JPS6389454A - 多層基板用低温焼結磁器組成物 - Google Patents
多層基板用低温焼結磁器組成物Info
- Publication number
- JPS6389454A JPS6389454A JP61234128A JP23412886A JPS6389454A JP S6389454 A JPS6389454 A JP S6389454A JP 61234128 A JP61234128 A JP 61234128A JP 23412886 A JP23412886 A JP 23412886A JP S6389454 A JPS6389454 A JP S6389454A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic composition
- weight
- multilayer
- temperature
- multilayer substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 25
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 23
- 238000009766 low-temperature sintering Methods 0.000 title 1
- 229910052878 cordierite Inorganic materials 0.000 claims description 13
- JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N dimagnesium dioxido-bis[(1-oxido-3-oxo-2,4,6,8,9-pentaoxa-1,3-disila-5,7-dialuminabicyclo[3.3.1]nonan-7-yl)oxy]silane Chemical compound [Mg++].[Mg++].[O-][Si]([O-])(O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2)O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2 JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical class [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 3
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 12
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 8
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 8
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 7
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- QDOXWKRWXJOMAK-UHFFFAOYSA-N dichromium trioxide Chemical compound O=[Cr]O[Cr]=O QDOXWKRWXJOMAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 3
- 239000011195 cermet Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- UPWOEMHINGJHOB-UHFFFAOYSA-N oxo(oxocobaltiooxy)cobalt Chemical compound O=[Co]O[Co]=O UPWOEMHINGJHOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 5t02 Substances 0.000 description 1
- WUOACPNHFRMFPN-SECBINFHSA-N (S)-(-)-alpha-terpineol Chemical compound CC1=CC[C@@H](C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-SECBINFHSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005749 Copper compound Substances 0.000 description 1
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 1
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OVKDFILSBMEKLT-UHFFFAOYSA-N alpha-Terpineol Natural products CC(=C)C1(O)CCC(C)=CC1 OVKDFILSBMEKLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940088601 alpha-terpineol Drugs 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 238000007572 expansion measurement Methods 0.000 description 1
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000010587 phase diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004017 vitrification Methods 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/05—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、多層基板用低温焼結磁器組成物に関し、特
に、複数の磁器層が積層きれ、磁器間に回路が形成され
てなる多層磁器基板に適した、多層基板用低温焼結磁器
組成物に関するものである。
に、複数の磁器層が積層きれ、磁器間に回路が形成され
てなる多層磁器基板に適した、多層基板用低温焼結磁器
組成物に関するものである。
(従来の技術)
一般に、電子機器の小型化に伴い、電子回路を構成する
各種電子部品を実装するのに磁器基板が汎用され、最近
では、実装密度をざらに高めるため、表面に導電材料の
ペーストで回路パターンを形成した未焼成の磁器シート
を複数枚積層し、これを焼成して一体化した多層磁器基
板が開発されている。 従来このような多層磁器基板の
材料としてはアールミナが用いられていた。
各種電子部品を実装するのに磁器基板が汎用され、最近
では、実装密度をざらに高めるため、表面に導電材料の
ペーストで回路パターンを形成した未焼成の磁器シート
を複数枚積層し、これを焼成して一体化した多層磁器基
板が開発されている。 従来このような多層磁器基板の
材料としてはアールミナが用いられていた。
(従来技術の問題点)
しかしながら、アルミナはその焼結温度が1500〜1
600℃と高温であるため、まず焼結に要する多量のエ
ネルギーが必要となり、コスト高になる。また、基板内
部に形成される内部回路の導電材料としては、高温の焼
成温度に耐え得るWやMOなどの高融点金属に限定され
るため、回路パターンそのものの抵抗値が貰くなるとい
うデメリットがある。また、アルミナの熱膨張係数がア
ルミナ基板の上に搭載される半導体を構成するシリコン
チップよりも大きいため、シリコンチップにサーマルス
トレスが加わり、シリコンチップにクラックを発生きせ
る原因となる。ざらには、アルミナそのものの誘電率が
貰いため、回路の内部を伝信する信号の遅延時間が大き
くなるなどの問題があった。
600℃と高温であるため、まず焼結に要する多量のエ
ネルギーが必要となり、コスト高になる。また、基板内
部に形成される内部回路の導電材料としては、高温の焼
成温度に耐え得るWやMOなどの高融点金属に限定され
るため、回路パターンそのものの抵抗値が貰くなるとい
うデメリットがある。また、アルミナの熱膨張係数がア
ルミナ基板の上に搭載される半導体を構成するシリコン
チップよりも大きいため、シリコンチップにサーマルス
トレスが加わり、シリコンチップにクラックを発生きせ
る原因となる。ざらには、アルミナそのものの誘電率が
貰いため、回路の内部を伝信する信号の遅延時間が大き
くなるなどの問題があった。
(発明の目的)
この発明は、低温で焼結可能な多層基板用低温焼結磁器
組成物を提供することを目的とする。
組成物を提供することを目的とする。
また、この発明は、熱膨張係数が小さく、かつ誘電率が
小きく、ざらには比抵抗の窩い多層基板用低温焼結磁器
組成物を提供することを目的とする。
小きく、ざらには比抵抗の窩い多層基板用低温焼結磁器
組成物を提供することを目的とする。
ざらに、この発明は、非酸化性雰囲気で焼結可能な多層
基板用低温磁器組成物を提供することを目的とする。
基板用低温磁器組成物を提供することを目的とする。
(発明の構成)
この発明にかかる多層基板用低温焼結磁器組成物は、次
のような材料よりなる。
のような材料よりなる。
すなわち、コージェライトを60〜90重量%、B2O
3を5〜20重量%、CablSrOおよびBaOの1
種以上を1〜25重量%からなる。
3を5〜20重量%、CablSrOおよびBaOの1
種以上を1〜25重量%からなる。
また、前記主成分に対して、添加物としてクロム、鉄、
コバルト、ニッケルおよび鋼の酸化物の1種以上をそれ
ぞれCr2O3、Fe2O3、Co2O3、NfOおよ
びCuOに換算して10重量%以下添加含有されたもの
からなる。
コバルト、ニッケルおよび鋼の酸化物の1種以上をそれ
ぞれCr2O3、Fe2O3、Co2O3、NfOおよ
びCuOに換算して10重量%以下添加含有されたもの
からなる。
なお、ここでコージェライトとは、2Mg0・2AJ2
203・5Si02のほか、E、N、Levin et
at、によるPhase Diagrams for
Ceramists” 、The Ame−rica
n Ceramic 5ociety、Columbu
s、1964.P、246(Fig、712)に開示さ
れている組成範囲から構成されるものである。第1図に
コージェライトの組成領域を示しておく。第1図におい
て、領域Aがコージェライトの組成範囲である。
203・5Si02のほか、E、N、Levin et
at、によるPhase Diagrams for
Ceramists” 、The Ame−rica
n Ceramic 5ociety、Columbu
s、1964.P、246(Fig、712)に開示さ
れている組成範囲から構成されるものである。第1図に
コージェライトの組成領域を示しておく。第1図におい
て、領域Aがコージェライトの組成範囲である。
また、上記した主成分には、その特性を損なわない範囲
でSiOMgO1A 、!2203を添加含2ゝ 有させてもよい。この添加含有量としては主成分に対し
て、15重量%までの範囲が有効である。
でSiOMgO1A 、!2203を添加含2ゝ 有させてもよい。この添加含有量としては主成分に対し
て、15重量%までの範囲が有効である。
ざらに、この発明にかかる多層基板用低温焼結磁器組成
物を得るに当たっては、通常の窯業技術が適用される。
物を得るに当たっては、通常の窯業技術が適用される。
すなわち、コージェライト、およびCa、5r1Baの
酸化物または化合物、さらにはクロム、鉄、コバルト、
ニッケル、銅の酸化物または化合物の各粉末を所定の割
合で秤量、調合し、その原料混合物を仮焼したのち粉砕
し、この粉末にバインダを加えてスラリーを作成し、ざ
らにドクターブレード法などのシート成形法によりセラ
ミックグリ−シートを作成し、 このセラミックグリー
ンシートの積層体を焼結することにより、多層磁器基板
が得られる。したがって、上記した工程によれば、ガラ
ス化の工程がないため、焼成時の脱バインダが容易であ
り、消費エネルギーも少なくてよいことになる。
酸化物または化合物、さらにはクロム、鉄、コバルト、
ニッケル、銅の酸化物または化合物の各粉末を所定の割
合で秤量、調合し、その原料混合物を仮焼したのち粉砕
し、この粉末にバインダを加えてスラリーを作成し、ざ
らにドクターブレード法などのシート成形法によりセラ
ミックグリ−シートを作成し、 このセラミックグリー
ンシートの積層体を焼結することにより、多層磁器基板
が得られる。したがって、上記した工程によれば、ガラ
ス化の工程がないため、焼成時の脱バインダが容易であ
り、消費エネルギーも少なくてよいことになる。
ざらには、上記した工程により作成されたセラミックグ
リーンシートの上には、導電パターンを形成するための
導電材料を含むペーストパターンが印刷、塗布などの方
法により形成されるが、セラミックグリーンシートの焼
成に当たっては、これらの導電材料の種類に応じて焼成
雰囲気を設定すればよい。導電材料としては、たとえば
、CuAg、Ag−Pd、Niなどがあるが、Ag、A
g−Pdについては酸化性雰囲気、Cu s i’J
iについては窒素などの還元性雰囲気で焼成すればよい
。
リーンシートの上には、導電パターンを形成するための
導電材料を含むペーストパターンが印刷、塗布などの方
法により形成されるが、セラミックグリーンシートの焼
成に当たっては、これらの導電材料の種類に応じて焼成
雰囲気を設定すればよい。導電材料としては、たとえば
、CuAg、Ag−Pd、Niなどがあるが、Ag、A
g−Pdについては酸化性雰囲気、Cu s i’J
iについては窒素などの還元性雰囲気で焼成すればよい
。
この発明の多層基板用低温焼結磁器組成物を用いて、基
板そのものを製造する場合、原料を秤量、混合し、この
原料混合物を800〜900℃で仮焼した後、粉砕し、
その粉末をバインダと混練してからシート状に成形し、
次いで、得られたセラミックグリーンシートを酸化性雰
囲気あるいは非酸化性もしくは還元雰囲気中で焼成すれ
ばよい。
板そのものを製造する場合、原料を秤量、混合し、この
原料混合物を800〜900℃で仮焼した後、粉砕し、
その粉末をバインダと混練してからシート状に成形し、
次いで、得られたセラミックグリーンシートを酸化性雰
囲気あるいは非酸化性もしくは還元雰囲気中で焼成すれ
ばよい。
また、多層回路基板を製造する場合、セラミックグリー
ンシートの上にAglAg−Pd、Cu。
ンシートの上にAglAg−Pd、Cu。
Niなどの導電材料からなる導電性ペーストで回路パタ
ーンを印刷し、それらを複数枚積層してから、導電性ペ
ーストに応じた雰囲気で焼成すればよい。導電材料とし
てCuやNiなどの卑金属を使用する場合、それらの酸
化を防止するため、非酸化性もしくは還元性の雰囲気で
焼成することが好ましい。たとえば、窒素をキャリアガ
スとして水蒸気中を通過させ、酸素および水素を微量含
有させた窒素−水蒸気雰囲気(通常、N299.7〜9
9.8%)中、950〜1020℃で焼成することが好
ましい。なお、酸素を微量含有きせるのは、セラミック
グリーンシートの形成に使用するバインダを仮焼段階で
、炭素として残存させないために、完全に燃焼させて除
去するためである。
ーンを印刷し、それらを複数枚積層してから、導電性ペ
ーストに応じた雰囲気で焼成すればよい。導電材料とし
てCuやNiなどの卑金属を使用する場合、それらの酸
化を防止するため、非酸化性もしくは還元性の雰囲気で
焼成することが好ましい。たとえば、窒素をキャリアガ
スとして水蒸気中を通過させ、酸素および水素を微量含
有させた窒素−水蒸気雰囲気(通常、N299.7〜9
9.8%)中、950〜1020℃で焼成することが好
ましい。なお、酸素を微量含有きせるのは、セラミック
グリーンシートの形成に使用するバインダを仮焼段階で
、炭素として残存させないために、完全に燃焼させて除
去するためである。
(効果)
この発明にかかる多層基板用低温焼結磁器組成物によれ
ば、次のような効果を有している。
ば、次のような効果を有している。
(1)1020℃以下の温度で焼結可能であり、回路パ
ターンを形成するための導電材料としてAg、Ag−P
dなどの比較的安価な貴金属が使用できる。また、非酸
化性の雰囲気で焼成できるため、回路パターンの導電材
料として安価なCu。
ターンを形成するための導電材料としてAg、Ag−P
dなどの比較的安価な貴金属が使用できる。また、非酸
化性の雰囲気で焼成できるため、回路パターンの導電材
料として安価なCu。
Nfなとの卑金属が使用できる。さらには、内部に抵抗
パターンを形成するに当たっても、サーメット材料が使
用できる。
パターンを形成するに当たっても、サーメット材料が使
用できる。
(2)熱膨張係数が3〜5 X 10−6/℃と小さく
、この基板の上にシリコンを搭載しても、サーマルスト
レスによってシリコンにクラックが発生する恐れがない
。
、この基板の上にシリコンを搭載しても、サーマルスト
レスによってシリコンにクラックが発生する恐れがない
。
(3)誘電率が6以下と、アルミナの値よりも小きいた
め、信号の遅延時間の短縮が図れる。
め、信号の遅延時間の短縮が図れる。
(実施例)
以下、この発明を実施例に従って詳細に説明する。
まず、コージェライトの原料を準備した。原料として、
5t02、MgOまたはM g Co3あるいはTaJ
2c (3Mg0 ・4S fo2・N20) 、AJ
2203を秤量し、混合した。この混合物を1350〜
1400℃で仮焼した。このようにしてすでに第1図で
示しているコージェライト組成物を得た。
5t02、MgOまたはM g Co3あるいはTaJ
2c (3Mg0 ・4S fo2・N20) 、AJ
2203を秤量し、混合した。この混合物を1350〜
1400℃で仮焼した。このようにしてすでに第1図で
示しているコージェライト組成物を得た。
このコージェライト仮焼物を粉砕して新にコージェライ
ト原料として準備した。
ト原料として準備した。
次に、このコージェライト原料と、その他の構成材料、
すなわちB2O3またはBNあるいはB4Cs Ca
OまたはCa C03、SrO*たは5rC03、Ba
OまたはB a C03、SiO2、AA203、Mg
OまたはM g Co3あるいはT a J2 c、C
u OlN i O、F e 203、Cr2O3、C
o2O3を準備し、別表−1に示す組成の磁器が得られ
るように、秤量、混合した。この混合物を800〜90
0℃の温度で仮焼し、粉砕した。この粉砕した粉末に有
機バインダを加えて混練し、得られたスラリをドクター
ブレード法にて厚さ1+mのシート状に成形した。この
セラミックグリーンシートを樅30關、横1On+mの
大きざにカットし、水蒸気中に通過させた窒素をキャリ
アガスとする窒素−水蒸気の還元性もしくはlF−酸化
性雰囲気中900℃の温度でバインダー成分を燃焼させ
、これを表−1に示す各温度で1時間焼成して磁器を得
た。
すなわちB2O3またはBNあるいはB4Cs Ca
OまたはCa C03、SrO*たは5rC03、Ba
OまたはB a C03、SiO2、AA203、Mg
OまたはM g Co3あるいはT a J2 c、C
u OlN i O、F e 203、Cr2O3、C
o2O3を準備し、別表−1に示す組成の磁器が得られ
るように、秤量、混合した。この混合物を800〜90
0℃の温度で仮焼し、粉砕した。この粉砕した粉末に有
機バインダを加えて混練し、得られたスラリをドクター
ブレード法にて厚さ1+mのシート状に成形した。この
セラミックグリーンシートを樅30關、横1On+mの
大きざにカットし、水蒸気中に通過させた窒素をキャリ
アガスとする窒素−水蒸気の還元性もしくはlF−酸化
性雰囲気中900℃の温度でバインダー成分を燃焼させ
、これを表−1に示す各温度で1時間焼成して磁器を得
た。
また、このセラミックグリーンシートを!3關、横2O
n+mの角板状にカットし、これを3枚積層して200
0 Kg/cm2で加圧し角柱状にした。そして、これ
を上記の方法で焼成し、熱膨張測定用の試料とした。
n+mの角板状にカットし、これを3枚積層して200
0 Kg/cm2で加圧し角柱状にした。そして、これ
を上記の方法で焼成し、熱膨張測定用の試料とした。
これらの試料について、次のとおり各特性をそれぞれの
条件や測定方法で測定し、表−1に示す結果を得た。
条件や測定方法で測定し、表−1に示す結果を得た。
誘電率:周波数IMHzで測定した値。
M電体損失:周波数IMHzで測定した値。
比抵抗:試料に直流100Vを印加したときの値。
熱膨張係数:次の式より算出した。
式中、α :熱膨張係数
ΔL:加熱による試料の見掛けの伸び
(韻)
L :室温での試料の長き(nm)
T1:室温
T2:500℃
αS l 02 :石英ガラスの熱膨張係数なま、これ
とは別に、同じ方法で厚さ0.3〜0.4mmのセラミ
ックグリーンシートを作成する一方、粒径5μm以下の
銅粉末と有機質ビヒクルとを重量比80 : 20の割
合で混合した鋼ペーストを印刷し、これを3枚禎層して
熱圧着し、窒素−水蒸気の還元性もしくは非酸化性雰囲
気中で表−1に示す各温度で1時間焼成した。こうして
得られた多層磁器基板のCu導体は酸化されておらず、
良好な導電性を示し、その面積抵抗は2mΩ/口であっ
た。なお、有機質ビヒクルはエチルセルロースをα−テ
レピネオールで10倍に希釈したものを使用した。
とは別に、同じ方法で厚さ0.3〜0.4mmのセラミ
ックグリーンシートを作成する一方、粒径5μm以下の
銅粉末と有機質ビヒクルとを重量比80 : 20の割
合で混合した鋼ペーストを印刷し、これを3枚禎層して
熱圧着し、窒素−水蒸気の還元性もしくは非酸化性雰囲
気中で表−1に示す各温度で1時間焼成した。こうして
得られた多層磁器基板のCu導体は酸化されておらず、
良好な導電性を示し、その面積抵抗は2mΩ/口であっ
た。なお、有機質ビヒクルはエチルセルロースをα−テ
レピネオールで10倍に希釈したものを使用した。
表−1の結果は次の基準に従って判定した。
焼結温度:1020℃以下(Cu導体およびAg−Pd
導体の使用可能な温度、た だし、Ag−Pd導体はAg:Pd =80 : 20のもの) 誘電率(ε):IMHzの条件下で6以下誘電体損失(
tanδ): IMHzの条件下で0゜2%以下 比抵抗:直流電圧100Vの条件下で1011Ω・Cm
以上 熱膨張係数:5.0XIO’/℃以下 非酸化性雰囲気で使用出来るサーメット抵抗を表面に形
成した場合、この発明にかかる多層磁器基板上のサーメ
ット抵抗はアルミナ基板と同等の特性を示した。
導体の使用可能な温度、た だし、Ag−Pd導体はAg:Pd =80 : 20のもの) 誘電率(ε):IMHzの条件下で6以下誘電体損失(
tanδ): IMHzの条件下で0゜2%以下 比抵抗:直流電圧100Vの条件下で1011Ω・Cm
以上 熱膨張係数:5.0XIO’/℃以下 非酸化性雰囲気で使用出来るサーメット抵抗を表面に形
成した場合、この発明にかかる多層磁器基板上のサーメ
ット抵抗はアルミナ基板と同等の特性を示した。
また、上記した実施例では、焼成雰囲気を窒素からなる
還元性雰囲気に設定したが、このほか、自然雰囲気中で
焼成しても表−1に示した程度の特性が得られることが
確認できた。
還元性雰囲気に設定したが、このほか、自然雰囲気中で
焼成しても表−1に示した程度の特性が得られることが
確認できた。
なお、表−1において、*印を付したものはこの発明範
囲外のものであり、それ以外はすべてこの発明範囲内の
ものである。
囲外のものであり、それ以外はすべてこの発明範囲内の
ものである。
表−1から明らかなように、この発明の多層基板用低温
焼結磁器組成物おける組成範囲を限定した理由は次の通
りである。
焼結磁器組成物おける組成範囲を限定した理由は次の通
りである。
コージェライトが60重量%未満では、熱膨張係数が太
き(なり、一方90重量%を越えると焼結温度が高くな
る。
き(なり、一方90重量%を越えると焼結温度が高くな
る。
B2O3が5重量%未満では、焼結温度が窩くなり、一
方20重量%を越えると発泡し、焼結温度範囲が狭くな
る。
方20重量%を越えると発泡し、焼結温度範囲が狭くな
る。
CaO1Sr○およびBaOの1種以上が1重量%未満
では焼結せず、一方25重量%を越えると誘電率が大き
くなる。
では焼結せず、一方25重量%を越えると誘電率が大き
くなる。
また、上記した構成材料よりなる主成分に対して、添加
物としてCr 203、Fe01C0203、Ni○お
よびCuOの1種以上が10重重量を越えると、比抵抗
が小ざくなる。
物としてCr 203、Fe01C0203、Ni○お
よびCuOの1種以上が10重重量を越えると、比抵抗
が小ざくなる。
第1図はコージェライトの組成範囲を示す図である。
Claims (2)
- (1)コージェライトを60〜90重量%、B_2O_
3を5〜20重量%、CaO、SrOおよびBaOの1
種以上を1〜25重量%からなる多層基板用低温焼結磁
器組成物。 - (2)前記主成分に対して、添加物としてクロム、鉄、
コバルト、ニッケルおよび銅の酸化物の1種以上をそれ
ぞれCr_2O_3、Fe_2O_3、Co_2O_3
、NiOおよびCuOに換算して10重量%以下添加含
有されている特許請求の範囲第(1)項記載の多層基板
用低温焼結磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61234128A JPH0777985B2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 多層基板用低温焼結磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61234128A JPH0777985B2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 多層基板用低温焼結磁器組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6389454A true JPS6389454A (ja) | 1988-04-20 |
| JPH0777985B2 JPH0777985B2 (ja) | 1995-08-23 |
Family
ID=16966075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61234128A Expired - Lifetime JPH0777985B2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 多層基板用低温焼結磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0777985B2 (ja) |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP61234128A patent/JPH0777985B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0777985B2 (ja) | 1995-08-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3419291B2 (ja) | 低温焼結磁器組成物及びそれを用いた多層セラミック基板 | |
| JP2600778B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JP2657008B2 (ja) | セラミックス用メタライズ組成物 | |
| JPS6389454A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JP5977088B2 (ja) | 低温焼成基板用無鉛ガラスセラミックス組成物 | |
| JPS63265858A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPH0676255B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPH0798679B2 (ja) | 低温焼結磁器組成物 | |
| JPH02141458A (ja) | 低温焼成セラミック多層基板およびその製造方法 | |
| JPS62226855A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPH01197359A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPH0676253B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPH01188464A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPS62128964A (ja) | 低温焼成用磁器組成物 | |
| JPH0674168B2 (ja) | 電気回路基板用磁器組成物 | |
| JPH0676256B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPS62187160A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPS62132768A (ja) | 低温焼成用磁器組成物 | |
| JPH0667783B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPS6117086B2 (ja) | ||
| JPH062619B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
| JPS6235696A (ja) | 電気回路用磁器基板及びその製造方法 | |
| JPS61281403A (ja) | 電気回路基板用磁器組成物 | |
| JPH024549B2 (ja) | ||
| JPH0289387A (ja) | 銅導体ペーストと多層セラミックス基板 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |