KR20170143411A - Led 모듈 검사용 전류 제어 장치 - Google Patents
Led 모듈 검사용 전류 제어 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20170143411A KR20170143411A KR1020160106178A KR20160106178A KR20170143411A KR 20170143411 A KR20170143411 A KR 20170143411A KR 1020160106178 A KR1020160106178 A KR 1020160106178A KR 20160106178 A KR20160106178 A KR 20160106178A KR 20170143411 A KR20170143411 A KR 20170143411A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- current
- unit
- voltage
- current control
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
- G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0023—Measuring currents or voltages from sources with high internal resistance by means of measuring circuits with high input impedance, e.g. OP-amplifiers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0092—Measuring current only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
Description
도2는 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서 제어 전압 인가부의 개략적 블록다이어그램이다.
도3은 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서 도2에 도시된 제어전압 인가부의 개략적 회도로이다.
도4는 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서 멀티 레인지 전류 제어부의 개략적 블록다이어그램이다.
도5는 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서, 도4에 도시된 멀티 레인지 전류 제어부의 발췌 회로도 이다.
도6은 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서 보정값 계산부의 개략적 블록다이어그램 이다.
도7은 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서, 도6에 도시된 보정값 계산부의 개략적 회로도이다.
도8은 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서 전압 보호부의 개략적 블록 다이어 그램이다
도9는 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서, 도8에 도시된 전압 보호부의 개략적 회로도이다.
도10은 본 발명에 따른 전류 제어 장치에서, 메인 제어부(콘트롤러)의 개략적 발췌 회도로이다.
100: 중앙 제어부(마이콤)
101: LED 모듈
110: 보정값 계산부
120: 멀티 레인지 전류 제어부
130: 전압제어 인가부
140: 전압 보호부
150: 메인 파워(SMPS)
Claims (5)
- 검사 대상에 대한 부하 전류를 제어하는 전류 제어소자;
제어 전압과 궤환 전압에 의해 상기 전류 제어 소자에 의한 부하 전류를 결정하는 것으로 다수의 단위 전류 검출부를 포함하는 멀티 레인지 전류 제어부;
상기 다수의 단위 전류 검출부 중 어느 하나를 선택하는 스위칭부; 그리고,
상기 제어 전압을 결정하고, 상기 다채널 스위칭 부를 제어하는 중앙 제어부;를 포함하는, 멀티 레인지 전류 제어 장치. - 제1항에 있어서,
상기 전류 제어소자를 통과한 전류를 검출하여 상기 전류 제어부에 궤환 전압으로 피드백하는 것으로, 특성 값을 달리하는 전류 검출 소자가 상기 단위 전류 검출부에 마련되고, 그리고
상기 단위 전류 검출부에는 상기 스위칭부가 각각 마련되어 있는, 멀티 레인지 전류 제어 장치. - 제2항에 있어서,
상기 스위칭부는 전류 검출 소자를 상기 전류 제어 소자에 온-오프하는 스위칭 소자 및 상기 전류 검출 소자에 검출된 전압의 출력을 스위칭하는 스위칭 소자를 포함하는, 멀티 레인지 전류 제어 장치. - 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서,
상기 전류 제어소자에 인가되는 전압이 임계 전압을 초과했을 때 상기 전류 제어 소자에 대한 전류 제어를 중단하는 전압 보호부;를 더 포함하는, 멀티 레인지 전류 제어 장치. - 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서,
상기 단위 전류 검출부 간의 동일한 전류 제어를 위하여, 단위 전류 검출부 각각의 채널별 특성값을 도출하는 보정값 계산부;를 더 포함하고, 상기 중앙 제어부는 상기 보정값 계산부의 보정값에 의해 상기 단위 전류 검출부의 채널별 전류 제어 값을 보상하는 것을 특징으로 하는, 멀티 레인지 전류 제어 장치.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20160077557 | 2016-06-21 | ||
| KR1020160077557 | 2016-06-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20170143411A true KR20170143411A (ko) | 2017-12-29 |
| KR101971245B1 KR101971245B1 (ko) | 2019-04-22 |
Family
ID=60938978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020160106178A Active KR101971245B1 (ko) | 2016-06-21 | 2016-08-22 | Led 모듈 검사용 전류 제어 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101971245B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240166004A (ko) * | 2022-03-30 | 2024-11-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 검사 장치 및 검사 방법 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102610424B1 (ko) | 2018-08-30 | 2023-12-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 화소 및 이를 포함하는 표시 장치 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050075452A (ko) * | 2002-12-11 | 2005-07-20 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼 |
| US20080170012A1 (en) * | 2007-01-12 | 2008-07-17 | Dilip S | System and method for controlling a multi-string light emitting diode backlighting system for an electronic display |
| JP2011176804A (ja) * | 2010-02-04 | 2011-09-08 | Austriamicrosystems Ag | 電流源、電流源回路、およびこの電流源回路の使用 |
| KR20140053668A (ko) * | 2012-10-26 | 2014-05-08 | 삼성전기주식회사 | 반도체 스위치 소자의 보호 회로 및 게이트 구동 회로 |
-
2016
- 2016-08-22 KR KR1020160106178A patent/KR101971245B1/ko active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050075452A (ko) * | 2002-12-11 | 2005-07-20 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼 |
| US20080170012A1 (en) * | 2007-01-12 | 2008-07-17 | Dilip S | System and method for controlling a multi-string light emitting diode backlighting system for an electronic display |
| JP2011176804A (ja) * | 2010-02-04 | 2011-09-08 | Austriamicrosystems Ag | 電流源、電流源回路、およびこの電流源回路の使用 |
| KR20140053668A (ko) * | 2012-10-26 | 2014-05-08 | 삼성전기주식회사 | 반도체 스위치 소자의 보호 회로 및 게이트 구동 회로 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240166004A (ko) * | 2022-03-30 | 2024-11-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 검사 장치 및 검사 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR101971245B1 (ko) | 2019-04-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8648586B2 (en) | Circuit for sensing load current of a voltage regulator | |
| TWI573387B (zh) | 儀器放大器校準方法、系統及裝置 | |
| US8717051B2 (en) | Method and apparatus for accurately measuring currents using on chip sense resistors | |
| US7777565B2 (en) | Differential amplification circuit and manufacturing method thereof | |
| US20090295462A1 (en) | Voltage Divider, Constant Voltage Circuit Using Same, And Trimming Method In The Voltage Divider Circuit | |
| CN109946510B (zh) | 用于识别负载电流的方法和电池传感器 | |
| US9835656B2 (en) | Method and device for measuring current at a converter | |
| KR101771725B1 (ko) | 볼티지 레귤레이터 | |
| US20110098956A1 (en) | System and method for calibrating a high resolution data acquisition system with a low resolution digital to analog converter | |
| US12334915B2 (en) | High side current detection circuit, overcurrent protection circuit, calibration method and electronic devices | |
| US9413319B2 (en) | Gain calibration | |
| JP6151295B2 (ja) | デューティサイクリングを用いる広範囲の電流計測 | |
| US20200166547A1 (en) | Resistance measuring device and method | |
| KR101971245B1 (ko) | Led 모듈 검사용 전류 제어 장치 | |
| US11422049B2 (en) | Sensor device configured to reduce output errors due to temperature characteristics | |
| US10031162B2 (en) | Current detection device and method for sensing an electric current | |
| JP2015225076A (ja) | 可変抵抗を用いる広範囲の電流計測 | |
| US20190011387A1 (en) | Circuit for determining the conductivity of a medium | |
| JP2008198817A (ja) | 半導体装置およびそのトリミング方法 | |
| CN114124090B (zh) | 快闪式模拟数字转换器与校正方法 | |
| KR101855731B1 (ko) | 이동형 led 조명 장치 | |
| US4131846A (en) | Meter control circuit | |
| US10742206B2 (en) | Switching circuit | |
| US20260022977A1 (en) | Cmos temperature compensator and sensing method thereof | |
| US7345536B2 (en) | Amplifier circuit and control method thereof |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20160822 |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20170818 Patent event code: PE09021S01D |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| E90F | Notification of reason for final refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event date: 20180110 Patent event code: PE09021S02D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20180718 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20190416 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20190417 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20220411 Year of fee payment: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220411 Start annual number: 4 End annual number: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20250325 Start annual number: 7 End annual number: 9 |