KR20200047864A - 기판 처리 장치 - Google Patents
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- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 제1실시예에 의한 기판 처리 장치를 도시한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 의한 기판 처리 장치의 냉각플레이트의 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제1실시예에 의한 기판 처리 장치의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제2실시예에 의한 기판 처리 장치의 단면도이다.
도 6은 본 발명의 제3실시예에 의한 기판 처리 장치의 단면도이다.
도 7은 도 6의 “A” 부분을 평면에서 본 상세도이다.
111; 공기분사노즐 120; 냉각수 공급라인
130; 냉각수 배출라인 140; 냉각공기 공급라인
200; 냉각플레이트 210; 체결부
220; 지지핀 230; 냉각수 유로
240; 공기 유로 242; 공기분사노즐
Claims (12)
- 연결블록;
상기 연결블록에 서로 이격되도록 복수 체결되고, 기판을 지지하는 냉각플레이트;를 포함하며,
상기 냉각플레이트의 내부에는 냉각수가 흐르는 냉각수 유로와, 냉각공기가 유동하는 공기 유로가 구비되고,
상기 냉각플레이트의 저면에는 상기 공기 유로와 연결되며 하측에 배치된 기판에 냉각공기를 분사하는 공기분사노즐이 적어도 하나 이상 형성되는 기판 처리 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 냉각플레이트는 상기 연결블록에 체결되는 체결부를 더 포함하며,
상기 체결부에는 상기 냉각수 유로의 입구와 출구 및 상기 공기 유로의 입구가 형성되는 기판 처리 장치.
- 제2항에 있어서,
상기 공기분사노즐은 상기 체결부로부터 멀어질수록 직경이 증가하도록 형성되는 기판 처리 장치.
- 제2항에 있어서,
상기 연결블록에는, 상기 냉각수 유로의 입구와 출구에 각각 연결되는 냉각수 공급라인과 냉각수 배출라인 및 상기 공기 유로의 입구에 연결되는 냉각공기 공급라인이 구비되는 기판 처리 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 냉각수 유로와 상기 공기 유로는 서로 상이한 위상으로 형성되는 기판 처리 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 냉각수 유로와 상기 공기 유로는 동일 위상에서 서로 간섭되지 않도록 형성되는 기판 처리 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 연결블록은 상기 냉각플레이트를 지지하도록 일측으로 돌출되는 지지부를 더 포함하는 기판 처리 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 냉각플레이트의 상면에는 기판을 지지하는 지지핀이 구비되는 기판 처리 장치.
- 연결블록;
상기 연결블록에 서로 이격되도록 복수 체결되며, 기판을 지지하는 냉각플레이트;를 포함하며,
상기 연결블록의 일측에는 적어도 하나 이상의 공기분사노즐이 형성되고, 상기 냉각플레이트의 내부에는 냉각수가 흐르는 냉각수 유로가 구비되는 기판 처리 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 연결블록은 상기 냉각플레이트를 지지하도록 일측으로 돌출되는 지지부를 더 포함하며, 상기 공기분사노즐은 상기 지지부에 형성되는 기판 처리 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 공기분사노즐은 원형, 슬릿형 중 어느 하나의 형태로 형성되는 기판 처리 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 공기분사노즐은 분사구 측으로 갈수록 직경이 증가하거나 또는 분사구 측으로 갈수록 점차 분사각도가 증가하도록 형성되는 기판 처리 장치.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR1020180128104A KR102139602B1 (ko) | 2018-10-25 | 2018-10-25 | 기판 처리 장치 |
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| KR1020180128104A KR102139602B1 (ko) | 2018-10-25 | 2018-10-25 | 기판 처리 장치 |
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| KR20200047864A true KR20200047864A (ko) | 2020-05-08 |
| KR102139602B1 KR102139602B1 (ko) | 2020-07-31 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR1020180128104A Active KR102139602B1 (ko) | 2018-10-25 | 2018-10-25 | 기판 처리 장치 |
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|---|---|
| KR (1) | KR102139602B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11281116B2 (en) * | 2020-03-24 | 2022-03-22 | Tokyo Electron Limited | Substrate stage and substrate processing apparatus |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030071098A (ko) * | 2002-02-27 | 2003-09-03 | 주식회사 엘지이아이 | 질화갈륨 기판의 제조 장치 |
| KR20070121394A (ko) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | 세메스 주식회사 | 기판 냉각 챔버 및 방법, 그리고 상기 챔버를 구비하는플라즈마 처리장치 및 방법 |
| KR20120002139A (ko) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 기판 가공 장치 |
| KR20170017506A (ko) | 2015-08-07 | 2017-02-15 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| KR20170052333A (ko) * | 2015-11-04 | 2017-05-12 | 세메스 주식회사 | 냉각 유닛, 기판 처리 장치, 그리고 기판 처리 방법 |
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- 2018-10-25 KR KR1020180128104A patent/KR102139602B1/ko active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030071098A (ko) * | 2002-02-27 | 2003-09-03 | 주식회사 엘지이아이 | 질화갈륨 기판의 제조 장치 |
| KR20070121394A (ko) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | 세메스 주식회사 | 기판 냉각 챔버 및 방법, 그리고 상기 챔버를 구비하는플라즈마 처리장치 및 방법 |
| KR20120002139A (ko) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 기판 가공 장치 |
| KR20170017506A (ko) | 2015-08-07 | 2017-02-15 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| KR20170052333A (ko) * | 2015-11-04 | 2017-05-12 | 세메스 주식회사 | 냉각 유닛, 기판 처리 장치, 그리고 기판 처리 방법 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11281116B2 (en) * | 2020-03-24 | 2022-03-22 | Tokyo Electron Limited | Substrate stage and substrate processing apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR102139602B1 (ko) | 2020-07-31 |
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