KR102765720B1 - 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 운용 방법 - Google Patents
기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 운용 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102765720B1 KR102765720B1 KR1020210139988A KR20210139988A KR102765720B1 KR 102765720 B1 KR102765720 B1 KR 102765720B1 KR 1020210139988 A KR1020210139988 A KR 1020210139988A KR 20210139988 A KR20210139988 A KR 20210139988A KR 102765720 B1 KR102765720 B1 KR 102765720B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- microwave
- microwaves
- waveguide
- substrate processing
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H01L21/67115—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0431—Apparatus for thermal treatment
- H10P72/0436—Apparatus for thermal treatment mainly by radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32211—Means for coupling power to the plasma
- H01J37/3222—Antennas
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32211—Means for coupling power to the plasma
- H01J37/32229—Waveguides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32266—Means for controlling power transmitted to the plasma
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32266—Means for controlling power transmitted to the plasma
- H01J37/32275—Microwave reflectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32798—Further details of plasma apparatus not provided for in groups H01J37/3244 - H01J37/32788; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
- H01J37/32899—Multiple chambers, e.g. cluster tools
-
- H01L21/67069—
-
- H01L21/67207—
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/70—Feed lines
- H05B6/707—Feed lines using waveguides
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/80—Apparatus for specific applications
- H05B6/806—Apparatus for specific applications for laboratory use
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
- H10P72/0418—Apparatus for fluid treatment for etching
- H10P72/0421—Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0451—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H10P72/0468—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Clinical Laboratory Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Toxicology (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 설명한다.
도 3 내지 도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 운용하는 방법을 설명한다.
도 3은 제1 공정 챔버(PM1)에 마이크로파를 전달하는 상태를 설명한다.
도 4은 제2 공정 챔버(PM2)에 마이크로파를 전달하는 상태를 설명한다.
도 5은 제3 공정 챔버(PM3)에 마이크로파를 전달하는 상태를 설명한다.
도 6은 제4 공정 챔버(PM4)에 마이크로파를 전달하는 상태를 설명한다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 운용 방법을 시간 흐름에 따라 설명하는 플로우 차트이다.
Claims (18)
- 마이크로파 에너지를 이용하는 제1 공정을 수행하는 복수개의 공정 챔버;
마이크로파를 생성하는 하나의 마이크로파 제너레이터;
상기 복수개의 공정 챔버 각각과 상기 마이크로파 제너레이터를 연결하는 도파관; 및
상기 도파관의 마이크로파 전달 경로에 제공되며, 상기 복수개의 공정 챔버 중 선택된 하나에 마이크로파를 전달하는 경로를 변경하는 마이크로파 경로 변경 부재를 포함하고,
상기 도파관은,
주 도파관과;
상기 주 도파관에서 분기되며 상기 복수개의 공정 챔버 각각에 대응되는 마이크로파를 전달하는 복수개의 가지 도파관을 포함하고,
상기 마이크로파 경로 변경 부재는 복수개가 제공되어, 상기 복수개의 가지 도파관 각각의 입구에 제공되며, 상기 가지 도파관의 상기 입구를 개폐하는 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 마이크로파 제너레이터는,
10kW이상의 고출력 마이크로파 제너레이터인 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 제1 공정은 기판을 가열하는 공정이되,
상기 가열은 마이크로파에 의해 행해지는 기판 처리 장치. - 제3 항에 있어서,
상기 가열은 수 마이크로초 내지 수 초 동안 상기 기판에 상기 마이크로파를 노출하여 행해지는 것인 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 제1 공정은 기판을 플라즈마로 처리하는 공정을 수행하되,
상기 플라즈마는 마이크로파에 의해 공정 가스로부터 생성된 것인 기판 처리 장치. - 삭제
- 제1 항에 있어서,
상기 마이크로파 경로 변경 부재는,
금속 소재의 판부; 및
상기 판부의 자세를 제1 자세와 제2 자세로 변경하는 구동부를 포함하는 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
제어기를 더 포함하고,
상기 제어기는, 상기 마이크로파 경로 변경 부재를 제어하여 상기 복수개의 공정 챔버 중 상기 제1 공정이 수행되는 공정 챔버로 상기 마이크로파를 전달하는 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 복수개의 공정 챔버는,
서로 상이한 시간에 상기 제1 공정을 각각 수행하는 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 마이크로파 경로 변경 부재는,
상기 도파관과 동일한 소재로 제공되는 기판 처리 장치. - 기판 처리 장치의 운용 방법에 있어서,
기판을 처리하는 장치는:
마이크로파 에너지를 이용하는 제1 공정을 수행하는 복수개의 공정 챔버;
마이크로파를 생성하는 하나의 마이크로파 제너레이터;
상기 복수개의 공정 챔버 각각과 상기 마이크로파 제너레이터를 연결하는 도파관; 및
상기 도파관의 마이크로파 전달 경로에 제공되며, 상기 복수개의 공정 챔버 중 선택된 하나에 마이크로파를 전달하는 경로를 변경하는 마이크로파 경로 변경 부재를 포함하고,
상기 기판 처리 방법은:
상기 복수개의 공정 챔버는 각기 다른 시간에 상기 제1 공정을 수행하되,
상기 복수개의 공정 챔버 중 어느 하나의 공정 챔버에서 상기 제1 공정이 수행되는 동안 상기 마이크로파가 상기 선택된 하나의 공정 챔버로 전달되도록 하며,
상기 도파관은,
주 도파관과;
상기 주 도파관에서 분기되며 상기 복수개의 공정 챔버 각각에 대응되는 마이크로파를 전달하는 복수개의 가지 도파관을 포함하고,
상기 마이크로파 경로 변경 부재는 복수개가 제공되어, 상기 복수개의 가지 도파관 각각의 입구에 제공되며, 상기 가지 도파관의 상기 입구를 개폐하는 기판 처리 장치의 운용 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 제1 공정은 기판을 가열하는 공정이되,
상기 가열은 마이크로파에 의해 행해지는 것인 기판 처리 장치의 운용 방법. - 제12 항에 있어서,
상기 가열은 수 마이크로초 내지 수 초 동안 상기 기판에 상기 마이크로파를 노출하여 행해지는 것인 기판 처리 장치의 운용 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 제1 공정은 기판을 플라즈마로 처리하는 공정을 수행하되,
상기 플라즈마는 마이크로파에 의해 공정 가스로부터 생성된 것인 기판 처리 장치의 운용 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 마이크로파 제너레이터는,
10kW이상의 고출력 마이크로파 제너레이터인 기판 처리 장치의 운용 방법. - 삭제
- 제11 항에 있어서,
상기 마이크로파 경로 변경 부재는,
금속 소재의 판부; 및
상기 판부의 자세를 제1 자세 또는 제2 자세로 변경하는 구동부를 포함하고,
상기 제1 자세는 상기 마이크로파가 대응되는 공정 챔버로 전달되도록 조절된 자세이고, 상기 제2 자세는 상기 마이크로파를 통과시키도록 조절된 자세인 기판 처리 장치의 운용 방법. - 마이크로파 에너지를 이용하는 제1 공정을 수행하는 복수개의 공정 챔버;
마이크로파를 생성하는 하나의 마이크로파 제너레이터;
주 도파관과, 상기 주 도파관에서 분기되며 상기 복수개의 공정 챔버 각각에 대응되는 마이크로파를 전달하는 복수개의 가지 도파관을 포함하여, 상기 복수개의 공정 챔버 각각과 상기 마이크로파 제너레이터를 연결하는 도파관;
복수개가 제공되어, 상기 복수개의 가지 도파관 각각의 입구에 제공되며, 상기 가지 도파관의 상기 입구를 개폐하여 상기 복수개의 공정 챔버 중 선택된 하나에 마이크로파를 전달하는 경로를 변경하는 마이크로파 경로 변경 부재; 및
제어기를 포함하고,
상기 제1 공정은,
마이크로파를 이용하여 기판을 가열하는 공정 또는 마이크로파에 의해 공정 가스로부터 생성된 플라즈마를 이용하여 기판을 처리하는 공정이고,
상기 마이크로파 제너레이터는,
10kW이상의 고출력 마이크로파 제너레이터이고,
상기 제어기는,
상기 복수개의 공정 챔버는 각기 다른 시간에 상기 제1 공정을 수행하도록 제어하되,
상기 복수개의 공정 챔버 중 어느 하나의 공정 챔버에서 상기 제1 공정이 수행되는 동안 상기 마이크로파가 상기 선택된 하나의 공정 챔버로 전달되도록 제어하는 기판 처리 장치.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210139988A KR102765720B1 (ko) | 2021-10-20 | 2021-10-20 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 운용 방법 |
| JP2022165687A JP7437476B2 (ja) | 2021-10-20 | 2022-10-14 | 基板処理装置及び基板処理装置の運用方法 |
| US17/967,172 US20230120716A1 (en) | 2021-10-20 | 2022-10-17 | Apparatus for treating substrate and method for operating thereof |
| CN202211287319.8A CN115995408A (zh) | 2021-10-20 | 2022-10-20 | 用于处理基板的设备及其操作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210139988A KR102765720B1 (ko) | 2021-10-20 | 2021-10-20 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 운용 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20230056816A KR20230056816A (ko) | 2023-04-28 |
| KR102765720B1 true KR102765720B1 (ko) | 2025-02-14 |
Family
ID=85981047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210139988A Active KR102765720B1 (ko) | 2021-10-20 | 2021-10-20 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 운용 방법 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20230120716A1 (ko) |
| JP (1) | JP7437476B2 (ko) |
| KR (1) | KR102765720B1 (ko) |
| CN (1) | CN115995408A (ko) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000135582A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | Sokkia Co Ltd | レーザ分配装置 |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5888086A (ja) * | 1981-11-20 | 1983-05-26 | Sanki Eng Co Ltd | 廃棄物加熱処理装置 |
| JPS6390132A (ja) * | 1986-10-03 | 1988-04-21 | Hitachi Ltd | 表面処理装置 |
| JPH0339480A (ja) * | 1989-07-05 | 1991-02-20 | Sony Corp | Ecrプラズマ装置 |
| US5796080A (en) * | 1995-10-03 | 1998-08-18 | Cem Corporation | Microwave apparatus for controlling power levels in individual multiple cells |
| JP3799144B2 (ja) * | 1997-09-16 | 2006-07-19 | キヤノンマーケティングジャパン株式会社 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
| US6258329B1 (en) * | 1998-04-20 | 2001-07-10 | Cem Corporation | Microwave transparent vessel for microwave assisted chemical processes |
| DE10138693A1 (de) * | 2001-08-07 | 2003-07-10 | Schott Glas | Vorrichtung zum Beschichten von Gegenständen |
| JP2003229701A (ja) | 2002-02-06 | 2003-08-15 | Canon Inc | サーキュレータ、アイソレータ、それを用いたプラズマ処理装置と処理方法、並びにマイクロ波導波経路の切替え機とマイクロ波処理装置 |
| US7515011B2 (en) | 2005-08-03 | 2009-04-07 | Farnworth Warren M | Microwave routing element, methods of routing microwaves and systems including same |
| GB201021855D0 (en) | 2010-12-23 | 2011-02-02 | Element Six Ltd | Microwave power delivery system for plasma reactors |
| WO2012165263A1 (ja) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | 東京エレクトロン株式会社 | ゲート絶縁膜の形成方法およびゲート絶縁膜の形成装置 |
| KR20140023807A (ko) * | 2012-08-17 | 2014-02-27 | 삼성전자주식회사 | 반도체 소자를 제조하는 설비 |
| WO2014039194A1 (en) * | 2012-09-07 | 2014-03-13 | Applied Materials, Inc. | Integrated processing of porous dielectric, polymer-coated substrates and epoxy within a multi-chamber vacuum system confirmation |
| JP6296787B2 (ja) | 2013-12-25 | 2018-03-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
| JP2015128108A (ja) | 2013-12-27 | 2015-07-09 | 東京エレクトロン株式会社 | ドーピング方法、ドーピング装置及び半導体素子の製造方法 |
| WO2018055730A1 (ja) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、半導体装置の製造方法および記録媒体 |
| US10790118B2 (en) * | 2017-03-16 | 2020-09-29 | Mks Instruments, Inc. | Microwave applicator with solid-state generator power source |
| JP6841920B2 (ja) * | 2017-09-01 | 2021-03-10 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム |
| KR102391976B1 (ko) * | 2017-10-27 | 2022-04-29 | 세메스 주식회사 | 분배기 및 기판 처리 장치 |
| US11469077B2 (en) * | 2018-04-24 | 2022-10-11 | FD3M, Inc. | Microwave plasma chemical vapor deposition device and application thereof |
| CN208444806U (zh) * | 2018-07-26 | 2019-01-29 | 德淮半导体有限公司 | 微波单元 |
| KR102572465B1 (ko) * | 2019-02-01 | 2023-08-29 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 클리닝 장치 |
| JP2023088086A (ja) * | 2021-12-14 | 2023-06-26 | 株式会社トッパンTomoegawaオプティカルフィルム | ウェブ巻取用巻芯コア及びウェブの巻き取り方法 |
-
2021
- 2021-10-20 KR KR1020210139988A patent/KR102765720B1/ko active Active
-
2022
- 2022-10-14 JP JP2022165687A patent/JP7437476B2/ja active Active
- 2022-10-17 US US17/967,172 patent/US20230120716A1/en active Pending
- 2022-10-20 CN CN202211287319.8A patent/CN115995408A/zh active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000135582A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | Sokkia Co Ltd | レーザ分配装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20230120716A1 (en) | 2023-04-20 |
| KR20230056816A (ko) | 2023-04-28 |
| JP2023061907A (ja) | 2023-05-02 |
| CN115995408A (zh) | 2023-04-21 |
| JP7437476B2 (ja) | 2024-02-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102064123B (zh) | 半导体被处理基板的真空处理系统及半导体被处理基板的真空处理方法 | |
| US20170114456A1 (en) | Apparatus and method for treating a substrate | |
| KR20220129466A (ko) | 기판을 처리하는 장치 및 기판을 반송하는 방법 | |
| US20080308038A1 (en) | Apparatus for processing a substrate | |
| KR102211252B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
| KR20190058469A (ko) | 워크피스 처리를 위한 시스템 및 방법 | |
| KR102765720B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 운용 방법 | |
| US9771223B2 (en) | Device and method for processing of wafers | |
| KR100941934B1 (ko) | 상하좌우 독립처리영역을 갖는 이중적재 구현 로드락 챔버 | |
| KR101928008B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
| KR101383248B1 (ko) | 고속 기판 처리 시스템 | |
| JP2023075684A (ja) | ゲートバルブ及び駆動方法。 | |
| KR102129774B1 (ko) | 건식 및 습식 처리를 위한 단일 플랫폼의 기판처리설비 | |
| KR20160057357A (ko) | 건식 및 습식 처리를 위한 단일 플랫폼의 기판처리설비 | |
| US12146710B2 (en) | Substrate treating apparatus and substrate treating system comprising the same | |
| JP7594976B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| KR101612516B1 (ko) | 건식 및 습식 처리를 위한 단일 플랫폼의 기판처리설비 | |
| JP2020145329A (ja) | 基板収容装置 | |
| KR100873328B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
| JP2025157804A (ja) | 基板処理システム | |
| WO2025197623A1 (ja) | 基板処理システム及び磁気浮上式真空搬送ユニット | |
| TW202418360A (zh) | 基板處理裝置 | |
| KR100934769B1 (ko) | 기판 이송 시스템 | |
| KR20260063498A (ko) | 기판 처리 장치 및 진공 챔버에서의 전력 전송 방법 | |
| KR20260015461A (ko) | 이송 모듈 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |