JPS6369977A - 均一な被膜を形成する為の光cvd装置 - Google Patents
均一な被膜を形成する為の光cvd装置Info
- Publication number
- JPS6369977A JPS6369977A JP21332586A JP21332586A JPS6369977A JP S6369977 A JPS6369977 A JP S6369977A JP 21332586 A JP21332586 A JP 21332586A JP 21332586 A JP21332586 A JP 21332586A JP S6369977 A JPS6369977 A JP S6369977A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- light source
- cart
- holder
- illuminance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 36
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 3
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 abstract description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000376 reactant Substances 0.000 abstract 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「発明の利用分野」
本発明は、半導体作製に用いられる光CVD装置に関す
るものである。
るものである。
「従来技術」
近年、超LSIに代表される半導体の高密度化が進み、
それと共にその作製に用いられる種々の装置の性能に高
い要求がなされる様になってきている。
それと共にその作製に用いられる種々の装置の性能に高
い要求がなされる様になってきている。
現在、半導体装置は、シリコン基板上にCVD装置、又
はスパッタリング装置を用いて種々の半導体膜、導体膜
、絶縁体膜を積層させると共に、適時、エツチングを行
ない所望の構成を得ている。この際、各膜厚は、主に膜
形成時間を適宜設定することによって調整している。
はスパッタリング装置を用いて種々の半導体膜、導体膜
、絶縁体膜を積層させると共に、適時、エツチングを行
ない所望の構成を得ている。この際、各膜厚は、主に膜
形成時間を適宜設定することによって調整している。
この中で、CVD装置、特に光CVD装置は、低温で膜
形成を行ない得るもので、窒化シリコン膜形成等に好都
合なものである。
形成を行ない得るもので、窒化シリコン膜形成等に好都
合なものである。
この膜厚は半導体基板上でのバラツキは、±10%以内
にすることが望ましく、光CVD装置の場合光源の選定
及びその配置にはそれなりの工夫が必要とされる。具体
的には、基板上に多数の光源を平行に配置して、基板に
対して直角で一様な光を作ることが望ましいが、有限個
の光源を用いて基板上での光度を一定にすることは理論
的に不可能であり、しかも、光源を多数設けることは、
電源ラインの本数が増え、それらの間で放電が起こる等
の不都合がある。
にすることが望ましく、光CVD装置の場合光源の選定
及びその配置にはそれなりの工夫が必要とされる。具体
的には、基板上に多数の光源を平行に配置して、基板に
対して直角で一様な光を作ることが望ましいが、有限個
の光源を用いて基板上での光度を一定にすることは理論
的に不可能であり、しかも、光源を多数設けることは、
電源ラインの本数が増え、それらの間で放電が起こる等
の不都合がある。
「発明の目的」
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであリ、その
目的は、各基板間、及び個々の基板上での膜厚を均一に
して被膜形成をすることの出来る光CVD装置を提供す
ることである。
目的は、各基板間、及び個々の基板上での膜厚を均一に
して被膜形成をすることの出来る光CVD装置を提供す
ることである。
「発明の構成」
前記目的を達成する為に、本発明は、真空チャンバと、
真空ポンプと、前記真空チャンバ内のカートと、前記カ
ートを照射する光源と被膜形成時に前記カートと前記光
源との位置を変化させる手段とから光CVD装置を構成
した。
真空ポンプと、前記真空チャンバ内のカートと、前記カ
ートを照射する光源と被膜形成時に前記カートと前記光
源との位置を変化させる手段とから光CVD装置を構成
した。
「実施例」
第1図及び第2図は、本発明になる光照射機構を用いた
光CVD装置を示す断面図である。
光CVD装置を示す断面図である。
図中、光CVD装置lは、チャンバ3、紫外線光源5、
正六角形状の基板ホルダ7、回動機構9及び反応ガス導
入系11及び排出系13から成っている。光源5は、一
端の閉鎖された石英管17によって気密囲まれた水銀ラ
ンプ19から成り、膜形成を行なうべき基板15が取り
つけられた基板ホルダの周囲に等間隔で同心円上に設け
られている。モータ21は、これら光源5に囲まれた基
板ホルダ7を回動させ基板15と各光源5との相対位置
を周期的に適時変化させている。又、石英管17内は、
冷却用の窒素が循環しており、水銀ランプ19の温度が
上昇し過ぎることを防止している。
正六角形状の基板ホルダ7、回動機構9及び反応ガス導
入系11及び排出系13から成っている。光源5は、一
端の閉鎖された石英管17によって気密囲まれた水銀ラ
ンプ19から成り、膜形成を行なうべき基板15が取り
つけられた基板ホルダの周囲に等間隔で同心円上に設け
られている。モータ21は、これら光源5に囲まれた基
板ホルダ7を回動させ基板15と各光源5との相対位置
を周期的に適時変化させている。又、石英管17内は、
冷却用の窒素が循環しており、水銀ランプ19の温度が
上昇し過ぎることを防止している。
基板ホルダ7の中空内部に、加熱手段23として、ハロ
ゲンランプヒータが設けられている。このヒータ23は
、チャンバ3上部から支持されており、基板ホルダ7を
加熱している。
ゲンランプヒータが設けられている。このヒータ23は
、チャンバ3上部から支持されており、基板ホルダ7を
加熱している。
基板15は、25cmX35cmの大きさで、基板ホル
ダ7の一面当り2枚、全部で12枚取付けられている。
ダ7の一面当り2枚、全部で12枚取付けられている。
次に、このCVD装置の動作について説明す□る。
先ず膜形成を行なうべき基板15を基板ホルダ7の各回
毎に2枚づつ取付ける。チャンバ3を完全に密閉し、排
出系(真空ポンプ)13によって内部の気圧を約10−
2〜10−’torr迄下げる。次に、チャンバ3内に
、反応ガス導入系11から反応ガスを約3torrの圧
力になる迄導入する。基板15が加熱手段23によって
所定温度となった状態で、モータ21を駆動させ基板ホ
ルダ7を回転させると共に、光源5から紫外線を基板面
に向って照射する。反応ガスは、基板15上で熱と光に
よって所定の化学反応を進行させ、基板面に生成物を積
層させる。
毎に2枚づつ取付ける。チャンバ3を完全に密閉し、排
出系(真空ポンプ)13によって内部の気圧を約10−
2〜10−’torr迄下げる。次に、チャンバ3内に
、反応ガス導入系11から反応ガスを約3torrの圧
力になる迄導入する。基板15が加熱手段23によって
所定温度となった状態で、モータ21を駆動させ基板ホ
ルダ7を回転させると共に、光源5から紫外線を基板面
に向って照射する。反応ガスは、基板15上で熱と光に
よって所定の化学反応を進行させ、基板面に生成物を積
層させる。
光源5の照度及び基板ホルダの回転速度を一定に保って
膜形成を行なっても、基板上の照度バラツキは平均化さ
れるが、各基板表面での照度をより一様にするには、基
板ホルダの回転速度を一定に保つ一方、光源5の照度を
これに同期させ、適当に変化させることが効果的である
。又、これとは逆に、光源5の照度を一定に保つ一方、
基板ホルダ7の回転速度を光源5との相対位置によって
適宜変化させることも、効果が期待出来る。
膜形成を行なっても、基板上の照度バラツキは平均化さ
れるが、各基板表面での照度をより一様にするには、基
板ホルダの回転速度を一定に保つ一方、光源5の照度を
これに同期させ、適当に変化させることが効果的である
。又、これとは逆に、光源5の照度を一定に保つ一方、
基板ホルダ7の回転速度を光源5との相対位置によって
適宜変化させることも、効果が期待出来る。
尚、上記実施例は、1つの好ましい実施態様を示したも
のであり、種々の変形例が考えられる。
のであり、種々の変形例が考えられる。
そのい(つかの例を以下に示す。
基板ホルダ7の断面形状は正六角形としたが、本件発明
者の検討によれば、正12角形も充分に特徴を持つ形状
である事が分った。この場合、実施例同様各面2枚の基
板を載置するとして、合計24枚の基板を同時に処理出
来る。勿論、その伸圧方形、正八角形等の正多角形にす
る事も可能である。
者の検討によれば、正12角形も充分に特徴を持つ形状
である事が分った。この場合、実施例同様各面2枚の基
板を載置するとして、合計24枚の基板を同時に処理出
来る。勿論、その伸圧方形、正八角形等の正多角形にす
る事も可能である。
又、特殊な場合には、丸形、(非圧)多角形もあり得る
光源15は、基板ホルダ7の回転軸に対して同心円上に
配置したが、これ以外の配置も、場合によっては、より
効果的である。回転駆動機構は基板ホルダの下側に設け
られているが、これは基板ホルダの上側に設けても横側
にビニオンギアを用いて設けても良い。
配置したが、これ以外の配置も、場合によっては、より
効果的である。回転駆動機構は基板ホルダの下側に設け
られているが、これは基板ホルダの上側に設けても横側
にビニオンギアを用いて設けても良い。
「効果」
本発明によれば、均一な膜厚を持った被膜の形成が可能
な光CVD装置が得られる
な光CVD装置が得られる
第1図は、本発明の実施例を示す縦断面図である。第2
図は、本発明の実施例を示す横断面図である。
図は、本発明の実施例を示す横断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 真空チャンバと、 真空ポンプと、 前記真空チャンバ内のカートと、 前記カートを照射する光源と 被膜形成時に前記カートと前記光源との位置を変化させ
る手段とから成る光CVD装置
Priority Applications (13)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21332586A JPS6369977A (ja) | 1986-09-09 | 1986-09-09 | 均一な被膜を形成する為の光cvd装置 |
| KR1019870009832A KR910003742B1 (ko) | 1986-09-09 | 1987-09-05 | Cvd장치 |
| EP19920104124 EP0490883A1 (en) | 1986-09-09 | 1987-09-07 | CVD apparatus |
| EP87307896A EP0260097B1 (en) | 1986-09-09 | 1987-09-07 | Cvd method and apparatus |
| DE8787307896T DE3782991T2 (de) | 1986-09-09 | 1987-09-07 | Cvd-verfahren und vorrichtung. |
| CN87106283A CN1020290C (zh) | 1986-09-09 | 1987-09-09 | 化学汽相淀积装置 |
| US07/194,206 US4950624A (en) | 1986-09-09 | 1988-05-16 | Method of depositing films using photo-CVD with chamber plasma cleaning |
| US07/971,242 US5427824A (en) | 1986-09-09 | 1992-09-08 | CVD apparatus |
| US08/376,736 US5629245A (en) | 1986-09-09 | 1995-01-23 | Method for forming a multi-layer planarization structure |
| US08/769,115 US5855970A (en) | 1986-09-09 | 1996-12-18 | Method of forming a film on a substrate |
| US09/188,382 US6013338A (en) | 1986-09-09 | 1998-11-10 | CVD apparatus |
| US09/398,059 US6520189B1 (en) | 1986-09-09 | 1999-09-17 | CVD apparatus |
| US10/339,631 US20030140941A1 (en) | 1986-09-09 | 2003-01-10 | CVD apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21332586A JPS6369977A (ja) | 1986-09-09 | 1986-09-09 | 均一な被膜を形成する為の光cvd装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6369977A true JPS6369977A (ja) | 1988-03-30 |
| JPH0210866B2 JPH0210866B2 (ja) | 1990-03-09 |
Family
ID=16637282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21332586A Granted JPS6369977A (ja) | 1986-09-09 | 1986-09-09 | 均一な被膜を形成する為の光cvd装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6369977A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5522935A (en) * | 1992-02-28 | 1996-06-04 | Nec Corporation | Plasma CVD apparatus for manufacturing a semiconductor device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5424990A (en) * | 1977-07-26 | 1979-02-24 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | Gas phase polymerization of vinyl chloride and/or vinyl chlroide analogue |
| JPS5630058A (en) * | 1979-08-17 | 1981-03-26 | Kawasaki Steel Corp | Preventing method for leakage of molten steel through porus brick |
-
1986
- 1986-09-09 JP JP21332586A patent/JPS6369977A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5424990A (en) * | 1977-07-26 | 1979-02-24 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | Gas phase polymerization of vinyl chloride and/or vinyl chlroide analogue |
| JPS5630058A (en) * | 1979-08-17 | 1981-03-26 | Kawasaki Steel Corp | Preventing method for leakage of molten steel through porus brick |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5522935A (en) * | 1992-02-28 | 1996-06-04 | Nec Corporation | Plasma CVD apparatus for manufacturing a semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0210866B2 (ja) | 1990-03-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100832273B1 (ko) | 적외선에 의해 기판을 고속으로 균일하게 가열하기 위한장치 | |
| CN100501914C (zh) | 热处理设备和制造半导体器件的方法 | |
| JP2001291677A (ja) | 熱処理装置 | |
| JP2008210623A (ja) | フィラメントランプおよび光照射式加熱処理装置 | |
| JPS63307740A (ja) | 光化学反応処理装置 | |
| JP4866020B2 (ja) | 熱処理装置 | |
| CN1748285B (zh) | 用于均匀加热基片的腔室 | |
| TW200921754A (en) | Filament lamp and light irradiation type heat treatment device | |
| JPS6369977A (ja) | 均一な被膜を形成する為の光cvd装置 | |
| JPS6367727A (ja) | 光照射機構 | |
| JP2003059853A (ja) | ランプヒータおよび熱処理装置 | |
| JPS63307279A (ja) | 光化学反応処理装置 | |
| JPS59178718A (ja) | 半導体基体の処理装置 | |
| JP3443779B2 (ja) | 半導体基板の熱処理装置 | |
| TWI828238B (zh) | 加熱裝置、cvd設備及半導體製程處理的方法 | |
| JPH0420253B2 (ja) | ||
| JP4978684B2 (ja) | シリコン薄膜の処理方法およびフラッシュランプ照射装置 | |
| CN109473340A (zh) | 一种低温多晶硅的制备方法及微波加热设备 | |
| JP2004335591A (ja) | Cvd装置及び半導体装置の製造方法及び半導体装置 | |
| JPS6081819A (ja) | 赤外線熱処理装置 | |
| JPS6369976A (ja) | 光cvd装置 | |
| JP2007012846A (ja) | 光照射式加熱装置および光照射式加熱方法 | |
| JPH04259210A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS61193438A (ja) | ランプアニ−ル装置 | |
| JPS6273727A (ja) | 光励起処理装置 |