JPS647360Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS647360Y2 JPS647360Y2 JP1981016661U JP1666181U JPS647360Y2 JP S647360 Y2 JPS647360 Y2 JP S647360Y2 JP 1981016661 U JP1981016661 U JP 1981016661U JP 1666181 U JP1666181 U JP 1666181U JP S647360 Y2 JPS647360 Y2 JP S647360Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- irradiation
- lower electrode
- length
- capsule
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 239000002775 capsule Substances 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 4
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は長さ測定用照射カプセルに関する。
従来、電気容量の変化を利用して、低温での照
射効果を長さの変化で測定する方法がある。原子
炉を利用しての低温での長さ変化の照射実験で
は、照射前に試料を検出部に取り付け測定を行な
い、その後試料を検出部から取りはずし原子炉で
照射を行なう。照射後また試料を検出部に取り付
けて測定を行なつている。そのときの試料の取り
付け方で測定誤差が生じる。この方法で我々が行
なつた測定では、長さ２cmの試料で最大0.005cm
の取り付けの誤差が生じた。
射効果を長さの変化で測定する方法がある。原子
炉を利用しての低温での長さ変化の照射実験で
は、照射前に試料を検出部に取り付け測定を行な
い、その後試料を検出部から取りはずし原子炉で
照射を行なう。照射後また試料を検出部に取り付
けて測定を行なつている。そのときの試料の取り
付け方で測定誤差が生じる。この方法で我々が行
なつた測定では、長さ２cmの試料で最大0.005cm
の取り付けの誤差が生じた。
本考案は原子炉で低温照射を行ない長さの変化
を測定することを目的として、試料と検出部を一
体化してカプセル状にしたものである。それによ
り中性子照射前の測定と照射後の測定において、
試料の取り付けの状態を変えることなく長さ変化
の測定が出来るようにしたものである。
を測定することを目的として、試料と検出部を一
体化してカプセル状にしたものである。それによ
り中性子照射前の測定と照射後の測定において、
試料の取り付けの状態を変えることなく長さ変化
の測定が出来るようにしたものである。
その構造を第１図に示す。上部電極部は絶縁体
で作つた試料支持板６を中にはさんで試料１と上
部電極端子８とを導通を可能とするため上部電極
導体ビス９で固定する。その試料支持板６を金属
製の円筒ホルダー２上部にビス７で取り付ける。
下部電極部は絶縁体で作つた下部電極支持板５の
中心に下部電極端子４のビスをネジ込み貫通さ
せ、その反対面に金属を蒸着して下部電極蒸着膜
３を作る。その下部電極支持板５を円筒ホルダー
２の下部にビス７で取り付け、試料先端面と下部
電極蒸着膜３とでコンデンサーを形成したもので
ある。
で作つた試料支持板６を中にはさんで試料１と上
部電極端子８とを導通を可能とするため上部電極
導体ビス９で固定する。その試料支持板６を金属
製の円筒ホルダー２上部にビス７で取り付ける。
下部電極部は絶縁体で作つた下部電極支持板５の
中心に下部電極端子４のビスをネジ込み貫通さ
せ、その反対面に金属を蒸着して下部電極蒸着膜
３を作る。その下部電極支持板５を円筒ホルダー
２の下部にビス７で取り付け、試料先端面と下部
電極蒸着膜３とでコンデンサーを形成したもので
ある。
試料の照射効果を測定するためには、まず照射
前測定を行なう。試料１を第１図のように長さ測
定用照射カプセルに組立てる。次に第２図に示す
ように長さ測定用照射カプセル１０を検出ホルダ
ー１１に入れ、上部電極コネクター１８を検出ホ
ルダー１１に接続する。その状態で液体ヘリウム
２１に浸し試料１と下部電極蒸着膜３との間隙を
電気容量として測定を行なう。次に長さ測定用照
射カプセル１０のみを極低温5Kで中性子照射を
行なう。照射後、液体ヘリウムの中にセツトした
検出ホルダー１１に、照射した長さ測定用照射カ
プセル１０を取り付ける。その後、上部電極コネ
クター１８を検出ホルダー１１に接続し、照射後
の長さ変化の測定を行なう。
前測定を行なう。試料１を第１図のように長さ測
定用照射カプセルに組立てる。次に第２図に示す
ように長さ測定用照射カプセル１０を検出ホルダ
ー１１に入れ、上部電極コネクター１８を検出ホ
ルダー１１に接続する。その状態で液体ヘリウム
２１に浸し試料１と下部電極蒸着膜３との間隙を
電気容量として測定を行なう。次に長さ測定用照
射カプセル１０のみを極低温5Kで中性子照射を
行なう。照射後、液体ヘリウムの中にセツトした
検出ホルダー１１に、照射した長さ測定用照射カ
プセル１０を取り付ける。その後、上部電極コネ
クター１８を検出ホルダー１１に接続し、照射後
の長さ変化の測定を行なう。
このようにすることで、試料の取り付けの状態
を変えることなく、かつ試料とコンデンサーとの
間にバネ等の介在物も使用しないで、低温での中
性子照射前、照射後の長さ変化の測定が行なえ
る。円筒ホルダー２の材質の照射効果は既知のも
のを使用しているので、照射後の測定値より円筒
ホルダー２の照射効果を差引くことにより試料１
のみの照射効果が測定値より算出できる。
を変えることなく、かつ試料とコンデンサーとの
間にバネ等の介在物も使用しないで、低温での中
性子照射前、照射後の長さ変化の測定が行なえ
る。円筒ホルダー２の材質の照射効果は既知のも
のを使用しているので、照射後の測定値より円筒
ホルダー２の照射効果を差引くことにより試料１
のみの照射効果が測定値より算出できる。
円筒ホルダー２の材質を純金属とし、試料１の
材質を円筒ホルダー２の材質の合金として長さ測
定用カプセルを構成すると、照射前に各温度の長
さ変化の測定を行なえば、合金試料の純金属と比
べた物性測定が行なえる。また、そのカプセルを
照射して長さ変化の各温度での測定を行なえば、
合金試料の純金属と比べた照射効果の比較測定が
できる。
材質を円筒ホルダー２の材質の合金として長さ測
定用カプセルを構成すると、照射前に各温度の長
さ変化の測定を行なえば、合金試料の純金属と比
べた物性測定が行なえる。また、そのカプセルを
照射して長さ変化の各温度での測定を行なえば、
合金試料の純金属と比べた照射効果の比較測定が
できる。
この形状で長さ測定用照射カプセルを製作して
測定した結果、0.3〓cm×1.5cmの試料では２×10-7
cmの測定精度で検出できた。
測定した結果、0.3〓cm×1.5cmの試料では２×10-7
cmの測定精度で検出できた。
第１図は本考案における長さ測定用照射カプセ
ルを示す図。第２図は長さ測定用照射カプセルの
使用状態を例示する図。照射した長さ測定用照射
カプセルを液体ヘリウム中で検出ホルダーにセツ
トし、上部コネクターを接続する状態を示す。 １……試料、２……円筒ホルダー、３……下部
電極蒸着膜、４……下部電極端子、５……下部電
極支持板、６……試料支持板、７……ビス、８…
…上部電極端子、９……上部電極導体ビス、１０
……長さ測定用照射カプセル、１１……検出ホル
ダー、１２……絶縁体、１３……下部電極導体バ
ネ、１４……リード線、１５……検出ホルダー支
持具、１６……パイプ、１７……上部電極導体バ
ネ、１８……上部電極コネクター、１９……絶縁
体、２０……リード線、２１……液体ヘリウム。
ルを示す図。第２図は長さ測定用照射カプセルの
使用状態を例示する図。照射した長さ測定用照射
カプセルを液体ヘリウム中で検出ホルダーにセツ
トし、上部コネクターを接続する状態を示す。 １……試料、２……円筒ホルダー、３……下部
電極蒸着膜、４……下部電極端子、５……下部電
極支持板、６……試料支持板、７……ビス、８…
…上部電極端子、９……上部電極導体ビス、１０
……長さ測定用照射カプセル、１１……検出ホル
ダー、１２……絶縁体、１３……下部電極導体バ
ネ、１４……リード線、１５……検出ホルダー支
持具、１６……パイプ、１７……上部電極導体バ
ネ、１８……上部電極コネクター、１９……絶縁
体、２０……リード線、２１……液体ヘリウム。
Claims (1)
- 図面に示すごとく、試料支持体６をはさんで試
料１と上部電極端子８とを上部電極導体ビス９を
介して固定した上部電極部と、下部電極支持板５
をはさんで金属蒸着膜３と下部電極端子４とを取
り付けた下部電極部とを筒状ホルダー２の上下両
端にそれぞれ取り付け、試料１の先端面と金属蒸
着３とでコンデンサーを形成し、両端にそれぞれ
電極端子が突出して成る長さ測定用照射カプセ
ル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981016661U JPS647360Y2 (ja) | 1981-02-10 | 1981-02-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981016661U JPS647360Y2 (ja) | 1981-02-10 | 1981-02-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57130300U JPS57130300U (ja) | 1982-08-13 |
| JPS647360Y2 true JPS647360Y2 (ja) | 1989-02-27 |
Family
ID=29814637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981016661U Expired JPS647360Y2 (ja) | 1981-02-10 | 1981-02-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS647360Y2 (ja) |
-
1981
- 1981-02-10 JP JP1981016661U patent/JPS647360Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57130300U (ja) | 1982-08-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Coney | The theory and application of conductance probes for the measurement of liquid film thickness in two-phase flow | |
| Parsons et al. | The interphase between mercury and aqueous sodium dihydrogen phosphate | |
| Pungor | Oscillometry and Conductometry: International Series of Monographs on Analytical Chemistry | |
| US3523244A (en) | Device for measurement of absolute humidity | |
| Scholz et al. | Identification of solid materials with a new electrochemical technique—the abrasive stripping analysis | |
| US4179349A (en) | Portable probe to measure sensitization of stainless steel | |
| Stro et al. | Determination of fractal dimension by cyclic I-V studies: The Laplace-transform method | |
| US4783250A (en) | Immobilized electrochemical cell devices and methods of manufacture | |
| Robertson | The capacity of polarized platinum electrodes in hydrochloric acid | |
| Rosen et al. | Double Layer Capacitance on Platinum in 1 M H 2 SO 4 from the Reversible Hydrogen Potential to the Oxygen Formation Region | |
| Beattie et al. | The diffusion of sodium ions in analcite as a function of water content | |
| JPS647360Y2 (ja) | ||
| Lindenfeld | Tests and comparisons of carbon and germanium thermometers | |
| US3574681A (en) | Aluminum oxide humidity sensor | |
| DE2442593B2 (de) | Fühler zur Feststellung und/oder Messung von Alkohol und ein Herstellverfahren dazu | |
| Mead et al. | Dependence of conductance on field strength. I. Tetrabutylammonium picrate in diphenyl ether at 50° | |
| Cahan et al. | A New Experimental Technique for the Study of Films Produced at Electrochemical Interfaces | |
| Stover | Aluminum oxide humidity element for radiosonde weather measuring use | |
| Dhuga et al. | Measurement of liquid-solid contact in boiling | |
| Devanathan et al. | Differential capacitance of some solid metal/aqueous-electrolyte interfaces | |
| Sonoike et al. | Temperature Dependence of Surface Voltage of Silver Bromide | |
| Small et al. | Stable gas-dielectric capacitors of 5-and 10-pF values | |
| Bump et al. | Studies on alternating current electrolysis: V. Double layer resistance and electrode area as factors in electrode kinetics | |
| CN222545274U (zh) | 一种高精度热释电系数测试装置 | |
| CN114481267A (zh) | 激光共振电离质谱测试用电沉积制源装置及Sn源制备方法 |