KR20170108703A - 전자부품 테스트용 핸들러 - Google Patents

전자부품 테스트용 핸들러 Download PDF

Info

Publication number
KR20170108703A
KR20170108703A KR1020160033011A KR20160033011A KR20170108703A KR 20170108703 A KR20170108703 A KR 20170108703A KR 1020160033011 A KR1020160033011 A KR 1020160033011A KR 20160033011 A KR20160033011 A KR 20160033011A KR 20170108703 A KR20170108703 A KR 20170108703A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
loading
electronic components
unloading
test
electronic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
KR1020160033011A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102656451B1 (ko
Inventor
노종기
윤광희
이두길
Original Assignee
(주)테크윙
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)테크윙 filed Critical (주)테크윙
Priority to KR1020160033011A priority Critical patent/KR102656451B1/ko
Priority to CN201910926484.5A priority patent/CN110653174B/zh
Priority to CN201710102266.0A priority patent/CN107199183B/zh
Priority to CN201910925100.8A priority patent/CN110653173B/zh
Priority to CN201910446858.3A priority patent/CN110252685B/zh
Priority to TW106107197A priority patent/TWI611195B/zh
Publication of KR20170108703A publication Critical patent/KR20170108703A/ko
Priority to KR1020230040724A priority patent/KR102726489B1/ko
Priority to KR1020230040717A priority patent/KR102748325B1/ko
Priority to KR1020230040722A priority patent/KR102799768B1/ko
Priority to KR1020240027529A priority patent/KR102932459B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102656451B1 publication Critical patent/KR102656451B1/ko
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3412—Sorting according to other particular properties according to a code applied to the object which indicates a property of the object, e.g. quality class, contents or incorrect indication
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/02—Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/36—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/06009—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code with optically detectable marking
    • G06K19/06018—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code with optically detectable marking one-dimensional coding
    • G06K19/06028—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code with optically detectable marking one-dimensional coding using bar codes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K7/10009—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation sensing by radiation using wavelengths larger than 0.1 mm, e.g. radio-waves or microwaves
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K2007/10485—Arrangement of optical elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.
본 발명에 따른 핸들러는 공급용 트레이로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 테스트트레이로 로딩시키는 로딩장치; 상기 테스트트레이에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치; 테스트가 완료된 전자부품들을 테스트트레이로부터 언로딩하여 회수용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 및 상기 로딩장치의 작동 영역과 상기 언로딩장치의 작동 영역 간을 이동할 수 있는 버퍼테이블을 가지는 버퍼장치; 를 포함한다. 그리고 버퍼장치는 필요에 따라 버퍼테이블을 로딩장치의 작동 영역과 언로딩장치의 작동 영역 간을 이동시킴으로써 로딩장치에 의한 로딩 작업과 언로딩장치에 의한 언로딩 작업에 버퍼테이블이 활용된다.
본 발명에 따르면 로딩 작업, 언로딩 작업 또는 리테스트 작업에 따른 전자부품의 적절한 이동을 위해 버퍼테이블을 활용함으로써, 전자부품의 적절한 이동 및 리테스트 작업의 신속성이 담보되기 때문에 핸들러의 가동률을 상승시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

전자부품 테스트용 핸들러{HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS}
본 발명은 생산된 전자부품의 전기적 특성을 테스트하는데 사용되는 핸들러에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 핸들러에서 이루어지는 전자부품의 이동 기술과 관련된다.
반소체소자나 모듈램 등과 같은 전자부품들은 생산된 후 전기적인 특성 테스트를 거쳐 출하된다. 이 때, 테스트되어야 할 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키기 위한 핸들러가 사용된다.
일반적으로 핸들러는 테스트트레이, 제1 스택커, 로딩장치, 연결장치, 언로딩장치 및 제2 스택커를 포함한다.
테스트트레이는 로딩위치, 테스트위치 및 언로딩위치를 거쳐 다시 로딩위치로 이어지는 순환 경로를 따라 순환한다.
제1 스택커는 테스트되어야할 전자부품들이 적재된 공급용 트레이들이 수납된다. 이러한 제1 스택커에 수납된 공급용 트레이들이 순차적으로 공급위치로 공급됨으로써 로딩장치에 의한 로딩 작업이 원활히 이루어지게 된다.
로딩장치는 공급위치에 있는 공급용 트레이로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩위치에 있는 테스트트레이로 로딩시킨다.
연결장치는 로딩장치에 의해 전자부품들의 로딩이 완료된 테스트트레이가 테스트위치로 오면, 테스트트레이에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시킨다.
언로딩장치는 테스트위치에서 적재된 전자부품들의 테스트가 완료된 후 언로딩위치로 온 테스트트레이로부터 전자부품들을 언로딩하여 테스트 결과에 따라 분류하면서 회수위치에 있는 회수용 트레이로 이동시킨다.
제2 스택커는 테스트가 완료된 전자부품들을 회수할 회수용 트레이들이 수납된다. 이러한 회수용 트레이들도 순차적으로 회수위치로 공급됨으로써 언로딩장치에 의한 언로딩 작업이 원활히 이루어지게 된다.
그런데, 대한민국 공개특허 제10-2009-0063542호 등에서와 같이, 1차의 테스트가 완료된 후 리테스트로 분류된 전자부품들은 다시 핸들러로 공급되어 2차의 리테스트(Retest) 과정을 거치게 된다. 이 때, 회수용 트레이에 적재된 리테스트로 분류된 전자부품들은 작업자에 의해 수동으로 핸들러에 공급된다.
따라서 1차의 테스트와 2차의 리테스트 간에 핸들러의 가동이 중지되고, 이는 핸들러의 가동률을 하락시킨다.
한편 대한민국 공개특허 제10-2009-0008062호 등에서와 같이 로딩장치에 의한 적절한 로딩 작업을 돕기 위해, 핸들러에는 버퍼테이블이 구비된다.
일반적으로 버퍼테이블은 테스터에 있는 테스트소켓의 소켓오프 등에 의해 로딩 시 임시적으로 제거되어야 할 필요성이 있는 전자부품을 임시적으로 적재해 놓을 수 있도록 기능한다. 이로 인해 로딩 작업이 원활해지고 로딩속도가 향상된다. 여기서 소켓오프는 테스트소켓을 아웃(OUT)시키는 것으로서, 특정 테스트소켓이 소켓오프의 대상인지 여부는 설계자의 의도에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어 특정 테스트소켓에서 설정된 횟수 이상 정상이 아닌 판정이 나온 경우 해당 특정 테스트소켓을 소켓오프시키도록 설정하여 놓을 수 있다. 그리고 소켓오프된 테스트소켓이 있는 경우 테스트트레이의 해당 테스트소켓에 대면하는 위치에는 전자부품을 적재시키지 않고, 그 위치에 적재되어야 할 전자부품을 버퍼테이블에 모아둔 후, 차후에 일정량이 모아졌을 때 테스트트레이로 옮기게 된다. 본 발명은 이러한 버퍼테이블의 활용과 관련된다.
본 발명의 제1 목적은 버퍼테이블을 활용하여 로딩 작업, 언로딩 작업 및 리테스트 작업이 원활히 이루어질 수 있는 기술을 제공하는 것이다.
본 발명의 제2 목적은 전자부품을 개별적으로 식별하여 버퍼테이블을 활용한 전자부품의 흐름을 정확히 파악할 수 있는 기술을 제공하는 것이다.
본 발명의 제1 형태에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 로딩위치, 테스트위치 및 언로딩위치를 거쳐 다시 로딩위치로 이어지는 순환 경로를 따라 순환하는 테스트트레이; 공급용 트레이로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 로딩시키는 로딩장치; 상기 로딩장치에 의해 전자부품들의 로딩이 완료된 테스트트레이가 상기 테스트위치로 오면, 상기 테스트트레이에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치; 상기 테스트위치에서 적재된 전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 언로딩위치로 온 상기 테스트트레이로부터 전자부품들을 언로딩하여 테스트 결과에 따라 분류하면서 회수용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 및 상기 로딩장치의 작동 영역과 상기 언로딩장치의 작동 영역 간을 이동할 수 있는 버퍼테이블을 가지는 버퍼장치; 를 포함하고, 상기 버퍼장치는 필요에 따라 상기 버퍼테이블을 상기 로딩장치의 작동 영역과 상기 언로딩장치의 작동 영역 간을 이동시킴으로써 상기 로딩장치에 의한 로딩 작업과 상기 언로딩장치에 의한 언로딩 작업에 상기 버퍼테이블이 활용된다.
상기 언로딩장치는 테스트 결과 리테스트로 분류된 특정 전자부품을 상기 언로딩장치의 작동 영역에 있는 상기 버퍼테이블로 적재시키고, 상기 로딩장치는 상기 언로딩장치의 작동 영역에서 상기 로딩장치의 작동 영역으로 이동한 상기 버퍼테이블로부터 특정 전자부품을 상기 로딩위치에 있는 테스트트레이로 이동시킨다.
상기 전자부품 테스트용 핸들러는, 테스테스트되어야 할 전자부품들이 적재된 공급용 트레이들이 수납되는 제1 스택커; 및 테스트가 완료된 전자부품들을 회수할 회수용 트레이들이 수납되는 제2 스택커; 를 더 포함하며, 상기 제2 스택커는, 회수용 트레이들이 상호 일정 간격을 두고 상하 방향으로 적재될 수 있는 승강프레임; 상기 승강프레임을 승강시키는 승강기; 및 상기 승강프레임에 적재된 회수용 트레이들을 선택적으로 진퇴시킴으로써 회수용 트레이들을 회수위치에 위치시키거나 수납위치로 되돌리는 진퇴기들; 을 포함한다.
본 발명의 제2 형태에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는, 로딩위치, 테스트위치 및 언로딩위치를 거쳐 다시 로딩위치로 이어지는 순환 경로를 따라 순환하는 테스트트레이; 공급용 트레이로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 로딩시키는 로딩장치; 상기 로딩장치에 의해 전자부품들의 로딩이 완료된 테스트트레이가 상기 테스트위치로 오면, 상기 테스트트레이에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치; 상기 테스트위치에서 적재된 전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 언로딩위치로 온 상기 테스트트레이로부터 전자부품들을 언로딩하여 테스트 결과에 따라 분류하면서 회수용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 및 상기 로딩장치에 의해 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 로딩되는 전자부품들을 식별하기 위한 식별장치; 를 포함하고, 상기 로딩장치는 파지한 전자부품들을 상기 식별장치를 거쳐 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 이동시킴으로써, 상기 식별장치에 의해 파지한 전자부품들이 식별될 수 있도록 하며, 상기 식별장치는, 전자부품에 인자된 바코드를 촬영하기 위한 카메라; 및 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지 상의 바코드를 판독하는 판독기; 를 포함한다.
상기 식별장치는, 상기 카메라에 대응되며, 전자부품에 인자된 바코드를 상기 카메라로 반사시키는 반사경; 을 더 포함한다.
상기 로딩장치가 전자부품을 파지한 상태에서 바코드의 식별이 이루어진다.
상기 식별장치는 전자부품의 이물질을 제거하기 위한 이물질제거수단; 을 더 포함한다.
상기 전자부품 테스트용 핸들러는 상기 로딩장치가 전자부품을 파지한 상태에서 바코드의 식별이 이루어진다.
제1 상기 로딩장치는 복수개의 전자부품을 파지할 수 있고, 상기 식별장치는 상기 로딩장치에 의해 파지된 상태에 있는 복수개의 전자부품에 대한 바코드의 식별을 수행한다.
상기 판독기는 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지를 통해 상기 전자부품의 적재 방향도 함께 판독한다.
상기 식별장치에 의해 이루어지는 바코드의 식별과 전자부품의 적재 방향은 동시에 이루어진다.
위와 같은 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 버퍼테이블을 로딩 작업, 언로딩 작업 및 리테스트 작업에 모두 활용함으로써 구성의 최소 추가로 전자부품의 이동 흐름을 최적화함으로써 궁극적으로 핸들러의 가동률을 크게 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
둘째, 식별장치를 사용해 전자부품을 개별적으로 식별함으로써 버퍼테이블을 활용한 전자부품의 이동 흐름을 지원한다.
셋째, 식별장치가 전자부품을 식별하는 기능에 더하여 전자부품의 적재 방향 판독 기능 및 전자부품의 이물질을 제거하는 기능을 가짐으로써, 식별장치의 효율적인 이용 및 설계가 가능하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러의 개념적인 평면도이다.
도 2 및 도3은 도 1의 핸들러에 적용된 식별장치를 설명하기 위한 참조도이다.
도 4는 테스트되어야 할 전자부품에 대한 예시이다.
도 5는 도 1의 핸들러에 적용된 버퍼장치에 대한 개략적인 평면도이다.
도 6은 도 1의 핸들러에 적용된 로딩용 버퍼플레이트/언로딩용 버퍼플레이트와 버퍼테이블 간의 높이차를 설명하기 위한 참조도이다.
도 7 및 도 8은 도 1의 핸들러에 적용된 제2 스택커에서 회수용 트레이를 회수위치에 위치시키는 기술을 설명하기 위한 참조도이다.
도 9 내지 도 11은 전자부품의 바코드를 촬영하기 위한 예를 도시하고 있다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러(100, 이하 '핸들러'라 약칭 함)에 대한 개념적인 평면도이다.
도 1의 핸들러는 테스트트레이(TT), 제1 스택커(110), 로딩장치(120), 로딩용 버퍼플레이트(130), 식별장치(140), 연결장치(150), 언로딩장치(160), 언로딩용 버퍼플레이트(170), 제2 스택커(181, 182, 183) 및 버퍼장치(190)를 포함한다.
테스트트레이(TT)는 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)를 거쳐 다시 로딩위치(LP)로 이어지는 순환 경로(C)를 따라 순환한다. 이러한 테스트트레이(TT)는 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)로 이어지는 전자부품의 이동을 위해 구비된다. 즉, 전자부품들은 로딩위치(LP)에서 테스트트레이(TT)에 적재된 상태로 테스트위치(TP)를 거쳐 언로딩위치(UP)로 이동된다.
제1 스택커(110)는 테스트되어야 할 전자부품들이 적재된 공급용 트레이(ST)들이 수납된다. 이러한 제1 스택커(110)에 수납된 공급용 트레이(ST)들이 순차적으로 공급위치(SP)로 공급됨으로써 로딩장치(120)에 의한 로딩 작업이 원활히 이루어지게 된다. 이러한 제1 스택커(110)은 작업자가 직접 공급용 트레이(ST)를 적재시켜 놓는 구조로 구비될 수도 있고, 공급용 트레이(ST)들이 적재된 공급용 대차를 수용하는 구조로 구비될 수도 있다.
참고로, 공급위치(SP)의 상측이나 공급위치(SP)로 가기 전에 공급용 트레이(ST)가 대기하는 대기위치(WP)의 상측에 카메라(CM)가 구비될 수 있다. 이러한 경우 카메라(CM)를 통해 공급용 트레이(ST)에 적재된 전자부품(D)들의 적재여부(적재위치나 개수)를 미리 확인할 수 있기 때문에 로딩장치(120)의 적절한 제어가 가능할 수 있다. 물론, 공급위치(SP)는 로딩장치(120)의 작동 영역에 속하기 때문에, 본 실시예에서와 같이 대기위치(WP)의 상방에 카메라(CM)가 구비되는 것이 바람직할 것이다.
로딩장치(120)는 공급위치(SP)에 있는 공급용 트레이(ST)로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 로딩시킨다.
로딩용 버퍼플레이트(130)는 필요에 따라서 테스트되어야 할 전자부품들을 임시적으로 적재시키기 위해 사용된다. 이러한 로딩용 버퍼플레이트(130)는 고정되게 구비된다. 따라서 위의 로딩장치(120)는 제어되기에 따라서 파지한 전자부품들을 로딩용 버퍼플레이트(130)에 적재시키거나, 로딩용 버퍼플레이트(130)에 적재된 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 이동시키는 작업도 수행한다.
식별장치(140)는 로딩장치(120)에 의해 파지된 상태로 공급위치(ST)에서 로딩위치(LP)로 이동하는 과정에 있는 전자부품들을 개별적으로 식별하기 위해 마련된다. 이러한 식별장치(140)는 전자부품들을 개별적으로 식별할 수 있으면 족하다. 따라서 예를 들면 바코드 리더기나 카메라로 구비될 수도 있으며, 이러할 경우 전자부품에는 바코드나 카메라로 식별할 수 있는 식별코드가 인자되어 있어야 한다. 그리고 식별장치(140)에 의해 전자부품이 식별될 수 있도록, 로딩장치(120)는 평면에서 볼 때 파지한 전자부품들을 식별장치(140)가 있는 식별위치(RP)를 거쳐 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 이동시키도록 제어된다. 또한, 이를 위해 필요한 경우에는 로딩장치(120)가 파지한 전자부품들을 식별위치(RP)에 잠시 정지시킬 수도 있으며, 더 나아가 식별위치(RP)에서 전자부품들을 다소간 진퇴시킴으로써 식별장치(RP)에 의한 전자부품의 정확한 식별이 가능하도록 할 수 있다.
도 2는 식별장치(140)에 대한 일예를 보여주고 있다. 식별장치(140)는 4개의 바코드 리더기(BR)로 구성되며, 4개의 바코드 리더기(BR)는 일정 간격 이격되어 있다. 이러한 바코드 리더기(BR)는 카메라로 구비될 수 있으며, 반사경(M)을 통해 바코드(B)를 촬영하는 구조를 가진다. 물론, 로딩장치(120)는 한꺼번에 4개의 전자부품(D)을 상호 이격된 상태로 파지할 수 있으며, 전자부품(D)의 측면에는 바코드가 인자되어 있다. 도 2와 같은 예에서, 로딩장치(120)는 파지한 4개의 전자부품(D)들 일시적으로 하강시켜서 도 3에서와 같이 반사경(M)들 사이에 전자부품(D)들을 위치시킨 후 정확한 식별을 위해 전자부품(D)들을 전후 방향으로 다소간 진퇴시켜서 바코드 리더기(BR)들이 전자부품(D)들의 바코드를 인식할 수 있도록 돕는다. 물론, 바코드 리더기(BR)들에 의한 바코드의 인식이 완료되면, 판독기(DA)가 바코드 리더기(BR)에 의한 촬영된 이미지 상의 바코드를 판독한다. 본 실시예에서와 같이 바코드 리더기(BR)가 카메라로 구비되는 경우에는 판독기(DA)가 바코드가 이미지에 반영되었는지의 여부를 통해 전자부품(D)의 적재 방향을 확인할 수도 있고, 이미지 전체를 활용하여 바코드 이외의 영역의 형태(도 4의 방향홈의 형태 등)를 판독하여 전자부품(D)의 적재 방향을 확인할 수도 있다.
또한, 식별장치(140)에는 전자부품(D)으로 바람을 불어주기 위한 유로(L)가 형성되어 있다. 따라서 유로(L)를 통해 전자부품(D)으로 바람을 불어줄 수 있어서, 전자부품(D)의 이물질을 털어낼 수도 있다. 즉, 유로(L)는 전자부품(D)의 이물질을 제거하기 위한 이물질제거수단으로서 기능한다. 물론, 흡입이나 털개(브러쉬)를 이용하여 이물질을 털어내도록 구성하는 것도 가능하다. 그리고 흡입의 경우에는 이물질을 포집하기 위한 공간이 별도로 구비되어야 할 것이다.
본 실시예에서는 식별장치(140)가 한꺼번에 4개의 전자부품(D)을 식별할 수 있고, 로딩장치(120)도 한꺼번에 4개의 전자부품(D)을 이동시킬 수 있도록 구성하고 있지만, 실시하기에 따라서는 식별 개수나 이동 개수는 얼마든지 늘이고 줄일 수 있을 것이다.
참고로, 본 실시예에서는 카메라로 구비되는 바코드 리더기(BR)와 반사경(M)을 이용해 전자부품의 바코드 판독과 전자부품의 적재 방향을 확인하고 있지만, 실시하기에 따라서는 2개의 기능을 서로 다른 구성으로 나누어 수행할 수도 있다. 예를 들면, 도 4에서와 같은 전자부품(D)은 다수의 방향홈(DS)들이 형성되어 있다. 이러한 다수의 방향홈(DS)들은 전자부품(D)의 적재 방향을 판독하는데 사용될 수 있다. 즉, 발광소자와 수광소자를 이용하여 발광소자에 의해 방향홈(DS)을 향해 조사된 빛이 수광소자에 의해 인식되는지 여부를 통해 전자부품(D)의 적재 방향을 판독하도록 구현될 수도 있다. 그리고 전자부품(D)의 바코드는 카메라나 리더기로 인식시킬 수 있다.
연결장치(150)는 로딩장치(120)에 의해 전자부품들의 로딩이 완료된 테스트트레이(TT)가 테스트위치(TP)로 오면, 테스트트레이(TT)에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시킨다.
언로딩장치(160)는 테스트위치(TP)에서 적재된 전자부품들의 테스트가 완료된 후 언로딩위치(UP)로 온 테스트트레이(TT)로부터 전자부품들을 언로딩하여 테스트 결과에 따라 분류하면서 회수위치(DP1 내지 DP3)에 있는 회수용 트레이(DT1 내지 DT3)로 이동시킨다.
언로딩용 버퍼플레이트(170)는 필요에 따라서 테스트가 완료된 전자부품들을 임시적으로 적재시키기 위해 사용된다. 이러한 언로딩용 버퍼플레이트(170)는 고정되게 구비된다. 따라서 위의 언로딩장치(160)는 제어되기에 따라서 언로딩위치(UP) 또는 회수위치(DP1 내지 DP3)에서 파지한 전자부품들을 언로딩용 버퍼플레이트(170)에 적재시키거나, 언로딩용 버퍼플레이트(170)에 적재된 전자부품들을 회수위치(DP1 내지 DP3)에 있는 회수용 트레이(DT1 내지 DT3)로 이동시키는 작업도 수행할 수 있다.
제2 스택커(181, 182, 183)는 테스트가 완료된 전자부품들을 회수할 회수용 트레이(DT1 내지 DT3)들이 수납된다. 이러한 회수용 트레이(DT1 내지 DT3)들도 순차적으로 회수위치(DP1 내지 DP3)로 공급됨으로써 언로딩장치(160)에 의한 언로딩 작업이 원활히 이루어지게 된다. 여기서 부호 181의 제2 스택커에는 도 6에서와 같이 불량 판정된 전자부품이 적재된 회수용 트레이(DTb)가 수납되거나, 리스테스 판정된 전자부품이 적재된 회수용 트레이(DTa)가 수납된다. 그리고 부호 182 및 183의 제2 스택커에는 양호 판정된 전자부품이 적재된 회수용 트레이(DT2 및 DT3)가 수납된다.
버퍼장치(190)는 로딩장치(120) 및 언로딩장치(160)에 의한 전자부품의 적절한 이동을 돕기 위해 마련되며, 도 5에서와 같이 버퍼테이블(191), 이동기(192) 및 안내레일(193)을 포함한다.
버퍼테이블(191)은 로딩장치(120)의 작동 영역(A)과 언로딩장치(160)의 작동 영역(B) 간을 이동할 수 있다. 이러한 버퍼테이블(191)에는 필요에 따라서 테스트되어야 할 전자부품이 임시적으로 적재되거나, 테스트가 완료된 전자부품들 중 리테스트로 분류된 전자부품이 임시적으로 적재될 수 있다. 즉, 버퍼테이블(191)은 로딩장치(120)의 작동 영역(A)과 언로딩장치(160)의 작동 영역(B)에 선택적으로 위치될 수 있기 때문에, 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)의 간섭을 방지하면서도, 필요에 따라서 로딩장치(120)에 의한 로딩 작업과 언로딩장치(160)에 의한 언로딩 작업에 활용될 수 있다. 물론, 버퍼테이블(191)이 로딩 과정에 활용되는 경우에는 로딩장치(120) 측으로 이동해 있고, 버퍼테이블(191)이 언로딩 과정에 활용되는 경우에는 언로딩장치(160) 측으로 이동해 있게 된다. 참고로, 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)가 서로 공유하는 공유 공간을 설계하고, 버퍼테이블(191)을 해당 공유 공간에 고정용으로 구비시키거나 해당 공유 공간에 정지시키는 대신, 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)의 작동을 정밀하게 제어하여 공유 공간에서 상호 충돌 간섭이 일어나지 않도록 구현하는 것도 충분히 고려될 수 있다.
이동기(192)는 버퍼테이블(191)을 로딩장치(120)의 작동 영역(A)과 언로딩장치(160)의 작동 영역(B)에 선택적으로 위치시킨다. 즉, 이동기(192)는 로딩장치(120)와 언로딩장치(160) 상호 간의 작동 간섭을 피하기 위해 로딩장치(120)의 작동 영역(A)과 언로딩장치(160)의 작동 영역(B)을 분리시키는 것을 가능하게 한다. 물론, 작동 오류에 따라 로딩장치(120)와 언로딩장치(160) 간의 간섭을 방지하는 것이 기본 설계 방침이지만, 전술한 바와 같이 경우에 따라 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)가 작동 영역을 상호 공유하도록 하고, 해당 공유 영역에 고정된 버퍼테이블(191)을 구비시킬 수 있으며, 이러한 경우 제어를 통해 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)의 충돌 간섭을 방지시킬 수도 있다.
한편, 버퍼테이블(191)은 측면에서 바라본 도 6에서와 같이 로딩용 버퍼플레이트(130)와 언로딩용 버퍼플레이트(170)보다 상방에 위치한다. 따라서 버퍼테이블(191)의 위치는 평면에서 볼 때 로딩용 버퍼플레이트(130)이나 언로딩용 버퍼플레이트(170)와 겹쳐질 수도 있다. 이러한 이유는 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)의 작동 거리를 최소화시켜 구동의 효율성과 안정성을 가지게 하고자 함이다. 즉, 버퍼플레이트(130)가 로딩용 버퍼플레이트(130)와 언로딩용 버퍼플레이트(170)보다 상방에 위치할 수 있기 때문에 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)의 작동 영역의 중첩 방지를 쉽게 설계할 수 있고, 로딩장치(120)와 언로딩장치(160)에 의한 전자부품의 이동 거리도 최소화시킬 수 있게 되는 것이다.
안내레일(193)은 버퍼테이블(191)의 좌우 이동을 안내한다.
계속하여 도 1을 참조하면, 제1 스택커(110)는 좌측 전방에 위치되고, 제2 스택커(181, 182, 183)는 제1 스택커(110)의 우측이면서 전방에 배치됨을 알 수 있다. 그리고 제1 스택커(110) 및 제2 스택커(181, 182, 183)와 로딩위치(LP) 및 언로딩위치(UP) 사이에는 버퍼존(BZ)이 배치된다. 이러한 버퍼존(BZ)에는 로딩용 버퍼플레이트(130), 언로딩용 버퍼플레이트(170) 및 버퍼테이블(191)이 구비된다. 그리고 로딩용 버퍼플레이트(130)의 좌측에는 식별장치(140)가 구비된다.
이하, 상기한 바와 같은 핸들러(100)의 작동에 대하여 설명한다.
<기본 작동>
제1 스택커(110)에 있는 공급용 트레이(ST)들은 순차적으로 공급위치(SP)로 공급된다.
로딩장치(120)는 한꺼번에 4개씩의 전자부품을 파지한 후, 파지한 전자부품들을 식별위치(RP)를 거쳐 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 이동시킨다. 이 과정에서 전자부품이 식별위치(RP)에 있을 때, 유로(L)를 통해 전자부품의 양 측면에 바람을 불어 이물질을 털어낸 후, 바코드 리더기(BR)에 의해 로딩장치(120)가 파지한 전자부품들에 대하여 개별적인 식별이 이루어진다. 물론, 식별과 함께 전자부품들의 적재 방향도 판단하게 된다. 여기서 이물질을 털어내는 작업, 식별 작업 및 적재 방향에 대한 판단 작업 순으로 작업이 이루어지는 순서를 필요에 따라 얼마든지 바뀔 수 있으며, 식별 작업과 판단 작업이 동시에 이루어질 수도 있다. 한편, 이 과정에서 로딩장치(120)가 4개의 전자부품을 파지한 상태에서 바코드의 식별과 전자부품의 적재 방향을 판단하게 된다. 만일 전자부품들을 별도의 트레이나 셔틀에 내려놓은 다음 바코드를 식별하도록 구성하면, 바코드는 읽을 수 있으나 적재 방향을 확인할 수 있는 부분이 트레이나 셔틀에 삽입되어 버려서 적재 방향의 확인에 어려움이 있다. 또한, 트레이나 셔틀에 적재된 상태에서 적재 방향을 어느 정도 확인할 수 있다고 하더라도, 트레이나 셔틀 상에 전자부품이 제대로 삽입될 것이 전제되어야만 한다. 즉, 트레이나 셔틀에 전자부품이 기울어지게 장착되거너, 일 측으로 쏠리게 장착되거나, 덜 삽입된 경우에는 바코드 식별 위치나 적재 방향 판단 위치가 그 때마다 달라져서 그 정확성이 떨어지게 된다. 그리고 비정상적인 적재 상태를 확인하고, 해당 에러를 조치해야 하는 등의 문제가 발생된다. 따라서 본 실시예에서는 로딩장치(120)가 전자부품을 파지한 상태에서 바코드의 식별과 전자부품의 적재 방향을 판단하는 작업이 이루어지도록 한 것이다.
더 나아가 본 실시예에서는 로딩장치(120)가 파지한 전자부품의 바코드를 하나씩 식별하는 방식이 아나라, 4개(적어도 2개 이상)의 전자부품을 동시에 식별하고 있다. 즉, 잔여 전자부품을 2개 이상 파지할 수 있는 상황에서 동시에 식별장치(140)를 통해 바코드의 식별과 전자부품의 적재 방향을 판단하는 것이다.
한편, 식별된 바코드를 분석한 데이터는 전자부품별 식별자와 해당 전자부품에 대한 정보를 확인하는데 사용된다. 따라서 기 입력된 정보에 의해 해당 전자부품이 어떠한 생산 조건 등에서 생산되었는지를 확인할 수 있다.
참고로, 전자부품별 식별자와 전자부품에 대하 정보는 테스터 측으로 전송되고, 테스터 측에서는 특정 전자부품의 테스트 결과를 특정 전자부품의 식별자에 연결하여 저장하게 된다. 그리고 테스터는 특정 반도체소자의 테스트 결과에 대한 정보를 핸들러(100)로 보내게 된다. 이에 따라 핸들러는 테스터로부터 온 테스트 결과에 대한 정보를 특정 전자부품의 식별자에 연결하여 기록 및 저장한다. 이에 따라 핸들러는 전자부품들을 개별적으로 관리할 수 있게 된다.물론, 기록 및 저장된 정보는 차후 전자부품의 리테스트에서도 활용될 수 있으며, 리테스트가 이루어질 경우에는 리테스트 결과까지 이력으로 관리할 수 있다.
참고로, 전자부품들의 개별적인 식별을 통해 해당 전자부품에 대하여 미리 제공된 이력에 해당 전자부품의 테스트 결과가 함께 묶여 기록될 수 있다. 따라서 전자부품마다 개별적인 이력관리가 가능해질 수 있다.
로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)에 전자부품들의 적재가 완료되면, 로딩위치(LP) 측에 있는 레이저와 카메라를 이용해 전자부품들의 적재상태를 확인한다. 그리고 도시되지 않은 이송장치에 의해 테스트트레이(TT)가 로딩위치(LP)에서 테스트위치(TP)로 이송된다.
테스트위치(TP)에서는 연결장치(150)에 의해 테스트트레이(TT)에 적재된 전자부품들이 테스터에 전기적으로 연결되고, 이 후 테스터에 의한 전자부품들의 전기적인 특성 테스트가 이루어진다.
적재된 전자부품들의 테스트가 종료되면 도시되지 않은 이송장치에 의해 테스트트레이(TT)가 테스트위치(TP)에서 언로딩위치(UP)로 이송된다.
언로딩장치(160)는 언로딩위치(UP)에 있는 테스트트레이(TT)에 있는 전자부품들을 언로딩하면서 테스트 결과에 따라 회수위치(DP1 내지 DP3)에 있는 회수용 트레이(DT)로 분류하여 이동시킨다. 물론, 제2 스택커(181, 182, 183)에 있는 회수용 트레이(DT)도 순차적으로 회수위치(DP1 내지 DP3)로 공급된다.
위와 같은 제1 기본 작동이 종료되면, 후술할 버퍼테이블(191)을 활용한 리테스트 작동인 제2 작동이 이루어진다.
이어서 로딩과정, 언로딩과정 및 리테스트과정에서 기여하는 로딩용 버퍼플레이트(130), 언로딩용 버퍼플레이트(170) 및 버퍼테이블(191)의 기능을 설명한다.
<로딩 과정>
로딩용 버퍼플레이트(130)와 버퍼테이블(191)은 로딩과정에서 사용될 수 있다.
예를 들어 공급용 트레이(ST)에 50개의 전자부품이 적재되어 있고, 로딩장치(120)가 한꺼번에 4개의 전자부품을 파지할 수 있는 경우에는, 공급용 트레이(ST)에 있는 48개의 전자부품이 테스트트레이(TT)로 이동되면 2개의 전자부품만이 공급용 트레이(ST)에 남게 된다. 이러한 경우, 로딩장치(120)는 나머지 2개의 전자부품을 파지하여 식별과정을 거쳐 테스트트레이(TT)로 이동시킬 수도 있지만, 본 실시예에서는 작업 효율의 증대를 위해 나머지 2개의 전자부품을 로딩용 버퍼플레이트(130)에 적재시킨 다음, 공급위치(SP)에 새로이 공급된 공급용 트레이(ST)의 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 이동시키는 작업을 먼저 수행한다. 이를 통해 일정 주기마다 2개의 전자부품이 남고 이를 로딩용 버퍼플레이트(130)에 적재시키는 작업이 이루어지며, 버퍼플레이트(130)에 적재된 전자부품들이 4개 이상이 될 경우 4개를 한 세트로 하여 함께 바코드를 식별하고 테스트트레이(TT)로 이동시키는 작업을 수행한다. 그리고 테스터에 있는 테스트소켓이 소켓오프(socket-off)되는 등의 상황이 발생된 경우에도 로딩이 보류될 전자부품을 적재시키기 위한 용도로 로딩용 버퍼플레이트(130)가 활용될 수 있다. 물론, 로딩장치(120)는 차후 필요한 시점에 로딩용 버퍼플레이트(130)에 적재된 전자부품들을 4개씩 파지하여 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 이동시킨다. 이 과정에서 전자부품들의 순서가 바뀔 수도 있으나, 식별장치(140)에 의해 전자부품들이 개별적으로 관리되기 때문에 전자부품들의 순서가 바뀌는 것은 고려할 필요가 없다.
한편, 로딩용 버퍼플레이트(130)가 수용할 수 있는 개수보다 더 많은 개수의 전자부품들이 로딩 작업에서 보류되어질 경우에는, 버퍼테이블(191)이 활용된다. 따라서 로딩용 버퍼플레이트(130)에 전자부품들이 채워진 상황이 되면, 버퍼테이블(191)이 로딩장치(120)의 작동 영역(A)으로 이동하여 로딩장치(120)에 의한 로딩 작업을 돕게 된다.
참고로, 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 전자부품의 로딩이 완료되면, 레이저와 카메라를 이용하여 테스트트레이(TT)에 전자부품이 적절히 적재되어 있는지를 확인하는 과정을 가질 수 있다.
<언로딩 과정>
언로딩용 버퍼플레이트(170)와 버퍼테이블(191)은 언로딩과정에서 사용될 수 있다.
예를 들어 언로딩장치(160)가 언로딩위치(UP)에 있는 테스트트레이(TT)로부터 모두 양호 판정을 받은 전자부품들을 파지한 경우에는 제2 회수위치(DP2) 또는 제3 회수위치(DP3)에 있는 회수용 트레이(DT)로 전자부품들을 이동시킨다. 그런데, 예를 들어 파지한 전자부품들 중 1개는 불량 판정, 1개는 리테스트 판정, 2개는 양호 판정이 난 경우에는, 불량 판정된 1개의 전자부품은 언로딩용 버퍼플레이트(170)에 적재시키고, 리테스트 판정된 1개의 전자부품은 버프테이블(191)에 적재시킨 뒤, 양호 판정된 2개의 전자부품은 제2 회수위치(DP2) 또는 제3 회수위치(DP3)에 있는 회수용 트레이(DT)로 이동시킨다.
다음은 언로딩 과정 중에 이루어지는 리테스트 물량의 처리 방법에 대하여 설명이다.
<리테스트 판정 물량이 작은 경우>
리테스트 판정 물량이 적어서 버퍼테이블(191)에 리테스트 물량을 모두 적재시킬 수 있을 때에는, 모든 전자부품들에 대한 1차 테스트가 종료된 후 현재 언로딩장치(160)의 작동 영역(A)에 있는 버퍼테이블(191)을 로딩장치(120)의 작동 영역(B)으로 이동시킨다. 그리고 로딩장치(120)가 작동하여 버퍼테이블(191)로부터 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 리테스트 물량을 이동시킨다. 물론, 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 재이동한 전자부품들은 테스트트레이(TT)와 함께 이동하면서 리테스트 과정을 거치게 된다. 따라서 버퍼존(BZ)은 리테스트 판정된 전자부품이 버퍼테이블(191)에 의해 로딩위치(LP)로 재이동될 수 있는 리턴존으로 명명될 수도 있다.
<리테스트 판정 물량이 많은 경우>
1차 테스트 과정에서 버퍼테이블(191)의 적재용량보다 리테스트 판정 물량이 많아 버퍼테이블(191)이 채워지거나 버퍼테이블(191)과 로딩장치(120) 간의 상호 의존관계를 고려하여 버퍼테이블(191)의 적재량의 일정 퍼센트(%)가 채워지면, 언로딩장치(160)는 리테스트 판정된 전자부품들을 버퍼테이블(191)로부터 현재 제1 회수위치(DP1)에 공급된 회수용 트레이(DT)로 이동시킨다. 그리고 차후 회수용 트레이(DT)에 적재된 리테스트 물량은 언로딩장치(160)에 의해 언로딩용 버퍼플레이트(170)로 옮겨진 후 다시 버퍼테이블(191)로 이동되고, 로딩장치(120)에 의해 로딩용 버퍼플레이트(130) 및 버퍼테이블(191)을 순차적으로 거쳐 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(TT)로 재이동됨으로써 리테스트 과정을 거치게 된다. 물론 이러한 리테스트 물량의 이동 흐름에서, 리테스트 물량이 어느 정도인지에 따라 로딩용 버퍼플레이트(130) 또는 언로딩용 버퍼플레이트(170)의 사용의 선택적으로 생략될 수도 있을 것이다.
한편, 리테스트 물량의 적절한 이동 흐름을 위해 제1 회수위치(DP1)에는 리테스트 물량을 적재시키기 위한 회수용 트레이(DT)와 불량 물량을 적재시키기 위한 회수용 트레이(DT)가 선택적으로 위치되도록 구현되는 것이 바람직하다. 예를 들어, 도 7 및 도 8의 측면도에서와 같이 제2 스텍커(181)는 승강기(181a), 승강프레임(181b), 진퇴기(181c)들을 구비한다.
승강기(181a)는 승강프레임(181b)을 승강시킨다.
승강프레임(181)에는 회수용 트레이(DTa, DTb)들이 상호 일정 간격을 두고 상하 방향으로 적재될 수 있다.
진퇴기(181c)들은 회수용 트레이(DT)들을 전후 방향으로 선택적으로 진퇴시킴으로써 회수용 트레이(DTa, DTb)들을 회수위치(DP1)에 위치시키거나 수납위치(RP)로 되돌린다.
따라서, 제2 스택커(181)의 회수용 트레이(DTa, DTb)들이 승강(화살표 a 참조) 가능하면서 선택적으로 제1 회수위치(DP1)로 이동되기 때문에, 리테스트 물량을 적재시키기 위한 회수용 트레이(DTa)와 불량 물량을 적재시키기 위한 회수용 트레이(DTb)가 선택적으로 회수위치(DP1)에 위치될 수 있다.
위에서는 로딩과정, 언로딩과정 및 리테스트과정에서 로딩용 버퍼플레이트(130), 언로딩용 버퍼플레이트(170) 및 버퍼테이블(191)의 역할을 살펴보았지만, 위의 예는 단순한 일부의 예시에 불과하다. 즉, 로딩장치(120), 언로딩장치(160), 버퍼장치(190)를 어떻게 제어하느냐에 따라 전자부품의 이동 흐름이 다양해질 수 있고, 전자부품의 이동 흐름에 로딩용 버퍼플레이트(130), 언로딩용 버퍼플레이트(170) 및 버퍼테이블(191)의 기여하는 바가 달라질 수 있는 것이다
<바코드 식별 구조의 다양한 예>
위의 예에서는 전자부품의 일 측면(앞면 또는 뒷면)에 바코드가 인자된 경우를 예로 들고 있지만, 도 9에서와 같이 바코드(B)가 전자부품(D)의 앞면과 뒷면에 모두 인자되어 있을 수 있다. 이러한 경우 전자부품(D)의 양면에 있는 바코드(B)를 모두 판독해야 될 필요성이 있다. 이에 따라 양 전자부품(D) 사이에 2개의 바코드 리더기(BR, 카메라일 수 있음)를 구성하였다.
한편, 도 10은 양 전자부품(D) 사이에 2개의 반사경(M)을 두어 하나의 카메라(CM)로 양 측에 있는 전자부품(D)에 각각 인자된 바코드(B)를 한꺼번에 촬영하도록 구성한 예이다. 이러한 도 10의 구조에서는 바코드(B)를 카메라(CM) 측으로 반사시키는 상호 이웃하는 2개 반사경(CM)이 하나의 카메라(CM)에 대응되며, 이로 인해 해당 카메라(CM)는 2개의 반사경(M)으로부터 오는 상호 이웃하는 전자부품(D)에 인자된 2개의 바코드(B)를 함께 촬영한다.
위와 같은 다양한 바코드 식별 구조는 본 발명이 로딩장치(120)에 의해 파지된 상태에 있는 복수개의 전자부품에 대한 바코드 식별을 한꺼번에 수행하기 위해서 창작된 것이다. 예를 들어, 전자부품이 누워 있고, 바코드가 평면 방향으로 노출될 때는 하나의 카메라로 여러 개의 바코드를 한꺼번에 식별할 수 있지만, 본 발명에서와 같이 로딩장치(120)가 복수개의 전자부품을 세워진 상태로 파지한 상태에서는 하나의 카메라로 복수개의 바코드를 한꺼번에 식별할 수가 없다. 그렇다고 바코드 하나하나를 식별하면 처리가 복잡해지고 처리 시간이 길어지기 때문에 위와 같은 다양한 바코드 식별 구조가 필요하게 된 것이다.
물론, 도 11에서와 같이 전자부품(D)들의 바코드(B)를 일정 각도 경사지게 촬영하도록 카메라(CM)들을 배치시킴으로써 로딩장치(120)에 의해 파지된 복수개의 전자부품들에 대한 바코드들을 한꺼번에 식별하는 구조도 충분히 고려될 수 있다.
이상에서와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.
100 : 전자부품 테스트용 핸들러
TT : 테스트트레이
120 : 로딩장치
130 : 로딩용 버퍼플레이트
140 : 식별장치
150 : 연결장치
160 : 언로딩장치
170 : 언로딩용 버퍼플레이트
190 : 버퍼장치
191 : 버퍼테이블 192 : 이동기

Claims (10)

  1. 로딩위치, 테스트위치 및 언로딩위치를 거쳐 다시 로딩위치로 이어지는 순환 경로를 따라 순환하는 테스트트레이;
    공급용 트레이로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 로딩시키는 로딩장치;
    상기 로딩장치에 의해 전자부품들의 로딩이 완료된 테스트트레이가 상기 테스트위치로 오면, 상기 테스트트레이에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치;
    상기 테스트위치에서 적재된 전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 언로딩위치로 온 상기 테스트트레이로부터 전자부품들을 언로딩하여 테스트 결과에 따라 분류하면서 회수용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 및
    상기 로딩장치의 작동 영역과 상기 언로딩장치의 작동 영역 간을 이동할 수 있는 버퍼테이블을 가지는 버퍼장치; 를 포함하고,
    상기 버퍼장치는 필요에 따라 상기 버퍼테이블을 상기 로딩장치의 작동 영역과 상기 언로딩장치의 작동 영역 간을 이동시킴으로써 상기 로딩장치에 의한 로딩 작업과 상기 언로딩장치에 의한 언로딩 작업에 상기 버퍼테이블이 활용되는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 언로딩장치는 테스트 결과 리테스트로 분류된 특정 전자부품을 상기 언로딩장치의 작동 영역에 있는 상기 버퍼테이블로 적재시키고,
    상기 로딩장치는 상기 언로딩장치의 작동 영역에서 상기 로딩장치의 작동 영역으로 이동한 상기 버퍼테이블로부터 특정 전자부품을 상기 로딩위치에 있는 테스트트레이로 이동시키는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  3. 제1 항에 있어서,
    테스트되어야 할 전자부품들이 적재된 공급용 트레이들이 수납되는 제1 스택커; 및
    테스트가 완료된 전자부품들을 회수할 회수용 트레이들이 수납되는 제2 스택커; 를 더 포함하며,
    상기 제2 스택커는,
    회수용 트레이들이 상호 일정 간격을 두고 상하 방향으로 적재될 수 있는 승강프레임;
    상기 승강프레임을 승강시키는 승강기; 및
    상기 승강프레임에 적재된 회수용 트레이들을 선택적으로 진퇴시킴으로써 회수용 트레이들을 회수위치에 위치시키거나 수납위치로 되돌리는 진퇴기들; 을 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  4. 로딩위치, 테스트위치 및 언로딩위치를 거쳐 다시 로딩위치로 이어지는 순환 경로를 따라 순환하는 테스트트레이;
    공급용 트레이로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 로딩시키는 로딩장치;
    상기 로딩장치에 의해 전자부품들의 로딩이 완료된 테스트트레이가 상기 테스트위치로 오면, 상기 테스트트레이에 적재된 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치;
    상기 테스트위치에서 적재된 전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 언로딩위치로 온 상기 테스트트레이로부터 전자부품들을 언로딩하여 테스트 결과에 따라 분류하면서 회수용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 및
    상기 로딩장치에 의해 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 로딩되는 전자부품들을 식별하기 위한 식별장치; 를 포함하고,
    상기 로딩장치는 파지한 전자부품들을 상기 식별장치를 거쳐 상기 로딩위치에 있는 상기 테스트트레이로 이동시킴으로써, 상기 식별장치에 의해 파지한 전자부품들이 식별될 수 있도록 하며,
    상기 식별장치는,
    전자부품에 인자된 바코드를 촬영하기 위한 카메라; 및
    상기 카메라에 의해 촬영된 이미지 상의 바코드를 판독하는 판독기; 를 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 식별장치는,
    상기 카메라에 대응되며, 전자부품에 인자된 바코드를 상기 카메라로 반사시키는 반사경; 을 더 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 식별장치는,
    전자부품의 이물질을 제거하기 위한 이물질제거수단; 을 더 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  7. 제4 항에 있어서,
    상기 로딩장치가 전자부품을 파지한 상태에서 바코드의 식별이 이루어지는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  8. 제7 항에 있어서,
    제1 상기 로딩장치는 복수개의 전자부품을 파지할 수 있고,
    상기 식별장치는 상기 로딩장치에 의해 파지된 상태에 있는 복수개의 전자부품에 대한 바코드의 식별을 수행하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  9. 제4 항에 있어서,
    상기 판독기는 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지를 통해 상기 전자부품의 적재 방향도 함께 판독하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 식별장치에 의해 이루어지는 바코드의 식별과 전자부품의 적재 방향은 동시에 이루어지는
    전자부품 테스트용 핸들러.






KR1020160033011A 2016-03-18 2016-03-18 전자부품 테스트용 핸들러 Active KR102656451B1 (ko)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160033011A KR102656451B1 (ko) 2016-03-18 2016-03-18 전자부품 테스트용 핸들러
CN201910926484.5A CN110653174B (zh) 2016-03-18 2017-02-24 电子部件测试用分选机
CN201710102266.0A CN107199183B (zh) 2016-03-18 2017-02-24 电子部件测试用分选机
CN201910925100.8A CN110653173B (zh) 2016-03-18 2017-02-24 电子部件测试用分选机
CN201910446858.3A CN110252685B (zh) 2016-03-18 2017-02-24 电子部件测试用分选机
TW106107197A TWI611195B (zh) 2016-03-18 2017-03-06 電子部件測試用分選機
KR1020230040724A KR102726489B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040717A KR102748325B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040722A KR102799768B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020240027529A KR102932459B1 (ko) 2016-03-18 2024-02-26 전자부품 테스트용 핸들러

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160033011A KR102656451B1 (ko) 2016-03-18 2016-03-18 전자부품 테스트용 핸들러

Related Child Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020230040724A Division KR102726489B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040717A Division KR102748325B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040722A Division KR102799768B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170108703A true KR20170108703A (ko) 2017-09-27
KR102656451B1 KR102656451B1 (ko) 2024-04-12

Family

ID=59904863

Family Applications (5)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160033011A Active KR102656451B1 (ko) 2016-03-18 2016-03-18 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040717A Active KR102748325B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040722A Active KR102799768B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040724A Active KR102726489B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020240027529A Active KR102932459B1 (ko) 2016-03-18 2024-02-26 전자부품 테스트용 핸들러

Family Applications After (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020230040717A Active KR102748325B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040722A Active KR102799768B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020230040724A Active KR102726489B1 (ko) 2016-03-18 2023-03-28 전자부품 테스트용 핸들러
KR1020240027529A Active KR102932459B1 (ko) 2016-03-18 2024-02-26 전자부품 테스트용 핸들러

Country Status (3)

Country Link
KR (5) KR102656451B1 (ko)
CN (4) CN110653173B (ko)
TW (1) TWI611195B (ko)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190050483A (ko) * 2017-11-03 2019-05-13 (주)테크윙 전자부품의 테스트를 지원하는 핸들러용 픽킹장치
KR20190117955A (ko) * 2018-04-09 2019-10-17 (주)테크윙 전자부품 처리용 핸들러의 바코드 인식장치
CN110711705A (zh) * 2018-07-12 2020-01-21 泰克元有限公司 电子部件重新布置设备
KR20200021839A (ko) * 2018-08-21 2020-03-02 (주)테크윙 핸들러 및 이를 포함하는 오토메이션 시스템
WO2020213873A1 (ko) * 2019-04-15 2020-10-22 주식회사 아테코 플라잉 스캔 기능을 갖는 전자부품 테스트 핸들러
WO2020256314A1 (ko) * 2019-06-18 2020-12-24 (주)제이티 소자핸들러 및 그에 사용되는 디지털코드 인식 시스템
KR20210042775A (ko) * 2019-10-10 2021-04-20 (주)테크윙 전자부품 처리용 핸들러 및 기록매체
CN114192441A (zh) * 2018-12-11 2022-03-18 泰克元有限公司 电子部件测试用分选机
CN114472191A (zh) * 2020-11-12 2022-05-13 泰克元有限公司 电子部件处理用分选机及确认插入件是否存在缺陷的方法
KR20220167081A (ko) * 2021-06-11 2022-12-20 주식회사 케이아이 Pba 자동 검사 장치
WO2024262975A1 (ko) * 2023-06-20 2024-12-26 (주)테크윙 테스트 핸들러 및 테스트 핸들러 제어방법

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3502020B1 (en) * 2017-12-19 2020-06-10 Fives Intralogistics S.p.A. Con Socio Unico Sorting machine
KR102775863B1 (ko) * 2018-04-25 2025-03-06 (주)테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
KR102663462B1 (ko) * 2018-11-07 2024-05-09 (주)테크윙 핸들러
CN112642752B (zh) * 2019-10-10 2024-05-24 泰克元有限公司 电子部件处理用分选机
CN111220892A (zh) * 2020-03-04 2020-06-02 长江存储科技有限责任公司 组件测试方法及其结构
CN113798215B (zh) * 2020-06-17 2024-01-16 泰克元有限公司 电子部件测试用分选系统和电子部件安置用适配器
JP2022021241A (ja) * 2020-07-21 2022-02-02 株式会社アドバンテスト 電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置
KR102913065B1 (ko) * 2021-02-05 2026-01-15 (주)테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
KR20220144001A (ko) * 2021-04-16 2022-10-26 (주)테크윙 전자부품 테스트 핸들러 및 이를 제어하는 방법
KR102936017B1 (ko) * 2021-05-28 2026-03-10 (주)테크윙 전자부품 핸들러용 중계장치
US20240327123A1 (en) * 2023-03-30 2024-10-03 Coupang Corp. Systems and methods for automatic product intake, stocking, and retrieval
CN121285748A (zh) * 2023-10-19 2026-01-06 泰克元有限公司 用于测试电子元件的处理机及用于测试电子元件的处理机的电子元件重新配置方法
WO2025084833A1 (ko) * 2023-10-19 2025-04-24 주식회사 테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
JP2025184129A (ja) * 2024-06-06 2025-12-18 株式会社ヒューモラボラトリー バッファ装置、供給装置及び供給方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020031462A (ko) * 2000-10-20 2002-05-02 정문술 핸들러용 트레이 다중 적재장치
KR100876292B1 (ko) * 2007-08-23 2008-12-31 에버테크노 주식회사 에스에스디（ｓｓｄ） 테스트 핸들러
KR20090029943A (ko) * 2007-09-19 2009-03-24 세크론 주식회사 테스트 핸들러 및 그 반도체 소자 공급 배출 방법
KR20090029944A (ko) * 2007-09-19 2009-03-24 세크론 주식회사 테스트 핸들러
KR20120027580A (ko) * 2010-09-13 2012-03-22 삼성전자주식회사 반도체 장치용 테스트 핸들러 및 이를 이용한 반도체 장치 테스트 방법
JP2014020985A (ja) * 2012-07-20 2014-02-03 Seiko Epson Corp 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
KR101391704B1 (ko) * 2012-10-24 2014-05-30 한미반도체 주식회사 반도체 패키지 핸들러 및 그 운용방법

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5845002A (en) * 1994-11-03 1998-12-01 Sunkist Growers, Inc. Method and apparatus for detecting surface features of translucent objects
US7161175B2 (en) * 1997-09-30 2007-01-09 Jeng-Jye Shau Inter-dice signal transfer methods for integrated circuits
US6357023B1 (en) * 1998-04-08 2002-03-12 Kingston Technology Co. Connector assembly for testing memory modules from the solder-side of a PC motherboard with forced hot air
JP2000329809A (ja) * 1999-05-17 2000-11-30 Advantest Corp 電子部品基板の試験装置および試験方法
JP2001004702A (ja) * 1999-06-22 2001-01-12 Advantest Corp 半導体試験装置のｉｃハンドラ装置
WO2004106954A1 (ja) * 2003-05-30 2004-12-09 Advantest Corporation 電子部品試験装置
DE112004002826T5 (de) * 2004-06-08 2007-04-26 Advantest Corporation Bildsensor-Prüfsystem
KR100560729B1 (ko) * 2005-03-22 2006-03-14 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트용 핸들러
WO2006105352A1 (en) * 2005-03-30 2006-10-05 Delta Design, Inc. Process for handling semiconductor devices and transport media in automated sorting equipment
WO2007007406A1 (ja) * 2005-07-13 2007-01-18 Advantest Corporation 電子部品試験装置
KR100818324B1 (ko) * 2006-10-02 2008-03-31 (주)테크윙 테스트핸들러의 테스트 지원방법 및 테스트핸들러
US7973259B2 (en) * 2007-05-25 2011-07-05 Asm Assembly Automation Ltd System for testing and sorting electronic components
KR101133188B1 (ko) * 2009-03-27 2012-04-09 (주)제이티 소자소팅장치 및 그 방법
JP5278122B2 (ja) * 2009-04-06 2013-09-04 ソニー株式会社 トレイ供給装置
CN102189082B (zh) * 2010-03-10 2013-06-26 鸿劲科技股份有限公司 电子元件测试分类机
KR101169406B1 (ko) * 2010-04-12 2012-08-03 (주)제이티 반도체소자 검사장치 및 반도체소자 검사방법
CN102240644A (zh) * 2010-05-11 2011-11-16 中山天贸电池有限公司 电池产品测试分选机和测试分选机的分选方法
JP2012039001A (ja) * 2010-08-10 2012-02-23 Renesas Electronics Corp 半導体装置
CN103477237B (zh) * 2011-03-21 2016-03-02 温莎大学 自动化测试和验证电子元件的装置
KR101205950B1 (ko) * 2011-04-29 2012-11-28 미래산업 주식회사 메모리카드용 테스트 핸들러
KR101333426B1 (ko) * 2011-12-28 2013-12-02 세메스 주식회사 반도체 패키지 분류 장치
KR101362646B1 (ko) * 2012-08-22 2014-02-13 세메스 주식회사 반도체 패키지 검사 방법 및 장치
EP2903404B1 (en) * 2012-09-27 2018-05-23 Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. Component supply device
JP5926403B2 (ja) * 2012-12-25 2016-05-25 平田機工株式会社 搬送システム
TWI456213B (zh) * 2013-01-18 2014-10-11 Hon Tech Inc 電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備
KR20140119243A (ko) * 2013-03-27 2014-10-10 (주)제이티 소자검사장치
KR101999623B1 (ko) * 2013-05-10 2019-07-16 (주)테크윙 반도체소자 테스트용 핸들러의 트레이 적재장치
KR102024943B1 (ko) * 2013-07-17 2019-09-25 미래산업 주식회사 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법
KR102043633B1 (ko) * 2014-01-21 2019-11-13 (주)테크윙 반도체소자 테스트용 핸들러
KR101811662B1 (ko) * 2014-03-07 2017-12-26 (주)테크윙 반도체소자 테스트용 핸들러 및 반도체소자 테스트용 핸들러에서의 테스트 지원 방법
KR101601614B1 (ko) * 2015-11-30 2016-03-08 최혜정 반도체 소자 외관 검사장치

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020031462A (ko) * 2000-10-20 2002-05-02 정문술 핸들러용 트레이 다중 적재장치
KR100876292B1 (ko) * 2007-08-23 2008-12-31 에버테크노 주식회사 에스에스디（ｓｓｄ） 테스트 핸들러
KR20090029943A (ko) * 2007-09-19 2009-03-24 세크론 주식회사 테스트 핸들러 및 그 반도체 소자 공급 배출 방법
KR20090029944A (ko) * 2007-09-19 2009-03-24 세크론 주식회사 테스트 핸들러
KR20120027580A (ko) * 2010-09-13 2012-03-22 삼성전자주식회사 반도체 장치용 테스트 핸들러 및 이를 이용한 반도체 장치 테스트 방법
JP2014020985A (ja) * 2012-07-20 2014-02-03 Seiko Epson Corp 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
KR101391704B1 (ko) * 2012-10-24 2014-05-30 한미반도체 주식회사 반도체 패키지 핸들러 및 그 운용방법

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190050483A (ko) * 2017-11-03 2019-05-13 (주)테크윙 전자부품의 테스트를 지원하는 핸들러용 픽킹장치
KR20220118373A (ko) * 2017-11-03 2022-08-25 (주)테크윙 전자부품의 테스트를 지원하는 핸들러용 픽킹장치
KR20190117955A (ko) * 2018-04-09 2019-10-17 (주)테크윙 전자부품 처리용 핸들러의 바코드 인식장치
CN110363038A (zh) * 2018-04-09 2019-10-22 泰克元有限公司 电子部件处理用分选机的条码识别装置
KR20200007140A (ko) * 2018-07-12 2020-01-22 (주)테크윙 전자부품 재배치장치
CN110711705B (zh) * 2018-07-12 2021-09-24 泰克元有限公司 电子部件重新布置设备
CN110711705A (zh) * 2018-07-12 2020-01-21 泰克元有限公司 电子部件重新布置设备
KR20200021839A (ko) * 2018-08-21 2020-03-02 (주)테크윙 핸들러 및 이를 포함하는 오토메이션 시스템
CN114192441A (zh) * 2018-12-11 2022-03-18 泰克元有限公司 电子部件测试用分选机
WO2020213873A1 (ko) * 2019-04-15 2020-10-22 주식회사 아테코 플라잉 스캔 기능을 갖는 전자부품 테스트 핸들러
US11965926B2 (en) 2019-04-15 2024-04-23 Ateco Inc. Electronic component test handler having flying scan function
WO2020256314A1 (ko) * 2019-06-18 2020-12-24 (주)제이티 소자핸들러 및 그에 사용되는 디지털코드 인식 시스템
KR20210042775A (ko) * 2019-10-10 2021-04-20 (주)테크윙 전자부품 처리용 핸들러 및 기록매체
CN114472191A (zh) * 2020-11-12 2022-05-13 泰克元有限公司 电子部件处理用分选机及确认插入件是否存在缺陷的方法
KR20220167081A (ko) * 2021-06-11 2022-12-20 주식회사 케이아이 Pba 자동 검사 장치
WO2024262975A1 (ko) * 2023-06-20 2024-12-26 (주)테크윙 테스트 핸들러 및 테스트 핸들러 제어방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR102932459B1 (ko) 2026-02-27
KR20230046290A (ko) 2023-04-05
CN110653174B (zh) 2022-04-12
CN110252685B (zh) 2021-09-28
CN110653174A (zh) 2020-01-07
TW201734482A (zh) 2017-10-01
CN110653173B (zh) 2022-04-19
TWI611195B (zh) 2018-01-11
CN107199183A (zh) 2017-09-26
KR102726489B1 (ko) 2024-11-06
CN107199183B (zh) 2019-12-10
KR20230047989A (ko) 2023-04-10
KR20230045002A (ko) 2023-04-04
CN110653173A (zh) 2020-01-07
KR102748325B1 (ko) 2024-12-31
CN110252685A (zh) 2019-09-20
KR102656451B1 (ko) 2024-04-12
KR102799768B1 (ko) 2025-04-28
KR20240031993A (ko) 2024-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102932459B1 (ko) 전자부품 테스트용 핸들러
KR20230165173A (ko) 소자소팅장치
KR20170103496A (ko) 전자부품 공급용 트레이 공급대차 및 전자부품을 처리하는 핸들러
KR102227346B1 (ko) 전자부품 테스트 핸들러
KR102236103B1 (ko) 테스트 트레이 비전 검사기능이 구비된 전자부품 테스트 핸들러
KR102024942B1 (ko) 인라인 테스트 핸들러 및 그 제어방법
KR20150010039A (ko) 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법
CN119490032A (zh) 穿梭机以及包含其的测试处理机
KR20240068596A (ko) 핸들러 및 이를 포함하는 오토메이션 시스템
KR20200121185A (ko) 플라잉 스캔 기능을 갖는 전자부품 테스트 핸들러
KR20200121186A (ko) 전자부품 테스트 핸들러의 스태커 및 이를 포함하는 전자부품 테스트 핸들러
KR20200121187A (ko) 전자부품 테스트 핸들러의 스태커 및 이를 포함하는 전자부품 테스트 핸들러
KR102024946B1 (ko) 인라인 테스트 핸들러
CN112640075B (zh) 元件分类装置
CN220533248U (zh) 打标设备
KR102800747B1 (ko) 디바이스 테스트 핸들러 및 디바이스 핸들링방법
KR100865155B1 (ko) 반도체 디바이스 핸들러 시스템
KR20260049106A (ko) 전자부품 테스트용 핸들러
TWI602131B (zh) 倉儲系統及倉儲系統控制方法
KR20260040999A (ko) 전자부품 테스트용 핸들러
KR20210086181A (ko) 전자부품 테스트용 인라인 시스템
KR20260047522A (ko) 테스트트레이를 이송하는 소크챔버를 갖는 반도체디바이스 테스트 시스템
KR20260036482A (ko) 테스트트레이의 진입 방향을 조절하는 반도체디바이스 테스트 시스템
KR20250161451A (ko) 전자부품 테스트용 핸들러의 픽커핸드
KR20150010040A (ko) 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

R17-X000 Change to representative recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

R17-X000 Change to representative recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000

R17-X000 Change to representative recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000

A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

P22-X000 Classification modified

St.27 status event code: A-2-2-P10-P22-nap-X000

D13-X000 Search requested

St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000

D14-X000 Search report completed

St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

R17-X000 Change to representative recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

A107 Divisional application of patent
AMND Amendment
E13-X000 Pre-grant limitation requested

St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

PA0107 Divisional application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A18-div-PA0107

St.27 status event code: A-0-1-A10-A16-div-PA0107

E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

St.27 status event code: N-2-6-B10-B15-exm-PE0601

X091 Application refused [patent]
T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T13-X000 Administrative time limit extension granted

St.27 status event code: U-3-3-T10-T13-oth-X000

AMND Amendment
P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

PX0901 Re-examination

St.27 status event code: A-2-3-E10-E12-rex-PX0901

PX0701 Decision of registration after re-examination

St.27 status event code: A-3-4-F10-F13-rex-PX0701

X701 Decision to grant (after re-examination)
PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601