JPS643063Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は粉粒体試料の白色度測定用白度計に関
する。

光源からの光線を積分球内の試料面に照射して
乱反射させ、この乱反射光を積分球内内面で反射
させて後光電素子に受光させるようにした白度計
は従来公知である。しかしながらこの従来の白度
計は積分球内内面に塗布する白色塗布材、すなわ
ちマグネシウム煙着剤がはがれ易く、長期間にわ
たり安定した測定が得られてない欠点があつた。

又、光源からの光を反射鏡で反射せしめ、試料
平面に約45度の角度をもつて入射し、これにより
試料平面内で乱反射する光源のうち試料面に垂直
な成分の光源を試料光として受光素子に導くよう
になつた型式の白度計も公知である。

上記型式の光学装置は、JIS Z8722で規格化さ
れており、さらに例えば特公昭51−7065号公報に
楕円反射鏡を用いた場合のこの種の形式の分光光
度計が開示せられている。

以上の特公昭51−7065号公報の分光光度計は、
楕円反射鏡の反射面を含む母線楕円の一つの焦点
に光源を配置し、他方の焦点に試料を配置し、光
源から楕円反射鏡で反射された光線を試料平面に
対し、45度の角度で入射するような構成となつて
いる。

しかるに以上の特公昭51−7065号公報に開示の
分光々度計は、いわゆる楕円鏡面反射光学系であ
るから、光源からの光は楕円半射面で反射した
後、試料面上で収歛する。すなわち試料面上に光
源像が形成されるから、光源ランプの大きさを大
きくしないと、試料平面の全域に光を一様に照射
することができない。

試料平面に一様に入射光線を分布させるには光
源からの光を平面反射鏡で反射して略平行光線と
なる成分の光線を試料平面に照射せしめるように
すると良い。

しかして上記の構成の分光光度計の原理的な構
成は以上のごとく既知のものであるが、しかし以
上の構成の分光光度計を用いて具体的に測定する
場合に、光学系装置の光路に外光が侵入し、光雑
音を生じせしめること、ならびに光源から反射鏡
へ又反射鏡から試料へといかに測定光線を効率良
く伝達せしめ、測定精度を向上せしめるかなどの
使用上の具体的問題を充分解決するまでには現在
致つていない。

本考案は、以上の具体的問題を解決するもので
あり、外光には影響されず、光線の伝達を有効に
行わしめる光学系装置を有する白度計を提案する
ものである。

本考案によれば、光源からの光を反射鏡で反射
して試料平面に約45度の入射角で入射し、これに
よつて試料面で乱反射して光線のうち試料平面に
垂直な光線導出装置を介して受光素子に導くよう
になつた光学系装置を有する白度計において、 この光学系装置の各光路は、それぞれ独立に光
遮蔽ダクトにより包囲されており、さらに光源か
ら反射鏡までの光路と反射鏡から試料までの光路
との光遮蔽ダクトは楕円断面形状の内通路を画定
していることを特徴とする白度計が提供される。

以下本考案の白度計について添付図とともに実
施例の形で詳細にわたり説明する。

第１図は、本考案の白度計の光学系装置の原理
的構成を示すもので、これ自体は、本考案の特徴
を示すものでない。

第１図において、光源２からの光線は左右に配
置された平面反射鏡１４で反射されて試料８に入
射されるのであるが、この入射角度を試料平面に
対して45度の角度で入射させるように、光源２、
反射鏡１４、試料８からなる光学系を態形づけて
いる。

試料８に入射した光は反射して乱反射光線を発
する。この乱反射光線のうち試料平面に垂直の成
分を有するもののみがレンズフード１０、リレ
イ・レンズ６により構成される光導出装置２２を
介して受光素子７に導かれ試料解析データとして
用いられる。

第２図は本考案の非限定実施例を図示するもの
であり、第１図に記載の光学系素子が黒色つや消
プラスチツク材料で一体成形された遮蔽ダクト成
形体に収められ、白度計の光学系装置が構成され
る。

遮蔽ダクト成形体は、 ほぼ正方形の各辺となる部分に光遮蔽ダクトが
設けられ、さらに正方形の各辺の交点にそれぞれ
光学系素子が配置される。

すなわち光源２と試料８を収めた試料皿９とが
互に対向する交点に設けられ、２つの平面反射鏡
１４が互に対向する交点に設けられている。又受
光素子７は、光源２と試料８とが配置された交点
を結ぶ対角線上に設けられ、さらに試料８と光源
２との間において、リレイレンズ６が同じくこの
対角線上に設けられている。

光遮蔽ダクト成形体は、光源２から２つの平面
反射鏡１４への光路を囲む光遮蔽ダクト３，３′
と、これら平面反射鏡１４から試料８への光路を
囲む光遮蔽ダクト４，４′と、試料８から受光素
子７への光路を囲む光遮蔽ダクト５とを有してい
る。

好ましくは光遮蔽ダクト成形体は、各光路の光
軸を含む平面で半割にされ、各光学系素子の組込
を容易にしている。

第２図では、光遮蔽ダクト成形体の一方の半割
体のみ図示されているが、他方の半割体もこれと
まつたく対称的な形となつている。好ましくは、
各半割体のダクトの側縁には、その長手方向（ダ
クトの軸の方向）に側縁フランジを設け、このフ
ランジを利用して各半割体を互に結合しあうよう
にし、またこれによつて光の遮蔽を確実にしてい
る。

特に試料８から受光素子７へ向う光路の光遮蔽
ダクト５の両側縁フランジ１５，１５′は幅広と
され、かつ光路軸と平行に長穴１５ａ，１５a′が
設けられている。さらに側縁フランジ１５，１
５′には浅い凹所１５ｂ，１５b′が長穴１５ａ，
１５a′の長さの領域にわたり設けられ、光遮蔽ダ
クト５の側壁をつきぬけて延在している。この凹
所１５ｂ，１５b′は、成形体の半割体を互に組合
せた場合に、スリツト孔および摺動間隙を構成す
るものであり、このスリツト孔を通り摺動孔に延
在させて、リレイレンズ６を保持するレンズフー
ド１０の薄板片ラグ１０ａ，１０a′が挾持されて
いる。ラグ１０ａ，１０a′にはボルト孔１０ｂ，
１０b′が設けられており、これらボルト孔１０
ｂ，１０b′は、長穴１５ａ，１５a′に位置合せし
て設けられており、長穴１５ａ，１５a′よりボル
ト（図示せず）を通すようにし、ナツト（図示せ
ず）で締めつけるようにすれば、ラグ１０ａ，１
０a′は締めつけられて固定される。長穴１５ａ，
１５a′が設けられているから、リレイレンズ６
は、光路軸方向に、ナツトをゆるめて、微調整が
行いうる。各光学系素子は、成形体のプラスチツ
ク材料の弾性力により、個々に形成された隔室の
定位置に支持されるようになつている。しかして
試料皿９を受ける隔室１９の下側には、両端にベ
アリング２１，２１′を担持するシヤフト２１ａ
により、その中間において加圧ローラ２１ｂが保
持された加圧ローラ組立体を収容する隔室１９′
が設けられている。加圧ローラ２１ｂは、隔室１
９へその外周面の一部が突入して試料皿９の底部
を支持するとともに試料皿９をスムースに出し入
れするガイドとなる。

又受光素子７の隔室１７の下方にはフイルタ１
８を収納する隔室１８′が設けられている。

以上のごとく光遮蔽ダクト成形体に各光学系素
子を組込んで光学系装置を構成すれば、光線は、
試料皿９に収めた試料９の平面に一様に分布して
45度の入射角で入射する。

光源２からの光線は拡散光線であるが光源２に
近接して小径の透孔２ａ，２a′が設けられ、かつ
光源２から平面反射鏡１４，１４′をへて試料８
の平面に達する光線の光路長は比較的長いこと
と、光遮蔽ダクトは黒色つや消しであるため、光
路軸とほぼ平行な光線以外は吸収されてしまうこ
ととの理由で、試料に照射される光線は光路軸に
ほぼ平行でかつ互にほぼ平行ないわゆる略平行光
線となつている。

この略平行光線を試料８の平面に入射角45度で
入射させる場合に、試料８の平面に一様にかつむ
だなく照射するために、本考案の一つの特徴的構
成として、光源２から平面反射鏡１４をへて試料
８の平面に達する光路を包囲する光遮蔽ダクト
３，３′，４，４′が画定する内通路は第３図に図
示のごとく楕円断面となつている。すなわち楕円
の長軸径r〓が試料皿８の受け皿部の内径にほぼ等
しい楕円の断面の内通路が光遮蔽ダクト３，３′，
４，４′により画定されている。

さらにリレイレンズ５が微調整可能であるた
め、リレイレンズや成形体の寸法精度にバラツキ
があつても、リレイレンズを微調整することで、
受光素子７に試料光を照射することができる。

以上本考案を実施例の形で説明したが、本考案
は上記実施例に限定されず実用新案登録請求の範
囲で限定される範囲で様々に変更可能である。例
えば光源２は、拡散光源を用いているが平行光線
を得られるような光源装置を用いることも本考案
の範囲である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、白度計の光学系装置の原理を示す
図。第２図は本考案の実施例を透視図で示す分解
図を図示する図。第３図は第２図に図示の光遮蔽
ダクトの断面を示す図。 ２……光源ランプ、３，３′，４，４′，５……
光遮蔽ダクト、６……リレイレンズ、７……受光
素子、８……試料、９……試料皿、１０……レン
ズフード、１４……平面鏡。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 正方形状に成形加工された光遮蔽ダクトの交点
   部分の一角に光源を備え、 前記光源を設けた交点部分に対して左右に位置
   する交点部分には反射鏡を設けて光源からの光を
   反射鏡で反射して前記光源と対角線上の位置に設
   けた試料平面に約45度の入射角で入射し、これに
   よつて試料面で乱反射した光線のうち試料平面に
   垂直な光線を光線導出装置を介して受光素子に導
   くようになつた光学系装置を有する粉粒体白度計
   において、 前記光遮蔽ダクトは、ダクト中心軸を含む平面
   で半割にされており、両半割光遮蔽ダクトは前記
   光源から前記反射鏡までの光路と、前記反射鏡か
   ら前記試料面までの光路を黒色ツヤ消し加工され
   たＵ字形状の内通路を画定していることを特徴と
   する粉粒体白度計。