KR20200031993A - 이미지를 인코딩하기 위한 방법 및 장치 그리고 이를 이용한 테스트 방법 및 테스트 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 일반적인 CNN 세그멘테이션 프로세스를 간략하게 나타낸 도이다.
도 2a 및 도 2b는 종래의 인셉션 방법을 이용하여 이미지를 인코딩하기 위한 컨벌루션 레이어의 다양한 구성을 각각 나타낸다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 이미지 인코딩 방법을 나타낸다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 이미지 인코딩 방법을 나타낸다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 이미지 인코딩 방법을 나타낸다.
Claims (28)
- CNN 기반 이미지 인코딩 방법에 있어서,
(a) 제1 내지 제n 컨벌루션 레이어를 포함하는 학습 장치가 적어도 하나의 입력 이미지를 획득하는 단계;
(b) 상기 학습 장치가, 상기 컨벌루션 레이어의 적어도 일부 각각으로 하여금, (i) 상기 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득된 입력 특징 맵에 대하여 전치 컨벌루션 연산(Transposed Convolution Operation)을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 전치 특징 맵을 생성하며, (ii) 스트라이드(Stride)와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 그에 대응되는 각각의 전치 특징 맵에 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 인셉션(Inception) 특징 맵을 제1 그룹으로서 생성하는 단계; 및
(c) 상기 학습 장치가, 상기 제1 그룹에 포함된 상기 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 이에 대응하는 출력 특징 맵을 생성하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 그룹에 포함된 상기 인셉션 특징 맵은 사이즈가 동일하지만, 각각 서로 다른 특성을 가지는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 1 항에 있어서,
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (b) 단계는,
(b-1) 상기 학습 장치가, 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 입력 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어에서 획득한 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 제1 내지 제m 전치 특징 맵을 생성하는 단계;
(b-2) 상기 학습 장치가, (i) 상기 제k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 제1 내지 제m 인셉션 특징 맵을 상기 제1 그룹으로서 생성하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 1 항에 있어서,
상기 (b) 단계에서,
상기 학습 장치는 상기 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 입력 특징 맵에 대하여 상기 컨벌루션 연산을 적용하여 적어도 하나의 인셉션 특징 맵을 제2 그룹으로서 생성하고,
상기 (c) 단계에서,
상기 학습 장치는, 상기 제1 그룹의 상기 인셉션 특징 맵 및 상기 제2 그룹의 상기 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 4 항에 있어서
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (b) 단계는,
(b-1) 상기 학습 장치가, 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 입력 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 제1 내지 제m 전치 특징 맵을 생성하는 단계;
(b-2) 상기 학습 장치가, (i) 상기 제 k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 제1 내지 제m 인셉션 특징 맵을 상기 제1 그룹으로서 생성하는 단계; 및
(b-3) 상기 학습 장치가, 상기 입력 이미지 또는 상기 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 제k-1 특징 맵에 대해, 제m+1 내지 제m+n 커널 크기를 갖는 제m+1 내지 제m+n 컨벌루션 필터를 적용하여 제m+1 내지 제m+n 인셉션 특징 맵을 상기 제2 그룹으로서 생성하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 4 항에 있어서
상기 (b) 단계에서,
상기 학습 장치는, 상기 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 입력 특징 맵에 대해, 서로 다른 사이즈의 맥스 풀링 (Max Pooling) 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 맥스 풀링 특징 맵을 제3 그룹으로서 생성하고,
상기 (c) 단계에서,
상기 학습 장치는, 상기 제1 그룹의 상기 인셉션 특징 맵, 상기 제2 그룹의 상기 인셉션 특징 맵 및 상기 제3 그룹의 상기 맥스 풀링 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 1 항에 있어서
상기 (b) 단계에서,
상기 학습 장치는, 상기 제1 컨벌루션 레이어로 하여금 (i) 상기 입력 이미지에 대하여 전치 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 전치 특징 맵을 생성하고, (ii) 스트라이드와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 그에 대응되는 각각의 전치 특징 맵에 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 인셉션 특징 맵을 상기 제1 그룹으로서 생성하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 1 항에 있어서
상기 방법은,
(d) 상기 학습 장치가, 상기 제n 컨벌루션 레이어로부터 출력된 상기 출력 특징 맵을 바탕으로 CNN 출력을 획득하고, 상기 CNN 출력과 이에 대응하는 GT를 참조로 획득한 세그멘테이션 로스의 백프로파게이션(Backpropagation)을 수행하는 단계;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - CNN 기반 이미지 인코딩 방법에 있어서,
(a) (i) 제1 내지 제n 컨벌루션 레이어를 포함하는 학습 장치가 상기 컨벌루션 레이어의 적어도 일부 각각으로 하여금, 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득된 학습용 입력 특징 맵에 대하여 전치 컨벌루션 연산(Transposed Convolution Operation)을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 학습용 전치 특징 맵을 생성하는 프로세스, (ii) 상기 학습 장치가 상기 학습용 전치 특징 맵에 대해 그에 대응하여 스트라이드(Stride)와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 학습용 인셉션(Inception) 특징 맵을 학습용 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스, (iii) 상기 학습 장치가 상기 학습용 제1 그룹에 포함된 상기 학습용 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 이에 대응하는 학습용 출력 특징 맵을 생성하는 프로세스 및 (iv) 상기 학습 장치가 상기 학습용 출력 특징 맵을 바탕으로 학습용 CNN 출력을 획득하고, 상기 학습용 CNN 출력과 이에 대응하는 GT를 참조로 획득한 세그멘테이션 로스의 백프로파게이션(Backpropagation)을 수행하는 프로세스를 수행한 상태에서, 테스트 장치가 적어도 하나의 테스트 이미지를 획득하는 단계;
(b) 상기 테스트 장치가 상기 컨벌루션 레이어의 적어도 일부 각각으로 하여금, (i) 상기 테스트 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득된 테스트용 입력 특징 맵에 대하여 상기 전치 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 테스트용 전치 특징 맵을 생성하며, (ii) 상기 테스트용 전치 특징 맵에 대해 그에 대응하여 스트라이드(Stride)와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 테스트용 인셉션 특징 맵을 테스트용 제1 그룹으로서 생성하는 단계; 및
(c) 상기 테스트 장치가, 상기 테스트용 제1 그룹에 포함된 상기 테스트용 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 이에 대응하는 테스트용 출력 특징 맵을 생성하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 9 항에 있어서,
상기 테스트용 제1 그룹에 포함된 상기 테스트용 인셉션 특징 맵은 사이즈가 동일하지만, 각각 서로 다른 특성을 가지는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 9 항에 있어서,
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (b) 단계는,
(b-1) 상기 테스트 장치가, 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 테스트 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어에서 획득한 테스트용 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 테스트용 제1 내지 제m 전치 특징 맵을 생성하는 단계;
(b-2) 상기 테스트 장치가, (i) 상기 테스트용 제k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 테스트용 제1 내지 테스트용 제m 인셉션 특징 맵을 상기 테스트용 제1 그룹으로서 생성하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 9 항에 있어서,
상기 (b) 단계에서,
상기 테스트 장치는 상기 테스트 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 테스트용 입력 특징 맵에 대하여 상기 컨벌루션 연산을 적용하여 적어도 하나의 테스트용 인셉션 특징 맵을 테스트용 제2 그룹으로서 생성하고,
상기 (c) 단계에서,
상기 테스트 장치는, 상기 테스트용 제1 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵 및 상기 테스트용 제2 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 테스트용 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 12 항에 있어서
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (b) 단계는,
(b-1) 상기 테스트 장치가, 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 테스트 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 테스트용 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 테스트용 제1 내지 테스트용 제m 전치 특징 맵을 생성하는 단계;
(b-2) 상기 테스트 장치가, (i) 상기 테스트용 제 k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드의 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 테스트용 제1 내지 테스트용 제m 인셉션 특징 맵을 상기 테스트용 제1 그룹으로서 생성하는 단계; 및
(b-3) 상기 테스트 장치가, 상기 테스트 이미지 또는 상기 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 테스트용 제k-1 특징 맵에 대해, 제m+1 내지 제m+n 커널 크기를 갖는 제m+1 내지 제m+n 컨벌루션 필터를 적용하여 테스트용 제m+1 내지 테스트용 제m+n 인셉션 특징 맵을 상기 테스트용 제2 그룹으로서 생성하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제 12 항에 있어서
상기 (b) 단계에서,
상기 테스트 장치는, 상기 테스트 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 테스트용 입력 특징 맵에 대해, 서로 다른 사이즈의 맥스 풀링 (Max Pooling) 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 테스트용 맥스 풀링 특징 맵을 테스트용 제3 그룹으로서 생성하고,
상기 (c) 단계에서,
상기 테스트 장치는, 상기 테스트용 제1 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵, 상기 테스트용 제2 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵 및 상기 테스트용 제3 그룹의 상기 테스트용 맥스 풀링 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 테스트용 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1 내지 제n 컨벌루션 레이어를 포함하는, CNN 기반 이미지 인코딩을 위한 학습 장치에 있어서,
적어도 하나의 트레이닝 이미지를 입력 이미지로서 획득하기 위한 통신부; 및
(I) 상기 컨벌루션 레이어의 적어도 일부 각각으로 하여금, (i) 상기 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득된 입력 특징 맵에 대하여 전치 컨벌루션 연산(Transposed Convolution Operation)을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 전치 특징 맵을 생성하며, (ii) 스트라이드(Stride)와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 그에 대응되는 각각의 전치 특징 맵에 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 인셉션(Inception) 특징 맵을 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스, 및 (II) 상기 제1 그룹에 포함된 상기 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 이에 대응하는 출력 특징 맵을 생성하는 프로세스를 수행하는 프로세서;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 15 항에 있어서,
상기 제1 그룹에 포함된 상기 인셉션 특징 맵은 사이즈가 동일하지만, 각각 서로 다른 특성을 가지는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 15 항에 있어서,
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (I) 프로세스는,
(I-1) 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 입력 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어에서 획득한 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 제1 내지 제m 전치 특징 맵을 생성하는 프로세스;
(I-2) (i) 상기 제k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 제1 내지 제m 인셉션 특징 맵을 상기 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 15 항에 있어서,
상기 (I) 프로세스에서,
상기 프로세서는 상기 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 입력 특징 맵에 대하여 상기 컨벌루션 연산을 적용하여 적어도 하나의 인셉션 특징 맵을 제2 그룹으로서 생성하고,
상기 (II) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 제1 그룹의 상기 인셉션 특징 맵 및 상기 제2 그룹의 상기 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 18 항에 있어서
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (I) 프로세스는,
(I-1) 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 입력 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 제1 내지 제m 전치 특징 맵을 생성하는 프로세스;
(I-2) (i) 상기 제 k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 제1 내지 상기 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드의 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 제1 내지 제m 인셉션 특징 맵을 상기 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스; 및
(I-3) 상기 입력 이미지 또는 상기 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 제k-1 특징 맵에 대해, 제m+1 내지 제m+n 커널 크기를 갖는 제m+1 내지 제m+n 컨벌루션 필터를 적용하여 제m+1 내지 제m+n 인셉션 특징 맵을 상기 제2 그룹으로서 생성하는 프로세스;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 18 항에 있어서
상기 (I) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 입력 특징 맵에 대해, 서로 다른 사이즈의 맥스 풀링 (Max Pooling) 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 맥스 풀링 특징 맵을 제3 그룹으로서 생성하고,
상기 (II) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 제1 그룹의 상기 인셉션 특징 맵, 상기 제2 그룹의 상기 인셉션 특징 맵 및 상기 제3 그룹의 상기 맥스 풀링 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 15 항에 있어서
상기 (I) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 제1 컨벌루션 레이어로 하여금 (i) 상기 입력 이미지에 대하여 전치 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 전치 특징 맵을 생성하고, (ii) 상기 전치 특징 맵에 대해 스트라이드와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 인셉션 특징 맵을 상기 제1 그룹으로서 생성하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 15 항에 있어서
상기 프로세서는,
(III) 상기 제n 컨벌루션 레이어로부터 출력된 상기 출력 특징 맵을 바탕으로 CNN 출력을 획득하고, 상기 CNN 출력과 이에 대응하는 GT를 참조로 획득한 세그멘테이션 로스의 백프로파게이션(Backpropagation)을 수행하는 프로세스;
를 더 수행하는 것을 특징으로 하는 장치. - CNN 기반 이미지 인코딩을 위한 테스트 장치에 있어서,
(i) 제1 내지 제n 컨벌루션 레이어를 포함하는 학습 장치가 상기 컨벌루션 레이어의 적어도 일부 각각으로 하여금, 입력 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득된 학습용 입력 특징 맵에 대하여 전치 컨벌루션 연산(Transposed Convolution Operation)을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 학습용 전치 특징 맵을 생성하는 프로세스, (ii) 상기 학습 장치가 스트라이드(Stride)와 커널 크기를 달리 하여 컨벌루션 연산을 그에 대응하는 상기 학습용 전치 특징 맵에 대하여 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 학습용 인셉션 특징 맵(Inception Feature Maps For Training)을 학습용 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스, (iii) 상기 학습 장치가 상기 학습용 제1 그룹에 포함된 상기 학습용 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 이에 대응하는 학습용 출력 특징 맵을 생성하는 프로세스 및 (iv) 상기 학습 장치가 상기 학습용 출력 특징 맵을 바탕으로 학습용 CNN 출력을 획득하고, 상기 학습용 CNN 출력과 이에 대응하는 GT를 참조로 획득한 세그멘테이션 로스의 백프로파게이션(Backpropagation)을 수행하는 프로세스를 수행한 상태에서, 적어도 하나의 테스트 이미지를 획득하는 통신부; 및
(I) 상기 컨벌루션 레이어의 적어도 일부 각각으로 하여금, (i) 상기 테스트 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득된 상기 테스트용 입력 특징 맵에 대하여 상기 전치 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 각각 다른 사이즈를 갖는 적어도 하나의 테스트용 전치 특징 맵을 생성하며, (ii) 상기 테스트용 전치 특징 맵에 대해 그에 대응하여 스트라이드(Stride)와 커널 크기를 달리 한 컨벌루션 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 테스트용 인셉션 특징 맵(Inception Feature Maps)을 테스트용 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스; 및 (II) 상기 테스트용 제1 그룹에 포함된 상기 테스트용 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 이에 대응하는 테스트용 출력 특징 맵을 생성하는 프로세스;를 수행하는 프로세서;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 23 항에 있어서,
상기 테스트용 제1 그룹에 포함된 상기 테스트용 인셉션 특징 맵은 사이즈가 동일하지만, 각각 서로 다른 특성을 가지는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 23 항에 있어서,
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (I) 프로세스는,
(I-1) 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 테스트 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어에서 획득한 테스트용 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 테스트용 제1 내지 제m 전치 특징 맵을 생성하는 프로세스;
(I-2) (i) 상기 테스트용 제k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 테스트용 제1 내지 테스트용 제m 인셉션 특징 맵을 상기 테스트용 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 23 항에 있어서,
상기 (I) 프로세스에서,
상기 프로세서는 상기 테스트 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 테스트용 입력 특징 맵에 대하여 상기 컨벌루션 연산을 적용하여 적어도 하나의 테스트용 인셉션 특징 맵을 테스트용 제2 그룹으로서 생성하고,
상기 (II) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 테스트용 제1 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵 및 상기 테스트용 제2 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 테스트용 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 26 항에 있어서
적어도 하나의 상기 컨벌루션 레이어가 제k 컨벌루션 레이어인 경우,
상기 (II) 프로세스는,
(II-1) 상기 제k 컨벌루션 레이어로 하여금, 상기 테스트 이미지 또는 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 테스트용 제k-1 특징 맵에 대해, 제1 내지 제m 전치 컨벌루션 연산 - m은 2 이상의 자연수 - 을 적용하도록 하여 제1 내지 제m 사이즈를 갖는 테스트용 제1 내지 테스트용 제m 전치 특징 맵을 생성하는 프로세스;
(II-2) (i) 상기 테스트용 제 k-1 특징 맵의 사이즈와 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵 각각의 사이즈의 비율을 각각 참조로 하여 제1 내지 제m 스트라이드의 크기를 결정하고, (ii) 상기 테스트용 제1 내지 상기 테스트용 제m 전치 특징 맵에 대해, 상기 제1 내지 상기 제m 스트라이드의 크기 및 제1 내지 제m 커널 크기를 갖는 제1 내지 제m 컨벌루션 필터를 각각 적용하여, 테스트용 제1 내지 테스트용 제m 인셉션 특징 맵을 상기 테스트용 제1 그룹으로서 생성하는 프로세스; 및
(II-3) 상기 테스트 이미지 또는 상기 제k-1 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 테스트용 제k-1 특징 맵에 대해, 제m+1 내지 제m+n 커널 크기를 갖는 제m+1 내지 제m+n 컨벌루션 필터를 적용하여 테스트용 제m+1 내지 테스트용 제m+n 인셉션 특징 맵을 상기 테스트용 제2 그룹으로서 생성하는 프로세스;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 26 항에 있어서
상기 (I) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 테스트 이미지 또는 이전 컨벌루션 레이어로부터 획득한 상기 테스트용 입력 특징 맵에 대해, 서로 다른 사이즈의 맥스 풀링 (Max Pooling) 연산을 적어도 한 번 적용하여 적어도 하나의 테스트용 맥스 풀링 특징 맵을 테스트용 제3 그룹으로서 생성하고,
상기 (II) 프로세스에서,
상기 프로세서는, 상기 테스트용 제1 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵, 상기 테스트용 제2 그룹의 상기 테스트용 인셉션 특징 맵 및 상기 테스트용 제3 그룹의 상기 테스트용 맥스 풀링 특징 맵을 컨캐터네이팅하거나 요소별 합산(Element-Wise Adding)하여 상기 테스트용 출력 특징 맵을 생성하는 것을 특징으로 하는 장치.
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