KR970051075A - 반도체 메모리장치의 전압 승압회로 - Google Patents

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Abstract

반도체 메모리장치의 전압 승압회로가 포함되어 있다. 본 발명은 외부에서 인가되는 외부 공급전압(Vext)을 일정한 정전압으로 강하하는 내부전압 발생회로의 출력전압인 내부 공급전압(Vint)을 인가받아, 상기 내부 공급전압(Vint)보다 높은 전압을 출력하는 반도체 메모리장치의 전압 승압회로에 있어서, 상기 전압 승압회로의 출력단에 접속되며, 상기 내부 공급전압(Vint)이 인가되는 제1프리차지 수단과, 상기 전압 승압회로의 출력단에 접속되며, 상기 외부 공급전압(Vext)이 인가되는 제2프리차지 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
따라서 본 발명은 전압 승압회로의 셋업(Set-up) 특성을 향상시키고, 또한 상기 제2프리차지 수단의 턴온 전압이 높기 때문에 종래기술에 비해 프리차지 레벨이 상대적으로 낮아짐으로써 상기 전압 승압회로가 동작할 때 상기 전압 승압회로의 출력인 승압전압(Vpp)이 지나치게 높아지지 않으며, 이에 따라 상기 승압전압이 인가되는 트랜지스터의 게이트 산화막의 신뢰도 특성저하를 방지할 수 있다.

Description

반도체 메모리장치의 전압 승압회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 프리차지 수단을 구비하는 전압 승압회로의 구성도를 나타내는 도면이다.

Claims (4)

  1. 외부에서 인가되는 외부 공급전압(Vint)을 일정한 정전압으로 강하하는 내부전압 발생회로의 출력전압인 내부 공급전압(Vint)을 인가받아, 상기 내부 공급전압(Vint)보다 높은 전압을 출력하는 반도체 메모리장치의 전압 승압회로에 있어서, 상기 전압 승압회로의 출력단에 접속되며, 상기 내부 공급전압(Vint)이 인가되는 제1프리차지 수단과 상기 전압승압 회로의 출력단에 제2프리차지 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 전압 승압회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1프리차지 수단이 게이트와 소오스 또는 드레인이 서로 접속되어 있는 다이오드 구조의 트랜지스터로 구성되며, 상기 다이오드 구조의 트랜지스터가 상기 내부 공급전압(Vint)과 상기 전압 승합회로의 출력단 사이에 적어도 1개 이상 직렬접속되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 전압 승압회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2프리차지 수단이 게이트와 소오스 또는 드레인이 서로 접속되어 있는 다이오드 구조의 트랜지스터로 구성되며, 상기 다이오드 구조의 트랜지스터가 상기 외부 공급전압(Vext)과 상기 전압 승압회로의 출력단 사이에 적어도 2개 이상 직렬접속되어 있으며, 상기 제1프리차지 수단의 트랜지스터의 갯수보다 적어도 1개 이상 많은 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 전압 승압회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제2프리차지 수단의 턴온 전압이 상기 제1프리차지 수단의 턴은 전압보다 높은 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 전압 승압회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2533221B2 (ja) * 1990-05-11 1996-09-11 株式会社東芝 ダイナミック型ランダムアクセスメモリ
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