KR20140132001A - 시퀀서 아날로그 출력 유닛 - Google Patents

시퀀서 아날로그 출력 유닛 Download PDF

Info

Publication number
KR20140132001A
KR20140132001A KR1020147028001A KR20147028001A KR20140132001A KR 20140132001 A KR20140132001 A KR 20140132001A KR 1020147028001 A KR1020147028001 A KR 1020147028001A KR 20147028001 A KR20147028001 A KR 20147028001A KR 20140132001 A KR20140132001 A KR 20140132001A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
current
output
analog
load
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
KR1020147028001A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101671087B1 (ko
Inventor
마사타카 와타히키
마사루 호시카와
시게아키 다카세
Original Assignee
미쓰비시덴키 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 filed Critical 미쓰비시덴키 가부시키가이샤
Publication of KR20140132001A publication Critical patent/KR20140132001A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101671087B1 publication Critical patent/KR101671087B1/ko
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Program-control systems
    • G05B19/02—Program-control systems electric
    • G05B19/04—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/048—Monitoring; Safety
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Program-control systems
    • G05B19/02—Program-control systems electric
    • G05B19/04—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Program-control systems
    • G05B19/02—Program-control systems electric
    • G05B19/04—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
    • G05B19/058—Safety, monitoring

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Programmable Controllers (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Abstract

부하를 아날로그 전류 신호로 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 출력 배선의 단선 발생이나 과전류 출력 등의 이상 발생을 검출하기 위한 구성으로서, 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 있어서, 상기 아날로그 전류 신호를 출력하는 전류 출력 회로의 전류 출력단에 상기 부하로 출력하는 아날로그 전류를 직접 검출하는 전류 검출 저항기를 마련하고, 상기 전류 검출 저항기의 양단 전압을 감시하는 감시 회로와, 상기 감시 회로의 감시 결과에 기초하여 단선 또는 과전류의 발생 유무를 판별할 수 있는 이상 검출 회로를 구비했다.

Description

시퀀서 아날로그 출력 유닛{SEQUENCER ANALOG OUTPUT UNIT}
본 발명은 밸브 등의 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 관한 것이다.
시퀀서 아날로그 출력 유닛의 부하 제어 방식에는, 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 방식의 것과, 부하를 아날로그 전압 신호에 의해서 제어하는 방식의 것이 있고, 이하와 같은 득실이 있다.
아날로그 전류 신호는, 노이즈에 강하고, 도중에서 분기(分岐)를 하지 않는 제어 루프 내이면, 어느 위치에서도 전류치는 같으므로, 원거리의 부하라도 정확하게 제어 가능하다. 단, 전류 제어이기 때문에, 전류의 소비가 많다.
그에 반하여 아날로그 전압 신호는, 노이즈에 약하고, 전선이나 단자의 저항 성분에 의해 전압 강하가 일어나 버리므로, 원거리의 부하는 정확하게 제어할 수 없다. 단, 전압 제어이기 때문에, 전류의 소비는 적다.
그런데, 고신뢰성이 요구되는 시퀀서 시스템에서 사용되는 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 있어서는, 출력 배선의 단선이나 출력 회로의 단락 등의 이상 발생을 검출할 수 있는 것이 필요하다. 이 점에 관해, 부하를 아날로그 전압 신호에 의해서 제어하는 방식의 시퀀서 아날로그 출력 유닛에서는, 이상 발생을 검출하는 기술이 알려져 있다(예를 들면 특허 문헌 1 참조).
특허 문헌 1: 일본국 특개 2009－301418호 공보
그러나 부하를 아날로그 전류 신호에 의해 제어하는 방식의 시퀀서 아날로그 출력 유닛에서는, 전류 출력 회로의 구성상, 유닛 자체에 있어서 출력 배선의 단선이나 전류 출력 회로의 단락에 의한 과전류 출력 등의 이상 발생을 검출하는 기술은 알려지지 않고, 종래에는, 출력 배선이 단선되었을 때는 신호를 수신하는 측인 상대측 기기(유저)에 있어서 그 단선 발생을 검출하여 조치하는 방법이 일반적이었다.
그 때문에, 시퀀서 시스템의 신뢰성을 향상시키기 위해서, 신호의 송신측인 부하를 아날로그 전류 신호에 의해 제어하는 방식의 시퀀서 아날로그 출력 유닛 자체에 있어서 이상 발생을 검지할 수 있는 것이 희망되고 있다.
본 발명은 상기를 감안하여 이루어진 것으로, 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 출력 배선의 단선 발생이나 과전류 출력 등의 이상 발생을 검출 가능하게 하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛을 얻는 것을 목적으로 한다.
상술한 과제를 해결하여 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 있어서, 상기 아날로그 전류 신호를 출력하는 전류 출력 회로의 전류 출력단에 상기 부하로 출력하는 아날로그 전류를 직접 검출하기 위한 전류 검출 저항기를 마련하여, 상기 전류 검출 저항기의 양단 전압을 감시하는 감시 회로와, 상기 감시 회로의 감시 결과에 기초하여 단선 또는 과전류의 발생 유무를 판별할 수 있는 이상 검출 회로를 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 출력 배선의 단선이나 과전류 출력 등의 이상 발생을 검출할 수 있으므로, 당해 시퀀서 아날로그 출력 유닛을 사용하는 시퀀서 시스템의 신뢰성을 향상시킬 수 있다고 하는 효과를 달성한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 의한 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 있어서의 전류 출력 회로의 이상 검출 시스템의 구성을 나타내는 회로도이다.
도 2는 비교예로서 나타내는 일반적인 전류 출력 회로에서의 이상 검출 방법을 설명하는 회로도이다.
도 3은 도 2에 도시된 전류 출력 회로를 복수 채널분 마련했을 경우의 문제점을 설명하는 도면이다.
도 4는 복수 채널 구성의 시퀀서 아날로그 출력 유닛에서 이용하는 전류 출력 회로의 회로도이다.
이하에, 본 발명에 따른 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 실시 형태를 도면에 기초하여 상세하게 설명한다. 또한, 이 실시 형태에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다.
실시 형태.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 의한 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 전류 출력 회로에 있어서의 이상 검출 시스템의 구성을 나타내는 회로도이다.
도 1에 있어서, 본 실시 형태에 의한 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 전류 출력 회로(1)는, 부하로의 전류 IL을 출력하기 위한 트랜지스터(2)와, 출력 전류 IL을 검출하기 위한 전류 검출 저항기(3)와, 트랜지스터(2)를 제어하는 증폭기(4)를 구비하고 있다.
트랜지스터(2)는 컬렉터 단자가 전원(5)에 접속되고, 이미터 단자가 전류 검출 저항기(3)의 일단에 접속되고, 베이스 단자가 증폭기(4)의 출력단에 접속되어 있다. 전류 검출 저항기(3)의 타단은 밸브 등 제어 대상(부하)을 나타내는 부하 저항기(6)의 일단에 접속되고, 부하 저항기(6)의 타단은 회로 그라운드에 접속되어 있다. 또, 증폭기(4)의 한쪽 입력단(＋)에 입력 단자(7)로부터 제어 전압이 인가되고, 다른 쪽 입력단(－)에 부하 저항기(5)가 형성하는 전압이 귀환 전압(feedback voltage)으로서 인가된다.
이 구성에 의해, 전류 출력 회로(1)로부터 부하(부하 저항기(6))로 아날로그 전류 신호(출력 전류 IL)가 입력 단자(7)로부터 트랜지스터(2)의 베이스 단자에 입력되는 제어 전압에 추종하도록 공급된다. 이 전류 출력 회로(1)에 있어서의 이상 검출 시스템은, 차동 회로(11)와 단선 판별 회로(12)와 과전류 판별 회로(13)와 기준 전압 제어부(14)를 구비하고 있다.
차동 회로(11)는 전류 검출 저항기(3)의 양단 전압을 감시하는 회로로서, 트랜지스터(2)의 이미터 단자와 전류 검출 저항기(3)의 일단의 접속단 a의 전압 Va와, 전류 검출 저항기(3)의 타단과 부하 저항기(6)의 일단의 접속단 b의 전압 Vb의 비교 판별을 행하여, 그 판별 결과인 차동 전압 Vc를 병렬로 단선 판별 회로(12)와 과전류 판별 회로(13)에 출력한다.
단선 판별 회로(12)는, 비교 회로(16)와 트랜지스터(17)와 기준 전압원(18)을 구비하고 있다. 비교 회로(16)의 마이너스 입력단(－)에는 차동 전압 Vc가 입력된다. 기준 전압원(18)은 비교 회로(16)의 플러스 입력단(＋)과 회로 그라운드의 사이에 마련되어 있다. 트랜지스터(17)는 베이스 단자가 비교 회로(16)의 출력단에 접속되고, 컬렉터 단자가 저항기(19)를 통해서 전원(5)에 접속되고, 이미터 단자가 회로 그라운드에 접속되어 있다. 단선 판별 회로(12)의 출력 단자(20)는, 트랜지스터(17)의 컬렉터 단자로부터 인출되어 있다.
과전류 판별 회로(13)는 단선 판별 회로(12)와 같은 회로 구성이며, 비교 회로(22)와 트랜지스터(23)와 기준 전압원(24)을 구비하고 있다. 비교 회로(22)의 플러스 입력단(＋)에는 차동 전압 Vc가 입력된다. 기준 전압원(24)은 비교 회로(22)의 마이너스 입력단(－)과 회로 그라운드의 사이에 마련되어 있다. 트랜지스터(23)는 베이스 단자가 비교 회로(22)의 출력단에 접속되고, 컬렉터 단자가 저항기(25)를 통해서 전원(5)에 접속되고, 이미터 단자가 회로 그라운드에 접속되어 있다. 과전류 판별 회로(13)의 출력 단자(26)는, 트랜지스터(23)의 컬렉터 단자로부터 인출되어 있다.
기준 전압 제어부(14)는, 단선 판별 회로(12)에 있어서의 기준 전압원(18)의 기준 전압 Vref1과, 과전류 판별 회로(13)에 있어서의 기준 전압원(24)의 기준 전압 Vref2를 개별로 제어한다. 기준 전압 제어부(14)는 기준 전압 Vref1, Vref2를 프로그램 제어에 의해 설정 변경할 수 있도록, 예를 들면 MPU(마이크로컴퓨터)로 구성할 수 있다.
다음으로, 본 실시 형태에 관한 이상 검출 동작에 대해 설명한다.
＜단선 검출 동작＞
통상, 부하에 아날로그 전류를 출력하고 있을 때는, 전류 검출 저항기(3)와 부하 저항기(6)에 부하 전류 IL이 흐르고 있다. 차동 회로(11)에서는, 전류 검출 저항기(3)에 흐르는 부하 전류 IL을 접속단 a의 전위 Va와, 접속단 b의 전위 Vb의 차동 전압 Vc로서 검출하고 있다. 차동 전압 Vc는 Vc=Va－Vb에 의해 계산할 수 있다.
단선 판별 회로(12)에서는, 차동 전압 Vc와 기준 전압 Vref1을 비교하여, Vc＜Vref1이면, 출력 단자(20)를 "H" 레벨로 하고, 단선 발생이라고 판단하고 있다. 예를 들면, 전류 검출 저항기(3)의 저항값을 100Ω이라고 하고, 기준 전압 Vref를 0.1V라고 가정하고, 부하 저항기(6)로 이어지는 플러스(＋) 측의 배선이 단선되었다고 한다. 이때, 전류 검출 저항기(3)에는 전류가 흐르지 않게 되어, 접속단 a의 전위 Va와 접속단 b의 전위 Vb는 동전위가 된다. 따라서 Vc=0이며, Vref1=0.1V이기 때문에, Vc＜Vref1이 되어 단선 발생을 판단할 수 있어, 출력 단자(20)를 "H" 레벨로 한다.
상기 예는, 배선이 완전하게 단선되었을 경우의 동작이지만, 예를 들면 유저가 2mA의 부하 전류 IL에서 단선 발생이라고 판단하게 하고 싶다고 했을 경우, 기준 전압 제어부(14)로부터 기준 전압 Vref1을 제어하여, 0.2V로 설정함으로써 실현할 수 있다. 이와 같이, 유저가 희망하는 판정치로 단선 발생을 판단하게 하는 것도 가능하다.
＜과전류 검출 동작＞
과전류 검출 동작은, 단선 검출 동작과 마찬가지로 차동 회로(11)에서 검출된 차동 전압 Vc를 이용한다. 즉, 과전류 판별 회로(13)에서, 차동 전압 Vc와 기준 전압 Vref2를 비교하여, Vc＞Vref2이면, 출력 단자(26)를 "H" 레벨로 하고, 과전류 발생이라고 판단하고 있다.
예를 들면, 전류 출력 회로(1)의 트랜지스터(2)가 쇼트 고장을 일으켰다고 한다. 이때에는, 전류 검출 저항기(3) 및 부하 저항기(6)에는 과전류가 흐를 가능성이 있다. 예를 들면, 전류 출력 회로(1)가 통상 출력으로서 20mA를 출력하고 있던 것이, 30mA(과전류) 흘렀다고 하면, 그때의 접속단 a와 접속단 b 사이의 차동 전압 Vc는, 플러스 10mA 만큼의 과전압이 발생한 것이 된다.
또, 유저가 임의의 판정치로 과전류 발생이라고 판단하게 하고 싶다고 했을 경우, 기준 전압 제어부(14)로부터 기준 전압 Vref2를 제어함으로써, 유저가 희망하는 판정치로 과전류 발생을 판단하게 하는 것이 가능하다.
이상과 같이, 본 실시 형태에 의하면, 부하를 아날로그 전류 신호에 의해 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 출력 배선의 단선이나 과전류 출력이라고 하는 이상 발생의 검출이 가능해지고, 또한, 유저의 사용 환경에 맞춘 이상 검출을 행하는 것이 가능해진다.
다음으로, 도 2~도 4를 참조하여 본 실시 형태의 의의에 대해 설명한다. 또한, 도 2는, 비교예로서 나타내는 일반적인 전류 출력 회로에서의 이상 검출 방법을 설명하는 회로도이다. 도 3은 도 2에 도시된 전류 출력 회로를 복수 채널분 마련했을 경우의 문제점을 설명하는 도면이다. 도 4는 복수 채널 구성의 시퀀서 아날로그 출력 유닛에서 이용하는 전류 출력 회로의 회로도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 일반적인 전류 출력 회로(30)는 전원(5)에 컬렉터 단자가 접속되는 트랜지스터(31)와, 트랜지스터(31)의 이미터 단자에 일단이 접속되는 부하 저항기(32)와, 증폭기(33)를 구비하고 있다. 증폭기(33)는 입력 단자(34)에 인가되는 제어 전압이 한쪽 입력단(＋)에 입력되고, 다른 쪽 입력단(－)에 부하 저항기(32)에 의해 생성된 귀환 전압이 입력되며, 출력단이 트랜지스터(31)의 베이스 단자에 접속된다.
이 전류 출력 회로(30)에서는, 부하 저항기(32)의 타단과 회로 그라운드의 사이에 전류 검출 저항기(35)를 마련하여, 부하 저항기(32)의 타단과 전류 검출 저항기(35)의 접속단에 이상 검출 회로(36)를 접속하면, 단선이나 과전류 출력의 검출을 행할 수 있다.
그러나 시퀀서 아날로그 출력 유닛은 통상 복수 채널 분의 전류 출력 회로를 구비하므로, 예를 들면 도 3에 도시된 바와 같이, 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 2개의 전류 출력 회로(30a, 30b)가 있고, 이들 출력 배선에 연결되는 부하 저항기(32a, 32b)가 하나의 상대측 기기(33)에 배치되어 있는 경우에, 그 상대측 기기(33)에 있어서 부하 저항기(32a, 32b)의 마이너스측이 공통으로 대지(大地)에 어스되어 버리는 경우가 있다.
이러한 경우, 예를 들면 채널＃1의 전류 출력 회로(30a)로의 귀환 전류는, 그라운드가 공통이므로, 채널＃2의 전류 출력 회로(30b)로의 귀환 전류와 간섭된 후, 전류 검출 저항기(35a)에 흐르게 되어, 전류 출력 회로(30a, 30b)에서는, 각각 정확하게 전류를 출력할 수 없을 수도 있다.
그 때문에, 종래에는, 복수 채널 구성의 시퀀서 아날로그 출력 유닛에서의 전류 출력 회로에는, 도 2에 도시된 일반적인 구성의 것은 채용할 수 없었고, 부하 저항기가 상대측 기기에 있어서 접지되어도 지장없도록 하기 위해서, 도 2에 있어서, 부하 저항기(32)와 전류 검출 저항기(35)를 바꿔 넣은 도 4에 도시된 회로 구성을 채용하고 있다. 즉, 도 1에 도시된 전류 출력 회로(1)가 채용되어 있다.
그러나 도 1에 도시된 전류 출력 회로(1)의 구성에서는, 단선이나 과전류 출력의 검출을 행하는 경우에, 전류 검출 저항기(3)의 한쪽 편이 그라운드에 접속되어 있지 않기 때문에, 양단의 전위는 부하 저항기(6)의 값의 크기나 출력 전류 IL의 크기에 의해서 변동해 버려, 단선 발생이나 과전류 출력 발생을 검출하는 것이 어렵다. 그 때문에, 종래에는, 단선 발생의 검출은 상대측 기기에서 행하고 있었으므로, 개선이 요구되고 있었다.
본 실시 형태에서는, 전류 검출 저항기(3)의 양단 전위는, 부하 저항기(6)나 출력 전류 IL의 값에 의해서 변동한다고 하더라도, 단선 발생이나 과전류 출력 발생에 대응한 전위를 나타내는 점에 주목해 이상 검출 시스템을 도 1에 도시된 바와 같이 구성하여, 출력 유닛 자체에 있어서 이상 검출이 행해지도록 했다.
[산업상의 이용 가능성]
이상과 같이, 본 발명에 따른 시퀀서 아날로그 출력 유닛은, 부하를 아날로그 전류 신호로 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛의 출력 배선의 단선 발생이나 과전류 출력 등의 이상 발생을 검출할 수 있으므로, 사용하는 시퀀서 시스템의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 시퀀서 아날로그 출력 유닛으로서 유용하다.
1: 전류 출력 회로
2, 17, 23 트라지스터
3: 전류 검출 저항기
4: 증폭기
5: 전원
6: 부하(제어 대상)를 나타내는 부하 저항기
7: 입력 단자
11: 차동 회로(감시 회로)
12: 단선 판별 회로
13: 과전류 판별 회로
14: 기준 전압 제어부
16, 22: 비교 회로
18, 24: 기준 전압원
19, 25: 저항기
20, 26: 출력 단자

Claims (4)

  1. 부하를 아날로그 전류 신호에 의해서 제어하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛에 있어서,
    상기 아날로그 전류 신호를 출력하는 전류 출력 회로의 전류 출력단에 상기 부하로 출력하는 아날로그 전류를 직접 검출하기 위한 전류 검출 저항기를 마련하고,
    상기 전류 검출 저항기의 양단 전압을 감시하는 감시 회로와,
    상기 감시 회로의 감시 결과에 기초하여 단선 또는 과전류의 발생 유무를 판별할 수 있는 이상 검출 회로를 구비한 것을 특징으로 하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 감시 회로는 상기 전류 검출 저항기의 양단 전압의 차동 전압을 출력할 수 있는 차동 회로이고,
    상기 이상 검출 회로는 상기 차동 전압이 판정치 이하인지 여부에 의해 단선 발생 유무를 판별하는 비교 회로로 구성된 단선 판별 회로인 것을 특징으로 하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 감시 회로는 상기 전류 검출 저항기의 양단 전압의 차동 전압을 출력할 수 있는 차동 회로이며,
    상기 이상 검출 회로는 상기 차동 전압이 판정치 이상인지 여부에 의해 과전류 출력 발생 유무를 판별하는 비교 회로로 구성된 과전류 판별 회로인 것을 특징으로 하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛.
  4. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 비교 회로에 있어서 상기 차동 전압과 비교하는 상기 판정치를, 프로그램 제어에 의해 임의로 변경 설정할 수 있는 제어부를 추가로 구비한 것을 특징으로 하는 시퀀서 아날로그 출력 유닛.
KR1020147028001A 2012-04-09 2012-04-09 시퀀서 아날로그 출력 유닛 Expired - Fee Related KR101671087B1 (ko)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2012/059696 WO2013153599A1 (ja) 2012-04-09 2012-04-09 シーケンサアナログ出力ユニット

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140132001A true KR20140132001A (ko) 2014-11-14
KR101671087B1 KR101671087B1 (ko) 2016-11-09

Family

ID=49327209

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147028001A Expired - Fee Related KR101671087B1 (ko) 2012-04-09 2012-04-09 시퀀서 아날로그 출력 유닛

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9470723B2 (ko)
JP (1) JP5952388B2 (ko)
KR (1) KR101671087B1 (ko)
CN (1) CN104204974B (ko)
DE (1) DE112012006209B4 (ko)
TW (1) TWI498686B (ko)
WO (1) WO2013153599A1 (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103955161B (zh) * 2014-05-14 2016-12-07 华为技术有限公司 一种监控电路及电子设备
CN104535887B (zh) * 2015-01-23 2018-01-12 浙江中控技术股份有限公司 一种开关量输出回路断线诊断系统和开关量输出模块
KR101649704B1 (ko) * 2015-07-28 2016-08-19 엘에스산전 주식회사 디지털 보호 계전기의 전원 감시장치
JP6705732B2 (ja) * 2016-10-24 2020-06-03 株式会社日立製作所 アナログ出力装置
WO2018185973A1 (ja) * 2017-04-04 2018-10-11 株式会社アマダミヤチ レーザ加工監視方法及びレーザ加工監視装置
US10754357B2 (en) * 2018-06-19 2020-08-25 International Business Machines Corporation Optimizing a water recovery system
JP7279460B2 (ja) * 2019-03-27 2023-05-23 株式会社Ｇｓユアサ 電池管理装置、蓄電装置、電池管理方法、及びコンピュータプログラム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001202109A (ja) * 2000-01-20 2001-07-27 Hitachi Ltd プログラマブルコントローラ
JP2006048481A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Omron Corp 信号入力装置
JP2007072908A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Jtekt Corp Ｐｌｃのミューティング装置
JP2007304986A (ja) * 2006-05-12 2007-11-22 Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd 過電流制御回路
JP2009301418A (ja) 2008-06-16 2009-12-24 Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd プログラマブルコントローラ及びプログラマブルコントローラを用いた異常検出方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63155505U (ko) 1987-03-27 1988-10-12
JPH01199213A (ja) 1988-02-03 1989-08-10 Daifuku Co Ltd シーケンサーの出力系故障診断方法
JPH02202797A (ja) * 1989-01-31 1990-08-10 Noritz Corp ２芯遠隔制御装置
JP3021911B2 (ja) * 1992-02-05 2000-03-15 株式会社デンソー リニアソレノイドの駆動装置
JP2857529B2 (ja) * 1992-03-04 1999-02-17 三菱電機株式会社 回路遮断器
JPH10149216A (ja) 1996-11-19 1998-06-02 Toshiba Corp アナログ出力装置
JP2001004690A (ja) 1999-06-24 2001-01-12 Yazaki Corp 負荷断線検出装置
JP2001033507A (ja) 1999-07-23 2001-02-09 Hitachi Ltd 断線検出回路
JP3798378B2 (ja) * 2003-03-10 2006-07-19 三菱電機株式会社 誘導性負荷の電流制御装置
TWI238891B (en) * 2004-01-08 2005-09-01 Delta Electronics Inc Battery ground fault detecting circuit
US20050243491A1 (en) * 2004-04-28 2005-11-03 James Tanis Multi-function power monitor and circuit protector
JP5247824B2 (ja) * 2008-12-26 2013-07-24 三菱電機株式会社 アナログ電流出力回路
JP2012032359A (ja) 2010-08-03 2012-02-16 Honda Motor Co Ltd 配線状態検出回路及び制御装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001202109A (ja) * 2000-01-20 2001-07-27 Hitachi Ltd プログラマブルコントローラ
JP2006048481A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Omron Corp 信号入力装置
JP2007072908A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Jtekt Corp Ｐｌｃのミューティング装置
JP2007304986A (ja) * 2006-05-12 2007-11-22 Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd 過電流制御回路
JP2009301418A (ja) 2008-06-16 2009-12-24 Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd プログラマブルコントローラ及びプログラマブルコントローラを用いた異常検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201341993A (zh) 2013-10-16
DE112012006209T5 (de) 2015-01-08
CN104204974A (zh) 2014-12-10
US9470723B2 (en) 2016-10-18
TWI498686B (zh) 2015-09-01
CN104204974B (zh) 2018-06-08
US20150077132A1 (en) 2015-03-19
WO2013153599A1 (ja) 2013-10-17
KR101671087B1 (ko) 2016-11-09
JP5952388B2 (ja) 2016-07-13
JPWO2013153599A1 (ja) 2015-12-17
DE112012006209B4 (de) 2017-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101671087B1 (ko) 시퀀서 아날로그 출력 유닛
US10508942B2 (en) Thermal flow meter
JP4296811B2 (ja) 物理量センサ装置
US7705741B2 (en) Detection of a broken wire between power sourcing equipment and a powered device
US10579085B2 (en) Power distribution unit and fault detecting method
JP4849094B2 (ja) 地絡検出回路
JP2014091495A (ja) 短絡検知回路
US11131720B2 (en) Electronic control device
US10746808B2 (en) Electric leakage detection device
KR101253035B1 (ko) 전류 감지 장치
JP4743135B2 (ja) 検出システム
CN108369252B (zh) 电子设备
JP5989171B1 (ja) 電流検出回路、及びその回路を備えた車両用電子制御装置
JP2015175759A (ja) 電流測定装置
US11068008B2 (en) Supply circuit
CN105556255A (zh) 用于对至少一个传感器设备的故障检测和/或标识的设备
JP6797035B2 (ja) 磁気センサ及び磁気センサ装置
KR101997360B1 (ko) 인덕티브 센서의 단선 검출 장치
JP2006349466A (ja) 温度検出装置
JP4710848B2 (ja) 検出システム
US20230417844A1 (en) Disconnection detection device and control device
JP2013186721A (ja) 電源回路とそれを用いた電子制御装置
CN104901667A (zh) 二线制技术的电子开关装置和运行这种开关装置的方法
WO2018149469A1 (en) Hvdc system and method for electrical shock prevention
JP2018141662A (ja) 検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
AMND Amendment
E13-X000 Pre-grant limitation requested

St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

PA0105 International application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A15-nap-PA0105

PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

St.27 status event code: N-2-6-B10-B15-exm-PE0601

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

AMND Amendment
P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

PX0901 Re-examination

St.27 status event code: A-2-3-E10-E12-rex-PX0901

PX0701 Decision of registration after re-examination

St.27 status event code: A-3-4-F10-F13-rex-PX0701

X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U12-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 4

P22-X000 Classification modified

St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 5

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903

Not in force date: 20211026

Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903

Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

Not in force date: 20211026