JPS6369295A - 配線基板 - Google Patents
配線基板Info
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- JPS6369295A JPS6369295A JP61213448A JP21344886A JPS6369295A JP S6369295 A JPS6369295 A JP S6369295A JP 61213448 A JP61213448 A JP 61213448A JP 21344886 A JP21344886 A JP 21344886A JP S6369295 A JPS6369295 A JP S6369295A
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- resistor
- circuit
- conductors
- board
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/62—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
配線基板であって、回路部品を実装できる絶縁基板内で
、複数の導体が互いに絶縁され且つ多層に形成されてお
り、そのうち少なくとも2つの導体の間に電気回路とし
て必要な回路素子を一体的に形成することにより、基板
での実装密度を上げることができ且つ電気回路の高速動
作が可能となる。
、複数の導体が互いに絶縁され且つ多層に形成されてお
り、そのうち少なくとも2つの導体の間に電気回路とし
て必要な回路素子を一体的に形成することにより、基板
での実装密度を上げることができ且つ電気回路の高速動
作が可能となる。
本発明は配線基板に関し、例えば、IC等の電子回路部
品を実装し、該電子回路部品を高周波で動作させる場合
に適した配線基板に関するものである。
品を実装し、該電子回路部品を高周波で動作させる場合
に適した配線基板に関するものである。
従来から、各種の電子装置に用いられている配線基板上
には、常に一定の目的のため所定位置に接続すべき抵抗
器、コンデンサ等の電子回路部品が実装されている。
には、常に一定の目的のため所定位置に接続すべき抵抗
器、コンデンサ等の電子回路部品が実装されている。
例えば、回路基板に実装された電子回路部品によって形
成される電気回路が、超高速パルスに応動するようにし
たものであれば、高周波で動作可能とすべき電子回路部
品が該回路基板上で必要となる。かような回路部品とし
ては、超高速パルス等による高周波信号を効率よく伝送
するために必要なインピーダンス整合用の終端抵抗器、
電源系からの雑音を排除して回路の安定な動作を実現す
るためのバイパスコンデンサ等が挙げられる。
成される電気回路が、超高速パルスに応動するようにし
たものであれば、高周波で動作可能とすべき電子回路部
品が該回路基板上で必要となる。かような回路部品とし
ては、超高速パルス等による高周波信号を効率よく伝送
するために必要なインピーダンス整合用の終端抵抗器、
電源系からの雑音を排除して回路の安定な動作を実現す
るためのバイパスコンデンサ等が挙げられる。
第3図に、従来から一般的に用いられている多層の配線
基板を示す。この配線基板を断面でみれば、一体的に板
状となっている絶縁体11の表面および裏面に接地導体
13および接地導体14が形成されている。また、2つ
の接地導体13.14の間で且つ絶縁体11中において
、複数の電源線15と、ある層の信号線17と、別な層
で複数の信号線19とが互いに絶縁されて配置されてい
る。このように、多数の導体で成る接地導体13および
14.電源線15.信号線17および信号線19が、絶
縁体11に対して多層となるように形成されている。
基板を示す。この配線基板を断面でみれば、一体的に板
状となっている絶縁体11の表面および裏面に接地導体
13および接地導体14が形成されている。また、2つ
の接地導体13.14の間で且つ絶縁体11中において
、複数の電源線15と、ある層の信号線17と、別な層
で複数の信号線19とが互いに絶縁されて配置されてい
る。このように、多数の導体で成る接地導体13および
14.電源線15.信号線17および信号線19が、絶
縁体11に対して多層となるように形成されている。
このような配線基板に、上述した終端抵抗器。
バイパスコンデンサ等の回路部品の実装方法としては、
以下に述べる方法が提案されていた。それら各種の方法
を基本とした従来の基板および回路部品の実装概念を、
図を用いて説明する。
以下に述べる方法が提案されていた。それら各種の方法
を基本とした従来の基板および回路部品の実装概念を、
図を用いて説明する。
(イ)個別部品を基板表面に実装する方法。
第4図は、抵抗器、コンデンサ等の個別部品を基板表面
に実装する方法を示す。ここで、配線基板を形成する絶
縁体21中において、導体である電源線23および信号
線25が形成されている。
に実装する方法を示す。ここで、配線基板を形成する絶
縁体21中において、導体である電源線23および信号
線25が形成されている。
また、この配線基板の両面には接地導体27,28が形
成されており、その表面にはIC29が搭載されている
。IC29の電源入力端子31は電源線23に接続され
、また、IC29の信号端子33は信号線25に接続さ
れて、当該IC29の動作に必要な電源が供給されると
共に、動作上の信号の入出力が行なわれるようになって
いる。
成されており、その表面にはIC29が搭載されている
。IC29の電源入力端子31は電源線23に接続され
、また、IC29の信号端子33は信号線25に接続さ
れて、当該IC29の動作に必要な電源が供給されると
共に、動作上の信号の入出力が行なわれるようになって
いる。
表面の接地導体27中に、所定大の導体剥離部35を形
成し、それを介して電源入力端子31を挿入すると共に
、該電源入力端子31と接地導体27との間にバイパス
コンデンサ37が装着されている。また、同様にして、
接地導体27中に形成した所定大の他の導体剥離部36
を介して信号端子33を挿入すると共に、該信号端子3
3と接地導体27との間に終端抵抗器39が装着されて
いる。
成し、それを介して電源入力端子31を挿入すると共に
、該電源入力端子31と接地導体27との間にバイパス
コンデンサ37が装着されている。また、同様にして、
接地導体27中に形成した所定大の他の導体剥離部36
を介して信号端子33を挿入すると共に、該信号端子3
3と接地導体27との間に終端抵抗器39が装着されて
いる。
(ロ)基板の貫通孔内に回路素子を収納する方法。
第5図は、配線基板の上下配線層間を接続する貫通孔(
スルーホール形成用の孔に相当する)内に、回路素子を
挿入して収納する方法を示す。ここで、配線基板を形成
する絶!!基板41の両面には、所望の配線パターン4
3が導体によって形成されている。両面に設けた導体の
間を結ぶ形で、絶縁基板41中に形成された貫通孔45
1貫通孔47に、終端抵抗器およびバイパスコンデンサ
として、チップ状の抵抗器49.コンデンサ51が挿入
される。
スルーホール形成用の孔に相当する)内に、回路素子を
挿入して収納する方法を示す。ここで、配線基板を形成
する絶!!基板41の両面には、所望の配線パターン4
3が導体によって形成されている。両面に設けた導体の
間を結ぶ形で、絶縁基板41中に形成された貫通孔45
1貫通孔47に、終端抵抗器およびバイパスコンデンサ
として、チップ状の抵抗器49.コンデンサ51が挿入
される。
(ハ)配線基板に配置するIC内に、回路部品を内蔵す
る方法。
る方法。
第6図は、これらの終端抵抗器、バイパスコンデンサ等
の回路部品を、配線基板に搭載するIC内に内蔵する方
法を示す。この方法にあっても、第4図と同様に形成さ
れる配線基板上に、IC60が実装される。このIC6
0では、そのICケース61によってICチップ63が
封入されている。このICチップ63内において、バイ
パスコンデンサに相当するチップ内蔵コンデンサ65お
よび終端抵抗器に相当するチップ内蔵抵抗体67を、そ
の素子(ICチップ63)中に付加的に形成している。
の回路部品を、配線基板に搭載するIC内に内蔵する方
法を示す。この方法にあっても、第4図と同様に形成さ
れる配線基板上に、IC60が実装される。このIC6
0では、そのICケース61によってICチップ63が
封入されている。このICチップ63内において、バイ
パスコンデンサに相当するチップ内蔵コンデンサ65お
よび終端抵抗器に相当するチップ内蔵抵抗体67を、そ
の素子(ICチップ63)中に付加的に形成している。
以上のような手段によって、超高速パルスに応動するよ
うに、高周波信号を効率よく伝送するために必要なイン
ピーダンス整合用の終端抵抗器。
うに、高周波信号を効率よく伝送するために必要なイン
ピーダンス整合用の終端抵抗器。
および電源系からの雑音を排除して回路の安定な動作を
実現するためのバイパスコンデンサを実装するようにし
ている。
実現するためのバイパスコンデンサを実装するようにし
ている。
ところで、上述した従来方式にあっては、各種の問題点
があった。
があった。
先ず、第4図に示すような配線基板上に、終端抵抗器お
よびバイパスコンデンサを実装する方法にあっては、配
線基板の製作が簡単であるが、回路部品の実装状態を高
密度にできない。例えば、IC29による回路動作が高
速となることに応じて、必然的に回路部品の実装状態を
高密度としなければならない。特に、ICの封入パッケ
ージを用いることなく、ICチップ状態で配線基板に実
装することが必要となる場合、バイパスコンデンサ37
および終端抵抗器39が配線基板上で占める総面積は、
ICチップが占める面積より大きなものとなる。そのた
め、チップ状態でICを実装することによる実装密度の
改善効果を図ることはできないという問題点があった。
よびバイパスコンデンサを実装する方法にあっては、配
線基板の製作が簡単であるが、回路部品の実装状態を高
密度にできない。例えば、IC29による回路動作が高
速となることに応じて、必然的に回路部品の実装状態を
高密度としなければならない。特に、ICの封入パッケ
ージを用いることなく、ICチップ状態で配線基板に実
装することが必要となる場合、バイパスコンデンサ37
および終端抵抗器39が配線基板上で占める総面積は、
ICチップが占める面積より大きなものとなる。そのた
め、チップ状態でICを実装することによる実装密度の
改善効果を図ることはできないという問題点があった。
また、第5図に示した方法にあっても、個別部品たる抵
抗器49.コンデンサ51を絶縁基板41の貫通孔45
.47に挿入するものである。貫通孔45.47の大き
さに起因して、これらの個別部品の小型化には限界があ
り、当該貫通孔を大きくしなければならない。従って、
個別部品の表面実装の場合と同様に、高実装密度化が図
れないという問題点があった。また、抵抗器49.コン
デンサ51を配vA基板に実装する際には、それらの個
別部品を半田付けあるいは導電性ペースト等で接続する
必要があり、それらの接続手段における信頼性も高くは
ないという欠点があった。
抗器49.コンデンサ51を絶縁基板41の貫通孔45
.47に挿入するものである。貫通孔45.47の大き
さに起因して、これらの個別部品の小型化には限界があ
り、当該貫通孔を大きくしなければならない。従って、
個別部品の表面実装の場合と同様に、高実装密度化が図
れないという問題点があった。また、抵抗器49.コン
デンサ51を配vA基板に実装する際には、それらの個
別部品を半田付けあるいは導電性ペースト等で接続する
必要があり、それらの接続手段における信頼性も高くは
ないという欠点があった。
更に、第6図の方法では、IC60のICケース61内
にチップ内蔵コンデンサ65およびチップ内蔵抵抗体6
7を含ませており、IC60を実装する際、別個な終端
抵抗器およびバイパスコンデンサを設ける必要はないの
で、実装密度を高めるための制限とはならない。しがし
ながら、第7図に示すように、複数のICを接続する場
合において、第11C71(例えば送信側)と他の第2
1C73とを、特性インピーダンスZ0の配線部分75
で接続する場合、当該配線部分75の終端側でチップ内
蔵抵抗体67を設けていた。このチップ内蔵抵抗体67
の抵抗値R7は、配線部分75の特性インピーダンスZ
0と同じである。これに対して、第7図(B)に示すよ
うに、配線部分75を介して第1TC71に接続される
ICが、第21C73および第31C77というように
分岐した構成となる場合、別な配線部分751にょって
第2IC73と第31C77とを接続して、別な配線部
分751側においてのみチップ内蔵抵抗体67を形成す
ればよい。つまり、第2IC730入力側には、チップ
内蔵抵抗体67を設ける必要はない。
にチップ内蔵コンデンサ65およびチップ内蔵抵抗体6
7を含ませており、IC60を実装する際、別個な終端
抵抗器およびバイパスコンデンサを設ける必要はないの
で、実装密度を高めるための制限とはならない。しがし
ながら、第7図に示すように、複数のICを接続する場
合において、第11C71(例えば送信側)と他の第2
1C73とを、特性インピーダンスZ0の配線部分75
で接続する場合、当該配線部分75の終端側でチップ内
蔵抵抗体67を設けていた。このチップ内蔵抵抗体67
の抵抗値R7は、配線部分75の特性インピーダンスZ
0と同じである。これに対して、第7図(B)に示すよ
うに、配線部分75を介して第1TC71に接続される
ICが、第21C73および第31C77というように
分岐した構成となる場合、別な配線部分751にょって
第2IC73と第31C77とを接続して、別な配線部
分751側においてのみチップ内蔵抵抗体67を形成す
ればよい。つまり、第2IC730入力側には、チップ
内蔵抵抗体67を設ける必要はない。
従って、第7図(A)に示すように1対1のIC接続と
異なり、同図(B)に示すように、1つのrc比出力ら
分岐接続する場合には、その終端方法を変える必要があ
る。そのため、ICとしてのの汎用性を損なう欠点があ
った。このように、回路素子を内蔵させることは、IC
の歩留まりを低下させてしまうという問題点があった。
異なり、同図(B)に示すように、1つのrc比出力ら
分岐接続する場合には、その終端方法を変える必要があ
る。そのため、ICとしてのの汎用性を損なう欠点があ
った。このように、回路素子を内蔵させることは、IC
の歩留まりを低下させてしまうという問題点があった。
本発明は、このような点にかんがみて創作されたもので
あり、例えば超高速パルスに応動するように回路基板に
設けられた電気回路において、インピーダンス整合用終
端抵抗器、バイパスコンデンサ等の回路素子の配線基板
への実装密度の向上を図り、回路の動作用に装着される
rc等の回路部品の汎用性を損なうことのないようにし
た配線基板を提供することを目的としている。
あり、例えば超高速パルスに応動するように回路基板に
設けられた電気回路において、インピーダンス整合用終
端抵抗器、バイパスコンデンサ等の回路素子の配線基板
への実装密度の向上を図り、回路の動作用に装着される
rc等の回路部品の汎用性を損なうことのないようにし
た配線基板を提供することを目的としている。
このような目的を達成するために、本発明による配線基
板は、表面に回路部品を実装できる絶縁基板と、該絶縁
基板の内部で互いに絶縁され且つ多層に形成されて前記
回路部品に接続され得るように設けられた複数の導体と
、該複数の導体のうち少なくとも2つの導体の間で絶縁
体中を貫通する形で形成された回路素子とを含むように
一体的に構成されている。
板は、表面に回路部品を実装できる絶縁基板と、該絶縁
基板の内部で互いに絶縁され且つ多層に形成されて前記
回路部品に接続され得るように設けられた複数の導体と
、該複数の導体のうち少なくとも2つの導体の間で絶縁
体中を貫通する形で形成された回路素子とを含むように
一体的に構成されている。
回路部品が実装できる絶縁基板内で、互いに絶縁し且つ
多層に複数の導体を形成し、該2つの導体の間に回路素
子を一体的に形成している。
多層に複数の導体を形成し、該2つの導体の間に回路素
子を一体的に形成している。
絶縁基板上に実装される回路部品による電気回路は、こ
の回路素子が接続された形となり、高速動作が可能とな
る。
の回路素子が接続された形となり、高速動作が可能とな
る。
本発明にあっては、本来回路部品が実装できる絶縁基板
内に、回路素子を形成していることにより実装密度が高
くなる。
内に、回路素子を形成していることにより実装密度が高
くなる。
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
±−尖拒班免1衣
第1図は、本発明の一実施例における配線基板の構成を
示す。ここで、第1図(A)は本発明実施例においてバ
イパスコンデンサ97および終端抵抗器99を形成して
接続した全体構成を示す。
示す。ここで、第1図(A)は本発明実施例においてバ
イパスコンデンサ97および終端抵抗器99を形成して
接続した全体構成を示す。
また、同図(B)は、図(A>における終端抵抗器99
の周辺を拡大して示す。同図(C)は、図(A)におけ
るバイパスコンデンサ97の周辺を拡大して示す。
の周辺を拡大して示す。同図(C)は、図(A)におけ
るバイパスコンデンサ97の周辺を拡大して示す。
図において、配線基板を形成する絶縁体81中において
、電源線83および信号線85が形成されている。また
、絶縁体81の表面に接地導体87が、裏面に接地導体
88がそれぞれ形成されており、該接地導体87側にI
C89が装着されている。IC89の電源入力端子91
は、接地導体87での所定大の剥離領域92を貫通して
電源線83に接続されている。IC89の信号端子93
も、接地導体87での別な所定大の剥離領域94を貫通
して信号線85に接続されている。これにより、IC8
9の動作に必要な電源が供給されると共に、動作上の信
号の入出力が行なわれるようになっている。また、別な
電源線95が絶縁体81中に形成されている。
、電源線83および信号線85が形成されている。また
、絶縁体81の表面に接地導体87が、裏面に接地導体
88がそれぞれ形成されており、該接地導体87側にI
C89が装着されている。IC89の電源入力端子91
は、接地導体87での所定大の剥離領域92を貫通して
電源線83に接続されている。IC89の信号端子93
も、接地導体87での別な所定大の剥離領域94を貫通
して信号線85に接続されている。これにより、IC8
9の動作に必要な電源が供給されると共に、動作上の信
号の入出力が行なわれるようになっている。また、別な
電源線95が絶縁体81中に形成されている。
電源入力端子91は、電源線830反対側に更に伸長し
ており、バイパスコンデン・す97を介して接地導体8
8に接続されている。また、信号端子93は、信号線8
50反対側に更に伸長しており、終端抵抗器99を介し
て電源線95に接続されている。
ており、バイパスコンデン・す97を介して接地導体8
8に接続されている。また、信号端子93は、信号線8
50反対側に更に伸長しており、終端抵抗器99を介し
て電源線95に接続されている。
なお、このIC89は封入用パッケージを用いないチッ
プのみによるICである。
プのみによるICである。
第2図は、第1図に示すように形成される配線基板にお
いて、複数のICを装着する基板に、超高速ハルスに応
動できるように、インピーダンス整合用終端抵抗器およ
びバイパスコンデンサを一体的に形成した場合を示す。
いて、複数のICを装着する基板に、超高速ハルスに応
動できるように、インピーダンス整合用終端抵抗器およ
びバイパスコンデンサを一体的に形成した場合を示す。
第2図において、チップ状態での4つのIC891〜I
C894が、配線基板に対して直接に搭載されるように
なっている。このうち、IC891の信号入力端子93
■1をIC894の信号出力端子9304と、IC89
3の信号出力端子9303をIC891の信号入力端子
9311□およびIC892の信号入力端子93I2と
、それぞれ特性インピーダンスがZである信号線で接続
する。この間で、超高速パルス伝送を行なうものとする
。
C894が、配線基板に対して直接に搭載されるように
なっている。このうち、IC891の信号入力端子93
■1をIC894の信号出力端子9304と、IC89
3の信号出力端子9303をIC891の信号入力端子
9311□およびIC892の信号入力端子93I2と
、それぞれ特性インピーダンスがZである信号線で接続
する。この間で、超高速パルス伝送を行なうものとする
。
それぞれの入力端子直前で、インピーダンス整合用の終
端抵抗器991 (抵抗値R1)および終端抵抗器99
2(抵抗値R2)を、信号線と電源線843との間に接
続している。この電源線843は、電源■3を供給する
ためのものである。更に、各ICに2種類の電源Vl、
V2を供給するものとし、それに必要な電源線841お
よび電源線842を形成している。
端抵抗器991 (抵抗値R1)および終端抵抗器99
2(抵抗値R2)を、信号線と電源線843との間に接
続している。この電源線843は、電源■3を供給する
ためのものである。更に、各ICに2種類の電源Vl、
V2を供給するものとし、それに必要な電源線841お
よび電源線842を形成している。
各ICの電源入力端子と基板の接地導体との間に、容W
t値01〜C8のバイパスコンデンサ971〜978を
接続する。これらのコンデンサおよび終端抵抗器は、基
板の断面方向であり、基板の平面と垂直な方向にて眉間
にわたって柱状に形成する。
t値01〜C8のバイパスコンデンサ971〜978を
接続する。これらのコンデンサおよび終端抵抗器は、基
板の断面方向であり、基板の平面と垂直な方向にて眉間
にわたって柱状に形成する。
このように、配線基板の絶縁体81中に形成することに
より、結果的にIC89の高速動作に必要なバイパスコ
ンデンサ97および終端抵抗器99が個別的に実装され
たことになる。
より、結果的にIC89の高速動作に必要なバイパスコ
ンデンサ97および終端抵抗器99が個別的に実装され
たことになる。
ところで、そのように実装される終端抵抗器99の一体
形成を実現するには、液相における高抵抗金属のメッキ
技術により柱状構造を形成する方法、金属表面にCVD
等の気相成長で高抵抗材料を選択的に柱状成長させる方
法、抵抗形成部分にペースト状の高抵抗材料を流し込み
固化させた後に金属で封止する方法等、各種の抵抗形成
技法がある。その場合の抵抗値の制御は、抵抗材料の厚
さで任意に行なうことができる。
形成を実現するには、液相における高抵抗金属のメッキ
技術により柱状構造を形成する方法、金属表面にCVD
等の気相成長で高抵抗材料を選択的に柱状成長させる方
法、抵抗形成部分にペースト状の高抵抗材料を流し込み
固化させた後に金属で封止する方法等、各種の抵抗形成
技法がある。その場合の抵抗値の制御は、抵抗材料の厚
さで任意に行なうことができる。
ここでは、終端抵抗器99の実装法として、微細な柱状
抵抗形成法について説明する。
抵抗形成法について説明する。
例えば、PdAu、PdAg等の金属混晶1合金を、電
子ビーム蒸着法によりマスクを介して、絶縁体81のあ
る層において蒸着する。これによリ、必要な個所に終端
抵抗器99が形成される。
子ビーム蒸着法によりマスクを介して、絶縁体81のあ
る層において蒸着する。これによリ、必要な個所に終端
抵抗器99が形成される。
しかる後、その層を絶縁体81となる樹脂で膜形成する
。次に、この形成された終端抵抗器99と接続すべき信
号線その他の線導体を、樹脂膜上に形成する。従って、
所望の線導体間にて、終端抵抗器99が実装されたこと
になる。なお、この場合での終端抵抗器99の抵抗値は
、抵抗材料となるPdAu、PdAg等の金属の組成比
を変えることによって制御できる。
。次に、この形成された終端抵抗器99と接続すべき信
号線その他の線導体を、樹脂膜上に形成する。従って、
所望の線導体間にて、終端抵抗器99が実装されたこと
になる。なお、この場合での終端抵抗器99の抵抗値は
、抵抗材料となるPdAu、PdAg等の金属の組成比
を変えることによって制御できる。
また、絶縁体81内で配線層間を連結するように予め設
けた柱状の孔に、スクリーン印刷等の技法を用い、ペー
スト状の抵抗材料を流し込んだ後に焼結する。そのペー
スト状の抵抗材料は、RuO□系のペースト(セラミッ
ク等の高温に耐え得るもの)、微粒子抵抗と高分子粒子
との高分子厚膜ペーストがある。これらの材料は、高温
で焼結される。
けた柱状の孔に、スクリーン印刷等の技法を用い、ペー
スト状の抵抗材料を流し込んだ後に焼結する。そのペー
スト状の抵抗材料は、RuO□系のペースト(セラミッ
ク等の高温に耐え得るもの)、微粒子抵抗と高分子粒子
との高分子厚膜ペーストがある。これらの材料は、高温
で焼結される。
例えば、終端抵抗器99において、所望の抵抗値R(5
0Ω)を実現する場合を考える。いま、終端抵抗器99
が断面円形の柱状形状とし、その直径および長さが共に
100μmとする。使用する抵抗材料の特性として、例
えば15μmの厚さでのシート抵抗値R0とすると、そ
の体積抵抗率ρは15 X 1 o−”Roである。す
ると、その体積抵抗率ρおよび終端抵抗器99のサイズ
に基づいて、抵抗値Rは、R”Ro xQ、2として与
えられる。従って、例えばRO=250Ω/口の材料で
あれば、R=50Ωを得ることができる。
0Ω)を実現する場合を考える。いま、終端抵抗器99
が断面円形の柱状形状とし、その直径および長さが共に
100μmとする。使用する抵抗材料の特性として、例
えば15μmの厚さでのシート抵抗値R0とすると、そ
の体積抵抗率ρは15 X 1 o−”Roである。す
ると、その体積抵抗率ρおよび終端抵抗器99のサイズ
に基づいて、抵抗値Rは、R”Ro xQ、2として与
えられる。従って、例えばRO=250Ω/口の材料で
あれば、R=50Ωを得ることができる。
また、上述したように実装されるバイパスコンデンサ9
7を実現することも、終端抵抗器99と同様にすればよ
いので容易である。つまり、先の抵抗材料に代えて誘電
体を用いればよく、これらの形成技法は現状の多層基板
形成技術の延長線上にあるため、当業者であれば容易に
実現できるものである。
7を実現することも、終端抵抗器99と同様にすればよ
いので容易である。つまり、先の抵抗材料に代えて誘電
体を用いればよく、これらの形成技法は現状の多層基板
形成技術の延長線上にあるため、当業者であれば容易に
実現できるものである。
■、 方 のまとめ
このようにして、絶縁体81の中で配線層間に柱状の終
端抵抗器99およびバイパスコンデンサ97を形成して
、当該配線基板に装着されるrc89の動作上にて必要
な回路形成となる。その場合、配線基板の表面上に実装
されず、また、I’C89の内部にも形成されていない
。
端抵抗器99およびバイパスコンデンサ97を形成して
、当該配線基板に装着されるrc89の動作上にて必要
な回路形成となる。その場合、配線基板の表面上に実装
されず、また、I’C89の内部にも形成されていない
。
従って、高速パルス伝送に不可欠な終端抵抗器99およ
びバイパスコンデンサ97を配線基板内に埋め込んだ構
造として、回路素子の実装に伴う配線を短縮している。
びバイパスコンデンサ97を配線基板内に埋め込んだ構
造として、回路素子の実装に伴う配線を短縮している。
これにより1、電気回路の高速動作を制限する主たる要
因である減衰、伝搬遅延を大幅に低減でき、回路動作の
高速化が図れることとなる。
因である減衰、伝搬遅延を大幅に低減でき、回路動作の
高速化が図れることとなる。
ここで、本発明実施例を従来例と比較すれば、次のよう
な利点がある。先ず、抵抗、コンデンサを基板表面に実
装する場合と比較して、それら個別な部品が占有してい
た部分を他に有効的に利用できることに因り、超高密度
実装が可能となる。
な利点がある。先ず、抵抗、コンデンサを基板表面に実
装する場合と比較して、それら個別な部品が占有してい
た部分を他に有効的に利用できることに因り、超高密度
実装が可能となる。
また、IC内に終端抵抗器99を内蔵させず、且つ、終
端抵抗器99の抵抗値を任意に設定可能であるので、I
Cへの該終端抵抗器99の接続の有無にかかわらず、当
該ICの汎用性が損なわれるということはない。
端抵抗器99の抵抗値を任意に設定可能であるので、I
Cへの該終端抵抗器99の接続の有無にかかわらず、当
該ICの汎用性が損なわれるということはない。
■、→lの、・形IlE様
なお、上述した本発明実施例にあっては、抵抗器および
コンデンサの形状を断面円形状の柱状としたが、これに
限られることなく、他の断面形状を有する柱状のもので
もよい。
コンデンサの形状を断面円形状の柱状としたが、これに
限られることなく、他の断面形状を有する柱状のもので
もよい。
また、上述した本発明実施例による配線基板上に搭載さ
れる電子回路部品として、ICを示したが、その他の回
路部品であってもよい。
れる電子回路部品として、ICを示したが、その他の回
路部品であってもよい。
更に、本発明はその他にも各種の変形態様があることは
当業者であれば容易に推考できるであろう。
当業者であれば容易に推考できるであろう。
上述したように、本発明によれば、回路部品を搭載でき
る絶縁基板内で互いに絶縁され且つ多層に形成された導
体の間に、高周波動作に必要なインピーダンス整合用終
端抵抗器、バイパスコンデンサ等の回路部品を実装する
ことにより、基板上での実装密度の向上が図られると共
に、当該回路の動作用に装着されるIC等の汎用性を損
なうことがないので、実用的には極めて有用である。
る絶縁基板内で互いに絶縁され且つ多層に形成された導
体の間に、高周波動作に必要なインピーダンス整合用終
端抵抗器、バイパスコンデンサ等の回路部品を実装する
ことにより、基板上での実装密度の向上が図られると共
に、当該回路の動作用に装着されるIC等の汎用性を損
なうことがないので、実用的には極めて有用である。
第1図は本発明の一実施例による配線基板の構成を示す
概略断面図、 第2図は本発明の一実施例による配線基板に複数のIC
を実装した状態を示す側面図、 第3図は一般的な配線基板を示す断面図、第4図は個別
部品を基板表面に実装する従来例の説明図、 第5図は基板の貫通孔内に回路素子を収納する従来例の
説明図、 第6図は配線基板に配置するIC内に回路部品を内蔵す
る従来例の説明図、 第7図は配線基板に搭載されるICが1対1で接続され
る場合および1対2に分岐される場合の説明図である。 図において、 11.21.81は絶縁体、 13.27,87.88は接地導体、 15.23.83,84.95は電源線、17.19.
25.85は信号線、 29.89.891〜894はIC。 31.91は電源入力端子、 33.93は信号端子、 37.97,971〜978はバイパスコンデンサ、 39.99,991.992は終端抵抗器、41は絶縁
基板、 43は配線パターン、 45.47は貫通孔、 49は抵抗器、 51はコンデンサ、 63はICチップ、 65はチップ内蔵コンデンサ、 67はチップ内蔵抵抗体である。 (A) 実施例の説明図 第1図 第4図
概略断面図、 第2図は本発明の一実施例による配線基板に複数のIC
を実装した状態を示す側面図、 第3図は一般的な配線基板を示す断面図、第4図は個別
部品を基板表面に実装する従来例の説明図、 第5図は基板の貫通孔内に回路素子を収納する従来例の
説明図、 第6図は配線基板に配置するIC内に回路部品を内蔵す
る従来例の説明図、 第7図は配線基板に搭載されるICが1対1で接続され
る場合および1対2に分岐される場合の説明図である。 図において、 11.21.81は絶縁体、 13.27,87.88は接地導体、 15.23.83,84.95は電源線、17.19.
25.85は信号線、 29.89.891〜894はIC。 31.91は電源入力端子、 33.93は信号端子、 37.97,971〜978はバイパスコンデンサ、 39.99,991.992は終端抵抗器、41は絶縁
基板、 43は配線パターン、 45.47は貫通孔、 49は抵抗器、 51はコンデンサ、 63はICチップ、 65はチップ内蔵コンデンサ、 67はチップ内蔵抵抗体である。 (A) 実施例の説明図 第1図 第4図
Claims (3)
- (1)表面に回路部品を実装できる絶縁基板と、該絶縁
基板の内部で互いに絶縁され且つ多層に形成されて前記
回路部品に接続され得るように設けられた複数の導体と
、該複数の導体のうち少なくとも2つの導体の間で絶縁
体中を貫通する形で形成された回路素子とを含むように
一体的に構成したことを特徴とする配線基板。 - (2)前記回路素子は、柱状の抵抗素子であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の配線基板。 - (3)前記回路素子は、柱状のコンデンサであることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の配線基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61213448A JPS6369295A (ja) | 1986-09-10 | 1986-09-10 | 配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61213448A JPS6369295A (ja) | 1986-09-10 | 1986-09-10 | 配線基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6369295A true JPS6369295A (ja) | 1988-03-29 |
Family
ID=16639391
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61213448A Pending JPS6369295A (ja) | 1986-09-10 | 1986-09-10 | 配線基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6369295A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03106053A (ja) * | 1989-09-15 | 1991-05-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | キャリアに載置されたvlsiチップ用設計システムおよびこれにより設計したモジュール |
| WO1996009645A1 (en) * | 1994-09-20 | 1996-03-28 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and its mounting structure |
| JPH09139573A (ja) * | 1995-09-14 | 1997-05-27 | Nec Corp | 多層プリント基板 |
| JP2003023271A (ja) * | 2001-03-21 | 2003-01-24 | Siemens Ag | 電子装置 |
| US6678169B2 (en) | 2000-05-31 | 2004-01-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Printed circuit board and electronic equipment using the board |
-
1986
- 1986-09-10 JP JP61213448A patent/JPS6369295A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03106053A (ja) * | 1989-09-15 | 1991-05-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | キャリアに載置されたvlsiチップ用設計システムおよびこれにより設計したモジュール |
| WO1996009645A1 (en) * | 1994-09-20 | 1996-03-28 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and its mounting structure |
| JPH09139573A (ja) * | 1995-09-14 | 1997-05-27 | Nec Corp | 多層プリント基板 |
| US6678169B2 (en) | 2000-05-31 | 2004-01-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Printed circuit board and electronic equipment using the board |
| JP2003023271A (ja) * | 2001-03-21 | 2003-01-24 | Siemens Ag | 電子装置 |
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