KR20220132531A - 조사기 및 카메라 및/또는 센서를 사용하는 제어된 환경 원예를 위한 다중센서 이미징 방법 및 장치 - Google Patents
조사기 및 카메라 및/또는 센서를 사용하는 제어된 환경 원예를 위한 다중센서 이미징 방법 및 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
당업자는, 도면들이 주로 예시적인 목적을 위한 것이며 본원에 기술된 본 발명의 주제의 범위를 제한하려는 것이 아님을 이해할 것이다. 도면은 반드시 일정한 비율은 아니며; 일부 경우에, 본원에 개시된 본 발명의 주제의 다양한 측면들은 도면에서 과장되거나 확대되어 상이한 특징의 이해를 용이하게 할 수 있다. 도면에서, 유사한 참조 부호는 일반적으로 유사한 특징(예, 기능적으로 유사한 요소 및/또는 구조적으로 유사한 요소)을 지칭한다.
도 1은 본 발명의 구현에 따른 다중 감각 이미징 시스템을 나타낸다.
도 2는 본 발명의 구현에 따른 다중 감각 이미징 시스템을 나타낸다.
도 3은 본 개시의 일부 구현에 따라 다중 스펙트럼 이미징 엔진의 블록 다이어그램이다.
도 4는 본 개시의 일부 구현에 따라 다중 스펙트럼 이미징 엔진의 블록 다이어그램이다.
도 5는 본 개시의 일부 구현에 따라 다중 스펙트럼 이미징 엔진을 나타낸다.
도 6은 도 5의 이미징 엔진의 상부, 전방, 좌측 사시도를 나타낸다.
도 7은 본 개시의 일부 구현에 따라 다중 스펙트럼 이미징 엔진을 나타낸다.
도 8은 캐리어 보드 및 프로세서를 갖는 도 7의 다중 스펙트럼 이미징 엔진을 나타낸다.
도 9는 캐리어 보드 및 프로세서를 갖는 도 7의 다중 스펙트럼 이미징 엔진의 다른 뷰를 나타낸다.
도 10은 본 개시의 일부 구현에 따라 원형 다중 스펙트럼 이미징 엔진을 나타낸다.
도 11은 기준 반사 타겟을 사용하는 다중 스펙트럼 이미징 시스템의 협대역 이미지 교정을 나타낸다.
도 12는 흑체 방사체를 사용하는 다중 스펙트럼 이미징 시스템의 열화상 이미지 교정을 나타낸다.
도 13은 다중 스펙트럼 이미징 시스템에 의해 수집된 구성 협대역 및 열화상 이미지로 다중 스펙트럼 이미지를 생성하는 데 사용되는 것을 나타낸다.
도 14는 본 개시의 일부 구현예에 따라, 특징부 세트로서 사용되는 값의 벡터이다.
도 15는 본 개시의 일부 구현예에 따라, 기준 조건 라이브러리를 나타낸다.
도 16은 본 개시의 일부 구현예에 따라, 이미지 처리 방법론의 블록 다이어그램을 나타낸다.
도 17은 본 개시의 일부 구현예에 따라, 머신 러닝 알고리즘 방법론의 블록 다이어그램을 나타낸다.
도 18은 본 개시의 일부 구현예에 따라, 특징부 세트로서 사용되는 값의 벡터이다.
도 19는 가시광 내지 단파장 적외선(SWIR) 영역에서 다양한 환경의 알베도 스펙트럼을 나타낸다.
도 20은 다양한 식물 관련 화합물의 스펙트럼 흡광도를 나타낸다.
도 21은 클로로필 a 및 클로로필 b의 스펙트럼 흡광도를 나타낸다.
도 22는 본 발명의 구현에 따른 다중 파장 이미징 시스템을 나타낸다.
도 23은 CEH 시스템에서 다중 스펙트럼 이미징 시스템을 나타낸다.
도 24는 본 발명의 구현에 따른 다중 감각 이미징 시스템을 나타낸다.
도 25는 본 발명의 구현에 따른 2D 센서 그리드를 나타낸다.
도 26은 본 발명의 구현에 따른 CEH 시스템에서 도 25의 2D 센서 그리드를 나타낸다.
도 27은 본 개시의 일부 구현에 따라, 센서 노드에서 여러 센서의 블록 다이어그램이다.
도 28은 다중 감각 이미징 시스템에 의해 수집된 센서 정보로부터 컴파일링된 구성 감각 이미지를 나타낸다.
도 29는 본 개시의 일부 구현에 따라, 특징부 세트로서 사용되는 값의 벡터이다.
도 30은 본 개시의 일부 구현에 따른 기준 조건 라이브러리를 나타낸다.
도 31은 본 발명의 구현에 따른 다중 감각 이미징 시스템의 3D 센서 그리드를 나타낸다.
도 32-1은 도 31의 다중 감각 이미징 시스템의 상부도를 나타낸다.
도 32-2는 도 31의 다중 감각 이미징 시스템의 측면도를 나타낸다.
도 32-3은 도 31의 다중 감각 이미징 시스템의 전방도를 나타낸다.
도 33은 본 개시의 일부 구현에 따라, 특징부 세트로서 사용되는 값의 벡터이다.
도 34는 본 발명의 구현에 따른 다중 감각 이미징 시스템을 나타낸다.
도 35는 본 개시의 일부 구현에 따라, 센서 노드에서 여러 센서 및 이미징 엔진의 블록 다이어그램이다.
도 36은 도 34의 다중 감각 이미징 시스템의 상부도이다.
Claims (56)
- 다중 스펙트럼 이미징 장치(1100)로서,
자외선(UV) 영역에서 단파장 적외선(SWIR) 영역까지의 제1 파장 범위에서 복수의 협대역 조사기를 포함한 적어도 하나의 조사원(1140);
제1 시야 및 상기 제1 파장 범위에서 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위한 적어도 하나의 제1 카메라(1005A);
상기 제1 시야 및 장파장 적외선(LWIR) 영역에서 LWIR 이미지를 획득하기 위한 적어도 하나의 제2 카메라(1005B); 및
상기 적어도 하나의 조사원 및 상기 적어도 하나의 제1 카메라를 제어하기 위한 적어도 하나의 제어기(5020)를 포함하되, 상기 적어도 하나의 제2 카메라는 상기 LWIR 이미지를 연속적으로 획득하는 동안, 상기 적어도 하나의 제어기는 상기 적어도 하나의 조사원과 조합하여 상기 적어도 하나의 제1 카메라를 주기적으로 활성화시켜 상기 UV-SWIR 이미지를 획득하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 조사원의 상기 복수의 협대역 조사기는 복수의 본질적으로 단색광인 LED를 포함하되, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 중 적어도 일부의 각각의 LED는 275 나노미터(nm) 내지 2060 나노미터(nm) 범위의 상이한 방출 파장을 갖는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 중 적어도 일부의 각각의 LED의 상이한 방출 파장은 275 nm, 365 nm, 440 nm, 450 nm, 475 nm, 500 nm, 530 nm, 620 nm, 630 nm, 660 nm, 696 nm, 730 nm, 760 nm, 850 nm, 860 nm, 940 nm, 950 nm, 1450 nm, 1610 nm, 또는 2060 nm 중 적어도 두 개를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 의 적어도 일부의 각각의 LED의 상이한 방출 파장은 365 nm, 450 nm, 530 nm, 630 nm, 660 nm, 730 nm, 860 nm, 및 950 nm를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위한 상기 적어도 하나의 제1 카메라는 팬-틸트-줌(PTZ) 카메라인, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제2항에 있어서, 비행 시간 근접 센서(1005D)를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 적어도 하나의 제어기는, 상기 다중 스펙트럼 이미징 장치의 작동 중에,
A) 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED의 제1 LED 요소를 활성화시켜 제1 파장에서 제1 방사선을 방출하고,
B) A) 동안, 제1 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위해 적어도 하나의 제1 카메라를 제어하고,
C) 상기 제1 LED 요소를 비활성화하고,
D) 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED의 제2 LED 요소를 활성화시켜 제2 파장에서 제2 방사선을 방출하고,
E) D) 동안, 제2 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위해 적어도 하나의 제1 카메라를 제어하고,
F) 상기 제2 LED 요소를 비활성화하도록 구성되는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제7항에 있어서, 상기 적어도 하나의 제어기는,
G) 상기 다중 스펙트럼 이미징 장치의 작동 동안, D), E), 및 F)의 상기 제2 LED 요소 대신에 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED의 각각의 추가 LED 요소를 연속 대체함으로써, D), E), 및 F)를 반복하도록 구성되는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제어된 환경 원예(CEH)용 밀폐된 환경(2000)을 제공하기 위한 빌딩 구조물(2050)로서, 상기 밀폐된 환경은 적어도 하나의 재배 영역(902)을 포함하고, 상기 빌딩 구조물은,
상기 제1 시야가 상기 밀폐된 환경의 적어도 하나의 재배 영역의 적어도 일부를 포함하도록 상기 빌딩 구조물 내에 배치된 제8항의 다중 스펙트럼 이미징 장치를 포함하는, 빌딩 구조물. - 제9항에 있어서, 상기 빌딩 구조물은 100 미터 미만의 길이 스케일(2075)을 갖는, 빌딩 구조물.
- 제9항에 있어서, 상기 빌딩 구조물은 온실, 밀폐된 재배실, 또는 경지의 일부분에 대한 커버인, 빌딩 구조물.
- 제9항에 있어서, 상기 다중 스펙트럼 이미징 장치의 작동 동안, 상기 적어도 하나의 제어기는, 상기 밀폐된 환경의 적어도 하나의 재배 영역이 어두운 환경일 경우에 A), B), C), D), E), F), 및 G)를 수행하도록 구성되는, 빌딩 구조물.
- 제12항에 있어서, 상기 적어도 하나의 재배 영역에 광합성 활성 방사선(PAR)을 제공하기 위한 인공 조명 시스템(1000)을 추가로 포함하되,
상기 다중 스펙트럼 이미징 장치의 적어도 하나의 제어기는 상기 인공 조명 시스템을 끄는 동안에 상기 적어도 하나의 제어기는 A), B), C), D), E), F) 및 G)를 수행하도록 구성되는, 빌딩 구조물. - 제13항에 있어서,
상기 인공 조명 시스템은 적어도 하나의 포트를 포함하고,
상기 다중 스펙트럼 이미징 장치는 상기 인공 조명 시스템의 적어도 하나의 포트에 통신 가능하게 결합되는, 빌딩 구조물. - 제1항에 있어서, 상기 제1 시야에서 상기 적어도 하나의 제1 카메라에 의해 획득된 상기 UV-SWIR 이미지 및 상기 제1 시야에서 상기 적어도 하나의 제2 카메라에 의해 획득된 상기 LWIR 이미지를 중첩시켜, 상기 UV-SWIR 이미지 및 상기 LWIR 이미지를 포함한 적어도 하나의 다중 스펙트럼 이미지(5090A)를 생성하는 이미지 프로세서(5000A)를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제15항에 있어서,
상기 적어도 하나의 조사원의 상기 복수의 협대역 조사기는 복수의 본질적으로 단색광인 LED를 포함하되, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 중 적어도 일부의 각각의 LED는 275 나노미터(nm) 내지 2060 나노미터(nm) 범위의 상이한 방출 파장을 갖고,
상기 UV-SWIR 이미지는, 상기 상이한 방출 파장의 각각의 파장에서, 상기 상이한 방출 파장에 의해 상기 제1 물체를 조사하는 동안에 상기 제1 시야 내에 제1 물체(900)의 알베도를 기록하는 복수의 물체 이미지를 포함하고,
상기 이미지 프로세서는 상기 UV-SWIR 이미지의 상기 복수의 물체 이미지를 중첩시켜 상기 다중 스펙트럼 이미지를 생성하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제16항에 있어서, 상기 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위한 상기 적어도 하나의 제1 카메라는 팬-틸트-줌(PTZ) 카메라인, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제16항에 있어서, 상기 다중 스펙트럼 이미징 장치와 상기 제1 물체 사이의 적어도 하나의 거리를 결정하기 위해, 상기 이미지 프로세서에 결합된 비행 시간 근접 센서(1005D)를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제18항에 있어서, 상기 이미지 프로세서는, 상기 비행 시간 근접 센서에 의해 결정된 상기 적어도 하나의 거리에 기초하여, 상기 다중 스펙트럼 이미지 내의 거리 정보를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제16항에 있어서, 상기 이미지 프로세서는, 상기 복수의 물체 이미지 내에 존재하는 흡광도 또는 반사율의 하나 이상의 피크에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 제1 물체에 존재하는 하나 이상의 화학 화합물 또는 성분을 감지 및/또는 정량화하기 위해 상기 상이한 방출 파장의 각각의 파장에서 상기 제1 물체의 알베도를 기록하는 상기 복수의 물체 이미지를 처리하도록 구성되는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제20항에 있어서, 상기 하나 이상의 화학 화합물 또는 성분은 곰팡이, 흰곰팡이, 광합성 화합물, 물, NO3, NO2, P4, K+, C2H4, CH4, O2 또는 CO2 중 적어도 하나를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제20항에 있어서,
상기 이미지 프로세서는 상기 LWIR 이미지를 처리하여 상기 제1 물체의 하나 이상의 온도를 나타내는 히트 맵을 제공하도록 구성되고,
상기 이미지 프로세서에 의해 생성된 다중 스펙트럼 이미지는 상기 히트 맵을 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제22항에 있어서,
상기 UV-SWIR 이미지는, 상이한 방출 파장의 각각의 파장에서, 공지된 광학 특성을 갖는 팬텀을 상기 상이한 방출 파장에 의해 조사하는 동안에 상기 제1 시야에서 상기 팬텀(950)의 복수의 UV-SWIR 교정 이미지를 포함하고,
상기 이미지 프로세서는, 상기 복수의 UV-SWIR 교정 이미지에 기초하여, 상기 복수의 물체 이미지를 처리하여 복수의 교정된 물체 이미지를 제공하도록 구성되는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제23항에 있어서, 상기 팬텀은 반사율 기준 타겟을 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 제23항에 있어서,
상기 복수의 UV-SWIR 교정 이미지는, 주변 광 또는 인공 광 중 적어도 하나 및 상기 상이한 방출 파장에 의한 상기 팬텀을 조사하는 동안에 상기 제1 시야에서 상기 팬텀의 이미지인, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제22항에 있어서,
상기 LWIR 이미지는 상기 제1 시야에 흑체 방사체(975)의 적어도 하나의 LWIR 교정 이미지를 포함하고,
상기 이미지 프로세서는 상기 적어도 하나의 LWIR 교정 이미지를 처리하여 상기 제1 물체의 하나 이상의 온도를 나타내는 상기 히트 맵을 제공하도록 구성되는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제15항에 있어서, 상기 이미지 프로세서에 결합되어 센서 데이터를 제공하는 적어도 하나의 집적 센서 어셈블리(4220)를 추가로 포함하되, 상기 적어도 하나의 집적 센서 어셈블리는 복수의 센서를 포함하고, 상기 복수의 센서는,
공기 온도 센서;
가시광 센서;
근적외선(NIR) 센서;
상대 습도 센서;
이산화탄소(CO2) 센서; 및/또는
적외선(IR) 센서를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치. - 제27항에 있어서, 상기 이미지 프로세서는 상기 다중 스펙트럼 이미지에서, 상기 적어도 하나의 집적 센서 어셈블리에 의해 제공된 상기 센서 데이터의 적어도 일부에 기초하여, 센서 정보를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 장치.
- 이미징 시스템으로서,
상기 제1 시야에서 제1 UV-SWIR 이미지 및 제1 LWIR 이미지를 획득하기 위해 제1항에 따르는 제1 다중 스펙트럼 이미징 장치; 및
상기 제1 시야와 상이한 제2 시야에서 제2 UV-SWIR 이미지 및 제2 LWIR 이미지를 획득하기 위해 제1항에 따르는 제2 다중 스펙트럼 이미징 장치를 포함하는, 이미징 시스템. - 제29항에 있어서, 상기 제1 및 제2 UV-SWIR 이미지와 상기 제1 및 제2 LWIR 이미지를 정사 보정하여 이미지 왜곡을 감소시키고 정사 보정된 제1 및 제2 UV-SWIR 이미지와 정사 보정된 제1 및 제2 LWIR 이미지를 제공하기 위해 상기 제1 다중 스펙트럼 이미징 장치와 상기 제2 다중 스펙트럼 이미징 장치에 결합된 이미지 프로세서를 추가로 포함하고, 상기 이미지 프로세서는, 상기 정사 보정된 제1 및 제2 UV-SWIR 이미지와 상기 정사 보정된 제1 및 제2 LWIR 이미지를 함께 스티칭하여 적어도 상기 제1 시야 및 상기 제2 시야를 커버하는 다중 스펙트럼 이미지를 제공하도록 추가 구성되는, 이미징 시스템.
- 다중 스펙트럼 이미징 방법으로서,
A) 제1 시야 및 장파장 적외선(LWIR) 영역에서 LWIR 이미지를 획득하는 단계; 및
B) A) 동안, 적어도 하나의 제1 카메라를 적어도 하나의 조사원과 조합하여 주기적으로 활성화시켜, 상기 제1 시야에서 UV-SWIR 이미지를 획득하는 단계를 포함하되,
상기 적어도 하나의 조사원은 자외선(UV) 영역에서 단파장 적외선(SWIR) 영역까지의 제1 파장 범위에서 복수의 협대역 조사기를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제31항에 있어서, 상기 적어도 하나의 조사원의 상기 복수의 협대역 조사기는 복수의 본질적으로 단색광인 LED를 포함하되, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 중 적어도 일부의 각각의 LED는 275 나노미터(nm) 내지 2060 나노미터(nm) 범위의 상이한 방출 파장을 갖는, 다중 스펙트럼 이미징 방법.
- 제32항에 있어서, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 중 적어도 일부의 각각의 LED의 상이한 방출 파장은 275 nm, 365 nm, 440 nm, 450 nm, 475 nm, 500 nm, 530 nm, 620 nm, 630 nm, 660 nm, 696 nm, 730 nm, 760 nm, 850 nm, 860 nm, 940 nm, 950 nm, 1450 nm, 1610 nm, 또는 2060 nm 중 적어도 두 개를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법.
- 제32항에 있어서, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 의 적어도 일부의 각각의 LED의 상이한 방출 파장은 365 nm, 450 nm, 530 nm, 630 nm, 660 nm, 730 nm, 860 nm, 및 950 nm를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법.
- 제32항에 있어서, B)는,
B1) 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED의 제1 LED 요소를 활성화시켜 제1 파장에서 제1 방사선을 방출하는 단계;
B2) B1) 동안, 제1 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위해 적어도 하나의 제1 카메라를 제어하는 단계;
B3) 상기 제1 LED 요소를 비활성화하는 단계;
B4) 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED의 제2 LED 요소를 활성화시켜 제2 파장에서 제2 방사선을 방출하는 단계;
B5) B4) 동안, 제2 UV-SWIR 이미지를 획득하기 위해 적어도 하나의 제1 카메라를 제어하는 단계; 및
B6) 상기 제2 LED 요소를 비활성화하는 단계를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제35항에 있어서,
B7) B4), B5), 및 B6)의 상기 제2 LED 요소 대신에 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED의 각각의 추가 LED 요소를 연속 대체함으로써, B4), B5), 및 B6)를 반복하는 단계를 추가로 포함하는 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제36항에 있어서,
B1), B2), B3), B4), B5), B6), 및 B7)을 어두운 환경에서 수행하는 단계를 포함하는 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제31항에 있어서,
C) 상기 제1 시야에서 상기 적어도 하나의 제1 카메라에 의해 획득된 상기 UV-SWIR 이미지 및 상기 제1 시야에서의 상기 LWIR 이미지를 중첩시켜, 상기 UV-SWIR 이미지 및 상기 LWIR 이미지를 포함한 적어도 하나의 다중 스펙트럼 이미지(5090A)를 생성하는 단계를 추가로 포함하는 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제38항에 있어서,
상기 적어도 하나의 조사원의 상기 복수의 협대역 조사기는 복수의 본질적으로 단색광인 LED를 포함하되, 상기 복수의 본질적으로 단색광인 LED 중 적어도 일부의 각각의 LED는 275 나노미터(nm) 내지 2060 나노미터(nm) 범위의 상이한 방출 파장을 갖고,
상기 UV-SWIR 이미지는, 상기 상이한 방출 파장의 각각의 파장에서, 상기 상이한 방출 파장에 의해 상기 제1 물체를 조사하는 동안에 상기 제1 시야 내에 제1 물체(900)의 알베도를 기록하는 복수의 물체 이미지를 포함하고,
C)는, 상기 UV-SWIR 이미지의 복수의 물체 이미지를 중첩하여 상기 다중 스펙트럼 이미지를 생성하는 단계를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제39항에 있어서,
D) 상기 복수의 물체 이미지 내에 존재하는 흡광도 또는 반사율의 하나 이상의 피크에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 제1 물체에 존재하는 하나 이상의 화학 화합물 또는 성분을 감지 및/또는 정량화하기 위해 상기 상이한 방출 파장의 각각의 파장에서 상기 제1 물체의 알베도를 기록하는 상기 복수의 물체 이미지를 처리하는 단계를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제40항에 있어서, 상기 하나 이상의 화학 화합물 또는 성분은 곰팡이, 흰곰팡이, 광합성 화합물, 물, NO3, NO2, P4, K+, C2H4, CH4, O2 또는 CO2 중 적어도 하나를 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법.
- 제40항에 있어서,
E) 상기 LWIR 이미지를 처리하여 상기 제1 물체의 하나 이상의 온도를 나타내는 히트 맵을 제공하는 단계; 및
F) 상기 다중 스펙트럼 이미지에 상기 히트 맵을 포함하는 단계를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제42항에 있어서,
상기 UV-SWIR 이미지는, 상이한 방출 파장의 각각의 파장에서, 공지된 광학 특성을 갖는 팬텀을 상기 상이한 방출 파장에 의해 조사하는 동안에 상기 제1 시야에서 상기 팬텀(950)의 복수의 UV-SWIR 교정 이미지를 포함하고,
상기 방법은,
G) 상기 복수의 UV-SWIR 교정 이미지에 기초하여, 상기 복수의 물체 이미지를 처리하여 복수의 교정된 물체 이미지를 제공하는 단계를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제43항에 있어서, 상기 팬텀은 반사율 기준 타겟을 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법.
- 제43항에 있어서,
상기 복수의 UV-SWIR 교정 이미지는, 주변 광 또는 인공 광 중 적어도 하나 및 상기 상이한 방출 파장에 의한 상기 팬텀을 조사하는 동안에 상기 제1 시야에서 상기 팬텀의 이미지인, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 제42항에 있어서,
상기 LWIR 이미지는 상기 제1 시야에 흑체 방사체(975)의 적어도 하나의 LWIR 교정 이미지를 포함하고,
상기 방법은,
H) 상기 적어도 하나의 LWIR 교정 이미지를 처리하여 상기 제1 물체의 하나 이상의 온도를 나타내는 상기 히트 맵을 제공하는 단계를 추가로 포함하는, 다중 스펙트럼 이미징 방법. - 이미징 시스템(5050)으로서,
상이한 조사 파장(λ1, λ2, λ3...λN)을 갖는 광원 방사선(5040)을 각각 방출하기 위한 복수의 협대역 조사기(5030);
상기 복수의 협대역 조사기를 순차적으로 제어하여 상이한 조사 파장을 갖는 광원 방사선으로 적어도 하나의 물체(900)를 연속 조사하기 위한 플래시 제어기(5020);
상기 상이한 조사 파장을 갖는 방사선에 의한 상기 적어도 하나의 물체의 조사에 반응하여, 상기 적어도 하나의 물체에 의해 반사 또는 방출된 반사 또는 방출 방사선(5060)을 제1 시야(5070) 내에서 감지하는 적어도 하나의 센서(5080)(상기 적어도 하나의 센서는 상기 상이한 조사 파장에 각각 대응하는 복수의 협대역 이미지(5090)를 생성하되,
상기 복수의 협대역 이미지의 각각의 협대역 이미지는 복수의 픽셀을 포함하고,
상기 복수의 픽셀 중 각각의 픽셀은,
상기 적어도 하나의 센서의 시야에서 공간 위치를 나타내는 픽셀 좌표; 및
상기 시야 내의 상기 공간 위치에서, 감지된 방사선의 양을 나타내는 방사선 값으로 디지털 표현됨); 및
상기 적어도 하나의 물체의 기준 조건에 대응하는 복수의 표지된 특징부 세트(5140)를 포함한 기준 조건 라이브러리(5120)에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 적어도 하나의 센서의 시야 내의 각각의 공간 위치에서 상기 적어도 하나의 물체의 적어도 하나의 실제 조건을 추정하거나 결정하기 위해, 상기 복수의 협대역 이미지를 처리하는 이미지 프로세서(5000)(상기 복수의 표지된 특징부 세트 중 적어도 하나의 표지된 특징부 세트는 복수의 기준 값을 포함하고, 상기 복수의 기준 값의 각각의 기준 값은 상기 상이한 조사 파장 중 하나의 조사 파장에 대응함)를 포함하는, 이미징 시스템. - 제47항에 있어서, 상기 상이한 조사 파장 중 하나에 대응하는 적어도 하나의 협대역 이미지에서, 적어도 일부 방사선 값은 상기 상이한 조사 파장 중 하나와 동일한 파장에 있는, 이미징 시스템.
- 제47항에 있어서, 상기 상이한 조사 파장 중 하나에 대응하는 적어도 하나의 협대역 이미지에서, 적어도 일부 방사선 값은 상기 상이한 조사 파장 중 하나보다 더 긴 파장에 있는, 이미징 시스템.
- 제47항에 있어서, 상기 시야에서 상기 적어도 하나의 물체의 열 방사선을 감지하고, 복수의 열화상 픽셀을 갖는 열화상 이미지를 생성하는 열화상 센서를 추가로 포함하되, 상기 복수의 열화상 픽셀에서 각각의 열화상 픽셀은,
상기 시야 내 공간 위치를 나타내는 픽셀 좌표; 및
상기 시야 내 공간 위치에서의 열 방사선 값에 의해 디지털 표현되는, 이미징 시스템. - 제50항에 있어서,
상기 이미지 프로세서는, 상기 기준 조건 라이브러리에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 복수의 협대역 이미지와 함께 상기 열 이미지를 처리하여, 상기 시야 내의 각각의 공간 위치에서 상기 적어도 하나의 물체의 상기 적어도 하나의 실제 조건을 추정하거나 결정하고,
상기 기준 조건 라이브러리는, 복수의 기준 값을 포함한 상기 복수의 표지된 특징부 세트 중 적어도 하나의 표지된 특징부 세트를 갖고, 상기 기준 값 중 적어도 하나는 열 방사선 값에 대응하는, 이미징 시스템. - 제47항에 있어서, 상기 적어도 하나의 센서는, 자외선, 가시광선 및 적외 방사선을 포함한 방사선의 스펙트럼에 반응하는, 적어도 하나의 카메라를 포함하는, 이미징 시스템.
- 적어도 하나의 물체의 복수의 협대역 이미지(5090)를 통해 상기 적어도 하나의 물체(900)의 적어도 하나의 조건을 결정하는 방법으로서, 상기 방법은,
상이한 조사 파장(λ1, λ2, λ3... λN)을 갖는 방사선(5040)으로 상기 적어도 하나의 물체를 순차적으로 조사하는 단계;
상기 상이한 조사 파장을 갖는 방사선에 의한 상기 적어도 하나의 물체의 조사에 반응하여, 상기 적어도 하나의 물체에 의해 반사 또는 방출된 반사 또는 방출 방사선(5060)을, 시야(5070) 내에서 감지하는 단계;
상기 감지된 반사 또는 방출 방사선(5060)을 사용하여 상기 상이한 조사 파장에 각각 대응하는 상기 복수의 협대역 이미지(5090)를 생성하되,
상기 복수의 협대역 이미지의 각각의 협대역 이미지는 복수의 픽셀을 포함하고,
상기 복수의 픽셀 중 각각의 픽셀은,
상기 시야 내 공간 위치를 나타내는 픽셀 좌표; 및
상기 시야 내의 상기 공간 위치에서, 감지된 방사선의 양을 나타내는 방사선 값으로 디지털 표현되는 단계; 및
상기 적어도 하나의 물체의 기준 조건에 대응하는 복수의 표지된 특징부 세트(5140)를 포함한 기준 조건 라이브러리(5120)에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 시야 내의 각각의 공간 위치에서 상기 적어도 하나의 물체의 적어도 하나의 실제 조건을 추정하거나 결정하기 위해, 상기 복수의 협대역 이미지를 처리하는 단계(상기 복수의 표지된 특징부 세트 중 적어도 하나의 표지된 특징부 세트는 복수의 기준 값을 포함하고, 상기 복수의 기준 값의 각각의 기준 값은 상기 상이한 조사 파장 중 하나의 조사 파장에 대응함)를 포함하는, 방법. - 제53항에 있어서, 상기 적어도 하나의 물체의 환경이, 상기 적어도 하나의 물체를 순차적으로 조사하기 이전에 그리고 상기 반사되거나 방출된 방사선을 감지하는 동안에 어둡도록, 상기 적어도 하나의 물체의 환경에서 조명원을 비활성화하는 단계를 추가로 포함하는, 방법.
- 제53항에 있어서, 상기 적어도 하나의 물체는 적어도 하나의 식물인, 방법.
- 다중 감각 이미징 시스템(5050)으로서,
시야(5070) 내에서, 상기 시야 내의 복수의 측정 가능한 조건을 감지하기 위한 센서의 공간 배열부(5080)(상기 센서의 공간 배열부는 센서 노드의 일차원(1D), 이차원(2D), 또는 삼차원 어레이를 포함하고, 상기 복수의 센서 노드 중 적어도 일부 센서 노드는 상기 복수의 측정 가능한 조건 중 적어도 두 개의 상이한 측정 가능 조건을 감지하는 적어도 하나의 센서를 포함함); 및
상기 센서의 공간 배열부에 결합되어 상기 적어도 두 개의 상이한 측정 가능 조건에 각각 대응하는 복수의 단일 감각 이미지(5090)를 생성하는 이미지 프로세서(5000)를 포함하되,
상기 복수의 단일 감각 이미지의 각각의 단일 감각 이미지는 복수의 픽셀을 포함하고,
상기 복수의 픽셀 중 각각의 픽셀은,
상기 적어도 하나의 센서의 시야에서 공간 위치를 나타내는 픽셀 좌표; 및
상기 시야 내의 공간 위치에서, 상기 적어도 두 개의 상이한 측정 가능 조건 중 하나의 측정된 조건을 나타낸 측정 값에 의해 디지털 표현되고,
상기 이미지 프로세서는, 기준 조건에 대응하는 복수의 표지된 특징부 세트(5140)를 포함한 기준 조건 라이브러리(5120)에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 시야 내의 각각의 공간 위치에서 적어도 하나의 환경 조건을 추정하거나 결정하기 위해, 상기 복수의 단일 감각 이미지를 처리하도록 구성되되, 상기 복수의 표지된 특징부 세트 중 적어도 하나의 표지된 특징부 세트는 복수의 기준 값을 포함하고, 상기 복수의 기준 값의 각각의 기준 값은 상기 적어도 두 개의 상이한 측정 가능 조건 중 하나의 측정 가능 조건에 대응하는, 다중 감각 이미징 시스템.
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