JPS637130A - 電源制御障害分離指示装置 - Google Patents
電源制御障害分離指示装置Info
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- JPS637130A JPS637130A JP62119159A JP11915987A JPS637130A JP S637130 A JPS637130 A JP S637130A JP 62119159 A JP62119159 A JP 62119159A JP 11915987 A JP11915987 A JP 11915987A JP S637130 A JPS637130 A JP S637130A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
- G05F1/569—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、電源に関し、具体的には、障害状態の影響か
らシステムを保護する障害応答手段と障害を分離するた
めの指示手段をもつ電源に関する。
らシステムを保護する障害応答手段と障害を分離するた
めの指示手段をもつ電源に関する。
B、従来技術
]ンピュータ・システムの周辺装置として使用されるプ
リンタに必要なような複数の負荷にいくつかの異なる交
流および直流電圧レベルを供給する複合電源システムで
、(システム内の回路の1つにおける不足電圧、過電圧
、過電流などの)障害状態が発生したとき、システムへ
の交流電力線を遮断するなどしてシステムを保護する手
段が通常設けられる。その場合、問題がある現場の交換
式部品を取り替えるために問題の場所と原因を突き止め
るのは、現場のサービス技術者にとって困難で時間のか
かる仕事である。
リンタに必要なような複数の負荷にいくつかの異なる交
流および直流電圧レベルを供給する複合電源システムで
、(システム内の回路の1つにおける不足電圧、過電圧
、過電流などの)障害状態が発生したとき、システムへ
の交流電力線を遮断するなどしてシステムを保護する手
段が通常設けられる。その場合、問題がある現場の交換
式部品を取り替えるために問題の場所と原因を突き止め
るのは、現場のサービス技術者にとって困難で時間のか
かる仕事である。
従来技術では障害その他の状態の場所を指示する手段を
もつシステムがいくつか提案されているが、そのどれも
複合電源システムの障害の分離に関するものではない。
もつシステムがいくつか提案されているが、そのどれも
複合電源システムの障害の分離に関するものではない。
たとえば、英国特許第2036390号では、中央制御
電話交換機などのデータ処理システムに障害が発生する
ごとに、シフト・レジスタの障害装置の識別に適した位
置に「1」ビットがセットされる。障害報告を必要とす
る場合、中央演算処理装置は、そのビットが最右端に現
れるよ、うに、レジスタをシフトしながらカウンタをク
ロックする。処理装置は、各ビットを抽出して「1」で
あるかどうか決定する。「1」でなければ、次のクロッ
ク・パルスがカラ〉トを行ない、シフト・レジスタは最
右端に次のビットを送る。「1」が見つかるまで、この
処理が繰り返される。カウンタのカウントが、どのデー
タ処理システムが障害を起こしたかを示す。
電話交換機などのデータ処理システムに障害が発生する
ごとに、シフト・レジスタの障害装置の識別に適した位
置に「1」ビットがセットされる。障害報告を必要とす
る場合、中央演算処理装置は、そのビットが最右端に現
れるよ、うに、レジスタをシフトしながらカウンタをク
ロックする。処理装置は、各ビットを抽出して「1」で
あるかどうか決定する。「1」でなければ、次のクロッ
ク・パルスがカラ〉トを行ない、シフト・レジスタは最
右端に次のビットを送る。「1」が見つかるまで、この
処理が繰り返される。カウンタのカウントが、どのデー
タ処理システムが障害を起こしたかを示す。
米国特許第4521885号には、電気自動車やリフト
付きトラシフなど電気機械システム用の診断表示装置が
開示されている。この装置は、機械動作の前および最中
に電気機械構成要素の状態を恩知し表示する。センサが
アクセルとハンドルに取り付けてあり、アクセルの位置
とハンドルの角度を表す2進化10進数即ちB CD
(binarycoded decimal )信号を
生成する。センサは、また自動車の前後移動方向を制御
する操作パネル・スイッチとバッテリに残っている充電
を示すバッテリ・レベル検出器を監視する。ソフトウェ
ア・プログラム記憶式プロセッサは、−連の検査の際に
サービス技師を指導する一連のコマンド信号を生成する
。障害要素が見つかると、診断コードが表示される。
付きトラシフなど電気機械システム用の診断表示装置が
開示されている。この装置は、機械動作の前および最中
に電気機械構成要素の状態を恩知し表示する。センサが
アクセルとハンドルに取り付けてあり、アクセルの位置
とハンドルの角度を表す2進化10進数即ちB CD
(binarycoded decimal )信号を
生成する。センサは、また自動車の前後移動方向を制御
する操作パネル・スイッチとバッテリに残っている充電
を示すバッテリ・レベル検出器を監視する。ソフトウェ
ア・プログラム記憶式プロセッサは、−連の検査の際に
サービス技師を指導する一連のコマンド信号を生成する
。障害要素が見つかると、診断コードが表示される。
米国特許第4062061号には、CPUモジュールで
制御される複写機が開示されている。
制御される複写機が開示されている。
複写機の電気機械構成要素がある種の動作上の困難にぶ
つかると、エラー・ログ中に障害フラッグがセットされ
る。表示手段が、障害位置を目に見える形で識別し、サ
ービス技術者が将来使用できるように永久記録がメモリ
に記憶される。
つかると、エラー・ログ中に障害フラッグがセットされ
る。表示手段が、障害位置を目に見える形で識別し、サ
ービス技術者が将来使用できるように永久記録がメモリ
に記憶される。
米国特許第4039813号は、ディジタル・データ装
置を診断する装置と方法に関するものである。カウンタ
を使って、選択レジスタ中にセットされたビットに開運
するアレイにアドレスする。
置を診断する装置と方法に関するものである。カウンタ
を使って、選択レジスタ中にセットされたビットに開運
するアレイにアドレスする。
アレイのアドレスの位置が、検査すべく選択された論理
システムのセクションを示す。このとき、大型論理シス
テムは、より小さなセクションに区分でき、事前にプロ
グラミングされた検査を、個々のセクションで行なって
、障害の場所を限定する。
システムのセクションを示す。このとき、大型論理シス
テムは、より小さなセクションに区分でき、事前にプロ
グラミングされた検査を、個々のセクションで行なって
、障害の場所を限定する。
カウンタが論理システムのどのセクションが検査中であ
るかを追跡して、検査で予想される結果と精度を比較で
きるようにする。
るかを追跡して、検査で予想される結果と精度を比較で
きるようにする。
C0発明が解決しようとする問題点
こうした従来技術の装置は障害を分離するには有益であ
るが、故障分難を、その後の損害を防ぐためにシステム
を遮断する手段と関連づけることは行なっていない。こ
うした従来技術システムは、どれも電源システムの障害
を分離することは行なっておらず、またシフト・レジス
タとプログラム式プロセッサを含む、使用される障害分
離のための手段は比較的複雑で高価である。
るが、故障分難を、その後の損害を防ぐためにシステム
を遮断する手段と関連づけることは行なっていない。こ
うした従来技術システムは、どれも電源システムの障害
を分離することは行なっておらず、またシフト・レジス
タとプログラム式プロセッサを含む、使用される障害分
離のための手段は比較的複雑で高価である。
D0問題点を解決するための手段
したがって、本発明の目的は、障害分離に必要な時間を
減らし、電源保護手段と障害分離を関連づける、改良さ
れた電源制御障害分離指示装置を提供することにある。
減らし、電源保護手段と障害分離を関連づける、改良さ
れた電源制御障害分離指示装置を提供することにある。
簡単に言えば、本発明の電源制御障害分離指示装置は、
電源システムのある箇所の障害状態に応じて障害指示コ
ード信号を生成する、論理回路手段をもつ。この電源制
御システムは、障害指示コード信号に応答して、−方で
は電源システムを遮断する装置を活動化させて電源シス
テムを保護し、他方では指示器を駆動させて障害状態の
位置を指示する10進数字などを表示させる。
電源システムのある箇所の障害状態に応じて障害指示コ
ード信号を生成する、論理回路手段をもつ。この電源制
御システムは、障害指示コード信号に応答して、−方で
は電源システムを遮断する装置を活動化させて電源シス
テムを保護し、他方では指示器を駆動させて障害状態の
位置を指示する10進数字などを表示させる。
本発明の電源制御障害分離指示装置は、それぞれが電源
システムのある箇所に対応する複数本のセンス線を含み
、センス線は、電源システムの対応箇所が通常の状態で
あることを表すセンス線上の第1論理レベル、およびそ
の対応箇所が障害状態であることを表す第2論理レベル
になる。論理回路手段はセンス線に接続され、1本のセ
ンス線が第2論理レベルになるのに応じて、電源システ
ムの障害状態が発生した対応する箇所を表すコード信号
を生成する。遮断手段はコード信号に応じて電源システ
ムを遮断し、指示手段はコード信号に応じて、を源シス
テムの障害状態が発生した箇所を指示する。論理回路手
段は、コード信号を記憶するラッチ手段を含み、遮断手
段および指示手段は、ラッチ手段に記憶されたコード信
号に応答する。
システムのある箇所に対応する複数本のセンス線を含み
、センス線は、電源システムの対応箇所が通常の状態で
あることを表すセンス線上の第1論理レベル、およびそ
の対応箇所が障害状態であることを表す第2論理レベル
になる。論理回路手段はセンス線に接続され、1本のセ
ンス線が第2論理レベルになるのに応じて、電源システ
ムの障害状態が発生した対応する箇所を表すコード信号
を生成する。遮断手段はコード信号に応じて電源システ
ムを遮断し、指示手段はコード信号に応じて、を源シス
テムの障害状態が発生した箇所を指示する。論理回路手
段は、コード信号を記憶するラッチ手段を含み、遮断手
段および指示手段は、ラッチ手段に記憶されたコード信
号に応答する。
監視される障害状態は、電源システムの様々な箇所での
不足電圧、過電圧および過電流状態である。電源システ
ムからの出力電圧レベルが上昇中に誤った不足電圧障害
信号が発生するのを避けるため、電源の起動手段に応答
する遅延手段が、論理回路手段をマスク即ち抑止して、
出力電圧が通常動作レベルに達するまで、不足電圧状態
に応じて誤ったコード信号が生成されるのを防止する。
不足電圧、過電圧および過電流状態である。電源システ
ムからの出力電圧レベルが上昇中に誤った不足電圧障害
信号が発生するのを避けるため、電源の起動手段に応答
する遅延手段が、論理回路手段をマスク即ち抑止して、
出力電圧が通常動作レベルに達するまで、不足電圧状態
に応じて誤ったコード信号が生成されるのを防止する。
コード信号とは、BCDコード信号のことであり、この
システムはBCDコード信号を7セグメントの指示器駆
動信号に変換する手段を備えている。この駆動信号によ
って、7セグメントの表示装置が駆動され、障害状態が
発生した箇所を表す、10進数などの文字を表示する。
システムはBCDコード信号を7セグメントの指示器駆
動信号に変換する手段を備えている。この駆動信号によ
って、7セグメントの表示装置が駆動され、障害状態が
発生した箇所を表す、10進数などの文字を表示する。
BCDのコード信号は、複数の2進数字を含み、これら
の2進数字は、すべてのセンス線上に第2論理レベルの
信号がないとき、初期値をとる。論理回路手段は、1本
のセンス線上に第2論理レベルの信号が現れると、それ
に応じて、1個または複数の2進数字の値を障害値に変
え、その結果BCDコード信号は、1本のセンス線に対
応する電源システムの箇所で障害状態が発生したことを
意味する10進数値に相当する値をとる。
の2進数字は、すべてのセンス線上に第2論理レベルの
信号がないとき、初期値をとる。論理回路手段は、1本
のセンス線上に第2論理レベルの信号が現れると、それ
に応じて、1個または複数の2進数字の値を障害値に変
え、その結果BCDコード信号は、1本のセンス線に対
応する電源システムの箇所で障害状態が発生したことを
意味する10進数値に相当する値をとる。
システムの複雑さを減らすため2こ、複数のセンス線を
まとめて、1つのコード信号で識別する。
まとめて、1つのコード信号で識別する。
これにより、論理回路手段のコストは下がるが、その代
わり、サービス技術者が必要とする障害分離時間は増加
する。
わり、サービス技術者が必要とする障害分離時間は増加
する。
本発明の論理回路手段は、各BCD数字ごとに、対応す
るセンス線に現れる第2の値に応じて障害値のBCDC
D数字倍力信号成する、第1論理ゲートを含んでいる。
るセンス線に現れる第2の値に応じて障害値のBCDC
D数字倍力信号成する、第1論理ゲートを含んでいる。
第1 N A N Dゲートは、その入力端でBCD数
字出力信号を受は取り、セット信号を生成する。ラッチ
手段は、第2NANDゲートと第3 N A N Dゲ
ートから成る。第2NANDゲートは、その入力端で第
1 N A N Dゲートからのセット信号を受は取り
、保持信号を生成して第3NANDゲートの第1入力端
に印加し、BCD数字をラッチする。第2論理ゲートは
複数個の入力端をもち、1つはラッチされたBCD数字
を受は取るように接続され、残りの入力端は残りのラッ
チされたBCD数字を受は取るように接続されている。
字出力信号を受は取り、セット信号を生成する。ラッチ
手段は、第2NANDゲートと第3 N A N Dゲ
ートから成る。第2NANDゲートは、その入力端で第
1 N A N Dゲートからのセット信号を受は取り
、保持信号を生成して第3NANDゲートの第1入力端
に印加し、BCD数字をラッチする。第2論理ゲートは
複数個の入力端をもち、1つはラッチされたBCD数字
を受は取るように接続され、残りの入力端は残りのラッ
チされたBCD数字を受は取るように接続されている。
第2 N A N Dゲートの第2入力端は第3NAN
Dゲートの出力端に接続され、ラッチされたBCD数字
を受は取る。第3 N A N Dゲートの第2入力端
は、電源システムをオンにする起動信号が付勢されたと
き生成されるリセット信号を受は取るように接続される
。
Dゲートの出力端に接続され、ラッチされたBCD数字
を受は取る。第3 N A N Dゲートの第2入力端
は、電源システムをオンにする起動信号が付勢されたと
き生成されるリセット信号を受は取るように接続される
。
本発明の電源システムは、電源システムを交流電力線に
接続する主スィッチを制御する主リレーを含む。この電
源はさらに、P W M変調装置に接続された直流/直
流スイッチング・コンバータも含む、遮断装置がコード
信号に応答して主リレーを付勢し主スィッチを開いて、
交流電力線から電源を切り離す。またこの遮断装置は、
PWM変調器に遮断信号を印加して、PWM変調器と変
換器手段をほぼ同時に動作不能状態にする。
接続する主スィッチを制御する主リレーを含む。この電
源はさらに、P W M変調装置に接続された直流/直
流スイッチング・コンバータも含む、遮断装置がコード
信号に応答して主リレーを付勢し主スィッチを開いて、
交流電力線から電源を切り離す。またこの遮断装置は、
PWM変調器に遮断信号を印加して、PWM変調器と変
換器手段をほぼ同時に動作不能状態にする。
E、実施例
本発明を、コンピュータ・システムと共に通常使用され
る型式のプリンタの電源に関して説明する。第1図は、
本発明の原理を組み込んだこういった電源の構成図であ
る。120ボルト交流線10は、220ボルト交流線に
も接続でき、回路遮断器12と、主リレー80で制御さ
れる主スィッチ14とを介して、起動時のサージ電流を
制限する通常のイン・ラッシュ・ソフト・スタート回路
16に接続される。次いで、交流電源の1,20ポルト
が、線18を介して鉄共振変圧器組立体20に印加され
る。この変圧器組立体20は、48ポルト交流出力線2
2と出力線24を有し、出力#fA24は、220ポル
ト交流を交流モータ方向制御装置26に供給する。方向
制御装置26は、28に印加されるモータ制御信号の制
御下で、線30を介してキャリッジ交流モータ32に2
20ボルトの交流を供給する。この交流モータ32は、
プリンタの文字バンドを駆動する。
る型式のプリンタの電源に関して説明する。第1図は、
本発明の原理を組み込んだこういった電源の構成図であ
る。120ボルト交流線10は、220ボルト交流線に
も接続でき、回路遮断器12と、主リレー80で制御さ
れる主スィッチ14とを介して、起動時のサージ電流を
制限する通常のイン・ラッシュ・ソフト・スタート回路
16に接続される。次いで、交流電源の1,20ポルト
が、線18を介して鉄共振変圧器組立体20に印加され
る。この変圧器組立体20は、48ポルト交流出力線2
2と出力線24を有し、出力#fA24は、220ポル
ト交流を交流モータ方向制御装置26に供給する。方向
制御装置26は、28に印加されるモータ制御信号の制
御下で、線30を介してキャリッジ交流モータ32に2
20ボルトの交流を供給する。この交流モータ32は、
プリンタの文字バンドを駆動する。
48ボルトの交流が、線22を介して、交流/直流コン
バータすなわちバルク電圧電源34に印加される。この
電源34は、プリンタのキャリッジ直流モータ42とハ
ンマ・ソレノイド43に電力を供給する。第1の48ボ
ルトの直流呂力線36は、プリンタの直流キャリッジ・
モータに電力を供給する。−方、第2の48ボルトのM
流出力線38は、プリンタのハンマ・ソレノイドに電力
を供給する。!938は、HFC(ハンマ発射制御)リ
レー76によって制御されるスイッチ40を含んでおり
、リレー76はハンマの無秩序なタラピンクを避けるた
めに起動後暫く開いたままになっていることに注意すべ
きである。
バータすなわちバルク電圧電源34に印加される。この
電源34は、プリンタのキャリッジ直流モータ42とハ
ンマ・ソレノイド43に電力を供給する。第1の48ボ
ルトの直流呂力線36は、プリンタの直流キャリッジ・
モータに電力を供給する。−方、第2の48ボルトのM
流出力線38は、プリンタのハンマ・ソレノイドに電力
を供給する。!938は、HFC(ハンマ発射制御)リ
レー76によって制御されるスイッチ40を含んでおり
、リレー76はハンマの無秩序なタラピンクを避けるた
めに起動後暫く開いたままになっていることに注意すべ
きである。
線38からの48ボルト直流電流が、線44を介して複
数電力レベル・スイッチング・コンバータ(MPLS
)46に加えられる。MPLS46は、パルス幅変調器
(P”vVM>48と直流/直流スイッチング・コンバ
ータ50を含む。PWM48は、線82を介してMPL
S遮断信号が印加される遮断ビンを含む、Unitro
de l 525 Aパルス幅変調器でよい。後でより
詳細に説明するが、この信号が印加されると、PWMが
動作不能8態になりMPLS46を遮断する。直流/直
流スイッチング・コンバータ50は、+5、+8.5、
−5および+12の4つの論理電圧レベルをそれぞれ線
52上に供給する。これらの論理電圧レベルは、プリン
タの動作を制御するプリンタ論理ゲート54内のいくつ
かのカードに印加される。これらのカードには、キャリ
ッジ制御カード、リボンおよびバンド・モータを制御す
るバンド/リボン・カード、「エンジン」すなわちCP
Uカード、操作具が制御するパネル・ボタンと連動する
ディスケット論理回路を備えたディスク10Pパネル・
カード、RA Mカード、交流モータの方向制御を行な
うモータ・ドライバ・カード、線68を介して診断論理
機構60へ送るRFC信号を生成するハンマ発射制御論
理回路を含むハンマ発射制御カード、ハンマ・ソレノイ
ド用のアナログ回路を含むハンマ・ドライバ・カード、
DCA(直結アダプタ)とチャネル制御用のカード、お
よびDCAとチャネル制御用のインターフェースをもた
らすリンク・カードがある。
数電力レベル・スイッチング・コンバータ(MPLS
)46に加えられる。MPLS46は、パルス幅変調器
(P”vVM>48と直流/直流スイッチング・コンバ
ータ50を含む。PWM48は、線82を介してMPL
S遮断信号が印加される遮断ビンを含む、Unitro
de l 525 Aパルス幅変調器でよい。後でより
詳細に説明するが、この信号が印加されると、PWMが
動作不能8態になりMPLS46を遮断する。直流/直
流スイッチング・コンバータ50は、+5、+8.5、
−5および+12の4つの論理電圧レベルをそれぞれ線
52上に供給する。これらの論理電圧レベルは、プリン
タの動作を制御するプリンタ論理ゲート54内のいくつ
かのカードに印加される。これらのカードには、キャリ
ッジ制御カード、リボンおよびバンド・モータを制御す
るバンド/リボン・カード、「エンジン」すなわちCP
Uカード、操作具が制御するパネル・ボタンと連動する
ディスケット論理回路を備えたディスク10Pパネル・
カード、RA Mカード、交流モータの方向制御を行な
うモータ・ドライバ・カード、線68を介して診断論理
機構60へ送るRFC信号を生成するハンマ発射制御論
理回路を含むハンマ発射制御カード、ハンマ・ソレノイ
ド用のアナログ回路を含むハンマ・ドライバ・カード、
DCA(直結アダプタ)とチャネル制御用のカード、お
よびDCAとチャネル制御用のインターフェースをもた
らすリンク・カードがある。
数個のセンサがセンサ回路56に設けてあり、電源の様
々な箇所の不足電圧、過電圧および過電流収態を監視す
る。電源システム°の様々な箇所での電圧または電流の
サンプルが、数個の比較器内で基準レベルと比較され、
障害状態がないことを示す第1論理レベルの信号と障害
状態があることを示す第2論理レベルの信号を生成する
。これらの信号は、複数本のセンス綿58によって、後
で詳細に説明する診断論理機構60に印加される。
々な箇所の不足電圧、過電圧および過電流収態を監視す
る。電源システム°の様々な箇所での電圧または電流の
サンプルが、数個の比較器内で基準レベルと比較され、
障害状態がないことを示す第1論理レベルの信号と障害
状態があることを示す第2論理レベルの信号を生成する
。これらの信号は、複数本のセンス綿58によって、後
で詳細に説明する診断論理機構60に印加される。
診断論理機構60の機能には、1本のセンス線58上に
第2論理レベルの障害状態信号があるとき、それに応答
して障害表示装置64を駆動する駆動信号を線62上に
生成する機能が含まれる。この障害表示装置は、指示器
のセグメン)66a、66b、66c、66d、66e
、66f、66gを形成する7つのLEDから通常形成
される7セグメント指示器66を備えている。後で説明
するが、指示器66は、駆動されると、障害状態信号が
現れたセンス線、すなわち、電源システムの障害状態が
発生した箇所を示す数値を表示する。
第2論理レベルの障害状態信号があるとき、それに応答
して障害表示装置64を駆動する駆動信号を線62上に
生成する機能が含まれる。この障害表示装置は、指示器
のセグメン)66a、66b、66c、66d、66e
、66f、66gを形成する7つのLEDから通常形成
される7セグメント指示器66を備えている。後で説明
するが、指示器66は、駆動されると、障害状態信号が
現れたセンス線、すなわち、電源システムの障害状態が
発生した箇所を示す数値を表示する。
診断論理機構60は、後で説明する起動回路を含み、こ
の回路は、デバウンス・フリップ・フロップ73を介し
て診断論理機構60に接続されている起動スイッチ72
を閉じて、起動信号を印加することによって起動する。
の回路は、デバウンス・フリップ・フロップ73を介し
て診断論理機構60に接続されている起動スイッチ72
を閉じて、起動信号を印加することによって起動する。
電源システムに障害がないと判定された場合、電源良好
信号または電源投入リセット信号が、起動信号の印加後
0.5秒の間、リード線70を介してプリンタ論理ゲー
ト54のRA M論理カードに印加される。RAMカー
ドは、電源良好信号または電源投入リセット信号がリー
ド線70に現れるまで抑止される。後で説明するように
、診断論理機構60はリード線74上に制御信号を生成
して、HFCリレー76を制御する。
信号または電源投入リセット信号が、起動信号の印加後
0.5秒の間、リード線70を介してプリンタ論理ゲー
ト54のRA M論理カードに印加される。RAMカー
ドは、電源良好信号または電源投入リセット信号がリー
ド線70に現れるまで抑止される。後で説明するように
、診断論理機構60はリード線74上に制御信号を生成
して、HFCリレー76を制御する。
障害状態のある場合、診断論理機構60は、リード線7
8上で遮断信号を生成する。この信号により、主リレー
80がスイッチ14を開き、それによって線10からの
交流電力線回路が開かれる。
8上で遮断信号を生成する。この信号により、主リレー
80がスイッチ14を開き、それによって線10からの
交流電力線回路が開かれる。
主リレーは比較的ゆっくり動作するので、M P LS
遮断信号はリード#Ji82を介してMPLS46のP
WM48の遮断ビンにも印加され、M P L Sを迅
速に遮断させてM P L Sとプリンタ論理ゲート5
4の損傷を防止する。診断論理機構60とセンサ56に
、主スィッチ14の状態によって影響を受けないバイア
ス電圧を供給する必要がある。こうすると、センサ56
と診断論理機構60は、スイッチ14が開くときに電源
システムの状態を監視しその状態に応答できるようにな
る。すなわち、交流/直流スイッチング・バイアス電源
84は、スイッチ14の供給線側に接続される。i!源
84は、リード、t185を介して診断論理機構60に
、またリード線86を介してセンサ56にバイアス電圧
を供給する。
遮断信号はリード#Ji82を介してMPLS46のP
WM48の遮断ビンにも印加され、M P L Sを迅
速に遮断させてM P L Sとプリンタ論理ゲート5
4の損傷を防止する。診断論理機構60とセンサ56に
、主スィッチ14の状態によって影響を受けないバイア
ス電圧を供給する必要がある。こうすると、センサ56
と診断論理機構60は、スイッチ14が開くときに電源
システムの状態を監視しその状態に応答できるようにな
る。すなわち、交流/直流スイッチング・バイアス電源
84は、スイッチ14の供給線側に接続される。i!源
84は、リード、t185を介して診断論理機構60に
、またリード線86を介してセンサ56にバイアス電圧
を供給する。
センサ回路に監視された電圧と電流を供給するため、数
個のビック・オフ手段が使用される。ビック・オフ手段
87は、線22に直接接続でき、線22上の電圧を抽出
し、電圧サンプルをリード線88を介してセンサ回路5
6内の比較器に印加する。この比較器56は、線22上
の鉄共振変圧器組立体20からの電圧出力が不足電圧状
態にあるとき、センス線58のうちの1本に障害信号を
供給する。ビック・オフ手段89は、48ポルトの直流
線36を介してプリンタ・キャリッジ・モータ42に電
圧と電流のサンプルを送る。電圧サンプルは、IJI3
6への直接接続によって獲得できる。
個のビック・オフ手段が使用される。ビック・オフ手段
87は、線22に直接接続でき、線22上の電圧を抽出
し、電圧サンプルをリード線88を介してセンサ回路5
6内の比較器に印加する。この比較器56は、線22上
の鉄共振変圧器組立体20からの電圧出力が不足電圧状
態にあるとき、センス線58のうちの1本に障害信号を
供給する。ビック・オフ手段89は、48ポルトの直流
線36を介してプリンタ・キャリッジ・モータ42に電
圧と電流のサンプルを送る。電圧サンプルは、IJI3
6への直接接続によって獲得できる。
−方、電流サンプルは、線36に直列接続された抵抗器
または線36に接続されたコイルから獲得できる。線3
6上の電圧と電流を表すサンプルが、リード!190を
介してセンサ回路56内の比較器に印加される。これら
の比較器は、線36上の電圧が不足電圧であるときおよ
びその電流が高過ぎるときに、センス線58のうち当該
の線を介して障害信号を供給する。ビック・オフ手段9
1は、リード線92を介してセンサ回路56の比較器に
ハンマ電圧供給#J138中の電流のサンプルを供給す
る。この比較器は、1Jit38が過電流状態である場
合にセンス線58のうち当該の線を介して障害信号を送
る。線36と38上の電圧は同じ電源34から到来する
ので、ハンマ線38用の別個の不足電圧センサは不要で
ある。
または線36に接続されたコイルから獲得できる。線3
6上の電圧と電流を表すサンプルが、リード!190を
介してセンサ回路56内の比較器に印加される。これら
の比較器は、線36上の電圧が不足電圧であるときおよ
びその電流が高過ぎるときに、センス線58のうち当該
の線を介して障害信号を供給する。ビック・オフ手段9
1は、リード線92を介してセンサ回路56の比較器に
ハンマ電圧供給#J138中の電流のサンプルを供給す
る。この比較器は、1Jit38が過電流状態である場
合にセンス線58のうち当該の線を介して障害信号を送
る。線36と38上の電圧は同じ電源34から到来する
ので、ハンマ線38用の別個の不足電圧センサは不要で
ある。
ビック・オフ手段9゛3は、リード線94を介してセン
サ回路56内の比較器に論理電圧#s52中の電圧と電
流のサンプルを供給す−る。これらの比較器は、論理電
圧線52が過電流と不足電圧状態であり、また論理電圧
uA52の1本が過電圧状態である場合に、センス線5
8のうち当該の線上に障害信号を生成する。
サ回路56内の比較器に論理電圧#s52中の電圧と電
流のサンプルを供給す−る。これらの比較器は、論理電
圧線52が過電流と不足電圧状態であり、また論理電圧
uA52の1本が過電圧状態である場合に、センス線5
8のうち当該の線上に障害信号を生成する。
第2図は、従来のTTL論理回路を使って構成した診断
論理機構60の概略回路図である。センス線101ない
し113は、センス線58に相当する。こうしたセンス
線上の信号は、障害状態がない場合に高レベルとなり、
第1図の電源システムの対応箇所に障害状態が発生した
とき、低レベルになる。センス$8101は、48ボル
トの直流キャリッジ線36が不足電圧状態であるかどう
か監視し、センス線102は、線36が過電流8態であ
るかどうか監視する。ハンマの48ボルト直流線38の
過電流状態は、センス線103で監視される。鉄共振変
換器回路20からの48ボルト交流出力線22の不足電
圧状態は、センスUA104で感知される。論理電圧線
52の+5ボルト線は、センス線105で不足電圧状態
であるかどうか、またセンス、u106で過電圧状態で
あるかどうか監視される。+8.5ボルト、−5ボルト
および+12ボルトの論理電圧線が不足電圧状態のとき
、それぞれ、センス線107.108および109に信
号が出る。−5ボルト、+5ボルト、+8.5ボルトお
よび+12ボルトの論理電圧線が過電流状態のとき、そ
れぞれ、センス、線110.111.112および11
3に信号が出る。
論理機構60の概略回路図である。センス線101ない
し113は、センス線58に相当する。こうしたセンス
線上の信号は、障害状態がない場合に高レベルとなり、
第1図の電源システムの対応箇所に障害状態が発生した
とき、低レベルになる。センス$8101は、48ボル
トの直流キャリッジ線36が不足電圧状態であるかどう
か監視し、センス線102は、線36が過電流8態であ
るかどうか監視する。ハンマの48ボルト直流線38の
過電流状態は、センス線103で監視される。鉄共振変
換器回路20からの48ボルト交流出力線22の不足電
圧状態は、センスUA104で感知される。論理電圧線
52の+5ボルト線は、センス線105で不足電圧状態
であるかどうか、またセンス、u106で過電圧状態で
あるかどうか監視される。+8.5ボルト、−5ボルト
および+12ボルトの論理電圧線が不足電圧状態のとき
、それぞれ、センス線107.108および109に信
号が出る。−5ボルト、+5ボルト、+8.5ボルトお
よび+12ボルトの論理電圧線が過電流状態のとき、そ
れぞれ、センス、線110.111.112および11
3に信号が出る。
不足電圧センサは、起動信号が電源システムの動作を開
始させるとき誤った障害状態信号を供給するので、後述
の遅延回路を使って、電源システムの出力電圧レベルが
起動後の動作レベルに達するまで、不足電圧障害状態へ
の応答を抑止する。
始させるとき誤った障害状態信号を供給するので、後述
の遅延回路を使って、電源システムの出力電圧レベルが
起動後の動作レベルに達するまで、不足電圧障害状態へ
の応答を抑止する。
このため、5つの起動遅延ORゲート115.116.
117.118.119が設けである。起動遅延回路1
20は、遅延期間が完了するまで、線121に高論理レ
ベル信号を供給する。この信号は、ORゲート115.
116.117.118の一方の入力端に印加され、こ
れらのORゲートの他方の入力端は、センス線101.
102.103.104に接続されている一0ORゲー
ト119は、また−方の入力端で線121から遅延信号
を受は取る。センス線105は、ANDゲート122の
入力端に接続され、A N Dゲート122の出力線1
23はORゲート119の他方の入力端に接続されてい
る。センス!107.108.109は、A N Dゲ
ート124の3つの入力端に接続され、ANDゲート1
24の出力線125はANDゲート122の第2の入力
端に接続されている。
117.118.119が設けである。起動遅延回路1
20は、遅延期間が完了するまで、線121に高論理レ
ベル信号を供給する。この信号は、ORゲート115.
116.117.118の一方の入力端に印加され、こ
れらのORゲートの他方の入力端は、センス線101.
102.103.104に接続されている一0ORゲー
ト119は、また−方の入力端で線121から遅延信号
を受は取る。センス線105は、ANDゲート122の
入力端に接続され、A N Dゲート122の出力線1
23はORゲート119の他方の入力端に接続されてい
る。センス!107.108.109は、A N Dゲ
ート124の3つの入力端に接続され、ANDゲート1
24の出力線125はANDゲート122の第2の入力
端に接続されている。
ORゲート115の出力!127は、ORゲート128
の1人力を供給する。Ortゲート118の出力411
29は、インバータ130を介してORゲート128の
第2の入力端131に接続されている。ANDゲート1
32は、1つの入力端がセンス線106に接続され、第
2の入力端がORゲート119の出力線133に接続さ
れている。
の1人力を供給する。Ortゲート118の出力411
29は、インバータ130を介してORゲート128の
第2の入力端131に接続されている。ANDゲート1
32は、1つの入力端がセンス線106に接続され、第
2の入力端がORゲート119の出力線133に接続さ
れている。
ANDゲート132の出力線135には、MPLS
OKと記しである。というのは、ANDゲート132の
出力が高レベルのときは、MPLS50からの論理電圧
線52がすべて不足電圧状態または過電流状態でないこ
とを示すからである。この出力線135の出力は、AN
Dゲート136に1人力として印加され、ANDゲート
136の他方の入力端はORゲート116からの出力1
37を受は取る。
OKと記しである。というのは、ANDゲート132の
出力が高レベルのときは、MPLS50からの論理電圧
線52がすべて不足電圧状態または過電流状態でないこ
とを示すからである。この出力線135の出力は、AN
Dゲート136に1人力として印加され、ANDゲート
136の他方の入力端はORゲート116からの出力1
37を受は取る。
現在説明している診断論理機構60の論理回路手段の目
的は、センス線101ないし113の任意の線上の障害
信号をBCD信号に変換することである。図の例では、
そのBCD信号は4桁のBCD信号である。そして、そ
の論理回路は、4つのBCD数字の値を決定する4つの
論理ゲートをもつ、これらのBCD数字決定用ゲートの
1つは、N A N Dゲート138である。NAND
ゲート138の4つの入力は、ORゲート116の出力
線137、ORゲート117の出力線141、ORゲー
ト128の出力線139およびセンスtril13から
受は取る。
的は、センス線101ないし113の任意の線上の障害
信号をBCD信号に変換することである。図の例では、
そのBCD信号は4桁のBCD信号である。そして、そ
の論理回路は、4つのBCD数字の値を決定する4つの
論理ゲートをもつ、これらのBCD数字決定用ゲートの
1つは、N A N Dゲート138である。NAND
ゲート138の4つの入力は、ORゲート116の出力
線137、ORゲート117の出力線141、ORゲー
ト128の出力線139およびセンスtril13から
受は取る。
第2のBCD数字決定用ゲートはN A N Dゲート
142であり、ANDゲート186の出力1.1A 1
43からの第1人力、ORゲート128の出力線139
からの第2人力、ORゲート118の出力線129から
の第3人力およびセンス!111からの第4人力を有す
る。
142であり、ANDゲート186の出力1.1A 1
43からの第1人力、ORゲート128の出力線139
からの第2人力、ORゲート118の出力線129から
の第3人力およびセンス!111からの第4人力を有す
る。
ANDゲート144は、ORゲート118の出力線12
9、ORゲート117の出力線141およびセンス線1
12からの3つの入力を有する。
9、ORゲート117の出力線141およびセンス線1
12からの3つの入力を有する。
ANDゲート144の出力、J147は、第3のBCD
数字決定用N A N Dゲート146に入力を供給す
る。N A N Dゲート146の他の3つの人力は、
センス線113、A N Dゲート136の出力線14
3およびセンス線111から得られる。
数字決定用N A N Dゲート146に入力を供給す
る。N A N Dゲート146の他の3つの人力は、
センス線113、A N Dゲート136の出力線14
3およびセンス線111から得られる。
ANDゲート148は、インバータ156と共に、第4
のBCD数字決定用ゲートを構成する。
のBCD数字決定用ゲートを構成する。
ANDゲート148の3つの入力は、ORゲート128
の出力Iu1139、AN D’7”−) 144(7
)出力、tlil147およびセンス)JIIIOから
得られる。
の出力Iu1139、AN D’7”−) 144(7
)出力、tlil147およびセンス)JIIIOから
得られる。
インバータ156はANDゲート148の出力155を
受は取り、セットN A N Dゲート158に出力線
157の出力を供給する。N A N Dゲート158
の出力線はセット・リセット・ラッチ166のセット端
末に接続されている。NANDゲート158へのもう一
方の入力は、MPLS遮断信号が印加される線189か
ら得られる。
受は取り、セットN A N Dゲート158に出力線
157の出力を供給する。N A N Dゲート158
の出力線はセット・リセット・ラッチ166のセット端
末に接続されている。NANDゲート158へのもう一
方の入力は、MPLS遮断信号が印加される線189か
ら得られる。
N A N Dゲート138の出力線149の出力は、
セットNANDゲート150への人力として印加され、
ゲート150のもう一方の人力は線189から得られる
。NANDゲート150の出力線は、セット・リセット
・ラッチ160のセット入力端に接続されている。
セットNANDゲート150への人力として印加され、
ゲート150のもう一方の人力は線189から得られる
。NANDゲート150の出力線は、セット・リセット
・ラッチ160のセット入力端に接続されている。
N A N Dゲート146の出力線151は、セット
NANDゲート152の1つの入力端に接続されている
。NANDゲート152のもう1つの入力端は線189
に接続されている。NANDゲート152の出力は、セ
ット・リセット・ラッチ162のセット入力端に印加さ
れる。
NANDゲート152の1つの入力端に接続されている
。NANDゲート152のもう1つの入力端は線189
に接続されている。NANDゲート152の出力は、セ
ット・リセット・ラッチ162のセット入力端に印加さ
れる。
N A N Dゲート142の出力153は、セットN
A N Dゲート154に1人力として印加される。
A N Dゲート154に1人力として印加される。
NANDゲート154の第2の入力端は、4g1189
に接続されている。NANDゲート154の出力線は、
セット・リセット・ラッ・チ164のセット入力端に接
続されている。
に接続されている。NANDゲート154の出力線は、
セット・リセット・ラッ・チ164のセット入力端に接
続されている。
ラッチ160の出力Q1、ラッチ164の出力Q2、ラ
ッチ166の出力Q4およびラッチ162の出力Q8は
、論理回路の4桁のBCD出力信号を構成する。このB
CD信号が、7セグメント障害表示装置64へ駆動信号
を供給する、BCD−7セグメント・デコーダ168に
印加される。これらの駆動信号は、330オームの抵抗
器R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7を介して
、表示装置64に接続されているジャック170のビン
e、d%c%b、a、g、fに印加され、7セグメント
表示装置の表示セグメント66e、66d、66b、6
6a、86g、66fを駆動する。
ッチ166の出力Q4およびラッチ162の出力Q8は
、論理回路の4桁のBCD出力信号を構成する。このB
CD信号が、7セグメント障害表示装置64へ駆動信号
を供給する、BCD−7セグメント・デコーダ168に
印加される。これらの駆動信号は、330オームの抵抗
器R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7を介して
、表示装置64に接続されているジャック170のビン
e、d%c%b、a、g、fに印加され、7セグメント
表示装置の表示セグメント66e、66d、66b、6
6a、86g、66fを駆動する。
起動遅延回″#r120は、5000オームの抵抗器R
8を介して+5ボルトのバイアス端子に接続されている
、起動入力端子172を有する。起動スイッチ72(第
1図参照)は、閉じると、起動端子172の電圧を降下
させる。低レベルの信号が、インバータ174と線17
5を介してラッチ160.162.164および168
のリセット端子に入力され、起動スイッチ72が閉じる
ときラッチをリセットする。
8を介して+5ボルトのバイアス端子に接続されている
、起動入力端子172を有する。起動スイッチ72(第
1図参照)は、閉じると、起動端子172の電圧を降下
させる。低レベルの信号が、インバータ174と線17
5を介してラッチ160.162.164および168
のリセット端子に入力され、起動スイッチ72が閉じる
ときラッチをリセットする。
起動遅延回路120の遅延機能が始動するのは、低レベ
ルの起動信号が、インバータ176に印加されるときで
ある。インバータ176の出力線177は3000オー
ムの抵抗器R9を介して+5ボルトのバイアス電源に、
また91,000オームの抵抗器RIOと10マイクロ
フアラツドのコンデンサC1から形成される時定数回路
に接続されている。抵抗器R10は、出力!177と比
較器180の1つの入力リード線178の間で直列に接
続されている。比較器180の他方の入力リード線は、
基準電圧として作用する+3ボルトのバイアス電源に接
続されている。コンデンサC1は、リード線178と接
地端子の間に接続されている。
ルの起動信号が、インバータ176に印加されるときで
ある。インバータ176の出力線177は3000オー
ムの抵抗器R9を介して+5ボルトのバイアス電源に、
また91,000オームの抵抗器RIOと10マイクロ
フアラツドのコンデンサC1から形成される時定数回路
に接続されている。抵抗器R10は、出力!177と比
較器180の1つの入力リード線178の間で直列に接
続されている。比較器180の他方の入力リード線は、
基準電圧として作用する+3ボルトのバイアス電源に接
続されている。コンデンサC1は、リード線178と接
地端子の間に接続されている。
インバータ176の出力41177は、起動時に高レベ
ルになる。そして、コンデンサC1は、コンデンサC1
の電荷が比較器180の+3ボルト直流閾値電圧に到達
してその出力線・121を低レベルにするまで、抵抗器
R9とR10を介して+5ボルト・バイアス電源から充
電を開始する。比較器180の出力#jfi 121は
、10,000オームの抵抗器allを介して+5ボル
トのバイアス電圧電源に接続されている。遅延回路の時
定数のため、出力線121の高レベル信号は、0.5秒
遅延され、上記で説明したように、遅延マスク信号とし
てORゲート115.116.117.118.119
に印加される。ダイオードC11は、抵抗器RIOと並
列接続されており、インバータ176からの出力Ij1
177が低レベルとなり次の遅延に対し遅延回路をリセ
ットするときに、急速にコンデンサC1の電荷をダンプ
する放電経路をもたらす。
ルになる。そして、コンデンサC1は、コンデンサC1
の電荷が比較器180の+3ボルト直流閾値電圧に到達
してその出力線・121を低レベルにするまで、抵抗器
R9とR10を介して+5ボルト・バイアス電源から充
電を開始する。比較器180の出力#jfi 121は
、10,000オームの抵抗器allを介して+5ボル
トのバイアス電圧電源に接続されている。遅延回路の時
定数のため、出力線121の高レベル信号は、0.5秒
遅延され、上記で説明したように、遅延マスク信号とし
てORゲート115.116.117.118.119
に印加される。ダイオードC11は、抵抗器RIOと並
列接続されており、インバータ176からの出力Ij1
177が低レベルとなり次の遅延に対し遅延回路をリセ
ットするときに、急速にコンデンサC1の電荷をダンプ
する放電経路をもたらす。
出力線121の低レベル信号は、またインバータ182
を介して、出力リード線183上の高レベル信号として
ANDゲート184の1つの入力端に印加される。AN
Dゲート184から電力良好信号が出力線185上に現
れる。0.1マイクロフアラツドのコンデンサC2が、
リード線183と接地端子の間に接続され、電力良好信
号が生成されるとき30マイクロ秒の遅延をもたらすた
め、論理回路手段が不足電圧センサに応答する時間の余
裕がでる。
を介して、出力リード線183上の高レベル信号として
ANDゲート184の1つの入力端に印加される。AN
Dゲート184から電力良好信号が出力線185上に現
れる。0.1マイクロフアラツドのコンデンサC2が、
リード線183と接地端子の間に接続され、電力良好信
号が生成されるとき30マイクロ秒の遅延をもたらすた
め、論理回路手段が不足電圧センサに応答する時間の余
裕がでる。
リード線Q1、Q2、Q4、Q8上に現れるBCD数字
は、それぞれN A N Dゲート186に人力を供給
する。値1111をもつBCD信号は、障害収態がない
ことを意味するので、電源システムの任意の箇所で障害
状態の出現が検出されると、リード#JIQ1、Q2、
Q4、Q8のうちの1杢に少なくとも1つの「0」デイ
ジットが生成されて、NANDゲート186からその出
力l!!187上km高レベル出力をもたらす。この出
力線187上の高レベル信号は、インバータ188を介
して、低レベル信号として、ANDゲート184の第2
入力端に接続されたリード線189に印加される。
は、それぞれN A N Dゲート186に人力を供給
する。値1111をもつBCD信号は、障害収態がない
ことを意味するので、電源システムの任意の箇所で障害
状態の出現が検出されると、リード#JIQ1、Q2、
Q4、Q8のうちの1杢に少なくとも1つの「0」デイ
ジットが生成されて、NANDゲート186からその出
力l!!187上km高レベル出力をもたらす。この出
力線187上の高レベル信号は、インバータ188を介
して、低レベル信号として、ANDゲート184の第2
入力端に接続されたリード線189に印加される。
すなわち、BCD信号または起動遅延期間の存在によっ
て障害が指示されると、ANDゲート184からの電力
良好信号の生成が抑制される。リード線189は、MP
LS遠隔遮断信号を供給し、NANDゲート150.1
52.154.158の入力端に接続されている。この
信号は、第1図に示すように、リード線82を介してM
P L S 46のP W M 48に印加される。
て障害が指示されると、ANDゲート184からの電力
良好信号の生成が抑制される。リード線189は、MP
LS遠隔遮断信号を供給し、NANDゲート150.1
52.154.158の入力端に接続されている。この
信号は、第1図に示すように、リード線82を介してM
P L S 46のP W M 48に印加される。
ハンマ発射制御カードで生成されたHFC信号は、HF
C端子190に印加される。HFC端子190は、5,
100オームの抵抗器R2を介して+5ボルト電源に接
続され、またコンデンサC3を介して接地されている。
C端子190に印加される。HFC端子190は、5,
100オームの抵抗器R2を介して+5ボルト電源に接
続され、またコンデンサC3を介して接地されている。
端子190は、ORゲート192への1人力を供給する
。ゲート192の他方の入力は、リード線187から得
られる。
。ゲート192の他方の入力は、リード線187から得
られる。
ORゲート192の出力!193の出力は、ORゲート
194に1人力として印加され、ORゲート194の他
方の入力端は、リード線121に接続されている。OR
ゲート194の出力線195の出力は、2重ORドライ
バ196の1つの入力端に印加される。
194に1人力として印加され、ORゲート194の他
方の入力端は、リード線121に接続されている。OR
ゲート194の出力線195の出力は、2重ORドライ
バ196の1つの入力端に印加される。
第3図に示すように、2重ORドライバ196は、−対
のNORゲート196aと196bを含む、各NORゲ
ートの1つの入力端は、起動端子172に接続されてい
る。NORゲート196aのもう1つの入力端は、リー
ド線187に接続されている。−方、出力!195は、
NORゲート196bの第2入力端に接続されている。
のNORゲート196aと196bを含む、各NORゲ
ートの1つの入力端は、起動端子172に接続されてい
る。NORゲート196aのもう1つの入力端は、リー
ド線187に接続されている。−方、出力!195は、
NORゲート196bの第2入力端に接続されている。
NORゲー)198aの出力線は、NPNトランジスタ
Qaのベース電極に接続され、トランジスタQaのエミ
ッタは接地端子199に接続されている。
Qaのベース電極に接続され、トランジスタQaのエミ
ッタは接地端子199に接続されている。
主リレー・コイルに1は、逆バイアスされたスナバ・ダ
イオードCrt2と並列で、トランジスタQaのコレク
タから端子197を介してスイッチ72aに接続されて
いる。スイッチ72aは、起動スイッチ72と連動し、
それが閉じると、コイルに1がバイアス電源84の+2
4ボルト電源端子199aに接続される。スイッチ72
aは、起動スイッチ72が開いているとき、コイルに1
の回路が開くようにする。上記に説明したように、起動
スイッチ72は、デバウンス・フリップ・フロップ73
を介して起動端子172に接続されている。
イオードCrt2と並列で、トランジスタQaのコレク
タから端子197を介してスイッチ72aに接続されて
いる。スイッチ72aは、起動スイッチ72と連動し、
それが閉じると、コイルに1がバイアス電源84の+2
4ボルト電源端子199aに接続される。スイッチ72
aは、起動スイッチ72が開いているとき、コイルに1
の回路が開くようにする。上記に説明したように、起動
スイッチ72は、デバウンス・フリップ・フロップ73
を介して起動端子172に接続されている。
NORゲート196bの出力線は、NPNトランジスタ
Qbのベース電極に接続さ−れ、トランジスタQbのエ
ミッタは、接地端子199に接続されている。HFCリ
レー・コイルに2は、トランジスタQbのコレクタと+
24ボルトのバイアス端子199aの間に接続されてい
る。スナバ・ダイオードCrt3は逆バイアスされ、コ
イルに2の両端間に接続されている。N0Ftゲー)1
96aへの両方の人力が低レベルの場合、トランジスタ
Qaは導通してコイルに1の回路を完成させ、スイッチ
14が閉じる。−方、NORゲート196aへのどちら
か一方もしくは両方の入力が高レベルの場合、トランジ
スタQaは非導通になり、リレー・コイルに1の回路を
開いて、スイッチ14が開く。
Qbのベース電極に接続さ−れ、トランジスタQbのエ
ミッタは、接地端子199に接続されている。HFCリ
レー・コイルに2は、トランジスタQbのコレクタと+
24ボルトのバイアス端子199aの間に接続されてい
る。スナバ・ダイオードCrt3は逆バイアスされ、コ
イルに2の両端間に接続されている。N0Ftゲー)1
96aへの両方の人力が低レベルの場合、トランジスタ
Qaは導通してコイルに1の回路を完成させ、スイッチ
14が閉じる。−方、NORゲート196aへのどちら
か一方もしくは両方の入力が高レベルの場合、トランジ
スタQaは非導通になり、リレー・コイルに1の回路を
開いて、スイッチ14が開く。
同様に、NORゲート196bへの両方の人力が低レベ
ルの場合、トランジスタQbは導通してHFCリレー・
コイルに2を付勢させ、スイッチ40を閉じる。すなわ
ち、HFC信号が端子190上にある場合、NANDゲ
ート186は、障害がないことを示し、線21上の遅延
信号が終了し、スイッチ40が閉じる。NORゲート1
96bへのどちらか一方もしくは両方の入力が高レベル
の場合、トランジスタQbは非導通になり、スイッチ4
0が開く。
ルの場合、トランジスタQbは導通してHFCリレー・
コイルに2を付勢させ、スイッチ40を閉じる。すなわ
ち、HFC信号が端子190上にある場合、NANDゲ
ート186は、障害がないことを示し、線21上の遅延
信号が終了し、スイッチ40が閉じる。NORゲート1
96bへのどちらか一方もしくは両方の入力が高レベル
の場合、トランジスタQbは非導通になり、スイッチ4
0が開く。
診断論理機構60の論理回路に使用されているNAND
ゲートとANDゲートの動作が、第4A図と第4B図に
説明されている。第4A図のNANDゲート200は、
人力A1とB1および出力F1を有する。NAND真理
値表に示しであるように、rOJは低TTL (接地)
レベル、「1」は高TTL(+5ボルト直流)を表し、
入力端A1と81の両方に高レベル信号があるときだけ
、出力端F1に低レベル信号が生成される。−方、入力
A1と81の他の組合せのときは、すべて出力端F1に
高レベル信号が生成される。第4B図のANDゲート2
02は、入力A2と82が両方共高レベルのときだけ、
F2で高レベル出力を生成する。他のいかなる入力信号
の組合せのときでも、出力端F2に低レベル信号が発生
する。
ゲートとANDゲートの動作が、第4A図と第4B図に
説明されている。第4A図のNANDゲート200は、
人力A1とB1および出力F1を有する。NAND真理
値表に示しであるように、rOJは低TTL (接地)
レベル、「1」は高TTL(+5ボルト直流)を表し、
入力端A1と81の両方に高レベル信号があるときだけ
、出力端F1に低レベル信号が生成される。−方、入力
A1と81の他の組合せのときは、すべて出力端F1に
高レベル信号が生成される。第4B図のANDゲート2
02は、入力A2と82が両方共高レベルのときだけ、
F2で高レベル出力を生成する。他のいかなる入力信号
の組合せのときでも、出力端F2に低レベル信号が発生
する。
第7図は、第2図に示す論理回路に部分的に対応するB
CDコード信号の単一デイジットの形成と保持を示すが
、第7図を第8図のタイミング図と一緒に使って、この
動作を説明することにする。
CDコード信号の単一デイジットの形成と保持を示すが
、第7図を第8図のタイミング図と一緒に使って、この
動作を説明することにする。
第7図で、NANDゲート138は、BCD数字決定用
論理回路の1つであり、センス線113と、それぞれセ
ンス線102.103および101に対応するリード線
137.141および139から入力を受は取る。NA
NDゲート138からの線149上の出力が、セットN
A N Dゲート150に印加される。 N A N
Dゲート150は、リード4$206’lr:介して
2つのNANDゲート210と212から成るセット・
リセット・ラッチ162にセット信号を供給する。リー
ド線121上のN’ANDゲート210がらの保持出力
が、NANDゲート212の一方の入力端に印加される
。NANDゲート212の出力216は、リード線Q1
に1つのBCDデイジットを、またリードPA215を
介してN A N Dゲート21oの第2入力端にフィ
ードバック信号を供給する。NANDゲート212の第
2人力)JI213は、ラッチのリセット入力線であり
、第2図を再び参照すると、リー゛ド線175を介して
リセット信号を受は取るように接続されている。リード
線Q1上のBCDデイジットは、また他のBCDデイジ
ット線Q2、Q4およびQ8からのフィードバックとと
もに、フィードバック信号としてNANDゲート186
に印加される。NANDゲート186の出力187は、
インバータ188とリード線189を介してセットN
A N Dゲート150に第2人力として印加される。
論理回路の1つであり、センス線113と、それぞれセ
ンス線102.103および101に対応するリード線
137.141および139から入力を受は取る。NA
NDゲート138からの線149上の出力が、セットN
A N Dゲート150に印加される。 N A N
Dゲート150は、リード4$206’lr:介して
2つのNANDゲート210と212から成るセット・
リセット・ラッチ162にセット信号を供給する。リー
ド線121上のN’ANDゲート210がらの保持出力
が、NANDゲート212の一方の入力端に印加される
。NANDゲート212の出力216は、リード線Q1
に1つのBCDデイジットを、またリードPA215を
介してN A N Dゲート21oの第2入力端にフィ
ードバック信号を供給する。NANDゲート212の第
2人力)JI213は、ラッチのリセット入力線であり
、第2図を再び参照すると、リー゛ド線175を介して
リセット信号を受は取るように接続されている。リード
線Q1上のBCDデイジットは、また他のBCDデイジ
ット線Q2、Q4およびQ8からのフィードバックとと
もに、フィードバック信号としてNANDゲート186
に印加される。NANDゲート186の出力187は、
インバータ188とリード線189を介してセットN
A N Dゲート150に第2人力として印加される。
第5図では、−連のタイミング図で、障害がないときの
電源投入および電源切断過程を示している。「起動」波
形220は、端子172に印加される起動信号の論理レ
ベルを示す。「バルク電圧」波形221は、リード線3
6と38上の直流48ボルト出力の電圧レベルを示す、
rMPLS電圧」波形222は、MPLS48の出力側
の論理電圧 。
電源投入および電源切断過程を示している。「起動」波
形220は、端子172に印加される起動信号の論理レ
ベルを示す。「バルク電圧」波形221は、リード線3
6と38上の直流48ボルト出力の電圧レベルを示す、
rMPLS電圧」波形222は、MPLS48の出力側
の論理電圧 。
線52のうちの1本の電圧レベルを示す、「局部センス
」波形223は、不足電圧状態があるかどうか監視する
センス線58のうちの1本の論理レベルを示す、遅延マ
スク機能は、線121上の論理レベルを示す「不足電圧
遅延−」波形224によって示される。波形225は、
電力良好信号の生成を示す。
」波形223は、不足電圧状態があるかどうか監視する
センス線58のうちの1本の論理レベルを示す、遅延マ
スク機能は、線121上の論理レベルを示す「不足電圧
遅延−」波形224によって示される。波形225は、
電力良好信号の生成を示す。
時間T、で、交流線電圧が遮断され、起動端子172が
高レベルになり、バルク電圧とMPLS電圧が低レベル
になる。センサ回路56はバイアス電源84からバイア
ス電圧を受は取るので、不足電圧センサが有効になり、
波形223で示されるように、局部センス信号は低レベ
ルになり、波形222で表される不足電圧状態を示す。
高レベルになり、バルク電圧とMPLS電圧が低レベル
になる。センサ回路56はバイアス電源84からバイア
ス電圧を受は取るので、不足電圧センサが有効になり、
波形223で示されるように、局部センス信号は低レベ
ルになり、波形222で表される不足電圧状態を示す。
起動スイッチ72が閉じる前は起動端子172は高レベ
ルなので、不足電圧遅延波形224は高レベルになる。
ルなので、不足電圧遅延波形224は高レベルになる。
インバータ176の出力は低レベルであり、比較器18
0の負端子に接続されているため、比較器180からの
線121上の出力は、高レベルになる。線121上のこ
の高レベル信号は、センサ信号が低レベルであるにもか
かわらず、ORゲート115ないし119からの出力を
高レベルに維持する。波形225で示されるように、出
力線185上の電力良好信号は低レベルであるが、これ
はインバータ182で反転されるリード線121上の高
レベル信号が、低レベル信号としてA N Dゲート1
84に印加されるからである。
0の負端子に接続されているため、比較器180からの
線121上の出力は、高レベルになる。線121上のこ
の高レベル信号は、センサ信号が低レベルであるにもか
かわらず、ORゲート115ないし119からの出力を
高レベルに維持する。波形225で示されるように、出
力線185上の電力良好信号は低レベルであるが、これ
はインバータ182で反転されるリード線121上の高
レベル信号が、低レベル信号としてA N Dゲート1
84に印加されるからである。
時間T2で、起動スイッチ72が閉じ、起動端子172
を接種させ、起動信号波形220を降下させる。このた
め、主リレー出力197のORゲート・ドライバが主リ
レー80を付勢して主スィッチ14を閉じる。起動スイ
ッチ72の閉成後すぐに、波形221のバルク電源34
は、イン・ラッシュ・ソフト・スタート回路16の影響
下で徐々に上昇し始める。時間T3で、MPLSの電圧
波形222も徐々に上昇し始め、MPLS46が、出力
電圧を生成し始めるためにバルク電源34がらの直流3
2ボルトを必要とするため、波形221を遅延させる。
を接種させ、起動信号波形220を降下させる。このた
め、主リレー出力197のORゲート・ドライバが主リ
レー80を付勢して主スィッチ14を閉じる。起動スイ
ッチ72の閉成後すぐに、波形221のバルク電源34
は、イン・ラッシュ・ソフト・スタート回路16の影響
下で徐々に上昇し始める。時間T3で、MPLSの電圧
波形222も徐々に上昇し始め、MPLS46が、出力
電圧を生成し始めるためにバルク電源34がらの直流3
2ボルトを必要とするため、波形221を遅延させる。
T4で、バルク電圧221は、イン・ラッシュ・ソフト
・スタート回路16によって起こされた3M延Hの後に
、その最高値に到達する。T5で、MPLS電圧波形2
22は、その最高値に到達する。不足電圧センサはもは
や不足電圧状態を感知しないので、局部センス波形22
3は高レベル値に上がる。T6で、コンデンサc1の電
荷が基準人力179の電圧レベルに到達するため、IJ
i1121上の不足電圧遅延信号は低レベルになり、比
較器180の出力が低レベルになる。
・スタート回路16によって起こされた3M延Hの後に
、その最高値に到達する。T5で、MPLS電圧波形2
22は、その最高値に到達する。不足電圧センサはもは
や不足電圧状態を感知しないので、局部センス波形22
3は高レベル値に上がる。T6で、コンデンサc1の電
荷が基準人力179の電圧レベルに到達するため、IJ
i1121上の不足電圧遅延信号は低レベルになり、比
較器180の出力が低レベルになる。
不足電圧遅延■はT5の後まで続くので、T5の前に感
知された不足電圧は、障害指示および主リレー開放機能
を開始する働きをしない。診断論理機構60に現在マス
クされていない不足電圧を監視するセンス信号に応答す
る時間の余裕を与えるため、コンデンサC2によって導
入された遅延Jの後に、T7で、波形225の電力良好
信号が高レベルになる。T日で、起動スイッチ72が開
き、起動信号波形220を高レベルに戻して、リセット
・リードAjl175上にリセット信号を生成させ、ラ
ッチ160.162.164.166をリセットさせる
。これにより、波形224の不足電圧遅延信号も復元さ
れる。短かい伝播遅延の後に、波形225の電力良好信
号は、リード線121上の遅延信号のレベルの変化に応
じて、T、で、低レベルになる。リード線121は、イ
ンバータ182を介して電力良好ANDゲート184に
入力を供給する。はぼ同時に、バルク電圧波形221が
、バルク電源34のコンデンサの放電に応じて降下し始
める。710で、波形222のMPLS電圧が、そのコ
ンデンサの放電に応じて降下し始める。はぼ同時に、鉄
共振変圧器回路20とバルク電源34を監視する不足電
圧センサが、不足電圧状態を感知し、局部センス波形2
23が降下する。バルク電圧波形221とM P L
S ii圧波形222は、T’txで、その低レベルの
値に到達して、T1゜で、通常の遮断状態に戻る。
知された不足電圧は、障害指示および主リレー開放機能
を開始する働きをしない。診断論理機構60に現在マス
クされていない不足電圧を監視するセンス信号に応答す
る時間の余裕を与えるため、コンデンサC2によって導
入された遅延Jの後に、T7で、波形225の電力良好
信号が高レベルになる。T日で、起動スイッチ72が開
き、起動信号波形220を高レベルに戻して、リセット
・リードAjl175上にリセット信号を生成させ、ラ
ッチ160.162.164.166をリセットさせる
。これにより、波形224の不足電圧遅延信号も復元さ
れる。短かい伝播遅延の後に、波形225の電力良好信
号は、リード線121上の遅延信号のレベルの変化に応
じて、T、で、低レベルになる。リード線121は、イ
ンバータ182を介して電力良好ANDゲート184に
入力を供給する。はぼ同時に、バルク電圧波形221が
、バルク電源34のコンデンサの放電に応じて降下し始
める。710で、波形222のMPLS電圧が、そのコ
ンデンサの放電に応じて降下し始める。はぼ同時に、鉄
共振変圧器回路20とバルク電源34を監視する不足電
圧センサが、不足電圧状態を感知し、局部センス波形2
23が降下する。バルク電圧波形221とM P L
S ii圧波形222は、T’txで、その低レベルの
値に到達して、T1゜で、通常の遮断状態に戻る。
障害が発生した場合の電源投入および遮断過程が第6図
に示されている。第6図において、波形230は、起動
端子172上の起動信号レベルを表す。波形231は、
論理電圧リード線52のうちの1本のM P L S電
圧出力を示す。波形232は、その1本の論理電圧リー
ド線に不足電圧状態があるかどうか監視するセンス線5
8上の局部センス信号を示す、波形233は、ラッチ1
60.162.164または166のうちの1つによる
BCD数字のラッチ動作を示す、波形234は、リード
線121上の不足電圧遅延信号を示す。波形235は、
電力良好出力綿185上の電力良好信号を示す。時間T
13で、交流線が遮断され、起動波形230は高レベル
、MPLS電圧波形231は低レベル、不足電圧センサ
によって感知された不足電圧状態を表す局部センス波形
232は低レベル、ラッチされたBCDコード波形23
3は高レベルになり、不足電圧遅延波形234は高レベ
ルになって、線121上の遅延信号がアクティブである
ことを示し、電力良好波形235は低レベルになる。時
間T14で、起動スイッチ72が閉じて、起動端子17
2の電圧と起動波形230が降下する。遅延にの後、時
間T15で、M P L S電圧レベル波形231が徐
々に上昇し始める。時間T18で、監視中の論理電圧レ
ベルが、不足電圧センサの閾値まで上昇して不足電圧と
は感知されなくなり、局部センス波形232がその高レ
ベルに上昇する。しかし、不足電圧遅延信号波形234
は、依然、不足電圧遅延■の影響を受けており、Tエフ
まで高レベルを維持する。波形235は、コンデンサC
2によって導入される遅延に応答し、T”+8まで高レ
ベルにならない。障害が発生すると、MPLS74圧波
形231が降下し始め、T19で、不足電圧センサの不
足電圧閾値に達する。T20で、センサは反応し、局部
センス波形232がその低レベルの値まで降下して、不
足電圧障害状態の存在を指示する。その結果、T 20
aで波形233が低レベルになることによって示される
ように、BCD数字のラッチ動作が行なわれる。このた
めに、伝播遅延の後T21で波形235の電力良好信号
が低レベルになる。同時に、2重ORドライバ196が
主リレー80を減勢し、そのために電源スィッチ14が
開き始める。T22で、線189上のMPLS31g断
信号により、波形231の論理電圧レベルがゼロに戻り
、T22aで、主スィッチ14が交流線をオフにする。
に示されている。第6図において、波形230は、起動
端子172上の起動信号レベルを表す。波形231は、
論理電圧リード線52のうちの1本のM P L S電
圧出力を示す。波形232は、その1本の論理電圧リー
ド線に不足電圧状態があるかどうか監視するセンス線5
8上の局部センス信号を示す、波形233は、ラッチ1
60.162.164または166のうちの1つによる
BCD数字のラッチ動作を示す、波形234は、リード
線121上の不足電圧遅延信号を示す。波形235は、
電力良好出力綿185上の電力良好信号を示す。時間T
13で、交流線が遮断され、起動波形230は高レベル
、MPLS電圧波形231は低レベル、不足電圧センサ
によって感知された不足電圧状態を表す局部センス波形
232は低レベル、ラッチされたBCDコード波形23
3は高レベルになり、不足電圧遅延波形234は高レベ
ルになって、線121上の遅延信号がアクティブである
ことを示し、電力良好波形235は低レベルになる。時
間T14で、起動スイッチ72が閉じて、起動端子17
2の電圧と起動波形230が降下する。遅延にの後、時
間T15で、M P L S電圧レベル波形231が徐
々に上昇し始める。時間T18で、監視中の論理電圧レ
ベルが、不足電圧センサの閾値まで上昇して不足電圧と
は感知されなくなり、局部センス波形232がその高レ
ベルに上昇する。しかし、不足電圧遅延信号波形234
は、依然、不足電圧遅延■の影響を受けており、Tエフ
まで高レベルを維持する。波形235は、コンデンサC
2によって導入される遅延に応答し、T”+8まで高レ
ベルにならない。障害が発生すると、MPLS74圧波
形231が降下し始め、T19で、不足電圧センサの不
足電圧閾値に達する。T20で、センサは反応し、局部
センス波形232がその低レベルの値まで降下して、不
足電圧障害状態の存在を指示する。その結果、T 20
aで波形233が低レベルになることによって示される
ように、BCD数字のラッチ動作が行なわれる。このた
めに、伝播遅延の後T21で波形235の電力良好信号
が低レベルになる。同時に、2重ORドライバ196が
主リレー80を減勢し、そのために電源スィッチ14が
開き始める。T22で、線189上のMPLS31g断
信号により、波形231の論理電圧レベルがゼロに戻り
、T22aで、主スィッチ14が交流線をオフにする。
T23で起動スイッチ72が開き、起動信号波形230
がその高レベルに上昇して、T 23aで、波形233
で示すようにラッチのリセットを開始し、波形234で
示すように不足電圧遅延信号を高レベルに戻す、− 第8図は、第7図に開運して検討すべきものであるが、
ラッチによる障害コード保持を示している。波形236
は起動端子172上の起動信号を示す。波形237は、
NANDゲート138の入力線137または141のう
ちどちらか一方の入力線上の、第7図の点Aに現れるセ
ンス信号のレベルを示す。第2図で注意されるように、
これらの人力線は、それぞれ48ボルト・キャリッジ線
36と48ボルト・ハンマ線38の過電流状態を監視す
4゜波形238は、第7図の点BでのBCDデコーダ信
号のレベルを示し、波形239は、点Cでのゲート・デ
コード信号を示す。点りでのBCDコード・セット信号
は波形240で示され、点EでのBCDコード保持信号
は波形241で示される0点GでのラッチされたBCD
コード数字は、波形243で示され、点Fでのリセット
信号は波形242で表される。
がその高レベルに上昇して、T 23aで、波形233
で示すようにラッチのリセットを開始し、波形234で
示すように不足電圧遅延信号を高レベルに戻す、− 第8図は、第7図に開運して検討すべきものであるが、
ラッチによる障害コード保持を示している。波形236
は起動端子172上の起動信号を示す。波形237は、
NANDゲート138の入力線137または141のう
ちどちらか一方の入力線上の、第7図の点Aに現れるセ
ンス信号のレベルを示す。第2図で注意されるように、
これらの人力線は、それぞれ48ボルト・キャリッジ線
36と48ボルト・ハンマ線38の過電流状態を監視す
4゜波形238は、第7図の点BでのBCDデコーダ信
号のレベルを示し、波形239は、点Cでのゲート・デ
コード信号を示す。点りでのBCDコード・セット信号
は波形240で示され、点EでのBCDコード保持信号
は波形241で示される0点GでのラッチされたBCD
コード数字は、波形243で示され、点Fでのリセット
信号は波形242で表される。
時間T24で、起動スイッチ72が閉じて、端子172
上の起動信号と波形236が降下する。波形242で示
されるリセット信号は、T24でスイッチ72が閉じた
とき、低レベルにありラッチをリセットしたが、T25
でインバータ174を介する伝播遅延により高レベルに
なる。T28で過電流障害が発生し、センス信号Aは低
レベルになる。このため、第4A図に示すようにN A
N Dゲート138の入力線の1つが「0」であるた
め、T27でBCDデコード信号信号筒レベルになる。
上の起動信号と波形236が降下する。波形242で示
されるリセット信号は、T24でスイッチ72が閉じた
とき、低レベルにありラッチをリセットしたが、T25
でインバータ174を介する伝播遅延により高レベルに
なる。T28で過電流障害が発生し、センス信号Aは低
レベルになる。このため、第4A図に示すようにN A
N Dゲート138の入力線の1つが「0」であるた
め、T27でBCDデコード信号信号筒レベルになる。
この時ゲート・デコード信゛号C(波形239参照)も
高レベルなので、NANDゲート150のセット出力り
は、波形240で示されるように、72Bで低レベルに
なる。NANDゲート210の入力の1つが現在低レベ
ルにあるので、保持出力Eは、波形241で示されるよ
うに、729で高レベルになる。波形242で示される
ようにリセット信号Fも高レベルにあるので、N A
N Dゲート212の出力Gは、’I”30で低レベル
になり、リード線216上にBCDデイジットQ1を供
給する。この低レベル出力Gが、リード線215を介し
てN A NDゲート210の他方の人力線にフィード
バックされるので、NANDゲート210の出力Eが高
レベルに保持され、リセット信号Fがリセット時に低レ
ベルになるまで、リード線216上のBCDデイジット
Q1をラッチする。ラッチされた出力Gも、91人力と
してN A N Dゲート186にフィードバックされ
、T31でその出力線187を高レベルにし、また波形
239で示されるように、インバータ188のゲート出
力Cを低レベルにする。Cが低レベルになると、T32
でNANDゲート150の出力りは高レベルになる。T
32でも、2重Ortドライバ196のトランジスタQ
aが、非導通収態になり、主リレー・コイルに1の回路
を開く、主リレー80が動作するのに時間が必要なため
に、T33でスイッチ14が開く。そのために交流線が
開く即ちオフになるので、T33で過電流状態が終了し
、センス波形237が高レベルになる。NANDゲート
138の入力線上のセンス信号Aが現在高レベルにある
ので、T34で、BCDデコード信号信号筒レベルにな
る。
高レベルなので、NANDゲート150のセット出力り
は、波形240で示されるように、72Bで低レベルに
なる。NANDゲート210の入力の1つが現在低レベ
ルにあるので、保持出力Eは、波形241で示されるよ
うに、729で高レベルになる。波形242で示される
ようにリセット信号Fも高レベルにあるので、N A
N Dゲート212の出力Gは、’I”30で低レベル
になり、リード線216上にBCDデイジットQ1を供
給する。この低レベル出力Gが、リード線215を介し
てN A NDゲート210の他方の人力線にフィード
バックされるので、NANDゲート210の出力Eが高
レベルに保持され、リセット信号Fがリセット時に低レ
ベルになるまで、リード線216上のBCDデイジット
Q1をラッチする。ラッチされた出力Gも、91人力と
してN A N Dゲート186にフィードバックされ
、T31でその出力線187を高レベルにし、また波形
239で示されるように、インバータ188のゲート出
力Cを低レベルにする。Cが低レベルになると、T32
でNANDゲート150の出力りは高レベルになる。T
32でも、2重Ortドライバ196のトランジスタQ
aが、非導通収態になり、主リレー・コイルに1の回路
を開く、主リレー80が動作するのに時間が必要なため
に、T33でスイッチ14が開く。そのために交流線が
開く即ちオフになるので、T33で過電流状態が終了し
、センス波形237が高レベルになる。NANDゲート
138の入力線上のセンス信号Aが現在高レベルにある
ので、T34で、BCDデコード信号信号筒レベルにな
る。
起動スイッチ72が735で開く場合、波形236で示
されるように、端子172上の起動信号は高レベルにな
る。T36で、リセット波形242が降下して、ラッチ
160.162.164.166をリセットしT37で
ラッチされたコード信号Gを高レベルにする。このため
、T38で、NANDゲート210の線215からの人
力の信号が高レベルになり、N A N Dゲート21
0からのBCD保持出力出力低レベルになる。NAND
ゲートへの91人力が現在高レベルなので、T39で、
NANDゲート186からの出力は低レベルになり、ゲ
ート出力信号Cは高レベルになる。
されるように、端子172上の起動信号は高レベルにな
る。T36で、リセット波形242が降下して、ラッチ
160.162.164.166をリセットしT37で
ラッチされたコード信号Gを高レベルにする。このため
、T38で、NANDゲート210の線215からの人
力の信号が高レベルになり、N A N Dゲート21
0からのBCD保持出力出力低レベルになる。NAND
ゲートへの91人力が現在高レベルなので、T39で、
NANDゲート186からの出力は低レベルになり、ゲ
ート出力信号Cは高レベルになる。
BCDコードと障害番号の関係を表1に示す。
表 1
皿’tray< BCDコード il
?o oooo 鉄共振、バ
ルク電源、M P L Sすべて不足電圧 1 0001 鉄共振破壊、不足電圧2 0
010 +48ボルト・直流ハンマ負荷の過電流 3 0011 +8.5ボルト論理負荷の過電流 4 0100 +48ボルト直流キヤリツジ。
?o oooo 鉄共振、バ
ルク電源、M P L Sすべて不足電圧 1 0001 鉄共振破壊、不足電圧2 0
010 +48ボルト・直流ハンマ負荷の過電流 3 0011 +8.5ボルト論理負荷の過電流 4 0100 +48ボルト直流キヤリツジ。
モータの過電流
5 0101 MPLS論理電圧の不足電圧また
は過電圧 6 0110 +12ボルト直流論理負荷の過電
流 7 0111 +5ボルト直流論理負荷の過電流 8 1000 +48ボルト直流バルク電源の不
足電圧 9 1001 −5ボルト直流論理負荷の過電流 ブランク 1111 障害なし障害表示は、
電源システムの障害を診断するのに使用される。障害表
示「0」は、電源を入れた時に鉄共振変圧器組立体20
の1次回路に交流電圧がない場合に発、生する。これは
、交流電力線ヒユーズが飛んだり、イン・ラッシュ・リ
レーが動作しなかったり、主接触器が動作しなかったり
、鉄共振変圧器組立体20の1次回路が開いたりした場
合に発生する。
は過電圧 6 0110 +12ボルト直流論理負荷の過電
流 7 0111 +5ボルト直流論理負荷の過電流 8 1000 +48ボルト直流バルク電源の不
足電圧 9 1001 −5ボルト直流論理負荷の過電流 ブランク 1111 障害なし障害表示は、
電源システムの障害を診断するのに使用される。障害表
示「0」は、電源を入れた時に鉄共振変圧器組立体20
の1次回路に交流電圧がない場合に発、生する。これは
、交流電力線ヒユーズが飛んだり、イン・ラッシュ・リ
レーが動作しなかったり、主接触器が動作しなかったり
、鉄共振変圧器組立体20の1次回路が開いたりした場
合に発生する。
障害表示「1」は、電源が入って動作した後、鉄共振変
圧器組立体が不足電圧状態で障害を発生したことを示す
、この障害は、バルク直流48ポルト負荷の短絡による
鉄共振変圧器の破壊、鉄共振変圧器組立体20のコンデ
ンサ故障によ1鉄共振変圧器の破壊、または鉄共振変圧
器の1次または2次コイルの開放によって発生する。
圧器組立体が不足電圧状態で障害を発生したことを示す
、この障害は、バルク直流48ポルト負荷の短絡による
鉄共振変圧器の破壊、鉄共振変圧器組立体20のコンデ
ンサ故障によ1鉄共振変圧器の破壊、または鉄共振変圧
器の1次または2次コイルの開放によって発生する。
「2」が表示されると、48ボルト直流ハンマ負荷が、
電源投入または動作中に過電流である。
電源投入または動作中に過電流である。
ハンマ・ソレノイド、ソレノイド回路自体またはハンマ
・ドライバ制御カードが故障している。
・ドライバ制御カードが故障している。
「3」が表示されると、8.5ボルト直流論理負荷が、
電源投入または動作中に過電流である。
電源投入または動作中に過電流である。
これは、DCAおよびチャネル制御カードによって発生
する。
する。
障害表示「4」は、48ボルト直流キヤリツジ・モータ
負荷が電源投入または動作中に過電流であることを示す
。
負荷が電源投入または動作中に過電流であることを示す
。
「5」が表示されると、M P L S電源46に、電
源投入または動作中に過電圧または不足電圧障害がある
。不足電圧71′a障害は、第2ダイオードの開放など
M P L S電源の構成要素の障害によって起こる。
源投入または動作中に過電圧または不足電圧障害がある
。不足電圧71′a障害は、第2ダイオードの開放など
M P L S電源の構成要素の障害によって起こる。
過電圧状態は、2本の出力電圧リード線52の間の短絡
によって起こる。前述のように、論理電圧線52が不足
電圧状態であるかどうか監視するセンス線105.10
7.108.109からの情報、および+5ボルト論理
電圧線が過電圧状態であるかどうか監視するセンス線1
06からの情報が、ANDゲート124と132を使っ
て結合される。+5ボルト論理電圧線の過電圧状態によ
り他の論理電圧線の過電圧状態が発生するので、すべて
の論理電圧線で過電圧状態かどうか監視する必要はない
。操作員は各論理電圧線を個別に検査して、障害信号の
発生源を突き止める。
によって起こる。前述のように、論理電圧線52が不足
電圧状態であるかどうか監視するセンス線105.10
7.108.109からの情報、および+5ボルト論理
電圧線が過電圧状態であるかどうか監視するセンス線1
06からの情報が、ANDゲート124と132を使っ
て結合される。+5ボルト論理電圧線の過電圧状態によ
り他の論理電圧線の過電圧状態が発生するので、すべて
の論理電圧線で過電圧状態かどうか監視する必要はない
。操作員は各論理電圧線を個別に検査して、障害信号の
発生源を突き止める。
「6」が表示されると、12ポルト直流論理負荷が、電
源投入または動作中に過電流である。この障害は、12
ポルト論理電圧を使用するバンド/リボン・カードまた
はディスク10Pパネル・カードで発生する。
源投入または動作中に過電流である。この障害は、12
ポルト論理電圧を使用するバンド/リボン・カードまた
はディスク10Pパネル・カードで発生する。
電源投入中に、+5ボルト直流論理負荷が過電流である
場合、「7」が表示される。プリンタ論理ゲート54の
プリンタ論理カードはすべて+5ボルト論理電圧を使用
するので、障害はこれらのカードのどれかで発生する。
場合、「7」が表示される。プリンタ論理ゲート54の
プリンタ論理カードはすべて+5ボルト論理電圧を使用
するので、障害はこれらのカードのどれかで発生する。
この場合、禄作者は、障害が修正されるまでカードを入
れ換えて、障害のあるカードを見つけ出す。
れ換えて、障害のあるカードを見つけ出す。
「8」が表示されると、バルク48ボルト直流電源34
に、不足電圧障害がある。これは、整流ダイオードの短
絡または開放、フィルタ・コンデンサの短絡または開放
、もしくはブリーダ抵抗の短絡によって発生する。
に、不足電圧障害がある。これは、整流ダイオードの短
絡または開放、フィルタ・コンデンサの短絡または開放
、もしくはブリーダ抵抗の短絡によって発生する。
「9」が表示されると、−5ボルト直流論理負荷が、電
源投入または動作中に過電流である。この障害は、−5
ボルト論理電圧を使用する、モータ駆動カード、ハンマ
発射制御カードまたはDCAカードおよびチャネル・カ
ードで発生する。この場合も、操作者は、カードをいろ
いろ入れ換えてみて、障害カードを突き止める。
源投入または動作中に過電流である。この障害は、−5
ボルト論理電圧を使用する、モータ駆動カード、ハンマ
発射制御カードまたはDCAカードおよびチャネル・カ
ードで発生する。この場合も、操作者は、カードをいろ
いろ入れ換えてみて、障害カードを突き止める。
ブランク表示は、電力が切れたか、またはシステムが障
害なしに動作していることを意味する。
害なしに動作していることを意味する。
ここに開示した実施例は、診断論理機構60のコストを
下げるために4桁のBCDコードを使用する。より高価
な5桁のBCDコード・システムを使用すると、診断論
理機構で、−層多くの障害指示数値を供給できる。個々
の論理カードの障害状態について特定の情報を提供する
ために、追加のセンス線を追加できる。
下げるために4桁のBCDコードを使用する。より高価
な5桁のBCDコード・システムを使用すると、診断論
理機構で、−層多くの障害指示数値を供給できる。個々
の論理カードの障害状態について特定の情報を提供する
ために、追加のセンス線を追加できる。
本発明の診断論理機構は、販売業者から妥当な価格で容
易に購入できる論理構成要素によって実現できる。たと
えば、本発明で開示した実施例の1つの実現方法として
は、ANDゲート124.144および148に74L
S11 3−3WANDゲート装置を、またANDゲー
ト122.132.136および184に74LS11
4−2W ORゲート装置を使用する。3つの74L
S324−2WORゲート装置を、ORゲート115な
いし119.128.192および194に使う。NA
NDゲート138.142.146および186には、
−対の74LS202−4W NANDゲート装置を
使用し、N A N Dゲート150.152.154
および158には、74LSOO42W NANDゲ
ート装置を使用する。6つのインバータ130.156
.174.182および188には、74LSO4HE
X インバータ装置を使用する。セット・リセット・
ラッチ160.162および166には、1つの74L
S279 4−5Rラッチ装置を使用する。UND57
13 2重ORドライバを2重ORドライバとして、ま
た74LS47 BCD−7セグメント・デコーダを
デコーダ168として使用する。障害表示装置64には
、HP5082−76107セグメント表示装置を使用
する。このシステムは、マイクロプロセッサやカスタム
設計のPROMを使用するシステムよりかなり安価であ
る。
易に購入できる論理構成要素によって実現できる。たと
えば、本発明で開示した実施例の1つの実現方法として
は、ANDゲート124.144および148に74L
S11 3−3WANDゲート装置を、またANDゲー
ト122.132.136および184に74LS11
4−2W ORゲート装置を使用する。3つの74L
S324−2WORゲート装置を、ORゲート115な
いし119.128.192および194に使う。NA
NDゲート138.142.146および186には、
−対の74LS202−4W NANDゲート装置を
使用し、N A N Dゲート150.152.154
および158には、74LSOO42W NANDゲ
ート装置を使用する。6つのインバータ130.156
.174.182および188には、74LSO4HE
X インバータ装置を使用する。セット・リセット・
ラッチ160.162および166には、1つの74L
S279 4−5Rラッチ装置を使用する。UND57
13 2重ORドライバを2重ORドライバとして、ま
た74LS47 BCD−7セグメント・デコーダを
デコーダ168として使用する。障害表示装置64には
、HP5082−76107セグメント表示装置を使用
する。このシステムは、マイクロプロセッサやカスタム
設計のPROMを使用するシステムよりかなり安価であ
る。
本発明を、とくに好ましい実施例に関して図示し説明し
てきたが、当業者には当然のことながら、本発明の範囲
を逸脱することなく、形態と細部に変更を加えることが
できる。上述のように、本発明は、不足電圧、過電圧お
よび過電流収態の監視に限定されるものではなく、電源
システムの熱試態なと他の状態も監視できる。
てきたが、当業者には当然のことながら、本発明の範囲
を逸脱することなく、形態と細部に変更を加えることが
できる。上述のように、本発明は、不足電圧、過電圧お
よび過電流収態の監視に限定されるものではなく、電源
システムの熱試態なと他の状態も監視できる。
F6発明の効果
本発明は、複雑で、高価なマイクロプロセッサ、プログ
ラム記憶式コンピュータまたはソフトウェアによる支援
を使わず、容易に人手でき単純で比較的安価な論理構成
要素を用いた、電源と障害分離指示器を提供することが
できる。したがって、本発明の装置は、専門家でない従
業員や産業ロボットによって容易に製造でき、コストが
大幅に節減される。このシステムの論理回路はN A
N D論理ゲートを利用するので、この装置は、E−V
LS■(超々大規模集積回路)に容易に変換でき、回路
の容積が大幅に減少する。
ラム記憶式コンピュータまたはソフトウェアによる支援
を使わず、容易に人手でき単純で比較的安価な論理構成
要素を用いた、電源と障害分離指示器を提供することが
できる。したがって、本発明の装置は、専門家でない従
業員や産業ロボットによって容易に製造でき、コストが
大幅に節減される。このシステムの論理回路はN A
N D論理ゲートを利用するので、この装置は、E−V
LS■(超々大規模集積回路)に容易に変換でき、回路
の容積が大幅に減少する。
第1図は、本発明の電源と障害分離指示器を示す構成図
である。 第2図は、本発明のシステムの診断論理機構を示す概略
回路図である。 第3図は、第2図の診断論理機構の2重ORドライバの
詳細とその電源システムのリレー・コイルとの関係を示
す概略回路図である。 第4A図は、N A N DゲートとN A N Dゲ
ートの動作を示す真理値の説明図である。 第4B図は、ANDゲートとANDゲートの動作を示す
真理値の説明図である。 第5図は、障害がないときの電源投入および切断過程の
動作を示すタイミング波形図である。 第6図は、障害があるときの電源投入および切断過程の
動作を示すタイミング波形図である。 第7図は、本発明のコード信号のBCD数字のラッチ動
作を示す論理回路図である。 第8図は、第7図のBCDのラッチ動作を示すタイミン
グ波形図である。 10・・・・120ボルト交流線、1−2・・・・回W
I遮断器、80・・・・主リレー、14・・・・主スィ
ッチ、16・・・・イン・ラッシュ・ソフト・スタート
回路、22・・・・48ボルト交流出力線、24・・・
・出力線、20・・・・鉄共振変圧器組立体、26・・
・・交流モータ方向制御装置、32・・・・キャリッジ
交流モータ、34・・・・バルク電圧電源、38・・・
・ハンマ48ボルト直流線、42・・・・キャリッジ直
流モータ、43・・・・ハンマ・ソレノイド、36・・
・・第1の48ボルト直流出力線、76・・・・HFC
(ハンマ発射制御)リレー、46・・・・複数電力レベ
ル・コンバータ(MPLS ’)、48・・・・パルス
幅変調器(pwM)、50・・・・直流/直流コンバー
タ、54・・・・プリンタ論理ゲート、60・・・・診
断論理機構、56・・・・センサ回路、64・・・・表
示装置、66・・・・7セクシヨン指示器、72・・・
・起動スイッチ、82.85.86.94・・・・リー
ド線、84・・・・交流/直流バイアス電源、87.9
1.93・・・・ビック・オフ装置、20・・・・鉄共
振変圧器組立体、38・・・・ハンマ電圧電源線、10
1ないし113・・・・センス線、115.116.1
17.118.119・・・・起動遅延ORゲート、1
20・・・・起動遅延回路、125.126・・・・出
力線、122.124.132.136.144.14
8.184・・・・ANDゲート、138.142.1
46.184・・・・NANDゲート、128.192
.194・・・・ORゲート、156.176・・・・
インバータ、158.154.152.150・・・・
セットN A N Dゲート、160,162.164
・・・・セット・リセット・ラッチ、168・・・・B
CD−7セグメント・デコーダ、R1、R2、R3、R
4、R5、R6、R7、R12・・・・抵抗器、170
・・・・ジャック、8% 5% 0% d、e% f、
g・・・・ビン、66a、66b、66d、66e、6
8f。 66g・・・・表示域、172・・・・起動入力端子、
C1、C2、C3・・・・コンデンサ、Ql、Q2、Q
a、Q4、Qa・・・・リード線、190・・・・HF
C端子、196−・−2重ORドライバ、196a。 196b・・・・NORゲート、Qa、Qb・・・・N
PNトランジスタ、CR2・・・・逆バイアス・スナバ
・ダイオード、K1・・・・コイル、7゛3・・・・デ
パウンス・フリップ・フロップ、200・・・・N A
N Dゲート、202・・・・ANDゲート。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁理士 岡 1) 次 生(外1名)
である。 第2図は、本発明のシステムの診断論理機構を示す概略
回路図である。 第3図は、第2図の診断論理機構の2重ORドライバの
詳細とその電源システムのリレー・コイルとの関係を示
す概略回路図である。 第4A図は、N A N DゲートとN A N Dゲ
ートの動作を示す真理値の説明図である。 第4B図は、ANDゲートとANDゲートの動作を示す
真理値の説明図である。 第5図は、障害がないときの電源投入および切断過程の
動作を示すタイミング波形図である。 第6図は、障害があるときの電源投入および切断過程の
動作を示すタイミング波形図である。 第7図は、本発明のコード信号のBCD数字のラッチ動
作を示す論理回路図である。 第8図は、第7図のBCDのラッチ動作を示すタイミン
グ波形図である。 10・・・・120ボルト交流線、1−2・・・・回W
I遮断器、80・・・・主リレー、14・・・・主スィ
ッチ、16・・・・イン・ラッシュ・ソフト・スタート
回路、22・・・・48ボルト交流出力線、24・・・
・出力線、20・・・・鉄共振変圧器組立体、26・・
・・交流モータ方向制御装置、32・・・・キャリッジ
交流モータ、34・・・・バルク電圧電源、38・・・
・ハンマ48ボルト直流線、42・・・・キャリッジ直
流モータ、43・・・・ハンマ・ソレノイド、36・・
・・第1の48ボルト直流出力線、76・・・・HFC
(ハンマ発射制御)リレー、46・・・・複数電力レベ
ル・コンバータ(MPLS ’)、48・・・・パルス
幅変調器(pwM)、50・・・・直流/直流コンバー
タ、54・・・・プリンタ論理ゲート、60・・・・診
断論理機構、56・・・・センサ回路、64・・・・表
示装置、66・・・・7セクシヨン指示器、72・・・
・起動スイッチ、82.85.86.94・・・・リー
ド線、84・・・・交流/直流バイアス電源、87.9
1.93・・・・ビック・オフ装置、20・・・・鉄共
振変圧器組立体、38・・・・ハンマ電圧電源線、10
1ないし113・・・・センス線、115.116.1
17.118.119・・・・起動遅延ORゲート、1
20・・・・起動遅延回路、125.126・・・・出
力線、122.124.132.136.144.14
8.184・・・・ANDゲート、138.142.1
46.184・・・・NANDゲート、128.192
.194・・・・ORゲート、156.176・・・・
インバータ、158.154.152.150・・・・
セットN A N Dゲート、160,162.164
・・・・セット・リセット・ラッチ、168・・・・B
CD−7セグメント・デコーダ、R1、R2、R3、R
4、R5、R6、R7、R12・・・・抵抗器、170
・・・・ジャック、8% 5% 0% d、e% f、
g・・・・ビン、66a、66b、66d、66e、6
8f。 66g・・・・表示域、172・・・・起動入力端子、
C1、C2、C3・・・・コンデンサ、Ql、Q2、Q
a、Q4、Qa・・・・リード線、190・・・・HF
C端子、196−・−2重ORドライバ、196a。 196b・・・・NORゲート、Qa、Qb・・・・N
PNトランジスタ、CR2・・・・逆バイアス・スナバ
・ダイオード、K1・・・・コイル、7゛3・・・・デ
パウンス・フリップ・フロップ、200・・・・N A
N Dゲート、202・・・・ANDゲート。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁理士 岡 1) 次 生(外1名)
Claims (2)
- (1)各々が電源システムの所定の各箇所に対応し、前
記対応する箇所が通常の状態であることを表す第1論理
レベルおよび障害の状態であることを表す第2論理レベ
ルになる複数本のセンス線と、前記センス線に接続され
、前記センス線が前記第2論理レベルになるのに応じて
、前記障害の状態が発生した前記対応する箇所を表すコ
ード信号を生成する論理回路手段と、 前記コード信号に応じて、前記電源システムを遮断する
遮断手段と、 前記コード信号に応じて、前記障害の状態が発生した前
記対応する箇所を指示する指示手段と、を備えた電源制
御障害分離指示装置。 - (2)前記論理回路手段が前記コード信号を記憶するラ
ッチ手段を含み、前記遮断手段および前記指示手段が前
記ラッチ手段に記憶された前記コード信号に応答する、
特許請求の範囲第(1)項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US87785786A | 1986-06-24 | 1986-06-24 | |
| US877857 | 1986-06-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS637130A true JPS637130A (ja) | 1988-01-13 |
| JP2782601B2 JP2782601B2 (ja) | 1998-08-06 |
Family
ID=25370871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62119159A Expired - Lifetime JP2782601B2 (ja) | 1986-06-24 | 1987-05-18 | 電源制御障害分離指示装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0250932B1 (ja) |
| JP (1) | JP2782601B2 (ja) |
| DE (1) | DE3777890D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007300781A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-11-15 | Denso Corp | 負荷制御装置及び負荷制御方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NZ271262A (en) * | 1993-08-24 | 1998-02-26 | Metal Manufactures Ltd | Switchgear control module operates in accordance with load condition |
| US5869996A (en) * | 1994-09-20 | 1999-02-09 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor composite element, and method of detecting abnormal conditions in an inverter device having the element |
| JPH0898505A (ja) * | 1994-09-20 | 1996-04-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体複合素子およびこの素子を備えたインバータ装置の異常検出方法 |
| DE102005063097B4 (de) * | 2005-12-30 | 2014-09-04 | Infineon Technologies Ag | Gepulstes statisches Flip-Flop |
| CN113296028B (zh) * | 2021-05-25 | 2024-03-08 | 佛山市顺德区美的电子科技有限公司 | 直流负载故障检测电路及具有其的家电设备 |
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| JPS57142125A (en) * | 1981-02-25 | 1982-09-02 | Tohoku Electric Power Co | Digital protection relay display unit |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4133477A (en) * | 1976-04-15 | 1979-01-09 | Xerox Corporation | Fault detection and system for electrostatographic machines |
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-
1987
- 1987-05-18 JP JP62119159A patent/JP2782601B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1987-06-05 EP EP19870108183 patent/EP0250932B1/en not_active Expired
- 1987-06-05 DE DE8787108183T patent/DE3777890D1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0250932A1 (en) | 1988-01-07 |
| EP0250932B1 (en) | 1992-04-01 |
| JP2782601B2 (ja) | 1998-08-06 |
| DE3777890D1 (de) | 1992-05-07 |
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