JPS642447Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS642447Y2 JPS642447Y2 JP1982133184U JP13318482U JPS642447Y2 JP S642447 Y2 JPS642447 Y2 JP S642447Y2 JP 1982133184 U JP1982133184 U JP 1982133184U JP 13318482 U JP13318482 U JP 13318482U JP S642447 Y2 JPS642447 Y2 JP S642447Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thyristor
- gate
- contact
- cylindrical member
- electrical contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
Landscapes
- Thyristors (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
考案の分野
この考案は、一般に半導体装置、特にサイリス
タ型の半導体装置に関するものである。
タ型の半導体装置に関するものである。
先行技術の説明
偽信号が電力用サイリスタをまちがつて点弧さ
せることは周知の問題である。IGDNが小さいサイ
リスタでは、この問題は極く普通のことである。
典型的な例では、そのようなサイリスタは高電
圧、低順電圧降下型のものである。
せることは周知の問題である。IGDNが小さいサイ
リスタでは、この問題は極く普通のことである。
典型的な例では、そのようなサイリスタは高電
圧、低順電圧降下型のものである。
従来、ハーメチツク・シールされたパツケージ
(ケーシング)の外で、サイリスタのゲート・リ
ードに、フエライト・ビーズが通されていた。し
かし、このようなやり方では、装置に付着された
ゲート・コンタクトとフエライト・ビーズとの間
の部分でゲート・リードが誘導性ピツクアツプ作
用のために偽信号をピツクアツプ(拾い上げ)す
るので、満足な解決は得られない。
(ケーシング)の外で、サイリスタのゲート・リ
ードに、フエライト・ビーズが通されていた。し
かし、このようなやり方では、装置に付着された
ゲート・コンタクトとフエライト・ビーズとの間
の部分でゲート・リードが誘導性ピツクアツプ作
用のために偽信号をピツクアツプ(拾い上げ)す
るので、満足な解決は得られない。
この考案の要約
この考案によれば、ケース部材の中にハーメチ
ツク・シールされたサイリスタであつて、このサ
イリスタの予め選択しておいた部分と導電関係に
あるゲート・コンタクトと、このゲート・コンタ
クトと導電関係にあり、前記ゲート・コンタクト
から前記ケース部材を貫通して延び出るゲート・
リードと、前記ゲート・コンタクトと前記ケース
部材の間で前記ゲート・リードに通されたフエラ
イト・ビーズとを備えたサイリスタ、が得られ
る。
ツク・シールされたサイリスタであつて、このサ
イリスタの予め選択しておいた部分と導電関係に
あるゲート・コンタクトと、このゲート・コンタ
クトと導電関係にあり、前記ゲート・コンタクト
から前記ケース部材を貫通して延び出るゲート・
リードと、前記ゲート・コンタクトと前記ケース
部材の間で前記ゲート・リードに通されたフエラ
イト・ビーズとを備えたサイリスタ、が得られ
る。
次に図面に示されるこの考案の実施例について
述べる。
述べる。
好ましい実施例の説明
図面は、ハーチツク・シールされた圧接型サイ
リスタ10を示す。
リスタ10を示す。
このサイリスタ10には、支持部材すなわち台
部材12がある。この台部材12は、例えば銅、
銀、アルミニウムまたはこれらをベースとする合
金および鉄をベースとする合金からなる群から選
んだ金属のような電気的にも熱的にも良好な伝導
性を持つ材料で作られる。この台部材12には、
中央の上向きに延びるペデスタル部分16とこれ
を囲むフランジ部分14とがある。ペデスタル部
分16の上端に取付け面18がある。フランジ部
分14に上面22があり、ペデスタル部分16に
その側面24がある。
部材12がある。この台部材12は、例えば銅、
銀、アルミニウムまたはこれらをベースとする合
金および鉄をベースとする合金からなる群から選
んだ金属のような電気的にも熱的にも良好な伝導
性を持つ材料で作られる。この台部材12には、
中央の上向きに延びるペデスタル部分16とこれ
を囲むフランジ部分14とがある。ペデスタル部
分16の上端に取付け面18がある。フランジ部
分14に上面22があり、ペデスタル部分16に
その側面24がある。
上向きに延びる中空円筒部材26は台部材12
に取付けられている。円筒部材26の内周面はペ
デスタル部分16の側面24にピツタリと一致し
ている。円筒部材26は、当業者には周知の適当
な手段例えば台部材12のフランジ部分14の上
面22およびペデスタル部分16の側面24と円
筒部材26の底面全部およびこれに近い内面との
間に適当なろう材28を置くことによつて台部材
12に固定される。
に取付けられている。円筒部材26の内周面はペ
デスタル部分16の側面24にピツタリと一致し
ている。円筒部材26は、当業者には周知の適当
な手段例えば台部材12のフランジ部分14の上
面22およびペデスタル部分16の側面24と円
筒部材26の底面全部およびこれに近い内面との
間に適当なろう材28を置くことによつて台部材
12に固定される。
円筒部材26の上端に近い内面に、環状の溝3
0が設けられている。上向きに延びる一体のフラ
ンジ32は円筒部材26の内面上端に設けられて
いる。環状で一体の溶接リング34は円筒部材2
6の上面に形成されている。
0が設けられている。上向きに延びる一体のフラ
ンジ32は円筒部材26の内面上端に設けられて
いる。環状で一体の溶接リング34は円筒部材2
6の上面に形成されている。
円筒部材26は鉄をベースとする材料で作られ
ることが望ましいが、他の適当な材料ことに金属
を利用できる。
ることが望ましいが、他の適当な材料ことに金属
を利用できる。
ペデスタル部分16は、台部材に組み込まれる
必要がないが、そうすることが好ましい。その側
面24は、円筒部材26を台部材12に取付ける
ための一層広い面積を提供する。ペデスタル部分
16は、円筒部材26を台部材12へ取付ける面
より上へ、半導体素子の取付け面18を持ち上げ
る手段となる。これによつて、ろう材が少し余分
であつても、その余分なものが取付け面18のじ
やまをすることがなく、普通の接合作業中取付け
面18の仕上げをする必要がない。取付け面18
またはこれに被着されているものに仕上げが必要
だとしても、円筒部材26の内面を傷付けること
なく、道具を使うのに適当な透き間が得られる。
必要がないが、そうすることが好ましい。その側
面24は、円筒部材26を台部材12に取付ける
ための一層広い面積を提供する。ペデスタル部分
16は、円筒部材26を台部材12へ取付ける面
より上へ、半導体素子の取付け面18を持ち上げ
る手段となる。これによつて、ろう材が少し余分
であつても、その余分なものが取付け面18のじ
やまをすることがなく、普通の接合作業中取付け
面18の仕上げをする必要がない。取付け面18
またはこれに被着されているものに仕上げが必要
だとしても、円筒部材26の内面を傷付けること
なく、道具を使うのに適当な透き間が得られる。
ペデスタル部分16の取付け面18上に、半導
体とコンタクトのアセンブリ36が置かれてい
る。このアセンブリ36は、半導体素子38並び
に第1電気コンタクト40および第2電気コンタ
クト42からなつている。
体とコンタクトのアセンブリ36が置かれてい
る。このアセンブリ36は、半導体素子38並び
に第1電気コンタクト40および第2電気コンタ
クト42からなつている。
半導体素子38は、半導体、好ましくは導電型
が交替する4つの領域を持つシリコンからなつて
いる。これらの4つの領域が、カソード・エミツ
タ領域、カソード・ベース領域、アノード・ベー
ス領域およびアノード・エミツタ領域として働
く。これらの4つの領域でサイリスタが作られ
る。
が交替する4つの領域を持つシリコンからなつて
いる。これらの4つの領域が、カソード・エミツ
タ領域、カソード・ベース領域、アノード・ベー
ス領域およびアノード・エミツタ領域として働
く。これらの4つの領域でサイリスタが作られ
る。
第1電気コンタクト40は、例えばモリブデ
ン、タングステン、タンタルのような金属または
それらの組合わせ或いはそれらをベースとする合
金で作られている。第1電気コンタクト40は半
導体素子38のためのしつかりした支えとなる。
この第1電気コンタクト40は電気的および熱的
に良好な伝導性を持ち、半導体素子38に非常に
よく似た熱膨張特性を持つている。
ン、タングステン、タンタルのような金属または
それらの組合わせ或いはそれらをベースとする合
金で作られている。第1電気コンタクト40は半
導体素子38のためのしつかりした支えとなる。
この第1電気コンタクト40は電気的および熱的
に良好な伝導性を持ち、半導体素子38に非常に
よく似た熱膨張特性を持つている。
半導体素子38を適当な接合作業で、第1電気
コンタクト40に予め接合することは、必要では
ないけれど好ましい。半導体素子38を第1電気
コンタクト40へ接合する際には、当業者に周知
の適当な“硬”ハンダまたは“軟”ハンダの層4
4が利用できる。
コンタクト40に予め接合することは、必要では
ないけれど好ましい。半導体素子38を第1電気
コンタクト40へ接合する際には、当業者に周知
の適当な“硬”ハンダまたは“軟”ハンダの層4
4が利用できる。
ハンダ層44は、適当なハンダ例えば当業者に
は“硬”ハンダとして知られている銀或いは金を
ベースとするハンダであつて、372℃以上の融点
を持つものであることが好ましい。しかし、約
372℃以下の融点を持ち、“軟”ハンダと呼ばれる
ものも使える。このような“軟”ハンダは、普通
鉛をベースとするハンダであるが、必ずこうでな
くともよい。
は“硬”ハンダとして知られている銀或いは金を
ベースとするハンダであつて、372℃以上の融点
を持つものであることが好ましい。しかし、約
372℃以下の融点を持ち、“軟”ハンダと呼ばれる
ものも使える。このような“軟”ハンダは、普通
鉛をベースとするハンダであるが、必ずこうでな
くともよい。
勿論、どのタイプのハンダを選ぶかは、完成さ
れたサイリスタ10に予想される動作温度範囲に
関係することが理解されよう。
れたサイリスタ10に予想される動作温度範囲に
関係することが理解されよう。
第1電気コンタクト40は、非反応性で展性が
あり電気的および熱的に伝導性の層46によつて
ペデスタル部分16の取付け面18から隔てられ
ている。電気および熱伝導性層46は、金、銀、
すずおよびアルミニウムからなる群から選ばれた
金属で形成され、取付け面18に起り得る表面不
規則性を補償する。この電気および熱伝導性層4
6は、例えば電着手段のような当業者には周知の
適当な手段により或は取付け面18に被着された
後に特定の要件に描画された適当な金属の予備成
形円板として、取付け面18につけることができ
る。
あり電気的および熱的に伝導性の層46によつて
ペデスタル部分16の取付け面18から隔てられ
ている。電気および熱伝導性層46は、金、銀、
すずおよびアルミニウムからなる群から選ばれた
金属で形成され、取付け面18に起り得る表面不
規則性を補償する。この電気および熱伝導性層4
6は、例えば電着手段のような当業者には周知の
適当な手段により或は取付け面18に被着された
後に特定の要件に描画された適当な金属の予備成
形円板として、取付け面18につけることができ
る。
例えばモリブデンのような金属からなる第2電
気コンタクト42は、これに電気導体すなわちリ
ード48および50が接着されている。適当な絶
縁部材52は、例えばフルオロカーボンのような
電気絶縁材料、電気絶縁性ゴム或は電気絶縁性フ
エノール・フアイバからなり、リード48と50
を互に電気的に絶縁している。
気コンタクト42は、これに電気導体すなわちリ
ード48および50が接着されている。適当な絶
縁部材52は、例えばフルオロカーボンのような
電気絶縁材料、電気絶縁性ゴム或は電気絶縁性フ
エノール・フアイバからなり、リード48と50
を互に電気的に絶縁している。
第1電気コンタクト40と電気および熱伝導性
層46との間の表面、同じく第2電気コンタクト
42と半導体素子38との間の表面は、圧接され
る時不均一な圧力が分布しないように、平らであ
ることが重要である。
層46との間の表面、同じく第2電気コンタクト
42と半導体素子38との間の表面は、圧接され
る時不均一な圧力が分布しないように、平らであ
ることが重要である。
孔があけられた電気絶縁性ワツシヤ54はリー
ド48を囲んで第2電気コンタクト42の頂面上
に配置されている。この絶縁性ワツシヤ54は、
セラミツク、マイカ、ガラス、石英およびフルオ
ロカーボンからなる群から選んだ材料で作られ
る。
ド48を囲んで第2電気コンタクト42の頂面上
に配置されている。この絶縁性ワツシヤ54は、
セラミツク、マイカ、ガラス、石英およびフルオ
ロカーボンからなる群から選んだ材料で作られ
る。
この絶縁性ワツシヤ54の頂面上にかつリード
48を囲んで、孔があけられたスラスト・ワツシ
ヤ56を配置する。このスラスト・ワツシヤ56
の頂面上にかつリード48を囲んで、孔があけら
れた少くとも1個のバネ・ワツシヤ58が配置さ
れる。
48を囲んで、孔があけられたスラスト・ワツシ
ヤ56を配置する。このスラスト・ワツシヤ56
の頂面上にかつリード48を囲んで、孔があけら
れた少くとも1個のバネ・ワツシヤ58が配置さ
れる。
スナツプ・リングと同様に孔があけられて広が
ることのできる金属製保持リング60は、リード
48を囲み、かつ円筒部材26の内面に形成され
ている溝30に嵌め込まれて、そこに保持されて
いる。保持リング60は、円筒部材26と共同し
てバネ・ワツシヤ58を弾性的に動かし、スラス
ト・ワツシヤ56ひいては絶縁ワツシヤ54を介
して圧接力を伝え、第2電気コンタクト42、半
導体素子38、第1電気コンタクト40および取
付け面18に、互にしつかりした密接な導電性の
関係を作る。保持リング60と円筒部材26とを
共同させて信頼性の高いサイリスタ10を得るの
に必要な所要の圧接力を生じるためには、同じ厚
さ或は違つた厚さのバネ・ワツシヤ58が2個以
上必要かもしれない。
ることのできる金属製保持リング60は、リード
48を囲み、かつ円筒部材26の内面に形成され
ている溝30に嵌め込まれて、そこに保持されて
いる。保持リング60は、円筒部材26と共同し
てバネ・ワツシヤ58を弾性的に動かし、スラス
ト・ワツシヤ56ひいては絶縁ワツシヤ54を介
して圧接力を伝え、第2電気コンタクト42、半
導体素子38、第1電気コンタクト40および取
付け面18に、互にしつかりした密接な導電性の
関係を作る。保持リング60と円筒部材26とを
共同させて信頼性の高いサイリスタ10を得るの
に必要な所要の圧接力を生じるためには、同じ厚
さ或は違つた厚さのバネ・ワツシヤ58が2個以
上必要かもしれない。
半導体素子38のためのハーメチツク・シール
されたパツケージを作ることによつてサイリスタ
10は完成する。このパツケージは、孔があけら
れたヘツダ・アセンブリ62を円筒部材26へ取
付けることで形成される。ヘツダ・アセンブリ6
2は、孔があけられた絶縁シール部材66とこれ
に取付けられた外向きに広がるフランジ部材64
とからなつている。
されたパツケージを作ることによつてサイリスタ
10は完成する。このパツケージは、孔があけら
れたヘツダ・アセンブリ62を円筒部材26へ取
付けることで形成される。ヘツダ・アセンブリ6
2は、孔があけられた絶縁シール部材66とこれ
に取付けられた外向きに広がるフランジ部材64
とからなつている。
ヘツダ・アセンブリ62は、そのフランジ部材
64を熔接リング34へ熔接することにより、円
筒部材26に結合される。この組立作業と結合作
業の間、一体のフランジ32がヘツダ・アセンブ
リ62を位置決めするためのガイドとして利用さ
れる。
64を熔接リング34へ熔接することにより、円
筒部材26に結合される。この組立作業と結合作
業の間、一体のフランジ32がヘツダ・アセンブ
リ62を位置決めするためのガイドとして利用さ
れる。
電気コンタクト兼放熱スタツド68は、台部材
12に一体として設けられるか或はこれに取付け
られる。このスタツド68は電気導体兼ヒート・
シンクへ台部材12を接続するのに利用される。
12に一体として設けられるか或はこれに取付け
られる。このスタツド68は電気導体兼ヒート・
シンクへ台部材12を接続するのに利用される。
円筒部材26を利用すると、バネ手段と共同し
て圧接パツケージに収納された装置の各部品を弾
性的に刺激し、互に電気的および熱的に良好な伝
導関係を作り、また装置の各部品にハーメチツ
ク・シールを提供するための別な構成が不要にな
る。従来のものとこの発明のものとが大体同じ外
寸法で製作されるなら、円筒部材26はヒート・
シンク表面積に対して電気コンタクト表面積を従
来装置にくらべて大体50%以上増す手段にもな
る。
て圧接パツケージに収納された装置の各部品を弾
性的に刺激し、互に電気的および熱的に良好な伝
導関係を作り、また装置の各部品にハーメチツ
ク・シールを提供するための別な構成が不要にな
る。従来のものとこの発明のものとが大体同じ外
寸法で製作されるなら、円筒部材26はヒート・
シンク表面積に対して電気コンタクト表面積を従
来装置にくらべて大体50%以上増す手段にもな
る。
最終組立とケーシングのハーメチツク・シール
に先立つて、ゲート・リード50にフエライト・
ビーズ70が通される。ゲート・リード50に通
されたフエライト・ビーズ70は、最終組立後
に、ケーシングの中にすつかり隠れる所に置かれ
る。
に先立つて、ゲート・リード50にフエライト・
ビーズ70が通される。ゲート・リード50に通
されたフエライト・ビーズ70は、最終組立後
に、ケーシングの中にすつかり隠れる所に置かれ
る。
適当なフエライト・ビーズは、一般式(MA+
MB)1-xFe2+xO4を有するものである(たゞし、
MAがマンガンとニツケルからなる群から選んだ
金属で良く、MBは亜鉛であり、そしてxは−0.3
から+0.3の間にある)。
MB)1-xFe2+xO4を有するものである(たゞし、
MAがマンガンとニツケルからなる群から選んだ
金属で良く、MBは亜鉛であり、そしてxは−0.3
から+0.3の間にある)。
フエライトとして特に適当なものは、マンガン
亜鉛フエライトであつて、米国、ニユーヨーク
州、イースト・ロチエスタ(East Rochester)
所在のフエロニクス社(FerroNics Inc.)からト
ロイド・タイプ(Toroid−Type)Bの商品名で
販売されているものである。
亜鉛フエライトであつて、米国、ニユーヨーク
州、イースト・ロチエスタ(East Rochester)
所在のフエロニクス社(FerroNics Inc.)からト
ロイド・タイプ(Toroid−Type)Bの商品名で
販売されているものである。
この考案をスタツド取付け型の圧接パツケージ
式サイリスタについて述べたが、他のタイプのサ
イリスタ例えばフラツト・パツク式サイリスタ或
はハンダ接合式サイリスタについてもこの考案を
利用できることが理解されるはずである。
式サイリスタについて述べたが、他のタイプのサ
イリスタ例えばフラツト・パツク式サイリスタ或
はハンダ接合式サイリスタについてもこの考案を
利用できることが理解されるはずである。
考案の効果
ハーメチツク・シールされたパツケージの内部
でサイリスタのゲート・リードにフエライト・ビ
ーズを通すようにしたので、偽信号によるサイリ
スタの誤点弧が防止できる。
でサイリスタのゲート・リードにフエライト・ビ
ーズを通すようにしたので、偽信号によるサイリ
スタの誤点弧が防止できる。
図面はこの考案のサイリスタの側断面図であ
る。 図において、10……サイリスタ、12……台
部材、14……フランジ部分、16……ペデスタ
ル部分、26……円筒部材、36……半導体とコ
ンタクトのアセンブリ、38……半導体素子、4
0……第1電気コンタクト、42……第2電気コ
ンタクト、48,50……リード、62……ヘツ
ダ・アセンブリ、70……フエライト・ビーズで
ある。
る。 図において、10……サイリスタ、12……台
部材、14……フランジ部分、16……ペデスタ
ル部分、26……円筒部材、36……半導体とコ
ンタクトのアセンブリ、38……半導体素子、4
0……第1電気コンタクト、42……第2電気コ
ンタクト、48,50……リード、62……ヘツ
ダ・アセンブリ、70……フエライト・ビーズで
ある。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 ケース部材の中にハーメチツク・シールされ
たサイリスタであつて、このサイリスタの予め
選択しておいた部分と導電関係にあるゲート・
コンタクトと、このゲート・コンタクトと導電
関係にあり、前記ゲート・コンタクトから前記
ケース部材を貫通して延び出るゲート・リード
と、前記ゲート・コンタクトと前記ケース部材
の間で前記ゲート・リードに通されたフエライ
ト・ビーズとを備えたサイリスタ。 2 フエライト・ビーズは一般式 (MA+MB)1-xFe2+xO4 を持ち、MAがマンガンとニツケルからなる群
から選んだ少なくとも一つの金属であり、MB
が亜鉛であり、そしてxが−0.3から+0.3まで
の範囲にある実用新案登録請求の範囲第1項記
載のサイリスタ。 3 MAがマンガンである実用新案登録請求の範
囲第2項記載のサイリスタ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US29945981A | 1981-09-04 | 1981-09-04 | |
| US299459 | 1981-09-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129649U JPS58129649U (ja) | 1983-09-02 |
| JPS642447Y2 true JPS642447Y2 (ja) | 1989-01-20 |
Family
ID=30115373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1982133184U Granted JPS58129649U (ja) | 1981-09-04 | 1982-09-03 | サイリスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129649U (ja) |
-
1982
- 1982-09-03 JP JP1982133184U patent/JPS58129649U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58129649U (ja) | 1983-09-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3020454A (en) | Sealing of electrical semiconductor devices | |
| US2796563A (en) | Semiconductive devices | |
| US3200310A (en) | Glass encapsulated semiconductor device | |
| US3437887A (en) | Flat package encapsulation of electrical devices | |
| EP0115000B1 (en) | Power chip package | |
| US4266090A (en) | All metal flat package | |
| US3736474A (en) | Solderless semiconductor devices | |
| US3413532A (en) | Compression bonded semiconductor device | |
| US2866928A (en) | Electric rectifiers employing semi-conductors | |
| US2864980A (en) | Sealed current rectifier | |
| US3293509A (en) | Semiconductor devices with terminal contacts and method of their production | |
| US4673961A (en) | Pressurized contact type double gate static induction thyristor | |
| US2744218A (en) | Sealed rectifier unit and method of making the same | |
| US3476986A (en) | Pressure contact semiconductor devices | |
| US3248615A (en) | Semiconductor device with liquidized solder layer for compensation of expansion stresses | |
| US3599057A (en) | Semiconductor device with a resilient lead construction | |
| US3337781A (en) | Encapsulation means for a semiconductor device | |
| US3450962A (en) | Pressure electrical contact assembly for a semiconductor device | |
| JPS642447Y2 (ja) | ||
| US3581163A (en) | High-current semiconductor rectifier assemblies | |
| US3280383A (en) | Electronic semiconductor device | |
| US3513361A (en) | Flat package electrical device | |
| US3950142A (en) | Lead assembly for semiconductive device | |
| US3534233A (en) | Hermetically sealed electrical device | |
| USRE25875E (en) | Crystal diode |