JPS6364830B2 - - Google Patents
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- JPS6364830B2 JPS6364830B2 JP7472182A JP7472182A JPS6364830B2 JP S6364830 B2 JPS6364830 B2 JP S6364830B2 JP 7472182 A JP7472182 A JP 7472182A JP 7472182 A JP7472182 A JP 7472182A JP S6364830 B2 JPS6364830 B2 JP S6364830B2
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- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 10
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
- G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
- G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
- G01P3/46—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring amplitude of generated current or voltage
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Control Of Velocity Or Acceleration (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、磁気デイスク装置における磁気ヘ
ツド移動速度検出器に関するものである。
ツド移動速度検出器に関するものである。
磁気デイスク装置では、情報記録面上に多数の
データトラツクを形成しており、情報の書込み、
読出しの際には所望のデータトラツク上に磁気ヘ
ツドを高速でかつ正確に位置決めする必要があ
る。そのための磁気ヘツド駆動方式として複数の
情報記録面のうちの１面をサーボ面として利用す
るいわゆるトラツク・サーボ・システム（track
servo system）がある。
データトラツクを形成しており、情報の書込み、
読出しの際には所望のデータトラツク上に磁気ヘ
ツドを高速でかつ正確に位置決めする必要があ
る。そのための磁気ヘツド駆動方式として複数の
情報記録面のうちの１面をサーボ面として利用す
るいわゆるトラツク・サーボ・システム（track
servo system）がある。
第１図はトラツク・サーボ・システムの構成を
示すブロツク図であつて、１は磁気円板でその両
面に記録媒体としての磁性膜を備えている。第１
図に示す例では磁気円板１を２個備えしたがつて
４記録面を有しているがそのうち下側磁気円板の
下面がサーボ面として利用される。このサーボ面
以外の記録面はデータ面である。２と３は磁気ヘ
ツドで２をサーボヘツド、３をデータヘツドとい
う。４はヘツドホルダ、５はヘツド保持機構、６
はモータ、７は位置検出器、８は速度検出器、９
は駆動器、１０は速度指示器であり、２０は総合
的に磁気デイスク・ヘツドアセンブリを示す。モ
ータ６はヘツド保持機構５を磁気円板１の半径方
向に駆動するが、各ヘツドホルダ４はヘツド保持
機構５に固定されており、サーボヘツド２もデー
タヘツド３もそれぞれヘツドホルダ４に固定され
ているので、サーボヘツド２と各データヘツド３
とは連動して移動し、したがつてサーボヘツド２
を正しく位置決めすれば、データヘツド３も同じ
正しさで位置決めができる。
示すブロツク図であつて、１は磁気円板でその両
面に記録媒体としての磁性膜を備えている。第１
図に示す例では磁気円板１を２個備えしたがつて
４記録面を有しているがそのうち下側磁気円板の
下面がサーボ面として利用される。このサーボ面
以外の記録面はデータ面である。２と３は磁気ヘ
ツドで２をサーボヘツド、３をデータヘツドとい
う。４はヘツドホルダ、５はヘツド保持機構、６
はモータ、７は位置検出器、８は速度検出器、９
は駆動器、１０は速度指示器であり、２０は総合
的に磁気デイスク・ヘツドアセンブリを示す。モ
ータ６はヘツド保持機構５を磁気円板１の半径方
向に駆動するが、各ヘツドホルダ４はヘツド保持
機構５に固定されており、サーボヘツド２もデー
タヘツド３もそれぞれヘツドホルダ４に固定され
ているので、サーボヘツド２と各データヘツド３
とは連動して移動し、したがつてサーボヘツド２
を正しく位置決めすれば、データヘツド３も同じ
正しさで位置決めができる。
サーボヘツド２により読出された信号は位置検
出器７によりサーボヘツド２の存在する場所をあ
らわす位置信号に変換される。この位置信号は、
駆動器９より得られる電流信号とともに速度検出
器８へ送られ速度検出器８では両者の信号を変換
合成して速度信号を得る。上述の位置信号および
速度信号はともに駆動器９へ入力され、モータ６
を駆動するための制御信号として用いられる。駆
動器９へは速度指示器１０から目標信号が入力さ
れる。この目標信号は磁気ヘツドが移動する際の
速度の目標値を指示する。
出器７によりサーボヘツド２の存在する場所をあ
らわす位置信号に変換される。この位置信号は、
駆動器９より得られる電流信号とともに速度検出
器８へ送られ速度検出器８では両者の信号を変換
合成して速度信号を得る。上述の位置信号および
速度信号はともに駆動器９へ入力され、モータ６
を駆動するための制御信号として用いられる。駆
動器９へは速度指示器１０から目標信号が入力さ
れる。この目標信号は磁気ヘツドが移動する際の
速度の目標値を指示する。
第２図はサーボ面におけるサーボトラツクの配
列とこのサーボトラツクより読み出した信号を処
理した後の位置信号波形を示す説明図であり、２
は第１図の２と同じくサーボヘツドである。サー
ボ面にはあらかじめ第１サーボトラツク１１と第
２サーボトラツク１２が交互に隣接させて書込ま
れている。サーボヘツド２はこれらのサーボトラ
ツクを横切る方向に移動可能である。サーボトラ
ツクを横切る方向の位置変位をＸとして、Ｘ方向
にサーボヘツド２が移動した場合に得られる位置
信号はEXで示すような波形となる。Ｗはサーボ
トラツクの幅であり、サーボヘツドのコア幅もほ
ぼＷに等しく設計される。
列とこのサーボトラツクより読み出した信号を処
理した後の位置信号波形を示す説明図であり、２
は第１図の２と同じくサーボヘツドである。サー
ボ面にはあらかじめ第１サーボトラツク１１と第
２サーボトラツク１２が交互に隣接させて書込ま
れている。サーボヘツド２はこれらのサーボトラ
ツクを横切る方向に移動可能である。サーボトラ
ツクを横切る方向の位置変位をＸとして、Ｘ方向
にサーボヘツド２が移動した場合に得られる位置
信号はEXで示すような波形となる。Ｗはサーボ
トラツクの幅であり、サーボヘツドのコア幅もほ
ぼＷに等しく設計される。
第３図は従来用いられている速度検出器のブロ
ツク図、第４図は第３図で示した速度検出器の各
部の波形を示す説明図である。速度検出器８の一
方の入力端子ａには位置信号EXが入力されてい
る。第４図ではヘツドが停止している状態から移
動を開始し、一定速度に達するまでの各部の波形
を示しており、ａは位置信号EXの波形である。
ヘツドの移動速度はヘツド位置の時間微分として
与えられるから、位置信号EXを時間微分すれば
速度信号を得ることができる。この原理に基づき
速度検出器８では初段に微分回路１３を設置して
位置信号EXを微分し点ｂに微分信号DXを発生す
る。ヘツド位置と位置信号の両者の間で完全に線
形性が保たれていれば微分信号DXはすなわち速
度信号とみなすことができるが、実際には、ヘツ
ド位置と位置信号の間で線形性が保たれるのは、
位置信号EXの絶対値が一定値以下の範囲に限定
される。したがつて、微分によつて速度を検出す
ることができる範囲も離散的になり以下に説明す
る波形操作を行うことにより速度を検出してい
る。第４図ｂに示した微分波形DXは、そのピー
ク点付近において正く速度を検出しているから、
この部分のみをサンプルしてつなぎ合わせればよ
い。全波整流回路１４は微分信号DXの正負のピ
ークを一方向にそろえるためのものであり、この
回路出力点ｃには整流信号DFが現れる。整流信
号DFはサンプルホールド回路１５に送られる。
このサンプルホールド回路１５には別の入力点ｄ
よりサンプリングパルスDSが入力される。この
サンプリングパルスPSは、位置信号EXを電圧比
較回路１６で比較して、絶対値が一定値以下であ
る場合に発生される。サンプルホールド回路１５
では、サンプリングパルスPSが高電位のときに整
流信号DFを取り込み、サンプリングパルスPSが
低電位のときは前の値を保持するため、出力点ｅ
にはホールド信号EHが現れる。ヘツドの移動速
度が変化しない場合、このホールド信号EHによ
り速度検出を行うことができるが、速度が変化し
ている場合には第４図ｅにも示したように階段状
の信号となる。この部分では位置の微分による速
度検出は不可能であるために、加速度の積分によ
り速度を検出する方法をとる。速度検出器８の他
方の入力端子ｆにはモータ６の駆動電流に比例し
た電流信号IDが入力されている。モータ６の駆動
電流と発生する駆動力との間には比例関係があ
り、駆動力はまた加速度にも比例する。したがつ
て電流信号IDはヘツドが移動する際の加速度信号
とも見なすことができ、これを積分することによ
つて速度の検出が可能となる。積分回路１７では
この電流信号Idを上述したサンプリングパルスPS
が低電位の間だけ積分する。サンプリングパルス
PSが高電位にある時は、上述したように、位置の
微分によつて速度検出ができるので積分操作は必
要なく、積分回路はリセツトされる。積分回路１
７の出力点ｇには離散的な積分信号EIが現れる。
最終段の加算回路１８では上記のホールド信号
EHと積分信号EIとが加算され出力端子ｂから速度
信号EVとして出力される。
ツク図、第４図は第３図で示した速度検出器の各
部の波形を示す説明図である。速度検出器８の一
方の入力端子ａには位置信号EXが入力されてい
る。第４図ではヘツドが停止している状態から移
動を開始し、一定速度に達するまでの各部の波形
を示しており、ａは位置信号EXの波形である。
ヘツドの移動速度はヘツド位置の時間微分として
与えられるから、位置信号EXを時間微分すれば
速度信号を得ることができる。この原理に基づき
速度検出器８では初段に微分回路１３を設置して
位置信号EXを微分し点ｂに微分信号DXを発生す
る。ヘツド位置と位置信号の両者の間で完全に線
形性が保たれていれば微分信号DXはすなわち速
度信号とみなすことができるが、実際には、ヘツ
ド位置と位置信号の間で線形性が保たれるのは、
位置信号EXの絶対値が一定値以下の範囲に限定
される。したがつて、微分によつて速度を検出す
ることができる範囲も離散的になり以下に説明す
る波形操作を行うことにより速度を検出してい
る。第４図ｂに示した微分波形DXは、そのピー
ク点付近において正く速度を検出しているから、
この部分のみをサンプルしてつなぎ合わせればよ
い。全波整流回路１４は微分信号DXの正負のピ
ークを一方向にそろえるためのものであり、この
回路出力点ｃには整流信号DFが現れる。整流信
号DFはサンプルホールド回路１５に送られる。
このサンプルホールド回路１５には別の入力点ｄ
よりサンプリングパルスDSが入力される。この
サンプリングパルスPSは、位置信号EXを電圧比
較回路１６で比較して、絶対値が一定値以下であ
る場合に発生される。サンプルホールド回路１５
では、サンプリングパルスPSが高電位のときに整
流信号DFを取り込み、サンプリングパルスPSが
低電位のときは前の値を保持するため、出力点ｅ
にはホールド信号EHが現れる。ヘツドの移動速
度が変化しない場合、このホールド信号EHによ
り速度検出を行うことができるが、速度が変化し
ている場合には第４図ｅにも示したように階段状
の信号となる。この部分では位置の微分による速
度検出は不可能であるために、加速度の積分によ
り速度を検出する方法をとる。速度検出器８の他
方の入力端子ｆにはモータ６の駆動電流に比例し
た電流信号IDが入力されている。モータ６の駆動
電流と発生する駆動力との間には比例関係があ
り、駆動力はまた加速度にも比例する。したがつ
て電流信号IDはヘツドが移動する際の加速度信号
とも見なすことができ、これを積分することによ
つて速度の検出が可能となる。積分回路１７では
この電流信号Idを上述したサンプリングパルスPS
が低電位の間だけ積分する。サンプリングパルス
PSが高電位にある時は、上述したように、位置の
微分によつて速度検出ができるので積分操作は必
要なく、積分回路はリセツトされる。積分回路１
７の出力点ｇには離散的な積分信号EIが現れる。
最終段の加算回路１８では上記のホールド信号
EHと積分信号EIとが加算され出力端子ｂから速度
信号EVとして出力される。
第３図にて説明した速度検出器８では微分回路
１３の特性が全体の性能を大きく左右する。従来
用いられている微分回路は演算増幅器に抵抗とキ
ヤパシタを組合わせたものが一般的であり、伝達
関数Gdは次式で表わされる。
１３の特性が全体の性能を大きく左右する。従来
用いられている微分回路は演算増幅器に抵抗とキ
ヤパシタを組合わせたものが一般的であり、伝達
関数Gdは次式で表わされる。
Gd＝sT0／（１＋sT1）（１＋sT2） 〔T1＞T2〕
ここでｓ＝ｊ（2π）（：周波数、ｊ：虚数単
位） である。第５図にはGdの振幅と位相の周波数特
性を示す。1は微分上限周波数、2は積分周波数
を示す。通常1は数＋ＫHz程度であり、ヘツド移
動時の位置信号EXの最高周波数はこの数分の一
である。近年の磁気デイスク装置高速化の傾向に
より、ヘツド移動速度は増大の一途をたどつてお
り、それにつれて位置信号EXの最高周波数も増
大して微分上限周波数1に近づいてきている。こ
のことは微分回路１３を通つた後の微分信号DX
の位相遅れが大きくなり、正しい速度検出ができ
なくなることを示している。第６図はこの位相お
くれと速度検出の関係を示す図である。第６図に
は第４図で示した各部波形のうち位置信号EX、
サンプリングパルスPS整流信号DF、速度信号EV
の一部を示したもので、ヘツドの移動速度は一定
の場合を図示してある。図中破線で示したDF′，
EV′はいずれも微分回路１３による位相おくれの
ない理想的な場合の信号波形である。実際には第
５図に示したように、信号周波数が微分上限周波
数に近づくにつれ位相遅れが大きくなるために、
サンプリングパルスPSが高電位にある時間内には
整流信号DFはピークを持たなくなる。そのため
速度信号EVは理想的な検出値より電圧値が低下
し、かつ波形が乱れるようになる。このように、
従来の速度検出器では、ヘツドの高速移動時には
速度検出感度が低下し、波形品質が劣化するため
に高精度の速度制御ができなくなるという欠点が
あつた。
位） である。第５図にはGdの振幅と位相の周波数特
性を示す。1は微分上限周波数、2は積分周波数
を示す。通常1は数＋ＫHz程度であり、ヘツド移
動時の位置信号EXの最高周波数はこの数分の一
である。近年の磁気デイスク装置高速化の傾向に
より、ヘツド移動速度は増大の一途をたどつてお
り、それにつれて位置信号EXの最高周波数も増
大して微分上限周波数1に近づいてきている。こ
のことは微分回路１３を通つた後の微分信号DX
の位相遅れが大きくなり、正しい速度検出ができ
なくなることを示している。第６図はこの位相お
くれと速度検出の関係を示す図である。第６図に
は第４図で示した各部波形のうち位置信号EX、
サンプリングパルスPS整流信号DF、速度信号EV
の一部を示したもので、ヘツドの移動速度は一定
の場合を図示してある。図中破線で示したDF′，
EV′はいずれも微分回路１３による位相おくれの
ない理想的な場合の信号波形である。実際には第
５図に示したように、信号周波数が微分上限周波
数に近づくにつれ位相遅れが大きくなるために、
サンプリングパルスPSが高電位にある時間内には
整流信号DFはピークを持たなくなる。そのため
速度信号EVは理想的な検出値より電圧値が低下
し、かつ波形が乱れるようになる。このように、
従来の速度検出器では、ヘツドの高速移動時には
速度検出感度が低下し、波形品質が劣化するため
に高精度の速度制御ができなくなるという欠点が
あつた。
この発明は、上記の欠点を克服すべくなされた
もので高速移動時においても十分な速度検出能を
有する速度検出器を提供するものである。
もので高速移動時においても十分な速度検出能を
有する速度検出器を提供するものである。
第７図はこの発明の一実施例の構成を示すブロ
ツク図である。第７図に示した速度検出器８は移
相回路１９を備えている点で従来のものと異る。
ここに示した移相回路１９は次式で表わされる伝
達特性GPを持つ回路である。
ツク図である。第７図に示した速度検出器８は移
相回路１９を備えている点で従来のものと異る。
ここに示した移相回路１９は次式で表わされる伝
達特性GPを持つ回路である。
GP＝１−sTP／１＋sTP
この式で表わされる伝達特性は第８図のようで
あり、全周波数領域にわたつて振幅が一定で、位
相のみが変化する。したがつて、移相回路１９の
位相特性と、微分回路１３の位相特性をほぼ同程
度となるように設定すれば微分回路出力点ｂにお
ける微分信号DXは移相回路出力点ｉにおける遅
延信号EDに対して＋90゜の進み位相となり十分な
微分特性を持たせることができる。第９図はこの
実施例における動作の説明図である。位置信号
EXに対する遅延信号EDの位相おくれBDは BD＝2tan-1／P により求められる。したがつて遅延時間τDは τD＝１／πtan-1／P である。一方、位置信号EXに対する微分信号DX
の位相おくれBXは BX＝tan-1／1＋tan-1／2 で与えられ微分回路遅延時間τXは τX＝１／π（tan-1／1＋tan-1／2） である。この発明の実施例では1≒2≒Pなる関
係を満足するようにそれぞれの回路定数を設定す
る。その場合上述の説明より明らかなように τD≒τX の関係が成り立つ。したがつて第９図に示したよ
うに遅延信号EDをもとにして発生させたサンプ
リングパルスPSは整流信号DFのピーク点をサン
プルすることができ、最終的に得られる速度信号
EVも理想的なものとなる。
あり、全周波数領域にわたつて振幅が一定で、位
相のみが変化する。したがつて、移相回路１９の
位相特性と、微分回路１３の位相特性をほぼ同程
度となるように設定すれば微分回路出力点ｂにお
ける微分信号DXは移相回路出力点ｉにおける遅
延信号EDに対して＋90゜の進み位相となり十分な
微分特性を持たせることができる。第９図はこの
実施例における動作の説明図である。位置信号
EXに対する遅延信号EDの位相おくれBDは BD＝2tan-1／P により求められる。したがつて遅延時間τDは τD＝１／πtan-1／P である。一方、位置信号EXに対する微分信号DX
の位相おくれBXは BX＝tan-1／1＋tan-1／2 で与えられ微分回路遅延時間τXは τX＝１／π（tan-1／1＋tan-1／2） である。この発明の実施例では1≒2≒Pなる関
係を満足するようにそれぞれの回路定数を設定す
る。その場合上述の説明より明らかなように τD≒τX の関係が成り立つ。したがつて第９図に示したよ
うに遅延信号EDをもとにして発生させたサンプ
リングパルスPSは整流信号DFのピーク点をサン
プルすることができ、最終的に得られる速度信号
EVも理想的なものとなる。
第７図に示した移相回路１９としては上述のよ
うな伝達特性がGPであらわされる全域通過回路
に代えて、次式に示すような伝達関数GLを持つ
ローパスフイルタを使用することもできる。
うな伝達特性がGPであらわされる全域通過回路
に代えて、次式に示すような伝達関数GLを持つ
ローパスフイルタを使用することもできる。
GL＝１／（１＋sTP）2
この伝達特性は第１０図に示すようになり、位
相の遅れBLは BL＝2tan-1／P となつて上述の全域通過回路と同じ効果が得られ
る。
相の遅れBLは BL＝2tan-1／P となつて上述の全域通過回路と同じ効果が得られ
る。
以上に説明したように、この発明による速度検
出器では、微分回路による信号の遅延を補償する
回路として移相回路を用い、両者の遅延特性を一
致させることによりサンプリング時のタイミング
のずれを解消し、高速移動時においても精度よく
速度を検出することができる。
出器では、微分回路による信号の遅延を補償する
回路として移相回路を用い、両者の遅延特性を一
致させることによりサンプリング時のタイミング
のずれを解消し、高速移動時においても精度よく
速度を検出することができる。
第１図はトラツク・サーボ・システムの一例を
示すブロツク図、第２図はサーボトラツクの配列
と位置信号の変化を示す説明図、第３図は従来の
速度検出器の一例を示すブロツク図、第４図は速
度検出器内の各部の波形例を示す説明図、第５図
は微分回路の周波数特性の一例を示す説明図、第
６図は従来の速度検出器における位相おくれの影
響を示す説明図、第７図はこの発明の一実施例を
示すブロツク図、第８図はこの発明の移相回路の
周波数特性を示す説明図、第９図はこの発明の一
実施例における位相補償効果の説明図、第１０図
はこの発明の他の実施例における移相回路の周波
数特性を示す説明図である。 １……磁気円板、２……サーボヘツド、３……
データヘツド、４……ヘツドホルダ、５……ヘツ
ド保持機構、６……モータ、７……位置検出器、
８……速度検出器、９……駆動器、１０……速度
指示器、１３……微分回路、１４……全波整流回
路、１５……サンプルホールド回路、１６……電
圧比較回路、１７……積分回路、１８……加算回
路、１９……移相回路、EX……位置信号、DX…
…微分信号、DF……整流信号、PS……サンプリ
ングパルス、EH……ホールド信号、ID……電流信
号、EI……積分信号、EV……速度信号、ED……
遅延信号。なお、図中同一符号は同一または相当
部分を示す。
示すブロツク図、第２図はサーボトラツクの配列
と位置信号の変化を示す説明図、第３図は従来の
速度検出器の一例を示すブロツク図、第４図は速
度検出器内の各部の波形例を示す説明図、第５図
は微分回路の周波数特性の一例を示す説明図、第
６図は従来の速度検出器における位相おくれの影
響を示す説明図、第７図はこの発明の一実施例を
示すブロツク図、第８図はこの発明の移相回路の
周波数特性を示す説明図、第９図はこの発明の一
実施例における位相補償効果の説明図、第１０図
はこの発明の他の実施例における移相回路の周波
数特性を示す説明図である。 １……磁気円板、２……サーボヘツド、３……
データヘツド、４……ヘツドホルダ、５……ヘツ
ド保持機構、６……モータ、７……位置検出器、
８……速度検出器、９……駆動器、１０……速度
指示器、１３……微分回路、１４……全波整流回
路、１５……サンプルホールド回路、１６……電
圧比較回路、１７……積分回路、１８……加算回
路、１９……移相回路、EX……位置信号、DX…
…微分信号、DF……整流信号、PS……サンプリ
ングパルス、EH……ホールド信号、ID……電流信
号、EI……積分信号、EV……速度信号、ED……
遅延信号。なお、図中同一符号は同一または相当
部分を示す。
Claims (1)
- １ 磁気ヘツドの位置信号より電気的な信号処理
によつて速度を検出する方式の磁気ヘツド移動速
度検出器において、位置信号を微分するための微
分回路と、上記微分回路の出力を整流する全波整
流回路と、上記全波整流回路の出力をサンプルし
ホールドするためのサンプル・ホールド回路と、
電流信号を積分するための積分回路と、位置信号
を遅延させるための移相回路と、上記移相回路出
力のレベルを検出してサンプリングのタイミング
を設定するための電圧比較回路と、上記サンプル
ホールド回路出力と上記積分回路出力とを加算す
る加算回路とを備え、上記微分回路における伝達
特性の位相遅延特性と上記移相回路における伝達
特性の位相遅延特性とが同等であることを特徴と
する磁気ヘツド移動速度検出器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7472182A JPS58194170A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 磁気ヘツド移動速度検出器 |
| US06/491,185 US4510537A (en) | 1982-05-04 | 1983-05-03 | Magnetic head moving velocity detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7472182A JPS58194170A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 磁気ヘツド移動速度検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58194170A JPS58194170A (ja) | 1983-11-12 |
| JPS6364830B2 true JPS6364830B2 (ja) | 1988-12-13 |
Family
ID=13555364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7472182A Granted JPS58194170A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 磁気ヘツド移動速度検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58194170A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3003338B2 (ja) * | 1991-10-29 | 2000-01-24 | ソニー株式会社 | トラック横切り検出回路及び再生装置 |
-
1982
- 1982-05-04 JP JP7472182A patent/JPS58194170A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58194170A (ja) | 1983-11-12 |
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