KR20060133242A - 액정표시장치 및 이의 테스트 장치와 이의 테스트방법 - Google Patents

액정표시장치 및 이의 테스트 장치와 이의 테스트방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 다수의 전기소자 및 디지털 회로 각각의 저항 및 신호의 패턴을 측정 및 분석시간을 줄일 수 있는 액정표시장치 및 이의 테스트 장치와 이의 테스트 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 액정 표시 장치는 액정 표시 패널과, 상기 액정 표시 패널을 구동하는 다수의 구동 회로와, 상기 구동 회로에 구동 신호를 공급하는 다수의 전자 부품 소자가 형성되며 다수의 구동 회로 각각과 대응되는 출력 패드군들이 형성된 인쇄 회로 기판과, 상기 인쇄 회로 기판의 출력패드군들 사이의 더미 영역에 형성되어 상기 전자 부품 소자의 불량유무를 테스트하는 적어도 하나의 테스트단자들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
인쇄회로기판, 테스트 패드, 테스트 라인, 계측수단

Description

액정표시장치 및 이의 테스트 장치와 이의 테스트방법{LIQUID CRISTAL DISPLAY, APPARATUS OF TESTING THE SAME, AND TESTING METHOD THEREOF}
도 1은 종래의 액정표시장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 종래의 액정표시장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 제 1실시 예에 따른 액정표시장치를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3에 도시된 인쇄 회로 기판 상에 형성된 전기 소자의 테스트공정을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 도 3에 도시된 인쇄 회로 기판 상에 형성된 디지털 소자의 테스트공정을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시장치 모듈의 인쇄회로기판의 제조과정을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치를 나타내는 도면이다.
도 8은 도 3에 도시된 인쇄 회로 기판 상에 형성된 전기 소자 및 디지털 소자 중 적어도 어느 하나의 테스트 공정을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 액정표시장치의 테스트 방법을 나타내는 흐름도이다.
<도면부호의 간단한 설명>
10 : 하부기판 12 : 상부기판
14 : 액정 표시 패널 20: 소스 인쇄회로기판
21: 게이트 인쇄회로기판 30, 32, 34 : 테스트 패드
40, 41: 제 1 및 제2 연결수단 50,80: 전자 부품 소자
90: 테스트 포인트 101: 게이트라인
102: 데이터라인 150: 커넥터
200, 300: 프로브 210, 310: 계측수단
302 : 케이블 500, 502, 504 : 테스트 라인
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다수의 전기소자 및 디지털 회로 각각의 저항 및 신호의 패턴을 측정 및 분석시간을 줄일 수 있는 액정표시장치 및 이의 테스트 장치와 이의 테스트 방법에 관한 것이다.
통상의 액정표시장치는 전계를 이용하여 유전율 이방성을 갖는 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여, 액정표시장치는 액정셀들이 매트릭스형으로 배열된 액정 표시 패널과 액정 표시 패널을 구동하기 위한 구 동 회로를 구비한다.
액정 표시 패널은 액정셀들이 화소 신호에 따라 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.
구동회로는 액정 표시 패널의 게이트 라인을 구동하기 위한 게이트 구동부와, 데이터 라인들을 구동하기 위한 데이터 구동부와 게이트 구동부 및 데이터 구동부의 구동 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어부와 액정 표시 패널과 구동 회로들의 구동에 필요한 전원 신호들을 공급하는 전원부를 구비한다.
칩 형태로 제작된 게이트 구동회로와 데이터 구동회로들 각각은 TCP(Tape Carrier Package)상에서 오픈된 영역에 실장되거나 COF(Chip On Film)방식으로 TCP의 베이스 필름상에 실장되고, TAB(Tape Automated Boninding)방식으로 액정 표시 패널과 전기적으로 접속된다. 또한 구동회로는 COG(Chip On Glass)방식으로 액정 표시 패널상에 직접 실장되기도 한다. 타이밍 제어부와 전원부는 칩 형태로 제작되어 메인 인쇄회로기판상에 실장된다.
인쇄회로기판(20)상에 실장된 다수의 제1 전자 부품 소자(80) 및 제2 전자 부품 소자(50)은 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이 다수의 테스트 포인트(90)를 이용하여 전기적 특성 및 신호 패턴을 측정한다. 여기서, 제1 전자 부품 소자(80)는 예를 들어 저항, 캐패시터, 다이오드 및 인덕터 중 적어도 어느 하나의 전기 소자이며, 제2 전자 부품 소자(50)는 예를 들어 상기 구동 회로에 제어 신호 및 데이터 중 적어도 어느 하나를 공급하는 타이밍 제어부와 상기 구동 회로에 전원 신호를 공급하는 전원부 중 적어도 어느 하나를 포함하는 집적 소자이다.
테스트 포인트(90)는 프로브(200)를 접속할 수 있도록 넓은 단면을 갖도록 형성된다.
계측기(210)에 연결된 프로브(200)를 테스트 포인트(90)에 접속하여 다수의 제1 전자 부품 소자(80) 및 제2 전자 부품 소자(50)의 테스트를 실시한다. 이러한 테스트를 통해 인쇄 회로 기판(20), 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50)의 불량 여부를 판단한다.
종래, 인쇄 회로 기판(20) 상에 실장된 다수의 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50)의 수가 많아지면 테스트 포인트가 차지하는 면적이 이에 비례하여 증가하므로 인쇄회로기판의 크기가 커진다.
그리고, 테스트 포인트가 각각의 소자의 입출력단에 형성되어 있어 인쇄회로기판(20) 상에 실장된 모든 소자들을 측정하는 데는 많은 시간이 소요되며, 측정된 데이터의 분석시간도 길어진다.
본 발명의 목적은 인쇄회로기판상의 더미 패드를 테스트 포인트로 이용하여 다수의 전기소자 및 디지털 회로 각각의 저항 및 신호의 패턴을 측정 및 분석시간을 줄일 수 있는 액정표시장치 및 이의 테스트 장치 및 이의 테스트 방법을 제공하는 것이다.
또한, 인쇄회로기판상에 테스트 포인트를 제거하여 인쇄회로기판의 크기를 줄일 수 있으므로 액정표시장치 모듈의 박형화 및 경량화를 구현할 수 있다.
상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 액정표시장치는 액정 표시 패널과, 상기 액정 표시 패널을 구동하는 다수의 구동 회로와, 상기 구동 회로에 구동 신호를 공급하는 다수의 전자 부품 소자가 형성되며 다수의 구동 회로 각각과 대응되는 출력 패드군들 형성된 인쇄 회로 기판과, 상기 인쇄 회로 기판의 출력패드군들 사이의 더미 영역에 형성되어 상기 전자 부품 소자의 불량유무를 테스트하는 적어도 하나의 테스트단자들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
구체적으로 상기 테스트 단자들은 상기 전자 부품 소자의 입력단과 테스트 입력라인을 통해 접속되는 테스트 입력 패드와, 상기 전자 부품 소자의 출력단과 테스트 출력 라인을 통해 접속되는 테스트 출력 패드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 전자 부품 소자는 상기 구동 회로에 제어 신호를 공급하는 타이밍 제어부와 상기 구동 회로에 전원 신호를 공급하는 전원부 중 적어도 어느 하나를 포함하는 집적 소자와, 저항, 캐패시터, 다이오드 또는 인덕터 등의 전기 소자 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은 적어도 하나의 전자 부품 소자가 형성되며 다수의 구동 회로 각각과 대응되는 출력패드군들 사이에 적어도 하나의 테스트 단자들이 형성된 인쇄 회로 기판을 마련하는 인쇄 회로 기판 마련단계와, 상기 테스트 단자를 통해 상기 전자 부품 소자 에 테스트 입력 신호를 공급하여 상기 전자 부품 소자로부터의 테스트 출력 신호를 상기 테스트 단자를 통해 검출하는 테스트 신호 검출 단계와, 상기 검출된 테스트 출력 신호를 통해 상기 전자 부품 소자의 불량 유무를 판단하는 전자 부품 소자 불량 판단 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 테스트 신호 검출 단계는 상기 테스트 단자 중 테스트 입력 패드와 상기 전자 부품 소자 사이에 위치하는 테스트 입력라인을 통해 상기 전자 부품 소자에 테스트 입력 신호를 공급하는 단계와, 상기 전자 부품 소자의 출력단과 연결된 테스트 출력 라인을 통해 상기 테스트 단자 중 테스트 출력 패드에 상기 테스트 출력 신호를 공급되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 제2 단계는 상기 테스트 입력 패드에 프로브를 이용하여 상기 테스트 입력 신호를 공급하고 상기 프로브를 이용하여 상기 테스트 출력 패드를 통해 테스트 출력 신호를 공급받는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또는 상기 테스트 신호 검출 단계는 상기 테스트 단자 중 테스트 입/출력패드와 접속되는 커넥터를 마련하는 단계와, 상기 계측수단으로부터의 테스트 입력신호를 상기 커넥터를 통해 상기 테스트 입력 패드에 공급하는 단계와, 상기 커넥터를 통해 상기 테스트 출력 신호를 상기 계측수단에 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 인쇄 회로 기판 마련 단계는 상기 구동 회로에 제어 신호를 공급하는 타이밍 제어부와 상기 구동 회로에 전원 신호를 공급하는 전원부 중 적어도 어느 하나를 포함하는 집적 소자가 실장된 상기 인쇄 회로 기판을 마련하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
더욱이 상기 인쇄 회로 기판 단계는 저항, 캐패시터, 다이오드 및 인덕터 중 적어도 어느 하나가 형성된 상기 인쇄 회로 기판을 마련하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하 도 3 내지 도 9를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명한다.
도 3에 도시된 본 발명에 따른 액정표시장치는 액정 표시 패널(14)과, 액정 표시 패널(14)과 접속된 제1 및 제2 연결수단(40,41)과, 제1 및 제2 연결 수단(40,41)을 통해 액정 표시 패널(14)에 구동 신호를 공급하는 소스 및 게이트 인쇄 회로 기판(20, 21)을 구비한다.
액정 표시 패널(14)은 액정을 사이에 두고 합착되는 상/하부기판(12,10)을 구비한다. 또한, 액정 표시 패널(14)은 데이터라인들(102) 및 게이트라인들(101)의 교차부에 매트릭스 형태로 배치되는 다수개의 액정셀(Clc)을 구비한다. 액정셀(Clc)에 각각 형성된 TFT는 게이트라인(101)으로부터 공급되는 스캔신호에 응답하여 데이터라인들(102)로부터 공급되는 데이터신호를 액정셀(Clc)로 공급한다.
제1 연결 수단(40)은 하부기판(10) 상에 형성된 데이터라인(102)과 접속된다. 제2 연결 수단(41)은 하부기판(10) 상에 형성된 게이트라인(101)과 접속된다. 이러한 제1 및 제2 연결 수단(40, 41)은 액정 표시 패널(14)에 구동 회로가 실장되는 경우 연성 인쇄 회로 기판으로 형성된다. 반면에 액정 표시 패널(14)에 구동 회로가 실장되지 않는 경우, 제1 및 제2 연결 수단(40, 41)은 구동 회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package; TCP)로 형성된다.
게이트 인쇄 회로 기판(21)은 타이밍 제어부 및 전원부 각각에 실장된 게이트 제어신호 및 게이트 전원 신호를 제2 연결수단(41)을 통해 게이트 구동회로에 공급한다.
소스 인쇄 회로 기판(20)에는 타이밍 제어부 및 전원부가 실장된다. 이 타이밍 제어부는 제1 연결수단(40)을 통해 데이터 구동 회로에 R,G,B 데이터와 데이터 제어 신호를 공급한다. 그리고, 전원부는 제1 연결수단(40)을 통해 데이터 구동 회로에 데이터 전원 신호를 공급한다.
이러한 인쇄 회로 기판(20,21)에는 제1 및 제2 연결 수단(40,41)과 접속되는 출력패드군(30)들이 소정 간격으로 이격되어 형성된다. 출력 패드군(30)들은 다수의 구동 회로 각각과 대응된다.
또한, 인쇄 회로 기판(20, 21)에는 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 출력패드군(30)들 사이의 더미 영역에 형성되는 테스트 패드(30)와, 테스트 패드(30)와 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50) 각각과 접속된 테스트 라인(500)이 형성된다.
테스트 패드(30)는 테스트 입력 라인(502)과 접속된 테스트 입력 패드(32)와, 테스트 출력 라인(504)과 접속된 테스트 출력 패드(34)를 구비한다.
테스트 입력 패드(32)는 프로브를 통해 계측수단으로부터의 테스트 입력 신호가 공급된다. 이 테스트 입력 신호는 테스트 입력 패드(32) 및 테스트 입력 라인(502)을 통해 다수의 제1 및 제2 전자 부품 소자(80, 50)각각에 공급된다.
테스트 출력 패드(504)에는 테스트 출력 라인(504)을 통해 다수의 제1 및 제 2 전자 부품 소자(80,50) 각각에서 생성된 테스트 출력 신호가 공급된다. 이 테스트 출력 신호는 프로브를 통해 계측수단에 공급된다.
한편, 상술한 인쇄회로기판(20,21)은 도 6에 도시한 흐름도에 따라 제작된다.
캠(Computer Aided Manufacturing; CAM)공정(K10)에서 다수의 전기소자 및 디지털 소자와 테스트 패드을 연결할 테스트 라인을 설계한다. 이 후, 필름(Film)(K11)공정을 통해 캠공정(K10)에서 설계된 데이터를 기초로 인쇄 회로 기판상에 인쇄될 필름을 제작하고 현상한다. 그리고, 각각의 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50)를 삽입하기 위한 구멍을 형성하는 드릴링(Drilling)공정(K12)을 실시한다.
이후 도전성 금속을 도금하는 도금공정(K13)과 도금이 완료된 인쇄회로기판에 감광필름을 코팅시키는 라미네이팅공정(K14)을 진행하며, 그후 노광(K15), 현상(K16), 박리(K17) 및 애칭공정(K18)을 통해 인쇄 회로 기판에 배선을 형성한다. 형성된 배선은 절연피복이 없는 상태이므로 배선간의 간격이 좁아질 경우 배선간 단락 및 오접속의 문제가 발생되므로 포토 솔더 마스크 공정(K19)을 실시하여 전극간 절연을 시킨다. 그리고 각각의 배선에 각 소자의 부품 번호를 실크인쇄(K20)하여 테스트시 인가될 신호의 전압레벨 및 입출력 방향이 바뀌지 않도록 하는 것이 바람직하다.
이와 같이, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 액정 표시 장치는 인쇄회로기판(20)상에 실장된 다수의 제1 전자 부품 소자(80)의 전기적 특성을 측정하여 정상적 인 동작의 유무를 테스트하게 된다. 측정할 다수의 전자 부품 소자들의 입출력 단자를 테스트 패드(30)와 연결하는 테스트라인(500)을 형성하여 다수의 전자 부품 소자들의 전기적 특성을 동시에 테스트 할 수 있다. 제1 전자 부품 소자(80)는 인가되는 전압에 따라 저항 및 전류등의 전기적 특성이 변화한다.
이때, 인쇄회로기판(20)은 정상적으로 액정표시장치를 동작하기 위해 액정 표시 패널과 연결되는 연결수단(40)의 입력단과 연결되어 형성되는 출력패드군 및 출력라인과 다수의 제1 및 제2 전자 부품 소자(80, 50)의 테스트를 목적으로 형성된 테스트 패드 및 테스트 라인이 서로간에 단락이 발생하지 않도록 다층으로 제작하는 것이 바람직하다.
이를 통해 테스트 입력 패드에 소정의 신호를 인가하여 테스트 출력 패드를 통해 출력되는 신호를 비교하고 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50)의 동작 유무 및 문제점을 확인한다.
도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 7에 도시된 액정 표시 장치는 도 4에 도시된 액정 표시 장치와 대비하여 출력패드군들 사이의 더미 영역에 형성되는 커넥터(150)를 더 구비하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
커넥터(150)는 테스트 라인(500) 및 테스트 패드 중 적어도 어느 하나와 접속된다. 이러한 커넥터(150)는 도 8에 도시된 바와 같이 계측수단(310)으로부터의 테스트 입력 신호를 케이블(302)을 통해 테스트 입력 라인(502)에 공급한다. 그리 고, 커넥터(150)는 테스트 출력 라인(504)으로부터의 테스트 출력 신호를 계측수단(310)에 공급한다. 이러한 커넥터(150)를 통해 전기소자들을 개별적 테스트 하거나 다수의 테스트 대상 전기소자들을 동시에 테스트하여 그 측정 데이터를 저장하거나 출력할 수 있도록 한다.
본 발명에서와 같이 제1 및 제2 전자 부품 소자의 전기적 특성을 측정하기 위해 형성한 테스트 포인트를 제거하고 더미 영역에 테스트 라인과 커넥터를 형성하면 인쇄회로기판의 사이즈를 줄일 수 있으며, 종래보다 테스트를 짧은 시간에 실행 할 수 있다.
또한, 프로그램된 테스트 입력 신호를 입력하여 출력된 테스트 출력 신호를 비교하여 불량 유무를 정량적으로 용이하게 판별 할 수 있도록 한다.
다음은 본 발명에 따른 액정표시장치의 테스트 방법을 도 9를 참조하여 자세히 설명한다.
먼저, 인쇄 회로 기판의 출력 패드군들 사이의 더미 영역에 테스트 입력 패드 및 테스트 출력 패드를 포함하는 테스트 패드가 형성된다(S10). 그리고, 다수의 제1 및 제2 전자 부품 소자 중 적어도 어느 하나의 입출력단 각각과 테스트 패드 사이에 테스트 입력 라인과 테스트 출력 라인을 포함하는 테스트 라인이 형성된다(S20). 이러한 테스트 패드 및 테스트 라인을 이용하여 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50) 중 적어도 어느 하나에 테스트 입력 신호를 공급한다(S30). 여기서, 테스트 입력 신호는 실제 액정표시장치에서 사용되는 제1 및 제2 전자 부품 소자가 동작하는 신호 전압레벨이거나 모듈의 임계 전압을 측정할 수도 있도록 실제 동작 신호 전압레벨보다 높은 전압레벨이다.
그러면, 제1 및 제2 전자 부품 소자는 테스트 입력 신호를 이용하여 생성된 테스트 출력 신호를 테스트 라인 및 테스트 패드를 통해 계측단자에 공급한다(S40). 계측단자는 테스트 입력 신호와 테스트 출력 신호를 비교 및 분석하여 불량유무를 판단한다(S50). 즉, 계측단자는 다수의 제1 전자 부품 소자의 전기적 특성을 측정하여 정상 동작 상태를 확인할 수 있다. 또한, 계측단자는 제2 전자 부품 소자에 입력된 테스트 입력 신호와 제2 전자 부품 소자로부터 출력된 테스트 출력 신호를 측정하여 제2 전자 부품 소자의 동작상태를 확인할 수 있다. 이를 통해 액정 표시 패널 전체에 신호를 인가하기 이전에 구동회로의 불량 상태를 확인하여 고전압 및 이상 신호에 의한 액정 표시 패널의 오동작을 방지할 수 있다.
인가되는 테스트 신호는 액정 표시 패널에 인가되는 화상신호 및 제어신호를 프로그램하여 입력과 대응하는 출력 신호 패턴을 출력함과 동시에 분석하여 테스트 시간을 줄일 수 있다.
한편 테스트 신호를 인가하는 단계 이전에 테스트 패드(30)가 형성된 부분에 테스트 패드 또는 테스트 라인과 접속되는 커넥터(150)를 더 형성하는 단계를 포함한다.
계측수단(310)를 연결할 수 있는 커넥터(150)를 테스트 패드(30)가 형성된 부분에 설치하여 테스트 시간을 줄이고 테스트 결과의 신뢰성을 높일 수 있다.
또한 계측수단(310)에서 각각 다른 제1 및 제2 전자 부품 소자들의 전기특성을 측정하기 위한 테스트 신호를 동시에 발생시켜 다수의 제1 및 제2 전자 부품 소 자(80,50)들의 전기적 특성을 테스트 하는 시간을 줄일 수 있다.
그리고 계측기로부터 프로그램된 신호를 발생시켜 제1 및 제2 전자 부품 소자(80,50)에 인가하면 출력 신호를 용이하게 측정하여 소자의 불량여부를 확인할 수 있다.
한편, 본 발명의 제1 및 제2 실시 예에 따른 액정 표시 장치는 제1 및 제2 연결수단을 인쇄 회로 기판에 부착한 후 테스트하는 것을 예로 들어 설명하였지만 제1 및 제2 연결 수단이 부착되기 전에 인쇄 회로 기판을 테스트할 수도 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 액정표시장치 및 이의 테스트 장치와 이의 테스트 방법은 인쇄회로기판상에 테스트 패드를 형성하고 테스트 할 각각의 제1 및 제2 전자 부품 소자의 입출력단을 테스트 패드에 연결하여 인쇄회로기판의 소형화 및 경량화할 수 있다.
또한 종래의 테스트 포인트가 제거되어 인쇄회로기판 설계에 있어서 배선이 고밀도화 됨에 따른 배선간 단락 및 오접속을 방지 할 수 있다.
그리고, 테스트 포인트가 형성되기 어려운 부분에 실장된 제1 및 제2 전자 부품 소자의 테스트를 진행할 수 있으며, 신속한 테스트 및 분석이 가능하다.
이상에서 상술한 본 발명은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다 할 것이다. 따라서 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정하지 않고 청구범위에 의해 그 권리가 정해져 야 할 것이다.

Claims (15)

  1. 액정 표시 패널과;
    상기 액정 표시 패널을 구동하는 다수의 구동 회로와;
    상기 구동 회로에 구동 신호를 공급하는 다수의 전자 부품 소자가 형성되며 다수의 구동 회로 각각과 대응되는 출력 패드군들이 형성된 인쇄 회로 기판과;
    상기 인쇄 회로 기판의 출력패드군들 사이의 더미 영역에 형성되어 상기 전자 부품 소자의 불량유무를 테스트하는 적어도 하나의 테스트단자들을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 단자들은
    상기 전자 부품 소자의 입력단과 테스트 입력라인을 통해 접속되는 테스트 입력 패드와;
    상기 전자 부품 소자의 출력단과 테스트 출력 라인을 통해 접속되는 테스트 출력 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 테스트 입/출력 패드 및 테스트 입/출력 라인 중 적어도 어느 하나와 접속되는 커넥터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 전자 부품 소자는
    상기 구동 회로에 제어 신호를 공급하는 타이밍 제어부와 상기 구동 회로에 전원 신호를 공급하는 전원부 중 적어도 어느 하나를 포함하는 집적 소자와;
    저항, 캐패시터, 다이오드 또는 인덕터 등의 전기 소자 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  5. 다수의 구동 회로에 구동 신호를 공급하는 다수의 전자 부품 소자가 형성되며 다수의 구동 회로 각각과 대응되는 출력 패드군들 형성된 인쇄 회로 기판과;
    상기 인쇄 회로 기판의 출력패드군들 사이의 더미 영역에 형성되어 상기 전자 부품 소자의 불량유무를 테스트하는 적어도 하나의 테스트단자들과;
    상기 테스트 단자들에 테스트 신호를 공급하는 신호공급부와;
    상기 신호공급부를 통해 입출력되는 테스트 신호를 비교 및 분석하는 계측수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 테스트 단자들은
    상기 전자 부품 소자의 입력단과 테스트 입력라인을 통해 접속되는 테스트 입력 패드와;
    상기 전자 부품 소자의 출력단과 테스트 출력 라인을 통해 접속되는 테스트 출력 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 신호 공급부는 상기 테스트 입력 패드에 테스트 입력 신호를 공급하며 상기 테스트 출력 단자를 통해 상기 전자 부품 소자로부터의 테스트 출력 신호를 공급받는 프로브인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 테스트 단자는
    상기 전자 부품 소자의 입/출력단과 테스트 입/출력라인을 통해 접속되는 커넥터인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 신호 공급부는 상기 계측수단과 상기 커넥터를 사이에 형성되어 상기 테스트 입/출력패드에 테스트 입력 신호 및 출력 신호를 공급하는 케이블인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트장치.
  10. 적어도 하나의 전자 부품 소자가 형성되며 다수의 구동 회로 각각과 대응되는 출력패드군들 사이에 적어도 하나의 테스트 단자들이 형성된 인쇄 회로 기판을 마련하는 인쇄 회로 기판 마련단계와;
    상기 테스트 단자를 통해 상기 전자 부품 소자에 테스트 입력 신호를 공급하여 상기 전자 부품 소자로부터의 테스트 출력 신호를 상기 테스트 단자를 통해 검출하는 테스트 신호 검출 단계와;
    상기 검출된 테스트 출력 신호를 통해 상기 전자 부품 소자의 불량 유무를 판단하는 전자 부품 소자 불량 판단 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 테스트 신호 검출 단계는
    상기 테스트 단자 중 테스트 입력 패드와 상기 전자 부품 소자 사이에 위치하는 테스트 입력라인을 통해 상기 전자 부품 소자에 테스트 입력 신호를 공급하는 단계와;
    상기 전자 부품 소자의 출력단과 연결된 테스트 출력 라인을 통해 상기 테스트 단자 중 테스트 출력 패드에 상기 테스트 출력 신호를 공급되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 테스트 신호 검출 단계는
    상기 테스트 입력 패드에 프로브를 이용하여 상기 테스트 입력 신호를 공급 하고 상기 프로브를 이용하여 상기 테스트 출력 패드를 통해 테스트 출력 신호를 공급받는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트방법.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 테스트 신호 검출 단계는
    상기 테스트 단자 중 테스트 입/출력패드와 접속되는 커넥터를 마련하는 단계와;
    상기 계측수단으로부터의 테스트 입력신호를 상기 커넥터를 통해 상기 테스트 입력 단자에 공급하는 단계와;
    상기 커넥터를 통해 상기 테스트 출력 신호를 상기 계측수단에 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트방법.
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 인쇄 회로 기판 마련 단계는
    상기 구동 회로에 제어 신호를 공급하는 타이밍 제어부와 상기 구동 회로에 전원 신호를 공급하는 전원부 중 적어도 어느 하나를 포함하는 집적 소자가 실장된 상기 인쇄 회로 기판을 마련하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 인쇄 회로 기판 마련 단계는
    저항, 캐패시터, 다이오드 및 인덕터 중 적어도 어느 하나가 형성된 상기 인쇄 회로 기판을 마련하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트방법.
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