JPS6385372A - 電磁波測定装置 - Google Patents
電磁波測定装置Info
- Publication number
- JPS6385372A JPS6385372A JP23271586A JP23271586A JPS6385372A JP S6385372 A JPS6385372 A JP S6385372A JP 23271586 A JP23271586 A JP 23271586A JP 23271586 A JP23271586 A JP 23271586A JP S6385372 A JPS6385372 A JP S6385372A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- radio wave
- detection elements
- panels
- measuring device
- Prior art date
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- Pending
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
プリント基板又はユニット等の被測定物から放射する電
磁波を測定する装置であって、該測定装置を囲む６面の
うち底側のパネル上に複数個の検出用エレメントで形成
し、他の５面を電波吸収体で形成した箱体内に被測定物
を収容して、該被測定物から放射する電磁波を複数個の
検出用エレメントの出力線（コネクタ）を、周波数分析
器或いはレベルメータ等の外部測定器に接続して、各検
出用エレメントからの電磁波を測定して、妨害電磁波雑
音（以下妨害電波という）の分布が簡易に把握できる。
磁波を測定する装置であって、該測定装置を囲む６面の
うち底側のパネル上に複数個の検出用エレメントで形成
し、他の５面を電波吸収体で形成した箱体内に被測定物
を収容して、該被測定物から放射する電磁波を複数個の
検出用エレメントの出力線（コネクタ）を、周波数分析
器或いはレベルメータ等の外部測定器に接続して、各検
出用エレメントからの電磁波を測定して、妨害電磁波雑
音（以下妨害電波という）の分布が簡易に把握できる。
本発明は、プリント基板又はユニット等の被測定物から
放射する妨害電波の分布を簡易に把握できるようにした
電磁波測定装置に関する。
放射する妨害電波の分布を簡易に把握できるようにした
電磁波測定装置に関する。
近年、電子機器とくに磁気記憶を用いたオフィス機器の
開発が目覚ましく、これらのオフィス機器を同フロ“ア
ーに混在して使用される傾向にあるので、相互機器間の
電磁干渉を防ぐために機器は一般に電気的にシールドさ
れた構造となっている。
開発が目覚ましく、これらのオフィス機器を同フロ“ア
ーに混在して使用される傾向にあるので、相互機器間の
電磁干渉を防ぐために機器は一般に電気的にシールドさ
れた構造となっている。
ところがこのような電気的シールド（電磁遮蔽）を行な
っても他の機器の妨害電波の干渉を受ける恐れがあるの
で、電磁波を放射する機器を完全に電磁遮蔽をしなけれ
ば成らない。この対策として電磁波を放射する機器の電
磁波の分布を簡易に測定できる電磁波測定装置の出現が
要望されている。
っても他の機器の妨害電波の干渉を受ける恐れがあるの
で、電磁波を放射する機器を完全に電磁遮蔽をしなけれ
ば成らない。この対策として電磁波を放射する機器の電
磁波の分布を簡易に測定できる電磁波測定装置の出現が
要望されている。
従来の電磁波の測定は、電子機器から放射する電磁波を
アンテナで受信して、該受信電波を周波数分析器又はレ
ベルメータ等の測定器で検出するのであるが、これらの
試験場所としては電波密度の少ない土地（山間の凹地等
）に設けられた「測定サイト」又は電波吸収体で囲まれ
た「電波暗室」を設置して測定を行なっている。
アンテナで受信して、該受信電波を周波数分析器又はレ
ベルメータ等の測定器で検出するのであるが、これらの
試験場所としては電波密度の少ない土地（山間の凹地等
）に設けられた「測定サイト」又は電波吸収体で囲まれ
た「電波暗室」を設置して測定を行なっている。
上記従来の電磁波の測定にあっては、設備が高価であり
設置場所及び設置数が限定されるので、簡単に使用出来
ず、しかも使用時間の制限等により、開発過程における
実験等が支障を来すという問題点があった。
設置場所及び設置数が限定されるので、簡単に使用出来
ず、しかも使用時間の制限等により、開発過程における
実験等が支障を来すという問題点があった。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記の問題点を解決して被測定物から放射す
る電磁波を簡易に測定できるようにした電磁波測定装置
を提供するものである。
る電磁波を簡易に測定できるようにした電磁波測定装置
を提供するものである。
すなわち、被測定物から放射する電磁波を測定する装置
を、前記被測定物を囲む１面以上複数面のパネル上に金
属電極板又はコイルからなる複数個の検出用エレメント
を配置し、この検出用エレメント以外の他の全面を電波
吸収体で形成して、前記それぞれの検出用エレメントの
出力線を、外部測定器に接続して、前記被測定物から放
射する電磁波の分布を測定するようにしたことによって
解決される。
を、前記被測定物を囲む１面以上複数面のパネル上に金
属電極板又はコイルからなる複数個の検出用エレメント
を配置し、この検出用エレメント以外の他の全面を電波
吸収体で形成して、前記それぞれの検出用エレメントの
出力線を、外部測定器に接続して、前記被測定物から放
射する電磁波の分布を測定するようにしたことによって
解決される。
上記電磁波測定装置は、電磁波を放射する被測定物を収
容する箱体の底側のパネル上に複数個の検出用エレメン
トで構成し、他の５面を金属電極板又はコイルからなる
電波吸収体で囲った簡易な構造で、しかも複数個の検出
用エレメントを用いたことにより、放射する電磁波分布
を簡易に把握することができる。
容する箱体の底側のパネル上に複数個の検出用エレメン
トで構成し、他の５面を金属電極板又はコイルからなる
電波吸収体で囲った簡易な構造で、しかも複数個の検出
用エレメントを用いたことにより、放射する電磁波分布
を簡易に把握することができる。
第１図は、本発明の一実施例を説明する模式的斜視図で
ある。
ある。
プリント基板又はユニット等の被測定物１から放射する
電磁波を測定する測定装置を、該被測定物１の収容可能
な箱体で形成し、該箱体の底側のパネル３上に金属電極
板又はコイル等からなる複数個（図面では４ａ〜４ｒの
６個）の検出用エレメント４を密着するよう配置し、他
の全面をたとえばフェライト粉末を板状に焼結したタイ
ル又はフェライト粉末を含浸させたクサビ状のスポンジ
等の電波吸収体６で構成したものであるが、被測定物１
を出し入れするために電波吸収体６の上面板（天井Ｆｉ
）は取外し可能な構成とする。
電磁波を測定する測定装置を、該被測定物１の収容可能
な箱体で形成し、該箱体の底側のパネル３上に金属電極
板又はコイル等からなる複数個（図面では４ａ〜４ｒの
６個）の検出用エレメント４を密着するよう配置し、他
の全面をたとえばフェライト粉末を板状に焼結したタイ
ル又はフェライト粉末を含浸させたクサビ状のスポンジ
等の電波吸収体６で構成したものであるが、被測定物１
を出し入れするために電波吸収体６の上面板（天井Ｆｉ
）は取外し可能な構成とする。
そうして、前記検出用エレメント４（４ａ〜４ｆ）から
はそれぞれコネクタ等の出力線５ （５ａ〜５ｆ）が引
き出されている。
はそれぞれコネクタ等の出力線５ （５ａ〜５ｆ）が引
き出されている。
このような構成の電磁波測定装置の前記取外し可能な上
面板（天井板）を取り外して、図示しない電源、信号線
で駆動される被測定物１ （図面ではプリント基板を示
す）を収容して動作せしめた状態で、検出用エレメント
６の出力線５ａ〜５ｆを順次外部測定器２に接続して、
被測定物１の各部から放射される電磁波を測定する。
面板（天井板）を取り外して、図示しない電源、信号線
で駆動される被測定物１ （図面ではプリント基板を示
す）を収容して動作せしめた状態で、検出用エレメント
６の出力線５ａ〜５ｆを順次外部測定器２に接続して、
被測定物１の各部から放射される電磁波を測定する。
なお、本実施例では検出用エレメント４を６個用いた説
明をしたが、６個に限らず複数個であっても構わないが
、電磁波の精密な放射分布を必要とする場合は個数が多
いのが好ましい。また被測定物１の出し入れのために箱
体の上面板（天井板）を取外す説明をしたが、上面板に
限らず側面板であっても良い。また検出用エレメント４
は箱体の底側に用いた説明をしたが、目的に応じ１面以
上複数面（箱体の前面）であっても良い。
明をしたが、６個に限らず複数個であっても構わないが
、電磁波の精密な放射分布を必要とする場合は個数が多
いのが好ましい。また被測定物１の出し入れのために箱
体の上面板（天井板）を取外す説明をしたが、上面板に
限らず側面板であっても良い。また検出用エレメント４
は箱体の底側に用いた説明をしたが、目的に応じ１面以
上複数面（箱体の前面）であっても良い。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば放射す
る電磁波の測定が簡易に行なえ、その分布が正確に把握
できるので、開発過程の機器の電磁波測定に適用して極
めて有効である。
る電磁波の測定が簡易に行なえ、その分布が正確に把握
できるので、開発過程の機器の電磁波測定に適用して極
めて有効である。
第１図は、本発明の一実施例を説明する模式的斜視図で
ある。 図において、１は被測定物、２は外部測定器、３はパネ
ル、４．４ａ〜４ｆは検出用エレメント、５．５ａ〜５
ｆは出力線、６は電波吸収体、をそれぞれ示す。 本発明の一父施例 第１図
ある。 図において、１は被測定物、２は外部測定器、３はパネ
ル、４．４ａ〜４ｆは検出用エレメント、５．５ａ〜５
ｆは出力線、６は電波吸収体、をそれぞれ示す。 本発明の一父施例 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定物（１）から放射する電磁波を測定する装置であ
って、 前記被測定物（１）を囲む１面以上複数面のパネル（３
）上に金属電極板又はコイルからなる複数個の検出用エ
レメント（４）を配置し、該検出用エレメント（４）以
外の箱体全面を電波吸収体（６）で形成して、前記それ
ぞれの検出用エレメント（４）の出力線（５）を、外部
測定器（２）に接続して、前記被測定物（１）から放射
する電磁波の分布を測定するようにしたことを特徴とす
る電磁波測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23271586A JPS6385372A (ja) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | 電磁波測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23271586A JPS6385372A (ja) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | 電磁波測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385372A true JPS6385372A (ja) | 1988-04-15 |
Family
ID=16943649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23271586A Pending JPS6385372A (ja) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | 電磁波測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6385372A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020022141A (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | アンリツ株式会社 | 平面アンテナ装置、それを備えた無線端末測定装置、及び無線端末測定方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5919874A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | 放射干渉感度試験装置 |
| JPS60122377A (ja) * | 1983-12-05 | 1985-06-29 | Nec Corp | Ｅｍｉ／ｒｆｉ測定装置 |
-
1986
- 1986-09-29 JP JP23271586A patent/JPS6385372A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5919874A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | 放射干渉感度試験装置 |
| JPS60122377A (ja) * | 1983-12-05 | 1985-06-29 | Nec Corp | Ｅｍｉ／ｒｆｉ測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020022141A (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | アンリツ株式会社 | 平面アンテナ装置、それを備えた無線端末測定装置、及び無線端末測定方法 |
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