JPS636697Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、配電盤の主回路および制御回路の
それぞれの絶縁抵抗測定および耐電圧試験を、各
切換開閉器と各接地開閉器とを電気的手段により
開閉制御して行ない、作業工数の削減および安全
性の向上を計るようにした配電盤の絶縁・耐圧試
験装置に関する。

従来、配電盤の主回路および制御回路のそれぞ
れの絶縁抵抗測定および耐電圧試験を行なう配電
盤の絶縁・耐圧試験装置は、第１図に示すよう
に、主回路絶縁抵抗測定器１，制御回路絶縁抵抗
測定器２，主回路耐圧トランス３および制御回路
耐圧トランス４を用い、供試品となる配電盤５に
対し、第２図に示すような手順で絶縁抵抗測定お
よび耐電圧試験が行なわれ、同図の〜の試験
項目の都度、作業者が人為的に配電盤５の近傍に
おいて接続がえを行なつている。すなわち、同図
のｂ，ｃ，，ｄ，ｇ，ｈ，，ｉ，ｊ，，
ｋ，ｎ，ｏ，，ｐの各作業は配電盤５近傍で行
なわれ、それ以外の作業は各絶縁抵抗測定器１，
２もしくは各耐圧トランス３，４の近傍において
行なわれる。なお、第１図において、６はしや断
器、７は変流器、８は主回路導体、９は制御端子
台である。

しかし、前記従来の試験装置によると、主回路
および制御回路のそれぞれの絶縁抵抗測定器１，
２および耐圧トランス３，４がすべて単独である
ため、第２図に示す〜の主たる試験作業の他
に、操作者の多数回の移動を伴うａ〜ｑの従たる
付随作業が必要となり、作業工数が増大し、しか
も、これらすべての作業が操作者の手による作業
であるため、作業が繁雑化するとともに、多くの
時間を要し、試験の自動化が不可能な欠点があ
る。また、各絶縁抵抗測定器１，２および各耐圧
トランス３，４はそれぞれ、試験の都度、第１図
に示すように、配置されるものであるから、試験
に要する面積が大きくなるとともに、整理整頓が
困難となり、高電圧取扱い作業であるため、安全
上の不安が非常に大きい問題がある。

この考案は、前記の点に留意し、箱体内に、配
電盤の主回路および制御回路のそれぞれの絶縁抵
抗測定器および耐圧トランスを内設し、主回路お
よび制御回路の切換開閉器と接地開閉器とを電気
的手段により開閉制御し、それぞれの絶縁抵抗測
定および耐電圧試験を行なうようにしたものであ
り、つぎにこの考案を、その実施例を示した第３
図以下の図面とともに詳細に説明する。

まず、１実施例を示した第３図ないし第８図に
ついて説明する。

これらの図面において、前記と同一記号のもの
は同一物を示し、１０は前面が開口された金属し
やへい箱等の絶縁・耐圧試験装置用箱体、１１お
よび１２は箱体１０内底部に内設たれた主回路耐
圧トランスおよび制御回路耐圧トランス、１３お
よび１４は箱体１０内に内設された主回路絶縁抵
抗測定器および制御回路絶縁抵抗測定器、１５は
箱体１０内の後壁上部に支持され主回路の絶縁抵
抗測定と耐電圧試験とを切換える主回路用切換断
路器であり、一方の固定接触子１５ａに主回路耐
圧トランス１１が他方の固定接触子１５ｂに主回
路絶縁抵抗測定器１３がそれぞれ接続されるとと
もに、可動接触子１５ｃが箱体１０の背面の主回
路用端子１６に接続され、該主回路用端子１６が
配電盤５の主回路導体８に接続されている。１７
は主回路用切換断路器１５の操作器、１８は切換
断路器１５の下方に支持され主回路を接地する主
回路用接地断路器であり、固定接触子１８ａが箱
体１０の後壁を貫通して主回路用端子１６に接続
されるとともに、可動接触子１８ｂが接地されて
いる。１９は接地断路器１８の操作器、２０は制
御回路の絶縁抵抗測定と耐電圧試験とを切換える
制御回路用切換電磁接触器、２１は制御回路を接
地する制御回路用接地電磁接触器であり、配電盤
５の制御端子台９が箱体１０の背面の制御回路用
端子２２に接続されるとともに、両電磁接触器２
０，２１のそれぞれが制御回路用端子２２に接続
される。２３は電動操作型電圧調整器であり、１
次側に電源が接続されるとともに、２次側に両耐
圧トランス１１，１２がそれぞれ接続されてい
る。２４は箱体１０内の前面上部に設けられ主回
路および制御回路の各操作器１５，１８および各
電磁接触器２０，２１の制御を行なうシーケンス
回路であり、後述の操作パネルの操作で目的にそ
つた制御が行なわれる。

２５は箱体１０の前面を開閉自在に閉塞する扉
であり、主回路用計器２６（KV，mA，ＭΩ）
が取り付けられている。２８は扉２５の中央部に
設けられ前記各耐圧トランス１１，１２、各絶縁
抵抗測定器１３，１４、各断路器１５，１８およ
び各電磁接触器２０，２１を操作するグラフイツ
クパネル等の操作パネルである。

つぎに、前記実施例の動作を第８図を用いて説
明する。

まず、制御回路および主回路をそれぞれ短絡
し、制御回路および主回路をそれぞれ第３図のよ
うに結線する。つぎに、電源を投入し、主回路絶
縁抵抗測定のためのｄ選択操作を行なう。すなわ
ち、制御回路用接地電磁接触器２１により制御回
路を接地するとともに、主回路用切換断路器１５
の可動接触子１５ｃを他方の固定接触子１５ｂに
接し、主回路に絶縁抵抗測定器１３を接続する。
そして、絶縁抵抗測定を行ない、この測定値が計
器２６（ＭΩ）に示される。つぎに、主回路耐圧
試験のためのｅ選択操作を行ない、切換断路器１
５を切換えて主回路に主回路耐圧トランス１１を
接続するとともに、該耐圧トランス１１の電源を
投入する。そして、耐電圧試験を行ない、測定値
を計器２６（KV，mA）で読み、この耐電圧試
験後、ｆ選択操作において、耐圧トランス１１の
電源を開放するとともに、接地断路器１８を閉に
して主回路を一担接地し、切換断路器１５を切換
えて主回路に再び絶縁抵抗測定器１３を接続し、
接地断路器１８を開にし、再び絶縁抵抗測定を行
なう。

つぎに、制御回路の絶縁抵抗測定のためのｇ選
択操作を行ない、接地断路器１８により主回路を
接地するとともに、接地電磁接触器２１により制
御回路の接地を開放し、さらに、切換電磁接触器
２０により制御回路に制御回路絶縁抵抗測定器１
４を接続する。そして、制御回路の絶縁抵抗測定
を行ない、測定値を計器２７（ＭΩ）で読み、こ
の測定後、ｈ選択操作において、切換電磁接触器
２０を操作して制御回路に制御回路耐圧トランス
１２を接続し、該耐圧トランス１２の電源を投入
する。そして、制御回路の耐電圧試験を行ない、
この測定値が計器２７（KV，mA）に表示され
る。つぎに、ｉ選択操作において、耐圧トランス
１２の電源を開放し、接地電磁接触器２１により
制御回路を一担接地するとともに、切換電磁接触
器２０を操作して制御回路に絶縁抵抗測定器１４
を接続し、さらに、制御回路の接地を開放し、再
び制御回路の絶縁抵抗測定を行なう。この測定終
了後、電源を開放し、すべての結線を取り外す。
なお、第８図において、ａ，ｂおよびｋの作業の
み配電盤５の近傍で行なう。

したがつて、前記実施例によると、第８図に示
すａおよびｂの作業を完了すれば、〜の各試
験作業を供試品の配電盤５に接近することなく行
なえ、操作パネル２８での操作によりシーケンス
回路２４を駆動し、各耐圧トランス１１，１２、
各絶縁抵抗測定器１３，１４の電源制御および各
断路器１５，１８、各電磁接触器２０，２１の開
閉制御を行なうことにより、これら試験作業が行
なえ、作業工数の削減を計ることができ、各種機
器を箱体１内に収納するとともに、これらを電気
的に制御するから、配電盤５の近傍での作業がほ
とんどなく、安全性を向上することができる。ま
た、前記試験装置では、印加電圧の自動設定が行
なえるのみならず、試験項目の選択、回路の切換
え、電圧の上昇・下降等の一連の試験進行を電気
的に制御するから、自動連動を可能にでき、シー
ケンス回路２４を連動のシーケンスとすれば、第
８図のｅ，ｆ，ｇ，ｈおよびｉの選択操作を省略
できるものである。

さらに、主回路および制御回路のそれぞれの絶
縁抵抗測定および耐電圧試験の測定値は、扉２５
の計器２６，２７による直読が行なえるのみなら
ず、これら測定値を電気的信号として外部へ取り
出すことができ、ここで、この測定値を外部のコ
ンピユータ，タイプライタ等の自動データ作成装
置に導出すれば、データの自動作成が可能にな
る。

なお、前記実施例では、主回路の接地開閉器に
断路器１８を用いたが、電磁式単極VSでもよい。

つぎに、他の実施例を示した第９図以下の図面
について説明する。

これらの図面は、試験装置の箱体１０を生産検
査ラインへ設置した場合を示し、２９は３列のロ
ーラコンベアであり、供試器の配電盤５の搬入，
搬送が行なわれる。３０はローラコンベア２９の
左右両側に設けられた平面コ字状およびＬ字状の
金網であり、両金網３０と箱体１０によりローラ
コンベア２９の両側が被われ、試験時、ローラコ
ンベア２９上の配電盤５の前後側に安全ロープ３
１が懸架され、配電盤５近傍への立入りが禁止さ
れる。

したがつて、前記実施例によると、ローラコン
ベア２９により搬入された配電盤５を該所におい
て次から次へと検査でき、しかも、前記したよう
に、その試験作業の作業性がよく、箱体１０の前
面の操作パネル２８での操作のみでよいため、円
滑な検査が実行できる。

なお、量産工場においては、第８図のａ，ｂお
よびｋの結線作業と前記した配電盤５の搬入，搬
出を自動化すれば、大量の配電盤５を無入で効率
よく検査することができ、自動検査システムを確
立できるものである。

また、箱体１０の扉２５に設けられた操作パネ
ル２８や各種の計器２６，２７および箱体１０内
のシーケンス回路２４等は、箱体１０より分離し
て別の監視制御盤とし、任意の位置に設置するよ
うにしてもよい。

以上のように、この考案の配電盤の絶縁・耐圧
試験装置によると、絶縁・耐圧試験装置用箱体内
に内設された主回路および制御回路のそれぞれの
絶縁抵抗測定器および耐圧トランスと、配電盤の
主回路および制御回路とを、各切換開閉器により
それぞれ接続するとともに、主回路および制御回
路を各接地開閉器を介して接地し、これら各開閉
器を電気的手段により開閉制御することにより、
絶縁抵抗測定および耐電圧試験の一連の試験進
行，すなわち試験項目の選択，回路の切換え，電
圧の上昇・下降等を電気的制御により、自動連動
方式で行なえ、供試品の配電盤に接近することな
く作業が行なえ、作業工数を削減でき、しかも、
各絶縁測定器や各耐圧トランス等を箱体内に収容
し、試験に要する面積を小さくできるとともに、
試験、作業において配電盤への接近の必要もない
ため、安全性を向上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は従来の配電盤の絶縁・耐
圧試験装置を示し、第１図は概略側面図、第２図
はフローチヤート、第３図以下の図面はこの考案
の配電盤の絶縁・耐圧試験装置の実施例を示し、
第３図ないし第８図は１実施例を示し、第３図は
概略側面図、第４図は箱体の正面図、第５図は箱
体の内部の正面図、第６図は箱体の切断側面図、
第７図は箱体の背面図、第８図はフローチヤー
ト、第９図以下の図面は他の実施例を示し、第９
図および第１０図は箱体を生産検査ラインに設置
した場合の正面図および平面図である。 ５……配電盤、１０……箱体、１１……主回路
耐圧トランス、１２……制御回路耐圧トランス、
１３……主回路絶縁抵抗測定器、１４……制御回
路絶縁抵抗測定器、１５……主回路用切換断路
器、１８……主回路用接地断路器、２０……制御
回路用切換電磁接触器、２１……制御回路用接地
電磁接触器、２４……シーケンス回路。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 絶縁・耐圧試験装置用箱体内に、配電盤の主
   回路および制御回路のそれぞれの絶縁抵抗測定
   器および耐圧トランスを内設し、前記主回路お
   よび制御回路の絶縁抵抗測定と耐電圧試験とを
   切換えるそれぞれの切換開閉器と、前記主回路
   および制御回路を接地するそれぞれの接地開閉
   器とを設けるとともに、前記各開閉器を開閉制
   御する電気的手段を備えた配電盤の絶縁・耐圧
   試験装置。 主回路および制御回路のそれぞれの絶縁抵抗
   測定および耐電圧試験の測定値を外部の自動デ
   ータ作成装置に導出した実用新案登録請求の範
   囲第１項に記載の配電盤の絶縁・耐圧試験装
   置。