JPS643403B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS643403B2 JPS643403B2 JP15056182A JP15056182A JPS643403B2 JP S643403 B2 JPS643403 B2 JP S643403B2 JP 15056182 A JP15056182 A JP 15056182A JP 15056182 A JP15056182 A JP 15056182A JP S643403 B2 JPS643403 B2 JP S643403B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- drain
- low
- resistor
- pass filter
- oscillation frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03D—DEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
- H03D9/00—Demodulation or transference of modulation of modulated electromagnetic waves
- H03D9/06—Transference of modulation using distributed inductance and capacitance
- H03D9/0608—Transference of modulation using distributed inductance and capacitance by means of diodes
- H03D9/0633—Transference of modulation using distributed inductance and capacitance by means of diodes mounted on a stripline circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/18—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance
- H03B5/1841—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a strip line resonator
- H03B5/1847—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a strip line resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device
- H03B5/1852—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a strip line resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device the semiconductor device being a field-effect device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/18—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance
- H03B5/1864—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a dielectric resonator
- H03B5/187—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a dielectric resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device
- H03B5/1876—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a dielectric resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device the semiconductor device being a field-effect device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、マイクロ波通信機器やSHF受信機
等の局発源に利用されるマイクロ波発振器に関す
るものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a microwave oscillator used as a local oscillator for microwave communication equipment, SHF receivers, and the like.
従来の技術
第8図は、電界効果トランジスタ(FET)を
用いた従来のマイクロ波発振器の構成例を示す。
1はFETで、FET1のドレイン端子2には長さ
が発振周波数の約1/4波長で終端開放されたスト
リツプ線路3が接続されている。FET1のゲー
ト端子4にはストリツプ線路5が接続され、更に
ストリツプ線路5は、ダミー抵抗6で終端されて
いる。7は誘電体共振器で、ストリツプ線路5と
結合するように配置されている。ソース端子8に
はストリツプ線路9が接続され、誘電体共振器7
の共振周波数で発振した発振器の出力はストリツ
プ線路9から取り出され負荷へ供給される。10
はバイアス供給回路用の低域通過フイルタで、高
インピーダンス線路と低インピーダンス線路とで
構成されている。11は抵抗で、その一端は低域
通過フイルタ10の低インピーダンス線路に接続
され、他端はコンデンサ12と接続されている。
そしてバイアス電源は、抵抗11を介してFET
1に供給されている。Prior Art FIG. 8 shows an example of the configuration of a conventional microwave oscillator using a field effect transistor (FET).
1 is an FET, and a strip line 3 with an open end and a length of about 1/4 wavelength of the oscillation frequency is connected to the drain terminal 2 of the FET 1. A strip line 5 is connected to the gate terminal 4 of the FET 1, and the strip line 5 is further terminated with a dummy resistor 6. Reference numeral 7 denotes a dielectric resonator, which is arranged so as to be coupled to the strip line 5. A strip line 9 is connected to the source terminal 8, and a dielectric resonator 7
The output of the oscillator oscillated at the resonant frequency is taken out from the strip line 9 and supplied to the load. 10
is a low-pass filter for the bias supply circuit, and is composed of a high impedance line and a low impedance line. 11 is a resistor, one end of which is connected to the low impedance line of the low pass filter 10, and the other end connected to the capacitor 12.
And the bias power supply is connected to the FET through resistor 11.
1 is supplied.
発明が解決しようとする課題
一般にトランジスタの利得は周波数が低くなる
に従つて増大するため、発振器の発振周波数より
も低い周波数において、しばしば寄生発振を生じ
ることがある。第8図においてFET1のゲート
端子4からFET1側を見た反射係数をS11、ゲー
ト端子4からダミー抵抗6側を見た反射係数を
ΓRとするとS11×ΓR=1……(1)の条件を満足した
状態で発振が行われている。反射係数ΓRが誘電
体共振器7の共振周波数近傍でのみ|ΓR|1
になり、それ以外の周波数では|ΓR|0にな
るようにゲート端子4側の共振回路を設定すれば
第8図の発振器は誘電体共振器7の共振周波数で
安定に発振する。しかし、ダミー抵抗6はその特
性が使用周波数前後の帯域内では反射係数|Γ|
0になるように構成されるが、それ以外の低い
周波数や高い周波数では必ずしも|Γ|0にな
るように構成されるとは限らない。例えば、50Ω
の抵抗と終端開放の1/4波長線路とで構成された
ダミー抵抗がそうである。50Ω抵抗と終端開放の
1/4長線路を含む終端短絡された低域通過フイル
タとにより構成されたダミー抵抗では、使用周波
数が11GHzとすれば1GHz以下又は7〜14GHzの周
波数範囲では|Γ|0に近い特性を示すが、2
〜6GHzの範囲では|Γ|1に近い特性を示す。
一方、FET1は周波数が低くなるに従つて利得
が増大する特性を有するため、ゲート端子4から
FET1側を見た小信号での反射係数|S′11|は、
低い周波数に到るまで負性抵抗性を示し、|S′11
|>1となる。しかも、低域通域フイルタ10に
よつてもドレイン端子2が使用周波数以下の周波
数で高周波的に接地されやすくなり、そのことが
一層|S′11|を増大させる原因となつている。従
つて、ダミー抵抗6の特性が|Γ|1に近い周
波数でもS11×ΓR=1の条件を満足するようにな
り、これが寄生発振を生じる原因となる。そして
その寄生発振は3〜5GHzの範囲のどこかの周波
数で起こり易い。Problems to be Solved by the Invention Generally, the gain of a transistor increases as the frequency decreases, so parasitic oscillations often occur at frequencies lower than the oscillation frequency of the oscillator. In FIG. 8, if the reflection coefficient when looking from the gate terminal 4 of FET 1 to the FET 1 side is S 11 and the reflection coefficient when looking from the gate terminal 4 to the dummy resistor 6 side is Γ R , then S 11 ×Γ R = 1...(1 ) Oscillation is performed when the following conditions are satisfied. The reflection coefficient Γ R is only near the resonance frequency of the dielectric resonator 7 |Γ R |1
If the resonant circuit on the gate terminal 4 side is set so that |Γ R |0 at other frequencies, the oscillator shown in FIG. 8 stably oscillates at the resonant frequency of the dielectric resonator 7. However, the dummy resistor 6 has a reflection coefficient |Γ|
However, at other low or high frequencies, it is not necessarily configured to be |Γ|0. For example, 50Ω
An example of this is a dummy resistor consisting of a resistor and an open-ended 1/4 wavelength line. With a dummy resistor composed of a 50Ω resistor and a short-terminated low-pass filter containing a 1/4-long line with an open terminal, if the operating frequency is 11 GHz, then in the frequency range of 1 GHz or less or 7 to 14 GHz, |Γ| It shows characteristics close to 0, but 2
In the range of ~6 GHz, it exhibits characteristics close to |Γ|1.
On the other hand, since FET1 has the characteristic that the gain increases as the frequency decreases,
The reflection coefficient |S′ 11 | for a small signal looking at the FET1 side is
Shows negative resistance down to low frequencies, |S′ 11
|>1. Furthermore, the low-pass filter 10 also makes the drain terminal 2 more likely to be grounded at high frequencies at frequencies below the operating frequency, which causes |S' 11 | to further increase. Therefore, the characteristics of the dummy resistor 6 come to satisfy the condition of S 11 ×Γ R =1 even at frequencies close to |Γ|1, which causes parasitic oscillation. And that parasitic oscillation is likely to occur at a frequency somewhere in the range of 3 to 5 GHz.
本発明は、上記のような従来の寄生発振の問題
を解決して、FETもしくはバイポーラトランジ
スタのゲート端子もしくはベース端子よりFET
もしくはバイポーラトランジスタ側を見た小信号
反射係数|S′11|を寄生発振周波数において小さ
くし、負性抵抗性をなくすか、あるいは負性抵抗
性を弱めることにより寄生発振を防止したマイク
ロ波発振器を提供することを目的とするものであ
る。 The present invention solves the conventional problem of parasitic oscillation as described above, and the FET or bipolar transistor's gate terminal or base terminal
Or, create a microwave oscillator that prevents parasitic oscillation by reducing the small signal reflection coefficient |S′ 11 | looking at the bipolar transistor side at the parasitic oscillation frequency, eliminating negative resistance, or weakening negative resistance. The purpose is to provide
課題を解決するための手段
本発明においては、高インピーダンス線路と低
インピーダンス線路とで構成されたバイアス供給
回路用の低域通過フイルタに一端が接続された抵
抗の他端に、長さが寄生発振周波数の1/4波長で
終端開放のストリツプ線路を接続したものであ
る。Means for Solving the Problems In the present invention, a resistor whose one end is connected to a low-pass filter for a bias supply circuit composed of a high impedance line and a low impedance line has a length that causes parasitic oscillation. This is a connection of open-ended strip lines at 1/4 wavelength of the frequency.
作 用
上記の構成により、FETもしくはバイポーラ
トランジスタのドレインもしくはコレクタ端子か
らバイアス供給回路用の低域通過フイルタ側を見
たインピーダンスが、寄生発振周波数前後で整合
条件を満足させることができ、小信号反射係数|
S′11|をその周波数で小さくすることができ、
FETもしくはバイポーラトランジスタのゲート
端子もしくはベース端子よりFETもしくはバイ
ポーラトランジスタ側を見たインピーダンスの負
性抵抗性をなくすか、負性抵抗性を弱め、寄生発
振を防止するものである。Effect With the above configuration, the impedance seen from the drain or collector terminal of the FET or bipolar transistor to the low-pass filter side for the bias supply circuit can satisfy the matching condition around the parasitic oscillation frequency, and small signal reflection Coefficient|
S′ 11 | can be made small at that frequency,
It prevents parasitic oscillation by eliminating or weakening the negative resistance of the impedance when looking at the FET or bipolar transistor side from the gate or base terminal of the FET or bipolar transistor.
実施例
以下に本発明の実施例を順次説明していく。第
1図は本発明の一実施例であるが、第8図と同一
箇所には同一番号を付して説明する。Examples Examples of the present invention will be sequentially described below. Although FIG. 1 shows one embodiment of the present invention, the same parts as in FIG. 8 are given the same numbers and will be explained.
FET1のドレイン端子2、ゲート端子4、ソ
ース端子8にはそれぞれ、長さが発振周波数の約
1/4波長で終端開放されたストリツプ線路3、ダ
ミー抵抗6で終端されたストリツプ線路5、負荷
へ発振出力を供給するストリツプ線路9が接続さ
れている。7は誘電体共振器で、ストリツプ線路
5と結合するように配置されている。ストリツプ
線路3には、高インピーダンス線路および低イン
ピーダンス線路とで構成されたバイアス供給回路
用の低域通過フイルタ10が接続され、抵抗11
を介してバイアス電源がFET1に供給されてい
る。そして、抵抗11のバイアス電源側に接続さ
れる一端には長さが従来例で発生する寄生発振の
周波数の約1/4波長で、終端開放されたストリツ
プ線路13が接続されている。コンデンサ12は
直流阻止とともに高周波バイパスの役割も兼ねた
コンデンサである。 The drain terminal 2, gate terminal 4, and source terminal 8 of the FET 1 are connected to a strip line 3 whose length is approximately 1/4 wavelength of the oscillation frequency with an open end, a strip line 5 terminated with a dummy resistor 6, and a strip line 5 that is connected to the load. A strip line 9 for supplying oscillation output is connected. Reference numeral 7 denotes a dielectric resonator, which is arranged so as to be coupled to the strip line 5. A low-pass filter 10 for a bias supply circuit composed of a high impedance line and a low impedance line is connected to the strip line 3, and a resistor 11 is connected to the strip line 3.
A bias power supply is supplied to FET1 via. An open-ended strip line 13 is connected to one end of the resistor 11 connected to the bias power supply side and has a length of about 1/4 wavelength of the frequency of parasitic oscillation that occurs in the conventional example. The capacitor 12 is a capacitor that serves not only as a direct current blocker but also as a high frequency bypass.
第1図の実施例において、FET1のドレイン
端子2から低域通過フイルタ10側を見たインピ
ーダンスの反射係数|Γd|は寄生発振周波数で
は小さくなる。これは、終端開放のストリツプ線
路13により抵抗11のバイアス電源側の端子が
(抵抗11に接続されたコンデンサ12の端子か
ら接地点側を見たインピーダンスの状態に関係な
く)、寄生発振周波数では高周波的に短絡される
ため抵抗11がダンピング抵抗として動作するた
めである。従つて、FET1のゲート端子4から
FET1側を見た小信号での反射係数S′11も寄生発
振周波数で負性抵抗性をなくすか、負性抵抗性を
弱め、寄生発振が防止されるものである。 In the embodiment shown in FIG. 1, the reflection coefficient |Γ d | of the impedance viewed from the drain terminal 2 of the FET 1 to the low-pass filter 10 side becomes small at the parasitic oscillation frequency. This is because the bias power supply side terminal of the resistor 11 is connected to the resistor 11 due to the open-ended strip line 13 (regardless of the state of impedance seen from the ground point side from the terminal of the capacitor 12 connected to the resistor 11), and the parasitic oscillation frequency is high frequency. This is because the resistor 11 operates as a damping resistor since it is short-circuited. Therefore, from gate terminal 4 of FET1
The reflection coefficient S' 11 for a small signal looking at the FET 1 side also eliminates negative resistance at the parasitic oscillation frequency or weakens the negative resistance, thereby preventing parasitic oscillation.
ここで上記の反射係数|Γd|が小さくなると
小信号反射係数|S′11|が小さくなることの理由
をさらに詳しく説明する。 Here, the reason why the small signal reflection coefficient |S′ 11 | becomes smaller as the above-mentioned reflection coefficient |Γ d | becomes smaller will be explained in more detail.
第2図は各係数を説明するための構成図でドレ
イン端子2に長さlのストリツプ線路20を接続
しその終端に負荷の抵抗21を接続した回路であ
る。この第2図の回路において、FET1のゲー
ト端子4からFET1側を見た小信号反射係数|
S′11|と、FET1のドレイン端子2から抵抗8側
を見た反射係数|Γd′|との関係を計算機シミユ
レーシヨンで示したものが第3図である。但し、
ストリツプ線路5の長さlは抵抗8の抵抗値R=
∞の時に、周波数=4.25GHz近傍で、|S′11|が
最大値を示すように選んでいる。ストリツプ線路
5の長さlをこのように選んだのは、従来例第8
図で、発振周波数が11GHzの時に、約4GHzで寄
生発振が起こつたことを対応して、第2図の回路
構成で、R=∞(ストリツプ線路20の終端が開
放状態に相当)にした時に、4GHz付近で負性抵
抗値が最も大きくなるようにするためである。 FIG. 2 is a block diagram for explaining each coefficient, and is a circuit in which a strip line 20 of length l is connected to the drain terminal 2, and a load resistor 21 is connected to the terminal end of the strip line 20. In the circuit shown in Figure 2, the small signal reflection coefficient when looking from the gate terminal 4 of FET 1 to the FET 1 side |
FIG. 3 is a computer simulation showing the relationship between S′ 11 | and the reflection coefficient |Γ d ′| when looking from the drain terminal 2 of the FET 1 to the resistor 8 side. however,
The length l of the strip line 5 is the resistance value R of the resistor 8 =
It is selected so that |S′ 11 | shows the maximum value near the frequency = 4.25 GHz when ∞. The reason why the length l of the strip line 5 was selected in this way is that
In the figure, when the oscillation frequency was 11 GHz, parasitic oscillation occurred at approximately 4 GHz.In response to this, when R = ∞ (corresponding to the open end of the strip line 20) in the circuit configuration shown in Figure 2, This is to ensure that the negative resistance value is greatest near 4 GHz.
第3図より明らかなように、|Γd′|を小さく
するに従つて、|S′11|又は負性抵抗の大きさが
小さくなつている。このことは第1図の実施例で
FET1のドレイン端子2から低域通過フイルタ
10側を見た反射係数|Γd|を小さくすれば、
約4GHzで発生する寄生発振を防止できることを
意味している。 As is clear from FIG. 3, as |Γ d ′| decreases, |S′ 11 | or the magnitude of the negative resistance decreases. This can be seen in the example shown in Figure 1.
If the reflection coefficient |Γ d | viewed from the drain terminal 2 of FET 1 to the low-pass filter 10 side is reduced,
This means that parasitic oscillations that occur at approximately 4 GHz can be prevented.
なお、低域通過フイルタ10は寄生発振周波数
(上記では約4GHz)をカツトオフするものではな
い。例えば第4図のような回路によりその通過特
性|S21|dBを実測すると、第5図に示すように
なる。即ちある程度は減衰するものの、端子40
(第1図ではストリツプ線路13)にはその寄生
発振周波数の信号は十分に伝達される。 Note that the low-pass filter 10 does not cut off the parasitic oscillation frequency (approximately 4 GHz in the above example). For example, when the pass characteristic |S 21 |dB is actually measured using a circuit as shown in FIG. 4, it becomes as shown in FIG. That is, although it is attenuated to some extent, the terminal 40
The signal of the parasitic oscillation frequency is sufficiently transmitted to the strip line 13 (in FIG. 1).
また発振周波数が11GHz(前出)であれば、上
記低域通過フイルタ10によりこの発振周波数の
信号はカツトオフされて、第4図の端子40、即
ち抵抗11まで達することなく、よつてコンデン
サ12も抵抗11も発振動作に何らの影響も及ぼ
さない。一方寄生発振周波数(約4GHz)の信号
は上記の通り抵抗11に伝達されこの抵抗11に
よりその信号が減衰する(前出のダンピング動
作)ため、寄生発振は抑制されるのである。 Furthermore, if the oscillation frequency is 11 GHz (described above), the signal at this oscillation frequency is cut off by the low-pass filter 10 and does not reach the terminal 40 in FIG. The resistor 11 also has no effect on the oscillation operation. On the other hand, the signal at the parasitic oscillation frequency (approximately 4 GHz) is transmitted to the resistor 11 as described above, and the signal is attenuated by the resistor 11 (the aforementioned damping operation), so that the parasitic oscillation is suppressed.
第6図はFET1のドレイン端子2から低域通
過フイルタ10側を見た反射係数|Γd|を従来
例(第8図)と第1図の実施例とで比較したもの
である。抵抗11の抵抗値Rとストリツプ線路1
3の線路長を適当に選ぶことにより寄生発振を防
止できることが理解される。レえば発振周波数が
11GHzの発振器を従来例のように構成した時、約
4GHzで寄生発振が起こつたが、本実施例では数
Ωから約60Ωの範囲に抵抗11の抵抗値Rを選ぶ
と約4GHzでの寄生発振が停止することが確かめ
られている。 FIG. 6 compares the reflection coefficient |Γ d | viewed from the drain terminal 2 of the FET 1 to the low-pass filter 10 side between the conventional example (FIG. 8) and the embodiment shown in FIG. Resistance value R of resistor 11 and strip line 1
It is understood that parasitic oscillation can be prevented by appropriately selecting the line length of No. 3. If the oscillation frequency is
When a 11GHz oscillator is configured as in the conventional example, approximately
Parasitic oscillation occurred at 4 GHz, but in this example, it has been confirmed that if the resistance value R of the resistor 11 is selected in the range of several Ω to about 60 Ω, the parasitic oscillation at about 4 GHz is stopped.
なお第6図では、本実施例では3GHz付近にド
レイン端子2から低域通過フイルタ10側を見た
インピーダンスの反射係数|Γd|が大きな所が
ある。これを小信号反射係数S′11又は負性抵抗で
みても同様に3GHz付近で比較的大きな値(|S′11
|=3.5〜5dB)になつている。(なお第8図の従
来例では4.2GHz付近で小信号反射係数S′11が同程
度に大きな値になつている。)
しかし3GHzで寄生発振が起こるためには、こ
の周波数でS11×ΓR=1の条件が成立しなければ
ならない。この条件が成立するためにはゲート端
子4側のストリツプ線路5の長さが3GHzで約1/4
波長で、かつダミー抵抗6の特性が3GHzで非常
に悪いなどの条件が必要である。本実施例(第1
図)の従来例(第8図)では約4GHzで寄生発振
が起こつていたのでS11×ΓR=1はこの約4GHzの
周波数で成立しているものと考えられる。したが
つてストリツプ線路5の長さやダミー抵抗6の値
を変えなければ、負性抵抗値のみが3GHz付近で
少し大きくなつても寄生発振にまでは至らないも
のである。 In FIG. 6, in this embodiment, there is a place near 3 GHz where the impedance reflection coefficient |Γ d | when looking from the drain terminal 2 to the low-pass filter 10 side is large. If we look at this using the small signal reflection coefficient S′ 11 or negative resistance, it similarly shows a relatively large value near 3 GHz (|S′ 11
|=3.5~5dB). (In the conventional example shown in Figure 8, the small signal reflection coefficient S' 11 has a similarly large value around 4.2 GHz.) However, in order for parasitic oscillation to occur at 3 GHz, S 11 ×Γ The condition R = 1 must be satisfied. In order for this condition to hold, the length of the strip line 5 on the gate terminal 4 side must be approximately 1/4 at 3 GHz.
Conditions are required, such as the wavelength and the characteristics of the dummy resistor 6 being very poor at 3 GHz. This example (first
In the conventional example (Fig. 8) shown in Fig. 8, parasitic oscillation occurred at about 4 GHz, so it is considered that S 11 ×Γ R =1 is established at this frequency of about 4 GHz. Therefore, unless the length of the strip line 5 or the value of the dummy resistor 6 is changed, parasitic oscillation will not occur even if only the negative resistance value becomes slightly large near 3 GHz.
以上のように本実施例では、単にストリツプ線
路13を付加するだけでよいから構成が簡単で、
しかも発振器全体の構成を簡単な修正を行うだけ
で済む利点を有する。 As described above, in this embodiment, the configuration is simple because it is sufficient to simply add the strip line 13.
Moreover, it has the advantage that only a simple modification of the configuration of the entire oscillator is required.
なお、上記では寄生発振が約4GHzで発生する
場合について説明したが、他の発振周波数にチユ
ーニングした時に、他の寄生発振周波数となつた
場合にはストリツプ線路13の線路長をその寄生
発振周波数に応じて変えれば良く、この線路長変
更は希望発振周波数とは一応無関係であるから、
容易に寄生発振を抑制しうる利点も有するもので
ある。更に、抵抗11の使用範囲が数Ωから約
60Ωまでと広いので、バイアス電源の電圧の大き
さに対応して抵抗11の抵抗値を選択できる利点
も有するものである。 In addition, although the case where parasitic oscillation occurs at approximately 4 GHz has been explained above, if the parasitic oscillation frequency becomes another when tuning to another oscillation frequency, the line length of the strip line 13 should be adjusted to that parasitic oscillation frequency. Just change it accordingly, and since this line length change has nothing to do with the desired oscillation frequency,
It also has the advantage of easily suppressing parasitic oscillations. Furthermore, the usable range of resistor 11 is from several ohms to approx.
Since it has a wide range of up to 60Ω, it also has the advantage that the resistance value of the resistor 11 can be selected in accordance with the magnitude of the voltage of the bias power supply.
第7図は本発明の他の実施例で第1図と同一箇
所には同一番号を付して説明する。第1図におけ
るコンデンサ12の替わりに第7図では貫通型コ
ンデンサ14が使用されている以外は第1図と全
く構成は同じである。寄生発振に対するストリツ
プ線路13と抵抗11の作用は第1図の時と全く
同じであるため、第1図の実施例が有する利点と
同じ利点を第7図の実施例も有するものである。
特に第7図の実施例では直流阻止および高周波バ
イパス用のコンデンサとして貫通型コンデンサ1
4を使用しているのでバイアス電源から貫通型コ
ンデンサに導かれるリード線の移動による発振周
波数の変動が除去される効果を有する。 FIG. 7 shows another embodiment of the present invention, and the same parts as in FIG. 1 are given the same numbers and will be described. The structure is completely the same as that in FIG. 1 except that a feedthrough capacitor 14 is used in FIG. 7 instead of the capacitor 12 in FIG. 1. Since the effect of the strip line 13 and resistor 11 on parasitic oscillations is exactly the same as in FIG. 1, the embodiment of FIG. 7 has the same advantages as the embodiment of FIG. 1.
In particular, in the embodiment shown in Fig. 7, the feedthrough capacitor 1 is used as a DC blocking and high frequency bypass capacitor
4, it has the effect of eliminating fluctuations in the oscillation frequency due to movement of the lead wire leading from the bias power supply to the feedthrough capacitor.
以上説明した実施例では、発振素子として
FETを用いて説明したが、発振素子としては、
バイポーラトランジスタでもよいことは言うまで
もない。その場合、説明中のドレインはコレクタ
に、ゲートはベースに相当する。 In the embodiment described above, as an oscillation element,
Although the explanation was made using FET, as an oscillation element,
Needless to say, a bipolar transistor may also be used. In that case, the drain in the description corresponds to the collector, and the gate corresponds to the base.
発明の効果
以上のように、本発明によれば、寄生発振の防
止策として、単に寄生発振周波数の1/4波長の終
端開放ストリツプ線路を付加するだけの簡単な構
成により、幅広い周波数の寄生発振に安易に対処
しうる効果を有するものである。しかも、寄生発
振を防止するダンピング抵抗として作用する発振
器のドレインもしくはコレクタバイアス抵抗の使
用範囲が数Ωから約60Ωまでと幅広いので、バイ
アス電源電圧の大きさに対応してドレインもしく
はコレクタバイアス抵抗の大きさを選べる効果も
有するものである。Effects of the Invention As described above, according to the present invention, as a measure to prevent parasitic oscillation, parasitic oscillation at a wide range of frequencies can be prevented by simply adding an open-ended strip line with a quarter wavelength of the parasitic oscillation frequency. This has the effect of easily dealing with the situation. Moreover, the range of use of the oscillator's drain or collector bias resistor, which acts as a damping resistor to prevent parasitic oscillation, is wide, from several Ω to about 60 Ω. It also has the effect of allowing you to choose the size.
第1図は本発明の一実施例におけるマイクロ波
発振器の構成図、第2図は各係数を説明するため
の回路の構成図、第3図はそのFETのドレイン
端子からドレインバイアス回路側を見たインピー
ダンスの反射係数|Γd′|と小信号反射係数|
S′11|の特性図、第4図は低域通過フイルタの説
明のための構成図、第5図はその低域通過特性
図、第6図は|Γd|の周波数特性図、第7図は
他の実施例の構成図、第8図は従来例の構成図で
ある。
1……FET、2……ドレイン端子、4……ゲ
ート端子、6……ダミー抵抗、7……誘電体共振
器、10……低域通過フイルタ、11……抵抗、
12……コンデンサ、13……寄生発振周波数の
1/4波長の長さを有する終端開放ストリツプ線路。
Fig. 1 is a block diagram of a microwave oscillator according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of a circuit for explaining each coefficient, and Fig. 3 is a view of the drain bias circuit side from the drain terminal of the FET. reflection coefficient of impedance |Γ d ′| and small signal reflection coefficient |
S' 11 | characteristic diagram, Figure 4 is a configuration diagram for explaining the low-pass filter, Figure 5 is its low-pass characteristic diagram, Figure 6 is the frequency characteristic diagram of |Γ d |, and Figure 7 is The figure is a block diagram of another embodiment, and FIG. 8 is a block diagram of a conventional example. 1...FET, 2...Drain terminal, 4...Gate terminal, 6...Dummy resistor, 7...Dielectric resonator, 10...Low pass filter, 11...Resistor,
12... Capacitor, 13... Open terminated strip line having a length of 1/4 wavelength of the parasitic oscillation frequency.
Claims (1)
ランジスタのドレインもしくはコレクタ端子に長
さが発振周波数の約1/4波長で終端開放の第1の
伝送線路を接続し、前記電界効果トランジスタも
しくはバイポーラトランジスタのゲートもしくは
ベース端子に誘電体共振器を用いた共振回路を付
加してドレインもしくはコレクタ接地型のマイク
ロ波発振回路を構成するとともに、第1の伝送線
路に、長さが発振周波数の約1/4波長で特性イン
ピーダンスの高い線路1つと、長さが発振周波数
の約1/4波長で特性インピーダンスの低い線路1
つとで構成される低域通過フイルタの一端を接続
し、この低域通過フイルタの他端にドレインもし
くはコレクタ抵抗の一端を接続し、このドレイン
もしくはコレクタ抵抗の他端に長さが前記マイク
ロ波発振回路の不要発振周波数の約1/4波長で終
端開放の第2の伝送線路を接続し、前記ドレイン
もしくはコレクタ抵抗の他端より前記電界効果ト
ランジスタもしくはバイポーラトランジスタのバ
イアス電圧を印加するようにしたことを特徴とす
るマイクロ波発振器。 2 電界効果トランジスタもしくはバイポーラト
ランジスタのドレインもしくはコレクタ端子より
低域通過フイルタ側を見たインピーダンスの反射
係数がマイクロ波発振回路の不要発振周波数にお
いて小さくなるようにドレインもしくはコレクタ
抵抗の抵抗値を設定したことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のマイクロ波発振器。[Scope of Claims] 1. A first transmission line with an open end and a length of about 1/4 wavelength of the oscillation frequency is connected to the drain or collector terminal of the field effect transistor or bipolar transistor, and the field effect transistor or bipolar transistor A resonant circuit using a dielectric resonator is added to the gate or base terminal of the first transmission line to configure a drain or collector-grounded microwave oscillation circuit. One line with four wavelengths and high characteristic impedance, and one line with length approximately 1/4 wavelength of the oscillation frequency and low characteristic impedance.
Connect one end of a low-pass filter consisting of one end to the other end of the low-pass filter, connect one end of the drain or collector resistor to the other end of the low-pass filter, and connect the other end of the drain or collector resistor to the length of the microwave oscillation filter. A second open-ended transmission line is connected at approximately 1/4 wavelength of the unnecessary oscillation frequency of the circuit, and a bias voltage of the field effect transistor or bipolar transistor is applied from the other end of the drain or collector resistor. A microwave oscillator featuring: 2. The resistance value of the drain or collector resistor is set so that the reflection coefficient of the impedance when looking at the low-pass filter side from the drain or collector terminal of the field effect transistor or bipolar transistor is small at the unnecessary oscillation frequency of the microwave oscillation circuit. A microwave oscillator according to claim 1, characterized in that:
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57150561A JPS5940708A (en) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Microwave oscillator |
| US06/526,279 US4541123A (en) | 1982-08-30 | 1983-08-25 | Mixer circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57150561A JPS5940708A (en) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Microwave oscillator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5940708A JPS5940708A (en) | 1984-03-06 |
| JPS643403B2 true JPS643403B2 (en) | 1989-01-20 |
Family
ID=15499564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57150561A Granted JPS5940708A (en) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Microwave oscillator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940708A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05145337A (en) * | 1991-11-22 | 1993-06-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Microwave oscillator |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5938728Y2 (en) * | 1977-12-23 | 1984-10-29 | 日本電気株式会社 | Oscillator using dielectric resonator |
| JPS6040726B2 (en) * | 1979-09-25 | 1985-09-12 | 松下電器産業株式会社 | Ultra high frequency oscillation circuit |
-
1982
- 1982-08-30 JP JP57150561A patent/JPS5940708A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5940708A (en) | 1984-03-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5406224A (en) | Circuit for stabilizing RF amplifier | |
| US4435688A (en) | FET Microwave oscillator being frequency stabilized by capacitive reactance micro-strip stub line | |
| US6411176B1 (en) | Voltage-controlled duplexer and communication apparatus | |
| US4630003A (en) | FET oscillator exhibiting negative resistance due to high impedance at the source of an FET thereof | |
| US6307448B1 (en) | Frequency-variable-type filter, antenna duplexer, and communication apparatus | |
| JP2000114870A (en) | Microwave oscillator | |
| US4754229A (en) | Matching circuit for a microwave device | |
| US5748051A (en) | Low phase noise UHF and microwave oscillator | |
| JPH0541627A (en) | High frequency attenuator | |
| JPS58168306A (en) | Microwave oscillator | |
| US6052029A (en) | Stabilizing circuit and amplifier | |
| US5079524A (en) | Microwave oscillation circuit | |
| EP1252707B1 (en) | Multifunction high frequency integrated circuit structure | |
| US5446419A (en) | Microwave oscillation apparatus capable of suppressing spurious oscillation | |
| JPS643403B2 (en) | ||
| US4541123A (en) | Mixer circuit | |
| US6542042B1 (en) | Low power crystal oscillator with feedback resistor pair | |
| US5451905A (en) | Microwave semiconductor device comprising stabilizing means | |
| JPH11234063A (en) | High frequency amplifier | |
| US6172577B1 (en) | Oscillator and oscillation apparatus using the oscillator | |
| JPH09205329A (en) | Low noise amplifier | |
| JPS6048921B2 (en) | FET oscillation circuit | |
| JPH0535923B2 (en) | ||
| JPH09284051A (en) | Frequency multiplier circuit | |
| JP3175421B2 (en) | Antenna switch duplexer |