KR20170051297A - 노광 장치용 노광 헤드 및 노광 장치용 투영 광학계 - Google Patents
노광 장치용 노광 헤드 및 노광 장치용 투영 광학계 Download PDFInfo
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Abstract
노광 장치에서, 각각 분할 미러와 가이드 미러로 구성된 평행 평면의 조(組)인 6개의 미러 쌍을 갖춘 화상 분할 광학계(30)가, DMD(22)로부터의 패턴 상을 DMD(22)의 분할 영역(DM1~DM6)에 따라 6분할해, 6개의 분할 패턴 상(DA1~DA6)을 주주사 방향(X), 부주사 방향(Y)에 따라 서로 떨어지도록 투영 위치를 이동시킨다.
Description
도 2는 노광 헤드의 내부 구성을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 DMD에서의 패턴 상의 분할 영역을 나타낸 도면이다.
도 4는 기판의 노광면에 투영되는 6개의 분할 패턴 상의 위치를 나타낸 도면이다.
도 5는 중심측 분할 영역에 따른 미러 쌍의 배치를 나타낸 도면이다.
도 6은 중간 분할 영역에 따른 미러 쌍의 배치를 나타낸 도면이다.
도 7은 외측 분할 영역에 따른 미러 쌍의 배치를 나타낸 도면이다.
도 8은 분할 미러의 공역면에 대한 배치를 나타낸 도면이다.
도 9는 분할 미러의 배치 각도를 나타낸 도면이다.
도 10은 3개의 분할 미러 및 가이드 미러의 배치 관계를 나타낸 도면이다.
도 11은 3개의 분할 미러를 나타낸 사시도이다.
도 12는 가이드 미러의 배치를 나타낸 도면이다.
도 13은 묘화 장치에 설치된 묘화 제어부의 블록도이다.
도 14는 홀수로 분할할 때의 DMD에서의 분할 영역을 나타낸 도면이다.
22: DMD(광변조 소자 어레이)
24: 투영 광학계
25: 제1 결상 광학계(제1 광학계)
26: 제2 결상 광학계(제2 광학계)
30: 화상 분할 광학계
32, 34, 36: 미러 쌍
32A, 34A, 36A 분할 미러
32B, 34B, 36B 가이드 미러
Claims (10)
- 복수의 광변조 소자를 2차원 배열시킨 광변조 소자 어레이와,
상기 광변조 소자 어레이에서 반사한 광을, 피묘화체의 노광면에 결상시키는 투영 광학계를 갖추고,
상기 투영 광학계가,
상기 광변조 소자 어레이로부터의 패턴 상의 광을, 제1 결상면에 결상시키는 제1 광학계와,
분할 영역에 따라 상기 제1 결상면에 형성되는 패턴 상을 분할해, 복수의 분할 패턴 상을 형성하는 복수의 미러 쌍을 가지는 화상 분할 광학계와,
상기 복수의 분할 패턴 상의 광을 상기 노광면에 결상시키는 제2 광학계를 가지고,
상기 복수의 미러 쌍 각각이, 제1 결상면과 교차하도록 배치되는 분할 미러와, 상기 분할 미러와 평행이며 상기 분할 미러로부터의 광을 상기 제2 광학계로 유도하는 가이드 미러를 가지고,
복수의 분할 미러가, 복수의 분할 패턴 상이 주주사 방향 및 부주사 방향에 따라 서로 떨어져 투영되도록, 제1 결상면에 대해 각각 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항에 있어서,
상기 복수의 분할 미러가, 복수의 분할 패턴 상이 노광면에서 링 상으로 투영되도록, 각각 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항에 있어서,
상기 복수의 분할 미러가, 노광면 투영 중심에 따라 규정되는 4개의 상한 내 각각에 적어도 1개의 분할 패턴이 노광면에 투영하도록, 각각 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
중심측에 위치하는 중심측 분할 미러가, 노광면 투영 중심으로부터의 거리가 주주사 방향보다 부주사 방향에 따라 떨어진 위치에 분할 패턴 상이 투영되도록, 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 중심측 분할 미러와 인접하는 분할 미러가, 노광면 투영 중심으로부터의 거리가 부주사 방향보다 주주사 방향에 따라 떨어진 위치에 분할 패턴 상이 투영되도록, 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 분할 미러가, 패턴 상의 일방의 절반의 영역에 따른 분할 패턴 상과, 타방의 절반의 영역에 따른 분할 패턴 상이 노광면 투영 중심에 관해 점대칭적 관계가 되도록, 각각 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제6항에 있어서,
상기 복수의 가이드 미러가, 상기 복수의 분할 미러로부터 노광면까지의 각각의 광로 길이가 동일해지도록, 제1 결상면 수직 방향에 따라 그 중심이 같은 위치에 배치되고 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 분할 미러가, 제1 결상면에 대해, 상기 투영 광학계의 초점 심도에 따른 각도로 경사져 있는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 노광 헤드. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재된 노광 장치용 노광 헤드를 갖추는 것을 특징으로 하는 노광 장치.
- 복수의 광변조 소자를 2차원 배열시킨 광변조 소자 어레이로부터의 패턴 상의 광을, 제1 결상면에 결상시키는 제1 결상 광학계와,
분할 영역에 따라 상기 제1 결상면에 형성되는 패턴 상을 제1 결상면 근방에서 적어도 4개로 분할 함으로써, 적어도 4개의 분할 패턴 상을 형성하는 화상 분할 광학계와,
적어도 4개의 분할 패턴 상의 광을 상기 노광면에 결상시키는 제2 결상 광학계를 갖추고,
상기 화상 분할 광학계가, 복수의 분할 패턴 상이 주주사 방향 및 부주사 방향에 따라 서로 떨어져 투영되도록, 적어도 4개의 분할 패턴 상을 형성하는 것을 특징으로 하는 노광 장치용 투영 광학계.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015212606A JP6590638B2 (ja) | 2015-10-29 | 2015-10-29 | 露光装置用露光ヘッドおよび露光装置用投影光学系 |
| JPJP-P-2015-212606 | 2015-10-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20170051297A true KR20170051297A (ko) | 2017-05-11 |
| KR102439363B1 KR102439363B1 (ko) | 2022-09-02 |
Family
ID=58713075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020160139879A Active KR102439363B1 (ko) | 2015-10-29 | 2016-10-26 | 노광 장치용 노광 헤드 및 노광 장치용 투영 광학계 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6590638B2 (ko) |
| KR (1) | KR102439363B1 (ko) |
| CN (1) | CN106873311B (ko) |
| TW (1) | TWI707159B (ko) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019079029A (ja) * | 2017-10-24 | 2019-05-23 | キヤノン株式会社 | 露光装置および物品の製造方法 |
| WO2019082727A1 (ja) * | 2017-10-24 | 2019-05-02 | キヤノン株式会社 | 露光装置および物品の製造方法 |
| CN108312505A (zh) * | 2018-02-05 | 2018-07-24 | 中山新诺科技股份有限公司 | 一种dmd扫描成像的3d成型装置及方法 |
| JP7169480B1 (ja) * | 2022-06-24 | 2022-11-10 | 株式会社オーク製作所 | 露光装置用露光ヘッドおよび露光装置 |
| CN116125754A (zh) * | 2022-11-30 | 2023-05-16 | 深圳光迪科技有限公司 | 一种实现dmd多路复用的分区同时直写曝光系统 |
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| JP2012247711A (ja) | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Orc Manufacturing Co Ltd | 露光装置 |
| JP2014092707A (ja) | 2012-11-05 | 2014-05-19 | Orc Manufacturing Co Ltd | 露光装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5373137A (en) * | 1994-01-28 | 1994-12-13 | Litton Systems, Inc. | Multiple-line laser writing apparatus and method |
-
2015
- 2015-10-29 JP JP2015212606A patent/JP6590638B2/ja active Active
-
2016
- 2016-10-14 TW TW105133179A patent/TWI707159B/zh active
- 2016-10-26 KR KR1020160139879A patent/KR102439363B1/ko active Active
- 2016-10-28 CN CN201610971760.6A patent/CN106873311B/zh active Active
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| JP2012247711A (ja) | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Orc Manufacturing Co Ltd | 露光装置 |
| JP2014092707A (ja) | 2012-11-05 | 2014-05-19 | Orc Manufacturing Co Ltd | 露光装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6590638B2 (ja) | 2019-10-16 |
| TW201719231A (zh) | 2017-06-01 |
| KR102439363B1 (ko) | 2022-09-02 |
| CN106873311A (zh) | 2017-06-20 |
| CN106873311B (zh) | 2020-09-04 |
| TWI707159B (zh) | 2020-10-11 |
| JP2017083676A (ja) | 2017-05-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
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| D14-X000 | Search report completed |
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|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
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St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
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|
| P13-X000 | Application amended |
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|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| U11 | Full renewal or maintenance fee paid |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-4-4-U10-U11-OTH-PR1001 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) Year of fee payment: 4 |