JPS647509Y2 - - Google Patents
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- JPS647509Y2 JPS647509Y2 JP19898684U JP19898684U JPS647509Y2 JP S647509 Y2 JPS647509 Y2 JP S647509Y2 JP 19898684 U JP19898684 U JP 19898684U JP 19898684 U JP19898684 U JP 19898684U JP S647509 Y2 JPS647509 Y2 JP S647509Y2
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
磁気デイスク装置を出荷前に試験する際に、被
試験装置である磁気デイスク装置をキヤリヤに載
せて、試験機まで移送し、試験機と電気的に接続
して自動的に試験することが行なわれている。本
考案は、このように磁気デイスク装置を移送する
キヤリヤに関する。
試験装置である磁気デイスク装置をキヤリヤに載
せて、試験機まで移送し、試験機と電気的に接続
して自動的に試験することが行なわれている。本
考案は、このように磁気デイスク装置を移送する
キヤリヤに関する。
第5図は従来の磁気デイスク装置の試験装置を
示す図で、1は被試験磁気デイスク装置、2は試
験機である。磁気デイスク装置1には同装置1自
身のプリント基板に、該磁気デイスク装置を稼働
させる際にコネクタ接続するためのカードエツジ
3を備えている。試験機2には、リボンケーブル
4を介してカードエツジコネクタ5が接続されて
いる。磁気デイスク装置1の試験に当たつては、
図示のように試験機2からリボンケーブル4を延
ばして、カードエツジコネクタ5を磁気デイスク
装置1のカードエツジ3に結合して、相互に電気
的に接続される。
示す図で、1は被試験磁気デイスク装置、2は試
験機である。磁気デイスク装置1には同装置1自
身のプリント基板に、該磁気デイスク装置を稼働
させる際にコネクタ接続するためのカードエツジ
3を備えている。試験機2には、リボンケーブル
4を介してカードエツジコネクタ5が接続されて
いる。磁気デイスク装置1の試験に当たつては、
図示のように試験機2からリボンケーブル4を延
ばして、カードエツジコネクタ5を磁気デイスク
装置1のカードエツジ3に結合して、相互に電気
的に接続される。
ところがこのようにリボンケーブル4の先端の
カードエツジコネクタ5を磁気デイスク装置のカ
ードエツジと結合するには、いちいち人手で行な
わなければならず、作業性が悪い。特に検査や試
験の項目が増えると、検査や試験の内容に応じて
別の試験機に接続し直さなければならないが、そ
のときのコネクタ着脱は総て人手で行うので、能
率の低下を招いている。
カードエツジコネクタ5を磁気デイスク装置のカ
ードエツジと結合するには、いちいち人手で行な
わなければならず、作業性が悪い。特に検査や試
験の項目が増えると、検査や試験の内容に応じて
別の試験機に接続し直さなければならないが、そ
のときのコネクタ着脱は総て人手で行うので、能
率の低下を招いている。
そこで本考案の出願人は、特願昭59−53916号
として、磁気デイスク装置を自動的に目的の試験
機まで移送し、試験機と自動的にコネクタ結合さ
れる試験用キヤリヤを提案した。第6図は同試験
用キヤリヤの実施例を示す側面図、第7図は平面
図である。1は被試験磁気デイスク装置で金属板
などから成るキヤリヤ6に載置され、ローラ7…
上に移送される。キヤリヤ6の先端には、カード
エツジプリント基板8が固設され、該プリント基
板8の先端には、試験機2のカードエツジコネク
タ5に挿入されるコネクタ用のカードエツジ9が
形成されている。
として、磁気デイスク装置を自動的に目的の試験
機まで移送し、試験機と自動的にコネクタ結合さ
れる試験用キヤリヤを提案した。第6図は同試験
用キヤリヤの実施例を示す側面図、第7図は平面
図である。1は被試験磁気デイスク装置で金属板
などから成るキヤリヤ6に載置され、ローラ7…
上に移送される。キヤリヤ6の先端には、カード
エツジプリント基板8が固設され、該プリント基
板8の先端には、試験機2のカードエツジコネク
タ5に挿入されるコネクタ用のカードエツジ9が
形成されている。
磁気デイスク装置1は、このカードエツジ9を
介して試験機2と接続される。そのため、プリン
ト基板8には、ピンコネクタ10が固設され、磁
気デイスク装置1に接続されたリボンケーブル1
1が該ピンコネクタ10を介してプリント基板8
のカードエツジ9の各パターンと接続される。
介して試験機2と接続される。そのため、プリン
ト基板8には、ピンコネクタ10が固設され、磁
気デイスク装置1に接続されたリボンケーブル1
1が該ピンコネクタ10を介してプリント基板8
のカードエツジ9の各パターンと接続される。
12は鉄板などから成る支持台であり、脚13
…で床等のベース14に取り付けられている。そ
して支持台12には、多数のローラ7…が水平に
取り付けられている。
…で床等のベース14に取り付けられている。そ
して支持台12には、多数のローラ7…が水平に
取り付けられている。
図示のように、磁気デイスク装置1は、ローラ
7…上を矢印a1,a2方向に移送される。また磁気
デイスク装置1を移送する際の左右方向のガイド
のために、磁気デイスク装置1の左右両側に、軸
心が垂直のガイドローラ15…16が配設されて
いる。ガイドローラ15…と16…との間隔は、
試験機2寄りは、キヤリヤ6の幅Wよりわずかに
狭いが、キヤリヤ6の導入口17側は、キヤリヤ
6が容易にガイドローラ16…と16…間に導入
されるように、キヤリヤ6の幅Wより充分広くな
つている。
7…上を矢印a1,a2方向に移送される。また磁気
デイスク装置1を移送する際の左右方向のガイド
のために、磁気デイスク装置1の左右両側に、軸
心が垂直のガイドローラ15…16が配設されて
いる。ガイドローラ15…と16…との間隔は、
試験機2寄りは、キヤリヤ6の幅Wよりわずかに
狭いが、キヤリヤ6の導入口17側は、キヤリヤ
6が容易にガイドローラ16…と16…間に導入
されるように、キヤリヤ6の幅Wより充分広くな
つている。
いまこの装置において、磁気デイスク装置1の
試験を行うには、まず前工程において、キヤリヤ
6に磁気デイスク装置1を載置すると共に、プリ
ント基板8と磁気デイスク装置1間を、ピンコネ
クタ10およびリボンケーブル11を介して接続
する。この接続は人手で行われる。次に磁気デイ
スク装置1が搭載されたキヤリヤ6を、チエーン
などの移送手段で、導入口17まで移送し、ガイ
ドローラ15…と16…間に送入する。すると、
キヤリヤ6は支持台12上の水平の移送ローラ7
…上に移され、該移送ローラ7…上を、試験機2
のカードエツジコネクタ5に向けて移送される。
こうしてキヤリヤ6は、カードエツジコネクタ5
に接近するにつれて、左右がガイドローラ15…
とコイルバネSで押圧されているガイドローラ1
6…でガイドされ、カードエツジ9がカードエツ
ジコネクタ5とほぼ対向するように位置決めさ
れ、コネクタ結合される。
試験を行うには、まず前工程において、キヤリヤ
6に磁気デイスク装置1を載置すると共に、プリ
ント基板8と磁気デイスク装置1間を、ピンコネ
クタ10およびリボンケーブル11を介して接続
する。この接続は人手で行われる。次に磁気デイ
スク装置1が搭載されたキヤリヤ6を、チエーン
などの移送手段で、導入口17まで移送し、ガイ
ドローラ15…と16…間に送入する。すると、
キヤリヤ6は支持台12上の水平の移送ローラ7
…上に移され、該移送ローラ7…上を、試験機2
のカードエツジコネクタ5に向けて移送される。
こうしてキヤリヤ6は、カードエツジコネクタ5
に接近するにつれて、左右がガイドローラ15…
とコイルバネSで押圧されているガイドローラ1
6…でガイドされ、カードエツジ9がカードエツ
ジコネクタ5とほぼ対向するように位置決めさ
れ、コネクタ結合される。
こうしてコネクタ結合した状態で、試験機2に
より試験や検査を行う。試験が検査が終了する
と、キヤリヤ6を矢印a2方向に引つ張つて、キヤ
リヤ6のカードエツジ9をカードエツジコネクタ
5から抜き取る。そして磁気デイスク装置1を搭
載したままキヤリヤ6は他の試験機に移送され、
若び前記と同様な手法で自動的にコネクタ結合が
行なわれる。したがつて試験や検査の内容が異な
る度に、磁気デイスク装置1を搭載したキヤリヤ
6を自動的に、目的の試験機まで移送し、カード
エツジをカードエツジコネクタに結合すること
で、多くの試験や検査を順次自動的に遂行するこ
とができる。
より試験や検査を行う。試験が検査が終了する
と、キヤリヤ6を矢印a2方向に引つ張つて、キヤ
リヤ6のカードエツジ9をカードエツジコネクタ
5から抜き取る。そして磁気デイスク装置1を搭
載したままキヤリヤ6は他の試験機に移送され、
若び前記と同様な手法で自動的にコネクタ結合が
行なわれる。したがつて試験や検査の内容が異な
る度に、磁気デイスク装置1を搭載したキヤリヤ
6を自動的に、目的の試験機まで移送し、カード
エツジをカードエツジコネクタに結合すること
で、多くの試験や検査を順次自動的に遂行するこ
とができる。
ところがこのような構成では、キヤリヤ6が移
動する際の振動で磁気ヘツドが磁気デイスク媒体
に衝突して磁気ヘツドや磁気デイスク媒体を損傷
する恐れがある。またキヤリヤ6を使用しない場
合は、磁気デイスク装置1が搭載されない状態で
保管するが、その際リボンケーブル11を付けた
ままキヤリヤ6同士を多数重ねると、リボンケー
ブル11が損傷し断線しかねない。したがつてリ
ボンケーブル11をいちいちピンコネクタ10か
ら外して保管しなければならない。すると次に磁
気デイスク装置1を搭載して試験を行う場合は、
再度リボンケーブル11をピンコネクタ10に接
続しなおす必要がある。リボンケーブル11とし
て数本使用するため、リボンケーブル11を識別
して接続する作業が面倒である。
動する際の振動で磁気ヘツドが磁気デイスク媒体
に衝突して磁気ヘツドや磁気デイスク媒体を損傷
する恐れがある。またキヤリヤ6を使用しない場
合は、磁気デイスク装置1が搭載されない状態で
保管するが、その際リボンケーブル11を付けた
ままキヤリヤ6同士を多数重ねると、リボンケー
ブル11が損傷し断線しかねない。したがつてリ
ボンケーブル11をいちいちピンコネクタ10か
ら外して保管しなければならない。すると次に磁
気デイスク装置1を搭載して試験を行う場合は、
再度リボンケーブル11をピンコネクタ10に接
続しなおす必要がある。リボンケーブル11とし
て数本使用するため、リボンケーブル11を識別
して接続する作業が面倒である。
本考案の技術的課題は、従来の磁気デイスク装
置の試験用キヤリヤにおけるこのような問題を解
決し、試験される磁気デイスク装置に振動を与え
ることなしに、しかもリボンケーブルをいちいち
取り外さないでも、損傷することになしに、重ね
て保管可能とすることにある。
置の試験用キヤリヤにおけるこのような問題を解
決し、試験される磁気デイスク装置に振動を与え
ることなしに、しかもリボンケーブルをいちいち
取り外さないでも、損傷することになしに、重ね
て保管可能とすることにある。
この問題点を解決するために講じた本考案によ
る技術的手段は、試験される磁気デイスク装置と
試験機をコネクタに接続して試験を行う装置にお
いて、被試験磁気デイスク装置を搭載して移送す
るキヤリヤを箱状に形成し、該箱状キヤリヤに複
数個の防振ゴムを取付け、それぞれの頂端を所定
の高さとすると共に、該箱状キヤリヤを重ねたと
き上の箱状キヤリヤが防振ゴムに当接しない高さ
に、箱状キヤリヤと一体の受け部を設け、かつ箱
状キヤリヤの底部先端に、試験機側と結合される
コネクタ手段を固設し、該コネクタ手段に接続さ
れたリボンケーブルを、箱状キヤリヤの内部に収
納可能とした構成を採つている。
る技術的手段は、試験される磁気デイスク装置と
試験機をコネクタに接続して試験を行う装置にお
いて、被試験磁気デイスク装置を搭載して移送す
るキヤリヤを箱状に形成し、該箱状キヤリヤに複
数個の防振ゴムを取付け、それぞれの頂端を所定
の高さとすると共に、該箱状キヤリヤを重ねたと
き上の箱状キヤリヤが防振ゴムに当接しない高さ
に、箱状キヤリヤと一体の受け部を設け、かつ箱
状キヤリヤの底部先端に、試験機側と結合される
コネクタ手段を固設し、該コネクタ手段に接続さ
れたリボンケーブルを、箱状キヤリヤの内部に収
納可能とした構成を採つている。
〔作用〕
この技術的手段によれば、箱状キヤリヤの防振
ゴムの上に、試験される磁気デイスク装置が載置
されるので、キヤリヤが移動する際の振動が磁気
デイスク装置に伝わらず、磁気ヘツドが磁気デイ
スク媒体と衝突して損傷するようなことはない。
またキヤリヤとして使用しない場合は、箱状キヤ
リヤと一体の受け部の上に別の箱状キヤリヤを載
せることで、複数の箱状キヤリヤを重ねて保管さ
れる。このとき、上段の箱状キヤリヤを受ける受
け部が、箱状キヤリヤの底より充分高く、上段の
箱状キヤリヤの底と、下段の箱状キヤリヤの底と
の間に空間ができ、この空間に、コネクタに接続
されたままのリボンケーブルが収納される。した
がつてリボンケーブルは、保管時に底部先端のコ
ネクタから取り外す必要はない。
ゴムの上に、試験される磁気デイスク装置が載置
されるので、キヤリヤが移動する際の振動が磁気
デイスク装置に伝わらず、磁気ヘツドが磁気デイ
スク媒体と衝突して損傷するようなことはない。
またキヤリヤとして使用しない場合は、箱状キヤ
リヤと一体の受け部の上に別の箱状キヤリヤを載
せることで、複数の箱状キヤリヤを重ねて保管さ
れる。このとき、上段の箱状キヤリヤを受ける受
け部が、箱状キヤリヤの底より充分高く、上段の
箱状キヤリヤの底と、下段の箱状キヤリヤの底と
の間に空間ができ、この空間に、コネクタに接続
されたままのリボンケーブルが収納される。した
がつてリボンケーブルは、保管時に底部先端のコ
ネクタから取り外す必要はない。
次に本考案による磁気デイスク装置試験用キヤ
リヤが実際上どのように具体化されるかを実施例
で説明する。第図1〜第3図は磁気デイスク装置
試験用キヤリヤの実施例を示すもので、第1図は
平面図、第2図は正面図、第3図は右側面図、第
4図は斜視図である。18はキヤリヤ本体であ
り、ステンレス鋼などの板金を折り曲げ加工し
て、底板19と左右の側壁20a,20bを有す
る箱状に形成されている。この側壁20a,20
bが第7図のローラ15,16で挟まれ、ガイド
される。底板19の先端には、第6図と同様のカ
ードエツジコネクタ9a,9bを有するプリント
基板10a,10bが上下2段固設されている。
そしてそれぞれのプリント基板10a,10b
に、リボンケーブル11a,11bが接続された
コネクタ12a,12bが結合されている。リボ
ンケーブル11a,11bの他端には、コネクタ
13a,13bが結合されており、被試験磁気デ
イスク装置1に接続される。
リヤが実際上どのように具体化されるかを実施例
で説明する。第図1〜第3図は磁気デイスク装置
試験用キヤリヤの実施例を示すもので、第1図は
平面図、第2図は正面図、第3図は右側面図、第
4図は斜視図である。18はキヤリヤ本体であ
り、ステンレス鋼などの板金を折り曲げ加工し
て、底板19と左右の側壁20a,20bを有す
る箱状に形成されている。この側壁20a,20
bが第7図のローラ15,16で挟まれ、ガイド
される。底板19の先端には、第6図と同様のカ
ードエツジコネクタ9a,9bを有するプリント
基板10a,10bが上下2段固設されている。
そしてそれぞれのプリント基板10a,10b
に、リボンケーブル11a,11bが接続された
コネクタ12a,12bが結合されている。リボ
ンケーブル11a,11bの他端には、コネクタ
13a,13bが結合されており、被試験磁気デ
イスク装置1に接続される。
キヤリヤ本体18の両側壁20a,20bの頂
端には、第1図のようにコ字状に打ち抜かれた棚
板22がネジ21…で固設され、該棚板22の左
右両側に側壁23,24が折り曲げ形成されてい
る。この側壁23,24には窓穴25,26が形
成され、その上部にゴム等の弾性体からなるU字
状体27,28が嵌合され、取つ手29,30が
形成されている。すなわち窓穴25,26に手を
挿入し、取つ手29,30を握ることで、キヤリ
ヤを持ち上げ可能となつている。
端には、第1図のようにコ字状に打ち抜かれた棚
板22がネジ21…で固設され、該棚板22の左
右両側に側壁23,24が折り曲げ形成されてい
る。この側壁23,24には窓穴25,26が形
成され、その上部にゴム等の弾性体からなるU字
状体27,28が嵌合され、取つ手29,30が
形成されている。すなわち窓穴25,26に手を
挿入し、取つ手29,30を握ることで、キヤリ
ヤを持ち上げ可能となつている。
棚板22には、側壁23,24の一部を内側に
水平に折り曲げてなる受け板31a…31dが形
成されている。この受け板31a…31dは、キ
ヤリヤとして使用しない場合に、第3図に鎖線で
示されているように、他のキヤリヤを載置するた
めのもので、こうして複数のキヤリヤを重ねて保
管される。
水平に折り曲げてなる受け板31a…31dが形
成されている。この受け板31a…31dは、キ
ヤリヤとして使用しない場合に、第3図に鎖線で
示されているように、他のキヤリヤを載置するた
めのもので、こうして複数のキヤリヤを重ねて保
管される。
棚板22には、前記受け板31a…31dの付
近に、受け板31a…31dより幾分高いポスト
(柱)32a…32dが固設され、底板19には、
該ポスト32a…32dの真下の位置に、該ポス
ト32a…32dが嵌入できる穴33a(…33
d)が開けられている。そのため、キヤリヤを複
数個重ねたとき、ポスト32a…32dが上側の
キヤリヤの底の穴33a(…33d)に嵌入し、
位置ずれが防止される。
近に、受け板31a…31dより幾分高いポスト
(柱)32a…32dが固設され、底板19には、
該ポスト32a…32dの真下の位置に、該ポス
ト32a…32dが嵌入できる穴33a(…33
d)が開けられている。そのため、キヤリヤを複
数個重ねたとき、ポスト32a…32dが上側の
キヤリヤの底の穴33a(…33d)に嵌入し、
位置ずれが防止される。
棚板22上には、防振ゴム34a,34bが固
設されている。また底板19には、防振ゴム34
cが固設されている。この防振ゴム34cは、棚
板22上の防振ゴム34a,34bと同じ高さと
なるように、脚35を介して取付けられている。
これらの防振ゴム34a,34b,34cは、キ
ヤリヤを重ねたとき、上のキヤリヤの底板19が
当接しないように、受け板31a…31dと同じ
高さか、幾分低めになつている。第6図、第7図
のように磁気デイスク装置1を載置して移送する
場合は、この防振ゴム34a,34b,34c上
に磁気デイスク装置1が載置される。第1図〜第
3図では、磁気デイスク装置1は鎖線で示されて
いる。第1図のように、磁気デイスク装置1のベ
ース部は、4隅を切り欠いた形状になつており、
この切り欠き部に、ポスト32a…32dが位置
し、磁気デイスク装置1のキヤリヤに対する位置
決めが行なわれる。なお防振ゴム34a,34
b,34cの配置は、磁気デイスク装置1の形状
や機種などに応じて決定される。すなわち防振ゴ
ムも4個所以上に設けてもよい。
設されている。また底板19には、防振ゴム34
cが固設されている。この防振ゴム34cは、棚
板22上の防振ゴム34a,34bと同じ高さと
なるように、脚35を介して取付けられている。
これらの防振ゴム34a,34b,34cは、キ
ヤリヤを重ねたとき、上のキヤリヤの底板19が
当接しないように、受け板31a…31dと同じ
高さか、幾分低めになつている。第6図、第7図
のように磁気デイスク装置1を載置して移送する
場合は、この防振ゴム34a,34b,34c上
に磁気デイスク装置1が載置される。第1図〜第
3図では、磁気デイスク装置1は鎖線で示されて
いる。第1図のように、磁気デイスク装置1のベ
ース部は、4隅を切り欠いた形状になつており、
この切り欠き部に、ポスト32a…32dが位置
し、磁気デイスク装置1のキヤリヤに対する位置
決めが行なわれる。なお防振ゴム34a,34
b,34cの配置は、磁気デイスク装置1の形状
や機種などに応じて決定される。すなわち防振ゴ
ムも4個所以上に設けてもよい。
磁気デイスク装置1の試験や検査を行うとき
は、防振ゴム34a,34b,34c上に磁気デ
イスク装置1を載置し、該磁気デイスク装置1に
リボンケーブル11の他端のコネクタ13a,1
3bを結合する。そして第6図、第7図で説明し
たような要領で、搬送して試験機2のコネクタ5
に、コネクタ9a,9bが結合され、自動的に試
験が行なわれる。
は、防振ゴム34a,34b,34c上に磁気デ
イスク装置1を載置し、該磁気デイスク装置1に
リボンケーブル11の他端のコネクタ13a,1
3bを結合する。そして第6図、第7図で説明し
たような要領で、搬送して試験機2のコネクタ5
に、コネクタ9a,9bが結合され、自動的に試
験が行なわれる。
試験が行なわれない場合は、磁気デイスク装置
1が載置されていない状態のキヤリヤを、前記の
ように複数個重ねて保管される。このときリボン
ケーブル11a,11bは、コネクタ9a,9b
と接続したまま、第4図のようにキヤリヤの底板
19と棚板22間の空間に収納保管される。
1が載置されていない状態のキヤリヤを、前記の
ように複数個重ねて保管される。このときリボン
ケーブル11a,11bは、コネクタ9a,9b
と接続したまま、第4図のようにキヤリヤの底板
19と棚板22間の空間に収納保管される。
以上のように本考案によれば、防振ゴム上に磁
気デイスク装置を載置できるので、移送時の振動
で磁気ヘツドが磁気デイスク媒体と衝突して損傷
する恐れがない。また防振ゴムの高さを、棚板と
底板間にリボンケーブルを収納できる空間を形成
可能なように高くしているため、キヤリヤを使用
しない場合は、リボンケーブルをコネクタ9a,
9bから外さない状態で、キヤリヤ中に内蔵して
保管でき、リボンケーブルの着脱の手間が省け
る。実際には、第1図のように4個のコネクタ1
2a…12bにリボンケーブル11a…11bが
接続されるため、リボンケーブルをコネクタ9
a,9bに接続したまま保管可能とすることによ
り、リボンケーブルの再結合作業がいらず、能率
的であるほか、リボンケーブルの結合作業時の識
別などの面倒も解消される。
気デイスク装置を載置できるので、移送時の振動
で磁気ヘツドが磁気デイスク媒体と衝突して損傷
する恐れがない。また防振ゴムの高さを、棚板と
底板間にリボンケーブルを収納できる空間を形成
可能なように高くしているため、キヤリヤを使用
しない場合は、リボンケーブルをコネクタ9a,
9bから外さない状態で、キヤリヤ中に内蔵して
保管でき、リボンケーブルの着脱の手間が省け
る。実際には、第1図のように4個のコネクタ1
2a…12bにリボンケーブル11a…11bが
接続されるため、リボンケーブルをコネクタ9
a,9bに接続したまま保管可能とすることによ
り、リボンケーブルの再結合作業がいらず、能率
的であるほか、リボンケーブルの結合作業時の識
別などの面倒も解消される。
第1図〜第4図は本考案による磁気デイスク装
置試験用キヤリヤの実施例を示すもので、第1図
は平面図、第2図は正面図、第3図は右側面図、
第4図は斜視図である。第5図は従来の磁気デイ
スク装置の試験状態を示す図、第6図は本考案の
出願人が先に提案した磁気デイスク装置試験用キ
ヤリヤの側面図、第7図は同装置の平面図であ
る。 図において、1は被試験磁気デイスク装置、2
は試験装置、9,9a,9bはコネクタ、10
a,10bはプリント基板、11a,11bリボ
ンケーブル、12a,12bはコネクタ、13
a,13bはコネクタ、19は底板、22は棚
板、31a…31dは受け板、32a…32dは
ポスト、33a…33dは穴、34a,34b,
34cは防振ゴムをそれぞれ示す。
置試験用キヤリヤの実施例を示すもので、第1図
は平面図、第2図は正面図、第3図は右側面図、
第4図は斜視図である。第5図は従来の磁気デイ
スク装置の試験状態を示す図、第6図は本考案の
出願人が先に提案した磁気デイスク装置試験用キ
ヤリヤの側面図、第7図は同装置の平面図であ
る。 図において、1は被試験磁気デイスク装置、2
は試験装置、9,9a,9bはコネクタ、10
a,10bはプリント基板、11a,11bリボ
ンケーブル、12a,12bはコネクタ、13
a,13bはコネクタ、19は底板、22は棚
板、31a…31dは受け板、32a…32dは
ポスト、33a…33dは穴、34a,34b,
34cは防振ゴムをそれぞれ示す。
Claims (1)
- 試験される磁気デイスク装置と試験機をコネク
タで接続して試験を行う装置において、被試験磁
気デイスク装置を搭載して移送するキヤリヤを箱
状に形成し、該箱状キヤリヤに複数個の防振ゴム
を取付け、それぞれの頂端を所定の高さとすると
共に、該箱状キヤリヤを重ねたとき上の箱状キヤ
リヤが防振ゴムに当接しない高さに、箱状キヤリ
ヤと一体の受け部を設け、かつ箱状キヤリヤの底
部先端に、試験機側と結合されるコネクタ手段を
固設し、該コネクタ手段に接続されたリボンケー
ブルを、箱状キヤリヤの内部に収納可能としたこ
とを特徴とする磁気デイスク装置試験用キヤリ
ヤ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19898684U JPS647509Y2 (ja) | 1984-12-31 | 1984-12-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19898684U JPS647509Y2 (ja) | 1984-12-31 | 1984-12-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61118191U JPS61118191U (ja) | 1986-07-25 |
| JPS647509Y2 true JPS647509Y2 (ja) | 1989-02-28 |
Family
ID=30758486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19898684U Expired JPS647509Y2 (ja) | 1984-12-31 | 1984-12-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS647509Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-12-31 JP JP19898684U patent/JPS647509Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61118191U (ja) | 1986-07-25 |
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