JPS6385414A - マルチビ−ム測光装置 - Google Patents
マルチビ−ム測光装置Info
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- JPS6385414A JPS6385414A JP23391486A JP23391486A JPS6385414A JP S6385414 A JPS6385414 A JP S6385414A JP 23391486 A JP23391486 A JP 23391486A JP 23391486 A JP23391486 A JP 23391486A JP S6385414 A JPS6385414 A JP S6385414A
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- Japan
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- light
- sample
- sample cells
- reading circuit
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は分光光度計に関し、特に複数の測定試料を測定
することができる分光光度計に関するものである。
することができる分光光度計に関するものである。
（従来の技術）
第７図に複数の試料を測定することのできる分光光度計
の例を示す。
の例を示す。
化学反応が進行中の、例えば６種の溶液を紫外吸収法を
用いて同時に測定するには、通称セルポジショナ−とい
う試料切換え器を用いるのが普通である。
用いて同時に測定するには、通称セルポジショナ−とい
う試料切換え器を用いるのが普通である。
第７図において、２は６連のセルであり、６個の試料セ
ル４−１〜４−６が設けられている。このセル２はセル
ポジショナ−によってモータで矢印方向に往復運動され
る。６は測定光の光源、８は分光器、１０は検出器であ
る。
ル４−１〜４−６が設けられている。このセル２はセル
ポジショナ−によってモータで矢印方向に往復運動され
る。６は測定光の光源、８は分光器、１０は検出器であ
る。
試料セル４−１〜４−６に収容された試料をモータによ
って自動的に切り換え、分光器８で分光された測定光を
通し、検出器】０で検出する。試料セル４−１〜４−６
の切換えは、例えば１５秒に１回といった周期で順次繰
り返して行なわれ、６個の溶液の反応経過を同時進行で
測定することができる。
って自動的に切り換え、分光器８で分光された測定光を
通し、検出器】０で検出する。試料セル４−１〜４−６
の切換えは、例えば１５秒に１回といった周期で順次繰
り返して行なわれ、６個の溶液の反応経過を同時進行で
測定することができる。
（発明が解決しようとする問題点）
第７図に示されるように、セルポジショナ−を備えた分
光光度計では、試料を機械的に動かして切り換えるので
、測定周期を速くすることができない。１試料について
１秒程度測定し、６個の試料で往復１０秒といった周期
が限界である。したがって、速い反応の同時測定を行な
うことができない。
光光度計では、試料を機械的に動かして切り換えるので
、測定周期を速くすることができない。１試料について
１秒程度測定し、６個の試料で往復１０秒といった周期
が限界である。したがって、速い反応の同時測定を行な
うことができない。
本発明は、複数試料の測定周期を速くしたり、繰返し測
定でない試料でも複数の試料を速く測定することのでき
る分光光度計を提供することを目的とするものである。
定でない試料でも複数の試料を速く測定することのでき
る分光光度計を提供することを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明の分光光度計では、分光光度計の試料室に測定試
料を収容する試料セルを複数個設け、これらの試料セル
に測定光を切り換えて、又は並列に照射する光照射部を
設け、前記各試料セルに１個ずつの検出器を配置し、こ
れらの検出器の信号を順次読み取る読取り回路を設け、
この読取り回路の出力をＡ、 ／ Ｄ変換器を経てデー
タ処理部に導く。
料を収容する試料セルを複数個設け、これらの試料セル
に測定光を切り換えて、又は並列に照射する光照射部を
設け、前記各試料セルに１個ずつの検出器を配置し、こ
れらの検出器の信号を順次読み取る読取り回路を設け、
この読取り回路の出力をＡ、 ／ Ｄ変換器を経てデー
タ処理部に導く。
本明細書ではこのような分光光度計をマルチビーム測光
装置と称する。
装置と称する。
（実施例）
第１図は本発明の第１の実施例を表わすものであり、分
光器出力を光ファイバーによって分割して各試料セルに
並列に光照射するようにしたものである。
光器出力を光ファイバーによって分割して各試料セルに
並列に光照射するようにしたものである。
試料セル４−１〜４−６は位置が固定されている。１２
は光照射部としての光ファイバであり、光ファイバＩ２
は入射口が１個で出射口が６個に別れ、６個の出射口は
それぞれ試料セルＡ−］〜４−６に光を照射するように
位置決めされている。
は光照射部としての光ファイバであり、光ファイバＩ２
は入射口が１個で出射口が６個に別れ、６個の出射口は
それぞれ試料セルＡ−］〜４−６に光を照射するように
位置決めされている。
各試料セル４−１〜／Ｉ−６を透過した光を検出する位
置に、それぞれ検出器１０−１〜１０−６が設けられて
いる。１４−１〜１４−６は検出器１０−１〜１０−６
のそれぞれの信号を増幅し積分する増幅・積分回路であ
り、１６は増幅・積分回路１４−１〜１４−６の出力を
順次Ａ／Ｄ変換器１８に導くマルチプレクサである。Ａ
／Ｄ変換器１８によってデジタル信号に変換された出力
はデータ処理部に導かれる。
置に、それぞれ検出器１０−１〜１０−６が設けられて
いる。１４−１〜１４−６は検出器１０−１〜１０−６
のそれぞれの信号を増幅し積分する増幅・積分回路であ
り、１６は増幅・積分回路１４−１〜１４−６の出力を
順次Ａ／Ｄ変換器１８に導くマルチプレクサである。Ａ
／Ｄ変換器１８によってデジタル信号に変換された出力
はデータ処理部に導かれる。
増幅・積分回路１４−１〜１４−６はすべて同じ構成を
とっており、検出器１０−１〜１０−６の信号を増幅す
る前置増幅器２０と、前置増幅器２０の信号をスイッチ
２２を介して入力する積分器２４とを備えている。積分
器２４ではコンデンサに並列にスイッチ２６が設けられ
ている。
とっており、検出器１０−１〜１０−６の信号を増幅す
る前置増幅器２０と、前置増幅器２０の信号をスイッチ
２２を介して入力する積分器２４とを備えている。積分
器２４ではコンデンサに並列にスイッチ２６が設けられ
ている。
増幅・積分回路１４−１〜１４−６におけるスイッチ２
２は、積分を開始するコントローラであり、スイッチ２
６は積分器２４をリセットするスイッチである。積分器
２４では、スイッチ２２を閉じ、スイッチ２６を開いて
いる間積分が行なわれる。スイッチ２６を閉じると積分
器２４の出力がリセットされ、次の積分に備える。
２は、積分を開始するコントローラであり、スイッチ２
６は積分器２４をリセットするスイッチである。積分器
２４では、スイッチ２２を閉じ、スイッチ２６を開いて
いる間積分が行なわれる。スイッチ２６を閉じると積分
器２４の出力がリセットされ、次の積分に備える。
＝４−
増幅・積分回路１４−１〜１４−６とマルチプレクサ１
６は読取り回路を構成している。
６は読取り回路を構成している。
本実施例では光源６からの光は分光器８で分光され、光
ファイバ１２によって６個の試料セル４−１〜４−６に
並列に照射される。試料セル４−１〜４−６を通過した
光は検出器１０−１〜１〇−６で検出される。増幅・積
分回路１４−１〜１４−６では、スイッチ２６を閉じて
積分器２４の積分出力をリセットした後再びスイッチ２
６を開き、すべての増幅・積分回路１４−１〜１４−６
についてスイッチ２２を閉じ、一定期間、例えば２０ミ
リ秒積分した後スイッチ２２を開く。これによって積分
は終了し、積分器２４は一定値にホールドされているの
で、例えば１０ミリ秒の間にマルチプレクサ１６を切り
換えて順次Ａ／Ｄ変換器１８に増幅・積分回路１４−１
〜１４−６の出力を取り込む。これによって、３０ミリ
秒のうち２０ミリ秒間並列測定していることになる。
ファイバ１２によって６個の試料セル４−１〜４−６に
並列に照射される。試料セル４−１〜４−６を通過した
光は検出器１０−１〜１〇−６で検出される。増幅・積
分回路１４−１〜１４−６では、スイッチ２６を閉じて
積分器２４の積分出力をリセットした後再びスイッチ２
６を開き、すべての増幅・積分回路１４−１〜１４−６
についてスイッチ２２を閉じ、一定期間、例えば２０ミ
リ秒積分した後スイッチ２２を開く。これによって積分
は終了し、積分器２４は一定値にホールドされているの
で、例えば１０ミリ秒の間にマルチプレクサ１６を切り
換えて順次Ａ／Ｄ変換器１８に増幅・積分回路１４−１
〜１４−６の出力を取り込む。これによって、３０ミリ
秒のうち２０ミリ秒間並列測定していることになる。
本実施例を第７図に示された従来の分光光度計と比較す
ると、本実施例では殆んど常時測定しているので、６個
の試料について極めて速い変化にも追従することができ
る。これに対して従来の第７図の分光光度計では１０秒
に１回程度しか測定できないので、速い反応の測定はで
きない。
ると、本実施例では殆んど常時測定しているので、６個
の試料について極めて速い変化にも追従することができ
る。これに対して従来の第７図の分光光度計では１０秒
に１回程度しか測定できないので、速い反応の測定はで
きない。
一方、光の強度は本実施例では光ファイバ１２によって
６つに分割されるので、測定期間中は第７図の従来のも
のに比べて１／６しか光強度を得ることができない。し
かし測定は常時行なわれるので、時間的に６倍照射され
ることになり、総合的には光強度の点で不利にはならな
い。
６つに分割されるので、測定期間中は第７図の従来のも
のに比べて１／６しか光強度を得ることができない。し
かし測定は常時行なわれるので、時間的に６倍照射され
ることになり、総合的には光強度の点で不利にはならな
い。
第２図は第２の実施例を表わすものであり、光束の分割
に光ファイバではなく半透鏡２８−１〜２８−６を用い
たものである。
に光ファイバではなく半透鏡２８−１〜２８−６を用い
たものである。
光ファイバは例えば２００ｎｍのような紫外線領域で透
過率のよいものを得るのが極めて難かしいが、鏡や半透
鏡など光ファイバを用いない光束分割方法では、そのよ
うな波長領域による制限を受けない。
過率のよいものを得るのが極めて難かしいが、鏡や半透
鏡など光ファイバを用いない光束分割方法では、そのよ
うな波長領域による制限を受けない。
本実施例における光照射部である半透鏡２８−１〜２８
−６以外の構成は、第１図の実施例のものと全く同じで
ある。
−６以外の構成は、第１図の実施例のものと全く同じで
ある。
第３図は上記の実施例における検出器１０−１〜１０−
６の代りに用いられるダイオードアレイ３０を示すもの
である。
６の代りに用いられるダイオードアレイ３０を示すもの
である。
ダイオードアレイ３０の読出し回路中に第１図の実施例
における増幅・積分回路１４−１〜１４−６と同じ機能
が含まれているので、第１図の実施例における検出器１
０−１〜１０−６と増幅・積分回路１４−１〜１４−６
を置き換えたものが原理的に等価になる。
における増幅・積分回路１４−１〜１４−６と同じ機能
が含まれているので、第１図の実施例における検出器１
０−１〜１０−６と増幅・積分回路１４−１〜１４−６
を置き換えたものが原理的に等価になる。
第４図はさらに他の実施例を表わすものである。
本実施例は光照射部が照射光束の分割を時間的に行なう
ようにしたものである。光ファイバ３２の基端が分光器
８の出口に接続され、光ファイバ３２の先端が、モータ
３４によって上下方向に往復動させられるベルト３５に
取りつけられている。
ようにしたものである。光ファイバ３２の基端が分光器
８の出口に接続され、光ファイバ３２の先端が、モータ
３４によって上下方向に往復動させられるベルト３５に
取りつけられている。
光ファイバ３２の先端はモータ３４の駆動によって試料
セル４−１〜４−６の間を順次移動し、分光器８の出力
光を試料セル４−１〜４−６に順次照射していく。
セル４−１〜４−６の間を順次移動し、分光器８の出力
光を試料セル４−１〜４−６に順次照射していく。
本実施例では光ファイバ３２を機械的に動かすために、
第１図の実施例に比べると光の切換えが遅い。
第１図の実施例に比べると光の切換えが遅い。
本実施例において読取り回路で検出器１０−１〜ｌ０−
６からの信号を取り出す方法に次の２通りが考えられる
。
６からの信号を取り出す方法に次の２通りが考えられる
。
第１の方法は第１図の実施例と同様に増幅・積分回路１
４−１〜１４−６をそれぞれの検出器１０−１〜１０−
６に接続し、増幅・積分回路１４−１〜１４−６の出力
をマルチプレクサ１６によって順次切り換えてＡ／Ｄ変
換器１８に導く方法である。この場合、光ファイバ３２
によって試料セル４−１〜４−６を照射する一周期に対
して試料セル４−１〜４−６は各１回だけ照射され、こ
の照射される間だけが積分に寄与する。
４−１〜１４−６をそれぞれの検出器１０−１〜１０−
６に接続し、増幅・積分回路１４−１〜１４−６の出力
をマルチプレクサ１６によって順次切り換えてＡ／Ｄ変
換器１８に導く方法である。この場合、光ファイバ３２
によって試料セル４−１〜４−６を照射する一周期に対
して試料セル４−１〜４−６は各１回だけ照射され、こ
の照射される間だけが積分に寄与する。
読取り回路の他の例は、光ファイバ３２による試料セル
４−１〜４−６への照射と同期して読み取り回路側もス
イッチで切換えて受光する方法であり、第４図に示され
るように検出器１０−１〜１０−６の出力をスイッチ３
６で切換えて増幅器３８に入力し、増幅器３８の出力信
号をＡ／Ｄ変換器１８（第１図参照）を経てデータ処理
部へ導く。このようにすると、積分回路が不要になり、
読取り回路の構成が簡単になる。
４−１〜４−６への照射と同期して読み取り回路側もス
イッチで切換えて受光する方法であり、第４図に示され
るように検出器１０−１〜１０−６の出力をスイッチ３
６で切換えて増幅器３８に入力し、増幅器３８の出力信
号をＡ／Ｄ変換器１８（第１図参照）を経てデータ処理
部へ導く。このようにすると、積分回路が不要になり、
読取り回路の構成が簡単になる。
第５図はさらに他の実施例を表わすものであり、光照射
部として回転鏡４２を用いたものである。
部として回転鏡４２を用いたものである。
分光器８で分光された測定光は反射鏡４０で反射されて
矢印方向に回転する回転鏡４２に入射する。回転鏡４２
で反射された測定光は試料セル４−１〜４−６を順次照
射していく。４４は試料セル４−１〜４−６の前に設け
られるマスクである。
矢印方向に回転する回転鏡４２に入射する。回転鏡４２
で反射された測定光は試料セル４−１〜４−６を順次照
射していく。４４は試料セル４−１〜４−６の前に設け
られるマスクである。
本実施例における読取り回路は第４図の場合と同様に２
通りの方法で実現することができる。
通りの方法で実現することができる。
本実施例は光照射部が機械的及び光学的な両方の性格を
備えた例といえる。
備えた例といえる。
第６図は本発明のさらに他の実施例として、第１図の実
施例のような同時測光による反応追跡以外の例を示すも
のである。
施例のような同時測光による反応追跡以外の例を示すも
のである。
４４はマイクロプレートであり、マイクロプレート４４
の縦方向及び横方向に矩形に配列された測電液４６を短
時間に測定するものである。
の縦方向及び横方向に矩形に配列された測電液４６を短
時間に測定するものである。
マイクロプレート４４の上部には分光器からの照射光を
光ファイバ１２によって分割して縦方向に並んだ８個の
測定液４６に同時に光を照射する。
光ファイバ１２によって分割して縦方向に並んだ８個の
測定液４６に同時に光を照射する。
測定液４６を透過した光は、マイクロプレート４４の下
側に縦方向に配列された８個の検出器１゜−１〜１０−
８によって同時に検出される。すなわち、縦方向だけを
８個の検出器１ｏ−１〜１゜−６で並列に測定し、横方
向はマイクロプレート４４を移動させることによって測
定する。
側に縦方向に配列された８個の検出器１゜−１〜１０−
８によって同時に検出される。すなわち、縦方向だけを
８個の検出器１ｏ−１〜１゜−６で並列に測定し、横方
向はマイクロプレート４４を移動させることによって測
定する。
本実施例は試料の変化を測定する代りに、次々に隣の列
にある試料を測定していくものである。
にある試料を測定していくものである。
検出器１０−１〜１０−８の検出信号を読み取る読取り
回路としては第１図に示されているものと同じものを使
用することができる。
回路としては第１図に示されているものと同じものを使
用することができる。
ここで本発明のマルチビーム測光装置を、従来から使用
されているダブルビーム方式の測光装置と比較する。
されているダブルビーム方式の測光装置と比較する。
ダブルビーム方式は２本のビームを試料側と対照側とし
て用い、試料側の透過光と対照側の透過光の比、すなわ
ち吸光度の差、を用いてドリフトを減らすという目的で
使用されている。一方、本発明のマルチビーム方式の考
え方は、「多くの試料を同時又は殆んど同時に測定する
」という点で従来のダブルビーム方式とは異なった観点
に立っている。しかしながら、本発明のマルチビーム方
式で、照射光の１本を試料を入れない、すなわち空気の
部分又ぼブランク試料を入れた試料セルを通すことによ
ってダブルビーム方式の効果も合わせて持たせることが
できる。
て用い、試料側の透過光と対照側の透過光の比、すなわ
ち吸光度の差、を用いてドリフトを減らすという目的で
使用されている。一方、本発明のマルチビーム方式の考
え方は、「多くの試料を同時又は殆んど同時に測定する
」という点で従来のダブルビーム方式とは異なった観点
に立っている。しかしながら、本発明のマルチビーム方
式で、照射光の１本を試料を入れない、すなわち空気の
部分又ぼブランク試料を入れた試料セルを通すことによ
ってダブルビーム方式の効果も合わせて持たせることが
できる。
光照射部及び各検出器の個々のビーム間のばらつきにつ
いては次のように考えることができる。
いては次のように考えることができる。
例えば第１図の実施例において、検出器１．０−１〜１
０−６はそれぞれ感度にばらつきをもっている。また、
第１図の実施例の光ファイバ１２や第２図の実施例の半
透鏡２８−１〜２８−６の光照射部は各ビームに分割し
た光の強度を必ずしも等しくする必要はない。すなわち
、それぞれの光ビームや検出器は同じ試料に対応してい
るので、試料を入れないとき、すなわち透過率］、 Ｏ
Ｏ％又−１１＝ は吸光度０％の状態を記憶しておくと、この状態からの
透過率の比又は吸光度の差は光ファイバ１２による照射
光のばらつきや検出器１０−１〜１０−６の感度のばら
つきには依存しないからである。
０−６はそれぞれ感度にばらつきをもっている。また、
第１図の実施例の光ファイバ１２や第２図の実施例の半
透鏡２８−１〜２８−６の光照射部は各ビームに分割し
た光の強度を必ずしも等しくする必要はない。すなわち
、それぞれの光ビームや検出器は同じ試料に対応してい
るので、試料を入れないとき、すなわち透過率］、 Ｏ
Ｏ％又−１１＝ は吸光度０％の状態を記憶しておくと、この状態からの
透過率の比又は吸光度の差は光ファイバ１２による照射
光のばらつきや検出器１０−１〜１０−６の感度のばら
つきには依存しないからである。
したがって、このような異なる多数の検出器や、光照射
部における光ファイバのような光ビーム分割素子を用い
てもそれらの間のばらつきにあまり気をつかう必要がな
いので、容易に本発明のシステムを組み立てることがで
きる。
部における光ファイバのような光ビーム分割素子を用い
てもそれらの間のばらつきにあまり気をつかう必要がな
いので、容易に本発明のシステムを組み立てることがで
きる。
（発明の効果）
本発明によれば複数の試料の切換えを行なわずに、同時
に多数の試料を並列に測定し又は照射光の方を切り換え
て測定を行なうので、速い反応にも追従することができ
る。
に多数の試料を並列に測定し又は照射光の方を切り換え
て測定を行なうので、速い反応にも追従することができ
る。
光を分割しても光量の損失は従来の場合と同程度である
ため、測定精度は下がらない。
ため、測定精度は下がらない。
さらに試料セルの１つをブランク試料又は空にすること
によって、マルチビーム方式にダブルビーム方式の利点
を合せて持たせることができる。
によって、マルチビーム方式にダブルビーム方式の利点
を合せて持たせることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す概略図、第２図は他の
実施例を示す概略図、第３図は本発明で使用される検出
器の他の例を示す断面図、第４図はさらに他の実施例を
示す概略図、第５図はさらに他の実施例を示す概略図、
第６図はさらに他の実施例を示す概略斜視図、第７図は
従来の分光光度計を示す概略図である。 ４−１〜４−６・・・・・・試料セル、１０−１〜１０
−６・・・・・・検出器、１６・・・・・・マルチプレ
クサ、 １８・・・・・・Ａ／Ｄ変換器、 １４−１〜１４−６・・・・・・増幅・積分回路、１２
・・・・・・光ファイバ、 ２８−１〜２８−６・・・・・・半透鏡、３０・・・・
・・ダイオードアレイ、 ３２・・・・・・光ファイバ、 ３６・・・・・・スイッチ、 ３８・・・・・・増幅器、 ４２・・・・・・回転鏡。
実施例を示す概略図、第３図は本発明で使用される検出
器の他の例を示す断面図、第４図はさらに他の実施例を
示す概略図、第５図はさらに他の実施例を示す概略図、
第６図はさらに他の実施例を示す概略斜視図、第７図は
従来の分光光度計を示す概略図である。 ４−１〜４−６・・・・・・試料セル、１０−１〜１０
−６・・・・・・検出器、１６・・・・・・マルチプレ
クサ、 １８・・・・・・Ａ／Ｄ変換器、 １４−１〜１４−６・・・・・・増幅・積分回路、１２
・・・・・・光ファイバ、 ２８−１〜２８−６・・・・・・半透鏡、３０・・・・
・・ダイオードアレイ、 ３２・・・・・・光ファイバ、 ３６・・・・・・スイッチ、 ３８・・・・・・増幅器、 ４２・・・・・・回転鏡。
Claims (3)
- （１）分光光度計の試料室に測定試料を収容する試料セ
ルを複数個設け、これらの試料セルに測定光を切り換え
て又は並列に照射する光照射部を設け、前記各試料セル
に１個ずつの検出器を配置し、これらの検出器の信号を
順次読み取る読取り回路を設け、この読取り回路の出力
をＡ／Ｄ変換器を経てデータ処理部に導くマルチビーム
測光装置。 - （２）前記光照射部は複数の試料セルに測定光を切り換
えて照射する形式のものであり、前記読取り回路は前記
測定光の照射の切換えに同期してスイッチにより切り換
えて信号を読み取る特許請求の範囲第１項に記載のマル
チビーム測光装置。 - （３）前記光照射部は全ての試料セルに測定光を並列に
照射する形式のものであり、前記読取り回路は前記検出
器の信号を常時並行に取り込み、積分した後、順次出力
する特許請求の範囲第１項に記載のマルチビーム測光装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23391486A JPS6385414A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | マルチビ−ム測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23391486A JPS6385414A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | マルチビ−ム測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385414A true JPS6385414A (ja) | 1988-04-15 |
Family
ID=16962570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23391486A Pending JPS6385414A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | マルチビ−ム測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6385414A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2637978A1 (fr) * | 1988-10-19 | 1990-04-20 | Instrumentation Cie Europ | Spectrophotometre |
| WO1995005587A1 (en) * | 1993-08-13 | 1995-02-23 | Bp Oil International Limited | Spectrophotometric apparatus with a multiplex device and process using the apparatus |
| JP2008015019A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Fujifilm Corp | 高速偏光装置、およびこれを用いた高速複屈折測装置、立体画像表示装置 |
| JP2009121990A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| CN115684233A (zh) * | 2022-11-02 | 2023-02-03 | 重庆大学 | 一种高效的x射线荧光光谱仪及其使用方法 |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP23391486A patent/JPS6385414A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2637978A1 (fr) * | 1988-10-19 | 1990-04-20 | Instrumentation Cie Europ | Spectrophotometre |
| WO1995005587A1 (en) * | 1993-08-13 | 1995-02-23 | Bp Oil International Limited | Spectrophotometric apparatus with a multiplex device and process using the apparatus |
| JP2008015019A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Fujifilm Corp | 高速偏光装置、およびこれを用いた高速複屈折測装置、立体画像表示装置 |
| JP2009121990A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| CN115684233A (zh) * | 2022-11-02 | 2023-02-03 | 重庆大学 | 一种高效的x射线荧光光谱仪及其使用方法 |
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