KR940010308A - 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (3)
- 박막 트랜지스터에 있어서, 일정 간격으로 형성되는 수직한 사각형 제1박막트랜지스터 게이트 전극(2A), 상기 사각형 제1박막트랜지스터 게이트 전극(2A)을 두러쌓고 있되 내부에 얇은 박막트랜지스터 채널(4)을 포함하는 박막 트랜지스터 게이트 산화막(3), 상기 일정간격으로 형성되어 있는 사각형 제1박막트랜지스터 게이트 전극(2A)을 상부에서 연결하되 상기 박막 트랜지스터 게이트 산화막(3)을 덮는 제2박막트랜지스터 게이트 전극(2B), 및 상기 얇은 박막트랜지스터 채널(4)의 양끝단에 형성되는 박막트랜지스터 소오스, 드레인(5A,5B)으로 구성되어 지는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, 상기 사각형 박막트랜지스 게이트 전극(2A)는 원형 및 기타 다른 수직 구조중 어느 하나로 이루어 지는 것으로 특징으로 하는 박막 트랜지스터.
- 박막 트랜지스터 제조 방법에 있어서, 일정 간격으로 사각 기둥 모양의 박막트랜지스터 게이트 전극(2A)을 형성하고 전체 구조 상부에 박막트랜지스터 게이트 산화막(3), 박막트랜지스터 채널(4)인 다결정 실리콘을 차례로 증착하는 제1단계, 상기 제1단계 후에 마스크 패턴 공정과 식각공정으로 제1박막트랜지스터 게이트 전극(2A) 상부에 존재하는 박막트랜지스터 게이트 산화막(3)과 박막트랜지스터 채널(4)인 다결정 실리콘을 차례로 제거하는 제2단계, 상기 제2단계 후에 각각 전체 구조 상부에 박막트랜지스터 계의 산화막(3)을 또한번 증착하고 마스크 패턴 공정과 식각 공정을 행하여 상기 제1박막트랜지스터 게이트 전극(2A) 상부에 존재하게 되는 재증착한 박막트랜지스터 게이트 산화막(3)을 제거하는 제3단계, 및 상기 제3단계 후에 다결정 실리콘을 증착하고 마스크 패턴 공정과 식각 공정을 행하여 상기 제1박막트랜지스터 게이트 전극(2A)을 연결하는 제2박막트랜지스터 게이트 전극(2B)를 형성한 후 상기 박막 트랜지스터 게이트(2A,2B)의 양 끝단의 박막트랜지스터 채널(4) 일정부부에 이온 주입하여 박막트랜지스터 소오스(5A)와 드레인(5B)을 형성하는 제4단계를 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1019920019168A KR950011784B1 (ko) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
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| KR1019920019168A KR950011784B1 (ko) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
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| Publication Number | Publication Date |
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| KR940010308A true KR940010308A (ko) | 1994-05-26 |
| KR950011784B1 KR950011784B1 (ko) | 1995-10-10 |
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ID=19341353
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| KR1019920019168A Expired - Fee Related KR950011784B1 (ko) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
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| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR950011784B1 (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100298431B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2001-08-07 | 김영환 | 박막트랜지스터및그제조방법 |
| KR100292044B1 (ko) * | 1997-05-23 | 2001-09-17 | 구본준, 론 위라하디락사 | 액정표시장치제조방법 |
-
1992
- 1992-10-19 KR KR1019920019168A patent/KR950011784B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100292044B1 (ko) * | 1997-05-23 | 2001-09-17 | 구본준, 론 위라하디락사 | 액정표시장치제조방법 |
| KR100298431B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2001-08-07 | 김영환 | 박막트랜지스터및그제조방법 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950011784B1 (ko) | 1995-10-10 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| G160 | Decision to publish patent application | ||
| PG1605 | Publication of application before grant of patent |
St.27 status event code: A-2-2-Q10-Q13-nap-PG1605 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 9 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 10 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20050922 Year of fee payment: 11 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 11 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20061011 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20061011 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
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| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
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| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |