KR20240002000A - 현상 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 예시적인 실시예에 따른 현상 장치의 버퍼 플레이트, 진공 플레이트 및 슬릿 블럭을 나타내는 분해 사시도이다.
도 3은 예시적인 실시예에 따른 현상 장치의 버퍼 플레이트, 진공 플레이트 및 슬릿 블럭의 일 영역을 나타내는 단면도이다.
도 4는 예시적인 실시예에 따른 현상 장치의 버퍼 공간과 제1 유로를 설명하기 위한 절개 사시도이다.
도 5는 제2 유로를 형성하는 갭의 크기에 따른 제2 유로를 통해 도출되는 가스의 유속을 나타내는 그래프이다.
도 6은 예시적인 실시예에 따른 현상 장치에 구비되는 슬릿 블럭 2개가 결합되는 영역을 나타내는 설명도이다.
도 7은 가스의 유동 경로를 설명하기 위한 설명도이다.
도 8은 예시적인 실시예에 따른 현상 장치의 진공 플레이트 및 슬릿 블럭을 나타내는 개략 구성도이다.
110 : 바디
120 : 버퍼 플레이트
130 : 진공 플레이트
140 : 슬릿 블럭
Claims (10)
- 바디;
바디에 고정 설치되며 가스가 유동하는 가스 유동로를 구비하는 버퍼 플레이트;
상기 버퍼 플레이트의 상면에 고정 설치되며 상기 가스 유동로에 연결되는 가스 공급홀을 가지는 진공 플레이트;
상기 진공 플레이트의 가장자리에 고정 설치되어 상기 가스 공급홀을 통해 제공되는 가스의 유동 경로를 제공하는 슬릿 블럭;
을 포함하며,
상기 진공 플레이트에는 기판이 흡착되며, 상기 기판과 상기 진공 플레이트의 접촉 면적은 상기 기판 면적의 90% 이상이며,
상기 슬릿 블럭은 상기 진공 플레이트와 함께 가스가 유입되는 버퍼 공간과, 상기 버퍼 공간에 연결되며 경사지게 배치되는 제1 유로를 형성하고,
상기 진공 플레이트에 상기 기판이 흡착되는 경우 상기 슬릿 블럭은 상기 기판의 가장자리와 함께 제1 유로에 연결되는 제2 유로를 형성하는 현상 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 제2 유로는 상기 기판의 저면을 따라 상기 기판의 저면과 평행한 방향으로 배치되는 현상 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 제2 유로의 단면적은 상기 가스 공급홀의 단면적의 70% 이하인 현상 장치.
- 제3항에 있어서,
상기 제2 유로의 갭은 0.05 ~ 0.1 mm인 현상 장치.
- 제3항에 있어서,
상기 제2 유로를 통해 유동하는 가스의 유속을 34 m/s ~ 130 m/s인 현상 장치.
- 제3항에 있어서,
상기 제1 유로의 단면적은 상기 제2 유로의 단면적과 같거나 작은 현상 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 진공 플레이트는 기판의 흡착을 위한 복수개의 진공홀이 구비되며, 상기 진공홀은 상기 진공 플레이트의 중앙부보다 가장자리에서의 갯수가 많은 현상 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 진공 플레이트에는 기판으로부터 흘러 넘친 액체를 상기 진공 플레이트의 외측으로 안내하는 경사면이 구비되는 현상 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 슬릿 블럭에는 상기 경사면에 배치되는 조립홈에 삽입되는 조립턱이 구비되며,
상기 슬릿 블럭의 일단부에는 돌출턱이 구비되며, 상기 슬릿 블럭의 타단부에는 상기 돌출턱에 대응되는 홈이 구비되는 현상 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 가스 공급홀은 상기 버퍼 공간이 바닥면으로부터 이격 배치되는 단차부에서 개방되는 현상 장치.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020220079039A KR20240002000A (ko) | 2022-06-28 | 2022-06-28 | 현상 장치 |
| US18/199,035 US12602007B2 (en) | 2022-06-28 | 2023-05-18 | Developing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020220079039A KR20240002000A (ko) | 2022-06-28 | 2022-06-28 | 현상 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20240002000A true KR20240002000A (ko) | 2024-01-04 |
Family
ID=89323871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020220079039A Pending KR20240002000A (ko) | 2022-06-28 | 2022-06-28 | 현상 장치 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12602007B2 (ko) |
| KR (1) | KR20240002000A (ko) |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE466178B (sv) | 1990-05-07 | 1992-01-07 | Ericsson Telefon Ab L M | Oeverspaennings- och oeverstroemsskydd foer ett linjeoeverdrag |
| JP4835175B2 (ja) | 2006-01-31 | 2011-12-14 | 株式会社Sumco | ウェーハの枚葉式エッチング方法 |
| KR100862703B1 (ko) | 2007-01-31 | 2008-10-10 | 세메스 주식회사 | 지지부재 및 상기 지지부재를 구비하는 기판 처리 장치 및방법 |
| TWI348934B (en) | 2007-08-30 | 2011-09-21 | Lam Res Ag | Apparatus for wet treatment of plate-like articles |
| JP5012651B2 (ja) | 2008-05-14 | 2012-08-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布装置、塗布方法、塗布、現像装置及び記憶媒体 |
| US20160240414A1 (en) | 2013-09-26 | 2016-08-18 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Chuck for Suction and Holding a Wafer |
| JP6410694B2 (ja) | 2014-10-21 | 2018-10-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板液処理方法及び基板液処理装置並びに基板液処理プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
| JP6320945B2 (ja) | 2015-01-30 | 2018-05-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
| CN107534011B (zh) * | 2015-05-14 | 2021-01-15 | 盛美半导体设备(上海)股份有限公司 | 基板斜边和背面保护装置 |
| TWI645913B (zh) | 2016-11-10 | 2019-01-01 | 辛耘企業股份有限公司 | 液體製程裝置 |
| US10663434B2 (en) | 2017-03-31 | 2020-05-26 | Sonix, Inc. | Wafer chuck |
| KR20190116037A (ko) | 2018-04-03 | 2019-10-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 웨이퍼 척킹 장치 및 이를 포함하는 웨이퍼 테스트 장비 |
| KR102769839B1 (ko) | 2019-09-09 | 2025-02-20 | 삼성전자주식회사 | 진공 척 및 상기 진공 척을 포함하는 기판 처리 장치 |
-
2022
- 2022-06-28 KR KR1020220079039A patent/KR20240002000A/ko active Pending
-
2023
- 2023-05-18 US US18/199,035 patent/US12602007B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US12602007B2 (en) | 2026-04-14 |
| US20230418222A1 (en) | 2023-12-28 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| R15-X000 | Change to inventor requested |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R15-oth-X000 |
|
| R16-X000 | Change to inventor recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R16-oth-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| D21 | Rejection of application intended |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-1-2-D10-D21-EXM-PE0902 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
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| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P22-nap-X000 |
|
| E13 | Pre-grant limitation requested |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-2-3-E10-E13-LIM-X000 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11 | Amendment of application requested |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-2-2-P10-P11-NAP-X000 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |