NO339723B1 - Digel for krystallisering av silisium - Google Patents

Digel for krystallisering av silisium Download PDF

Info

Publication number
NO339723B1
NO339723B1 NO20065496A NO20065496A NO339723B1 NO 339723 B1 NO339723 B1 NO 339723B1 NO 20065496 A NO20065496 A NO 20065496A NO 20065496 A NO20065496 A NO 20065496A NO 339723 B1 NO339723 B1 NO 339723B1
Authority
NO
Norway
Prior art keywords
silicon
weight
intermediate layer
crucible
layer
Prior art date
Application number
NO20065496A
Other languages
English (en)
Other versions
NO20065496L (no
Inventor
Gilbert Rancoule
Original Assignee
Vesuvius Crucible Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vesuvius Crucible Co filed Critical Vesuvius Crucible Co
Publication of NO20065496L publication Critical patent/NO20065496L/no
Publication of NO339723B1 publication Critical patent/NO339723B1/no

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10Crucibles or containers for supporting the melt
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1032Seed pulling

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Crucibles And Fluidized-Bed Furnaces (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Mold Materials And Core Materials (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Description

Oppfinnelsen angår en digel for krystallisering av silisium samt fremstilling og anvendelse av frigjøringsbelegg for digler benyttet ved håndtering av smeltede materialer som skal bringes til å størkne i digelen og deretter fjernes som støpeblokker, og mer spesielt frigjøringsbelegg for digler benyttet ved størkning av polykrystallinsk silisium.
Digler av silika (enten av smelte-silika eller av kvarts) blir ofte benyttet for størkning av polykrystallinsk silisium. Silika velges primært fordi det har høy renhet og er lett tilgjengelig. Det er imidlertid forbundet med problemer å benytte silika som materiale i en digel for fremstilling av silisium etter denne fremgangsmåte.
Silisium vil i smeltet tilstand reagere med silikadigelen som det er i kontakt med. Smeltet silisium reagerer med silika under dannelse av silisiummonoksid og oksygen. Oksygen vil forurense silisiumet. Silisiummonoksid er flyktig og vil reagere med grafittbestanddelene inne i ovnen. Silisiummonoksid reagerer med grafitt under dannelse av silisiumkarbid og karbonmonoksid. Karbomonoksidet vil så reagere med det smeltede silisium, hvorved det dannes ytterligere mengder flyktig silisiummonoksid og karbon. Karbon vil forurense silisiumet. Silisium kan også reagere med de forskjellige forurensninger som inneholdes i silikadigelen (jern, bor, aluminium, ...).
Reaksjonen mellom silika og silisium fremmer adhesjon av silisiumet til digelen. Denne adhesjon, kombinert med en forskjell mellom varmeutvidelseskoef-fisientene for de to materialer, skaper spenninger i silisiumstøpeblokken, hvilket får den til å sprekke når den kjøles. Det er kjent i faget at et frigjøringsbelegg påført innsiden av digelen i området hvor det er kontakt med støpeblokken, kan forhindre reaksjonen mellom silisium og silika som fører til forurensning av støpeblokken og sprekkdannelse. For å være effektivt må frigjøringsbelegget være tilstrekkelig tykt til å hindre silisiumet i å reagere med silikadigelen, og det må ikke i skadelig grad forurense silisiumet, i seg selv eller som følge av innholdte forurensninger.
En rekke materialer og teknikker er beskrevet i litteraturen, ved hjelp av hvilke det er blitt gjort forsøk på å løse problemene med reaksjon og adhesjon som oppstår når digelen kommer i kontakt med smeltet materiale. Eksempelvis beskrives i US patentskrift nr. 5 431 869 et flerkomponent-frigjøringsmiddel bestående av silisiumnitrid og kalsiumklorid for bearbeidelse av silisium under anvendelse av en grafittdigel.
I dokumentet JP 2003041357 beskrives en digel med et belegg på den indre overflaten, som er termisk sprøytet direkte digelen og som består av metallisk silisium, sihsiumnitrid, og silisiumoksid.
I US patentskrift nr. 4 741 925 beskrives et silisiumnitridbelegg for digler påført ved kjemisk dampavsetning ved 1250 °C, mens det i WO-A1-2004/053207 beskrives et silisiumnitridbelegg påført ved plasmapåsprøytning. I US patentskrift nr. 3 746 569 omtales pyrolysedannelse i et silisiumnitridbelegg på veggene av et kvarts-rør. I US patentskrift nr. 4218418 beskrives en teknikk for dannelse av et glasslag på innsiden av en silikadigel ved hurtig oppvarming for å hindre sprekkdannelse i silisiumet under smeltebearbeidelse. I US patentskrift nr. 3 660 075 beskrives et belegg av niobkarbid eller yttriumoksid på en grafittdigel for smelting av spaltbare materialer. Niobkarbidet påføres ved kjemisk dampavsetning, mens yttriumoksidet påføres som en kolloidal suspensjon i en vandig uorganisk oppløsning.
Publikasjoner innenfor den kjent teknikk inkluderer spesifikke henvisninger til pulverformige støpeformfrigjøringsmidler for påføring på digler ved retningsbestemt størkning av silisium. I tillegg er anvendelse av kjemisk dampavsetning, oppløsnings-middelfordampning, flammebehandling ved høy temperatur og andre kostbare og komplekse metoder nevnt for påføring av digelbelegg. Det er gjort henvisninger til spesifikke bindemidler og oppløsningsmidler. Henvisninger er også gjort til blanding, påsprøyting eller påpensling for oppslemninger av pulverformige belegningsmaterialer.
Silisiunmitrid-fiigjøringsbelegget kan i seg selv føre til problemer. Tykkelsen av silisiumnitridbelegget som er nødvendig for å hindre silisiumet i å reagere med silikadigelen, er ganske vesentlig (ca. 300 um), hvilket derfor gjør belegningsopera-sjonen kostbar og tidkrevende. Videre er dette silisiumnitridbelegg mekanisk svakt og kan flasse av under eller sågar før bruk. Det anbefales derfor å påføre dette belegg på det senest mulige tidspunkt før bruk, det vil si i sluttbrukerens omgivelser, hvorved byrden med å påføre dette tykke belegg overlates til sluttbrukeren.
Det ville derfor være ønskelig å tilveiebringe en silikadigel som ikke er be-heftet med de ovenfor omtalte ulemper (dvs. som ikke krever fremstilling av et meget tykt belegg i sluttbrukerens anlegg, som lar seg fremstille hurtigere og billigere, og som viser seg å gi et sterkere belegg med en forbedret vedhefting til veggene).
I henhold til den foreliggende oppfinnelse er det tilveiebragt en digel for krystallisering av silisium som angitt i krav 1, og en fremgangsmåte for fremstilling av en digel for krystallisering av silisium som angitt i krav 11.
Det har vist seg at de ovennevnte problemer kan løses med en digel for krystallisering av silisium, omfattende (a) et basislegeme omfattende en bunnflate og sidevegger som definerer et innvendig volum, (b) et mellomlag omfattende 50-100 vekr% silika ved overflaten av sideveggene som vender mot det innvendige volum, og (c) et overflatelag omfattende 50-100 vekt% sihsiumnitrid, inntil 50 vekt% sihsiumdioksid og inntil 20 vekt% silisium på toppen av mellomlaget.
Mellomlaget omfattende 50-100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene er faktisk ekstremt motstandsdyktig og lett å fremstille. Da det ikke gjør seg gjeldende noe problem med avflassing med dette mellomlag, kan det fremstilles før digelen når sluttbrukeren, slik at sluttbrukeren bare trenger å påføre et tynt overflatelag som lar seg påføre hurtigere og billigere. Videre har det overraskende vist seg at dette mellomlag i meget stor grad øker vedheftingen av overflatelaget.
I henhold til en fordelaktig utførelse av oppfinnelsen blir styrken av mellomlaget med vilje begrenset, slik at vedheftingen av mellomlaget til overflatelaget og/eller til basislegemet blir mindre enn vedheftingen av overflatelaget til en silisiumstøpe-blokk. Dersom silisiumstøpeblokken av noen grunn skulle hefte til overflatelaget under krystalliseringen av silisiumstøpeblokken, vil mellomlaget følgelig delamineres under vnkningen av de påkjenninger som genereres som følge av kjølingen av støpeblokken. Dermed blir bare belegget i digelen ødelagt, men silisiumstøpeblokken tas ut i perfekt form. En måte å begrense styrken av mellomlaget på, er å påvirke porøsiteten av dette lag. Porøsiteten kan bestemmes ved granulometrien av de partikler som inngår i laget (et flertall av store partikler vil resultere i en høy porøsitet). En annen mulighet ligger i å inkludere i sammensetningen et materiale som vil bibringe eller generere den porøsi-tet som kreves. Eksempelvis vil bruk av aluminiumoksidmikrobobler (FILLITE) av sihsiumaluminatfibere gi den krevde porøsitet. Karbonholdige materialer som for eksempel harpikser eller karbon som vil pyrolysere uten residuum men med dannelse av fine karbondioksidbobler under oppvarmingen, vil også frembringe den porøsitet som kreves.
En annen fordel med dette belegg er at det kan påføres på mange forskjellige digelmaterialer, slik at sluttbrukeren som mottar en digel med et silikaholdig mellomlag, ikke trenger å utvikle spesielle og ulike prosedyrer for belegging av forskjellige materialer. Mellomlaget kan påføres på kvarts, smeltet silika, silisiumnitrid, SiAlON, sihsiumkarbid, aluminiumoksid eller sågar digler av grafitt.
Mellomlaget har med fordel en tykkelse på 50-300 um, slik at det tilveie-bringer det meste av den tykkelse som er nødvendig for å hindre reaksjon mellom silisiumet og digelen og forurensning av silisiumet fira forurensninger i mellomlaget. Foruten silika kan mellomlaget omfatte ethvert materiale som etter oppvarming vil være stabilt og ikke vil reagere med silisium. Særlig egnede er aluminiumoksid eller sihsiumaluminarmaterialer. Karbonholdige materialer som vil pyrolysere under oppvarming kan også benyttes for visse anvendelser.
Mellomlaget kan omfatte et ikke-organisk bindemiddel (som for eksempel kolloidalt silika) og/eller organisk bindemiddel (for eksempel en organisk harpiks som for eksempel polyetylenglykol, polyvinylalkohol, polykarbonat, epoksy, karboksymetylcellulose). Mengden av det organiske og ikke-organiske bindemiddel som er innlemmet i sammensetningen, avhenger av kravene til anvendelsen (styrken av det uoppvarmede belegg, osv.). I typiske tilfeller omfatter belegget 5-20 vekt% ikke-organisk bindemiddel og inntil 5 vekt% organisk bindemiddel. Vanligvis påføres mellomlaget i vann eller i et oppløsningsmiddel ved påsprøyting eller påpensling. Fortrinnsvis benyttes påsprøvting i et vannbasert system omfattende en passende mengde vann for oppslemning av hele blandingen.
I henhold til en spesiell utførelse av oppfinnelsen omfatter digelen et ytterligere lag (et andre mellomlag) over mellomlaget. Dette ytterligere lag omfatter inntil 50 vekt% silisiumnitrid, mens resten utgjøres hovedsakelig av silisiumdioksid. Dette ytterligere lag forbedrer forlikeligheten mellom overflatelaget og det første mellomlag og forbedrer i sterk grad dets vedhefting. Når det er til stede, vil dette ytterligere lag ha en tykkelse av inntil 200 um, fortrinnsvis en tykkelse av fra 50 til 100 um.
Avhengig av anvendelsen vil overflatelaget ha en tykkelse på fra 50 um til 500 um, fortrinnsvis fra 200 um til 500 um. For å unngå enhver forurensning, er det vesentlig at overflatelaget har en meget høy renhet, med et ultralavt karboninnhold. I typiske tilfeller vil overflatelaget omfatte 50-100 vekt% Si3N4, inntil 50 vekt% Si02og inntil 20 vekt% silisium. Vanligvis vil overflatelaget bli påført ved påsprøyting eller påpensling, fortrinnsvis ved påsprøytning. I en foretrukket utførelse av fremgangs-måten ifølge oppfinnelsen etterfølges påførmgstrinnet av et oppvarmnmgstrinn ved en temperatur og med en varighet som er egnet for kalsinering av i det vesentlige all organisk forbindelse som er til stede i beleggene. Det er å merke at når ett mellomlag ifølge oppfinnelsen benyttes, kan lagets tykkelse reduseres i vesentlig grad uten at lagets egenskaper (vecmefrningsegenskaper) forringes.
Oppfinnelsen skal nå beskrives med henvisning til de vedføyede tegninger, som kun tjener til å illustrere oppfinnelsen og ikke skal anses å begrense dennes rekkevidde. Både figur 1 og figur 2 viser tverrsnitt av digler ifølge oppfinnelsen.
På disse figurer er digelen angitt ved henvisningstall 1. Den omfatter et basislegeme 2 omfattende en bunnflate 21 og sidevegger 22 som avgrenser et innvendig volum for krystallisering av silisium. Digelen omfatter et mellomlag 3 som utgjøres av inntil 100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene 22 som vender mot det innvendige volum.
På figur 2 omfatter digelen ytterligere et mellomlag 31 som omfatter inntil 50 vekr% Si3N4, mens det gjenværende hovedsakelig utgjøres av Si02. Et slikt ytterligere mellombelegg er ikke vist på figur 1. På begge figurer omfatter digelen 1 videre et overflatelag 4 omfattende Si3N4.
Oppfinnelsen skal nå illustreres ved hjelp av eksempler ifølge oppfinnelsen og sammenligningseksempler. I de følgende tabeller er vedheftingen av de forskjellige belegg bestemt i henhold til ASTM D4541 ved bruk av en "Positest pull-off adhesion tester" (fra firmaet Defelsko Corp.). Dette testapparat evaluerer vedheftingen av belegget ved bestemmelse av den største avfrekningskraft det kan tåle før belegget løsner, dvs. den kraft som kreves for å trekke et belegg med en spesifisert testdiameter vekk fra substratet ved bruk av et hydraulisk trykk. Denne kraft er uttrykt som et trykk (kPa).
De foretrukne eksempler er blandinger C og G, idet G er den mest foretrukne.
Eksempler på ytterligere mellomlag:
Den foretrukne blanding er den ifølge eksempel IB.
Eksempler på overflatelaget:
Foretrukne blandinger er SA og SB, idet den mest foretrukne er SB.
Eksempler på digler:
Det er å merke at tykkelsen av overflatelagene SB og SD var doblet i eksempler 5 og 6.

Claims (14)

1. Digel (1) for krystallisering av silisium, karakterisert vedat den omfatter: a) et basislegeme (2) omfattende en bunnflate (21) og sidevegger (22) som definerer et innvendig volum, b) et mellomlag (3) omfattende 50-100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene (22) som vender mot det innvendige volum, og c) et overflatelag (4) omfattende 50-100 vekt% silisiumnitrid, inntil 50 vekt% silisiumdioksid og inntil 20 vekt% silisium på toppen av mellomlaget.
2. Digel ifølge krav 1, karakterisert vedat mellomlaget har en tykkelse på mellom 50 um og 500 um, fortrinnsvis mellom 200 um og 500 um.
3. Digel ifølge krav 1 eller 2, karakterisert vedat mellomlaget (3) omfatter et ikke-organisk bindemiddel, fortrinnsvis kolloidalt silika.
4. Digel ifølge krav 3, karakterisert vedat det ikke-organiske bindemiddel er til stede i en mengde av fra 5 vekt% til 20 vekt%.
5. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-4, karakterisert vedat mellomlaget (3) omfatter et organisk bindemiddel som fortrinnsvis er valgt fra gruppen bestående av polyetylenglykol, polyvinylalkohol, polykarbonat, epoksy og karboksymetylcellulose.
6. Digel ifølge krav 5, karakterisert vedat det organiske bindemiddel er til stede i en mengde av inntil 5 vekt%.
7. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-6, karakterisert vedat digelen (1) omfatter et ytterligere mellomlag (31) over det første mellomlag (3), omfattende hovedsakelig inntil 50 vekt% silisiumnitrid, idet det gjenværende utgjøres av silisiumdioksid.
8. Digel ifølge krav 7, karakterisert vedat det ytterligere mellomlag (31) har en tykkelse av inntil 200 u.m, fortrinnsvis fra 50 u.m til 100 um.
9. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-8, karakterisert vedat overflatelaget (4) har en tykkelse av mellom 50 um og 500 u.m, fortrinnsvis fra 200 um til 500 um.
10. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-9, karakterisert vedat overflatelaget (4) omfatter fra 50 vekt% til 100 vekt% Si3N4, inntil 40 vekt% Si02og inntil 10 vekt% silisium.
11. Fremgangsmåte for fremstilling av en digel (1) for krystallisering av silisium,karakterisert vedat den omfatter trinnene: a) tilveiebringelse av et basislegeme (2) omfattende en bunnflate (21) og sidevegger (22) som definerer et innvendig volum, b) påføring av et mellomlag (3) omfattende 50-100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene (22) som vender mot det innvendige volum, og c) påføring av et overflatelag (4) omfattende 50-100 vekt% silisiumnitrid, inntil 50 vekt% silisiumdioksid og inntil 20 vekt% silisium på toppen av mellomlaget.
12. Fremgangsmåte ifølge krav 11, karakterisert vedat den omfatter et ytterligere trinn b') bestående i påføring av et ytterligere mellomlag (31) omfattende inntil 50 vekt% silisiumnitrid, mens resten utgjøres av silisiumdioksid, over mellomlaget (3) forut for trinn c).
13. Fremgangsmåte ifølge krav 11 eller 12, karakterisert vedat minst ett av trinnene b), b') og c) utføres ved påsprøyt-ning.
14. Fremgangsmåte ifølge et hvilket som helst av kravene 11-13,karakterisert vedat den ytterligere omfatter et trinn hvor den belagte digel oppvarmes ved en temperatur og i et tidsrom egnet for kalsinering av hovedsakelig all organisk forbindelse som er til stede i belegget eller beleggene.
NO20065496A 2004-04-29 2006-11-28 Digel for krystallisering av silisium NO339723B1 (no)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP04447105 2004-04-29
PCT/BE2005/000055 WO2005106084A1 (en) 2004-04-29 2005-04-26 Crucible for the crystallization of silicon

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NO20065496L NO20065496L (no) 2006-11-28
NO339723B1 true NO339723B1 (no) 2017-01-23

Family

ID=34933027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NO20065496A NO339723B1 (no) 2004-04-29 2006-11-28 Digel for krystallisering av silisium

Country Status (15)

Country Link
US (1) US7378128B2 (no)
EP (1) EP1745164B1 (no)
JP (1) JP5059602B2 (no)
KR (1) KR101213928B1 (no)
CN (1) CN1946881B (no)
AT (1) ATE398196T1 (no)
DE (1) DE602005007484D1 (no)
ES (1) ES2306141T3 (no)
MX (1) MXPA06012509A (no)
NO (1) NO339723B1 (no)
PL (1) PL1745164T3 (no)
RU (1) RU2355832C2 (no)
TW (1) TWI361174B (no)
UA (1) UA87842C2 (no)
WO (1) WO2005106084A1 (no)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005028435B4 (de) * 2004-06-30 2011-05-12 Deutsche Solar Ag Kokille mit Antihaftbeschichtung ihr Herstellungsverfahren und ihre Verwendung
US7497907B2 (en) * 2004-07-23 2009-03-03 Memc Electronic Materials, Inc. Partially devitrified crucible
DE102005032789B4 (de) * 2005-06-06 2010-12-30 Deutsche Solar Ag Behälter mit Beschichtung und Herstellungsverfahren
TWI400369B (zh) 2005-10-06 2013-07-01 Vesuvius Crucible Co 用於矽結晶的坩堝及其製造方法
DE102005050593A1 (de) * 2005-10-21 2007-04-26 Esk Ceramics Gmbh & Co. Kg Dauerhafte siliciumnitridhaltige Hartbeschichtung
EP1811064A1 (fr) 2006-01-12 2007-07-25 Vesuvius Crucible Company Creuset pour le traitement de silicium à l'état fondu
JP5153636B2 (ja) * 2006-08-30 2013-02-27 京セラ株式会社 シリコンインゴット製造用鋳型の形成方法、太陽電池素子用基板の製造方法、および太陽電池素子の製造方法
EP2116637A3 (en) * 2008-05-07 2012-03-21 Covalent Materials Corporation Crucible for melting silicon and release agent used to the same
DE102008031766A1 (de) 2008-07-04 2009-10-15 Schott Ag Verfahren zur Herstellung eines beschichteten Tiegels aus einem Tiegelgrünkörper oder aus einem zwischengebrannten Tiegelkörper sowie die Verwendung solch eines beschichteten Tiegels
CN101775639B (zh) * 2009-01-08 2012-05-30 常熟华融太阳能新型材料有限公司 用于多晶硅结晶炉炉壁保护的内衬及其制造方法
DE102009048741A1 (de) * 2009-03-20 2010-09-30 Access E.V. Tiegel zum Schmelzen und Kristallisieren eines Metalls, eines Halbleiters oder einer Metalllegierung, Bauteil für einen Tiegelgrundkörper eines Tiegels und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils
WO2011009062A2 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Memc Singapore Pte, Ltd. Coated crucibles and methods for preparing and use thereof
KR101048586B1 (ko) * 2009-10-06 2011-07-12 주식회사 엘지실트론 고강도 석영 도가니 및 그 제조방법
US20110210470A1 (en) * 2010-02-26 2011-09-01 6N Silicon Inc. Crucible and method for furnace capacity utilization
CN101913776B (zh) * 2010-09-03 2012-07-04 山东理工大学 氮化硅涂层石英坩埚的制备方法
CN102031488A (zh) * 2010-12-23 2011-04-27 福建福晶科技股份有限公司 一种提高膜层损伤阈值的坩埚
CN102229502B (zh) * 2011-06-10 2013-06-05 东海晶澳太阳能科技有限公司 一种晶体硅铸造用的坩埚涂层及其制备方法
MY165455A (en) * 2011-08-31 2018-03-22 3M Innovative Properties Co Silicon-nitride-containing separating layer having high hardness
CN102367572B (zh) * 2011-09-21 2014-01-01 安阳市凤凰光伏科技有限公司 多晶硅铸锭坩埚喷涂免烧结方法
JP5148783B1 (ja) * 2011-11-14 2013-02-20 シャープ株式会社 複合材の製造方法およびシリコンの精製装置
WO2013073204A1 (ja) * 2011-11-14 2013-05-23 シャープ株式会社 複合材、複合材の製造方法およびシリコンの精製装置
CN103506263B (zh) * 2011-12-30 2015-07-29 英利能源(中国)有限公司 多晶硅坩埚喷涂免烘干的方法及氮化硅涂层
CN103183478B (zh) * 2011-12-31 2015-07-08 浙江昱辉阳光能源有限公司 氮化硅坩埚涂层及其制备方法
JP2013227171A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Kyodo Fine Ceramics Co Ltd 単結晶シリコン育成用るつぼ、単結晶シリコン育成用るつぼの製造方法、及び単結晶シリコンの製造方法
CN104583464A (zh) * 2012-06-25 2015-04-29 希利柯尔材料股份有限公司 用于纯化硅的耐火坩埚的表面的衬里以及使用该坩埚进行熔化和进一步定向凝固以纯化硅熔融体的方法
CN103774209B (zh) * 2012-10-26 2016-06-15 阿特斯(中国)投资有限公司 硅铸锭用坩埚及其涂层制备方法
JP6096653B2 (ja) * 2012-12-28 2017-03-15 京セラ株式会社 シリコン鋳造用鋳型およびその製造方法
RU2514354C1 (ru) * 2013-02-27 2014-04-27 Общество с ограниченной ответственностью "Обнинский Внедренческий Центр "Перспективные технологии" Способ получения изделий из пористых керамических и волокнистых материалов на основе кварцевого стекла
JP6355096B2 (ja) * 2013-07-31 2018-07-11 国立大学法人山口大学 撥液性複合部材
CN103420618A (zh) * 2013-09-05 2013-12-04 蠡县英利新能源有限公司 太阳能电池坩埚及其喷涂方法
FR3010715B1 (fr) * 2013-09-16 2017-03-10 Commissariat Energie Atomique Substrat a revetement peu permeable pour solidification de silicium
FR3010716B1 (fr) 2013-09-16 2015-10-09 Commissariat Energie Atomique Substrat pour la solidification de lingot de silicium
EP2982780B1 (de) 2014-08-04 2019-12-11 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren zur herstellung eines siliziumblocks, zur verfahrensdurchführung geeignete kokille aus quarzglas oder quarzgut sowie verfahren für deren herstellung
US10658222B2 (en) 2015-01-16 2020-05-19 Lam Research Corporation Moveable edge coupling ring for edge process control during semiconductor wafer processing
CN105133011A (zh) * 2015-09-01 2015-12-09 晶科能源有限公司 一种多晶石英坩埚涂层及其制备方法
JP6567987B2 (ja) * 2016-02-24 2019-08-28 クアーズテック株式会社 石英ガラスルツボの製造方法
GB2550415A (en) * 2016-05-18 2017-11-22 Rec Solar Pte Ltd Silicon ingot growth crucible with patterned protrusion structured layer
US10450669B2 (en) 2016-07-29 2019-10-22 Auo Crystal Corporation Container for silicon ingot fabrication and manufacturing method thereof, and method for manufacturing crystalline silicon ingot
CN118380372A (zh) 2017-11-21 2024-07-23 朗姆研究公司 底部边缘环和中部边缘环
US11127572B2 (en) 2018-08-07 2021-09-21 Silfex, Inc. L-shaped plasma confinement ring for plasma chambers
CN118398464A (zh) 2018-08-13 2024-07-26 朗姆研究公司 可更换和/或可折叠的用于等离子鞘调整的并入边缘环定位和定心功能的边缘环组件
CN110000708A (zh) * 2019-04-15 2019-07-12 徐州协鑫太阳能材料有限公司 一种改造坩埚粗糙度的方法
CN109955154A (zh) * 2019-04-15 2019-07-02 徐州协鑫太阳能材料有限公司 一种坩埚表面粗糙度的加工方法
DE102019206489A1 (de) * 2019-05-06 2020-11-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Tiegel zur Herstellung von partikel- und stickstoff-freien Silicium-Ingots mittels gerichteter Erstarrung, Silicium-Ingot und die Verwendung des Tiegels
KR102905595B1 (ko) 2020-03-23 2025-12-29 램 리써치 코포레이션 기판 프로세싱 시스템들에서의 중간-링 부식 보상
KR102677112B1 (ko) * 2022-05-09 2024-06-20 (주)셀릭 저저항 대구경 잉곳 제조장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4741925A (en) * 1987-09-14 1988-05-03 Gte Products Corporation Method of forming silicon nitride coating
JP2003041357A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Tocalo Co Ltd シリコン保持容器およびその製造方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE962868C (de) * 1953-04-09 1957-04-25 Standard Elektrik Ag Tiegel zum Herstellen reinsten Halbleitermaterials, insbesondere von Silizium und dessen Verwendung
US3660075A (en) 1969-10-16 1972-05-02 Atomic Energy Commission CRUCIBLE COATING FOR PREPARATION OF U AND P ALLOYS CONTAINING Zr OR Hf
DE1957952A1 (de) 1969-11-18 1971-05-27 Siemens Ag Siliciumnitridbeschichtung an Quarzwaenden fuer Diffusions- und Oxydationsreaktoren
JPS54141389A (en) * 1978-04-27 1979-11-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Crucible used in crystal growing device, manufacture of said crucible and crystal growing method using said crucible
JPS54157779A (en) * 1978-06-02 1979-12-12 Toshiba Corp Production of silicon single crystal
JPS6018638B2 (ja) * 1979-08-17 1985-05-11 東芝セラミツクス株式会社 シリコン単結晶引上装置
JPS57188498A (en) * 1981-05-15 1982-11-19 Toshiba Ceramics Co Ltd Quartz crucible for pulling up silicon single crystal
CN87206316U (zh) * 1987-04-16 1987-12-30 清华大学 氮化硅涂层坩埚
JPH0751473B2 (ja) * 1988-12-26 1995-06-05 東芝セラミックス株式会社 単結晶製造用カーボンルツボ
JPH02172886A (ja) * 1988-12-26 1990-07-04 Toshiba Ceramics Co Ltd 半導体単結晶引上げ装置
RU2036983C1 (ru) * 1991-06-03 1995-06-09 Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет" Покрытие графитового тигля
JPH0597571A (ja) * 1991-06-13 1993-04-20 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶引上げ用ルツボ
US5431869A (en) * 1993-01-12 1995-07-11 Council Of Scientific & Industrial Research Process for the preparation of polycrystalline silicon ingot
JP3533416B2 (ja) * 1996-02-06 2004-05-31 三菱住友シリコン株式会社 単結晶引上装置
JPH10316489A (ja) * 1997-05-12 1998-12-02 Japan Steel Works Ltd:The 一方向凝固装置用鋳型およびその製造方法
JPH11209133A (ja) * 1998-01-23 1999-08-03 Mitsubishi Materials Corp 透明シリカガラス体とその製造方法
JP4447738B2 (ja) * 2000-05-31 2010-04-07 信越石英株式会社 多層構造の石英ガラスルツボの製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4741925A (en) * 1987-09-14 1988-05-03 Gte Products Corporation Method of forming silicon nitride coating
JP2003041357A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Tocalo Co Ltd シリコン保持容器およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW200540130A (en) 2005-12-16
KR101213928B1 (ko) 2012-12-18
ATE398196T1 (de) 2008-07-15
TWI361174B (en) 2012-04-01
EP1745164B1 (en) 2008-06-11
WO2005106084A1 (en) 2005-11-10
KR20070004901A (ko) 2007-01-09
PL1745164T3 (pl) 2008-11-28
US20070240635A1 (en) 2007-10-18
RU2355832C2 (ru) 2009-05-20
RU2006140280A (ru) 2008-05-27
CN1946881B (zh) 2010-06-09
NO20065496L (no) 2006-11-28
US7378128B2 (en) 2008-05-27
JP2007534590A (ja) 2007-11-29
UA87842C2 (uk) 2009-08-25
EP1745164A1 (en) 2007-01-24
JP5059602B2 (ja) 2012-10-24
MXPA06012509A (es) 2007-01-31
CN1946881A (zh) 2007-04-11
ES2306141T3 (es) 2008-11-01
DE602005007484D1 (de) 2008-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO339723B1 (no) Digel for krystallisering av silisium
CA2611858C (en) Crucible for the crystallization of silicon
RU2401889C2 (ru) Тигель для кристаллизации кремния и способ его изготовления
KR101212916B1 (ko) 용융 실리콘 처리용 도가니
CN1239423C (zh) 石英玻璃坩埚及其制造方法
NO327122B1 (no) Beleggingssystem
US20150354897A1 (en) Crucible liner
JP4693932B1 (ja) 筒状シリコン結晶体製造方法及びその製造方法で製造される筒状シリコン結晶体
JPS6127143B2 (no)
JP2005238275A (ja) 多結晶シリコン塊鋳造用鋳型

Legal Events

Date Code Title Description
CHAD Change of the owner's name or address (par. 44 patent law, par. patentforskriften)

Owner name: VESUVIUS USA CORPORATION, US

MM1K Lapsed by not paying the annual fees