KR940010471A - 네거티브 파워서플라이 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (19)
- 플래시소거를 하는 동안 플래시 EEPROM 메모리셀의 어레이에 있는 단어선을 통해 선택된 메모리셀의 제어게이트에 조절된 네거티브전위를 발생하여 공급하는 네거티브 파워서플라이로서, 다수의 클럭신호를 발생하는 클럭수단(14), 외부 파워서플라이전위(VCC)와 높은 네거티브전압을 발생하는 상기 클럭신호에 대응하며, 다수의 충전펌프단계(401-404)로 형성된 충전펌프수단(12), 상기 충전펌프수단에 있는 문턱전압강하를 효과적으로 소거하기 위하여 충전펌프수단의 각 단계에 연결된 소거수단, 소거하는 동안, 특정한 수의 상기 다수의 충전펌프단계 동작을 초기에 방지하기 위하여 상기 다수의 충전펌프단계에 연결된 네거티브 우물수단(20) 및 상기 높은 네거티브전압 및 상기 충전펌프수단이 상기 높은 네거티브전압을 증가시키기 위하여 하이레벨에 있거나 혹은 상기 높은 네거티브전압을 감소시키기 위하여 로우레벨에 있는 네거티브 비교기신호를 발생하며, 서플라이전위(VCC)에 대해 독립적인 상기 조절된 네거티브전위를 발생하는 기준전위에 대응하는 조절수단등(16)으로 이루어짐을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 상기 다수의 충전펌프단계의 각 단계는 P-채널 통과트랜지스터 및 제1커플링 캐패시터로 구성되며, 상기 통과트랜지스터의 소오스는 입력노드에 연결되고, 그 드레인은 출력노드에 연결되며, 그 게이트는 내부노드에 연결되었으며, 상기 커플링 캐패시터의 한 단부는 출력노드에 연결되고 나머지 단부는 상기 다수의 클럭신호중 제1신호를 수신하기 위하여 연결됨을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제2항에 있어서, 상기 각각의 소거수단은 P-채널 초기설정 트랜지스터, P-채널 예비충전 트랜지스터 및 제2커플링 캐패시터로 구성되며, 상기 초기 설정 트랜지스터의 드레인과 게이트는 입력노드에 연결되고, 그 소오스는 출력노드에 연결되며, 상기 예비충전 트랜지스터의 소오스는 입력노드에 연결되고, 그 게이트는 출력노드에 연결되며, 그 드레인은 내부노드에 연결되어 있으며, 상기 제2커플링 캐패시터의 한단부는 또한 내부노드에 연결되고 나머지 단부는 상기 다수의 클럭신호중 제2신호를 수신하기 위하여 연결됨을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 상기 높은 네거티브전압은 대략 -12 볼트임을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 상기 조절된 네거티브전위는 대략 -10 볼트임을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 상기 네거터브 우물수단은 소거시작시 짧은 시간동안 파워서플라이전위(VCC)로 유지되고나서 0볼트가 되도록 하는 네거티브 우물신호를 발생함을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 상기 조절기수단은 비반전입력, 반전입력 및 출력을 가진 차동비교기와 P-채널 풀업트랜지스터로 이루어지며, 상기 차동비교기의 비반전입력은 상기 높은 네거티브전압에 연결되고, 그 반전입력은 기준 전위에 연결되며, 그 출력은 상기 P-채널 풀업트랜지스터의 게이트에 연결되어 있으며, 상기 P-채널 풀업트랜지스터의 소오스는 파워서플라이전위(VCC)에 연결되고, 상기 P-채널 풀업트랜지스터의 드레인은 상기 조절된 네거티브전위를 제공하기 위해 상기 충전펌프수단에 연결됨을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 네거티브 파워서플라이는 상기 네거티브 우물수단에 연결되어 상기 네거티브 우물수단내 풀업소자의 산화를 보호할 목적으로 보호신호를 발생하는 수단으로 또한 이루어짐을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 제1항에 있어서, 네거티브 파워서플라이는 플래시 소거를 하는 동안 비교적 낮은 포지티브전압이며 선택된 메모리셀의 소오스영역에 공급되는 어레이 신호를 발생하는 어레이회로 수단으로 또한 이루어짐을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.
- 행과 열을 한정하기 위하여 기판위에 구성된 플래시 EEPROM 메모리셀의 어레이로서, 기판은 적어도 하나의 행을 따라 확장하는 공통소오스선, 각각의 열을 따라 확장하는 다수의 비트선 및 플래시소거를 하는 동안 단어선을 통해 선택된 메모리셀의 제어게이트에 조절된 네거티브전위를 발생하고 공급하기 위한 네거티브 파워서플라이를 포함하며, 여기서 각각의 메모리셀은 공통소오스선에 연결된 N-타입 소오스영역, 제어게이트, 부동게이트, 채널영역 및 각기 하나의 비트선에 연결된 N-타입 드레인영역을 포함하고, 또한 부동게이트에서 그 소오스영역까지 전자를 터널링함으로써 우세하게 소거할 수 있으며, 상기 네거티브 파워서플라이는, 다수의 클럭신호를 발생하는 클럭수단(14), 외부 파워서플라이전위(VCC)와 높은 네거티브전압을 발생하는 상기 클럭신호에 응답하며, 다수의 충전펌프단계(401-402)로 구성된 충전펌프 수단(12), 상기 충전펌프수단에서 문턱전압강하를 효과적으로 소거하기 위하여 상기 충전펌프수단의 각 단계에 연결된 소거 수단, 소거하는 동안, 특정한 수의 상기 다수의 충전펌프단계 동작을 초기에 방지하기 위하여 상기 다수의 충전펌프단계에 연결된 네거티브 우물수단(20) 및, 상기 높은 네거티브전압 및 상기 충전펌프수단이 상기 높은 네거티브전압을 증가시키기 위하여 하이레벨에 있거나 혹은 상기 높은 네거티브전압을 감소시키기 위하여 로우레벨에 있는 네거티브 비교기신호를 발생하며, 서플라이전위(VCC)에 대해 독립적인 상기 조절된 네거티브전위를 발생하는 기준전위에 대응하는 조절수단(16) 등으로 이루어짐을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 상기 다수의 충전펌프단계의 각 단계는 P-채널 통과트랜지스터 및 제1커플링 캐패시터로 구성되며, 상기 통과트랜지스터의 소오스는 입력노드에 연결되고, 그 드레인은 출력노드에 연결되며, 그 게이트는 내부노드에 연결되었으며, 상기 커플링 캐패시터의 한 단부는 출력노드에 연결되고 나머지 단부는 상기 다수의 클럭신호중 제1신호를 수신하기 위하여 연결됨을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리 셀 어레이.
- 제11항에 있어서, 상기 각각의 소거수단은 P-채널 초기설정 트랜지스터, P-채널 예비충전 트랜지스터 및 제2커플링 캐패시터로 구성되며, 상기 초기설정 트랜지스터의 드레인과 게이트는 입력노드에 연결되고, 그 소오스는 출력노드에 연결되며, 상기 예비충전 트랜지스터의 소오스는 입력노드에 연결되고, 그 게이트는 출력노드에 연결되며, 그 드레인은 내부노드에 연결되어 있으며, 상기 제2커플링 캐패시터의 한단부는 또한 내부노드에 연결되고 나머지 단부는 상기 다수의 클럭신호중 제2신호를 수신하기 위하여 연결됨을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 상기 높은 네거티브전압은 대략 -12볼트임을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 상기 조절된 네거티브전위은 대략 -10볼트임을 특징으로 하는 플레시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 상기 네거티브 우물수단은 소거시작시 짧은 시간동안 파워서플라이전위(VCC)로 유지되고 나서 0볼트가 되도록 하는 네거티브 우물신호를 발생함을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 상기 조절기 수단은 비반전입력, 반전입력 및 출력을 가진 차동비교기와 P-채널 풀업트랜지스터로 이루어지며, 상기 차동비교기외 비반전입력은 상기 높은 네거티브전압에 연결되고, 그 반전입력은 기준전위에 연결되며, 그 출력은 상기 P-채널 풀업트랜지스터의 게이트에 연결되어 있으며, 상기 P-채널 풀업트랜지스터의 소오스는 파워서플라이 전위(VCC)에 연결되고, 상기 P-채널 풀업트랜지스터의 드레인은 상기 조절된 네거티브전위를 제공하기 위해 상기 충전펌프수단에 연결됨을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 네거티브 파워서플라이는 상기 네거티브 우물수단에 연결되어 상기 네거티브 우물수단내 풀업소자의 산화를 보호할 목적으로 보호신호를 발생하는 수단으로 또한 이루어짐을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 제10항에 있어서, 네거티브 파워서플라이는 플래시 소거를 하는 동안 비교적 낮은 포지티브전압이며 선택된 메모리셀의 소오스영역에 공급되는 어레이신호를 발생하는 어레이회로 수단으로 또한 이루어짐을 특징으로 하는 플래시 EEPROM 메모리셀 어레이.
- 플래시소거를 하는 동안 플래시 EEPROM 메모리셀의 어레이에 있는 단어선을 통해 선택된 메모리셀의 제어게이트에 조절된 네거티브전위를 발생하고 공급하는 네거티브 파워서플라이로서, 다수의 클럭신호를 발생하는 클럭수단(14), 외부 파워서플라이전위(VCC)와 높은 네거티브전압을 발생하는 상기 클럭신호에 대응하는 충전펌프수단(12), 상기 충전펌프수단에서 문턱전압강하를 효과적으로 소거하기 위하여 상기 충전펌프수단에 연결된 소거수단 및, 상기 높은 네거티브전압 및 상기 충전펌프수단이 상기 높은 네거티브전압을 증가시키기 위하여 하이레벨에 있거나 혹은 상기 높은 네거티브전압을 감소시키기 위하여 로우레벨에 있는 네거티브 비교기신호를 발생하며, 서플라이전위(VCC)에 대해 독립적인 상기 조절된 네거티브전위를 발생하는 기준전위에 대응하는 조절수단(16)등으로 이루어짐을 특징으로 하는 네거티브 파워서플라이.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US7/964,807 | 1992-10-22 | ||
| US07/964,807 | 1992-10-22 | ||
| US07/964,807 US5282170A (en) | 1992-10-22 | 1992-10-22 | Negative power supply |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR940010471A true KR940010471A (ko) | 1994-05-26 |
| KR100283019B1 KR100283019B1 (ko) | 2001-03-02 |
Family
ID=25509034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019930019777A Expired - Lifetime KR100283019B1 (ko) | 1992-10-22 | 1993-09-25 | 네거티브 파워서플라이 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5282170A (ko) |
| EP (1) | EP0594293B1 (ko) |
| JP (1) | JP3638623B2 (ko) |
| KR (1) | KR100283019B1 (ko) |
| DE (1) | DE69320296T2 (ko) |
Families Citing this family (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5399928A (en) * | 1993-05-28 | 1995-03-21 | Macronix International Co., Ltd. | Negative voltage generator for flash EPROM design |
| US5365484A (en) * | 1993-08-23 | 1994-11-15 | Advanced Micro Devices, Inc. | Independent array grounds for flash EEPROM array with paged erase architechture |
| US5406517A (en) * | 1993-08-23 | 1995-04-11 | Advanced Micro Devices, Inc. | Distributed negative gate power supply |
| US5537350A (en) * | 1993-09-10 | 1996-07-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for sequential programming of the bits in a word of a flash EEPROM memory array |
| TW271011B (ko) | 1994-04-20 | 1996-02-21 | Nippon Steel Corp | |
| KR0145758B1 (ko) * | 1994-08-24 | 1998-08-01 | 김주용 | 반도체 소자의 전압 조정 회로 |
| JP2590764B2 (ja) * | 1994-11-29 | 1997-03-12 | 日本電気株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
| WO1996041347A1 (en) * | 1995-06-07 | 1996-12-19 | Intel Corporation | Negative voltage switching circuit |
| EP0750314B1 (en) | 1995-06-19 | 2000-01-26 | STMicroelectronics S.r.l. | Negative word line voltage regulation circuit for electrically erasable semiconductor memory devices |
| FR2735885B1 (fr) * | 1995-06-21 | 1997-08-01 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit generateur de tension negative du type pompe de charge comprenant un circuit de regulation |
| DE69531349D1 (de) * | 1995-10-31 | 2003-08-28 | St Microelectronics Srl | Spannungsgenerator für nichtflüchtige elektrisch-programmierbare Speicherzellen |
| EP0772282B1 (en) * | 1995-10-31 | 2000-03-15 | STMicroelectronics S.r.l. | Negative charge pump circuit for electrically erasable semiconductor memory devices |
| WO1997022971A1 (en) * | 1995-12-20 | 1997-06-26 | Intel Corporation | A negative voltage switch architecture for a nonvolatile memory |
| US5736891A (en) * | 1996-01-11 | 1998-04-07 | International Business Machines Corporation | Discharge circuit in a semiconductor memory |
| US5703807A (en) * | 1996-07-19 | 1997-12-30 | Texas Instruments Incorporated | EEPROM with enhanced reliability by selectable VPP for write and erase |
| US5818764A (en) * | 1997-02-06 | 1998-10-06 | Macronix International Co., Ltd. | Block-level wordline enablement to reduce negative wordline stress |
| US6134144A (en) * | 1997-09-19 | 2000-10-17 | Integrated Memory Technologies, Inc. | Flash memory array |
| US6021083A (en) * | 1997-12-05 | 2000-02-01 | Macronix International Co., Ltd. | Block decoded wordline driver with positive and negative voltage modes |
| US6028780A (en) | 1998-03-12 | 2000-02-22 | Eon Silicon Devices, Inc. | Two-phase clock charge pump with power regulation |
| KR100293455B1 (ko) * | 1998-08-31 | 2001-07-12 | 김영환 | 반도체메모리소자의전압공급장치 |
| US6229732B1 (en) | 1998-09-03 | 2001-05-08 | Macronix International Co., Ltd. | Regulated voltage supply circuit for inducing tunneling current in floating gate memory devices |
| CN1255813C (zh) * | 1998-09-03 | 2006-05-10 | 旺宏电子股份有限公司 | 用来在浮置栅存储器装置中产生隧道电流的调节电压供给电路 |
| EP0986166B1 (de) * | 1998-09-10 | 2010-03-31 | Infineon Technologies AG | Ladungspumpenschaltung |
| WO2000046648A1 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-10 | Macronix International Co., Ltd. | Four-phase charge pump with lower peak current |
| US6573780B2 (en) | 1999-02-02 | 2003-06-03 | Macronix International Co., Ltd. | Four-phase charge pump with lower peak current |
| US6266281B1 (en) | 2000-02-16 | 2001-07-24 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method of erasing non-volatile memory cells |
| JP3718106B2 (ja) * | 2000-05-22 | 2005-11-16 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路 |
| KR100427536B1 (ko) * | 2001-12-26 | 2004-04-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 프로텍션 회로 |
| US7057949B1 (en) * | 2002-01-16 | 2006-06-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for pre-charging negative pump MOS regulation capacitors |
| WO2004075202A1 (ja) * | 2003-02-24 | 2004-09-02 | Fujitsu Limited | 電圧検出回路、半導体装置、及び電圧検出回路の制御方法 |
| US7081776B2 (en) * | 2003-02-24 | 2006-07-25 | Spansion Llc | Voltage detection circuit, semiconductor device, method for controlling voltage detection circuit |
| JP2005151468A (ja) * | 2003-11-19 | 2005-06-09 | Sanyo Electric Co Ltd | アンプ |
| KR100696956B1 (ko) | 2005-04-29 | 2007-03-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전원 생성장치 |
| TWI328925B (en) * | 2007-04-11 | 2010-08-11 | Au Optronics Corp | Negative voltage converter |
| US10678287B2 (en) | 2018-10-15 | 2020-06-09 | Globalfoundries Inc. | Positive and negative full-range back-bias generator circuit structure |
| EP4055602A1 (en) | 2019-11-05 | 2022-09-14 | EM Microelectronic-Marin SA | Automatch in open loop |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4794278A (en) * | 1987-12-30 | 1988-12-27 | Intel Corporation | Stable substrate bias generator for MOS circuits |
| US5077691A (en) * | 1989-10-23 | 1991-12-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Flash EEPROM array with negative gate voltage erase operation |
| US5059815A (en) * | 1990-04-05 | 1991-10-22 | Advanced Micro Devices, Inc. | High voltage charge pumps with series capacitors |
| US5168466A (en) * | 1991-03-04 | 1992-12-01 | Motorola, Inc. | Bias current generator circuit for a sense amplifier |
-
1992
- 1992-10-22 US US07/964,807 patent/US5282170A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-09-07 EP EP93307047A patent/EP0594293B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-09-07 DE DE69320296T patent/DE69320296T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-25 KR KR1019930019777A patent/KR100283019B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-20 JP JP26249593A patent/JP3638623B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69320296T2 (de) | 1999-04-08 |
| KR100283019B1 (ko) | 2001-03-02 |
| JPH06259980A (ja) | 1994-09-16 |
| US5282170A (en) | 1994-01-25 |
| EP0594293A2 (en) | 1994-04-27 |
| JP3638623B2 (ja) | 2005-04-13 |
| DE69320296D1 (de) | 1998-09-17 |
| EP0594293B1 (en) | 1998-08-12 |
| EP0594293A3 (en) | 1994-07-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19930925 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19980406 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 19930925 Comment text: Patent Application |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20000616 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20001016 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20001204 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20001205 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20031030 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20041018 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20051014 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20061020 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20071011 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20081014 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20091016 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20101129 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20111129 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121129 Year of fee payment: 13 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20121129 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
| EXPY | Expiration of term | ||
| PC1801 | Expiration of term |
Termination date: 20140325 Termination category: Expiration of duration |