JPS647407B2 - - Google Patents
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- JPS647407B2 JPS647407B2 JP55125252A JP12525280A JPS647407B2 JP S647407 B2 JPS647407 B2 JP S647407B2 JP 55125252 A JP55125252 A JP 55125252A JP 12525280 A JP12525280 A JP 12525280A JP S647407 B2 JPS647407 B2 JP S647407B2
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- Japan
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- light
- reflected
- photodetector
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば記録媒体上に螺旋或いは同心
円状に記録された情報トラツクに対物レンズを経
て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取る
装置において、対物レンズの記録媒体に対する焦
点はずれを検出する焦点検出方法およびかかる方
法を実施する装置に関するものである。
円状に記録された情報トラツクに対物レンズを経
て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取る
装置において、対物レンズの記録媒体に対する焦
点はずれを検出する焦点検出方法およびかかる方
法を実施する装置に関するものである。
上述した情報読み取り装置は従来より既知であ
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
ク間の間隔も非常に狭くなつている。このように
幅もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正
確に読み取るためには、対物レンズをビデオデイ
スク面に対して常に合焦状態となるようにして、
デイスク面上での光スポツトの径を小さくする必
要がある。このためかかる光学的読み取り装置に
おいては、対物レンズのデイスク面に対する焦点
はずれを検出し、この焦点はずれ信号に基いて対
物レンズをその光軸方向に変位させるフオーカツ
シング制御が行なわれている。
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
ク間の間隔も非常に狭くなつている。このように
幅もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正
確に読み取るためには、対物レンズをビデオデイ
スク面に対して常に合焦状態となるようにして、
デイスク面上での光スポツトの径を小さくする必
要がある。このためかかる光学的読み取り装置に
おいては、対物レンズのデイスク面に対する焦点
はずれを検出し、この焦点はずれ信号に基いて対
物レンズをその光軸方向に変位させるフオーカツ
シング制御が行なわれている。
第1図は従来の光学的読み取り装置における焦
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源1から放射された光(紙面内に直線偏光して
いる)はコリメートレンズ2によつて平行光とさ
れ、偏光膜を有する偏光プリズム3、1/4波長板
4および対物レンズ5を経て情報トラツクを含む
デイスク6上に集束される。この光束は凹凸のピ
ツト形状を持つ情報トラツクにより反射され、対
物レンズ5および1/4波長板4を経て偏光プリズ
ム3に入射する。偏光プリズム3に入射する反射
光は、1/4波長板4の作用により紙面に対し垂直
方向に偏光されているから、この光は偏光プリズ
ム3で反射される。この偏光プリズム3で反射さ
れた光束を集光レンズ7および円筒レンズ8によ
り集束させる。ここで円筒レンズ8は一軸方向に
のみ集束作用を持つから、集光レンズ7および円
筒レンズ8による集束ビームの形状は、デイスク
6の位置が上下にずれると、情報トラツクに正し
く集束された状態(合焦位置)を境として直交し
た方向に変形する。従来は、この形状変化を例え
ば四分割した光検出器(図示せず)により検出し
て焦点誤差信号を得、この信号によりフオーカツ
シング制御を行なつている。
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源1から放射された光(紙面内に直線偏光して
いる)はコリメートレンズ2によつて平行光とさ
れ、偏光膜を有する偏光プリズム3、1/4波長板
4および対物レンズ5を経て情報トラツクを含む
デイスク6上に集束される。この光束は凹凸のピ
ツト形状を持つ情報トラツクにより反射され、対
物レンズ5および1/4波長板4を経て偏光プリズ
ム3に入射する。偏光プリズム3に入射する反射
光は、1/4波長板4の作用により紙面に対し垂直
方向に偏光されているから、この光は偏光プリズ
ム3で反射される。この偏光プリズム3で反射さ
れた光束を集光レンズ7および円筒レンズ8によ
り集束させる。ここで円筒レンズ8は一軸方向に
のみ集束作用を持つから、集光レンズ7および円
筒レンズ8による集束ビームの形状は、デイスク
6の位置が上下にずれると、情報トラツクに正し
く集束された状態(合焦位置)を境として直交し
た方向に変形する。従来は、この形状変化を例え
ば四分割した光検出器(図示せず)により検出し
て焦点誤差信号を得、この信号によりフオーカツ
シング制御を行なつている。
しかし、上述した従来の焦点検出方式において
は、偏光プリズム3を反射した後に焦点を結ばせ
るための大きな光路長を必要とするため、光学系
が大形になる欠点がある。また焦点誤差信号を得
る光検出器は、光軸方向とこれと直交する平面内
での方向との二軸方向に正確に配置する必要があ
るため、その位置調整が難しい欠点がある。更
に、集光ビームの形状変化による誤差信号が得ら
れる領域が狭いため、合焦状態から離れ過ぎると
信号が得られない欠点がある。
は、偏光プリズム3を反射した後に焦点を結ばせ
るための大きな光路長を必要とするため、光学系
が大形になる欠点がある。また焦点誤差信号を得
る光検出器は、光軸方向とこれと直交する平面内
での方向との二軸方向に正確に配置する必要があ
るため、その位置調整が難しい欠点がある。更
に、集光ビームの形状変化による誤差信号が得ら
れる領域が狭いため、合焦状態から離れ過ぎると
信号が得られない欠点がある。
本願人は、上述した欠点を除去し、光学系を小
形に構成できると共に、焦点誤差信号を得る光学
検出器の配置が容易で、しかも常に正確に合焦状
態を検出できる焦点検出方法および装置を既に提
案している。
形に構成できると共に、焦点誤差信号を得る光学
検出器の配置が容易で、しかも常に正確に合焦状
態を検出できる焦点検出方法および装置を既に提
案している。
本願人の開発した焦点検出方法は、光源から射
出された光を対物レンズにより被照射物体上に集
束させ、その反射光の少く共一部を、該反射光束
中の一つの光線に対してほぼ臨界角となるように
設定した反射面を有する光学部材に入射させ、こ
の光学部材の反射面で反射された反射光の光量分
布の変化、或いは該反射面で反射された反射光と
屈折された透過光との光量変化を二分割した光検
出器または2個の光検出器で検出することによ
り、前記対物レンズの前記被照射物体に対する焦
点誤差信号を得るようにしたものである。
出された光を対物レンズにより被照射物体上に集
束させ、その反射光の少く共一部を、該反射光束
中の一つの光線に対してほぼ臨界角となるように
設定した反射面を有する光学部材に入射させ、こ
の光学部材の反射面で反射された反射光の光量分
布の変化、或いは該反射面で反射された反射光と
屈折された透過光との光量変化を二分割した光検
出器または2個の光検出器で検出することによ
り、前記対物レンズの前記被照射物体に対する焦
点誤差信号を得るようにしたものである。
第2図は本願人が開発した焦点検出方法を実施
する光学的読み取り装置の一例の要部の構成を示
す線図である。本例に示す光学的読み取り装置
は、デイスク6の反射光を偏光プリズム3で反射
させる迄は第1図に示す光学的読み取り装置と同
じ構成なので、第1図に示す符号と同一符号は同
一光学部材を表わす。本例では偏光プリズム3で
反射した光束を検出プリズム10に入射し、その
反射面11により反射される光束を光検出器12
で受光する。反射面11は、合焦状態での入射光
線(平行光束)に対してほぼ臨界角となるように
設定する。このようにすれば、合焦状態では偏光
プリズム3で反射された全光線は反射面11で全
反射され(実際には反射面の状態が完全ではない
ので図示n方向に幾分の光が透過する)、デイス
ク6が合焦状態からa方向にずれると偏光プリズ
ム3で反射された光束は反射面11に対して最外
側の光線ai1〜ai2で示す傾き成分を持つ光線束と
なる。またデイスク6が合焦状態からb方向にず
れると、反射面11への入射光線は最外側の光線
をbi1〜bi2で示す傾き成分を持つ光線束となる。
すなわち、デイスク6が合焦状態からずれると、
反射面11への入射光線は光軸上の中心光線(一
点鎖線)を除いて臨界角の前後で連続的に変化す
る。したがつて、デイスク6がaおよびb方向に
変位して合焦状態からずれると、反射面11での
反射強度が第3図に示すように臨界角近傍では僅
かな入射角の変化で急激に変化するから、中心光
線を含む紙面に対し垂直な面を境として明暗の状
態がそれぞれ逆になる。これに対し、合焦状態で
は、一様に全反射されるから、このような明暗は
現われない。光検出器12は、このような反射面
11からの反射光の光量分布を検出するもので、
第2図中に平面図をも示すように、中心光線(光
軸)を境に二分割した二つの受光領域12A、12B
をもつて構成する。なお、第3図は検出プリズラ
10の屈折率が1.50で、P偏光およびS偏光にお
けるそれぞれの反射強度RPおよびRSを示したも
のである。なお偏光していない光に対する反射強
度は、これらの中間(RP+RS)/2となる。
する光学的読み取り装置の一例の要部の構成を示
す線図である。本例に示す光学的読み取り装置
は、デイスク6の反射光を偏光プリズム3で反射
させる迄は第1図に示す光学的読み取り装置と同
じ構成なので、第1図に示す符号と同一符号は同
一光学部材を表わす。本例では偏光プリズム3で
反射した光束を検出プリズム10に入射し、その
反射面11により反射される光束を光検出器12
で受光する。反射面11は、合焦状態での入射光
線(平行光束)に対してほぼ臨界角となるように
設定する。このようにすれば、合焦状態では偏光
プリズム3で反射された全光線は反射面11で全
反射され(実際には反射面の状態が完全ではない
ので図示n方向に幾分の光が透過する)、デイス
ク6が合焦状態からa方向にずれると偏光プリズ
ム3で反射された光束は反射面11に対して最外
側の光線ai1〜ai2で示す傾き成分を持つ光線束と
なる。またデイスク6が合焦状態からb方向にず
れると、反射面11への入射光線は最外側の光線
をbi1〜bi2で示す傾き成分を持つ光線束となる。
すなわち、デイスク6が合焦状態からずれると、
反射面11への入射光線は光軸上の中心光線(一
点鎖線)を除いて臨界角の前後で連続的に変化す
る。したがつて、デイスク6がaおよびb方向に
変位して合焦状態からずれると、反射面11での
反射強度が第3図に示すように臨界角近傍では僅
かな入射角の変化で急激に変化するから、中心光
線を含む紙面に対し垂直な面を境として明暗の状
態がそれぞれ逆になる。これに対し、合焦状態で
は、一様に全反射されるから、このような明暗は
現われない。光検出器12は、このような反射面
11からの反射光の光量分布を検出するもので、
第2図中に平面図をも示すように、中心光線(光
軸)を境に二分割した二つの受光領域12A、12B
をもつて構成する。なお、第3図は検出プリズラ
10の屈折率が1.50で、P偏光およびS偏光にお
けるそれぞれの反射強度RPおよびRSを示したも
のである。なお偏光していない光に対する反射強
度は、これらの中間(RP+RS)/2となる。
第2図において、デイスク6がa方向に変位し
たときは、反射面11に入射する光のうち中心光
線より図において下側の光束は、一番外側の入射
光線ai1を筆頭としてすべての入射光線の入射角
は臨界角よりも小さくなる。したがつて、この部
分では透過光が存在し、一番外側の透過光線at1
からn迄を含む光線束が透過する。この透過した
分だけ、一番外側の反射光線ar1から中心光線迄
を含む反射光線束の強度は弱められる。反射面1
1に入射する光のうち、中心光線より図において
上側の光束は、一番外側の入射光線ai2を筆頭と
してすべての入射光線の入射角は臨界角よりも大
きくなる。したがつて、この部分では透過光が存
在せず、入射した全ての光線が、一番外側の反射
光線ar2から中心光線迄を含む光束に含まれて反
射する。したがつて、この場合には、光検出器1
2上での光量分布は、受光領域12Aが暗くなり、
受光領域12Bは明るいまま変化しない。
たときは、反射面11に入射する光のうち中心光
線より図において下側の光束は、一番外側の入射
光線ai1を筆頭としてすべての入射光線の入射角
は臨界角よりも小さくなる。したがつて、この部
分では透過光が存在し、一番外側の透過光線at1
からn迄を含む光線束が透過する。この透過した
分だけ、一番外側の反射光線ar1から中心光線迄
を含む反射光線束の強度は弱められる。反射面1
1に入射する光のうち、中心光線より図において
上側の光束は、一番外側の入射光線ai2を筆頭と
してすべての入射光線の入射角は臨界角よりも大
きくなる。したがつて、この部分では透過光が存
在せず、入射した全ての光線が、一番外側の反射
光線ar2から中心光線迄を含む光束に含まれて反
射する。したがつて、この場合には、光検出器1
2上での光量分布は、受光領域12Aが暗くなり、
受光領域12Bは明るいまま変化しない。
これに対し、デイスク6がb方向に変位したと
きは、反射面11への入射光線の傾きの関係が上
述したa方向の場合と逆になり、したがつて光検
出器12の領域12A、12Bの明暗の関係が逆にな
り、受光領域12Aは明るいまま変化しないが、受
光領域12Bは暗くなる。この場合の反射面11に
おける反射光および透過光をそれぞれ符号br1,
br2およびbt2で示す。
きは、反射面11への入射光線の傾きの関係が上
述したa方向の場合と逆になり、したがつて光検
出器12の領域12A、12Bの明暗の関係が逆にな
り、受光領域12Aは明るいまま変化しないが、受
光領域12Bは暗くなる。この場合の反射面11に
おける反射光および透過光をそれぞれ符号br1,
br2およびbt2で示す。
なお、合焦状態では光検出器12の受光領域
12A、12Bへの入射光量はそれぞれ等しくなる。
12A、12Bへの入射光量はそれぞれ等しくなる。
したがつて、各受光領域12A、12Bの出力差を
差動増幅器33で検出することにより、その量お
よび極性からずれの量および方向を表わす焦点誤
差信号を得ることができ、この信号に基いて対物
レンズ5を光軸方向に移動制御するフオーカツシ
ング制御を行なうことができると共に、受光領域
12A、12Bの出力の和を加算器14で求めること
によりデイスク6に記録されたピツトに対応する
情報信号を検出することができる。しかも合焦状
態では反射面11での透過成分が殆んどないか
ら、光量の損失が極めて少ないと共に、合焦から
外れた場合には、中心光線を境にいずれか一方の
側の光束が全反射され、他方の側の光束の反射強
度が極端に減少するから受光領域12A、12Bにお
ける光量差が著しくなる。したがつて、十分正確
に合焦検出を行なうことができる。
差動増幅器33で検出することにより、その量お
よび極性からずれの量および方向を表わす焦点誤
差信号を得ることができ、この信号に基いて対物
レンズ5を光軸方向に移動制御するフオーカツシ
ング制御を行なうことができると共に、受光領域
12A、12Bの出力の和を加算器14で求めること
によりデイスク6に記録されたピツトに対応する
情報信号を検出することができる。しかも合焦状
態では反射面11での透過成分が殆んどないか
ら、光量の損失が極めて少ないと共に、合焦から
外れた場合には、中心光線を境にいずれか一方の
側の光束が全反射され、他方の側の光束の反射強
度が極端に減少するから受光領域12A、12Bにお
ける光量差が著しくなる。したがつて、十分正確
に合焦検出を行なうことができる。
第2図に示した例では反射面11での反射光を
二分割した受光領域12A、12Bを有する光検出器
12で受光するようにしたが、反射面11で屈折
される透過光を2個の光検出器で受光してその光
量分布の変化を検出したり、反射光と透過光を2
個の光検出器で受光してそれらの光量変化を検出
することによつても焦点誤差信号を得ることがで
きる。
二分割した受光領域12A、12Bを有する光検出器
12で受光するようにしたが、反射面11で屈折
される透過光を2個の光検出器で受光してその光
量分布の変化を検出したり、反射光と透過光を2
個の光検出器で受光してそれらの光量変化を検出
することによつても焦点誤差信号を得ることがで
きる。
このような焦点検出方法は上述したような種々
の利点を有しているが、検出プリズム10をその
反射面11がデイスク6からの反射光束中の所定
の光線、例えば光軸上の中心光線に対してほぼ臨
界角となるように配置する必面があると共に、光
検出器12を中心光線の両側で各別に受光するよ
うに、しかも合焦時に等しい光量を受光できるよ
うに配置する必要があるため、光学的調整が難か
しくなる不具合がある。また二分割した光検出器
または2個の別個の光検出器を用いるため、検出
プリズム10の寸法が大きくなつたり、また複数
個必要となつたりするので、構成が複雑となる不
具合もある。特に寸法の大きな検出プリズムを用
いると情報信号に焦点誤差信号が混入し、情報信
号のS/Nが悪くなる不具合がある。
の利点を有しているが、検出プリズム10をその
反射面11がデイスク6からの反射光束中の所定
の光線、例えば光軸上の中心光線に対してほぼ臨
界角となるように配置する必面があると共に、光
検出器12を中心光線の両側で各別に受光するよ
うに、しかも合焦時に等しい光量を受光できるよ
うに配置する必要があるため、光学的調整が難か
しくなる不具合がある。また二分割した光検出器
または2個の別個の光検出器を用いるため、検出
プリズム10の寸法が大きくなつたり、また複数
個必要となつたりするので、構成が複雑となる不
具合もある。特に寸法の大きな検出プリズムを用
いると情報信号に焦点誤差信号が混入し、情報信
号のS/Nが悪くなる不具合がある。
上記に近い技術として特開昭54−130102号公報
がある。このFiG.7に記録媒体からの反射光束を
2つの光束に分割し、一方の光束中にいわゆるフ
ーコ方式と呼ばれる焦点検出用プリズムを配置
し、他の光束中に情報信号検出用の光検出器を配
置した技術が説明されているが、かかる焦点検出
装置は光路長が長くなる欠点がある。また特公昭
51−20888号公報第1図には、同様な光路構成中
にピンホールを用いた焦点検出部材が配置された
技術が説明されている。しかしかかる焦点検出装
置は検出精度が得られない欠点がある。
がある。このFiG.7に記録媒体からの反射光束を
2つの光束に分割し、一方の光束中にいわゆるフ
ーコ方式と呼ばれる焦点検出用プリズムを配置
し、他の光束中に情報信号検出用の光検出器を配
置した技術が説明されているが、かかる焦点検出
装置は光路長が長くなる欠点がある。また特公昭
51−20888号公報第1図には、同様な光路構成中
にピンホールを用いた焦点検出部材が配置された
技術が説明されている。しかしかかる焦点検出装
置は検出精度が得られない欠点がある。
本発明は上記種々の欠点を除去した焦点検出装
置を提供することを目的とする。
置を提供することを目的とする。
本発明の情報読取装置は光源から射出された光
を対物レンズにより情報記録媒体上に集束させ、
その反射光束を検出することにより焦点誤差信号
と情報信号を得るようにした焦点検出装置におい
て、 前記記録媒体からの反射光束を2つの光束に分
割し、一方の光束中の少なくとも1つの光光線に
対してほぼ臨界角となるように設定した面を有す
るプリズムを配置し、該プリズムから反射光を少
なく共2つの光検出器に導びいて焦点誤差信号を
得ると共に、他の光束中に情報読取用の光検出器
を配置して情報信号を得るようにしたことを特徴
とするものである。
を対物レンズにより情報記録媒体上に集束させ、
その反射光束を検出することにより焦点誤差信号
と情報信号を得るようにした焦点検出装置におい
て、 前記記録媒体からの反射光束を2つの光束に分
割し、一方の光束中の少なくとも1つの光光線に
対してほぼ臨界角となるように設定した面を有す
るプリズムを配置し、該プリズムから反射光を少
なく共2つの光検出器に導びいて焦点誤差信号を
得ると共に、他の光束中に情報読取用の光検出器
を配置して情報信号を得るようにしたことを特徴
とするものである。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第4図は本発明の焦点検出方法を実施する装置
の一例の構成を示す線図である。レーザ光源21
から放射される偏光された光ビーム(P偏光)は
コリメートレンズ22で平行光束となり偏光プリ
ズム23および1/4波長板24を経て対物レンズ
25に入射する。対物レンズ25はこの平行光束
を集束し、スポツト光をデイスク26上に投射す
る。デイスク26からの反射光を対物レンズ25
により集光し、1/4波長板24に通す。したがつ
てこの光ビームはS偏光となり、偏光プリズム2
3で反射される。偏光プリズム23で反射された
光束の一部は検出プリズム27に入射する。検出
プリズム27の反射面27aは入射光線に対して
臨界角よりも小さくなるように設定すると共に、
特に本例では合焦時に該反射面27aで反射され
る反射光量と屈折される透過光量とがほぼ等しく
なるように設定する。第2図に就き上述したよう
に、合焦時には対物レンズ25から平行光束が射
出され、反射面27aに入射する光はこの面で反
射および屈折して透過する。本例では反射面27
aでの反射光を光検出器28で受光する。この合
焦状態からデイスク26がa方向に変位すると反
射面27aに入射する光線の入射角は臨界角に近
づくので光検出器28に入射する光量は明るくな
る。一方、デイスク26がb方向へ変位するとき
は、反射面27aへ入射する光線の入射角は臨界
角よりも更に小さくなり、反射面27aで屈折さ
れて透過する分が増えるので、光検出器28に入
射する光量は暗くなる。したがつて光検出器28
の出力は第5図に示すように変化する。
の一例の構成を示す線図である。レーザ光源21
から放射される偏光された光ビーム(P偏光)は
コリメートレンズ22で平行光束となり偏光プリ
ズム23および1/4波長板24を経て対物レンズ
25に入射する。対物レンズ25はこの平行光束
を集束し、スポツト光をデイスク26上に投射す
る。デイスク26からの反射光を対物レンズ25
により集光し、1/4波長板24に通す。したがつ
てこの光ビームはS偏光となり、偏光プリズム2
3で反射される。偏光プリズム23で反射された
光束の一部は検出プリズム27に入射する。検出
プリズム27の反射面27aは入射光線に対して
臨界角よりも小さくなるように設定すると共に、
特に本例では合焦時に該反射面27aで反射され
る反射光量と屈折される透過光量とがほぼ等しく
なるように設定する。第2図に就き上述したよう
に、合焦時には対物レンズ25から平行光束が射
出され、反射面27aに入射する光はこの面で反
射および屈折して透過する。本例では反射面27
aでの反射光を光検出器28で受光する。この合
焦状態からデイスク26がa方向に変位すると反
射面27aに入射する光線の入射角は臨界角に近
づくので光検出器28に入射する光量は明るくな
る。一方、デイスク26がb方向へ変位するとき
は、反射面27aへ入射する光線の入射角は臨界
角よりも更に小さくなり、反射面27aで屈折さ
れて透過する分が増えるので、光検出器28に入
射する光量は暗くなる。したがつて光検出器28
の出力は第5図に示すように変化する。
第4図に示すように偏光プリズム23で反射さ
れる光束の内、検出プリズム27に入射しない光
束を光検出器30で受光する。この光検出器30
の出力を増幅器31で増幅することにより情報信
号を得ることができる。この光検出器30に入射
する光束は検出プリズム27を透過していないの
で焦点ずれがあつた場合でも光量変化はないので
S/Nの良い情報信号を得ることができる。
れる光束の内、検出プリズム27に入射しない光
束を光検出器30で受光する。この光検出器30
の出力を増幅器31で増幅することにより情報信
号を得ることができる。この光検出器30に入射
する光束は検出プリズム27を透過していないの
で焦点ずれがあつた場合でも光量変化はないので
S/Nの良い情報信号を得ることができる。
一方、光検出器28の出力は低減フイルタ33
を経て高周波成分を除去し、差動増幅器34の一
方の入力端子に供給する。この差動増幅器34の
他方の入力端子には基準電圧源35から基準電圧
Vrを印加する。この基準電圧Vrは、第5図に示
すように合焦時において低減フイルタ33から得
られる出力電圧とほぼ等しい値とするこのように
すれば、差動増幅器34の出力端子から、デイス
ク26の合焦位置からのずれの方向およびその量
を表わす所要の焦点誤差信号を得ることができ
る。すなわち、デイスク26が合焦位置にあると
きには差動増幅器34の出力は「0」であり、デ
イスク26が合焦位置からa方向にずれると、差
動増幅器34の出力はそのずれに応じた正極性の
電位となり、逆にデイスク26がb方向にずれる
と、そのずれに応じた負極性の電位となる。した
がつて、差動増幅器34の出力に基いて、その出
力が「0」となるように対物レンズ25を光軸方
向に移動するフオーカツシング制御を行なえば、
デイスク26に対して対物レンズ25を常に合焦
状態に維持することができる。
を経て高周波成分を除去し、差動増幅器34の一
方の入力端子に供給する。この差動増幅器34の
他方の入力端子には基準電圧源35から基準電圧
Vrを印加する。この基準電圧Vrは、第5図に示
すように合焦時において低減フイルタ33から得
られる出力電圧とほぼ等しい値とするこのように
すれば、差動増幅器34の出力端子から、デイス
ク26の合焦位置からのずれの方向およびその量
を表わす所要の焦点誤差信号を得ることができ
る。すなわち、デイスク26が合焦位置にあると
きには差動増幅器34の出力は「0」であり、デ
イスク26が合焦位置からa方向にずれると、差
動増幅器34の出力はそのずれに応じた正極性の
電位となり、逆にデイスク26がb方向にずれる
と、そのずれに応じた負極性の電位となる。した
がつて、差動増幅器34の出力に基いて、その出
力が「0」となるように対物レンズ25を光軸方
向に移動するフオーカツシング制御を行なえば、
デイスク26に対して対物レンズ25を常に合焦
状態に維持することができる。
第6図は本発明の焦点検出方法を実施する装置
の他の例の構成を示す線図である。本例では偏光
プリズム23から出射されるデイスク26からの
戻り光のほぼ全部を検出プリズム37に入射させ
る。検出プリズム37の反射面37aは、前述し
たと同様に入射光線に対して臨界角よりも小さく
なるように設定するが、本例では該反射面37a
に一部を除いて全反射ミラー38を設け、この全
反射ミラー38で全反射されるデイスク26から
の戻り光を情報信号検出用の光検出器30に入射
させ、全反射ミラー38のない部分の反射面37
aを屈折して透過するデイスク26からの戻り光
を焦点検出用の光検出器39で受光し、これら光
検出器30および39の出力を前述したと同様に
処理して情報信号および焦点誤差信号を得る。な
お、この場合の光検出器39への入射光量は、反
射面37aの透過光を受光するため、デイスク2
6がa方向にずれると小さく、b方向にずれると
大きくなる。したがつて、光検出器39の出力
は、第7図に示すように第5図における場合とは
逆になるから、差動増幅器34から得られる焦点
誤差信号もデイスク26のずれの方向に対して前
述の場合とは極性が逆になる。
の他の例の構成を示す線図である。本例では偏光
プリズム23から出射されるデイスク26からの
戻り光のほぼ全部を検出プリズム37に入射させ
る。検出プリズム37の反射面37aは、前述し
たと同様に入射光線に対して臨界角よりも小さく
なるように設定するが、本例では該反射面37a
に一部を除いて全反射ミラー38を設け、この全
反射ミラー38で全反射されるデイスク26から
の戻り光を情報信号検出用の光検出器30に入射
させ、全反射ミラー38のない部分の反射面37
aを屈折して透過するデイスク26からの戻り光
を焦点検出用の光検出器39で受光し、これら光
検出器30および39の出力を前述したと同様に
処理して情報信号および焦点誤差信号を得る。な
お、この場合の光検出器39への入射光量は、反
射面37aの透過光を受光するため、デイスク2
6がa方向にずれると小さく、b方向にずれると
大きくなる。したがつて、光検出器39の出力
は、第7図に示すように第5図における場合とは
逆になるから、差動増幅器34から得られる焦点
誤差信号もデイスク26のずれの方向に対して前
述の場合とは極性が逆になる。
第8図は焦点検出用の光検出器28または39
の出力を処理して焦点誤差信号を得る焦点誤差検
出回路の他の例の構成を示すものである。光検出
器28の出力を低減フイルタ33を経て微分回路
41、ゲート回路42および差動増幅器34の正
入力端子に供給する。微分回路41は光検出器2
8の出力信号の時間的変化分を検出し、その出力
を検波回路43および平滑回路44を経て平滑し
て差動増幅器45の一方の入力端子に供給する。
この差動増幅器45の他方の入力端子には基準電
圧源46から所定の基準電圧を印加し、それらの
差を検出する。今、第5図に示すような出力が光
検出器28から供給されるものとすれば、デイス
ク26が合焦位置よりa方向で、検出プリズム2
7の反射面27aに対する入射光線が臨界角より
も大きくなるようにずれたときに微分回路41の
出力は零となり、この出力が差動増幅器45の一
方の入力端子に供給される。本例では、このとき
差動増幅器45の出力がほぼ零となるように、基
準電圧源46により他方の入力端子に印加する基
準電圧値をほぼ零に設定する。差動増幅器45の
出力が零のとき、その信号によりゲート回路42
を開放し、低減フイルタ33を経た光検出器28
の出力を差動増幅器47の正入力端子に供給す
る。この差動増幅器47の負入力端子には、基準
値メモリ48に蓄積した光検出器28から得られ
る所定の最大値(第5図においてVnax)を印加
し、これらの差を加算器49の一方の入力端子に
供給する。この加算器49の他方の入力端子に
は、基準閾値メモリ50から前記所定の最大値
Vnaxに対応する合焦閾値電圧(第5図における
Vr)を印加し、これらを加算して閾値メモリ5
1に供給する。この閾値メモリ51は、差動増幅
器45の出力により、該出力がほぼ零のときにす
なわちゲート回路42の開と同期して書込制御さ
れるようにし、書込まれた差動増幅器49の出力
を合焦閾値として差動増幅器34の負入力端子に
供給する。このような構成では低減フイルタ33
すなわち光検出器28の出力は常に所定の基準電
圧Vrと比較されることになるので、例えば光源
21の出力光強度が変動したり、デイスク26の
反射光強度が変動したり、光検出器28の出力信
号がドリフト等の影響で変動したりした場合でも
基準電圧Vrがそれに追従して変動することにな
るので、常に正確に焦点誤差信号を得ることがで
きる。
の出力を処理して焦点誤差信号を得る焦点誤差検
出回路の他の例の構成を示すものである。光検出
器28の出力を低減フイルタ33を経て微分回路
41、ゲート回路42および差動増幅器34の正
入力端子に供給する。微分回路41は光検出器2
8の出力信号の時間的変化分を検出し、その出力
を検波回路43および平滑回路44を経て平滑し
て差動増幅器45の一方の入力端子に供給する。
この差動増幅器45の他方の入力端子には基準電
圧源46から所定の基準電圧を印加し、それらの
差を検出する。今、第5図に示すような出力が光
検出器28から供給されるものとすれば、デイス
ク26が合焦位置よりa方向で、検出プリズム2
7の反射面27aに対する入射光線が臨界角より
も大きくなるようにずれたときに微分回路41の
出力は零となり、この出力が差動増幅器45の一
方の入力端子に供給される。本例では、このとき
差動増幅器45の出力がほぼ零となるように、基
準電圧源46により他方の入力端子に印加する基
準電圧値をほぼ零に設定する。差動増幅器45の
出力が零のとき、その信号によりゲート回路42
を開放し、低減フイルタ33を経た光検出器28
の出力を差動増幅器47の正入力端子に供給す
る。この差動増幅器47の負入力端子には、基準
値メモリ48に蓄積した光検出器28から得られ
る所定の最大値(第5図においてVnax)を印加
し、これらの差を加算器49の一方の入力端子に
供給する。この加算器49の他方の入力端子に
は、基準閾値メモリ50から前記所定の最大値
Vnaxに対応する合焦閾値電圧(第5図における
Vr)を印加し、これらを加算して閾値メモリ5
1に供給する。この閾値メモリ51は、差動増幅
器45の出力により、該出力がほぼ零のときにす
なわちゲート回路42の開と同期して書込制御さ
れるようにし、書込まれた差動増幅器49の出力
を合焦閾値として差動増幅器34の負入力端子に
供給する。このような構成では低減フイルタ33
すなわち光検出器28の出力は常に所定の基準電
圧Vrと比較されることになるので、例えば光源
21の出力光強度が変動したり、デイスク26の
反射光強度が変動したり、光検出器28の出力信
号がドリフト等の影響で変動したりした場合でも
基準電圧Vrがそれに追従して変動することにな
るので、常に正確に焦点誤差信号を得ることがで
きる。
なお、第8図においては設定した最大値と検出
検出した実際の最大値との差を求め、この差を設
定した基準閾値に加算して合焦閾値を補正するよ
うにしたが、検出した最大値を所定の分圧比(例
えば1/2)で分圧して合焦閾値とすることもでき
る。また、合焦閾値の補正は例えば低減フイルタ
33と微分回路41との間にスイツチング回路を
設け、これを例えばデイスク1回転毎に瞬時作動
させて低減フイルタ33の出力を微分回路41に
供給して補正するようにすることもできる。更
に、第8図では差動増幅器45の出力がほぼ零の
ときにゲート回路42を開放すると共に、閾値メ
モリ51の書込みを制御するようにしたが、差動
増幅器45の出力を反転し、高レベルのときに上
記の所要の制御を行なうよう構成することもでき
る。また、合焦閾値の補正値の算出はデジタル的
に求めることもできる。更に第8図に示すような
焦点誤差検出回路は、第6図に示す焦点検出装置
にも同様に適用することができる。
検出した実際の最大値との差を求め、この差を設
定した基準閾値に加算して合焦閾値を補正するよ
うにしたが、検出した最大値を所定の分圧比(例
えば1/2)で分圧して合焦閾値とすることもでき
る。また、合焦閾値の補正は例えば低減フイルタ
33と微分回路41との間にスイツチング回路を
設け、これを例えばデイスク1回転毎に瞬時作動
させて低減フイルタ33の出力を微分回路41に
供給して補正するようにすることもできる。更
に、第8図では差動増幅器45の出力がほぼ零の
ときにゲート回路42を開放すると共に、閾値メ
モリ51の書込みを制御するようにしたが、差動
増幅器45の出力を反転し、高レベルのときに上
記の所要の制御を行なうよう構成することもでき
る。また、合焦閾値の補正値の算出はデジタル的
に求めることもできる。更に第8図に示すような
焦点誤差検出回路は、第6図に示す焦点検出装置
にも同様に適用することができる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく、幾多の変形または変更が可能であ
る。例えば、閾値に範囲をもたせて合焦範囲を設
定することもできる。また、上述した例では検出
プリズム27,37に1つの反射面27a,37
aを形成したが、対向して2個の反射面を形成し
て入射光線を複数回反射させるようにすることも
できる。このようにすれば、検出感度を更に向上
させることができる。また、反射面27a,37
aはプリズムはなく、板状の光学部材により形成
することもできる。更に上述した例では検出プリ
ズム27,37にS偏光を入射させるようにした
が、偏光プリズム23と検出プリズム27,37
との間に90゜回転素子を配置したり、偏光プリズ
ム23に対して光源21と検出プリズム27,3
7の位置関係を逆転し、光源21からS偏光を射
出するようにして、検出プリズム27,37にP
偏光を入射させるようにすることもできる。この
場合には、第3図から明らかなように、P偏光の
方がS偏光に比べ反射強度特性の感度がよいか
ら、焦点誤差をより高感度で検出することができ
る。また、上述した例では光検出器30から情報
信号を得るようにしたが、この光検出器30をデ
イスク26のピツトの深さに応じて適当な受光領
域に分割し、デイスク26から戻り光によつて対
物レンズ25の瞳面にできる像を光検出器30上
に結像させるようにすれば、情報信号と同時に対
物レンズ25の情報トラツクに対する相対的位置
ずれを表わすトラツキング誤差信号をも検出する
ことができる。更に、上述した例では、合焦時に
おいて、偏光プリズム23から出射されるデイス
ク26からの戻り光が平行光束となるようにした
が、合焦時において偏光プリズム23から出射す
るデイスク26からの戻り光は拡散光でも集束光
でも本発明を有効に適用することができる。ま
た、偏光プリズム23の代わりにハーフミラーを
用いることもできる。また、検出プリズム内での
余計な光束の反射によるノイズを防ぐため、その
反射面からの反射光をうける時には検出プリズム
の入射面、反射面および出射面を除いた面を光吸
収体でおおい、また屈折透過する光をうける時に
は検出プリズムの入射面と反射面を除いた面を光
吸収体でおおえばノイズを軽減することができ
る。更に、本発明は上述した光デイスクの再生装
置の他、記録装置或いは光磁気デイスクの記録お
よび再生装置の種々の光学機器の焦点検出に有効
に適用することができる。
のではなく、幾多の変形または変更が可能であ
る。例えば、閾値に範囲をもたせて合焦範囲を設
定することもできる。また、上述した例では検出
プリズム27,37に1つの反射面27a,37
aを形成したが、対向して2個の反射面を形成し
て入射光線を複数回反射させるようにすることも
できる。このようにすれば、検出感度を更に向上
させることができる。また、反射面27a,37
aはプリズムはなく、板状の光学部材により形成
することもできる。更に上述した例では検出プリ
ズム27,37にS偏光を入射させるようにした
が、偏光プリズム23と検出プリズム27,37
との間に90゜回転素子を配置したり、偏光プリズ
ム23に対して光源21と検出プリズム27,3
7の位置関係を逆転し、光源21からS偏光を射
出するようにして、検出プリズム27,37にP
偏光を入射させるようにすることもできる。この
場合には、第3図から明らかなように、P偏光の
方がS偏光に比べ反射強度特性の感度がよいか
ら、焦点誤差をより高感度で検出することができ
る。また、上述した例では光検出器30から情報
信号を得るようにしたが、この光検出器30をデ
イスク26のピツトの深さに応じて適当な受光領
域に分割し、デイスク26から戻り光によつて対
物レンズ25の瞳面にできる像を光検出器30上
に結像させるようにすれば、情報信号と同時に対
物レンズ25の情報トラツクに対する相対的位置
ずれを表わすトラツキング誤差信号をも検出する
ことができる。更に、上述した例では、合焦時に
おいて、偏光プリズム23から出射されるデイス
ク26からの戻り光が平行光束となるようにした
が、合焦時において偏光プリズム23から出射す
るデイスク26からの戻り光は拡散光でも集束光
でも本発明を有効に適用することができる。ま
た、偏光プリズム23の代わりにハーフミラーを
用いることもできる。また、検出プリズム内での
余計な光束の反射によるノイズを防ぐため、その
反射面からの反射光をうける時には検出プリズム
の入射面、反射面および出射面を除いた面を光吸
収体でおおい、また屈折透過する光をうける時に
は検出プリズムの入射面と反射面を除いた面を光
吸収体でおおえばノイズを軽減することができ
る。更に、本発明は上述した光デイスクの再生装
置の他、記録装置或いは光磁気デイスクの記録お
よび再生装置の種々の光学機器の焦点検出に有効
に適用することができる。
以上詳細に説明したように本発明においては、
被照射物体からの戻り光を受ける光学部材の反射
面を入射光線に対して臨界角よりも小さくなるよ
うに設定すればよいから、光学部材の製作および
全体の光学的調整も容易となり、本発明の目的を
有効に達成することができる。
被照射物体からの戻り光を受ける光学部材の反射
面を入射光線に対して臨界角よりも小さくなるよ
うに設定すればよいから、光学部材の製作および
全体の光学的調整も容易となり、本発明の目的を
有効に達成することができる。
第1図は従来の焦点検出方式を適用する光学的
読み取り装置の構成を示す線図、第2図は本願人
が開発した焦点検出方法を実施する光学的読み取
り装置の要部の一例の構成を示す線図、第3図は
臨界角近傍での反射強度の一例を示す線図、第4
図は本発明による焦点検出方法を実施する光学的
読み取り装置の一例の要部の構成を示す線図、第
5図は同じくその動作を説明するための信号波形
図、第6図は本発明による焦点検出方法を実施す
る光学的読み取り装置の他の例の要部の構成を示
す線図、第7図は同じくその動作を説明するため
の信号波形図、第8図は焦点誤差検出回路の他の
例を示す回路図である。 21……レーザ光源、22……コリメートレン
ズ、23……偏光プリズム、24……1/4波長板、
25……対物レンズ、26……デイスク、27,
37……検出プリズム、27a,37a……反射
面、28,30,39……光検出器、33……低
減フイルタ、34……差動増幅器、35……基準
電圧源、38……全反射ミラー。
読み取り装置の構成を示す線図、第2図は本願人
が開発した焦点検出方法を実施する光学的読み取
り装置の要部の一例の構成を示す線図、第3図は
臨界角近傍での反射強度の一例を示す線図、第4
図は本発明による焦点検出方法を実施する光学的
読み取り装置の一例の要部の構成を示す線図、第
5図は同じくその動作を説明するための信号波形
図、第6図は本発明による焦点検出方法を実施す
る光学的読み取り装置の他の例の要部の構成を示
す線図、第7図は同じくその動作を説明するため
の信号波形図、第8図は焦点誤差検出回路の他の
例を示す回路図である。 21……レーザ光源、22……コリメートレン
ズ、23……偏光プリズム、24……1/4波長板、
25……対物レンズ、26……デイスク、27,
37……検出プリズム、27a,37a……反射
面、28,30,39……光検出器、33……低
減フイルタ、34……差動増幅器、35……基準
電圧源、38……全反射ミラー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光源から射出された光を対物レンズにより情
報記録媒体上に集束させ、その反射光束を検出す
ることにより焦点誤差信号と情報信号を得るよう
にした情報読取装置において、 前記記録媒体からの反射光束を2つの光束に分
割し、一方の光束中に該光束中の少なくとも1つ
の光線に対してほぼ臨界角となるように設定した
面を有するプリズムを配置し、該プリズムからの
反射光を少なく共2つの光検出器に導びいて焦点
誤差信号を得ると共に他の光束中に情報読取用の
光検出器を配置して情報信号を得るようにしたこ
とを特徴とする情報読取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55125252A JPS5749908A (en) | 1980-09-11 | 1980-09-11 | Method and device for detecting focus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55125252A JPS5749908A (en) | 1980-09-11 | 1980-09-11 | Method and device for detecting focus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5749908A JPS5749908A (en) | 1982-03-24 |
| JPS647407B2 true JPS647407B2 (ja) | 1989-02-08 |
Family
ID=14905509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55125252A Granted JPS5749908A (en) | 1980-09-11 | 1980-09-11 | Method and device for detecting focus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5749908A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3272263B2 (ja) | 1997-04-18 | 2002-04-08 | タイコエレクトロニクスアンプ株式会社 | 端子振れ防止機構を備えたコネクタ |
| JP5644919B1 (ja) | 2013-08-26 | 2014-12-24 | 第一精工株式会社 | コネクタ端子およびその製造方法 |
-
1980
- 1980-09-11 JP JP55125252A patent/JPS5749908A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5749908A (en) | 1982-03-24 |
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