JPS641838B2 - - Google Patents
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- JPS641838B2 JPS641838B2 JP6667780A JP6667780A JPS641838B2 JP S641838 B2 JPS641838 B2 JP S641838B2 JP 6667780 A JP6667780 A JP 6667780A JP 6667780 A JP6667780 A JP 6667780A JP S641838 B2 JPS641838 B2 JP S641838B2
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- Japan
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- sampling
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Details Of Flowmeters (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被測定量を検出するセンサ部からの
検出信号をサンプリングして計測する電池駆動式
信号検出回路に関し、特に、被測定量の変化速度
に応じてサンプリングパルスの周期を変えて、換
言すれば、被測定量の変化速度が遅い時はサンプ
リングパルスの周期を長くして、計測精度を落す
ことなく、電池の低消費電力化を図つたものであ
る。
検出信号をサンプリングして計測する電池駆動式
信号検出回路に関し、特に、被測定量の変化速度
に応じてサンプリングパルスの周期を変えて、換
言すれば、被測定量の変化速度が遅い時はサンプ
リングパルスの周期を長くして、計測精度を落す
ことなく、電池の低消費電力化を図つたものであ
る。
一般に、被測定量を検出するセンサを電池駆動
する型式の信号検出回路においては、電池の寿命
等から低電力消費が要求され、そのため、従来よ
り、センサの検出信号をサンプリングして平均の
消費電力を小さくすることが行われている。しか
し、従来のサンプリング検出回路においては、サ
ンプリング速度は一定であり、そのサンプリング
速度は、被測定量の変化速度より速くなければな
らないためかなり高速に設定されており、被測定
量が零又は静止している時、或いは、ゆるやかに
変化している時は、必要以上にサンプリングして
いることになり、消費電力を大きくしている。
する型式の信号検出回路においては、電池の寿命
等から低電力消費が要求され、そのため、従来よ
り、センサの検出信号をサンプリングして平均の
消費電力を小さくすることが行われている。しか
し、従来のサンプリング検出回路においては、サ
ンプリング速度は一定であり、そのサンプリング
速度は、被測定量の変化速度より速くなければな
らないためかなり高速に設定されており、被測定
量が零又は静止している時、或いは、ゆるやかに
変化している時は、必要以上にサンプリングして
いることになり、消費電力を大きくしている。
本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、被測定量が速くなつた時はサンプリング
パルスの周期を短くし、それ以外の時、つまり、
被測定量の変化が零又はゆつくり変化している時
は、サンプリングパルスの周期を長くして消費電
力を低減化したものである。
もので、被測定量が速くなつた時はサンプリング
パルスの周期を短くし、それ以外の時、つまり、
被測定量の変化が零又はゆつくり変化している時
は、サンプリングパルスの周期を長くして消費電
力を低減化したものである。
第１図は、本発明による信号検出回路の一実施
例を説明するための電気回路図で、図中、１０は
センサ部、２０はサンプリングパルス発信部、３
０はアンプ部、４０はサンプル及びホールド部、
５０は波形整形回路、６０はリトリガブルモノマ
ルチ、７０は計数回路で、センサ部１０は、セン
サS1及びS2を有し、例えば、水道メータ或いはガ
スメータ等の回転体１の回転を被測定量として検
出している。
例を説明するための電気回路図で、図中、１０は
センサ部、２０はサンプリングパルス発信部、３
０はアンプ部、４０はサンプル及びホールド部、
５０は波形整形回路、６０はリトリガブルモノマ
ルチ、７０は計数回路で、センサ部１０は、セン
サS1及びS2を有し、例えば、水道メータ或いはガ
スメータ等の回転体１の回転を被測定量として検
出している。
発信部２０は、Ｃ−MOSインバータIC1〜IC3
を使用した３段ゲートの一般的なCR発振回路で
構成され、発振状態においては、インバータIC3
がハイレベルの時にインバータIC4がローレベル
になるので、トランジスタTrはオフとなり、コ
ンデンサＣは抵抗R1又はR2を通して充電され、
その充電電位が閾値以上になるとゲートが反転し
てインバータIC3がローレベル、IC4がハイレベル
となり、トランジスタTrがオンし、コンデンサ
Ｃに蓄えられた電荷は、抵抗R1又はR2と抵抗ｒ
を通して放電し、上記充放電動作を繰り返す。こ
こで、抵抗ｒをｒ≪R1又はR2に選んでおくと、
放電時、殆んどの電荷が抵抗ｒを通して流れるの
で、その時定数は小さくなり、結果として、デユ
ーテイ比の異なる発振信号を得ることができ、抵
抗R1，R2、ならびに、これを選択するアナログ
スイツチSW1，SW2は、サンプリングパルスの周
期を変える制御手段を構成する。また、モノマル
チ６０は、被測定量の変化速度の検出手段として
用いられるもので、モノマルチ６０の出力がロー
レベルの時は、アナログスイツチSW1が導通、
SW2が非導通となるので、コンデンサＣの充電は
抵抗R1を通して行われ、逆に、ハイレベルの時
は、アナログスイツチSW1が非導通、SW2が導通
となり、抵抗R2を通して充電を行うことになる。
そこで、抵抗R1，R2をR1＞R2に選んでおくと、
モノマルチ６０の出力状態によつて充電時定数が
変つて発振周期が変り、第１図のａ点における電
気信号波形は、第２図Ａ又はA′に示すようにな
る。
を使用した３段ゲートの一般的なCR発振回路で
構成され、発振状態においては、インバータIC3
がハイレベルの時にインバータIC4がローレベル
になるので、トランジスタTrはオフとなり、コ
ンデンサＣは抵抗R1又はR2を通して充電され、
その充電電位が閾値以上になるとゲートが反転し
てインバータIC3がローレベル、IC4がハイレベル
となり、トランジスタTrがオンし、コンデンサ
Ｃに蓄えられた電荷は、抵抗R1又はR2と抵抗ｒ
を通して放電し、上記充放電動作を繰り返す。こ
こで、抵抗ｒをｒ≪R1又はR2に選んでおくと、
放電時、殆んどの電荷が抵抗ｒを通して流れるの
で、その時定数は小さくなり、結果として、デユ
ーテイ比の異なる発振信号を得ることができ、抵
抗R1，R2、ならびに、これを選択するアナログ
スイツチSW1，SW2は、サンプリングパルスの周
期を変える制御手段を構成する。また、モノマル
チ６０は、被測定量の変化速度の検出手段として
用いられるもので、モノマルチ６０の出力がロー
レベルの時は、アナログスイツチSW1が導通、
SW2が非導通となるので、コンデンサＣの充電は
抵抗R1を通して行われ、逆に、ハイレベルの時
は、アナログスイツチSW1が非導通、SW2が導通
となり、抵抗R2を通して充電を行うことになる。
そこで、抵抗R1，R2をR1＞R2に選んでおくと、
モノマルチ６０の出力状態によつて充電時定数が
変つて発振周期が変り、第１図のａ点における電
気信号波形は、第２図Ａ又はA′に示すようにな
る。
アンプ３０は、前述のように得られたサンプリ
ングパルス（第３図ａ参照）が供給され、該サン
プリングパルスがハイレベルの時にのみ、センサ
部１０及びアンプ部３０に電圧が印加され、セン
サの検出信号が増幅されて出力される。このアン
プ部３０は、コンパレータ的な動作を行い、非反
転入力部の基準電位（第３図ｂ参照）より反転入
力部の電位（第３図ｃ参照）が高くなると、アン
プ出力がローレベルとなり、逆に、反転入力部の
電位が低くなるとハイレベルとなる（第３図ｄ参
照）。
ングパルス（第３図ａ参照）が供給され、該サン
プリングパルスがハイレベルの時にのみ、センサ
部１０及びアンプ部３０に電圧が印加され、セン
サの検出信号が増幅されて出力される。このアン
プ部３０は、コンパレータ的な動作を行い、非反
転入力部の基準電位（第３図ｂ参照）より反転入
力部の電位（第３図ｃ参照）が高くなると、アン
プ出力がローレベルとなり、逆に、反転入力部の
電位が低くなるとハイレベルとなる（第３図ｄ参
照）。
サンプル及びホールド部４０は、入力部（アン
プ出力）が低インピーダンスで、出力部（波形整
形回路）が高インピーダンスで構成されている
と、アナログスイツチSW3のゲートがハイレベル
となつて該アナログスイツチSW3がオンした時に
低インピーダンスとなり、その出力はアンプ部出
力に短時間で追従する。しかし、アナログスイツ
チSW3のゲートがローレベルとなつて該アナログ
スイツチSW3がオフした時は高インピーダンスと
なり、コンデンサC0に蓄積された電荷は行き場
がなく、その電位を保持する（第３図ｅ参照）。
プ出力）が低インピーダンスで、出力部（波形整
形回路）が高インピーダンスで構成されている
と、アナログスイツチSW3のゲートがハイレベル
となつて該アナログスイツチSW3がオンした時に
低インピーダンスとなり、その出力はアンプ部出
力に短時間で追従する。しかし、アナログスイツ
チSW3のゲートがローレベルとなつて該アナログ
スイツチSW3がオフした時は高インピーダンスと
なり、コンデンサC0に蓄積された電荷は行き場
がなく、その電位を保持する（第３図ｅ参照）。
第１図において、通常は、センサレベルは基準
レベルより低く、アンプ出力がハイレベルになつ
ており、この状態では、モノマルチ６０の出力が
ローレベルになつており、従つて、アナログスイ
ツチSW1が導通状態になつており、発振器は抵抗
R1を通してコンデンサＣに充電を行い、比較的
長周期のサンプリングパルスを発生している。従
つて、センサ部１０及びアンプ部３０も長周期で
サンプリングされている。ここで、今、被測定量
が変化を始め、第３図ｃに示すように、ある周期
でセンサレベルが変動すると、その出力は波形整
形された後、計数回路７０に入力されて計数され
ると同時に、モノマルチ６０に入力されて該モノ
マルチ６０の出力をハイレベルにし、アナログス
イツチSW1をオフ、SW2をオンし、発振器の充電
時定数を変え、短周期のサンプリングパルスを発
生させる。被測定量の変化が予め定められたモノ
マルチの時定数より遅くなると、モノマルチ６０
の出力は再度ローレベルとなつて発振周期は長く
なるが、被測定量の変化が速くなつてモノマルチ
６０の時定数より短くなると、その出力はハイレ
ベルを維持し、発振周期を短くして速いサンプリ
ング動作を行う。
レベルより低く、アンプ出力がハイレベルになつ
ており、この状態では、モノマルチ６０の出力が
ローレベルになつており、従つて、アナログスイ
ツチSW1が導通状態になつており、発振器は抵抗
R1を通してコンデンサＣに充電を行い、比較的
長周期のサンプリングパルスを発生している。従
つて、センサ部１０及びアンプ部３０も長周期で
サンプリングされている。ここで、今、被測定量
が変化を始め、第３図ｃに示すように、ある周期
でセンサレベルが変動すると、その出力は波形整
形された後、計数回路７０に入力されて計数され
ると同時に、モノマルチ６０に入力されて該モノ
マルチ６０の出力をハイレベルにし、アナログス
イツチSW1をオフ、SW2をオンし、発振器の充電
時定数を変え、短周期のサンプリングパルスを発
生させる。被測定量の変化が予め定められたモノ
マルチの時定数より遅くなると、モノマルチ６０
の出力は再度ローレベルとなつて発振周期は長く
なるが、被測定量の変化が速くなつてモノマルチ
６０の時定数より短くなると、その出力はハイレ
ベルを維持し、発振周期を短くして速いサンプリ
ング動作を行う。
以上の説明から明らかなように、本発明による
と、被測定量の変化が速くなつた時にのみサンプ
リング速度を速く、変化が零或いはゆつくりして
いる時はサンプリング速度を遅くしているので、
計測精度を損なうことなく消費電力を低減化する
ことができ、特に、水道メータ、ガスメータ等の
不使用時間の長いメータに適用して効果的であ
る。
と、被測定量の変化が速くなつた時にのみサンプ
リング速度を速く、変化が零或いはゆつくりして
いる時はサンプリング速度を遅くしているので、
計測精度を損なうことなく消費電力を低減化する
ことができ、特に、水道メータ、ガスメータ等の
不使用時間の長いメータに適用して効果的であ
る。
第１図は、本発明による信号検出回路の一実施
例を説明するための電気回路図、第２図は、第１
図に示した発信部２０の出力信号波形図、第３図
は、第１図に示した電気回路の動作説明をするた
めの信号波形図である。 １０……センサ部、２０……発振部、３０……
アンプ部、４０……サンプル及びホールド部、５
０……波形整形回路、６０……リトリガブルモノ
マルチ、７０……計数回路。
例を説明するための電気回路図、第２図は、第１
図に示した発信部２０の出力信号波形図、第３図
は、第１図に示した電気回路の動作説明をするた
めの信号波形図である。 １０……センサ部、２０……発振部、３０……
アンプ部、４０……サンプル及びホールド部、５
０……波形整形回路、６０……リトリガブルモノ
マルチ、７０……計数回路。
Claims (1)
- １ 被測定量をサンプリング回路によりサンプリ
ングして検出するためのセンサ部と、サンプリン
グパルスを発生する発信部とを有し、前記センサ
部及び発信部を電池駆動する型式の信号検出回路
において、前記被測定量の変化速度を検出する検
出手段の出力に応じて前記サンプリングパルスの
周期を変える制御手段を備えることを特徴とする
信号検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6667780A JPS56164495A (en) | 1980-05-20 | 1980-05-20 | Signal detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6667780A JPS56164495A (en) | 1980-05-20 | 1980-05-20 | Signal detecting circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56164495A JPS56164495A (en) | 1981-12-17 |
| JPS641838B2 true JPS641838B2 (ja) | 1989-01-12 |
Family
ID=13322786
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6667780A Granted JPS56164495A (en) | 1980-05-20 | 1980-05-20 | Signal detecting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56164495A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0578450U (ja) * | 1992-03-27 | 1993-10-26 | 三菱重工業株式会社 | バリ屑処理装置 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0749977B2 (ja) * | 1986-04-23 | 1995-05-31 | シャープ株式会社 | 流速センサ−駆動方式 |
| CN102116554A (zh) | 2010-01-04 | 2011-07-06 | Lg电子株式会社 | 电冰箱 |
| CA2760815A1 (en) | 2010-02-01 | 2011-08-04 | Lg Electronics Inc. | Refrigerator and method for controlling the same |
| EP2585775B1 (en) | 2010-06-22 | 2021-08-11 | LG Electronics Inc. | Refrigerator and method of manufacturing the same |
| US9605891B2 (en) | 2014-03-11 | 2017-03-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Refrigerator |
| JP6518458B2 (ja) * | 2015-02-27 | 2019-05-22 | 株式会社メガチップス | 天気判定装置及び天気管理システム |
-
1980
- 1980-05-20 JP JP6667780A patent/JPS56164495A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0578450U (ja) * | 1992-03-27 | 1993-10-26 | 三菱重工業株式会社 | バリ屑処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56164495A (en) | 1981-12-17 |
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