KR20200034093A - 흄 트랩 장치 및 이를 구비하는 기판 열처리 시스템 - Google Patents
흄 트랩 장치 및 이를 구비하는 기판 열처리 시스템 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 흄 트랩 장치의 개략적인 구조를 보여주는 단면도이다.
도 3은 본 발명의 제3 실시예에 따른 흄 트랩 장치의 개략적인 구조를 보여주는 단면도이다.
도 4는 본 발명의 제4 실시예에 따른 흄 트랩 장치의 개략적인 구조를 보여주는 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제5 실시예에 따른 흄 트랩 장치의 개략적인 구조를 보여주는 단면도이다.
도 6은 본 발명에 따른 흄 트랩 장치에 구비되는 냉각 유로를 보여주는 예시도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 흄 트랩 장치를 구비하는 기판 열처리 시스템의 개략적인 구조를 보여주는 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 흄 트랩 장치를 구비하는 기판 열처리 시스템의 개략적인 구조를 보여주는 정면도이다.
도 9는 기판 열처리 장치에 기판을 전달하는 기판 전달 로봇의 핸드를 개략적으로 도시한 예시도이다.
120: 유입부 130: 배출부
140: 격벽부 150: 냉각 유로
160: 체결부 200: 기판 열처리 시스템
210: 제2 하우징 220: 냉각 유닛
221: 냉각판 222: 냉각 부재
230: 가열 유닛 231: 커버
232: 구동기 233: 몸체부
234: 근접 핀 235: 히터
236: 진공 홀 237: 가열 플레이트
240: 반송 로봇 241: 반송 플레이트
310: 냉각 영역 320: 버퍼 영역
330: 가열 영역
Claims (10)
- 하우징;
상기 하우징에 형성된 유입구를 통해 흄(fume)을 포함하는 기류를 상기 하우징의 내부로 유입시키는 유입부;
상기 하우징에 형성된 배출구를 통해 상기 흄이 제거된 기류를 상기 하우징의 외부로 배출시키는 배출부;
상기 흄을 포함하는 기류의 이동 거리를 증가시키기 위해, 상기 하우징의 내부에서 간격을 두고 배치되어 상기 흄을 포함하는 기류의 이동 경로를 가이드하는 복수개의 격벽부; 및
상기 하우징의 외표면을 감싸도록 형성되며, 상기 흄이 기류로부터 분리되도록 상기 기류를 냉각시키기 위한 물질이 통과하는 통로를 제공하는 냉각 유로를 포함하는 흄 트랩 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 하우징은 서로 마주보는 제1 면과 제2 면을 포함하고,
상기 유입구와 상기 배출구는 상기 하우징의 제1 면에 형성되고,
상기 유입부는 상기 하우징의 외부로부터 상기 하우징의 내부까지 연장되는 배관이고, 상기 배관의 종단은 상기 제1 면보다 상기 제2 면에 가깝게 배치되고,
상기 배관을 따라 유입된 기류는, 상기 복수개의 격벽부를 따라 상기 배출부로 가이드되는 흄 트랩 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 격벽부는 상기 하우징의 내부의 안쪽에서 바깥쪽 방향으로 제1 격벽과 제2 격벽이 순차적으로 반복되어 배치되며,
상기 제1 격벽은 상기 제1 하우징의 내부 하단면으로부터 상방으로 연장되어 형성되고,
상기 제2 격벽은 상기 제1 하우징의 내부 상단면으로부터 하방으로 연장되어 형성되는 흄 트랩 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 격벽부는 상기 하우징의 내부의 아래에서 위쪽 방향으로 제3 격벽과 제4 격벽이 순차적으로 반복되어 배치되며,
상기 제3 격벽은 상기 유입부의 표면으로부터 상기 하우징의 내부 측벽이 위치한 방향으로 연장되어 형성되고,
상기 제4 격벽은 상기 하우징의 내부 측벽으로부터 상기 유입부의 표면이 위치한 방향으로 연장되어 형성되는 흄 트랩 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 격벽부는 상기 하우징의 내부의 아래에서 위쪽 방향으로 제5 격벽과 제6 격벽이 순차적으로 반복되어 배치되며,
상기 제5 격벽과 상기 제6 격벽은 상기 하우징의 내부 측벽으로부터 상기 유입부의 표면까지 연장되어 형성되고,
상기 제5 격벽과 상기 제6 격벽은 서로 다른 개수의 홀을 구비하는 흄 트랩 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 격벽부는 상기 하우징의 내부의 아래에서 위쪽 방향으로 제5 격벽과 제6 격벽이 순차적으로 반복되어 배치되며,
상기 제5 격벽과 상기 제6 격벽은 상기 하우징의 내부 측벽으로부터 상기 유입부의 표면까지 연장되어 형성되고,
상기 제5 격벽에 형성되는 홀과 상기 제6 격벽에 형성되는 홀은 서로 다른 측에 치우쳐 형성되는 흄 트랩 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 냉각 유로는 상기 기류를 냉각시키기 위한 물질로 냉각수를 이용하며,
상기 냉각수는 기판을 냉각시키는 장치로부터 공급받는 흄 트랩 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 배출부는 상기 유입부와 동일 개수 구비되거나 상기 유입부보다 더 많은 개수 구비되는 흄 트랩 장치. - 가열 플레이트(hot plate)를 이용하여 상기 기판을 가열하는 가열 유닛;
가열된 상기 기판을 냉각시키는 냉각 유닛;
상기 기판을 상기 가열 유닛으로부터 상기 냉각 유닛으로 이송시키는 반송 로봇; 및
하우징; 상기 하우징에 형성된 유입구를 통해 흄(fume)을 포함하는 기류를 상기 하우징의 내부로 유입시키는 유입부; 상기 하우징에 형성된 배출구를 통해 상기 흄이 제거된 기류를 상기 하우징의 외부로 배출시키는 배출부; 상기 흄을 포함하는 기류의 이동 거리를 증가시키기 위해, 상기 하우징의 내부에서 간격을 두고 배치되어 상기 흄을 포함하는 기류의 이동 경로를 가이드하는 복수개의 격벽부; 및 상기 하우징의 외표면을 감싸도록 형성되며, 상기 흄이 기류로부터 분리되도록 상기 기류를 냉각시키기 위한 물질이 통과하는 통로를 제공하는 냉각 유로를 포함하는 흄 트랩 장치를 포함하는 기판 열처리 시스템. - 제 9 항에 있어서,
상기 흄 트랩 장치는 탈부착 가능하게 형성되는 기판 열처리 시스템.
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| KR1020180113347A KR102221272B1 (ko) | 2018-09-21 | 2018-09-21 | 흄 트랩 장치 및 이를 구비하는 기판 열처리 시스템 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020180113347A KR102221272B1 (ko) | 2018-09-21 | 2018-09-21 | 흄 트랩 장치 및 이를 구비하는 기판 열처리 시스템 |
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Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020015189A (ko) * | 2000-08-21 | 2002-02-27 | 문영환 | 반도체 공정 배출 가스중 유해성분 처리 약제 용기 |
| JP2003068726A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Tokyo Electron Ltd | 冷却機能を備えた加熱処理装置 |
| KR20030061162A (ko) * | 2002-01-11 | 2003-07-18 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조장치의 펌핑 시스템 |
| KR20060085357A (ko) * | 2005-01-24 | 2006-07-27 | 삼성전자주식회사 | 반도체 설비의 잔류부산물 포집장치 |
| KR20070020639A (ko) * | 2005-08-16 | 2007-02-22 | 주식회사 제우스 | 냉각효율이 향상된 냉각트랩 |
| KR20090131548A (ko) * | 2008-06-18 | 2009-12-29 | 주식회사 동부하이텍 | 이중 분리형 캐니스터 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020015189A (ko) * | 2000-08-21 | 2002-02-27 | 문영환 | 반도체 공정 배출 가스중 유해성분 처리 약제 용기 |
| JP2003068726A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Tokyo Electron Ltd | 冷却機能を備えた加熱処理装置 |
| KR20030061162A (ko) * | 2002-01-11 | 2003-07-18 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조장치의 펌핑 시스템 |
| KR20060085357A (ko) * | 2005-01-24 | 2006-07-27 | 삼성전자주식회사 | 반도체 설비의 잔류부산물 포집장치 |
| KR20070020639A (ko) * | 2005-08-16 | 2007-02-22 | 주식회사 제우스 | 냉각효율이 향상된 냉각트랩 |
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