JPS6385407A - Parameter group setting device for measuring instrument - Google Patents

Parameter group setting device for measuring instrument

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JPS6385407A
JPS6385407A JP23390086A JP23390086A JPS6385407A JP S6385407 A JPS6385407 A JP S6385407A JP 23390086 A JP23390086 A JP 23390086A JP 23390086 A JP23390086 A JP 23390086A JP S6385407 A JPS6385407 A JP S6385407A
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JP
Japan
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parameter
parameter group
circuit
measurement conditions
group
Prior art date
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Pending
Application number
JP23390086A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Kaneto
金戸 孝夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To facilitate the setting of parameter groups for determining measurement conditions by rearranging parameter groups in a storage circuit in specification frequency order every time a parameter group suitable to the measurement conditions is retrieved. CONSTITUTION:Many parameter groups each consisting of a necessary number of mutually relative parameters for determining various measurement conditions of measuring instrument are stored in the storage circuit while sequenced. When a parameter group suitable to a measurement condition is set, a specifying instruction for a parameter group is inputted from an input device 4 and then the parameter group of the highest specification frequency is read out of the circuit 2 by a parameter search circuit 12 and sent out to a display circuit 16. When the displayed parameter group does not suits to the measurement condition, a matched parameter is specified and inputted, then the circuit 12 performs retrieves, and a frequency carrying-up circuit 8 increases the specification frequency by one.

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、学習機能を備えた計測機器におけるパラメー
タ群設定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (A) Field of Industrial Application The present invention relates to a parameter group setting device for a measuring instrument equipped with a learning function.

(ロ)従来技術とその問題点 一般に、計測機器では、各種の計測条件を定める上で数
値等のパラメータを設定することが必要となる。
(B) Prior art and its problems In general, in measuring instruments, it is necessary to set parameters such as numerical values in order to determine various measurement conditions.

従来、このようなパラメータを設定する場合にi;J:
、(i)個々のパラメータについて、これに対応して各
−つのディフォルト値を決めておき、各パラメータを環
元するのに応じてディフォルト値を呼び出す方式と、(
ii)計測条件に応じて複数のパラメータをグループ化
してパラメータ群とし、これを収集してテーブルを作成
しておき、使用時に。
Conventionally, when setting such parameters, i;J:
, (i) A method in which default values are determined for each parameter and the default values are called in response to enumeration of each parameter;
ii) Group multiple parameters into a parameter group according to measurement conditions, collect them and create a table before use.

は、該当するパラメータ群の番号や名称を指定すること
で、パラメータ群を一括して呼び出す方式とが採用され
ている。
, a method is adopted in which a group of parameters is called at once by specifying the number and name of the corresponding parameter group.

しかしながら、(1)の方式では、計測条件を変更する
ような場合には、ディフォルト値以外のパラメータをそ
の都度入力せねばならず、計測条件の設定が煩雑になる
。また、(11)の方式では、事前に計測条件に適合し
た各種のパラメータ群を収集してテーブルを作成してお
かねばならず、テーブルを作成に多大の労力を要する。
However, in the method (1), when changing the measurement conditions, parameters other than default values must be input each time, which makes setting the measurement conditions complicated. Furthermore, in the method (11), a table must be created by collecting various parameter groups that match the measurement conditions in advance, which requires a great deal of effort to create the table.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、計測条件に応じたパラメータ群を登録していくたび
に、その内容が学習され、後になる程パラメータ群の設
定が容易になるようにすることを目的とする。
The present invention has been made in view of these circumstances, and each time a parameter group corresponding to measurement conditions is registered, the contents are learned, and the later the parameter group setting becomes easier. The purpose is to do so.

(ハ)問題点を解決するtこめの手段 本発明は、上記の目的を達成するために、次の構成を採
る。すなわち、本発明の計測機器におけるパラメータ群
設定装置は、 計測機器の各種の計測条件を定める互いに関連する所要
数のパラメータからなるパラメータ群の多数を順序付け
て記憶するパラメータ群記憶回路と、 計測条件について適合する各パラメータを指定入力する
入力装置と、 前記入力装置により指定されたパラメータを含むパラメ
ータ群を前記パラメータ群記憶回路から検索して表示回
路に送出するパラメータサーチ回路と、 前記パラメータ群記憶回路に記憶されているパラメータ
群の内から計測条件に適合した一連のパラメータの指定
操作によって一つのパラメータ群が指定されるたびに、
全パラメータ群を指定頻度順に並べ代えるパラメータ群
並べ代え回路と、を備えている。
(c) Additional means for solving the problems In order to achieve the above object, the present invention adopts the following configuration. That is, the parameter group setting device for a measuring instrument according to the present invention includes: a parameter group storage circuit that stores in order a large number of parameter groups consisting of a required number of mutually related parameters that define various measurement conditions of the measuring instrument; an input device for specifying and inputting each matching parameter; a parameter search circuit for searching the parameter group storage circuit for a parameter group including the parameters specified by the input device and sending the searched parameter group to the display circuit; Each time one parameter group is specified by specifying a series of parameters that match the measurement conditions from among the stored parameter groups,
and a parameter group rearrangement circuit that rearranges all parameter groups in order of designated frequency.

(ニ)作用 本発明のパラメータ群設定装置の作用は次の通りである
(D) Function The parameter group setting device of the present invention operates as follows.

計測条件に適合するーっのパラメータ群を設定する場合
には、入力装置によって一つのパラメータを指定する。
When setting a group of parameters that match the measurement conditions, one parameter is specified using the input device.

すると、パラメータサーチ回路がこれに応答してパラメ
ータ群記憶回路から指定されたパラメータを含むパラメ
ータ群を検索して表示回路に送出する。
In response to this, the parameter search circuit searches the parameter group storage circuit for a parameter group including the designated parameter and sends it to the display circuit.

=3= 計測条件に適合した一連のパラメータの指定操作によっ
て一つのパラメータ群が指定されると、パラメータ群並
べ代え回路がパラメータ群記憶回路に記憶されている全
パラメータ群を指定頻度の順に並べ代える。そのため、
パラメータ群記憶回路には、指定頻度の高い順にパラメ
ータ群が記憶される。つまり、パラメータ群を指定する
たびにその内容が学習されることになる。
=3= When one parameter group is designated by a series of parameter designation operations that match the measurement conditions, the parameter group rearrangement circuit rearranges all parameter groups stored in the parameter group storage circuit in order of the frequency of designation. . Therefore,
Parameter groups are stored in the parameter group storage circuit in descending order of designation frequency. In other words, each time a parameter group is specified, its contents are learned.

(ポ)実施例 第1図は、本発明の実施例に係る計測機器におけるパラ
メータ群設定装置の構成図である。同図において、符号
lはパラメータ群設定装置の全体を示し、2は計測機器
の各種の計測条件を定める互いに関連する所要数のパラ
メータからなるパラメータ群の多数を順序付けて記憶す
るパラメータ群記憶回路、4は計測条件に適合した各パ
ラメータを指定入力する入力装置である。
(P) Embodiment FIG. 1 is a configuration diagram of a parameter group setting device in a measuring instrument according to an embodiment of the present invention. In the same figure, reference numeral l indicates the entire parameter group setting device, and reference numeral 2 indicates a parameter group storage circuit that stores in order a large number of parameter groups consisting of a required number of mutually related parameters that define various measurement conditions of the measuring instrument; Reference numeral 4 denotes an input device for specifying and inputting each parameter that matches the measurement conditions.

6はパラメータ群記憶回路2から読み出されたパラメー
タ群を表示するCRTディスプレイ等の表示回路、8は
計測条件に適合した一連のバラン一タの指定操作によっ
て一つのパラメータ群が指定されるたびにそのパラメー
タ群の指定頻度を繰り」二げる頻度繰り上げ回路、IO
はこの頻度繰り上げ回路8の頻度繰り上げ結果に基づい
てパラメータ群記憶回路2に記憶されているパラメータ
群を指定頻度の順に並べ代えるパラメータ群並べ代え回
路である。
6 is a display circuit such as a CRT display that displays the parameter group read out from the parameter group storage circuit 2; 8 is a display circuit such as a CRT display that displays the parameter group read out from the parameter group storage circuit 2; Frequency increment circuit that increments the specified frequency of a parameter group, IO
is a parameter group rearranging circuit that rearranges the parameter groups stored in the parameter group storage circuit 2 in the order of designated frequencies based on the frequency raising result of the frequency raising circuit 8.

また、12は入力装置4により指定されたパラメータを
含むパラメータ群をパラメータ群記憶回路2から検索し
て表示回路6に送出するパラメータサーチ回路、14は
パラメータサーチ回路I2のワーキングメモリ、16は
上記の各回路2〜12を統括制御する制御装置である。
Further, 12 is a parameter search circuit that searches the parameter group storage circuit 2 for a parameter group including the parameter specified by the input device 4 and sends it to the display circuit 6, 14 is a working memory of the parameter search circuit I2, and 16 is the above-mentioned parameter search circuit. This is a control device that centrally controls each circuit 2 to 12.

次に、このパラメータ群設定装置lの動作について、第
2図に示すフローヂャートを参照して説明する。なお、
この実施例では、第3図に示すように、計測条件が互い
に関連する第11第2、第3パラメータX、YSZによ
り設定される場合について説明する。
Next, the operation of this parameter group setting device 1 will be explained with reference to the flowchart shown in FIG. In addition,
In this embodiment, as shown in FIG. 3, a case will be described in which measurement conditions are set by eleventh, second, and third parameters X and YSZ that are related to each other.

計測条件に適合するパラメータ群を設定する場合には、
まず、入力装置4からパラメータ群の指定命令を入力す
る。すると、これに応答してパラメータサーチ回路12
がパラメータ群記憶回路2から最多指定頻度のパラメー
タ群、この例ではXl、YいZlからなるパラメータ群
を読み出し、このパラメータ群を表示回路6に送出する
。したがって、表示回路6には、最多指定頻度の一つの
パラメータ群X、、Y、、Z、かまず最初に表示される
(ステップI)。
When setting a group of parameters that match the measurement conditions,
First, a parameter group designation command is input from the input device 4. Then, in response to this, the parameter search circuit 12
reads the most frequently specified parameter group from the parameter group storage circuit 2, in this example a parameter group consisting of Xl, Y and Zl, and sends this parameter group to the display circuit 6. Therefore, the display circuit 6 first displays one parameter group X, Y, Z, which is specified most frequently (Step I).

このパラメータ群を構成する各パラメータX11Y1、
Zlが計測条件にすべて適合しておれば、入力装置4か
らパラメータ群の指定命令を入力すると、制御装置16
がこの指定命令に応じてステップ2〜ステツプ9〜ステ
ツプlO〜ステツプ17〜ステツプ18〜ステツプ20
を経由してパラメータ群X1、Y8、Zlを順次固定す
る。パラメータWX、、Yl、’y、、カ固定サレルす
、続イテ、パラメータサーチ回路12がパラメータ群記
憶回路2を検索して該当する最多指定頻度のパラメータ
群を抽出しくステップ21)、このデータを制御装置1
6に転送するので、これによって計測条件が設定される
。次に、頻度繰り上げ回路8が指定されたパラメータ群
X+、Y+1. Z +の指定頻度を一つ繰り上げ、続
いて、パラメータ群並べ代え回路10が頻度繰り上げ回
路8の頻度繰り上げ結果に基づいて全パラメータ群を指
定頻度の順に並べ代える(ステップ23)。しかし、こ
の場合は、最多指定頻度のパラメータ群が指定されてい
るので、パラメータ群の順序は実質的に指定前と何等変
更がない。
Each parameter X11Y1 constituting this parameter group,
If Zl complies with all measurement conditions, when a parameter group designation command is input from the input device 4, the control device 16
In response to this designated command, steps 2 to 9 to step 10 to step 17 to step 18 to step 20 are performed.
The parameter groups X1, Y8, and Zl are sequentially fixed via . In step 21), the parameter search circuit 12 searches the parameter group storage circuit 2 and extracts the corresponding parameter group with the highest frequency of specification. Control device 1
6, the measurement conditions are thereby set. Next, the frequency incrementing circuit 8 selects the specified parameter groups X+, Y+1. The designated frequency of Z + is incremented by one, and then the parameter group rearrangement circuit 10 rearranges all parameter groups in the order of designated frequency based on the frequency raising result of the frequency raising circuit 8 (step 23). However, in this case, since the parameter group with the highest frequency of specification is specified, the order of the parameter groups is essentially unchanged from before specification.

最初に表示されたパラメータ群X1、Yl、Zlが計測
条件に適合していない場合には、計測条件に適合する第
1パラメータたとえばX3を入力装置4によって指定入
ツクする(ステップ3)。すると、これに応答してパラ
メータサーチ回路12がパラメータ群記憶回路2から指
定された第1パラメータX3を含むパラメータ群を検索
する(ステップ5)。該当する第1パラメータX3があ
れば、パラメータサーチ回路12はパラメータ群記憶回
路2から第1パラメータx3を含みかつ指定頻度の最も
一7= 高いパラメータ群たとえばx3、Y3、Z3を読み出し
、これを表示回路6に送出する(ステップ6)。
If the initially displayed parameter group X1, Yl, Zl does not meet the measurement conditions, a first parameter, for example X3, that matches the measurement conditions is designated and entered using the input device 4 (step 3). Then, in response to this, the parameter search circuit 12 searches the parameter group storage circuit 2 for a parameter group including the designated first parameter X3 (step 5). If there is a corresponding first parameter X3, the parameter search circuit 12 reads from the parameter group storage circuit 2 a parameter group that includes the first parameter x3 and has the highest specified frequency, such as x3, Y3, Z3, and displays it. The signal is sent to circuit 6 (step 6).

このパラメータ群を構成するすべてのパラメータがX3
、Y3、Z3が計測条件に適合しておれば、入力装置4
からこのパラメータ群の指定命令を入力することで制御
装置16がこれに応答して、ステップ9〜ステツプlO
〜ステツプ17〜ステツプ18〜ステツプ20を経由し
てパラメータ群X3、Y3、Z3を順次固定する。パラ
メータ群がX3、Y3、Z3が固定されると、続いて、
パラメータサーチ回路12がパラメータ群記憶回路2を
検索して該当するパラメータ群を読み出して制御装置1
6に転送するので(ステップ21)、これによって計測
条件が設定される。次に、頻度繰り上げ回路8が指定さ
れたパラメータ群X3、Y3、Z3の指定頻度を一つ繰
り」二げ、続いて、パラメータ群並べ代え回路10が頻
度繰り上げ回路8の頻度繰り上げ結果に基づいて全パラ
メータ群を指定頻度の順に並べ代える(ステップ23)
。したがって、パラメータ群記憶回路2には、指定頻度
の高い順にパラメータ群が再整列されて記憶されること
になる。
All parameters that make up this parameter group are
, Y3, and Z3 meet the measurement conditions, the input device 4
The control device 16 responds to this by inputting a command to specify this parameter group from the
The parameter groups X3, Y3, and Z3 are fixed in sequence through steps 17 to 18 to 20. When the parameter group X3, Y3, and Z3 are fixed, then
The parameter search circuit 12 searches the parameter group storage circuit 2 and reads out the corresponding parameter group.
6 (step 21), measurement conditions are thereby set. Next, the frequency raising circuit 8 increments the designated frequencies of the designated parameter groups Sort all parameter groups in order of specified frequency (step 23)
. Therefore, the parameter groups are rearranged and stored in the parameter group storage circuit 2 in descending order of frequency of specification.

次に、計測条件を変更するなど、新たにパラメータ群X
a、Yb5Zcを設定する場合には、パラメータ群記憶
回路2には計測条件に適合する第1〜第3パラメータの
いずれの値も記憶されていないので、ステップ3におい
て、まず、入力装置4から第1パラメータXaを指定人
力すjる。すると、パラメータサーチ回路12はパラメ
ータ群記憶回路2から第1パラメータXiを含むパラメ
ータ群を検索するが(ステップ4)、この場合は該当す
る第1パラメータXiが無いので(ステップ5)次に、
パラメータサーチ回路2は、第1パラメータXiに最も
近似した値の第1パラメータを含むパラメータ群たとえ
ばXm、YmS Zmを一つ選び出しくステップ7)、
このパラメータ群の第2、第3パラメータYL Zmを
先に指定された第1パラメータXjとリンクして表示回
路6に送出する(ステップ8)。したがって、表示回路
6には、Xa、1m。
Next, by changing the measurement conditions, etc., a new parameter group
a, Yb5Zc, since the parameter group storage circuit 2 does not store any of the values of the first to third parameters that meet the measurement conditions, in step 3, first the 1 Parameter Xa is specified manually. Then, the parameter search circuit 12 searches the parameter group storage circuit 2 for a parameter group including the first parameter Xi (step 4), but in this case, since there is no corresponding first parameter Xi (step 5), next,
The parameter search circuit 2 selects one parameter group, for example, Xm, YmS, Zm, including the first parameter with the value most similar to the first parameter Xi (step 7),
The second and third parameters YLZm of this parameter group are linked with the previously designated first parameter Xj and sent to the display circuit 6 (step 8). Therefore, the display circuit 6 has Xa, 1m.

Zmからなるパラメータ群が表示される。また、その際
に制御装置16は、指定された第1パラメータXaを固
定する(ステップ9)。
A parameter group consisting of Zm is displayed. Also, at this time, the control device 16 fixes the specified first parameter Xa (step 9).

次に、ステップIOを経て入力装置2から第2パラメー
タybを入力すると(ステップ11)、パラメータ群記
憶回路2は、第1、第2パラメータXa、Ybを含むパ
ラメータ群を検索する(ステップ12)。この場合、該
当するパラメータ群が無いので(ステップ13)、次に
、パラメータサーヂ回路2は、第11第2パラメータX
a、Ybに最も近似した第1、第2パラメータをもつパ
ラメータ群たとえばXn5Yn、Znを一つ選び出しく
ステップ15)、このパラメータ群の第3パラメータZ
nを先に指定された第1、第2パラメータXa、Ybと
リンクして表示回路6に出力する(ステップ16)。し
たがって、表示回路6には、Xa、Yb。
Next, when the second parameter yb is input from the input device 2 through step IO (step 11), the parameter group storage circuit 2 searches for a parameter group including the first and second parameters Xa and Yb (step 12). . In this case, since there is no corresponding parameter group (step 13), the parameter surge circuit 2 next calculates the 11th second parameter
Step 15) Select one parameter group having the first and second parameters most similar to a, Yb, for example, Xn5Yn, Zn, and select the third parameter Z of this parameter group.
n is linked with the previously specified first and second parameters Xa and Yb and output to the display circuit 6 (step 16). Therefore, the display circuit 6 includes Xa and Yb.

Znからなるパラメータ群が表示される。また、その際
に制御装置I6が指定された第2パラメータYbを固定
する(ステップ+7)。
A parameter group consisting of Zn is displayed. Also, at this time, the control device I6 fixes the specified second parameter Yb (step +7).

さらに、ステップ18を経て入力装置2から第3パラメ
ータZcを指定入力すると(ステップ19)制御装置I
9が指定された第3パラメータZcを固定する一方(ス
テップ20)、パラメータ群記憶回路2が指定された第
1、第2、第3パラメータXa、 Yb、 Zcを含む
パラメータ群を検索する(ステップ21)。この場合、
該当するパラメータ群が無いので(ステップ22)、次
に、制御装置16がパラメータ群記憶回路2の記憶容量
に余裕があるか否かを判断しくステップ24)、記憶容
量に余裕があれば、空白部分の先頭部(すでにパラメー
タ群が記憶されておれば、その末尾)に新たに指定した
パラメータ群Xa、Yb5Zcを記憶する。
Furthermore, when the third parameter Zc is designated and input from the input device 2 through step 18 (step 19), the control device I
9 fixes the designated third parameter Zc (step 20), while the parameter group storage circuit 2 searches for a parameter group including the designated first, second, and third parameters Xa, Yb, and Zc (step 21). in this case,
Since there is no corresponding parameter group (step 22), the control device 16 then determines whether there is enough storage capacity in the parameter group storage circuit 2 (step 24). The newly designated parameter group Xa, Yb5Zc is stored at the beginning of the section (or at the end if the parameter group has already been stored).

この場合、新たに設定されたパラメータ群Xa。In this case, the newly set parameter group Xa.

Yb、Zcの指定頻度は“1”となる。The designation frequency of Yb and Zc is "1".

なお、この実施例では、計測機器の計測条件を設定する
場合について説明したが、その他、日本語ワードプロセ
ッザーの同音意義語の選択にも本発明を適用することが
可能である。
In this embodiment, a case has been described in which measurement conditions for a measuring device are set, but the present invention can also be applied to the selection of homophones in a Japanese word processor.

(へ)効果 以上のように本発明によれば、計測条件に適合したパラ
メータ群を登録していくたびに、その内容が学習され、
後になる程パラメータ群の設定が容易になる等の優れた
効果が発揮される。
(f) Effects As described above, according to the present invention, each time a parameter group that matches the measurement conditions is registered, its contents are learned.
Excellent effects such as easier setting of parameter groups are exhibited as the process progresses later.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例のパラメータ群設定装置の構成
図、第2図は同装置の動作を説明するフローチャート、
第3図はパラメータ群記憶回路に記憶されたパラメータ
群の内容を示す説明図である。 ■・・・パラメータ群設定装置、2・・・パラメータ群
記憶回路、4・・・入力装置、6・・・表示回路、10
・・パラメータ群並び代え回路、12・・・パラメータ
サーヂ回路。
FIG. 1 is a configuration diagram of a parameter group setting device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart explaining the operation of the device.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the contents of the parameter group stored in the parameter group storage circuit. ■...Parameter group setting device, 2...Parameter group storage circuit, 4...Input device, 6...Display circuit, 10
...Parameter group rearrangement circuit, 12...Parameter surge circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)計測機器の各種の計測条件を定める互いに関連す
る所要数のパラメータからなるパラメータ群の多数を順
序付けて記憶するパラメータ群記憶回路と、 計測条件について適合する各パラメータを指定入力する
入力装置と、 前記入力装置により指定されたパラメータを含むパラメ
ータ群を前記パラメータ群記憶回路から検索して表示回
路に送出するパラメータサーチ回路と、 前記パラメータ群記憶回路に記憶されているパラメータ
群の内から計測条件に適合した一連のパラメータの指定
操作によって一つのパラメータ群が指定されるたびに、
全パラメータ群を指定頻度順に並べ代えるパラメータ群
並べ代え回路と、を備えることを特徴とする計測機器に
おけるパラメータ群設定装置。
(1) A parameter group storage circuit that stores in order a large number of parameter groups consisting of a required number of mutually related parameters that define various measurement conditions of a measuring device, and an input device that specifies and inputs each parameter that is compatible with the measurement conditions. , a parameter search circuit that searches the parameter group storage circuit for a parameter group including the parameter specified by the input device and sends the searched parameter group to a display circuit; Each time a parameter group is specified by a series of parameter specification operations that match the
1. A parameter group setting device for a measuring instrument, comprising: a parameter group rearranging circuit that rearranges all parameter groups in order of designated frequency.
JP23390086A 1986-09-30 1986-09-30 Parameter group setting device for measuring instrument Pending JPS6385407A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04204216A (en) * 1990-11-30 1992-07-24 Yamatake Honeywell Co Ltd Meter

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04204216A (en) * 1990-11-30 1992-07-24 Yamatake Honeywell Co Ltd Meter

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