NL1005802C2 - Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem. - Google Patents

Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem. Download PDF

Info

Publication number
NL1005802C2
NL1005802C2 NL1005802A NL1005802A NL1005802C2 NL 1005802 C2 NL1005802 C2 NL 1005802C2 NL 1005802 A NL1005802 A NL 1005802A NL 1005802 A NL1005802 A NL 1005802A NL 1005802 C2 NL1005802 C2 NL 1005802C2
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
valve
discharge
reactor
drain
discharge pipe
Prior art date
Application number
NL1005802A
Other languages
English (en)
Inventor
Jeroen Jan Stoutjesdijk
Original Assignee
Asm Int
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asm Int filed Critical Asm Int
Priority to NL1005802A priority Critical patent/NL1005802C2/nl
Priority to JP10543767A priority patent/JP2000514172A/ja
Priority to AU67515/98A priority patent/AU6751598A/en
Priority to PCT/NL1998/000204 priority patent/WO1998046345A1/en
Priority to US09/202,227 priority patent/US6132207A/en
Application granted granted Critical
Publication of NL1005802C2 publication Critical patent/NL1005802C2/nl

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J4/00Feed or outlet devices; Feed or outlet control devices
    • B01J4/008Feed or outlet control devices

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergeliik afvoersysteem.
De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een afvoersysteem 5 voor een reactor, zoals een oven, omvattende een afvoerleiding aan te sluiten op de afvoer van die reactor, welke afvoerleiding anderzijds verbonden is met een afvoerkanaal waarin een afzuiginrichting aangebracht is, welke in het afvoerkanaal een onderdruk opwekt, waarbij de afvoerleiding nabij de afvoer van de reactor voorzien is van een ope-10 ning naar de omgeving, in welke opening een klep aangebracht is.
Een dergelijk systeem is bekend uit het Amerikaanse octrooischrift 4.863.374. In de halfgeleiderindustrie en bij andere processen waarbij in een reactor een zeer geringe hoeveelheid gas of ander medium gedoseerd wordt voor het laten verlopen van het desbetreffende proces is 15 het vaak van belang dat de onderdruk aan de afvoerzijde nauwkeurig constant is. Indien een dergelijke onderdruk te veel varieert, va rieert daardoor de doorstroomsnelheid resp. verblijftijd van het betreffende medium door de reactor en wordt daardoor het eindproduct negatief beïnvloed. Dit geldt met name indien het afvoersysteem voor 20 een dergelijke reactor gecombineerd is met het afvoersysteem van andere reactoren. Veranderingen in de procesomstandigheden in die andere reactoren zouden een negatieve invloed kunnen hebben op de procesomstandigheden in die eerste reactor. Dit geldt met name indien het afvoersysteem voorzien is van een centrale afzuiginrichting zoals een 25 waaier en bij het vergroten of verkleinen van het debiet door een reactor zal het debiet in een andere reactor verkleind respectievelijk vergroot worden.
Om dit probleem te vermijden, is in de stand der techniek een aantal voorstellen gedaan.
30 Een eerste voorstel omvat het aanbrengen van een smoorklep in de verbinding tussen de uitlaat van de reactor en de afvoerleiding. Deze smoorklep wordt met de hand op een vaste waarde ingesteld.
Volgens een ander voorstel werd eveneens een dergelijke smoorklep toegepast in de verbinding tussen afvoerleiding en uitlaat, maar deze 35 klep is tijdens het proces stuurbaar. Daartoe is het noodzakelijk een gecompliceerde drukmeter toe te passen en het daardoor gemeten signaal om te zetten in een verplaatsing van de klep met behulp van elektrische, hydraulische of pneumatische middelen. Een dergelijke oplos- 1005802 2 sing is bijzonder kostbaar indien een aantal van dergelijke afvoerlei-dingen en smoorinrichtingen aanwezig is. Bovendien bestaan aanzienlijke inregelproblemen en is het niet eenvoudig mogelijk de druk op een absolute waarde vast te leggen.
5 Bovendien is het bij toepassing van bepaalde giftige gassen nood zakelijk deze voor het uittreden in de vrije atmosfeer minder schadelijk te maken. Dit kan door het aanbrengen van kostbare absorberende middelen. Een ander in de stand der techniek bekend voorstel is het bijmengen van lucht of andere omgevingsgassen waardoor de concentratie 10 vim dergelijke schadelijke producten verminderd wordt. Daartoe wordt een aparte luchtdoseerinrichting voorgesteld waarbij de toevoer van lucht bij voorkeur na de afzuiginrichting plaatsvindt om bedrijf van het afvoersysteem niet onnodig te verstoren.
In het Amerikaanse octrooischrift 4.863-37^ wordt voorgesteld in 15 de afvoerleiding naar het afvoerkanaal een elektrisch bediende klep aan te brengen. Deze klep dient voor het aanzuigen van koude lucht om bij de gassen afkomstig uit een oven bijgemengd te worden. Om het afvoersysteem tegen te hoge temperaturen te beschermen, wordt de toevoer van koude omgevingslucht aan de uitlaat afhankelijk van de tempe-20 ratuur in de oven geregeld. Van een regeling van de druk die heerst in de oven, is geen sprake en gezien het doel van de oven, zijnde het verwarmen van keramische voorwerpen, lijkt dit echter ook niet van belang te zijn.
Het is het doel van de onderhavige uitvinding deze nadelen te 25 vermijden en in een eenvoudig afvoersysteem te voorzien voor het regelen van de onderdruk nabij de uitlaat van een reactor welke op eenvoudige wijze ingeregeld kan worden. Bovendien wordt beoogd in een afvoersysteem te voorzien waarmee het op eenvoudige wijze mogelijk is een verder gas uit de omgeving in de afvoerstroom bij de mengen.
30 Dit doel wordt bij de hierboven beschreven inrichting verwezen lijkt doordat die klep een op het drukverschil daarover reagerende klep is, zodanig ingericht dat ter plaatse van die opening de onderdruk in die afvoerleiding een vooraf bepaalde waarde niet overschrijdt.
35 Aan de uitvinding ligt het inzicht ten grondslag een afzuiginrich ting met een capaciteit toe te passen die voldoende is voor het opwekken van de vereiste onderdruk voor alle reactoren of andere inrichtingen die aangesloten zijn op het afvoersysteem. Vervolgens 1005802 3 laat men deze afzuiginrichting onder optimale bedrijfsomstandigheden werken en wordt het overschot aan debiet steeds bijgeregeld door het toelaten van een grotere of kleinere hoeveelheid lucht met behulp van de klep volgens de uitvinding die zich bevindt 5 nabij de verbinding tussen afvoerleiding en uitlaat van de reac tor. Door het aanzuigen van lucht uit de omgeving wordt de concentratie schadelijke stoffen direct bij de uitlaat van de reactor verlaagd tot een aanvaardbaar niveau. Door bijmengen vein lucht verlaagt de partieeldruk van afgevoerde gassen. Hierdoor wordt 10 condensatie van waterdamp en andere dampen tegengegaan. Wisselin gen in procesomstandigheden in een reactor worden dadelijk gecompenseerd door wijziging van de positie van de klep.
Een dergelijke klep kan elke in de stand der techniek bekende constructie omvatten zoals een veerbelaste al dan niet elektrisch, 15 hydraulisch of pneumatisch bediende klep.
Volgens een bijzonder eenvoudige uitvoering van de uitvinding omvat de klep een gewichtbelaste klep. Door het aanpassen van het gewicht aan het oppervlak van de klep kan in een bijzonder nauwkeurige regeling van de onderdruk ter plaatse voorzien worden. Bij voorkeur is 20 een dergelijke gewichtbelaste klep een schamierklep. Een dergelijke scharnierklep kan in een klephuis opgenomen worden welk klephuis enerzijds deel uitmaakt van de afvoerleiding of een aftakking daarvan en anderzijds voorzien is van een opening die uitmondt in de vrije atmosfeer. Daarbij werkt de eigenlijke klep samen met een ringvormige rand 25 van die opening welke als klepzitting functioneert. Voor optimaal nauwkeurige instelling wordt er de voorkeur aan gegeven dat het scharnier van de klep in gebruikspositie ten minste hoger ligt dan een deel van de klepzitting.
Met de klep volgens de uitvinding is het bijzonder eenvoudig in 30 een terugslagfunctie te voorzien. Dat wil zeggen, mocht op enigerlei wijze op enigerlei plaats in het afvoersysteem een overdruk optreden, dan sluit de klep zodat voorkomen wordt dat schadelijke gassen teruggeblazen worden door de klepopening naar de locatie waar de betreffende reactor opgesteld is.
35 Met de uitvinding kan in een enkele mechanische unit de regeling van de klep alsmede de klep zelf verenigd worden, zodat enige terugkoppeling met de omgeving via complexe systemen, niet noodzakelijk is en steeds gegarandeerd wordt dat de druk in de afvoerleiding en zo de 1005802 4 druk in de betreffende oven geoptimaliseerd is.
De uitvinding heeft eveneens betrekking op een processtelsel omvattende een met een voor de gezondheid schadelijk gas werkende reactor verbonden met het hierboven beschreven afvoersysteem. Als voor-5 beeld van voor de gezondheid schadelijke gassen worden hier genoemd HCl-gassen en PH3. Andere gassen die met het afvoerstelsel volgens de uitvinding afgevoerd kunnen worden, zijn oxidatieproducten, TCA, H2, 02 en waterdamp. Begrepen dient te worden dat dit slechts een beperkte opsomming van de verschillende mogelijkheden is.
10 De uitvinding zal hieronder nader aan de hand van in de tekening afgeheelde uitvoeringsvoorbeelden verduidelijkt worden. Daarbij tonen:
Fig. 1 schematisch in zijaanzicht het afvoersysteem volgens de uitvinding in combinatie met een reactor;
Fig. 2 in detail en gedeeltelijk in doorsnede de klep volgens de 15 uitvinding; en
Fig. 3 in zijaanzicht de klep volgens de uitvinding.
In fig. 1 is met 1 een oven aangegeven. De uitvinding zal aan de hand van een dergelijke oven besproken worden, maar begrepen dient te worden dat elke andere installatie met het afvoersysteem volgens de 20 uitvinding gecombineerd kan worden. In het onderhavige voorbeeld is de oven een inrichting waarin wafers behandeld worden door het langslei-den van een procesgas. Voor bepaalde toepassingen zijn bijzonder lage concentraties van een te doteren gas noodzakelijk en is het van het grootste belang dat een zeer gelijkmatige concentratie van deze lage 25 dotatie over de hele reactor aanwezig is om een uniform proces te verkrijgen. Gas wordt toegevoerd via leiding 20 en beweegt met een constante verblijftijd door de oven. Daartoe is het van belang dat de onderdruk ter plaatse van de uitlaat 19 van de oven tijdens het proces constant is. Deze uitlaat 19 van de oven is via een afvoerleiding 2 30 verbonden met een afvoerkanaal 3· Daarbij is afvoerkanaal 3 voorzien van een afzuiginrichting 4 zoals een waaier die in het algemeen op het dak van de betreffende hal of dergelijke aangebracht zal zijn. Behalve afvoerleiding 2 zijn afvoerleidingen 5 en 6 aanwezig die leiden naar niet nader afgeheelde reactoren of andere afzuigpunten. Afvoerleiding 35 2 is voorzien van een aftakleiding 7 waarop een klep 8 aangebracht is.
21 geeft een af voer vein stikstof aan, die voor koeling en afscheiding gebruikt wordt. Details van de klep 8 blijken uit fig. 3 en 4.
In fig. 3 en 4 is het klephuis van deze klep 8 met 9 aangegeven.
1005802 5
Dit klephuis 9 is enerzijds verbonden met aftakleiding 7 en is anderzijds voorzien van een luchtinlaatopening 10. De doorlaat van lucht door deze opening 10 wordt beheerst door de sturing van een klep 12 die aan kan liggen op een klepzitting 11. Klep 12 bestaat uit een 5 schijfvormig lichaam dat scharnierend bevestigd is via klepschamier 13 met een contragewicht 14. Uitslag van klep 12 wordt beperkt door een aanslagschroef 15. Het kleplichaam is voorzien van een V-afdichting l8 die aangrijpt op klepzitting 11.
Zoals uit fig. 4 blijkt is scharnieras 13 door het huis heen aan 10 ten minste een zijde verlengd en is daarop een wijzer 16 aangebracht die samenwerkt met een schaalverdeling 17 aangebracht op klephuis 9· De positie van klep 12 geeft nauwkeurig het debiet lucht aan dat door opening 10 verplaatst wordt.
Tijdens normaal bedrijf zal de afzuiginrichting 4 overbemeten 15 zijn, d.w.z. zonder de aanwezigheid van klep 8 zou te grote onderdruk heersen ter plaatse van uitlaat 19 van oven 1. Echter door de aanwezigheid van klep 8 wordt de omvang van een dergelijke onderdruk tot de gewenste waarde gereduceerd. Afhankelijk van de instelling van het gewicht zal het kleplichaam 12 meer of minder verwijderd worden van 20 zitting 11 en zal meer of minder lucht toegelaten worden. Mocht door buitengewone omstandigheden de onderdruk minder worden, d.w.z. dat bijvoorbeeld een van de andere afvoerleidingen 5 of 6 meer gas afgeeft, dan zal klep 12 in sluitrichting bewegen. In het omgekeerde geval zal klep 12 openen. Mocht door een onregelmatigheid in de pro-25 ductie een overdruk ontstaan binnen het systeem dan zal klep 12 volledig sluiten waardoor voorkomen wordt dat via opening 10 voor de gezondheid schadelijk gas in de omgeving komt.
Door gebruik van klep 8 wordt ter plaatse van de uitlaat 19 onder normale bedrijfsomstandigheden direct lucht bijgemengd. Dit is met 30 name wenselijk in het geval waarin voor de gezondheid schadelijke en/of condenserende gassen afgevoerd dienen te worden. Door het bij-mengen van lucht zal de concentratie daarvan verlagen waardoor de vereiste norm gehaald kan worden.
Als voorbeeld kan een klep volgens de uitvinding gebruikt worden 35 voor een debiet liggend tussen 20 en 80 m3 lucht/uur bij een onderdruk van ongeveer £ inch waterkolom.
Gebleken is dat het onder een hoek aanbrengen van kleplichaam 12 ten opzichte van de inlaat van klephuis 9 in een optimaal stabiele 1005802 6 stroming voorziet waardoor het niet noodzakelijk is bijzondere dem-pingsmiddelen aan te brengen voor kleplichaam 12. Een en ander wordt nog bevorderd door de positionering van scharnier 13 onder de bovenrand van klepzitting 11.
5 Hoewel de uitvinding hierboven aan de hand van een voorkeursuit voering beschreven is, dient begrepen te worden dat daaraan talrijke wijzigingen aangebracht kunnen worden zonder buiten het bereik van de onderhavige aanvrage te geraken. Zo is het mogelijk het afvoersysteem volgens de uitvinding toe te passen bij andere reactoren of installa-10 ties die bedreven worden met andere gassen of media. Deze en andere wijzigingen worden alle geacht binnen het bereik van de bijgevoegde conclusies te liggen.
1005802

Claims (8)

1. Afvoersysteem voor een reactor zoals een oven (1), omvattende een afvoerleiding (2) aan te sluiten op de afvoer van die reactor, welke afvoerleiding anderzijds verbonden is met een afvoerkanaal (3) 5 waarin een afzuiginrichting (4) aangebracht is, welke in het afvoerkanaal een onderdruk opwekt, waarbij de afvoerleiding nabij de afvoer van de reactor voorzien is van een opening naar de omgeving, in welke opening (10) een klep (12) aangebracht is, met het kenmerk, dat die klep een op het drukverschil daarover reagerende klep is, zodanig 10 ingericht dat ter plaatse van die opening de onderdruk in die afvoerleiding een vooraf bepaalde waarde niet overschrijdt.
2. Afvoersysteem volgens conclusie 1, waarbij die klep omvat een gewicht (14) belaste klep.
3· Afvoersysteem volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij 15 die klep een scharnierklep omvat.
4. Afvoersysteem volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij die klep in een klephuis (9) opgenomen is, waarbij het inwendige vein het klephuis met die afvoerleiding verbonden is, welk klephuis van een opening voorzien is begrensd door een ringvormige rand (11), welke 20 rand de klepzitting omvat.
5. Afvoersysteem volgens een van de voorgaande conclusies in combinatie met conclusie 3 en 4, waarbij dat scharnierpunt (13) in ge-bruikspositie lager dan een deel van die ringvormige rand ligt.
6. Afvoersysteem volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij 25 die klep een terugslagfunctie omvat.
7· Afvoersysteem volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij op dat afvoerkanaal verschillende afvoerleidingen (2, 5, 6) zijn aangesloten.
8. Processtelsel omvattende een met een voor de gezondheid schade-30 lijk gas bedreven reactor verbonden met een afvoersysteem volgens een van de voorgaande conclusies. 1005802
NL1005802A 1997-04-11 1997-04-11 Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem. NL1005802C2 (nl)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1005802A NL1005802C2 (nl) 1997-04-11 1997-04-11 Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem.
JP10543767A JP2000514172A (ja) 1997-04-11 1998-04-09 反応装置用排出システム
AU67515/98A AU6751598A (en) 1997-04-11 1998-04-09 Discharge system for a reactor
PCT/NL1998/000204 WO1998046345A1 (en) 1997-04-11 1998-04-09 Discharge system for a reactor
US09/202,227 US6132207A (en) 1997-04-11 1998-04-09 Discharge system for a reactor, and process system provided with a discharge system of this kind

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1005802 1997-04-11
NL1005802A NL1005802C2 (nl) 1997-04-11 1997-04-11 Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL1005802C2 true NL1005802C2 (nl) 1998-10-14

Family

ID=19764780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL1005802A NL1005802C2 (nl) 1997-04-11 1997-04-11 Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6132207A (nl)
JP (1) JP2000514172A (nl)
AU (1) AU6751598A (nl)
NL (1) NL1005802C2 (nl)
WO (1) WO1998046345A1 (nl)

Families Citing this family (283)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6413081B2 (en) 1999-09-17 2002-07-02 Pieter Johannes Quintus Van Voorst Vader Method for purging a furnace and furnace assembly
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US10858737B2 (en) 2014-07-28 2020-12-08 Asm Ip Holding B.V. Showerhead assembly and components thereof
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
CN105066682B (zh) * 2015-08-05 2017-03-01 清华大学 一种快速致密化压力耦合动态烧结炉及烧结方法
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10343920B2 (en) 2016-03-18 2019-07-09 Asm Ip Holding B.V. Aligned carbon nanotubes
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR102762543B1 (ko) 2016-12-14 2025-02-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
KR102700194B1 (ko) 2016-12-19 2024-08-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US12040200B2 (en) 2017-06-20 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
TWI815813B (zh) 2017-08-04 2023-09-21 荷蘭商Asm智慧財產控股公司 用於分配反應腔內氣體的噴頭總成
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10923344B2 (en) 2017-10-30 2021-02-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
KR102633318B1 (ko) 2017-11-27 2024-02-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 청정 소형 구역을 포함한 장치
CN111316417B (zh) 2017-11-27 2023-12-22 阿斯莫Ip控股公司 与批式炉偕同使用的用于储存晶圆匣的储存装置
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
KR102695659B1 (ko) 2018-01-19 2024-08-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 플라즈마 보조 증착에 의해 갭 충진 층을 증착하는 방법
TWI799494B (zh) 2018-01-19 2023-04-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US11685991B2 (en) 2018-02-14 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10731249B2 (en) 2018-02-15 2020-08-04 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102600229B1 (ko) 2018-04-09 2023-11-10 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 장치, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US12025484B2 (en) 2018-05-08 2024-07-02 Asm Ip Holding B.V. Thin film forming method
KR102709511B1 (ko) 2018-05-08 2024-09-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 산화물 막을 주기적 증착 공정에 의해 증착하기 위한 방법 및 관련 소자 구조
US12272527B2 (en) 2018-05-09 2025-04-08 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for use with hydrogen radicals and method of using same
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
TWI840362B (zh) 2018-06-04 2024-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 水氣降低的晶圓處置腔室
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
CN120591748A (zh) 2018-06-27 2025-09-05 Asm Ip私人控股有限公司 用于形成含金属的材料的循环沉积方法及膜和结构
US11492703B2 (en) 2018-06-27 2022-11-08 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102707956B1 (ko) 2018-09-11 2024-09-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344B (zh) 2018-10-01 2024-10-25 Asmip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US12378665B2 (en) 2018-10-26 2025-08-05 Asm Ip Holding B.V. High temperature coatings for a preclean and etch apparatus and related methods
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR102748291B1 (ko) 2018-11-02 2024-12-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US12040199B2 (en) 2018-11-28 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
JP7504584B2 (ja) 2018-12-14 2024-06-24 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム
TWI866480B (zh) 2019-01-17 2024-12-11 荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR102727227B1 (ko) 2019-01-22 2024-11-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
TWI873122B (zh) 2019-02-20 2025-02-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
US11482533B2 (en) 2019-02-20 2022-10-25 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and methods for plug fill deposition in 3-D NAND applications
JP7509548B2 (ja) 2019-02-20 2024-07-02 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための周期的堆積方法および装置
TWI842826B (zh) 2019-02-22 2024-05-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備及處理基材之方法
US11742198B2 (en) 2019-03-08 2023-08-29 Asm Ip Holding B.V. Structure including SiOCN layer and method of forming same
KR102782593B1 (ko) 2019-03-08 2025-03-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR102858005B1 (ko) 2019-03-08 2025-09-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
KR20200116033A (ko) 2019-03-28 2020-10-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도어 개방기 및 이를 구비한 기판 처리 장치
KR102809999B1 (ko) 2019-04-01 2025-05-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
US11447864B2 (en) 2019-04-19 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR102929471B1 (ko) 2019-05-07 2026-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR102869364B1 (ko) 2019-05-07 2025-10-10 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR102929472B1 (ko) 2019-05-10 2026-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP7612342B2 (ja) 2019-05-16 2025-01-14 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP7598201B2 (ja) 2019-05-16 2024-12-11 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141002A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법
KR102918757B1 (ko) 2019-06-10 2026-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 석영 에피택셜 챔버를 세정하는 방법
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR102911421B1 (ko) 2019-07-03 2026-01-12 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP7499079B2 (ja) 2019-07-09 2024-06-13 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646B (zh) 2019-07-10 2026-02-10 Asmip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR102895115B1 (ko) 2019-07-16 2025-12-03 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
TWI826704B (zh) 2019-07-17 2023-12-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 自由基輔助引燃電漿系統和方法
KR102860110B1 (ko) 2019-07-17 2025-09-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
TWI839544B (zh) 2019-07-19 2024-04-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法
KR102903090B1 (ko) 2019-07-19 2025-12-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법
CN112309843B (zh) 2019-07-29 2026-01-23 Asmip私人控股有限公司 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法
US12169361B2 (en) 2019-07-30 2024-12-17 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
CN112309900B (zh) 2019-07-30 2025-11-04 Asmip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309899B (zh) 2019-07-30 2025-11-14 Asmip私人控股有限公司 基板处理设备
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
CN112323048B (zh) 2019-08-05 2024-02-09 Asm Ip私人控股有限公司 用于化学源容器的液位传感器
KR20210018761A (ko) 2019-08-09 2021-02-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 장치를 포함한 히터 어셈블리 및 이를 사용하는 방법
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
JP7810514B2 (ja) 2019-08-21 2026-02-03 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR102928101B1 (ko) 2019-08-23 2026-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
KR102868968B1 (ko) 2019-09-03 2025-10-10 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 칼코지나이드 막 및 상기 막을 포함한 구조체를 증착하기 위한 방법 및 장치
KR102806450B1 (ko) 2019-09-04 2025-05-12 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR102733104B1 (ko) 2019-09-05 2024-11-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US12469693B2 (en) 2019-09-17 2025-11-11 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a carbon-containing layer and structure including the layer
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
TW202128273A (zh) 2019-10-08 2021-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氣體注入系統、及將材料沉積於反應室內之基板表面上的方法
TWI846953B (zh) 2019-10-08 2024-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理裝置
KR102948143B1 (ko) 2019-10-08 2026-04-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
TWI846966B (zh) 2019-10-10 2024-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構
US12009241B2 (en) 2019-10-14 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh) 2019-10-16 2024-03-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR102845724B1 (ko) 2019-10-21 2025-08-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko) 2019-10-25 2021-05-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR102890638B1 (ko) 2019-11-05 2025-11-25 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR102861314B1 (ko) 2019-11-20 2025-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
US11450529B2 (en) 2019-11-26 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface
CN112951697B (zh) 2019-11-26 2025-07-29 Asmip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692B (zh) 2019-11-29 2025-08-15 Asmip私人控股有限公司 基板处理设备
CN120432376A (zh) 2019-11-29 2025-08-05 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP7527928B2 (ja) 2019-12-02 2024-08-05 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11885013B2 (en) 2019-12-17 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming vanadium nitride layer and structure including the vanadium nitride layer
US11527403B2 (en) 2019-12-19 2022-12-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures
KR20210089077A (ko) 2020-01-06 2021-07-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 가스 공급 어셈블리, 이의 구성 요소, 및 이를 포함하는 반응기 시스템
TWI887322B (zh) 2020-01-06 2025-06-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 反應器系統、抬升銷、及處理方法
US11993847B2 (en) 2020-01-08 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Injector
KR102882467B1 (ko) 2020-01-16 2025-11-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고 종횡비 피처를 형성하는 방법
KR102675856B1 (ko) 2020-01-20 2024-06-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TWI889744B (zh) 2020-01-29 2025-07-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 污染物捕集系統、及擋板堆疊
TW202513845A (zh) 2020-02-03 2025-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 半導體裝置結構及其形成方法
TWI908758B (zh) 2020-02-04 2025-12-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
KR20210103953A (ko) 2020-02-13 2021-08-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 가스 분배 어셈블리 및 이를 사용하는 방법
KR102916725B1 (ko) 2020-02-13 2026-01-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 수광 장치를 포함하는 기판 처리 장치 및 수광 장치의 교정 방법
US11781243B2 (en) 2020-02-17 2023-10-10 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon
TWI895326B (zh) 2020-02-28 2025-09-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 專用於零件清潔的系統
KR102943116B1 (ko) 2020-03-04 2026-03-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 정렬 고정구
US11876356B2 (en) 2020-03-11 2024-01-16 Asm Ip Holding B.V. Lockout tagout assembly and system and method of using same
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
CN113394086A (zh) 2020-03-12 2021-09-14 Asm Ip私人控股有限公司 用于制造具有目标拓扑轮廓的层结构的方法
US12173404B2 (en) 2020-03-17 2024-12-24 Asm Ip Holding B.V. Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method
KR102755229B1 (ko) 2020-04-02 2025-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TWI887376B (zh) 2020-04-03 2025-06-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 半導體裝置的製造方法
TWI888525B (zh) 2020-04-08 2025-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
KR20210128343A (ko) 2020-04-15 2021-10-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조
US11996289B2 (en) 2020-04-16 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
TW202143328A (zh) 2020-04-21 2021-11-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於調整膜應力之方法
CN113555279A (zh) 2020-04-24 2021-10-26 Asm Ip私人控股有限公司 形成含氮化钒的层的方法及包含其的结构
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
KR102866804B1 (ko) 2020-04-24 2025-09-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
KR102934380B1 (ko) 2020-04-24 2026-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 보라이드 및 바나듐 포스파이드 층을 포함한 구조체를 형성하는 방법
KR20210132612A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 화합물들을 안정화하기 위한 방법들 및 장치
KR102783898B1 (ko) 2020-04-29 2025-03-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
JP7726664B2 (ja) 2020-05-04 2025-08-20 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基板を処理するための基板処理システム
JP7736446B2 (ja) 2020-05-07 2025-09-09 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 同調回路を備える反応器システム
KR20210137395A (ko) 2020-05-07 2021-11-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 불소계 라디칼을 이용하여 반응 챔버의 인시츄 식각을 수행하기 위한 장치 및 방법
KR102788543B1 (ko) 2020-05-13 2025-03-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
KR102936676B1 (ko) 2020-05-15 2026-03-10 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다중 전구체를 사용하여 실리콘 게르마늄 균일도를 제어하기 위한 방법
TWI911214B (zh) 2020-05-19 2026-01-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備
KR102795476B1 (ko) 2020-05-21 2025-04-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
KR20210145079A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판을 처리하기 위한 플랜지 및 장치
KR102702526B1 (ko) 2020-05-22 2024-09-03 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치
KR20210146802A (ko) 2020-05-26 2021-12-06 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 붕소 및 갈륨을 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법
TWI876048B (zh) 2020-05-29 2025-03-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202212620A (zh) 2020-06-02 2022-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法
KR20210156219A (ko) 2020-06-16 2021-12-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 붕소를 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법
TWI908816B (zh) 2020-06-24 2025-12-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TWI873359B (zh) 2020-06-30 2025-02-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
US12431354B2 (en) 2020-07-01 2025-09-30 Asm Ip Holding B.V. Silicon nitride and silicon oxide deposition methods using fluorine inhibitor
TW202202649A (zh) 2020-07-08 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TWI864307B (zh) 2020-07-17 2024-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於光微影之結構、方法與系統
KR20220011092A (ko) 2020-07-20 2022-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 전이 금속층을 포함하는 구조체를 형성하기 위한 방법 및 시스템
TWI878570B (zh) 2020-07-20 2025-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
US12322591B2 (en) 2020-07-27 2025-06-03 Asm Ip Holding B.V. Thin film deposition process
KR20220020210A (ko) 2020-08-11 2022-02-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 티타늄 알루미늄 카바이드 막 구조체 및 관련 반도체 구조체를 증착하는 방법
KR102915124B1 (ko) 2020-08-14 2026-01-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
US12040177B2 (en) 2020-08-18 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes
TWI911263B (zh) 2020-08-25 2026-01-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 清潔基板的方法、選擇性沉積的方法、及反應器系統
TW202534193A (zh) 2020-08-26 2025-09-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法
TWI911265B (zh) 2020-08-27 2026-01-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、及裝置結構
TWI904232B (zh) 2020-09-10 2025-11-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 沉積間隙填充流體之方法及相關系統和裝置
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
KR20220036866A (ko) 2020-09-16 2022-03-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 산화물 증착 방법
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
TWI889903B (zh) 2020-09-25 2025-07-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
US12009224B2 (en) 2020-09-29 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and method for etching metal nitrides
KR20220045900A (ko) 2020-10-06 2022-04-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치
TW202229612A (zh) 2020-10-06 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 在部件的側壁上形成氮化矽的方法及系統
CN114293174A (zh) 2020-10-07 2022-04-08 Asm Ip私人控股有限公司 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备
KR102855834B1 (ko) 2020-10-14 2025-09-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 단차형 구조 상에 재료를 증착하는 방법
KR102873665B1 (ko) 2020-10-15 2025-10-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자의 제조 방법, 및 ether-cat을 사용하는 기판 처리 장치
KR20220053482A (ko) 2020-10-22 2022-04-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202229620A (zh) 2020-11-12 2022-08-01 特文特大學 沉積系統、用於控制反應條件之方法、沉積方法
TW202229795A (zh) 2020-11-23 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 具注入器之基板處理設備
TW202235649A (zh) 2020-11-24 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充間隙之方法與相關之系統及裝置
KR20220076343A (ko) 2020-11-30 2022-06-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터
KR20220077875A (ko) 2020-12-02 2022-06-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 샤워헤드 어셈블리용 세정 고정구
US12255053B2 (en) 2020-12-10 2025-03-18 Asm Ip Holding B.V. Methods and systems for depositing a layer
US12159788B2 (en) 2020-12-14 2024-12-03 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures for threshold voltage control
CN114639631A (zh) 2020-12-16 2022-06-17 Asm Ip私人控股有限公司 跳动和摆动测量固定装置
TW202232639A (zh) 2020-12-18 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 具有可旋轉台的晶圓處理設備
KR20220090438A (ko) 2020-12-22 2022-06-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 전이금속 증착 방법
TW202226899A (zh) 2020-12-22 2022-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 具匹配器的電漿處理裝置
KR20220090435A (ko) 2020-12-22 2022-06-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 전구체 캡슐, 용기 및 방법
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD1023959S1 (en) 2021-05-11 2024-04-23 Asm Ip Holding B.V. Electrode for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate
USD1099184S1 (en) 2021-11-29 2025-10-21 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1060598S1 (en) 2021-12-03 2025-02-04 Asm Ip Holding B.V. Split showerhead cover

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4725204A (en) * 1986-11-05 1988-02-16 Pennwalt Corporation Vacuum manifold pumping system
US4863374A (en) * 1987-03-27 1989-09-05 Edward Orton, Jr., Ceramic Foundation Kiln with ventilation system

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4502503A (en) * 1982-02-24 1985-03-05 Anchor/Darling Valve Company Vacuum breaker valve with internally balanced disc
US4620508A (en) * 1985-09-25 1986-11-04 Exxon Research And Engineering Company Gas discharge and/or distribution system
US5769628A (en) * 1996-05-03 1998-06-23 Vanguard International Semiconductor Corporation Furnace exhaust system with regulator
US5738511A (en) * 1996-06-07 1998-04-14 Council Of Scientific & Industrial Research Vertical shaft kiln

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4725204A (en) * 1986-11-05 1988-02-16 Pennwalt Corporation Vacuum manifold pumping system
US4863374A (en) * 1987-03-27 1989-09-05 Edward Orton, Jr., Ceramic Foundation Kiln with ventilation system

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JACOBS R P: "KEEP YOUR VACUUM SYSTEM UNDER TIGHT CONTROL", I & CS - INDUSTRIAL AND PROCESS CONTROL MAGAZINE, vol. 67, no. 1, 1 January 1994 (1994-01-01), pages 53 - 56, XP000435491 *

Also Published As

Publication number Publication date
WO1998046345A1 (en) 1998-10-22
JP2000514172A (ja) 2000-10-24
US6132207A (en) 2000-10-17
AU6751598A (en) 1998-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL1005802C2 (nl) Afvoersysteem voor een reactor alsmede processtelsel voorzien van een dergelijk afvoersysteem.
US6419455B1 (en) System for regulating pressure in a vacuum chamber, vacuum pumping unit equipped with same
ATE305590T1 (de) Lagerungs und verteilungssystem für aussigkeiten
US8893402B2 (en) Method for controlling a protective gas atmosphere in a protective gas chamber for the treatment of a metal strip
US6752710B2 (en) Closed capture emission system
TW205009B (nl)
AU2002240761A1 (en) System and process for the treatment of gaseous emissions
US20210404058A1 (en) Apparatus and methods to reduce particles in a film deposition chamber
US7003215B2 (en) Vapor flow controller
CN1101783A (zh) 用于使贮存容器惰性化的装置
CN110797278A (zh) 微环境的压力控制系统及其控制方法、半导体处理设备
JP7313171B2 (ja) 流動焼却炉の制御装置および流動焼却炉の制御方法
AU2003246693A1 (en) Device and method for generation of a defined environment for particulate samples
FR3130638B1 (fr) Installation et procédé de conditionnement d’un mélange de gaz
TWI905658B (zh) 基板容器支撐系統及使氣態流體相對於由基板容器支撐系統支撐之基板容器之內部移動的方法
JP2001007192A (ja) コンテナに貯蔵した物品の処理方法及びデバイス並びにそのデバイスを備えた設備
CA2380277C (en) Closed capture emission system
KR0116279Y1 (ko) 저압화학증착장치
CN224165075U (zh) 热处理装置
CN219547016U (zh) 一种用于工业电窑炉的加热区露点控制系统
US775823A (en) Regulating-valve.
JP2866691B2 (ja) 処理装置及び熱処理装置
JPH07212030A (ja) チッソリフロー装置
US638217A (en) Regulator and automatic shut-off.
US157676A (en) Improvement in pressure-regulators

Legal Events

Date Code Title Description
PD2B A search report has been drawn up
VD1 Lapsed due to non-payment of the annual fee

Effective date: 20011101