KR100299524B1 - 메모리소자의 래치회로 - Google Patents

메모리소자의 래치회로 Download PDF

Info

Publication number
KR100299524B1
KR100299524B1 KR1019990024621A KR19990024621A KR100299524B1 KR 100299524 B1 KR100299524 B1 KR 100299524B1 KR 1019990024621 A KR1019990024621 A KR 1019990024621A KR 19990024621 A KR19990024621 A KR 19990024621A KR 100299524 B1 KR100299524 B1 KR 100299524B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
latch
sense amplifier
data
output
control signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
KR1019990024621A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20010004036A (ko
Inventor
엄인환
Original Assignee
박종섭
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박종섭, 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 박종섭
Priority to KR1019990024621A priority Critical patent/KR100299524B1/ko
Publication of KR20010004036A publication Critical patent/KR20010004036A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100299524B1 publication Critical patent/KR100299524B1/ko
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106—Data output latches
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 글리치 현상을 방지하고 작은 사이즈 및 저소비전력의 메모리소자에 작용가능한 래치회로에 관한 것이다.
본 발명은 감지증폭기로부터 출력버퍼로 전달되는 출력신호를 래치하기 위한 메모리소자의 래치회로에 있어서, 상기 감지증폭기의 출력신호를 제1제어신호쌍에 의해 전달하기 위한 제1전달수단과; 상기 제1전달수단을 통해서 전달된 감지증폭기의 출력신호를 래치하기 위한 래치수단과; 제2제어신호쌍에 의해 상기 래치수단을 제어하는 제2전달수단과; 제3제어신호쌍에 의해 상기 래치수단으로부터의 출력신호를 상기 출력버퍼로 제공하기 위한 제3전달수단을 포함한다.

Description

메모리소자의 래치회로{Latch circuit in memory device}
본 발명은 반도체 메모리소자에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 래치의 크기를 동작모드에 따라 가변시킬 수 있는 데이터 래치회로에 관한 것이다.
도 1은 일반적인 반도체 메모리소자, 예를 들면 데이터의 독출 및 기입이 가능한 SRAM 의 블록구성도를 도시한 것이다, 도 1을 참조하면, 일반적인 반도체 메모리소자는 메모리셀들이 배열되어 데이터를 저장하거나, 저장된 데이터를 독출할 수 있는 메모리 셀부(10)와, 상기 메모리셀부(10)의 메모리셀로부터의 데이터(sa, sab)를 감지 및 증폭하는 감지증폭기(20)와, 상기 감지증폭기(20)로부터의 출력신호(sj, sjb)를 출력신호(dout)로 제공하기위한 데이터 출력버퍼(30)와, 외부로부터 데이터를 입력하기 위한 데이터 입력버퍼(40)와, 상기 데이터 입력버퍼(40)로부터 데이터를 입력하여 상기 메모리셀부(10)에 기입하도록 하는 기입 드라이버(50) 및 상기 감지증폭기(20)로부터의 출력신호(sj, sjb)와 데이터 입력버퍼(40)로부터의 입력 데이터(dlj, dljb)를 홀드(hold)하고 홀드된 신호, (sj', sjb'), (dlj', dljb')를 상기 데이터 출력버퍼(30)로 제공하기 위한 래치회로(60)를 포함한다.
반도체 메모리소자에 있어서, 래치회로(60)는 메모리셀부(10)로부터 데이터 독출시에는 감지증폭기(20)가 완전히 디벨로프(develop)된 후, 즉 감지증폭기(10)가 거의 디스에이블되려고 할 때, 감지증폭기(20)의 인에이블시와 약간의 오버랩을 두고 인에이블됨으로써, 메모리셀부(10)로부터 감지증폭기(20)를 통해 독출된 데이터(sj)를 저장하고, 감지증폭기(20)가 디스에이블된 후에는 데이터 출력버퍼(30)의입력신호인 감지증폭기(20)의 출력신호(sj)를 홀드시켜 주는 역할을 한다.
또한, 데이터 독출시 래치(60)는 데이터 입력버퍼(40)로부터 데이터(dlj)를 직접 입력하여 저장하고, 기입검증모드(write verify mode)에서는 저장된 데이터에 의해 데이터 출력버퍼(30)를 직접 구동하도록 하는 역할을 한다.
도 2를 종래의 래치의 상세회로도를 도시한 것이다. 도 2를 참조하면, 종래의 래치는 래치입력 인에이블신호(lch11)를 반전시켜주기 위한 반전 게이트(11)와, 래치입력 인에이블신호(lch11)와 상기 반전 게이트(11)를 통해 반전된 래치입력 인에이블신호(/lch11)에 의해 감지증폭기(20)로부터 출력되는 신호(sj11, sjll)를 각각 전달하기 위한 PMOS 트랜지스터(PM11)와 NMOS 트랜지스터(NM11)로 이루어진 제1전달 게이트 및 PMOS 트랜지스터(PM12)와 NMOS 트랜지스터(NM12)로 이루어진 제2전달 게이트(12, 13)와, 상기 전달 게이트(12, 13)의 출력신호를 각각 래치하기 위한, 출력이 각각의 입력으로 궤환되는 1쌍의 반전 게이트(14, 15)를 구비하여, 그의 출력신호(dlj, dljb)를 각각 래치한다.
그러나, 상기한 바와같은 종래의 래치회로는 데이터 독출시 감지증폭기가 디스에이블되기 직전에 감지증폭기(20)와 래치(60)가 동시에 인에이블되는 구간이 있는데, 이 구간에서 감지증폭기(20)와 래치(60)가 서로 경쟁을 하게 된다.
만약, 어떠한 요인에 의해 감지증폭기(20)의 출력신호(sj11)가 완전히 디벨로프되지 않은 상태에서 감지증폭기(20)의 출력데이타와 반대 레벨을 갖는 래치회로(60)가 인에이블되면, 감지 증폭기(20)의 데이터에 의해 래치(60)의 데이터가 변경되지 못하고, 반대로 래치(60)의 데이터가 감지증폭기(20)의 출력신호(sj)를 드라이브하게 되어, 셀 데이터와는 반대되는 데이터가 출력되는 경우가 발생되는 문제점이 있었다.
도 4를 참조하면, 감지증폭기 인에이블신호(pse)와 래치입력 인에이블신호(lch11)가 오버랩되는 구간에서 감지증폭기(20)의 출력신호(sj11)에 0.8V 정도의 글리치(glitch)가 발생됨을 알 수 있다.
이는 상기에서 설명한 바와같이 감지증폭기와 래치가 경쟁하여 감지 증폭기가 완전히 디벨로프되지 않은 상태에서 래치가 인에이블되면 출력 버퍼를 통해 오류 데이터를 출력하는 결과를 초래하게 되는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 바와같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 데이터 독출시 감지증폭기가 완전히 디벨로프된 다음 데이터가 출력되도록 함으로써 감지증폭기의 출력 데이터를 안정되게 유지할 수 있는 래치회로를 제공하는 데 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 반도체 메모리소자의 블록구성도,
도 2는 종래의 반도체 메모리소자의 래치회로의 상세회로도,
도 3는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 메모리소자에 있어서, 래치회로의 블럭구성도,
도 4는 도 2의 종래의 래치회로의 동작 시뮬레이션 결과를 도시한 도면,
도 5은 도 3의 본 발명의 래치회로의 동작 시뮬레이션 결과를 도시한 도면,
(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)
10 : 메모리셀부 20 : 감지증폭기
30 : 데이터 출력버퍼 40 : 데이터 입력버퍼
50 : 기입 드라이버 60 : 래치회로
31 : 제1전달수단 32 : 제2전달수단
33 : 래치수단 34 : 제3전달수단
31-1, 32-1, 34-1 : PMOS 트랜지스터
31-2, 32-2, 34-2 : NMOS 트랜지스터
33-1, 33-2 : 반전 게이트
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 감지증폭기로부터 출력버퍼로 전달되는 출력신호를 래치하기 위한 메모리소자의 래치회로에 있어서, 상기 감지증폭기의 출력신호를 제1제어신호쌍에 의해 전달하기 위한 제1전달수단과; 상기 제1전달수단을 통해서 전달된 감지증폭기의 출력신호를 래치하기 위한 래치수단과; 제2제어신호쌍에 의해 상기 래치수단을 제어하는 제2전달수단과; 제3제어신호쌍에 의해 상기 래치수단으로부터의 출력신호를 상기 출력버퍼로 제공하기 위한제3전달수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제2제어신호쌍은 상기 감지증폭기가 인에이블될 때 인에이블되는 것을 특징으로 한다.
상기 제2전달수단은 상기 제2제어신호쌍이 각각 게이트에 인가되고 제1전달수단과 래치수단사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터로 구성된 전달 게이트로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 제1제어신호쌍은 감지증폭기를 통해 데이터 독출시에만 인에이블되는 것을 특징으로 한다.
상기 제1전달수단은 상기 제1제어신호쌍이 각각 게이트에 인가되고, 상기 감지증폭기와 래치수단사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터로 구성된 전달게이트로 이루어진다.
상기 제3제어신호쌍은 데이터 독출시에는 감지증폭기가 디스에이블된 후 또는 데이터 기입시에는 기입 인에이블신호가 디스에이블된 후에 인에이블되는 것을 특징으로 한다.
상기 제3전달수단은 게이트에 각각 제3제어신호쌍이 인가되고 래치수단과 출력버퍼사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터로 구성된 전달 게이트로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부한 도면에 의거하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명하도록 한다.
도 3는 본 발명의 실시예에 따른 메모리소자의 래치회로의 상세도를 도시한것이다. 본 발명은 도 1과 동일한 구성을 갖는 반도체 메모리소자로서, 래치회로의 구성을 도 2의 종래의 래치회로대신에 도 3과 같은 구성을 갖는 래치회로를 구성한 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 래치회로는 1쌍의 제2제어신호(lch32, lch32b)에 의해 상기 감지증폭기(20)로부터 출력되는 감지신호(sj21)를 전달하기 위한 제1전달수단(31)과, 상기 제1전달수단(31)을 통해 전달되는 감지증폭기(20)로부터의 감지신호(sj21)를 래치하기 위한 래치수단(33)과, 1쌍의 제1제어신호(lch31, lch31b)에 의해 상기 래치수단(33)이 상기 제1전달수단(32)의 출력신호를 래치하도록 제어하는 제2전달수단(32)과, 상기 래치수단(33)에 래치된 신호를 1쌍의 제3제어신호(lch33, lch33b)에 의해 출력버퍼(30)로 제공하기 위한 제3전달수단(34)을 구비한다.
상기 제1전달수단(31)은 래치입력 인에이블신호인 1쌍의 제2제어신호(lch32, lch32b)에 의해 데이터 독출시에만 감지증폭기(20)의 출력신호(sj31)가 래치수단(33)으로 전달되도록 하고, 기입시에는 감지증폭기(20)의 출력신호(sj31)가 래치수단(33)으로 전달되는 것을 차단하는 수단으로서, 1쌍의 제어신호(lch32, lch32b)가 각각 게이트에 인가되고, 상기 감지증폭기(20)와 래치수단(33)사이에 각각 연결된 제1PMOS 트랜지스터(31-1)와 제1NMOS 트랜지스터(31-2)를 구비한다.
상기 제2전달수단(32)은 래치 디스에이블신호인 1쌍의 제1제어신호(lch31, lch31b)에 의해 감지증폭기(20)가 디스에이블된 후 상기 래치수단(33)이 상기 제1전달수단(31)을 통해 전달된 감지증폭기(20)의 출력신호(sj31)을 래치하도록 하는수단으로서, 1쌍의 제어신호(lch31, lch31b)가 각각 게이트에 인가되고, 상기 제1전달수단(31)와 래치수단(33)사이에 각각 연결된 제1PMOS 트랜지스터(32-1)와 제1NMOS 트랜지스터(32-2)를 구비한다.
상기 제3전달수단(34)은 래치출력 인에이블신호인 1쌍의 제3제어신호(lch33, lch33b)에 의해 래치수단(33)의 출력신호를 출력버퍼로 제공하기 위한 수단으로서, 1쌍의 제어신호(lch33, lch33b)가 각각 게이트에 인가되고, 상기 래치수단(33)과 출력버퍼(30)사이에 각각 연결된 제3PMOS 트랜지스터(33-1)와 제3NMOS 트랜지스터(33-2)를 구비한다.
상기한 바와같은 구조를 갖는 본 발명의 메모리소자의 래치회로의 동작을 도 5를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
감지증폭기(20)가 인에이블되어 입력신호(sa)를 감지증폭하고, 그의 출력이 어느 정도 디벨로프되면, 1쌍의 래치입력 인에이블신호(lch32, lch32b)에 의해 제1전달수단(31)의 PMOS 트랜지스터(31-1)와 NMOS 트랜지스터(31-2)가 턴온되고, 이에 따라 감지증폭기(20)의 출력신호(sj31)는 제1전달수단(31)을 통해 래치수단(33)에 전달되어 래치된다.
이때, 제3전달수단(34)은 제어신호(lch33, lch33b)에 의해 PMOS 트랜지스터(33-1)와 NMOS 트랜지스터(33-2)가 턴오프되어 디스에이블상태로 된다. 따라서, 래치수단(33)과 출력버퍼(30)는 디스에이블되어 래치수단(30)의 출력신호는 출력버퍼(30)로 전달되지 않는다.
이어서, 감지증폭기(20)가 데이터 센싱을 완료한 다음 디스에이블되면, 제어신호(lch31, lch31b)에 의해 제2전달수단(32)이 인에이블된다. 즉, 제2전달수단(32)의 PMOS 트랜지스터(32-1)와 NMOS 트랜지스터(32-2)는 턴온되어 래치수단(33)은 래치구조가 복원되어 제1전달수단(32)을 통해 전달된 감지증폭기(20)의 출력신호(sj31)는 래치된다.
또한, 제어신호(lch33, lch33b)에 의해 제3전달수단(33)의 PMOS 트랜지스터(33-1)와 NMOS 트랜지스터(33-2)가 턴온되어 출력버퍼(30)로 래치수단(33)의 출력신호를 전달하므로, 감지증폭기(20)로부터 출력버퍼(30)로 전달되는 출력신호(sj)의 레벨을 안정되게 유지시켜준다.
한편, 기입동작시에는 기입인에이블신호(web)가 인에이블됨과 동시에 제어신호(lch31, lch31b)를 디스에이블시켜 래치구조를 제거함으로써, 래치수단(33)이 데이터를 용이하게 저장할 수 있도록 한다. 즉, 데이터 입력버퍼(40)로부터 직접 래치수단(33)으로 데이터를 전달하여 저장하도록 한다.
제3제어신호(lch33, lch33b)가 인에이블되어 기입동작이 끝나면, 즉 기입 인에이블신호(web)가 디스에이블되면 제어신호(lch31, lch31b)가 인에이블되어 래치수단(33)의 래치구조를 복원시키고 이어서 제어신호(lch33, lch33b)가 인에이블되어 래치수단(30)에 저장된 신호(dlj31)가 출력버퍼(30)로 전달되게 된다.
상기에서 설명한 바와같이, 기입동작시에는 입력버퍼(40)를 통해 입력된 데이터가 래치수단(33)을 통해 바로 출력버퍼(30)로 전달되는 기입검증동작(write verify)을 수행하게 된다.
종래의 래치회로는 감지증폭기(20)로부터 독출된 데이터를 입력하기 위하여2개의 라인(sj11, sjb11)이 필요하였으나, 상기한 바와같은 구조를 갖는 본 발명의 래치회로는 감지증폭기(20)로부터 독출된 데이터를 입력하기 위하여 하나의 라인(sj31)만이 필요하므로, 각 I/O 당 하나의 라인을 절약할 수 있다.
또한, 감지증폭기(20)의 출력라인(sj31)이 10,000 μm 이상의 길이를 가지므로, 라인 캐패시턴스가 1.5pF 이상되는 큰 용량성부하(capacitive load)로 작용하게 되는데, 본 발명에서와 같이 감지증폭기(20)의 출력신호를 전달하기 위하여 하나의 라인만이 필요하므로, 큰 사이즈의 감지증폭기 출력 드라이버도 줄일 수 있으며, 이에 따라 칩사이즈 감소와 큰 용량성부하의 충, 방전시의 전력소모도 감소시킬 수 있을 뿐만 아니라 보다 작은 칩면적과 저소비전력을 갖는 메모리소자의 설계가 가능하다.
도 5는 본 발명의 반도체 메모리소자에 있어서, 래치회로의 동작 시뮬레이션 결과를 도시한 것이다. 도 5을 참조하면, 감지증폭기가 완전히 디벨로프되고 디스에이블된 다음, 감지증폭기의 출력이 출력버퍼로 제공되도록 함으로써, 미세한 글리치만이 발생하므로 감지증폭기로부터 제공되는 신호에 별다른 영향을 주지않음을 알 수 있다.
이상에서 자세히 설명된 바와 같은 본 발명의 래치회로에 따르면, 감지증폭기가 완전히 디벨로프된 다음 래치수단의 출력신호를 출력버퍼로 전달함으로써, 데이터 독출시의 글리치현상을 상당히 감소시켜 오동작을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 작은 사이즈 및 저소비전력의 메모리소자의 설계가 가능한 이점이 있다.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.

Claims (7)

  1. 감지증폭기로부터 출력버퍼로 전달되는 출력신호를 래치하기 위한 메모리소자의 래치회로에 있어서,
    상기 감지증폭기의 출력신호를 제1제어신호쌍에 의해 전달하기 위한 제1전달수단과;
    상기 제1전달수단을 통해서 전달된 감지증폭기의 출력신호를 래치하기 위한 래치수단과;
    제2제어신호쌍에 의해 상기 래치수단을 제어하는 제2전달수단과;
    제3제어신호쌍에 의해 상기 래치수단으로부터의 출력신호를 상기 출력버퍼로 제공하기 위한 제3전달수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제2제어신호쌍은 상기 감지증폭기가 인에이블될 때 인에이블되는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제2전달수단은
    상기 제2제어신호쌍이 각각 게이트에 인가되고 제1전달수단과 래치수단사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터로 구성된 전달 게이트로 이루어지는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1제어신호쌍은 감지증폭기를 통해 데이터 독출시에만 인에이블되는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1전달수단은 상기 제1제어신호쌍이 각각 게이트에 인가되고, 상기 감지증폭기와 래치수단사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터로 구성된 전달게이트로 이루어지는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제3제어신호쌍은 데이터 독출시에는 감지증폭기가 디스에이블된 후 또는 데이터 기입시에는 기입 인에이블신호가 디스에이블된 후에 인에이블되는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제3전달수단은
    게이트에 각각 제3제어신호쌍이 인가되고 래치수단과 출력버퍼사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터로 구성된 전달 게이트로 이루어지는 것을 특징으로 하는 메모리소자의 래치회로.
KR1019990024621A 1999-06-28 1999-06-28 메모리소자의 래치회로 Expired - Fee Related KR100299524B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990024621A KR100299524B1 (ko) 1999-06-28 1999-06-28 메모리소자의 래치회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990024621A KR100299524B1 (ko) 1999-06-28 1999-06-28 메모리소자의 래치회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010004036A KR20010004036A (ko) 2001-01-15
KR100299524B1 true KR100299524B1 (ko) 2001-11-01

Family

ID=19595851

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990024621A Expired - Fee Related KR100299524B1 (ko) 1999-06-28 1999-06-28 메모리소자의 래치회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100299524B1 (ko)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5272674A (en) * 1992-09-21 1993-12-21 Atmel Corporation High speed memory sense amplifier with noise reduction
KR970013740A (ko) * 1995-08-24 1997-03-29 김주용 파이프라인 출력 기능을 갖는 동기식 기억소자의 출력 회로

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5272674A (en) * 1992-09-21 1993-12-21 Atmel Corporation High speed memory sense amplifier with noise reduction
KR970013740A (ko) * 1995-08-24 1997-03-29 김주용 파이프라인 출력 기능을 갖는 동기식 기억소자의 출력 회로

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010004036A (ko) 2001-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5633603A (en) Data output buffer using pass transistors biased with a reference voltage and a precharged data input
US4802122A (en) Fast flush for a first-in first-out memory
US7447058B2 (en) Write margin of SRAM cells improved by controlling power supply voltages to the inverters via corresponding bit lines
US7269075B2 (en) Method and apparatus for simultaneous differential data sensing and capture in a high speed memory
CN100477212C (zh) 具有芯片上终结电路的半导体存储器件
KR940007887A (ko) 반도체 메모리장치
KR20040022905A (ko) 글로벌 입출력(ｇｉｏ) 라인에 리피터를 구비하는 반도체메모리 장치
US5506522A (en) Data input/output line sensing circuit of a semiconductor integrated circuit
US6483347B1 (en) High speed digital signal buffer and method
US5287323A (en) Semiconductor memory device
KR100492907B1 (ko) 글로벌 입출력 스킴을 변경한 메모리 소자
US5684745A (en) SRAM device with a bit line discharge circuit for low power
KR950010567B1 (ko) 반도체장치의 출력단회로
KR100299524B1 (ko) 메모리소자의 래치회로
US5317536A (en) Dual-port type semiconductor integrated memory circuit
KR100596421B1 (ko) 반도체 메모리 소자
KR0184480B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 출력 버퍼 제어회로
US6594190B2 (en) Semiconductor device with output latch circuit outputting complementary data at high speed
JP2001023375A (ja) メモリ装置及びこれのデータ書き込み及び読み出し方法
KR100594284B1 (ko) Ｄａ 모드시 패드 사용 효율을 높이는 버스 인터페이스로직 회로를 갖는 반도체 메모리 장치
KR20000043569A (ko) 반도체 메모리 소자
KR0182259B1 (ko) 정적 메모리 장치의 메모리 셀
KR100388225B1 (ko) 센서앰프 출력 조정회로
KR100247906B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 처리방법 및 장치
KR100356795B1 (ko) 라이트 드라이버 회로를 가지는 에스램

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

D13-X000 Search requested

St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

D14-X000 Search report completed

St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 4

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 5

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 6

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 7

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 8

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 9

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110526

Year of fee payment: 11

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 11

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903

Not in force date: 20120610

Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903

Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

Not in force date: 20120610

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

P22-X000 Classification modified

St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000