KR20040103494A - 지연고정 시간을 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 - Google Patents
지연고정 시간을 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20040103494A KR20040103494A KR1020040039242A KR20040039242A KR20040103494A KR 20040103494 A KR20040103494 A KR 20040103494A KR 1020040039242 A KR1020040039242 A KR 1020040039242A KR 20040039242 A KR20040039242 A KR 20040039242A KR 20040103494 A KR20040103494 A KR 20040103494A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- delay
- output
- nand gate
- shift
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/0805—Details of the phase-locked loop the loop being adapted to provide an additional control signal for use outside the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0814—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/093—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using special filtering or amplification characteristics in the loop
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Dram (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Abstract
Description
Claims (7)
- 기준클럭과 피드백 클럭의 위상을 비교하여 딜레이 증가신호 및 딜레이 감소신호를 생성하기 위한 위상비교수단과, 상기 딜레이 증가신호 및 상기 딜레이 감소신호에 응답하여 쉬프트 제어신호를 생성하기 위한 쉬프트 레지스터 제어수단과, 상기 쉬프트 제어신호에 응답하여 지연 라인의 지연량을 결정하기 위한 쉬프트 레지스터를 구비하는 레지스터 제어 지연고정루프에 있어서,상기 쉬프트 레지스터는,리셋신호에 의해 초기화되며 정출력단 및 부출력단을 구비하는 래치와, 해당 스테이지의 래치값 및 이전 스테이지의 래치값에 응답하여 해당 스테이지에 대응하는 지연선택신호를 생성하기 위한 지연선택신호 생성부와, 홀수/짝수 가속 쉬프트 레프트 제어신호, 홀수/짝수 노말 쉬프트 라이트 제어신호, 인접 스테이지의 래치값에 제어 받아 해당 스테이지의 래치의 정출력단 및 부출력단을 선택적으로 방전시키기 위한 제1 및 제2 방전 경로를 제공하는 스위칭부를 각 스테이지 마다 구비하며,상기 스위칭부의 상기 제1 방전 경로에 삽입되며, 홀수/짝수 노말 쉬프트 레프트 제어신호에 제어 받는 스위칭 소자를 일정 다수의 스테이지 마다 한쌍씩 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
- 제1항에 있어서,상기 쉬프트 레지스터 제어수단은,피드백 클럭를 받아 제1 및 제2 펄스를 생성하기 위한 플립플롭 회로와,리셋신호를 생성하기 위한 리셋신호 생성부와,상기 딜레이 감소신호 및 상기 리셋신호에 응답하여 가속 플래그 신호를 생성하기 위한 가속 플래그 신호 생성부와,상기 피드백 클럭, 상기 제1 및 제2 펄스, 상기 가속 플래그 신호, 상기 딜레이 증가신호 및 상기 딜레이 감소신호를 논리 조합하여 상기 홀수/짝수 노말 쉬프트 레프트 제어신호, 상기 홀수/짝수 가속 쉬프트 레프트 제어신호, 상기 홀수/짝수 쉬프트 라이트 제어신호를 생성하기 위한 논리조합부를 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
- 제1항에 있어서,상기 각 스테이지의 상기 제1 방전 경로는,해당 래치의 정출력단에 접속되며 상기 이전 스테이지의 래치의 부출력을 게이트 입력으로 하는 제1 NMOS 트랜지스터와,상기 홀수/짝수 가속 쉬프트 레프트 제어신호를 게이트 입력으로 하는 제2 NMOS 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
- 제3항에 있어서,상기 각 스테이지의 상기 제2 방전 경로는,해당 스테이지의 래치의 정출력단에 접속되며 다음 스테이지의 래치의 정출력을 게이트 입력으로 하는 제3 NMOS 트랜지스터와,상기 제3 NMOS 트랜지스터와 상기 접지전압단 사이에 접속되며 상기 홀수/짝수 노말 쉬프트 라이트 제어신호를 게이트 입력으로 하는 제4 NMOS 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
- 제4항에 있어서,상기 스위칭 소자가 삽입된 상기 제1 방전 경로는,상기 제2 NMOS 트랜지스터와 접지전압단 사이에 직렬로 접속되며 상기 홀수/짝수 쉬프트 레프트 제어신호를 게이트 입력으로 하는 제5 NMOS 트랜지스터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
- 제2항에 있어서,상기 가속 플래그 신호 생성부는,상기 리셋신호를 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터와 상기 딜레이감소신호를 게이트 입력으로 하는 풀다운 NMOS 트랜지스터로 구성된 버퍼와,상기 버퍼의 출력단에 접속된 인버터 래치와,상기 인버터 래치의 출력을 입력으로 하여 상기 가속 플래그 신호를 출력하기 위한 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
- 제2항에 있어서,상기 논리조합부는,상기 제1 펄스를 입력으로 하는 제1 인버터와,상기 제2 펄스를 입력으로 하는 제2 인버터와,상기 가속 플래그 신호 및 상기 피드백 클럭을 입력으로 하는 제1 낸드 게이트와,상기 제1 낸드 게이트의 출력신호와 상기 제1 인버터의 출력신호를 입력으로 하는 제2 낸드 게이트와,상기 제1 낸드 게이트의 출력신호와 상기 제2 인버터의 출력신호를 입력으로 하는 제3 낸드 게이트와,상기 딜레이 증가신호와 상기 제1 펄스를 입력으로 하는 제4 낸드 게이트와,상기 제4 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하여 상기 홀수 노말 쉬프트 레프트 제어신호를 출력하기 위한 제3 인버터와,상기 딜레이 증가신호와 상기 제2 펄스를 입력으로 하는 제5 낸드 게이트와,상기 제5 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하여 상기 짝수 노말 쉬프트 레프트 제어신호를 출력하기 위한 제4 인버터와,상기 딜레이 증가신호와 상기 제2 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하는 제6 낸드 게이트와,상기 제6 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하여 상기 홀수 가속 쉬프트 레프트 제어신호를 출력하기 위한 제5 인버터와,상기 딜레이 증가신호와 상기 제3 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하는 제7 낸드 게이트와,상기 제7 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하여 상기 짝수 가속 쉬프트 레프트 제어신호를 출력하기 위한 제6 인버터와,상기 딜레이 감소신호와 상기 제1 펄스를 입력으로 하는 제8 낸드 게이트와,상기 제8 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하여 상기 홀수 노말 쉬프트 라이트 제어신호를 출력하기 위한 제7 인버터와,상기 딜레이 감소신호와 상기 제2 펄스를 입력으로 하는 제9 낸드 게이트와,상기 제9 낸드 게이트의 출력신호를 입력으로 하여 상기 짝수 노말 쉬프트 라이트 제어신호를 출력하기 위한 제8 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 레지스터 제어 지연고정루프.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030035140 | 2003-05-31 | ||
| KR20030035140 | 2003-05-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20040103494A true KR20040103494A (ko) | 2004-12-08 |
| KR100631166B1 KR100631166B1 (ko) | 2006-10-02 |
Family
ID=33550144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020040039242A Expired - Fee Related KR100631166B1 (ko) | 2003-05-31 | 2004-05-31 | 지연고정 시간을 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7098712B2 (ko) |
| JP (1) | JP4480471B2 (ko) |
| KR (1) | KR100631166B1 (ko) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100685613B1 (ko) * | 2005-05-30 | 2007-02-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고속 동작을 위한 dll 회로 |
| KR100803370B1 (ko) * | 2006-12-27 | 2008-02-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로의 리셋 장치 및 방법 |
| US7609553B2 (en) | 2005-09-12 | 2009-10-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | NAND flash memory device with burst read latency function |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100529037B1 (ko) * | 2003-07-29 | 2005-11-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 개선된 지터 특성을 갖는 지연고정루프 및 그의 클럭 지연보상 방법 |
| US7428284B2 (en) * | 2005-03-14 | 2008-09-23 | Micron Technology, Inc. | Phase detector and method providing rapid locking of delay-lock loops |
| US7449930B2 (en) | 2005-09-29 | 2008-11-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Delay locked loop circuit |
| US7423928B2 (en) * | 2007-01-30 | 2008-09-09 | Atmel Corporation | Clock circuitry for DDR-SDRAM memory controller |
| US7701272B2 (en) * | 2007-05-31 | 2010-04-20 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for output data synchronization with system clock |
| KR100863016B1 (ko) | 2007-05-31 | 2008-10-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동작 모드 설정 장치, 이를 포함하는 반도체 집적 회로 및반도체 집적 회로의 제어 방법 |
| US20080315927A1 (en) * | 2007-06-11 | 2008-12-25 | Hynix Semiconductor Inc. | Frequency adjusting apparatus and dll circuit including the same |
| KR100902050B1 (ko) | 2007-06-26 | 2009-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전원 제어 장치 및 이를 포함하는 dll 회로 |
| JP5448324B2 (ja) * | 2007-10-23 | 2014-03-19 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | Dll回路及びこれを備える半導体装置、並びに、データ処理システム |
| KR100956770B1 (ko) * | 2007-12-10 | 2010-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 및 그 제어 방법 |
| US7816961B2 (en) * | 2008-02-08 | 2010-10-19 | Qimonda North America | System and method for signal adjustment |
| KR100930416B1 (ko) * | 2008-08-11 | 2009-12-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로 및 그 제어 방법 |
| US8181056B2 (en) * | 2008-09-30 | 2012-05-15 | Mosaid Technologies Incorporated | Serial-connected memory system with output delay adjustment |
| US8161313B2 (en) * | 2008-09-30 | 2012-04-17 | Mosaid Technologies Incorporated | Serial-connected memory system with duty cycle correction |
| KR101196706B1 (ko) | 2009-10-29 | 2012-11-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 고정 루프 회로를 포함하는 반도체 집적 회로 |
| KR20130098683A (ko) * | 2012-02-28 | 2013-09-05 | 삼성전자주식회사 | 지연 위상 루프 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
| KR20130135588A (ko) * | 2012-06-01 | 2013-12-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 파워 트래킹 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
| KR102143109B1 (ko) | 2014-03-04 | 2020-08-10 | 삼성전자주식회사 | 지연 고정 루프, 및 그것의 동작 방법 |
| US10706916B1 (en) * | 2019-04-03 | 2020-07-07 | Synopsys, Inc. | Method and apparatus for integrated level-shifter and memory clock |
| US11049543B2 (en) * | 2019-09-03 | 2021-06-29 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for deactivating a delay locked loop update in semiconductor devices |
| US11483005B1 (en) * | 2022-06-28 | 2022-10-25 | Iq-Analog, Inc. | System reference (SYSREF) signal system and method |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3388134B2 (ja) | 1997-04-10 | 2003-03-17 | 富士通株式会社 | 位相比較回路、dll回路および半導体集積回路 |
| JP3763673B2 (ja) * | 1998-06-11 | 2006-04-05 | 富士通株式会社 | Dll回路 |
| US6388480B1 (en) * | 1999-08-30 | 2002-05-14 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for reducing the lock time of DLL |
| KR100321755B1 (ko) * | 1999-12-24 | 2002-02-02 | 박종섭 | 록킹 시간이 빠른 지연고정루프 |
| KR100416695B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2004-02-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | 노이즈 제어가 가능한 지연고정루프 |
| KR100502675B1 (ko) * | 2001-12-12 | 2005-07-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어형 지연고정루프회로 |
| KR100507877B1 (ko) * | 2002-03-28 | 2005-08-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 면적 축소용 알디엘엘 회로 |
| KR100507854B1 (ko) | 2002-10-30 | 2005-08-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 가속화 모드를 구비한 레지스터 제어 지연고정루프 |
| KR100484252B1 (ko) * | 2002-11-27 | 2005-04-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
-
2004
- 2004-05-31 JP JP2004162524A patent/JP4480471B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-05-31 KR KR1020040039242A patent/KR100631166B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-01 US US10/858,976 patent/US7098712B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100685613B1 (ko) * | 2005-05-30 | 2007-02-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고속 동작을 위한 dll 회로 |
| US7609553B2 (en) | 2005-09-12 | 2009-10-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | NAND flash memory device with burst read latency function |
| CN1933028B (zh) * | 2005-09-12 | 2011-06-08 | 三星电子株式会社 | 具有突发读取等待功能的与非型快闪存储装置 |
| KR100803370B1 (ko) * | 2006-12-27 | 2008-02-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로의 리셋 장치 및 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004362757A (ja) | 2004-12-24 |
| US7098712B2 (en) | 2006-08-29 |
| JP4480471B2 (ja) | 2010-06-16 |
| US20050001663A1 (en) | 2005-01-06 |
| KR100631166B1 (ko) | 2006-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100631166B1 (ko) | 지연고정 시간을 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 | |
| KR100631164B1 (ko) | 전력 소모를 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 | |
| US7199634B2 (en) | Duty cycle correction circuits suitable for use in delay-locked loops and methods of correcting duty cycles of periodic signals | |
| US7103133B2 (en) | Register controlled delay locked loop circuit | |
| JP3901297B2 (ja) | Dll回路及びそれを利用した半導体記憶装置 | |
| US10193539B1 (en) | High speed data synchronization | |
| US6987408B2 (en) | Digital delay locked loop and control method thereof | |
| US6194930B1 (en) | DLL circuit | |
| JP3644827B2 (ja) | 外部負荷を考慮したdll回路 | |
| US8384448B2 (en) | DLL circuit and method of controlling the same | |
| US7675797B2 (en) | CAS latency circuit and semiconductor memory device including the same | |
| US7710171B2 (en) | Delayed locked loop circuit | |
| US6433597B2 (en) | Delay locked loop with reduced noise response | |
| JP2002025259A (ja) | リング遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ | |
| KR100510063B1 (ko) | 레지스터 제어 지연고정루프 | |
| JP3481148B2 (ja) | Dll回路を有する集積回路装置 | |
| US20030052719A1 (en) | Digital delay line and delay locked loop using the digital delay line | |
| JPH10285016A (ja) | 位相比較回路、dll回路および半導体集積回路 | |
| JP2001297585A (ja) | クロック発生回路およびそれを備える半導体記憶装置 | |
| US6608514B1 (en) | Clock signal generator circuit and semiconductor integrated circuit with the same circuit | |
| KR100550633B1 (ko) | 반도체 기억 소자의 지연 고정 루프 및 그의 제어 방법 | |
| JP3945894B2 (ja) | 半導体装置及び信号入力状態検出回路 | |
| JPH11317076A (ja) | 入力回路および該入力回路を有する半導体集積回路 | |
| KR100269569B1 (ko) | 반도체 장치 및 신호 입력 상태 검출 회로 | |
| KR100408210B1 (ko) | 입력회로및이입력회로를갖는반도체집적회로 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20100825 Year of fee payment: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20110927 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20110927 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |