JPS6373140A - ガラス部品表面汚れ部位測定法 - Google Patents

ガラス部品表面汚れ部位測定法

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JPS6373140A
JPS6373140A JP21715986A JP21715986A JPS6373140A JP S6373140 A JPS6373140 A JP S6373140A JP 21715986 A JP21715986 A JP 21715986A JP 21715986 A JP21715986 A JP 21715986A JP S6373140 A JPS6373140 A JP S6373140A
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JP
Japan
Prior art keywords
glass
fluorescent dye
panel
aqueous solution
contaminated
Prior art date
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Pending
Application number
JP21715986A
Other languages
English (en)
Inventor
Shozo Sakai
酒井 正三
Masayoshi Ezawa
江澤 正義
Shigeru Wakana
若菜 茂
Toshiyuki Matsumoto
松本 敏志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Japan Display Inc
Original Assignee
Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Device Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Device Engineering Co Ltd
Priority to JP21715986A priority Critical patent/JPS6373140A/ja
Publication of JPS6373140A publication Critical patent/JPS6373140A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ガラス部品表面の非水溶性汚れ部位を、容昌
に明確に測定する方法に関する。
〔従来の技術〕
透明なガラス部品の表面に、透明に近いガラスとは物理
的に特に光学的に異なる性質を有する汚れ例えば油膜が
付着した場合などは、付着したときには汚れたことがな
かなか発見されず、かなり工程が進んだ段階で、始めて
汚れていることが発見される場合がある。一般には汚れ
付着の直後には、汚れの除去は比較的簡単であるが、時
間が経過し、あるいは工程が進むにつれて、汚れ例えば
油膜が乾燥固化してガラス表面に強固に付着してしまう
という様なことが、しばしば生ずる。しかも発見された
段階では、そのガラス部品またはガラス部品を含む製品
全体の商品価値を著しく低下させる致命的な欠陥となっ
ている場合が少なくない。たとえば、テレビジョン受像
管のガラスパネルの表面に、まだガラスパネルが単体と
して扱われているときに、設備的または作業者の不注意
等によって付着した汚れが、その後の工程たとえば排気
工程等の高温処理によって表面に強固に付着してしまい
、検査工程の最終段階近くで、再生画像を厳密に観察、
検査した結果、やっと発見されたような場合には、一般
に、汚れの除去に多大な工数を必要とする。もし、汚れ
の原因が、量産設備の整備不良等に起因する場合には、
発見された段階では、非常に沢山の製品が汚れて不良に
なってしまっており、しかも其の不良の原因がなかなか
突き止められないなど深刻な問題となる。
従来から、この種のガラス部品の汚れ部位の解析手法と
して、純水をガラス表面に均一に吹付け、純水の飛沫が
はじかれて付着していない個所を汚れ部位と見なす所謂
アトマイザテストが行われていた。
しかし、上記アトマイザテストでは、ガラス表面にやは
り透明に近い水滴が付着しているか否かを観察するので
あるから、汚れの発見自体も困難で、まして汚れ部位の
形状を正確に観察して、汚れの原因たとえば特定量産設
備の整備不良個所を推定するなどは、極めて困難であっ
た。
また、ガラス部品の表面に付着した汚れを、その組成、
成分などを調査して、汚れが付着した工程、場所、原因
などを突き止めようとして、付着している汚れ物質を採
取しようとすると、多大な労力を必要としたり、その汚
れ力會寸着しているガラス部品そのものを破壊してしま
うことになる場合が少なくない、従って、この種の調査
または検査対象の破壊を伴う恐れのある調査は成るべく
敬遠して、非破壊で調査できることが望ましい。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明は、上記従来の技術の問題点を解決し、ガラス部
品表面の清浄部と汚れ部の差、境界を明瞭に観察、測定
でき、しかも其の作業に際して、対象となるガラス部品
の破壊を引き起こさないで汚れの全体像を確認できる、
ガラス部品表面汚れ部位測定法を提供することを目的と
する。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために本発明においては、従来の
アトマイザテストを改良して、純水の代わりに、水溶性
の螢光染料、例えばフルオレセイン、エオシン、ローダ
ミンB1チオフラビン等の水溶液を、噴霧器(アトマイ
ザ)により被検試料の表面に均一に吹付けた後、被検試
料上の染料水溶液吹付は面を、暗所で紫外線を照射して
観察した時に、螢光放射が認められない個所を汚れ部位
とみなし、螢光を放射している個所は清浄な部位とみな
すことにした。
〔作用〕
上記のような手段を用いると、一般に、油性の汚れの付
着している個所では、螢光染料を含む水溶液の飛沫がは
じかれて存在せず、清浄な部位だけに螢光染料を含む水
滴が付着する。その結果、暗室内で、紫外線で被検試料
を照射して観察すると、清浄な部位は螢光を放射して明
るく見え、汚れた部位は暗く見えることになる。必要な
らば、その結果を写真撮影などすることも出来る。
〔実施例〕
第1図(a)は本発明の一実施例の概略説明図である。
1は市販の螢光染料の水溶液、1aは此の水溶液が噴霧
器により被検試料に吹付けられる螢光染料水溶液の飛沫
、2は噴霧器(アトマイザ)、3は被検試料である例え
ば受像管のガラスパネル、8は噴霧器で螢光染料水溶液
を飛沫にして吹付けるの用いる2kg/cd程度の高圧
空気である。また、第1図(b)は上記のように螢光染
料水溶液を吹付けた被検試料パネル3を、暗室内で観察
する状況の説明図で、4は暗室、5は紫外線ランプで、
右側の図はこのときの被検試料パネル3を上から観察し
た状況を示し、6は螢光を放射せず暗く見える油性汚れ
部、7は螢光染料溶液の水滴が付着し、螢光を放射して
明る(みえる清浄部である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、非破壊でガラス部
品表面の油性汚れ部位の全体形状を明瞭に確認すること
ができるので、汚れ付着個所や原因の推定、解析に役立
ち、作業方法も簡単で、化学分析のような試料作成の手
間も不要である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例の概略説明図、第1図
(b)は被検試料を暗室内で観察する状況の説明図と、
被検試料を上から観察した状況を示す図である。 1・−螢光染料水溶液、 2−・−噴霧器、 3−ガラ
スパネル、 4−暗室、 5−・−紫外線ランプ、6・
−・油性汚れ部、 7・−清浄部、 8−高圧空気。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、ガラス部品表面に、水溶性の螢光染料の水溶液を噴
    霧器によって均一に吹付けた後、ガラス部品の染料吹付
    け面を、暗所で紫外線を照射して観察したときに、螢光
    放射が認められない個所を汚れ部位とみなすことを特徴
    とするガラス部品表面汚れ部位測定法。
JP21715986A 1986-09-17 1986-09-17 ガラス部品表面汚れ部位測定法 Pending JPS6373140A (ja)

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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002116150A (ja) * 2000-10-11 2002-04-19 Menicon Co Ltd 眼用レンズの汚れ検出方法及び装置
US8246696B2 (en) 2010-09-17 2012-08-21 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US8314057B2 (en) 2010-09-17 2012-11-20 Ecolab Usa Inc. Laundry composition for treatment of sunscreen stains based on extended chain nonionic surfactants
US8580727B2 (en) 2010-09-17 2013-11-12 Ecolab Usa Inc. Reduced caustic laundry detergents based on extended chain surfactants
US8697622B2 (en) 2010-09-17 2014-04-15 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions and emulsions or microemulsions employing extended chain nonionic surfactants
US9222058B2 (en) 2013-03-12 2015-12-29 Ecolab Usa Inc. Cleaning composition and method for removal of sunscreen stains
CN105973906A (zh) * 2016-06-17 2016-09-28 苏州市灵通玻璃制品有限公司 一种拍照式玻璃裂纹检测装置
CN105973905A (zh) * 2016-06-17 2016-09-28 苏州市灵通玻璃制品有限公司 一种玻璃裂纹检测装置
CN105973907A (zh) * 2016-06-17 2016-09-28 苏州市灵通玻璃制品有限公司 一种强渗型玻璃裂纹检测装置
US10273433B2 (en) 2017-01-20 2019-04-30 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US10421926B2 (en) 2017-01-20 2019-09-24 Ecolab Usa Inc. Cleaning and rinse aid compositions and emulsions or microemulsions employing optimized extended chain nonionic surfactants
US11591546B2 (en) 2017-01-20 2023-02-28 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US11873465B2 (en) 2019-08-14 2024-01-16 Ecolab Usa Inc. Methods of cleaning and soil release of highly oil absorbing substrates employing optimized extended chain nonionic surfactants

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002116150A (ja) * 2000-10-11 2002-04-19 Menicon Co Ltd 眼用レンズの汚れ検出方法及び装置
US8246696B2 (en) 2010-09-17 2012-08-21 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US8314057B2 (en) 2010-09-17 2012-11-20 Ecolab Usa Inc. Laundry composition for treatment of sunscreen stains based on extended chain nonionic surfactants
US8454709B2 (en) 2010-09-17 2013-06-04 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US8580727B2 (en) 2010-09-17 2013-11-12 Ecolab Usa Inc. Reduced caustic laundry detergents based on extended chain surfactants
US8697622B2 (en) 2010-09-17 2014-04-15 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions and emulsions or microemulsions employing extended chain nonionic surfactants
US8785363B2 (en) 2010-09-17 2014-07-22 Ecolab Usa Inc. Reduced caustic laundry detergents based on extended chain surfactants
US9109190B2 (en) 2010-09-17 2015-08-18 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US9303240B2 (en) 2010-09-17 2016-04-05 Ecolab Usa Inc Cleaning compositions and emulsions or microemulsions employing extended chain nonionic surfactants
US9528077B2 (en) 2010-09-17 2016-12-27 Ecolab US Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US9222058B2 (en) 2013-03-12 2015-12-29 Ecolab Usa Inc. Cleaning composition and method for removal of sunscreen stains
CN105973907A (zh) * 2016-06-17 2016-09-28 苏州市灵通玻璃制品有限公司 一种强渗型玻璃裂纹检测装置
CN105973905A (zh) * 2016-06-17 2016-09-28 苏州市灵通玻璃制品有限公司 一种玻璃裂纹检测装置
CN105973906A (zh) * 2016-06-17 2016-09-28 苏州市灵通玻璃制品有限公司 一种拍照式玻璃裂纹检测装置
US11312923B2 (en) 2017-01-20 2022-04-26 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US10421926B2 (en) 2017-01-20 2019-09-24 Ecolab Usa Inc. Cleaning and rinse aid compositions and emulsions or microemulsions employing optimized extended chain nonionic surfactants
US10883068B2 (en) 2017-01-20 2021-01-05 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US11028341B2 (en) 2017-01-20 2021-06-08 Ecolab Usa Inc. Cleaning and rinse aid compositions and emulsions or microemulsions employing optimized extended chain nonionic surfactants
US10273433B2 (en) 2017-01-20 2019-04-30 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US11591546B2 (en) 2017-01-20 2023-02-28 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US11814604B2 (en) 2017-01-20 2023-11-14 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US12077726B2 (en) 2017-01-20 2024-09-03 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US12234426B2 (en) 2017-01-20 2025-02-25 Ecolab Usa Inc. Cleaning compositions employing extended chain anionic surfactants
US11873465B2 (en) 2019-08-14 2024-01-16 Ecolab Usa Inc. Methods of cleaning and soil release of highly oil absorbing substrates employing optimized extended chain nonionic surfactants
US12338413B2 (en) 2019-08-14 2025-06-24 Ecolab Usa Inc. Methods of cleaning and soil release of highly oil absorbing substrates employing optimized extended chain nonionic surfactants

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