(50)間に交流電圧を発生させる。マルチプ
レクサ(即ちスイッチ回路)  (52)により、2次
巻線の出力端(48)及び(50)からのパネル走査信
号を、以下に説明するように、選択的にタッチパネル・
コンタクトの組に加える。これらパネル走査信号に応じ
て、パネル出力タッチ信号(即ち、タッチ電流信号)が
タッチ感応表面がタッチされると変成器(44)の中央
タップ(54)に発生する。これらタッチ電流信号は、
パネル出力信号処理回路(56)で処理され、タッチ位
置及び他の情報が求められる。
このパネル出力信号処理回路(56)では、中央タップ
(54)からのタッチ電流信号は線路(60)を伝わり
、電流検出演算増幅器のようなタッチ電流検出器(62
)に送られる。この検出器(62)の出力は中央タップ
(54)からのタッチ電流信号に対応している。この検
出器(62)の出力は出力線(64)に出力され、フィ
ルタ(66)  (第3B図)を介してアナログ・マル
チプライヤ(69)の1入力端(68)へ送られる。可
変周波数信号源(30)の交流電圧基準出力は線路(7
0)によって、マルチプライヤ基準回路(72)と接続
している。このマルチプライヤ基準回路(72)から出
力するマルチプライヤ基準電圧信号は、線路(74)を
伝わり、アナログ・マルチプライヤ(69)の基準入力
端(76)に入力する。この基準電圧信号により、アナ
ログ・マルチプライヤ(69)の乗算とタッチ感応表面
(1B)に入力する交流電圧信号とが同期する。
この乗算されたタッチ電流信号は線路(78)を経て増
幅器とフィルタ回路(80)に送られる。この回路(8
0)の出力は線路(82)に出力し、積分回路タイミン
グ・スイッチ(84)を介して、これらの信号を積分す
る積分回路(86)に入力する。
この積分回路タイミング・スイッチ(84)は積分タイ
ミング信号(IN’l’)に応じて、積分期間中に閉じ
る。この積分タイミング信号(lN’l”)は後述する
ように発生し、積分タイミング入力端子(88)に入力
する。このスイッチ(84)が閉じると、積分回路(8
6)に送られた信号が、そこで積分される。積分回路(
86)は互いに並列な積分コンデンサ(90)及び増幅
器(92)を含んでいる。
これらに加えて、積分コンデンサ放電スイッチ(94)
も内蔵し、このスイッチは線路(96)の放電信号(D
 I S)に応じて選択的に積分コンデンサ(90)を
放電させる。この放電信号(Ills)、(即ち積分回
路の零化信号)の発生については後述する。この積分さ
れたタッチ電流信号は線路(98)を経て、信号をデジ
タル化するアナログ・デジタル変換器回路即ちADC(
100)に入力する。このデジタル化された信号はデー
タ・バス(102) 、  <104)を経て、MPU
(10B)のデータ入力端(106)に送られる。MP
U(108)は他の処理の合間に、タッチ電流信号から
タッチ位置及び他の所望の情報を計算する。
MPU(10B)は、バス(104) 、  (110
)、並列出力ラッチ(112)及びバス(113)を介
してコンピュータ(114)と接続している。このコン
ビエータ(114)は線路(116)により表示端末装
置(12)と接続している。このように接続したことに
より、コンビエータ(114)を用いて選択した情報を
画面(14)上に表示させることができる。また、コン
ピュータ(114)により、タッチ位置に応じて表示情
報をソフトウェアに従って変更してもよい、このように
、所望の応用に適合するように従来の手法により実現で
きる。MPU(108)はバX(11B)ニよって周知
(7) R5232型通信インターフェース回路(12
0)にも接続している。これによって、タッチパネルで
遠方のデータ処理局と通信回線を介して通信できる。こ
のインターフェース回路(120)には典型的な例とし
て直列データ出力端(122)を設けている。
MPU(108)からの制御信号はMO及びM1出力端
から夫々線路(124)及び(126)を経てマルチプ
レクサ(52)へ送られる。これらの制御信号により、
マルチプレクサ(52)はパネル走査信号をコンタクト
の所望の組へと接続する。このようにして、タッチ位置
を決めるタッチ電流信号が発生する。典型的な走査方法
については後述する。
第1図のパネル出力信号処理回路(56)はデコーダ・
デマルチプレクサ(130)も含んでいる。
デコーダ・デマルチプレクサ(130)はMPU(10
8)からの線路(132) 、  (134)及び(1
36)の入力信号をデコードし、それに応じて、タッチ
パネル回路の種々の機能を制御する信号を出力する。例
えば、デコーダ・デマルチプレクサ(130)は線路(
88)に積分タイミング信号(INT)を出力する。こ
の信号を受けるとスイッチ(84)が閉じて、タッチ位
置の決定が必要になるとタッチ電流信号の積分が始まる
。この積分はIN’l’信号のパルス幅の期間続く。デ
コーダ・デマルチプレクサ(130)は線路(96)に
積分コンデンサ放電信号(D I S)も出力する。こ
の信号によりスイッチ(94)が閉じて、積分コンデン
サ(90)は各連続的な積分の前に放電される。MPU
(108)は信号源(30)の基準出力から出た線路(
140)上の同期信号を受ける同期入力端を有する。従
って、積分はパネル走査信号のタッチ感応表面(18)
への印加と同期している。デコーダ・デマルチプレクサ
(130)は線路(142) テA D C(100)
にも接続している。ADC(100)は積分されたタッ
チ信号をデジタル変換した信号をMPU(108)に送
る。
ADC(100)が所望の範囲内の値の出力を発生すれ
ばより正確なタッチ電流及びタッチ位置の決定が行える
。もしこれが小さすぎると、タッチ電流の小さな変動が
見のがされ、スプリアス信号の影響がより大きくなる。
もし大きすぎればAL)c(100)はオーバーフロー
して、不正確なタッチ電流信号の指示を与える。このよ
うな可能性を最小にする為、MPU (108) ハA
DC(100) ノ出力値を監視している。この値が所
望の範囲外のとき、MPU(108)はデコーダ・デマ
ルチプレクサ(130)に送る積分タイミング制御信号
のパルス幅を調整する。これに応じてINT信号のパル
ス幅、即ち積分期間が調整され、ADC(100)の出
力が所望のレベルまで戻される。これによって、広範囲
にタッチ電流が変化するように条件が広範囲に変化して
も、容易にこのパネル装置を使用できる0例えば、タッ
チ感応表面(18)へのタッチがスタイラスの使用によ
るものとか、指や他の身体部分とか、或いはたとえ手袋
をした指であってもよい。
自動零化回路(150)はタッチ感応表面がタッチされ
ない時、変成器(44)の中央タップ(54)のタッチ
電流信号をOにするようにtlli!整する。この零化
後、中央タップ(54)に電流が存在すると、(少くと
もノイズ闇値レベル以上の電流があると)、それはタッ
チ感応表面がタッチされたことを指示する。一般に自動
零化回路(150)は、タッチされない状況下では中央
タップ(54)に自動的に適当なオフセット電流を供給
し、その中央タップの電流を全て打ち消してOにする。
これを実行する為、第1図の自動零化回路では、実質的
な静電容量性負荷をパネル走査出力の1つくこの場合、
線路152を介してSIG+出力端(4B) )に選択
的に接続している。自動零化回路(150)はMPU(
108)からバス(104)及び(154)を介して人
力する零化信号に応答する。
自動零化回路(150)によりSIG+出力端(48)
と接続された実質的静電容量性負荷の値は零化信号に応
じて変化し、それによって零化動作に影響する。典型的
に、オフセット零化コンデンサ(158)が5IG−パ
ネル走査出力m(50)と接続し、中央タップ(54)
に自動零化回路から供給されるオフセット電流と逆の方
向に初期オフセット電流を供給する。その結果、自動零
化回路(150)によりSIG+パネル走査出力端(4
8)に静電容量が加えられると、コンデンサ(158)
から流れる初期オフセント電流と他の周辺信号とが釣り
合う。
別のオフセット・コンデンサ(168)がスイソチ(1
70)により選択的に5IG−パネル走査出力端(50
)に接続される。スイッチ(170)はマルチプレクサ
(52)から線路(172)に出力する信号に応じて、
インピーダンス・タッチ電流の決定中に閉じられる。コ
ンデンサ(15B)及び(168)が両方共この回路に
接続されると、インピーダンス・タッチ電流の決定中に
生じる典型的な電流漏れがより大きくなるので、初期オ
フセント電流はより大きくなる。
第1図のパネル出力信号処理回路(56)は、自動周波
数制御手段も含んでいる。これはタッチパネル装置が使
用されている環境での、CRT水平フライバック信号の
ような一定周波数の混信スペクトルによって影響を受け
ないレベルまでパネル走査信号の周波数を変化させるた
めのものである。
ここで用いた「一定周波数の混信スペクトル」とは、タ
ッチパネル装置と併用する装置によって典型的に発生す
る周期信号及びそれらの高調波信号を言う、この用語は
CRT表示装置の変動する多重水平フライバック信号の
ように、ある時間一定で、その後別の一定値に変化する
ような信号も含んでいる。これは、またタッチパネル装
置のパネル励起周波数の調整可能速度より遅い速度で変
化する周辺ノイズ信号も含んでいる。タッチパネル装置
をこのような一定周波数混信スベクトルの周波数付近で
動作させると、タッチ位置の決定を著しく損ない、場合
によっては決定したタッチ位置が全く信頼性を欠くもの
になる。
第1図の構成に於て、信号源(30)は可変周波数信号
発生器を内蔵している。この信号源(30)は周波数制
御入力端(176)を有し、ここに入力する周波数制御
信号に応じて可変の交流電圧出力信号を線路(36) 
、  (70)に出力する手段を内蔵している。 MP
 U (108)の制御により、自動周波数制御回路(
17B)は周波数制御信号を出力し、周波数制御人力#
(176)に線路(180)を介して送る。より具体的
にはMPU(108)が周波数調整を必要と判断した時
点で、デジタル周波数制御信号がバス(104)及び(
182)を経て自動周波数制御回路(178)へ送られ
る。デジタル・アナログ変換器(DAC)(184)は
デコーダ・デマルチプレクサ(130)からの線路(1
86)の信号に応じて、バス(1B2)から入力した周
波数制御信号を自動周波数制御回路に伝える。典型的に
は、周波数の調整は零化調整の頻度が高くなり過ぎた時
、零化調整の頻度を減少させるレベルまで動作周波数を
変化させる目的で行われる。MPU(10B)はこの周
波数の変化方向(増加又は減少)も予め定める。
第1図のタッチ・パネル装置は過大なタッチ電流からパ
ネル出力信号処理回路(56)及びタッチ感応表面(1
8)を保護するという特徴もある。具体的に、MPU(
108)はタッチ電流が最大安全閾値を越え、積分回路
(86)がその信号を最小積分期間積分していることを
判断していると仮定する。この場合、MPU(108)
により、デコーダ・デマルチプレクサ(130)は線路
(190)のO20,EN、出力を打ち切る。これによ
りスイッチ(192)が閉じて、信号源(30)のディ
セーブル・入力端(194)を接地する。こうなると、
信号源(30)の出力は停止し、タッチ感応表面(18
)へのパネル走査信号は遮断される。保護の為に、MP
U(108)のMO及びM1出力は、SIG+及び5I
G−パネル走査出力端とタッチ感応表面との間の接続を
断ち切るようにマルチプレクサ(52)を制御するデジ
タル論理レベルに変化する。
手動制御スイッチ(198)が制御線路(200)によ
りMPU(108)と接続している。詳細は後述するが
、スイッチ(198)の設定により、タッチ位置信号を
並列出力端(113)に送るか或いは直列データ出力端
(122)に送るかというような処理パラメータが選択
される。
パネル走査方法及びタッチ位置の決定 より詳細に後述する通り、MPU(108)はマルチプ
レクサ(52)を制御して、所定の方法でタッチ感応表
面(18)の辺に変成器(44)のSIG+及び5IG
−出力端(48)及び(50)を夫々接続する。この結
果性じるタッチ電流信号によりタッチ位置及び他の情報
が決められる。
走査方法の第1の具体例として第2図を参照し、タッチ
感応表面がタッチされずに零化回路(150)によりタ
ッチ電流がOに調整されていると仮定する。また、x−
y座標系の原点をタッチ感応表面(18)の中心に設定
したものとする。点Pがタッチされたとすると、この点
の位置は第2図のX及びY座標で与えられる。(ここで
は、時々Xp。
Ypと表わす。) この第1走査方法の第1モードでは、5IG−出力端(
50)がコンタクトの組(22)と、SIG十出力出力
端8)はコンタクトの組(24)と夫々接続している。
その上、他のコンタクトの組(26)及び(28)は(
その必要性は特にないが)開路になっている。このモー
ドでは交流電圧勾配がタッチ感応表面(18)の第1方
向(即ち、X方向)に形成される。この場合では、第1
方向は水平方向でX軸を含んでいる。後述するように、
マルチプライヤ(69)の乗算及びフィルタ通過後、第
1(X)方向のタッチ電流は次式で表わされる。
ia)  i×−KxX − この方程式で、i×は上述の結果によるタッチ電流で第
1 (即ちX)タッチ電流を表わす。また、■は変成器
の中央タップ(54)の仮想接地に対する2次巻線出力
端(4B)の電圧である。21は使用者がタッチ感応表
面にタッチした時この回路に加えられるインピーダンス
であり、Kxは定数である。また、V/Ztは使用者の
タッチによって流れるインピーダンス・タッチ電流に相
当している。Xはタッチ位置のX座標である。
第1走査方法の第2モードでは、SIG+出力端(48
)はタッチ感応表面の第1及び第2辺(22)(24)
の少くとも一方、典型的には同時に両方と接続する。こ
れにより一様な交流電圧が第1 (X)方向に形成され
る。このモードでは中央タップ(54)のどのタッチ電
流も使用者を介して流れるインピーダンス・タッチ電流
に相当する0乗算及びフィルタ通過後のインピーダンス
・タッチ電流は次式で表わされる。
■ 偽)  tz萬□Kz インピーダンス電流走査モードの他の方法としては、パ
ネル走査出力端の一方(即ち、SIG+出力端)をタッ
チ感応表面の1辺だけと接続したり、隣接する2辺と接
続したり、4辺全部と接続したりする。
上記2つの方程式を連立して解けば、Xタッチ位置は次
式で与えられる。
zKx K z / K xを求める為に、タッチ感応表面(1
8)の既知のX位置にタッチする。例えば、4隅、即ち
X座標の右端及び左端にタッチする。複数の既知のX座
標を上記(C1式に代入して、その結果を平均すればK
 z / K xの値が求められる。−旦Kz/Kxの
値が求まれば、未知のXタッチ位置は第1及びインピー
ダンスタッチ電流信号から上記方程式を使って計算でき
る。
2次元のタッチ情報が望ましい場合には、第1走査方法
を第3モードにする。第3モードでは、SIG+出力端
(48)はタッチ感応表面(18)の上辺(26)と接
続し、5IG−出力端(50)は底辺(28)と接続す
る。これにより交流電圧勾配がタッチ感応表面(18)
の第2(即ちY)方向に形成される0乗算及びフィルタ
通過後の第2 (Y)タッチ電流信号iyは次式で表わ
せる。
この方程式でYはYタッチ位置、KyはKxと同様に決
まる定数である。第1図ではKx、Ky及びKzは夫々
略1に等しい、従って、これら定数を求める必要がない
、方程式(b)及び(dlを連立して解けば、Yタッチ
位置は次式で与えられる。
lz K)’ この方程式で、K z / K yはK z / K 
xと同様に決まる定数である。
以上述べた3つのモードでタッチ感応表面(18)を走
査して得たタッチ電流信号から、タッチ位置PのX及び
Y座標が求められる。所定の回数走査サイクルを繰返し
て、その結果を総合、(即ち平均)してタッチ位置を正
確に求めることができる。
しかし、精度は及ばないが、多くの応用例では、複数の
結果を平均しなくても十分な精度でタッチ位置を求める
ことができる0種々のモード間の切換えはMPU(10
8)からの信号MO及びMlのfil[IIにより、マ
ルチプレクサ(52)が実行する。
タッチパネル(16)上のタッチ位置より、コンピュー
タ(114)は表示端末(12)に表示されたほどの情
報項目を使用者が選択したかを確認する。
それから表示端末は周知の方法で使用者の選択に応答す
る。
タッチ位置の決定に加えて、生じたタッチ電流から付加
的情報が得られる。例えば、X及びY座標を連続して計
算し、その上インピーダンス・タッチ電流lzも監視し
た場合がある。X及びYが不変で12だけが変化すれば
、これは使用者がタッチ感応表面の特定の位置をタッチ
し続け、単にタッチの仕方が変ったという事を示す。例
えば、これは使用者がタッチ位置をより強く押えている
場合かも知れない、この場合にはタッチ感応表面のタッ
チされている面積が変化する。この結果性じるインピー
ダンス・タッチ電流の変化は付加的機能を制御する為コ
ンピュータ(114)が使用できる0例えば、タッチ画
面が同じ位置で単により強く押されただけなら、インピ
ーダンス・タッチ電流の変化は検出され、それはタッチ
位置で決まるデータ上で動作する特性のサブルーチンを
呼び出すのに用いられる。
所望のX及びYタッチ電流及びインピーダンス・タッチ
電流を与える他の走査方法を以下に説明する。この第2
の走査方法では前述した3つのモードの代りに、4つの
モードでタッチ感応表面を走査する。第2図に於て、こ
の走査方法によればタッチ位置の点PはXl、Xl 、
Yt 、Ytの4つで記述される。即ち、タッチ感応表
面のX方向の両端間の距離は既知で、それがxl及びX
lの和に等しい、また、Xlは第2図のパネルの左辺か
ら点Pまでの水平距離で定義され、他方X2はパネルの
右辺から点Pまでの水平距離で定義される。また、この
パネルのY方向の両端の距離は既知で、それはYl及び
Ytの和に等しい。Yl及びYtは夫々タッチ感応表面
の底辺及び上辺から点Pまでの距離として定義される。
この第2走査方法の第1モードでは、マルチプレクサ(
52)によりStC+出力端(48)はタッチ感応表面
(18)の右辺と接続し、中央タップ(54)はタッチ
感応表面(18)の左辺と接続している。これによって
、タッチ感応表面のX方向に右端から左端へと交流電圧
勾配が形成される。タッチ感応表面(18)がタッチさ
れない時零化回路によってタッチ電流は0に調整され、
またタッチ電流の乗算及びフィルタ通過も行われたもの
と仮定する。これらの条件で、中央タップの第1タッヂ
電流ix、は次式で与えられる。
また、第2モードの時、SIG+出力端(48)及び中
央タップ(54)は夫々タッチ感応表面の左辺及び右辺
に接続される。これによってタッチ感It6表面のX方
向に今度は左端から右端へ交流電圧勾配が形成される。
この場合の第2タツチ電流ix2は次式で与えられる。
方程式ff)及び(幻を加算すれば、インピーダンス・
タッチ電流izxは次式で与えられる。
結局、方程式(f)及び(h)より、タッチ位置の点P
のX軸位置X1は次式で与えられる。
以上の方程式でKxは定数で、タッチ感応表面〈18)
の既知の位置にタッチして前述したのと同様の方法で求
めることができる。
また、前述の通り、XlとXlの和は既知である。従っ
て上記2測定の結果からタッチ位置(点P)のX軸位置
情報は計算でき、また、インピーダンス・タッチ電流i
Thに関する変化の情報も得られる。
Y軸についての位置情報は以下の方法で求められる。こ
の第2走査方法の第3モードに於て、sic+出力端(
48)及び中央タップ(54)は夫々タッチ感応表面(
18)の上辺及び底辺と接続する。その結果、第3タツ
チ電流t yiは次式で与えられる。
第4モードでは、SIG+出方端(48)及び中央タッ
プ(54)は夫々タッチ感応表面(18)の底辺及び上
辺と接続する。この結果、第4タツチ電流L y2は次
式で与えられる。
方程式(」)及び(ト))を加算すれば、インピーダン
ス・タッチ電流izyは次式で与えられる。
ν 更に、方程式TJ)及び(1)より、Ylは次式で与え
られる。
(iyt+1yz) 上述のように、Yl及びYlの和は既知であり、また定
数に7は定数Kxと同様にして求めることができる。よ
って、Xl及びYlはタッチ電流から求めることができ
、またインピーダンス・タッチ電流の変化も自在に監視
できる。
当業者には明らかなように、タッチ感応表面に交流電圧
勾配を形成する他の走査方法及びモードを採用すること
により、所望の位置情報を求め得るようなタッチ電流信
号を発生させることが可能である。
タッチ・パネルの構造 再び第2図を参照して、タッチ・パネル(16)の全面
領域を覆うタッチ感応表面(18)はタッチ位置決定回
路と接続され、使用者のタッチを検出するのに用いられ
る。前述のように、タッチ・パネル(16)は導電性フ
ィルムでタッチ感応表面を被覆した基板を具えている。
このようなフィルムの好適な一例は、面固有抵抗が20
0Ω/面、520nmの波長の光透過率が85%のイン
ジウム・スズ酸化物である。このようなフィルムで被覆
した基板は、カリフォルニア州すンタ・ローザのオプテ
ィカル・コーティング・ラボラトリ社から市販されてい
る。このフィルムの面固有抵抗はそれ程厳密でなくとも
よく、50〜2000Ω/面かそれ以上でも好適である
0面固有抵抗200Ω/面より相当低い場合には特別に
低抵抗スイッチを必要とし、比較的大電力を消費するこ
とになるかも知れない。
この基板は特定の形状に限定されるものではない、従っ
て、画面(14)に適合するように、円形、凹面、球面
、曲面、平面等どんな面でもよい。また、この基板は光
学的に透明であれば種々の好適材料ものでもよい。背景
からの反射光による眩しさを低減する為、基板は市販の
防眩ガラスのものでもよい、このガラスも平面或いは表
示画面の曲面に合うような曲面であってもよい、このよ
うな基板の販売元の1つはウェスト・バージニア州チャ
ールスバーグのイーグル・コンベフクス・グラス社であ
る。
前述のように、どのようなコンタクト配置構造を採用す
るかは上述の例に応じて種々変更し得る。
勿論、具体的なマルチプレクサ(ffilちスイッチ回
路)  (52)は選択したコンタクト配置構造に応じ
て変わる。一般に、比較的−様な交流電圧勾配を所望の
方向にタッチ感応表面上に容易に形成し得るものならど
んなコンタクト配置構造を採用してもよい。
タッチパネル駆動回路 交流電圧信号を発生し、タッチ感応表面(18)に印加
する回路の詳細は第3図に示している。
もっと具体的に述べると、図の構成に於て、信号源(3
0)はエグザ・カンパニーのXR8038A 型築積回
路信号源で代表される周知の正弦波信号源を含み、第3
図のように周知の方法で接続されている。信号源(30
)は正弦波出方をビン2、即ち出力#(36)に出方す
る。決定的条件ではないが、この信号発生器の典型的出
方信号の周波数は15〜300KH2(好適値200K
Hz)である。理由は後述するが、この周波数はタッチ
処理回路によって自動的に調整される。この信号源(3
0)は矩形基準信号もピン9 (出力端(70) )に
出力する。この基準信号ニヨリ同期信号(O3C,5Y
NCH,)が線路(140)に出力され、またマルチプ
ライヤ基準回路(72)を経て、この基準電圧信号がア
ナログ・マルチプライヤ(69)に送られる。
図のパネル駆動増幅回路(38)は演算増幅器(210
)及びディスクリート型ブシェ・プル・フォロア回路(
212)を含んでいる。パネル駆動増幅器(38)の出
力は線路(40)により1μFのセラミック製DC遮断
コンデンサ(213)を介して変成器(44)の1次巻
線(42)と接続している。コンデンサ(213)は直
流電流によって変成器(44)が飽和するのを防止する
。典型的に、信号源(30)及び駆動増幅回路(38)
により変成器(44)は2次巻線の出力端(48)及び
(50)間に最高最低(ピーク・トウ・ピーク)電圧値
で約12Vの電圧を出力する。この変成器は1次対2次
の電圧比がl対lのものを用いているので、同じ電圧が
1次巻線(42)の入力端間に供給されている。
好適実施例では変成器(44)は環状(トロイダル)コ
アを有する。この変成器(44)によって、タッチ感応
表面(18)を駆動する電流と信号源(30)の出力す
る電流とが隔離される。その結果、中央タップ(54)
に生じる?1流はタッチ電流のみとなる。このような変
成器(44)の駆動構成により、パネル走査電流を除い
てタッチ電流のみを得る為の複雑な回路は不必要となる
。
信号発生器(30)及び駆動増幅回路(38)に好適な
抵抗器及びコンデンサは先の説明にはなかったが、この
実施例の最後の表1に記載している。
第2図のマルチプレクサ(52)はパネル走査信号をタ
ッチ感応表面に供給するスイッチ回路を含んでいる。こ
れらのパネル走査信号により、タッチ感応表面(18)
上に所望の方向で交流電圧勾配を形成する0図示したタ
ッチ・コンタクトの配置に関して、マルチプレクサ(5
2)は図のように相互接続した6つの2極双投CMOS
アナログ・スイッチ(260)乃至(270)及び状態
デコーダ回路(272)を含んでいる。具体例として、
スイッチ(260)乃至(270)はジー・イー・イン
ターシル社製lH3O45型スイツチを用いてもよく、
また状態デコーダ回路(272)は周知の74LSO2
型NORゲートの回路でもよい。SIG+出力端(48
)及び5lG−出力端(50)のパネル走査信号はマル
チプレクサ(52)の走査入力端に送られる。一般に、
スイッチ(260)乃至(270)はMPU(108)
から制御線路(124) 、  (126)を介して状
態デコーダ回路(272)に送られる制御信号MO及び
Mlに応じて種々の状態に切換えられる。マルチプレク
サ(52)の人力/出力線路(274)は第2図に示し
たようにタッチ感応表面(18)のコンタク)A乃至T
に夫々接続している。
論理状態“0” (MO)及び論理状態“1”(Ml)
の信号がMPU(10B)から制御線路(124)及び
(126)に夫々出力されると、スイッチ回路は第1(
X)タッチ電流検出状態(X状態)に入る。この第1状
態のとき、コンタクトの組(22)のP乃至]゛は電気
的接続し、またコンタクトの組(24)のF乃至Jも電
気的接続する。それに、コンタクl−A乃至E及びに乃
至Oは開路(オーブン)になっている、また、この$1
状態のきき、SIG十出力出力端8)の出力はコンタク
トの組(24)に印加し、5IG−出力端(50)の出
力はコンタクトの組(22)に印加する。これらの条件
下で、タッチ感応表面(18)の第1 (×)方向に交
流電圧勾配が形成される。
更に、制御線路(124)に出力したMO制御信号が論
理状態“1”で、制御線路(126)のM1制御信号が
論理状態゛0”のとき、マルチプレクサ(52)は第2
(Y)タッチ電流検出状態(Y状態)となる。この第2
状態ではコンタクトの組(26)のA乃至Eは電気的接
続し、SIG+出力端(48)からの信号が入力する。
また、コンタクトの組(28)のに乃至0も電気的接続
し、5IG−出力端(50)からの信号が入力する。コ
ンタクトP乃至′r及びF乃至Jは開路となっている。
この条件下で、タッチ感応表面(18)の上辺及び底辺
のコンタクト間に第2 (Y)方向で交流電圧勾配が形
成される。
マルチプレクサ(52)はMO及びM1制御信号が共に
″O”のとき、第3 (即ちインピーダンス)タッチ電
流検出状態(Z状態)になる、この第3状態ではコンタ
クトの組(22)及び(26)は夫々電気的接続し、S
IG+出力端(48)と接続する。
また、他のコンタクトの組(24)及び(2日)は開路
となっている。交流電圧がタッチ感応表面(18)の2
つの隣接する辺に同時に印加する。その結果、中央タッ
プ(54)に流れるタッチ電流は、タッチ感応表面が使
用者にタッチされた時発生するインピーダンス電流に直
接対応している。前述した型の付加的なcnosアナロ
グ・スイッチを追加使用すれば、タッチ・パネルの総て
の辺に同時に同じ信号を加えることもできる。また、多
くの場合、インピーダンス電流は、タッチ感応表面の単
一の辺のみを駆動するだけでも検出することができる。
勿論、この辺によって形成したタッチ表面上の−様な交
流電界によって他の辺のコンタクトは刺激されている。
最後に、マルチプレクサ(52)はMO及びM1制御信
号が両方共“1”のとき、第4(オフ)状態となる。ス
イッチ(260)乃至(270)がオフ状態になると、
タッチ感応表面(18)へのパネル走査信号の印加が遮
断される。過大出力電流が検出されると、このオフ状態
に切換わるようにし得るので、これによりタッチ感応表
面及び回路は過大電流から保護される。また、回路を保
護する為に通常、スイッチ(260)乃至(270)は
、X。
Y、及び2状態間の切換時及び回路のリセット時にはオ
フ状態に切換わる。
次の状態表は上述の4つの状態を示している。
この表で、英文字R,L、T及びBは状態デコーダ(2
72)の出力信号の論理状態を示し、夫々タッチ感応表
面(18)の4辺右辺、左辺、上辺及び底辺と対応して
いる。
状態表 動作中、MpL+(108)はタッチ感応表面(18)
の走査を周期的に繰返している。各サイクルについてマ
ルチプレクサ(52)は次の順序で切換ねる。
即ち、第3 (z)−オフー第1 (X)−オフー第2
 (Y)→オフ→第3 (z)→オフ・・・の如くであ
る。過大電流に関するテストは通常2状態中に実行され
、この状態切換順序に於ける各走査サイクルの開始及び
終了時点毎にチェックされる。
また、インピーダンス(Z)電流はX及びY軸上の位置
を決めるのに用いられるので、X及びY電流の検出の場
合より高い周波数でZ電流を検出し直すことが望ましい
、勿論、他の走査方法を用いてもよい。この結果求めた
タッチ電流から、前述の方程式(a)乃至telを用い
てタッチ位置が決定される。通常、マルチプレクサ(5
2)の3状態間の走査切換サイクルは比較的高速で、3
0〜1000Hzである。一般に、マルチプレクサ(5
2)の切換周波数が遅くなればなる程、処理回路がタッ
チ位置を決定するに要する時間は長くなる。
同様にして、適当なマルチプレクサにより、前述の方程
式if)乃至(→に関して説明したように、4つのタッ
チ電流1xz、tx□+l)’1及びkY2を発生させ
てもよい。
タッチ検出回路を駆動するのに変成器を用いたことによ
り回路構成が簡単になった上に他の利点もあるが、タッ
チ感応表面(18)に所望の交流電圧勾配を形成するの
に別の回路を用いてもよい。
例えば、正弦波駆動信号出力端(40)を利得一定の反
転増幅器を介して5IG−出力端(50)に接続しても
よい。同時に駆動信号出力端(40)を直接SIG+出
力端(48)に接続してもよい。それから、SIG+及
び5IG−出力端(48) 、  (50)の差動電流
は差動電流検出器に入力し、処理されてタッチ位置が決
められる。更に、タッチ・パネルがタッチされない時及
び零化回路(150)により零化調整されている時には
、後述するようにこの差動電流はOになる。
付加的保護装置として、第2図のタッチ・パネル駆動信
号印加回路には、タッチ検出回路から高電圧を放電する
付加的手段を具えている。このような電圧は、例えば使
用者の静電気に起因して発生する。この手段は4組のク
ランプ・ダイオードから成り、1組は第2図で(280
)の番号を付して示している。これらの各組はタッチ感
応表面の各辺と夫々接続している8例えば、組(208
)はパネル上辺の中央コンタクトCと接続している。
同様に他の組もパネルの他の辺の中央のコンタクトと夫
々接続している0組(280)の第1ダイオード(28
2)はカソードをタッチ感応表面に、アノードを一12
VのDC電源に夫々接続し、第2ダイオード(284)
はアノードをタッチ感応表面に、カソードを+12Vの
DC電源に夫々接続している。
パネル上辺の電圧が+12V越えると、ダイオード(2
84)が順バイアスで導通し、この電圧を放電する。同
様に、この電圧が一12Vより低くなると、ダイオード
(282)が導通してこの電圧を放電させる。従って、
タッチ感応表面の電圧は+12Vの範囲内の電圧に有効
に制限される。第1ツエナー・ダイオード(285)は
アノードを一12V電源に接続し、カソードを接地して
いる。第2ツエナー・ダイオード(286)はカソード
を+12V li源に接続し、アノードを接地している
。これらのツェナー・ダイオードのブレーク・ダウン電
圧は供給電圧より高く、例えば+18Vである。従って
、ダイオードの組(280)及び他のダイオードの組を
介して放電された電圧が電源の吸収し得る電圧を越えて
も、その電圧はツェナー・ダイオードを介して接地端に
流れる。このような高電圧の保護以外にはこれらクラン
プ・ダイオード及びツェナー・ダイオードは′4常のタ
ッチ位置検出中に電流を余計に流すことはない、よって
、この保護回路の漏れ電流によってタッチ位置決定精度
が影響されるということもない。
引き続き第2図を参照すると、第3 (Z)タッチ電流
検出中にオフセント・コンデンサ(16B)を5IG−
出力#(50)に接続する回路がある。
具体的に言えば、MO及びM1出力がダイオード(28
8) 、  (290)及び抵抗器(292)より成る
ワイヤードORゲートを介してスイッチ(170)に接
続している。スイッチ(170)は制御入力の状態が“
O”のとき閉じる周知の反転スイッチである。このスイ
ッチ(170)が閉じるのは、MO及びM1制御入力が
共に“O゛、且つパネルが第3 (Z)状態、即ちイン
ピーダンス電流検出状態のときである。このオフセント
・コンデンサ(168)の機能については、自動零化回
路(150)に関連して後述する。
パネル出力信号処理回路 再び第3図に戻り、電流検出器(62)は電流・電圧変
換器としての演算増幅器を含み、この増幅器の反転入力
端は変成器(44)の中央タップ(54)と接続してい
る。また非反転入力端は接地している。この電流検出増
幅器(62)の両入力端間に並列且つ逆方向に1対のダ
イオードを接続している。
これらのダイオードにより、この増幅器(62)は過大
電流及び電圧から保護される。220Ωの帰還抵抗器(
302)が増幅器(62)の出力端(64)及び反転入
力端間に接続している。以上の結線の結果、増幅器(6
2)の出力端(64)の電圧は、変成器の中央タップ(
54)に流れる電流、即ち第1(X)、第2 (Y) 
、及び第3(Z)の各タッチ電流に夫々対応している。
これらのタッチ電流信号はフィルタ回路(66)を通っ
てアナログ・マルチプライヤ(69)の入力端(68)
に送られる。フィルタ(66)は受動型高域通過フィル
タである。
このフィルタ(66)には、1000pFのDC遮断コ
ンデンサ(304)及びアナログ・マルチブライ+入力
端(68)及び接地間に接続した4、7にΩの抵抗器(
302)が含まれている。また、−12V電源も4.7
にΩの抵抗器(306)を介して入力端(68)に接続
している。
アナログ・マルチプライヤ(69)は信号源(30)の
出力端(70)から基準信号を受ける。出力端(70)
の信号は変成器(44)を駆動するのに用いる正弦波出
力端(36)の信号と90゛位相のずれた矩形波である
。出力端(70)は4.7にΩの抵抗器(310)を介
して接続点(311)と接続し、ここからIOKΩの抵
抗器(312)を介して+12V電源に接続している。
接続点(311)はまた3、9にΩの抵抗器(314)
を介して接地端にも接続している。
この回路によって、矩形波出力の電圧がTTLロジック
回路に適合する電圧まで分圧される。ダイオード(31
6)により矩形波出力信号の負の半周期がクリップされ
て切り取られる。この結果、OSC,5YNCH,出力
端(140)の同期信号として正の半周期が残される。
接続点(311)は1000pFのDC遮断コンデンサ
(31B )及び1対のIOKΩの抵抗器(320) 
、  (322)を介してアナログ・マルチプライヤ(
69)の入力端(76)に接続している。150pFの
フィルタ用コンデンサ(324)が抵抗器(320) 
、  (322)間の接続点と接地間に接続している。
また、アナログ・マルチプライヤ(69)の入力端(7
6)はIKΩの抵抗器(32B )を介して接地してい
る。これらコンデンサ及び抵抗器のフィルタを通過して
、クリップされた矩形波出力信号は基準周波数信号とし
てアナログ・マルチプライヤに人力する。アナログ・マ
ルチプライヤ(69)にはモトローラ社のMC1496
型アナログ・マルチプライヤを用いてもよい。この回路
に第3B図に示すように接続されている周知のバイアス
抵抗器は表1.の中に示している。
後述するように、零化回路によって使用者がタッチして
いないとき、変成器の2次巻線の中央タップ(54)の
電圧は正確に0■になる。これは、たとえ検出回路がな
くても実行される。使用者がパネルにタッチすると電流
がある程度接地端に流れる。電荷保存則により、この電
流は変成器の中央タップのワイヤ(54)にも流れる。
この結果流れる中央タップの電流はパネル駆動周波数W
oの信号及び実質的ノイズ成分より成る。X、Y及びZ
のタッチ・データは各電流信号の振幅の変化によって表
わされる。この振幅のデータのみに注目すればよいので
、同期検出器は振幅変調したタッチ電流信号を復調する
のに使用し得る。アナログ・マルチプライヤ(69)が
この同期検出の為に用いられ、ノイズの除去効果が高ま
り、それによってより正確なタッチ位置の決定が行える
。復調する為に中央タップの電流信号は、信号源(30
)の出力端(70)から送られた搬送信号と乗算される
。
数学的に示すと、第1(X)タッチ電流検出状態で、タ
ッチによって接地端に対して一定のインピーダンス21
が生じているものと仮定すると、次のような結果が得ら
れる。
パネル電圧 X Vo cos WQ t アナログ・マルチプライヤの出力 これらの式は信号の処理中に打消される定数も含んでい
る。同様の式がY及び2のタッチ電流検出状態の場合に
も得られる。マルチプライヤの基準信号に対するタッチ
電流の位相のずれφが90゛でなければ、cosφは0
にはならず、マルチプライヤの出力は有効なデータを与
える。タッチ電流は通當容量性であるが、信号源(30
)の矩形波出力信号は正弦波出力信号から90゛位相が
ずれているので、結局位相差φは0°に近く、正確な情
軸が得られる。マルチプライヤの出力の増幅器及びフィ
ルタ回路(80)はVo cos 2wo tの項及び
ノイズの殆どを効果的に除去する低域通過フィルタを含
んでいる。この結果得られる信号は前述した方程式a、
b及びdで夫々示したix、iy及びizに対応してい
る。タッチ位置はこれらの信号を処理して決定される。
より具体的に言えば、アナログ・マルチブライヤ(69
)の出力ビン(9)は47にΩの抵抗器(346)を介
して演算増幅器(34B ’)の反転入力端に接続して
いる。アナログ・マルチプライヤ(69)の出力ビン(
6)は別の47にΩの抵抗器(350)を介して演算増
幅器(348)の非反転入力端に接続している。この増
幅器の非反転入力端は47にΩの抵抗器(352)を介
して接地端にも接続している。また、47にΩの帰還抵
抗器(354)が増幅器(34B)の出力端及び反転入
力端間に接続している。更に、0.022μFのコンデ
ンサ(356’) 、  (358’)が夫々出力ビン
(9)及び(6)と接地端との間に接続している。
21は広範囲に変化するので、出力端(82)の信号レ
ベルも相当大幅に変化する。出力端(82)の’X+I
F及びlzの信号を単にデジタル・データに変換して前
述の方程式a、b及びdに従って分離するだけでは、得
られる精度は所謂丸めの誤差の為微小信号に対して低く
なってしまう、そうならないように、これらの信号は積
分され、夫々txi)<、ty i、及びtz izの
の値を得る。
この積分回数LX+  C71tZはMPU(108)
により積分値の大きさを制限範囲内で最大にし、誤差を
最小にするように制御される。jX+  t)’及びt
2はMPU(108)には既知なので、夫々異なる積分
回数がタッチ位置検出中にMPU(108)によって設
定される。この積分操作により更にノイズを除去し得る
。
再び第3B図に戻り、増幅器(348)の出力端(82
)は2.2にΩの抵抗器(360)を介して積分器スイ
ッチ(84)に接続している。論理状態“Omの保持信
号(INT)がMPU(10B)によりデコーダ(13
0)から線路(88)に入力していれば、スイッチ(8
4)は閉じている。このとき、増幅器(348)の出力
端(82)は積分コンデンサ(90)と接続している。
出力端(82)の信号は保持信号(INT)のパルス幅
で決まる積分期間に積分ささる。積分コンデンサ(90
)は0.02μFのコンデンサで、積分増幅器(92)
の反転入力端及び出力端(98)間に接続している。増
幅器(92)の非反転入力端は2.2にΩの抵抗器(3
62)を介して接地している。積分器放電スイッチ(9
4)と390Ωの放電電流制限抵抗器(364)の直列
回路が積分コンデンサ(90)と並列接続している。 
MP U (10B )の制御によりデコーダ(130
)からの線路(96)の論理状態“0”の信号(1) 
I S)に応じてスイッチ(94)が閉じてコンデンサ
(90)を放電させる。この放電は積分の直前に行われ
る。積分回路(86)の出力端(98)の信号は正或い
は負のアナログ電圧信号である。この出力信号は変成器
(44)の中央タップ(54)に発生したタッチ電流の
積分アナログ信号に相当する。
この積分回路出力端(98)は演算増幅器回路(366
)を介してADC(100)のデータ入力端ビン(6)
に接続している0回路(366”)により積分回路出力
端(98)の信号はADC(100)の入力範囲に合う
ようにレベル・シフト及び減衰される。
回路(366)も別のフィルタ段を含んでいる。1対の
ツェナー・ダイオード(388)は抵抗器(380)及
び(386)間の接続点と接地間に接続している。
これらのダイオードによりこの接続点の電圧は約±6.
8■にクランプされ、演算増幅回路(366)に印加す
る電圧範囲が制限される。
ADC(100)はナショナル・セミコンダクタ社のA
DC100I型回路を用いてもよい。この回路の8本の
出力データ線路は線路(102)及び(104)により
、MPU(10B)のデータ入出力ピン(32)乃至(
39)に接続している。ADC(100)のC8入カピ
ン(1)は線路(142)を介してデコーダ(130)
と接続しており、ADC(100)はRDピン(2)、
■ビン(3)及びlNTRピン(5)を有している。
周知のように、これらのピンはMPU(10B)によっ
て制御され、積分サイクルが完了し、その積分したタッ
チ電流信号をデジタル化すると、このデジタル化された
タッチ電流データがMPU(10B)に送られる。 A
DC(100)及び回路(366)に接続又は含まれて
いる抵抗器及びコンデンサの値は表1に載っている。
積分回路(86)からの負の出力値をデジタル化する際
に、2つの相補的方法を使用し得る。デジタル化された
値の符号からタッチ位置の点Pがどの象限にあるかが決
められる。例えば、タッチ感応表面(18)の中央に原
点を設定したX−Y座標糸に於て、負のXタッチ電流値
はタッチ位置が原点より左側にあることを示している。
逆に、正のXタッチ電流値はタッチ位置が原点右側であ
ることを示す。同様に、負のYタッチ電流値はタッチ位
置が原点より下側であることを示し、正のYタッチ電流
値はタッチ位置が原点より上側であることを示す。
MPU(108)によりマルチプレクサ(52)(第2
図)の状態を切換えて、上記積分サイクルが繰り返され
、連続的にデジタル化した第1 (X)、第2(Y)及
びインピーダンス(Z)タッチ電流(1111が得られ
る。これらの値が処理されて、パネルのタッチ位置が求
められる。
図のMPLJ(108)はインテル社製プログラマブル
8751型EPROMマイクロコントローラである。
また、デコーダ(130)は74LS13B型デコ一ダ
/デマルチプレクサ回路を含んでいる。更に、通信用イ
ンターフェース(120)はナショナル・セミコンダク
タ社% 051489型クワンド・ライン・レシーバ(
+1uad Lfne Receiver)及びDS1
488型クワッド・ライン・ドライバ(Quad Lt
ne Driver)で構成してもよい。図の構成に於
て、MPU(10B)のビン(10)は直列入力ボート
を含み、ビン(9)は論理状態“1”でタッチ検出回路
をリセットするリセット入力端を含み、ビン(13)は
外部割込入力端を含んでいる。 MPU (108)の
出力ビン(6)は送信要求信号を送るのに用いられ、ビ
ン(7)はデータ送信用送信可能信号線であり、ビン(
11)は直列データ出力端を含んでいる。これらのビン
を周知の方法で制御して、MPU(108)はインター
フェース(120)を介して通信ネットワークとデータ
の送受信を行う、また、データを直列送受信することも
可能である。並列出力ラッチ(112’)は8本の並列
データ出力ビン及び対応する入力ビンを有する74LS
377型8D・フリップ・フロップでもよい。MPU(
10B)はビン(11)でこのランチ(112)を制御
する。また、ランチ(112)のイネーブル入力ビン(
1)はMPU(108)の人出カビン(8)と接続して
いる。MPU(108)からのイネーブル信号に応じて
、ラッチ(112)から並列データが送信される。
制御スイッチ(19B)はMPU(108)の入力ビン
(21)乃至(27)に接続した7つの出力端を有する
手動スイッチを含んでもよい、これらの出力端はスイッ
チの設定に応じて論理状態″1”又は0″になる。if
!l常、この制御スイッチのビン(13)及び(14)
の論理状態によりタッチを検出するモードが決まる。例
えば、ビン(13)及び(14)が夫々“0”及び“1
″ならば、タッチ接触(on awake )モードが
指示される。このモードでは、タッチの最初の検出に応
じてタッチ位置データがラッチ(112)或いはインタ
ーフェース(120)を介して送られる。また、これら
の論理状態が夫々“1”及び“0”のときはタッチ解除
(on break)モードが指示される。このモード
では、例えば使用者がタッチ感応表面から指を離すとい
うようなタッチ位置の解除に応じてタッチ位置データが
送られる。更に、ビン(13)及び(14)の出力が共
に“0゛のときは連続モードが指示される。このモード
では、タッチ位置データが連続的に送られ、タッチ感応
表面上での使用者の指の動きが監視される。また、ビン
(11)及び(12)の論理状態によって、並列出力ラ
ッチ(112)か直列出力のどちらを用いるかが決まる
ほか、通信出力の送信速度(ボー)も(例えば1200
; 9,600 i19.200ボーのように)決まる
。ビン(9)及び(10)の論理状態により、これらの
データのパリティ(奇偶性)が決められる。I&後に、
ビン(8)の状態により、データが8ビツトの2進形式
か又は別の形式で伝送されるかが決まる。スイッチ(1
98)は実際にはどのような形式のものでもよく、信号
処理の際に指定されたパラメータを制御するときの必要
に応じてより大きくしても又は小さくしてもよい。
最後に、MPU(10B)のビン(18)及び(19)
は夫々、33pFのコンデンサを介して、接地している
0両方のビンの間にMPU(108)の基準周波数の発
振器となる水晶発振器が接続されている。
また、タッチパネル回路(56)には多くの電源用デカ
ップリング(減結合)コンデンサ(例えばコンデンサ(
374) )が含まれている。
信号の積分やタッチ位置の決定をしたり、自動零化制御
及び自動周波数制御等を行うMPU(108)の動作に
ついては、第9図乃至第16図の流れ図を参照して後述
する。
自動零化回路 本発明の別の側面として、パネル出力信号処理回路は、
第1(X)、第2(Y)及びインピーダンス(Z)タッ
チ電流をOにする自動零化回路(150)を含んでいる
。零化の意味はタッチ感応表面(18)がタッチされな
い時、中央タップ(54)のタッチ電流が効果的に相殺
されて0になるということである。この零化を行うこと
により、比較的微小なタッチ電流を発生するような、例
えば手袋をした指によるタッチの場合でも、そのタッチ
電流をより正確且つ容易に検出し得る。即ち、タッチ電
流がタッチと関係なく中央タップ(54)に発生ずる潜
在的周囲電流信号に隠されていることかない。従って、
本発明のタッチパネル装置はエレクトロルミネセンス表
示器も含んだ比較的ノイズの多い種々の環境でも広く応
用することができる。
一般に、オフセント電流即ち、零化電流は、非タッチ状
態の条件で変成器の中央タップ(54)に実質的に加え
られて、X、Y、及び2のタッチ電流を相殺してOにす
る。この零化電流の値はMPU(108)に制御され、
処理が続(につれて自動的に調整される。零化回路の具
体例では、実質的な容量性負荷が零化回路によって、第
1及び第2パネル走査出力端(4B> 、  (50)
の内の一方に接続される。この容量性負荷の静電容量は
MPU(108)からの零化制御信号に応じて変化し、
それによって変成器の中央タップ(54)の電流信号を
零化する零化電流を変えている。
自動零化回路の一実施例を第3A図に示している。この
場合、零化回路(150)はラッチ(390)のような
零化制御デバイスを含んでいる。ラッチ(390”)は
並列出力ラッチ(112)と類似していて、MPU(1
08)のデータ・ピン(32)乃至(39)からバス(
154)を介して零化信号を受ける。クロック信号もM
PU(108)からラッチ(390)のピン(11)に
送られる。MPU<108)の制御によりデコーダ(1
30)から線路(156)を介してラッチ(390)の
ピンC1)に入力するイネーブル入力信号に応じて、デ
ジタル零化制御信号がラッチ(390)の入力端から出
力端に送られる。
流れ図に関連して後述するように、これは通常MPU(
10B)がタッチ感応表面(18)がタッチされていな
いことを検出した時、及びX、Y及びZタッチ電流のど
れかが過大であることを検出時に起こることである。ラ
ッチ(390)の出力端は1対のスイッチ回路(392
) 、  (394)の制御ピン(11、(81、(9
1及び(16)に図のように接続している。実施例のス
イッチ回路はGEインターシル社110G211型CM
OS 4チヤンネル・アナログ・スイッチを含んでいる
。これらのスイッチ回路の出力ピン(31,(61,(
11)及び(14)は相互接続しており、線路(152
)によってパネル走査信号出力端の一方(例えばSIG
+出力端(48))に接続している。これらのスイッチ
回路の入力ピンは夫々コンデンサ・バンク(396) 
、  (398)のコンデンサに接続している。SIG
+パネル走査出力端に接続される静電容量の値はラッチ
(390)の出力端の論理状態に応じて決まる。もって
具体的に言えば、スイッチ回路(392)のピン(21
,(71,(10)及び(15)は夫々1 pF、 2
 pF、 4 pF及び8pFのコンデンサ群(400
)乃至(406)を介して接地している。同様に、スイ
ッチ(394)のピン+21 、 +71 。
(10)及び(15)は夫々16ρF、32pF、64
p)’及び128pFのコンデンサ群(408)乃至(
414)を介して接地している。コンデンサのこのよう
な配置により、零化回路(150)によってSIG+出
力端(48)に加えられる容量性負荷の値を19Fの分
解能で0〜255pFまで可変できる。所望により、ス
イッチ回路(392) 、  (394)及びラッチ(
390)をもって制御能力のある部品に変更して、もっ
と大きなコンデンサ・バンク(396) 、  (39
8) f用いて可変容量範囲を拡大してもよい。
特定のタッチ電流を最も有効に零化するようにSIG+
出力端(48)に与える容量性負荷を決めるのに種々の
方法を利用し得る。この零化の為の容量性負荷はX、Y
及びZタッチ電流の各測定状態に応じて決められるもの
と仮定する。この容量性負荷は通常非タッチ条件下でタ
ッチ感応表面に発生するタッチ電流が所定の零闇値を越
えない限り一定のままである。タッチ電流がこの零閾値
を越えると、そのタッチ電流の測定値が闇値以下になる
ように容量性負荷が調整される。
通切な容量性負荷を自動的に選択する1方法として、非
タッチ条件下でインピーダンス(Z)タッチ電流が′$
闇値を越えた場合を考える。この場合、静電容量が最大
の零化コンデンサ(414)がSIG+出力端に接続し
、可変容量範囲の中央の静電容量を結合しているものと
する。その後、非タッチ条件下で2タツチ電流が負にな
って、所望の闇値を越えたとすると、これはコンデンサ
(414)の値では零化するのに不十分であることを意
味する。2番目に大きなコンデンサ(412)がSIG
十出力端に追加され、非タッチ条件下のZタッチ電流を
再検査する。逆に、SIG+出力端にコンデンサ(41
4)が接続していた時、非タッチ条件TでZタッチ電流
が正になって零閥値を越えたとすると、これはコンデン
サ(414)の値が大き過ぎることになる。コンデンサ
(414)は回路から離され、コンデンサ(412)に
置換される。その後、零化検査が継続する。その後この
手順が繰返され、所望の零化を達成するように適切な容
量性負荷が接続される。勿論、容量性負荷を結合するの
に他の方法を用いてもよい。
オフセント・コンデンサ(158)  (第1図及び第
3B図)は通常120pFのコンデンサから成り、5I
G−出力端(50)と接地間を接続している。
このコンデンサにより中央タップ(54)のタッチ電流
に初期零化オフセットを与える。この初期オフセットの
方向は、典型的にコンデンサ・バンク(396) 、 
 (39B)の中央付近の静電容量によってX及びYタ
ッチ電流をOにするようになっている。Zタッチ電流の
検出中に、特にタッチ感応表面の全通が同時にSIG+
出力により駆動されている場合には漏れ電流が比較的大
きくなる。従って、この時付加的なオフセット静電容量
を加えて、零化回路(150)の総静電容量の中央付近
のどこかで、非タッチ条件下のインピーダンス(Z)タ
ッチ電流にオフセットを与えるようにしてもよい。
故に、付加的オフセット・コンデンサ(168)がZタ
ッチ電流検出中に5IG−出力端(50)に追加される
。第2図に関して前述した通り、スイッチ(170)は
Zタッチ電流の測定をしている時のみコンデンサ(16
8)を接続する。それ以外の時、このコンデンサ(16
B)は回路から切り離されている。付加的オフセット・
コンデンサ(16B)の代表的な値は約650pFであ
る。もし自動零化回路(150)の静電容量の可変範囲
を拡大すれば、コンデンサ(16B)を継続して回路に
接続しておいてもよい。
非タッチ条件下でインピーダンス(Z)タッチ電流を測
定していると仮定する。この場合、総浮遊容量及びタッ
チパネルに接続しているオフセット静電容量の和が零化
回路(150)による零化静電容量C2と等しければ、
変成器の中央タップ(54)から仮想接地へと電流は流
れない。これが零化条件であり、この時中央タップの電
流は夕・ノチ・インピーダンスのみの関数となる。この
為タッチ位置が変ってもあまり電圧変化を生じない。
X及びYタッチ電流の検出中に零化回路(150)によ
ってタッチ感応表面(18)に接続される零化静電容i
cx及びcyは、同様に非タッチ条件下で中央タップ(
54)に零化電流を与えるように調整される。3つの全
状態について零化されると、タッチ感応表面(18)が
タッチされた時のみ中央タップ(54)に電流が流れる
。
タッチ感応表面がタッチされない時、タッチ信号を0に
する為MPU(108)はオフセット零化信号を発生す
るソフトウェアを含んでいる。これらオフセット信号は
非タッチ条件下のタッチ電流を事実上Oにするように微
調整する。この詳細については第9図乃至第16図の流
れ図の説明の中で後述する。
零化回路(150)を種々の形式で実現してもよい0例
えば、第6図に示すように、ラッチ(390”)を、ス
イッチ回路(392) 、  (394)の各制御入力
端に接続する出力端を有するループ・カウンタ或いはシ
フト・レジスタ(422)と入れ換えてもよい、カウン
タの場合には、MPU(108)から線路(154)を
介して人力する計数パルスに応じて、カウンタ(422
)は計数値を増加して、それによってSIG+出力端(
48)に接続する容量性負荷を種々切換える。この静電
容量は、各タッチ電流検出状態に対して所望の零化静電
容量が決まるまで、1ステツプずつ連続的に変る。シフ
ト・レジスタに置換した場合には、シフト・レジスタ<
422)はMPU(10B)に接続したデータ入力端及
びMPU(108)のストローブ出力端に接続したスト
ローブ入力端を有する。ストローブ信号に応じて零化コ
ンデンサの特定の組合せを決める零化信号データはMP
tJ(10B)からシフト・レジスタ(422)に送ら
れる。第3図に関連して前述した反復技法を用いてシフ
ト・レジスタ(422)に人力する適当な零化データを
決めてもよい。
他の例として、MPU(10B)の制御により乗算用D
AC回路を用いてタッチ感応表面に接続する容量性負荷
を変化させてもよい、第4図に於て、周知の′A!、算
用DAC回路(424)はパネル駆動増幅器(3日)の
出力端(40)に接続した入力端ををする。この回路(
424)の出力端は演算増幅器(426)の非反転入力
端に接続している。この演算増幅器の出力端及び反転入
力端間に帰還抵抗器(428)が接続している。使用す
る演算増幅器(426)の型に応じて、零化コンデンサ
(430)は、Ta)・・・演算増幅器の反転入力端及
び5IG−パネル走査出力端(50)間を接続(第4図
に実線で示す)、或いは(bl・・・演算増幅器の出力
端及び5IG−出力端間を接続(第4図に破線で示す)
のどちらかの接続になる。第5図は乗算用DAC回路(
424)を使用する点で第4図と類偵している。
しかし、第5図の回路(424)の出力端は直接550
pFの零化コンデンサ(430)に接続している。
32にΩの抵抗器(431)は回路(424)の全スケ
ール範囲を減少し、他方22pFのコンデンサ<433
)は回路(424)のスプリアス発振を防止する。従っ
て、零化コンデンサ(430)は零化回路の容量性負荷
の一形式である。 MP U (10B )は線路(1
54)を介して零化制御信号を乗算用DAC回路(42
4)へ送る。この信号に応じて、コンデンサ(430)
の容量性負荷効果が変化する。上述したように容量性負
荷が変化して、パネルがラッチされない時X、Y及びZ
タッチ電流が0に調整される。
第7図の実施例に於て、信号源(30)に合まれる周知
の矩形波発振器の第1出力端(36)はパネル駆動増幅
器(38)に接続している。この例では、乗算用DAC
回路(424)に矩形波発振器(30)の第2出力端(
70)から第1出力端(36)の信号と90゛位相のず
れた信号が入力する。この乗算用1)AC回路の出力端
は抵抗器(432)を介して5IG−パネル走査出力端
(50)に接続している。
矩形波発振器の出力端(36)及び(70)の出力信号
の位相が90”ずれているので、抵抗器(432)は実
質的に5IG−出力端に対して容量性負荷の如くふるま
う、この実効的容量性負荷の値はMPU(10B)から
線路(154)を介して送られる零化信号に応じて変化
する。この値は各タッチ電流に対して零化条件を満たす
ように調整される。
第8図にはオフセント電流を電流検出器(62)の前の
位置で直接中央タップ(54)に加える零化回路の例を
開示している。この例では中央タップ(54)は演算増
幅器(434)の反転入力端に接続している。この増幅
器(434)の出力端及び反転入力端間に帰還抵抗器(
436)が接続している。
増幅器(434)の出力端は抵抗器(438)を介して
別の演算増幅器(440)の反転入力端に接続している
。演算増幅器(440)も出力端及び反転入力端間に帰
還抵抗器(442)を有し、この出力端は電流検出器(
62)の入力端(60)に接続している。これら増幅器
(434)及び(440)の各非反転入力端は接地して
いる。更に乗算用DAC回路(424)の出力端はコン
デンサ(444)を介して増幅器(440) の反転入
力端に接続している。乗葬用D A C回5. (42
4)の第1入力端はパネル駆動増幅器(38)の出力1
f8(40)と接続している。
回路(424’)の第2(制御)入力端にはMPU(1
08)から零化信号が入力している。このように接続す
ると、来算用DAC回路(424)により中央タップ(
54)に生じたタッチ電流に零化電流が加えられる。こ
の零化電流の値はMPU(108)の制御により調整さ
れ、パネルがタッチされない時タッチ電流をOにする。
以上の例により、タッチ・パネル装置に生じるタッチ電
流信号の自動的零化が行われる。また、タッチ・パネル
装置の動作中にタッチ電流を0にするようにこの零化を
行える。
自動周波数制御 第1図及び第3図に於て、タッチ・パネル装置は、この
システムが使用されている環境内の信号とパネル走査信
号が干渉しないようにパネル走査(,4号の周波数を環
境信号の周波数スペクトルがら自動的にずらす手段を含
んでいる。この手段はタッチ電流検出の際に干渉する周
波数スペクトルの影響を効果的に除去する。このような
干渉スペクトル信号源の主な一例はCRT表示装置の水
平フライバック信号である。このフライバンク信号の周
波数は装置によって変化し、且つ特定の装置が動作して
も変化する。この干渉周波数スペクトルからパネル走査
周波数を自動的にずらすようにしたので、予期される種
々の干渉周波数スペクトルに対し、種々のタッチパネル
装置を特別に設計する必要がない、即ち、本発明のタッ
チパネル・システムはこのような周波数変化に対し自動
的に補償されるので干渉周波数スペクトルを避ける為に
逐−作る必要がない。
第1図に於て、信号源(30)に含まれる可変周波数信
号発生器は制御入力端(176)に入力する周波数制御
信号に制御された周波数の出力を発生する。具体的には
、信号源(30)は自動周波数制御回1/&(178)
の信号に応じて可変周波数信号を出力する電圧制御発振
器(VCO)を含んでもよい。
MPLJ(108)はタッチ電流データにより駆動信号
周波数を変化させるかどうか決める。1つの方法として
、この決定はタッチ電流出力の零化調整の必要頻度を監
視して行われる。もし零化調整頻度が予め定めた頻度を
越えると、駆動周波数が干渉信号の周波数に近過ぎるレ
ベルにあるものと見なされる。この場合、MPU(10
8)が自動周波数制御回路(17B)を制御して信号発
生器(30)の出力するパネル走査信号の周波数を調整
する。
通常、最初に調整した周波数は比較的高い。最初の動作
周波数を選択後、動作周波数の更新は通常少しずつ増加
して行われる。また、流れ図に関して後述するように、
この周波数を調整すべき方向を決める手段が用意されて
いる。
第3図に於て、MPU(108)の出力ピン(32)乃
至(39)からデジタル周波数制御信号がバス(104
)及び(182)を介してDAC(184)のデータ入
力ビン(4)乃至(11)に送られる。DAC(184
)は自動周波数制御回路の一部を構成し、第3B図のよ
うに接続したアナログ・デバイス社製AD7524型D
ACを含んでもよい、この回路に用いたフィルタ用コン
デンサ及びバイアス抵抗器i表1に記載されている。D
AC(184)のWR人力ピン(13)はMPU(10
8)のWR出力ピン(16)に接続している。また、D
AC(184)の−σ下ピン(12)はデコーダ(13
0)に線路(186)を介して接続している。 MP 
U (108)の制御によりσ〕及び7百入カピン(1
2)及び(13)が共に論理@O″になると、DAC(
184)はピン(4)乃至(11)のデータ・バス入力
信号に応答する。
CS入力信号が論理“1”になると、データ・バス入力
信号は遮断される。逆に、WR人力が”1″になると、
DAC(184)はWR又はCS入力信号が“1”にな
った時データ入力端に最後に存在するデータを保持する
。 DAC(184)の出力ピン(1)は演算増幅器(
460)の反転入力端に接続しティルウ増幅器(,46
0) (7)出力端はDAC(184)の4F6還ビン
(16)に接続している。1μFのコンデンサ(462
)はDAC(184) (7)ピア (1)及び(16
)間を接続し、増幅器(460)の非反転入力端は接地
している。また、増幅器(460)の出力端は68にΩ
の抵抗器(464)を介して別の演算増幅器(466)
の反転入力端に接続している。信号源(30)のFMバ
イアス端(176a)は47にΩの抵抗器(468”)
を介して増幅器(466)の非反転入力端に接続してい
る。増幅器(466)の出力端は信号源(30)の周波
数掃引入力端(176b)に接続するほか、IOKΩの
帰還抵抗器(470)を介して自身の反転入力端にも接
続している。上述の構成により、MPU(108)の周
波数制御信号に応じて信号源出力端(36) 、  (
70)の信号の周波数は約130〜230KHzの範囲
で可変できる。この可変範囲は所望により増減可能であ
る。
タッチパネル装置を過大電流から保護する為、MPU(
108)は絶えずデジタル化タッチ電流信号を監視して
いる。典型的にはインピーダンス(Z)タッチ電流信号
が特に過大電流になるが監視されるが、他のタッチ電流
を同様に監視してもよい。Zタッチ電流信号が予め定め
た値を越えると、MPU(10B)によりテコーダ(1
30)からO3C,HN、 信号が線路(190)を介
して信号源(3o)用のディセーブル・スイッチ(19
2)の制御入力端に送られる。これによってスイッチ(
192)が閉じると、信号源(30)のピン(10)が
接地され、信号出力が遮断される。同時にパネル走査状
態がオフ状態に適音切換ねる。これでパネルのコンタク
トとタッチ検出回路群との接続が離れ、タッチ処理回路
群も過大電流から保護される。
上述したタッチ電流システムは動作するのに比較的小さ
な電力(即ち、通常3W以下)しか消費しない、更に、
回路基板の寸法、使用部品点数及び経背も低減している
。また、通常この装置全体が広範囲に応用できる基準装
置であるが、オフセット・コンデンサ(158)及び(
168)は実際の環境に適合させる為に時には変更でき
る。従って、使用者による調整は最小限度となる。また
、マルチプレクサ(52)を設計変更せずに1ピンから
6ピンまでをタッチ感応表面の各辺に接続するのに使用
できる。これによって本タッチ・パネル装置の汎用性は
更に拡大される。
9第9図乃至第16図の流れ図は第1図のタッチ・パネ
ル・システムを動作させる一手順を示している。これら
流れ図には自動零化、自動周波数制御の手順及びデジタ
ル・タッチ電流信号をタッチ位置データに処理する手順
も含まれている。
第9図では全般的手順を示している。開始ブロック(4
80)(これは装置のリセットを含んでいてもよい)か
ら始まり、初期周波数ブロック(482)に致る。ブロ
ック(482)は初期タッチ・パネル動作周波数を選択
するサブルーチン及び初期零化サブルーチンを呼び出す
サブルーチンにも相当する0次のブロック(484)で
はX及びYがOに設定される。またZはFFhに設定さ
れる。このFFhは16進数0FF(10進数では25
5)を示している。これらの値は非タッチ状態に対応し
ている。この後、この装置はX、Y及びZを出力し、こ
の初期設定が完了したことを示す、その後、ブロック(
486)では以前のX、Y及びZの値(旧(X、Y、Z
))として(X、Y、Z)が設定される。その後、ブロ
ック(488)に達すると新しいX、Y及びZの値が決
められる。ブロック(488)は第13図及び第14図
に示したサブルーチンに相当する。
ブロック(488)から処理はループ(490)。
(495)及び(497)へ継続していく。これらのル
ープではタッチ・パネル装置が特定の動作モードにある
時新しいX、Y及びZの値を新しい値として認めるかど
うかを決める。より詳しく言えば、ループ(490)は
この装置が連続モードで動作中であるかどうかを検査す
る判断ブロック(492)を含んでいる。第3A図に関
して上述したよ・うに、これは制御スイッチ(198)
の設定によって決まる。もしYESならばタッチ・パネ
ル装置は判断ブロック(494)でX、Y及びZの値の
変化を探策する。もし値の変化がなければ(即ちNOな
らば)、処理はブロック(498)へ進む。もし値が変
化していれば(YESならば)、ブロック(496)で
新しいx、Y及びZの値がタッチパネル検出回路群から
出力される。その後処理手順は継続する。
ループ(490)の処理の後、ループ(495)では制
御スイッチ(198)によってタッチ接触モードが選択
されている場合にこのモードを評価する。
このモードの時には、X、Y及びZの値の最初の変化に
応じて新しい値が出力される。タッチパネル装置がタッ
チ接触モードであれば、判断ブロック(498)から判
断ブロック(500)に処理が進む。もし、旧Zの値が
FFh(非タッチ)であって、新しいZの値がFFhに
等しくなければ、パネルがタッチされていることになる
。この場合、ブロック(496)に進み新しいX、Y及
びZの値が出力される。その後、ブロック(496)か
ら、或いは新しいタッチが検出されなかった場合にはブ
ロック(500) から処理は継続する。
ループ(497)の判断ブロック(502)では、タッ
チ・パネル装置がタッチ解除モードにあるかどうかが判
断される。これは制御スイッチ(198)の設定で決ま
り、もしこのモードにあればタッチパネル装置は使用者
がタッチ感応表面からタッチを離す最初の瞬間を監視す
る。ブロック(504)では旧Zの値がタッチ状態に対
応していて且つ新しいZの値が非タッチ状態に対応して
いるかどうかを判断する。もしYESならば、タッチ感
応表面からタッチが解除されたことになるので、記憶さ
れていた旧X、Y及びZの値が出力される。これらの値
は使用者の指又はスタイラスがタッチ感応表面から離さ
れた位置に対応している。ブロック(506)又はブロ
ック(504)から処理がm統する。
ブロック(508)では信号源(30)がOSC,EN
。
信号によって停止されたかどうかを判断する。もし停止
状態になれば、ブロック(510)で任意の遅延時間(
例えば1秒より僅かに長い時間)を加えて、過大電流源
を取り除く時間を与える。この遅延時間後に処理が継続
する。第9図には示していないが、絶えず遅延時間を監
視することができる。また、累積遅延時間が予め定めた
時間を越えた場合、全処理を停止するようにしてもよい
、この場合、MPU(10B)は過大タッチ電流の為に
、所定の最大遅延時間を越えて、信号源(30)を停止
し続ける。これはシステムを検査する必要があることを
意味する。
第10図を参照すると、第9図から呼出された初期周波
数サブルーチンはブロック(512)から開始する。ブ
ロック(514)では周波数FRB(1,は7Fhに初
期設定される。これは信号1(30)の周波数制御の為
にDAC(184)に送られた最初の周波数である。こ
の初期値はDAC(184)の出力範囲の略中央値から
始まる。後続のブロック(516) 、  (518)
及び<520)ではある初期条件が設定される。変数F
constは最初0に設定される。この変数はタッチが
検出されずに走査周波数の設定が一定のまま走査した走
査サイクルの数を表わしている。Fconstの前の値
OL D F constは最初周波数が安定であると
仮定しているので、FFhに設定される。変数F of
fset4)最初0に設定される。また、F modフ
ラグは1に設定される。
このF modフラグは周波数の変化方向を制御する。
F mod = 1のとき周波数の調整は増加方向であ
る。
Fmo、d=−1のときは周波数調整が減少方向である
ことを意味する。ブロック(520)から初期零化ブロ
ック(522)に進む。このブロックはX。
Y及びZタッチ電流を最初Oに設定する初期零化サブル
ーチンである。このサブルーチンについては第11図に
関連して後述する。
その後、判断ブロック(524)ではX、Y及び2タフ
チ電流が十分に零化されているかどうかを判断する。こ
れは、各電流の値を零化閾値と比較して行われる。答が
NOであれば、初期周波数が干渉周波数スペクトルに近
過ぎることを意味する。
例えば、初期周波数が、この装置を使用しているC R
’l’表示器の水平フライバック周波数のIIJ調波の
どれかに近いものかも知れない。この場合には、ブロッ
ク(526)で周波数は大きなステップ(即ち、10単
位)だけ増加される。これはMPU(108)と自動周
波数制御回路(178)とによって行われる。判断プロ
ッタ(52B )では全周波数が試験済かどうかが評価
される。答がYESなら、処理はブロック(530)で
停止する。まだ全周波数が試験済でなければ、処理はブ
ロック(528)から信号の再零化の為ブロック(52
2)へと戻る。
ブロック<524)でx、Y及びZタッチ電流が闇値範
囲内と判断されたと仮定する。この場合にはサブループ
(532)に処理が進む、このサブループでは、タッチ
電流(例えば2タフチ電流)が予め定めたサイクル数の
期間十分に一定であったかどうか評価する。十分一定で
あれば、最初の動作周波数は以下述べるように更新され
るまで、そのまま保持される。2タツチ電流がこのサイ
クル期間中に一定でなければ、周波数を少しだけ増加し
てから初期周波数選択手順が継続する。結局、周波数を
選択した結果Zタッチ電流は所定の測定サンプル数の期
間で略一定となる。そして、この初期周波数サブルーチ
ンが終了する。
詳しく言えば、ブロック(524’)からYES分岐に
よりブロック(534)に進み、ここで測定サンプル数
C0UNTが設定される。測定サンプル数をいくつに選
んでもよいが、10が好適例である。ブロック(536
)では旧インピーダンス・タッチ電ffi 0LDZト
してZの値が記憶され、次のブロック(538)では新
しいインピーダンスタッチ電流Zが測定される。タッチ
電流の測定については第12図に関連して後述する。ブ
ロック(540)では旧2、!:Zとの差の絶対値を闇
値(即ち1)と比較する。もし、闇値より大きければ、
ブロック(542)に進み、駆動周波数FREQ、は小
さなステップ(即ち1iIt位)だけ増加する。その後
処理はブロック(524)へ継続する。しかし、もしイ
ンピーダンス・タッチ電流がこの閾値の許容範囲内で一
定であれば、ブロック(540)からブロック(543
)に進み、C01lNTO値が1減少される。次のブロ
ック(544)では測定サンプル全てが検査されたかど
うかを判断する。まだなら処理はブロック(536)に
戻される。全て検査が終れば一定かどうか評価中のZタ
ッチ電流或いは他のタッチ電流は所定の測定サンプル数
の期間、十分に一定であったことになる。その後、この
結果によって初期動作周波数が確定する。ブロック(5
46)から処理は第9図のブロック(482)に戻る。
第1O図のプロ7り<522)で呼出された初期零化サ
ブルーチンは、第11図のブロック(550)から開始
する。このサブルーチン零化手順によって、各タッチ電
流信号を零化する為に必要な零化静電容量を選択する。
第4図乃至第8図に示した種々の零化回路の例に対して
も同様の手順が好適である。ブロック(552)では、
積分器の利得GAINは0に初期設定される。これは最
長有効時間(例えば約30m5)の積分に対応している
。また、零化制御信号NLILLは0に初期設定される
。この零化制御信号はMPU(108)からラッチ(3
90)(第3A図)に送られる信号である。また、最終
零化フラグLAST NULLを論理状態偽” (FA
LSE)に初期設定する。このフラグは、後の零化を更
新する際に用いられる。
ブロック(554)では、変数BITが80h (18
進数)に設定される。このBITはラッチ(390)の
出力に対応し、16′a数形式で表わされる。BITが
80hに設定されると、可変範囲の中間値のコンデンサ
(即ち、128pドのコンデンサ(414) )が選択
され、SIG+走査出力端(48)に接続される。ブロ
ック(556)では、零化制御信号N[ILLと1:3
1 Tの和を新しいNULLに設定する。このループを
最初通過するとき、零化制御信号NULLは80hに等
しい、もし、Xタッチ電流を零化している時なら、ブロ
ック(558)でXタッチ電流が第12図のサブルーチ
ンに従って測定される。同様に、Y及びZタッチ電流も
各零化中には測定される。
ブロック(560)では、測定したXタッチ電流の値(
或いはY又は2タツチ電流の値)がOより大きいかどう
かを判断する。答がYESならば、SIG+出力端に接
続した静電容量が大き過ぎることになる。この場合、ブ
ロック(562)でNULLからBITを引いた値を新
しいNULLとする。これで自動零化回路(150)か
らコンデンサが切離される。初期状態ではコンデンサ(
414)カS I G+出力端に結合していたとする。
ブロック(560)でもし測定したタッチ電流がOより
大きくなければ、これはSIG+出力端に十分な静電容
量が接続していないことを意味する。この場合、ブロッ
ク(564)でBITの値が半分になる。次のブロック
(566)では、この半分になったBITの値が0かど
うかを判断する。答がYESならばコンデンサ選択過程
が完了したことになる。第1回目では答はNOで処理は
ブロック(55B)に戻るεとになる。ブロック(56
0)で、もし自動零化回路の静電容量が不十分と判断さ
れたら(JIQIち、NOのとき)、ブロック(562
)は迂回され、その後ブロック(556)に戻った時、
コンデンサ(414)及び(412)が共にこの回路に
接続する。
その後、処理が継続する0反対に、ブロック(560)
で自動零化回路の静電容量が大き過ぎると判断されると
、ブロック(556)に戻った時コンデンサ(414)
がはずされ、コンデンサ(412)が加えられる。SI
G十出力端に接続した総静電容量により、零化タッチ電
流の値が僅かに負で0に非常に近づいた時、このコンデ
ンサ選択手順は停止する。この種々のコンデンサを組合
せた結果、BIT−〇になると、ブロック(568)に
進んで非タッチ条件下のX、Y及びZタッチ電流が測定
される。
また、ブロック(570)にて、X、Y及びZの零化オ
フセットがこれらの測定値に等しく設定される。これら
の測定値は初期零化処理が完了後の非タッチ条件下に於
ける残留X、Y及びZタッチ電流に対応している。これ
ら零化オフセントは零化処理を更新するかどうかの後の
判断に用いられる。
即ち、SIG+出力端(48)に零化回路(150)が
接続するコンデンサを変更するかどうかを判断する場合
である。ブロック(570)からブロック(582)へ
進み、処理は第10図のブロック(524)へ戻る。
第12図のタッチ電流の測定サブルーチンはブロック(
590)から開始する。ブロック(592)では、マル
チプレクサ(52)を制御して、タッチ電流検出の為所
望の状態に装置を設定する。例えば、X電流検出中には
SIG+出力端をパネルの右側辺に接続し、5IG−出
力端を左側辺に接続する。
ブロック(594)では、適当な零化状態を設定する。
換言すれば、特定のタッチ電流(即ちXタッチ電流)を
検出する為以前決めたラッチ(390)の設定を用いて
、以前決めたコンデンサをSIG+出力端に接続するの
である。ブロック(596)では、スイッチ(94) 
 (第1.3図)を閉じて、積分準備の為積分用コンデ
ンサ(90)を放電させる。ブロック(598)では、
アナログ・デジタル(A/D)オフセットが決められる
。具体的には、積分用コンデンサを放電した時、ADC
<100)から7Eh (中央値)以外の出力を発生さ
せてもよい。A/Dオフセットは記憶され、データのず
れを補償する為に用いられる。
ブロック(600)では、積分期間を、最長積分期間M
AX、TIME割る設定利得値gain (便宜的にG
AINと書くこともある)を指数とする2の累乗(即ち
、nAx、rxo/2 ” tn >に等しくする。最
初、この利得gainは0である。しかし、後述するよ
うに、この利得は第13図の位置読込サブルーチンで調
整される。一般に、丸め誤差を低減する為に、タッチ電
流をデジタル化した時、ADC(100)の出力範囲を
逸脱しない範囲で最も長い期間積分を行うことが望まし
い、ブロック(602)では、x、y。
Zのどれであっても積分回路の出力をデジタル化した値
を測定したタッチ電流の値(VALLIE )とする。
ブロック(604)では、この値VALUEからブロッ
ク(59B )で決めたA/Dオフセット(A/D 0
FFSET )を引いて新たな値VALIJEとする。
その後、ブロック(606)ではマルチプレクサ(52
)を切換えてスイッチをオフ状態にする。この手順は測
定された各タッチ電流について繰返される。
以上のタッチ電流測定の完了後、ブロック(608)か
らこの測定サブルーチンを呼出した元の処理ブロックへ
処理は戻される。
新しいX、Y及びZの値を返すサブルーチンを第13図
及び第14図に示す。このサブルーチンは第13図のブ
ロック(610)から開始する。総ての場合に不可欠と
いう訳ではないが、通学タッチ電流信号は平均化され、
この平均化によりタッチ位置が決められる。ブロック(
612)では平均化処理する測定サンプルの数を設定す
る。この数(N)は積分回路の設定利得GAINの関数
Ex  (即ち、N= f 1  (GAIN) )に
等しく設定される。より詳しく言えば、fx  (GA
IN)の値は、設定利得がOか1の時2に等しく、設定
利得が2又は3の時4に等しく、設定利得が4又は5の
時8に等しく、設定利得が6又は7の時16に等しい。
この測定サンプル数の選択は、平均化によってノイズを
有効に除去し、4h方妥当な応答時間を維持するように
決められる。他の利得関数も所望により用いてもよい。
ブロック(614)では、測定したX、Y及びZタッチ
電流をデジタル化したデータを累計するアキュムレータ
をOに設定する。その後、ブロック(616)に進み、
2タツチ電流が測定される。この時X或いはYタッチ電
流を測定することもできるが、通常はZタッチ電流を測
定し、これが過大タッチ電流の存在及び設定利得の調整
の必要性も判断する為に評価される。この測定したZタ
ッチ電流は、ブロック(618)で予め定めた最大値M
AX、Zより大きいかどうか判断される。もしYESな
ら、ブロック(620)でこの設定利得が、最短積分時
間に対応する値Oであるかどうかチェックされる。もし
設定利得がOであれば、最短積分時間を用いても尚Zタ
ッチ電流が所定の最大値を越えていることから、過大Z
タッチ電流が流れていることを意味する。この場合、ブ
ロック(621)で信号源(30)の動作を停止し、マ
ルチプレクサ(52)のスイッチも遮断される。更に、
X及びYの値は夫々以前の値0LDX及び0LDYに等
しく設定され、ZはOに設定され、停止条件を示す。
また、最終零化フラグLAST NULLは後の零化の
更新に用いるので論理状態“偽(FALSE )”に設
定される。その後、処理はブロック(624)から元に
戻される。第9図のブロック(508)に達すると、停
止状態が指示され、ブロック(510)で遅延時間が発
生する。
第13図のブロック (620)で設定利得GAINが
0でないと判断されると、この利得はブロック(622
)で0に設定される。その後処理はブロック(612)
から継続する。再びブロック(61B )に達し、YE
S分岐に進めば設定利得は0なので停止状態になる。し
かし、2タツチ電流が所定の最大値MAX、Z以下なら
ば、ブロック(626)に処理が進む。このブロック(
626)ではZタッチ電流が最小所望値旧N、Zより小
さいかどうか判断される。
もし、小さければ、サブルーチン(628)で利得調整
が行われる。即ち、ブロック(626)からブロック(
630)に進み、利得GAINが最大設定利得MAX、
GAINに等しいかどうか判断される。もし等しければ
、ブロック(632)でX、Y及びZは非タッチ状態を
示すように(即ちx、y−o、z−FFh)夫々設定さ
れる。換言すれば、微小インピーダンス電流信号は最長
積分期間を設定したことにより検出され、タッチされた
ことを指示できる。ブロック(632)から処理は周波
数及び零化のオフセット更新サブルーチン(634)に
進む。
このサブルーチン実行後、ブロック(636)から処理
が戻される。この処理手順では、オフセット更新サブル
ーチン(634)には非タッチ条件の時以外進まない。
従って、タッチが検出されている時には周波数及び零化
の調整(即ち更新)は行われない。
ブロック(630)に於て、設定利得GAINが最大設
定値ではないと判断されるとブロック(638)に進む
、ここでは設定利得(即ち積分期間)が1増加する。ま
た、ここではZを再測定せずに単純に2倍(2Z)に設
定する。その後、ブロック(640)では、Zが最小所
望値旧N、Zより小さいかどうかが確認される。もし、
Zが小さければ(YESならば)、処理は上記ブロック
(630)に戻る。もしZが小さくなければ(Noなら
ば)、処理はブロック(612)に戻り、本タッチ・パ
ネル装置は前と異なる設定利得にて動作する。
ブロック(626)に於て、2タツチ電流がMIN、Z
の値より小さくないと判断されると(Noならば)、こ
れはZの値が所望のMIN、ZからMAX、Zの範囲内
にあり、タッチが検出されたことを意味する。ブロック
(629)では測定したZタッチ電流を累計し、且つX
及びYタッチ電流を測定及び累計する。
ブロック(631)では測定サンプル数Nが1減少する
。その後、ブロック(633)では、ブロック(612
)で設定した全ての測定サンプルが得られたかどうかが
判断される。もし、まだ全て得られていなければ(No
ならば)、処理はプロック(616)から継続する。も
し全測定サンプルが揃っていれば(YESならば)、処
理はブロック(635)から第14図のブロック(63
7)に進む。
その後、第14図のブロック(639) 、  (64
1)及び(642)に於て、X、Y及びZの各累計値が
調整されて、第11図のブロック(570’)で最初設
定したX、Y及び2のオフセット値或いは第15図のサ
ブルーチンで更新されたX、Y及びZのオフセット値の
影響を除去している。これらのオフセット値(X of
fset、 Y offseL Z offset)は
、積分回路の利得をOに設定して決められている。しか
し、X、Y及びZの測定値は必ずしも同じ設定利得で決
められてはいない。従って、この調整の中で、上記オフ
セット値(X offset、 Y offset。
Z offset)は設定利得gainを指数とした2
の累乗(即ち2iiain)で割算される。更に、この
オフセット値に累計範囲内の測定サンプルの総数Nを剰
算して総オフセット値が決められる。従ってMPU(1
08)は残留零化オフセット電流を補償しているのであ
る。ブロック(644)及び(646)では、X及びY
のタッチ位f(Xp、Yp)が計算される。また、イン
ピーダンス値zpは利得GAIN及びZの累計値ΣZの
関数f2に設定される。具体的に言えば、f 2  (
GAIN、ΣZ)−((MAX、GへIN−GAIN)
 X16] + (ΣZ/2’ )である。この関数は
設定利得の基数2を底とする対数の値が利得の設定範囲
に収まるように選ばれたものである。その後、ブロック
(650)で、最終零化フラグLASTNtlLLが1
偽(IJALSE )  ”に設定され、ブロック(6
52)で処理が戻る。
第15図を参照して、零化オフセット及びパネル駆動周
波数の更新サブルーチンについて以下に述べる。このサ
ブルーチンはブロック(660)から開始する。ブロッ
ク(662)では、零化更新フラグUPDATE NU
LLを“偽(FALSf! )” ニ、また旧Zの値0
LDZを2の値と等しく設定する。ブロック(664)
では、すぐ前の走査サイクルも非タッチ状態であったか
どうかの判断がされる。もしYESであれば、Z、X及
びYオフセット(Z offset+X offset
、 Y offset)が順次オフセットの更新の必要
性を判断する為に検査される。換言すれば、零化更新を
行う前に少くとも1サイクル期間非タッチ状態が継続し
ていなければならない。
零化更新を行う場合には、処理はブロック(664)か
らブロック(666)へ進む、このブロック(666)
では、Zオフセット(Z offset)はZ off
setと旧Zの値(OLDZ)の関数f1に等しく設定
される。
即ち、f 1  (Zoffset、  0LDZ) 
= (Zoffset −Z offset/ 25+
 0LDZ/ 25)である、flは他の関数でもよい
が、この特定の関数はオフセット値をフィルタ処理する
為に選ばれたものである。
その後、ブロック(668)でこのZ offsetは
評価され、最大Zオフセット値MAX、 Z offs
etより大きいかどうかが判断される。もし、大きけれ
ば(YESならば)、自動零化回路(150)を調整し
てSIG+出力端に結合する静電容量を減少する必要が
ある。これはブロック(670)にて、1ステップ零化
信号(Znull)を減少して行われる。
ブロック(670)からブロック(672)に進み、こ
こではZ offsetをOに設定し、更新零化フラグ
(UPDATE NULL ’)を“真(TRIIE)
  ”ニ設定する。
このフラグは零化更新が実行されたことを示して′いる
。このサブルーチンの処理は、その後位置(674’)
から継続する。
ブロック(668)に於て、Z offsetがMAX
、 Z of−fset以下と判断された場合には、ブ
ロック(67B )に進んでZ offsetが最小Z
オフセット値MIN、 Z of−fseはり大きいか
どうかが判断される。もし、大きければ、自動零化回路
が十分な静電容量をSIG+出力端に結合していないこ
とになる。その為、ブロック(678)では零化信号(
Z null)が1ステツプ増加し、静電容量を付加す
る。ブロック(678)からブロック(672)に進み
、ここでは上述のブロック(672)の処理が実行され
る。もし、ブロック(668)及びブロック(676)
で共にNOの判断がされて位置(674)に達した場合
、これはZ offsetの調整が不要であることを意
味する。
X offsetはZ offsetと同様の手法で評
価される。
従って、Z offsetの場合に述べたブロックに対
応するブロックには同じ番号にaを付加して記入してい
る。同様に、Y offsetの評価の場合でも、各対
応ブロックには同じ番号にbを付加して記入し ′てい
る。また、関数[1についてモZ offset(7)
場合と同様に、f 1  (Xoffset、 0LD
X) −(Xoffset−X offset/ 25
+ 0LDX/ 25)及びfl (Yof−fset
、 0LDY) = [Yoffset−Yoffse
t/2b+0LDY/25]となる。
零化オフセットを評価し、必要に応じて更新してから、
処理はブロック(680)から継続する。
ブロック(680)では、Xタッチ電流を測定(第12
図参照)し、旧Xの値(OLDX)をXに等しく設定す
る。それからブロック(682)ではYタッチ電流を測
定し、旧Yの値(OLDY)をYに等しく設定する。ブ
ロック(684)では最終零化フラグ(LAST NU
LL )を“真(TRUE)  ”に設定する。ブロッ
ク(686’)では以下に述べる周波数更新サブルーチ
ン(第16図)が実行される。この周波数更新サブルー
チン終了後、処理はブロック(688)にて、戻される
。
第16図のサブルーチンではパネル駆動周波数の調整が
必要かどうかが判断される。このサブルーチンはブロッ
ク(690)から開始し、ブロック(692)へ進む。
ブロック(692)では、変数F offsetを、F
 offsetと零化更新フラグtlPDATENUL
Lの関数f1に等しく設定する。この関数f1は自動零
化回路がSIG+出力端に接続する容量性負荷の調整頻
度を評価するのに用いる。この零化調整の頻度が高過ぎ
ると、タッチパネルの駆動周波数が環境内の固定周波数
干渉スペクトルに近過ぎることを意味する。この場合に
は、MPU(10B)により駆動周波数が調整される。
具体例として、f l  (F offset、 UP
DATf! NULL )= CF offset −
F offset/ 23+  (16又は0)〕(但
し、右辺第3項は零化更新フラグUPDATIE NU
LLが“真”のとき16.UPDATE NULLが“
偽1のとき0である。ブロック(694)に於て、変数
F offsetがF offsetの所定の最大値M
AX、F offsetより大きいかどうかが判断され
る。大きくない(Noの)場合、零化調整の実行頻度が
最大値を越えていないことを意味する。従って、ブロッ
ク(696)に於て、変数FconstをF cons
t + 1に等しく設定し、次のブロック(698)か
ら処理が戻される。
従って、変数Fconstの値は非タッチ条件下でF 
offset力(MAX、F offsetを越えない
限り、毎回更新される。換言すれば、変数Fconst
はパネル駆動周波数の調整時点間に於てパネルがタッチ
されずに且つ十分に零化されていた期間を示している。
ブロック(694)に於て、F offseむがMAX
、F of−fsetより大きいと判断された場合には
、ブロック(700)に処理が進み、現在のFcons
tの値と旧FconstO値(OL D F cons
t )が比較される。
即ち、零化調整を行わない期間が以前の動作周波数の場
合より現在の動作周波数の場合の方が長いかどうかを判
断している。もし、YESであれば、以前の周波数変化
が適切な方向に行われたことを意味している。この場合
、ブロック(702)に於て旧FconstO値(OL
 D F const )をF constの値に等し
く設定する。反対に、ブロック(700)に於て現在の
駆動周波数によって以前の周波数の場合よりも零化調整
頻度が高くなった場合(N。
のとき)、ブロック(704)に処理が進む。ブロック
(704)では、フラグF sodの正負符号を逆にし
て、以前の誤りの周波数変化方向とは反対の方向に次の
周波数変化を変更する。その後、ブロック(702)の
処理後、ブロック(706)に進み、Fconst及び
F offsetを共にOに設定する。更に、ブロック
(70B )ではX、 Y及びZオフセット(offs
et (X、  Y、  Z) )を全てOに設定する
。
また、ブロック(710)では周波数FREQ、を1ス
テツプF■odだけ通切な方向に調整している。その後
、ブロック(712”)からこのサブルーチンは第15
図に戻る。
所定のX−Y座標は適当な方法で使用者のコンピュータ
(114)  (第1図)により利用し得る。
例えば、特定の位置に於けるタッチの場合にサブルーチ
ンを呼出すようにしてもよい。また、上述の説明で明ら
かなように、タッチ感応表面上をすべらせてタッチ位置
を連続的に決めてもよい。このような連続的タッチ位置
決定法をコンピュータ(114)で用いて、例えば表示
端末画面(14)、、l:の画像をトレースするように
してもよい。第9は乃至第16図の流れ図に示した手順
も、他の走査方法に応用してもよい、即ち、本発明は上
述の処理手順に限定されるものではない。
表1 以上、本発明の原理についてい(っかの好適実施例を用
いて説明したが、本発明の要旨を変更することなく、種
々の変形及び変更が可能であることは当業者には明らか
であろう。
〔発明の効果〕
1   本発明によれば、外的又は内的原因によってり
゛  フチ感応表面上に発生する過大タッチ電流或いは
1  過大電圧から装置の回路及びタッチ感応表面を合
理的に保護し得る。即ち、過大タッチ電流を検出すると
、信号源(30)の出力を停止する手段により装置の内
的原因による自己損傷を防止できる。
また、過大タッチ電流の検出に伴ない、切換手段(52
)を切換えて装置の回路とタッチ感応表面とを遮断する
ことにより、外的及び内的原因による゛装置の損傷を同
時に防止し得る。更に、タッチ感応表面の各辺に接続し
た電圧クランプ・ダイオードにより過大電圧からタッチ
感応表面を保護できる0以上の保護手段を併用すれば、
装置の保護が万全となり、装置の信頼性、耐久性、設置
環境の自由度、汎用性、安全性及び操作性等を格段に向
上したタッチパネル装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
9IIIi図は本発明に係るタッチパネル・システム全
体のブロック図、第2図は第1図のマルチプレクサ(5
2)及びタッチパネル(16)を詳細に示す回路図、第
3A図及び第3B図は第1図から第2図の部分を除いた
部分を詳細に示す回路図、第4図乃至第8図は第1図及
び第3A図の自動零化回路(150)の他の実施例を夫
々示す回路図、第9図は第1図のMP(Jの全体的処理
を示す流れ図、第10図は初期パネル走査周波数を決定
する処理手順を示す流れ図、第11図は初期零化処理手
順を示す流れ図、第12図はタッチ電流信号の測定処理
手順を示す流れ図、第13図及び第14図はタッチ位置
を決定する処理手順を示す流れ図、第15図は非タッチ
状態時にタッチ電流信号を零化する処理手順を示す流れ
図、第16図はパネル走査信号の周波数を変更する処理
手順を示す流れ図である。 (30)・・・信号源、(44)・・・パネル走査信号
発生手段、(54) 、  (62)・・・タッチ信号
検出手段、(52)−・・切換手段、(56)・・・タ
ッチ信号処理手段、(52) 、  (192) 、 
 (282) 、  (284) 、  (285)(
286)・・・保護手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、導電性のタッチ感応表面上のタッチに応じて少くと
    もタッチ位置を決定するタッチパネル装置であって、 交流電圧信号を発生する信号源と、 上記交流電圧信号に応じて互いに逆位相の第1及び第2
    パネル走査信号を発生するパネル走査信号発生手段と、 上記第1及び第2パネル走査信号の差に相当するタッチ
    電流信号を検出するタッチ信号検出手段と、 上記タッチ感応表面への上記第1及び第2パネル走査信
    号の印加状態を選択的に切換える切換手段と、 上記タッチ電流信号から少くともタッチ位置を決定する
    タッチ信号処理手段と、 上記タッチ電流信号が予め定めた値を超えた場合又は上
    記タッチ感応表面上に過大電圧が発生した場合に上記タ
    ッチパネル装置を保護する保護手段と を具えることを特徴とするタッチパネル装置。 2、上記保護手段として上記信号源の出力を停止させる
    手段を用いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のタッチパネル装置。 3、上記保護手段として上記切換手段を切換えて上記第
    1及び第2パネル走査信号の上記タッチ感応表面への印
    加を遮断する手段を用いる特許請求の範囲第1項記載の
    タッチパネル装置。 4、上記保護手段として上記タッチ感応表面の各辺に接
    続した電圧クランプ・ダイオードを用いることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のタッチパネル装置。
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US900646 1986-08-26

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JPS6361319A true JPS6361319A (ja) 1988-03-17
JPH0448247B2 JPH0448247B2 (ja) 1992-08-06

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