JPS6362021A - 座標位置検出方法 - Google Patents
座標位置検出方法Info
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- JPS6362021A JPS6362021A JP61205813A JP20581386A JPS6362021A JP S6362021 A JPS6362021 A JP S6362021A JP 61205813 A JP61205813 A JP 61205813A JP 20581386 A JP20581386 A JP 20581386A JP S6362021 A JPS6362021 A JP S6362021A
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- JP
- Japan
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- address
- light
- axis
- light emitting
- light receiving
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、陰極線管（ＣＲＴ）表示器等の表示画面上で
、指定された点の座標位置を検出する座標位置検出方法
に関する。
、指定された点の座標位置を検出する座標位置検出方法
に関する。
各種の情報処理装置においては、ＣＲＴ表示器等により
文字・図形等の表示を行なうとともＫ。
文字・図形等の表示を行なうとともＫ。
その表面画面上の所望点を指差すことにより、その点の
座標位置に応じた所定の入力操作を行なえるようにした
ものがあシ、その実現手段として、複数の発光お□よび
受光素子対によ、ｐ ｆｆ ） ＩＪラックス状光路を
形成し、受光入力の遮断状態から座標位置を検出するも
のがある。具体的には、隣接素子間の干渉を避けるため
、発光素子と受光素子との対を順次スキャンし、Ｘ軸お
よびＹ軸上でそれぞれ光路が遮断された座標により指示
点を検出する。
座標位置に応じた所定の入力操作を行なえるようにした
ものがあシ、その実現手段として、複数の発光お□よび
受光素子対によ、ｐ ｆｆ ） ＩＪラックス状光路を
形成し、受光入力の遮断状態から座標位置を検出するも
のがある。具体的には、隣接素子間の干渉を避けるため
、発光素子と受光素子との対を順次スキャンし、Ｘ軸お
よびＹ軸上でそれぞれ光路が遮断された座標により指示
点を検出する。
ところが、上述した従来の方法では、表示画面上で複数
の点を指定した場合、その座標位置を正しく検出するこ
とはできなかった。例えば、（Ｘｌ、Ｙｌ）および（Ｘ
！＊ Ｙｚ ）の２点を指示した場合に、受光素子の入
力遮断が検出されるのはＸｔｙ Ｘ ｚ ＋ Ｙ １
ｒ Ｙ ｚの各座標で、これらの組合せからは、（
ＸＳ−Ｙｌ） 、 （）ｈ 、Ｙｔ）の正しい座標の他
に、（ＸＩ Ｉ Ｙｌ ） ＋ （Ｘｓ Ｉ Ｙｌ）の
２点が誤って検出されることとなる。
の点を指定した場合、その座標位置を正しく検出するこ
とはできなかった。例えば、（Ｘｌ、Ｙｌ）および（Ｘ
！＊ Ｙｚ ）の２点を指示した場合に、受光素子の入
力遮断が検出されるのはＸｔｙ Ｘ ｚ ＋ Ｙ １
ｒ Ｙ ｚの各座標で、これらの組合せからは、（
ＸＳ−Ｙｌ） 、 （）ｈ 、Ｙｔ）の正しい座標の他
に、（ＸＩ Ｉ Ｙｌ ） ＋ （Ｘｓ Ｉ Ｙｌ）の
２点が誤って検出されることとなる。
このため、例えば画面に同時に表示された。それぞれ別
のバルブに対応した複数の図形を同時に指差し、それら
のバルブの開度を同時に制御するといった操作を行なう
ことはでき々かった。
のバルブに対応した複数の図形を同時に指差し、それら
のバルブの開度を同時に制御するといった操作を行なう
ことはでき々かった。
本発明は、少なくとも一方の群、例えばＸ軸上の発光お
よび受光素子群において、受光素子の入力遮断が２以上
検出された場合には、両群、つま夛Ｘ軸上の発光および
受光素子群とＹ軸上の発光および受光素子群との光路の
交差角を変えて、同様に受光素子の入力遮断検出を行な
うようにしたものである。
よび受光素子群において、受光素子の入力遮断が２以上
検出された場合には、両群、つま夛Ｘ軸上の発光および
受光素子群とＹ軸上の発光および受光素子群との光路の
交差角を変えて、同様に受光素子の入力遮断検出を行な
うようにしたものである。
例えばＸ軸・Ｙ軸方向の光路によυ検出を行ない、正し
い２点（Ｘｌ、Ｙｔ ） ｐ （Ｘｔ ＋Ｙ２ ）の他
に誤った２点（Ｘ１ｒ Ｙｘ ） ｒ （Ｘ鵞＃Ｙ１）
の４点が検出された場合に、Ｘ０１ｌ上の発光および受
光素子対の組合せをずらしてその光路を斜めにして同様
に受光素子の入力遮断検出を行なったとして、（ＸＩ、
Ｙｌ）では遮断されるが、それとＹ座標のみ異なる（
Ｘｓ ｅ Ｙｘ ）では遮断されず、同様に（Ｘｌ。
い２点（Ｘｌ、Ｙｔ ） ｐ （Ｘｔ ＋Ｙ２ ）の他
に誤った２点（Ｘ１ｒ Ｙｘ ） ｒ （Ｘ鵞＃Ｙ１）
の４点が検出された場合に、Ｘ０１ｌ上の発光および受
光素子対の組合せをずらしてその光路を斜めにして同様
に受光素子の入力遮断検出を行なったとして、（ＸＩ、
Ｙｌ）では遮断されるが、それとＹ座標のみ異なる（
Ｘｓ ｅ Ｙｘ ）では遮断されず、同様に（Ｘｌ。
Ｙｚ）では速断されるが（Ｘｌ１Ｙ１）では遮断され女
い。
い。
第２図は本発明の一実施例を示すブロック図である。Ｃ
ＲＴの表示画面１の周辺部に、水平方向のＸ軸に沿って
Ｘ軸発光部２、垂直方向のＹ軸に沿ってＹ軸発光部３が
設けである。各発光部は、それぞれ複数の発光素子を有
している。また、各発光部に対向して、それぞれ複数の
受光素子をＭするＸ軸受元部４およびＹ軸受元部５が設
けてお各発光素子は駆動部６０発生する多相交流による
ダイナミック駆動により発光する。発光光線は、表示画
面１による表示を損わないように赤外線等の不可視光が
用いられ、受光素子もそれに応じたものが選択される。
ＲＴの表示画面１の周辺部に、水平方向のＸ軸に沿って
Ｘ軸発光部２、垂直方向のＹ軸に沿ってＹ軸発光部３が
設けである。各発光部は、それぞれ複数の発光素子を有
している。また、各発光部に対向して、それぞれ複数の
受光素子をＭするＸ軸受元部４およびＹ軸受元部５が設
けてお各発光素子は駆動部６０発生する多相交流による
ダイナミック駆動により発光する。発光光線は、表示画
面１による表示を損わないように赤外線等の不可視光が
用いられ、受光素子もそれに応じたものが選択される。
各発光素子は、その発光光線が表示画面１の全面をマト
リックス状にカバーするように設けられており、表示画
面１上の所望点を指差すと、光軸”１−）Ｃｒｒｚ７１
〜７ｎ Ｏいずれかが遮断され、これによる受光素子の
受光入力遮断に基き、遮光点の座標位置を検出できる。
リックス状にカバーするように設けられており、表示画
面１上の所望点を指差すと、光軸”１−）Ｃｒｒｚ７１
〜７ｎ Ｏいずれかが遮断され、これによる受光素子の
受光入力遮断に基き、遮光点の座標位置を検出できる。
ここで、Ｔは周知のマイクロプロセッサ等のプロセッサ
ユニット（ｃｐｔｒ）で６９、駆動部６によシ各発光部
の発光素子を発光させる一方、Ｘ軸受光領域設定部８お
よびＹ軸受光領域設定部９を介してＸ軸受光領域選択部
１０およびＹ軸受光領域選択部１１により、表示範囲と
対応する領域の受光素子の検出出力のみを選択してＸ＠
検出部１２およびＹ軸検出部１３へ与える。
ユニット（ｃｐｔｒ）で６９、駆動部６によシ各発光部
の発光素子を発光させる一方、Ｘ軸受光領域設定部８お
よびＹ軸受光領域設定部９を介してＸ軸受光領域選択部
１０およびＹ軸受光領域選択部１１により、表示範囲と
対応する領域の受光素子の検出出力のみを選択してＸ＠
検出部１２およびＹ軸検出部１３へ与える。
Ｘ軸検出部１２およびＹ軸検出部１３は、プロセッサユ
ニット７からのクロックパルスに応じて、Ｘ＠受光領域
選択部１０およびＹ＠受光領域選択部１１の出力に対し
順次走査を行なりことにより、受光入力が遮断されたも
のを検出し、この座標位置データをプロセッサユニット
７に与える。このとき、駆動部６では、同様にプロセッ
サユニット７からのりａツクパルスに応じて多相交流を
発生し、Ｘ軸検出部１２およびＹ軸検出部１３による走
査と同期して各発−ｙｔ、素子の発光駆動を順次にかつ
反復的に行なう。つ２υ、発光および受光素子対を同時
に１対のみ動作状態とし、それをＸ軸方向・Ｙ軸方向に
順次移動することにより、隣接する素子間の干渉を防い
でいる。
ニット７からのクロックパルスに応じて、Ｘ＠受光領域
選択部１０およびＹ＠受光領域選択部１１の出力に対し
順次走査を行なりことにより、受光入力が遮断されたも
のを検出し、この座標位置データをプロセッサユニット
７に与える。このとき、駆動部６では、同様にプロセッ
サユニット７からのりａツクパルスに応じて多相交流を
発生し、Ｘ軸検出部１２およびＹ軸検出部１３による走
査と同期して各発−ｙｔ、素子の発光駆動を順次にかつ
反復的に行なう。つ２υ、発光および受光素子対を同時
に１対のみ動作状態とし、それをＸ軸方向・Ｙ軸方向に
順次移動することにより、隣接する素子間の干渉を防い
でいる。
なお、Ｘ軸受光領域設定部８およびＹ軸受光領域設定部
９はデコーダにより構成でき、Ｘ軸受光領域選択部１０
およびＹ軸受光領域選択部９はゲート回路によシ構成で
きる。Ｘ輸検出部１２およびＹ軸検出部１３は、カウン
タ、レジスタ、エンコーダ等の組み合せにより構成でき
る。
９はデコーダにより構成でき、Ｘ軸受光領域選択部１０
およびＹ軸受光領域選択部９はゲート回路によシ構成で
きる。Ｘ輸検出部１２およびＹ軸検出部１３は、カウン
タ、レジスタ、エンコーダ等の組み合せにより構成でき
る。
また、Ｘ軸受光領域設定部８およびＹ軸受光領域設定部
９を省略し、プロセッサユニツ）７により直接Ｘ軸受光
領域選択部１０およびＹ軸受光領域選択部１１を制御し
てもよい。さらに、Ｘ軸噴出部１２およびＹ軸検出部１
３の機能をブロセツサユニツ）７によシ実行する場合は
、Ｘ軸受光領域選択部１０およびＹ軸受光領域選択部１
１の機能もプロセッサユニツ）７中に設け、禁止フラグ
のセットなどによシ同等の結果を得るものとしてもよい
。
９を省略し、プロセッサユニツ）７により直接Ｘ軸受光
領域選択部１０およびＹ軸受光領域選択部１１を制御し
てもよい。さらに、Ｘ軸噴出部１２およびＹ軸検出部１
３の機能をブロセツサユニツ）７によシ実行する場合は
、Ｘ軸受光領域選択部１０およびＹ軸受光領域選択部１
１の機能もプロセッサユニツ）７中に設け、禁止フラグ
のセットなどによシ同等の結果を得るものとしてもよい
。
第１図は、プロセッサユニット７によって実行される座
標位置検出処理プログラムを示す７０−テヤートである
。はじめに、Ｘ軸側の動作状態とすべき発光素子および
受光素子のアドレスカウンタをクリアする（ステップ１
０１〕。つ１シ、いずれのアドレス指定もＯとし、その
ときの入力遮断を検出する（ステップ１０２）。遮断が
検出されれば、そのＸアドレスを記憶する（ステップ１
０３）。同様にアドレスを「１」ずつインクリメントし
くステップ１０４）、最終アドレスに至るまで（ステッ
プ１０５）、入力が遮断されたＸアドレス指定 ＃
Ｘｓ ＊・・・、Ｘｋを記憶する。
標位置検出処理プログラムを示す７０−テヤートである
。はじめに、Ｘ軸側の動作状態とすべき発光素子および
受光素子のアドレスカウンタをクリアする（ステップ１
０１〕。つ１シ、いずれのアドレス指定もＯとし、その
ときの入力遮断を検出する（ステップ１０２）。遮断が
検出されれば、そのＸアドレスを記憶する（ステップ１
０３）。同様にアドレスを「１」ずつインクリメントし
くステップ１０４）、最終アドレスに至るまで（ステッ
プ１０５）、入力が遮断されたＸアドレス指定 ＃
Ｘｓ ＊・・・、Ｘｋを記憶する。
次いでＹ軸側の発光および受光素子対について、同様に
入力が遮断されたＹアドレス指定＊ Ｙ２ｔ・・−、Ｙ
Ｌを記憶する（ステップ１０６〜１１Ｏ）。
入力が遮断されたＹアドレス指定＊ Ｙ２ｔ・・−、Ｙ
Ｌを記憶する（ステップ１０６〜１１Ｏ）。
このようにして水平・垂直走査でＸ座標Ｙ座標の検出を
行なう。例えば、第３図に示すようなＡ、Ｂ、Ｃ３点が
指定された場合であれば、Ｘｌ 。
行なう。例えば、第３図に示すようなＡ、Ｂ、Ｃ３点が
指定された場合であれば、Ｘｌ 。
Ｘｓ ＋Ｘｓ 、Ｙｔ ＋Ｙ意 ＋Ｙ３の６つの
データが得られ、９個の点が想定される。そこで、次に
これらの点から具の指定点を特定するため、斜め走査を
行なう。本実施例では、Ｘ１ｌｌｌ側の発光素子および
その光を受光する受光素子のアドレスをΔＸｍｌだけず
らす竜のとして、まずΔＸｍｉ に予め定められた適
轟な値ΔＸｒｎｉｓ例えば１０を与える（ステップｌ１
ｌ）。次いでＸｉ として先に検出されたＸアドレス
のうち最小のＸ１１同じ（Ｙｉ としてＹｌを与え（ス
テップ１１２，１１３）、座係（Ｘｉ、Ｙｉ） に対
する発光アドレスのシフト分ΔＸｉ を算出する（ステ
ップ１１４）。これは、Ｙの最大アドレスをＹｎとして
、 によシ算定できる。
データが得られ、９個の点が想定される。そこで、次に
これらの点から具の指定点を特定するため、斜め走査を
行なう。本実施例では、Ｘ１ｌｌｌ側の発光素子および
その光を受光する受光素子のアドレスをΔＸｍｌだけず
らす竜のとして、まずΔＸｍｉ に予め定められた適
轟な値ΔＸｒｎｉｓ例えば１０を与える（ステップｌ１
ｌ）。次いでＸｉ として先に検出されたＸアドレス
のうち最小のＸ１１同じ（Ｙｉ としてＹｌを与え（ス
テップ１１２，１１３）、座係（Ｘｉ、Ｙｉ） に対
する発光アドレスのシフト分ΔＸｉ を算出する（ステ
ップ１１４）。これは、Ｙの最大アドレスをＹｎとして
、 によシ算定できる。
このようにして求めたΔＸｉ を用いて発光アドレス
をＸ１＋ΔＸ１１受光アドレスをＸ１＋ΔＸｉ−ΔＸｍ
ｉ と設定し、受光入力が遮断されるか否かをチェック
し、遮断されればその発光アドレスＸ、ｔ および受光
アドレスＸＲＩをスキャンアドレステーブルとして記憶
する（ステップ１１５）。
をＸ１＋ΔＸ１１受光アドレスをＸ１＋ΔＸｉ−ΔＸｍ
ｉ と設定し、受光入力が遮断されるか否かをチェック
し、遮断されればその発光アドレスＸ、ｔ および受光
アドレスＸＲＩをスキャンアドレステーブルとして記憶
する（ステップ１１５）。
引続き水平・垂直走査で検出された全Ｘアドレスについ
て（ステップ１１６ ） 、順次（ステップ１１７）同
様の検出を行ない、さらに全Ｘアドレスについて（ステ
ップ１１８）同様の検出を行なう（ステップ１１９）。
て（ステップ１１６ ） 、順次（ステップ１１７）同
様の検出を行ない、さらに全Ｘアドレスについて（ステ
ップ１１８）同様の検出を行なう（ステップ１１９）。
クマシ、水平・垂直走査による検出結果から想定される
全点について、斜め走査による再チェックを行なう。そ
こで光路の遮断が検出されたもののみが、実在の指定点
である。
全点について、斜め走査による再チェックを行なう。そ
こで光路の遮断が検出されたもののみが、実在の指定点
である。
ところがここで、例えば第４図に示すように、斜めＫと
った光軸上に実在の指定点Ａと低空の指定点Ｂとが乗っ
た場合には、点Ｂについても実在の指定点として検出し
てしまうことになる。
った光軸上に実在の指定点Ａと低空の指定点Ｂとが乗っ
た場合には、点Ｂについても実在の指定点として検出し
てしまうことになる。
これを避けるため、本実施例では、斜め走査により検出
された発光アドレスおよび受光アドレスの組合せに重複
するものが有るか否かを調べる。
された発光アドレスおよび受光アドレスの組合せに重複
するものが有るか否かを調べる。
上述した例でいえば、点Ａについての検出発光アドレス
および受光アドレスは点Ｂについてのそれと重複する。
および受光アドレスは点Ｂについてのそれと重複する。
そこで、重複があれば（ステップ１２０）％さらに角度
を変えて斜め走査を行なう。
を変えて斜め走査を行なう。
つまシΔＸｒＨｉ の値を更新しくステップ１２１）、
上述したと同様に発光アドレスおよび受光アドレスの検
出を行なう。本実施例では３回を限度として（ステップ
１２２）斜め走査による検出を行ない、それらの結果か
ら実在アドレスの特定を行なう（ステップ１２３〕。斜
め走査を、角度を変えて３回行なっても重複が避けられ
ない場合は（ステップ１２２）、検出不能としてエラー
処理を行なう（ステップ１２４）。
上述したと同様に発光アドレスおよび受光アドレスの検
出を行なう。本実施例では３回を限度として（ステップ
１２２）斜め走査による検出を行ない、それらの結果か
ら実在アドレスの特定を行なう（ステップ１２３〕。斜
め走査を、角度を変えて３回行なっても重複が避けられ
ない場合は（ステップ１２２）、検出不能としてエラー
処理を行なう（ステップ１２４）。
上述した実施例では、水平・垂直走査による検出の後、
無条件で斜め走査による検出に移行するものとしたが、
指定点が１個の場合には、水平・垂直走査により検出さ
れるのはＸアドレス・Ｘアドレスともに１個ずつであシ
、実在アドレスが直ちに特定できる。したがって、水平
・垂直走査による検出の後、その検出アドレスの個数を
テエツりし、Ｘアドレス・Ｙアドレスのいずれか一方も
しくは双方が複数であった場合にのみ、斜め走査を実行
するものとしてもよい。
無条件で斜め走査による検出に移行するものとしたが、
指定点が１個の場合には、水平・垂直走査により検出さ
れるのはＸアドレス・Ｘアドレスともに１個ずつであシ
、実在アドレスが直ちに特定できる。したがって、水平
・垂直走査による検出の後、その検出アドレスの個数を
テエツりし、Ｘアドレス・Ｙアドレスのいずれか一方も
しくは双方が複数であった場合にのみ、斜め走査を実行
するものとしてもよい。
また、Ｘアドレスをシフトした斜め走査によっては、例
えば第５図において破線で囲んだ範囲については検出が
不可能である。このような場合には、Ｙアドレスをシフ
トした斜め走査を組合せることによシ、上述した空白の
領域をカバーすることができる。もちろん、図中鎖線で
示したように、Ｘ軸上の発光および受光素子対を表示画
面１の外側まで延長させて配列しても、同様の目的は達
成することができる。
えば第５図において破線で囲んだ範囲については検出が
不可能である。このような場合には、Ｙアドレスをシフ
トした斜め走査を組合せることによシ、上述した空白の
領域をカバーすることができる。もちろん、図中鎖線で
示したように、Ｘ軸上の発光および受光素子対を表示画
面１の外側まで延長させて配列しても、同様の目的は達
成することができる。
さらに、上述した実施例では、はじめの水平・垂直走査
による検出で得られたデータを基に、その各点について
斜め走査により光路が遮断されるか否かを逐次確認して
行くものとしたが、例えば適当な傾き角で端から１次走
査して行き、それによる検出結果と先の水平・垂直走査
による検出結果とを総合的に判断して、実在の指定点を
特定するようにしてもよい。
による検出で得られたデータを基に、その各点について
斜め走査により光路が遮断されるか否かを逐次確認して
行くものとしたが、例えば適当な傾き角で端から１次走
査して行き、それによる検出結果と先の水平・垂直走査
による検出結果とを総合的に判断して、実在の指定点を
特定するようにしてもよい。
また、水平・垂直走査を基準に、Ｘアドレスをシフトし
て斜め走査を組合せる例で説明したが、本発明はこれに
限定されるものではなく、Ｘ軸上およびＹｆｉ上の両群
の発光および受光素子対群の光路の交差角を変えて、そ
れぞれの場合における受光入力の遮断から座標位置を検
出するものであシ、例えば斜め走査のみの組合せによっ
て、実在アドレスを特定するようにしてもよい。
て斜め走査を組合せる例で説明したが、本発明はこれに
限定されるものではなく、Ｘ軸上およびＹｆｉ上の両群
の発光および受光素子対群の光路の交差角を変えて、そ
れぞれの場合における受光入力の遮断から座標位置を検
出するものであシ、例えば斜め走査のみの組合せによっ
て、実在アドレスを特定するようにしてもよい。
以上、ＣＲＴ表示器に使用した例について説明したが、
情報処理装置と組み合されて使用されるものであれば、
液晶表示器、けい光表示器あるいはプラズマ表示器等、
各種の表示器について、本発明は同様に適用できること
はいうまでもない。
情報処理装置と組み合されて使用されるものであれば、
液晶表示器、けい光表示器あるいはプラズマ表示器等、
各種の表示器について、本発明は同様に適用できること
はいうまでもない。
以上説明したように、本発明によれば、光路の交差角を
変えて、受光素子の入力遮断検出を行なうことによシ、
表示画面上で同時に多数の点を指示しても、これらの座
標位置を正確に検出することができる。したがって、例
えばプロセス制御システムにおいて、第６図に示すよう
に複数（図示の例では４個）のパルプの開度を示すスケ
ール２１ならびにその操作用マーク、つまり開度の増大
を指示するマーク２２および減少を指示するマーク２３
を同時に表示し、かつこれらのパルプの操作を同時に行
なうことなどが可能となる。
変えて、受光素子の入力遮断検出を行なうことによシ、
表示画面上で同時に多数の点を指示しても、これらの座
標位置を正確に検出することができる。したがって、例
えばプロセス制御システムにおいて、第６図に示すよう
に複数（図示の例では４個）のパルプの開度を示すスケ
ール２１ならびにその操作用マーク、つまり開度の増大
を指示するマーク２２および減少を指示するマーク２３
を同時に表示し、かつこれらのパルプの操作を同時に行
なうことなどが可能となる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
プロセッサユニットにおける処理プログラムの一例を示
すフローチャート、第３図ないし第６図はそれぞれ表示
画面を示す正面図である。 １・・・・表示画面、２・・・・Ｘ軸発光部、３・・・
・Ｙ＠発光部、４・・・・Ｘ軸受元部、５・・・・Ｙ軸
受光部、６・・・・駆動部、７・・・・プロセッサユニ
ット、１２・・１１１ＩＸ軸検出部、１３・・・・Ｙ軸
検出部。
プロセッサユニットにおける処理プログラムの一例を示
すフローチャート、第３図ないし第６図はそれぞれ表示
画面を示す正面図である。 １・・・・表示画面、２・・・・Ｘ軸発光部、３・・・
・Ｙ＠発光部、４・・・・Ｘ軸受元部、５・・・・Ｙ軸
受光部、６・・・・駆動部、７・・・・プロセッサユニ
ット、１２・・１１１ＩＸ軸検出部、１３・・・・Ｙ軸
検出部。
Claims (1)
- 表示画面の周辺部に、複数の発光素子と、これらの各発
光素子と表示画面を挾んで対向する複数の受光素子とを
配置し、一群の発光および受光素子対によつて形成され
る相互に平行な光路と、他群の発光および受光素子対に
よつて形成される相互に平行な光路とを表示画面上で交
差させ、光路の遮断による両群の受光素子の入力遮断検
出から表示画面上の座標位置を検出する座標位置検出装
置において、少なくとも一方の群において受光素子の入
力遮断が２以上検出された場合に、両群の光路の交差角
を変えて同様に受光素子の入力遮断検出を行ない、これ
らの検出結果から座標位置を検出することを特徴とする
座標位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61205813A JPS6362021A (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | 座標位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61205813A JPS6362021A (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | 座標位置検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6362021A true JPS6362021A (ja) | 1988-03-18 |
Family
ID=16513122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61205813A Pending JPS6362021A (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | 座標位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6362021A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6174024A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-16 | Toshiba Corp | 位置検出装置 |
| JPS6288021A (ja) * | 1985-10-14 | 1987-04-22 | Hitachi Ltd | タツチ位置検出装置 |
-
1986
- 1986-09-03 JP JP61205813A patent/JPS6362021A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6174024A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-16 | Toshiba Corp | 位置検出装置 |
| JPS6288021A (ja) * | 1985-10-14 | 1987-04-22 | Hitachi Ltd | タツチ位置検出装置 |
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