NO339723B1 - Digel for krystallisering av silisium - Google Patents
Digel for krystallisering av silisium Download PDFInfo
- Publication number
- NO339723B1 NO339723B1 NO20065496A NO20065496A NO339723B1 NO 339723 B1 NO339723 B1 NO 339723B1 NO 20065496 A NO20065496 A NO 20065496A NO 20065496 A NO20065496 A NO 20065496A NO 339723 B1 NO339723 B1 NO 339723B1
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- silicon
- weight
- intermediate layer
- crucible
- layer
- Prior art date
Links
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 39
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims description 39
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 title claims description 9
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 title claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title description 33
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 65
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 42
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 32
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 28
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 26
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 18
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 12
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 5
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229920002134 Carboxymethyl cellulose Polymers 0.000 claims description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 2
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 claims description 2
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 claims description 2
- 238000001354 calcination Methods 0.000 claims description 2
- 239000001768 carboxy methyl cellulose Substances 0.000 claims description 2
- 235000010948 carboxy methyl cellulose Nutrition 0.000 claims description 2
- 239000008112 carboxymethyl-cellulose Substances 0.000 claims description 2
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 claims description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 claims description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 claims description 2
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 claims description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- UNASZPQZIFZUSI-UHFFFAOYSA-N methylidyneniobium Chemical compound [Nb]#C UNASZPQZIFZUSI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012768 molten material Substances 0.000 description 2
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 2
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L Calcium chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ca+2] UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910003564 SiAlON Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001110 calcium chloride Substances 0.000 description 1
- 229910001628 calcium chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000001033 granulometry Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010128 melt processing Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 description 1
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- -1 silicon aluminate Chemical class 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 238000000935 solvent evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/10—Crucibles or containers for supporting the melt
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1024—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
- Y10T117/1032—Seed pulling
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Crucibles And Fluidized-Bed Furnaces (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
- Glass Melting And Manufacturing (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Mold Materials And Core Materials (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
Description
Oppfinnelsen angår en digel for krystallisering av silisium samt fremstilling og anvendelse av frigjøringsbelegg for digler benyttet ved håndtering av smeltede materialer som skal bringes til å størkne i digelen og deretter fjernes som støpeblokker, og mer spesielt frigjøringsbelegg for digler benyttet ved størkning av polykrystallinsk silisium.
Digler av silika (enten av smelte-silika eller av kvarts) blir ofte benyttet for størkning av polykrystallinsk silisium. Silika velges primært fordi det har høy renhet og er lett tilgjengelig. Det er imidlertid forbundet med problemer å benytte silika som materiale i en digel for fremstilling av silisium etter denne fremgangsmåte.
Silisium vil i smeltet tilstand reagere med silikadigelen som det er i kontakt med. Smeltet silisium reagerer med silika under dannelse av silisiummonoksid og oksygen. Oksygen vil forurense silisiumet. Silisiummonoksid er flyktig og vil reagere med grafittbestanddelene inne i ovnen. Silisiummonoksid reagerer med grafitt under dannelse av silisiumkarbid og karbonmonoksid. Karbomonoksidet vil så reagere med det smeltede silisium, hvorved det dannes ytterligere mengder flyktig silisiummonoksid og karbon. Karbon vil forurense silisiumet. Silisium kan også reagere med de forskjellige forurensninger som inneholdes i silikadigelen (jern, bor, aluminium, ...).
Reaksjonen mellom silika og silisium fremmer adhesjon av silisiumet til digelen. Denne adhesjon, kombinert med en forskjell mellom varmeutvidelseskoef-fisientene for de to materialer, skaper spenninger i silisiumstøpeblokken, hvilket får den til å sprekke når den kjøles. Det er kjent i faget at et frigjøringsbelegg påført innsiden av digelen i området hvor det er kontakt med støpeblokken, kan forhindre reaksjonen mellom silisium og silika som fører til forurensning av støpeblokken og sprekkdannelse. For å være effektivt må frigjøringsbelegget være tilstrekkelig tykt til å hindre silisiumet i å reagere med silikadigelen, og det må ikke i skadelig grad forurense silisiumet, i seg selv eller som følge av innholdte forurensninger.
En rekke materialer og teknikker er beskrevet i litteraturen, ved hjelp av hvilke det er blitt gjort forsøk på å løse problemene med reaksjon og adhesjon som oppstår når digelen kommer i kontakt med smeltet materiale. Eksempelvis beskrives i US patentskrift nr. 5 431 869 et flerkomponent-frigjøringsmiddel bestående av silisiumnitrid og kalsiumklorid for bearbeidelse av silisium under anvendelse av en grafittdigel.
I dokumentet JP 2003041357 beskrives en digel med et belegg på den indre overflaten, som er termisk sprøytet direkte digelen og som består av metallisk silisium, sihsiumnitrid, og silisiumoksid.
I US patentskrift nr. 4 741 925 beskrives et silisiumnitridbelegg for digler påført ved kjemisk dampavsetning ved 1250 °C, mens det i WO-A1-2004/053207 beskrives et silisiumnitridbelegg påført ved plasmapåsprøytning. I US patentskrift nr. 3 746 569 omtales pyrolysedannelse i et silisiumnitridbelegg på veggene av et kvarts-rør. I US patentskrift nr. 4218418 beskrives en teknikk for dannelse av et glasslag på innsiden av en silikadigel ved hurtig oppvarming for å hindre sprekkdannelse i silisiumet under smeltebearbeidelse. I US patentskrift nr. 3 660 075 beskrives et belegg av niobkarbid eller yttriumoksid på en grafittdigel for smelting av spaltbare materialer. Niobkarbidet påføres ved kjemisk dampavsetning, mens yttriumoksidet påføres som en kolloidal suspensjon i en vandig uorganisk oppløsning.
Publikasjoner innenfor den kjent teknikk inkluderer spesifikke henvisninger til pulverformige støpeformfrigjøringsmidler for påføring på digler ved retningsbestemt størkning av silisium. I tillegg er anvendelse av kjemisk dampavsetning, oppløsnings-middelfordampning, flammebehandling ved høy temperatur og andre kostbare og komplekse metoder nevnt for påføring av digelbelegg. Det er gjort henvisninger til spesifikke bindemidler og oppløsningsmidler. Henvisninger er også gjort til blanding, påsprøyting eller påpensling for oppslemninger av pulverformige belegningsmaterialer.
Silisiunmitrid-fiigjøringsbelegget kan i seg selv føre til problemer. Tykkelsen av silisiumnitridbelegget som er nødvendig for å hindre silisiumet i å reagere med silikadigelen, er ganske vesentlig (ca. 300 um), hvilket derfor gjør belegningsopera-sjonen kostbar og tidkrevende. Videre er dette silisiumnitridbelegg mekanisk svakt og kan flasse av under eller sågar før bruk. Det anbefales derfor å påføre dette belegg på det senest mulige tidspunkt før bruk, det vil si i sluttbrukerens omgivelser, hvorved byrden med å påføre dette tykke belegg overlates til sluttbrukeren.
Det ville derfor være ønskelig å tilveiebringe en silikadigel som ikke er be-heftet med de ovenfor omtalte ulemper (dvs. som ikke krever fremstilling av et meget tykt belegg i sluttbrukerens anlegg, som lar seg fremstille hurtigere og billigere, og som viser seg å gi et sterkere belegg med en forbedret vedhefting til veggene).
I henhold til den foreliggende oppfinnelse er det tilveiebragt en digel for krystallisering av silisium som angitt i krav 1, og en fremgangsmåte for fremstilling av en digel for krystallisering av silisium som angitt i krav 11.
Det har vist seg at de ovennevnte problemer kan løses med en digel for krystallisering av silisium, omfattende (a) et basislegeme omfattende en bunnflate og sidevegger som definerer et innvendig volum, (b) et mellomlag omfattende 50-100 vekr% silika ved overflaten av sideveggene som vender mot det innvendige volum, og (c) et overflatelag omfattende 50-100 vekt% sihsiumnitrid, inntil 50 vekt% sihsiumdioksid og inntil 20 vekt% silisium på toppen av mellomlaget.
Mellomlaget omfattende 50-100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene er faktisk ekstremt motstandsdyktig og lett å fremstille. Da det ikke gjør seg gjeldende noe problem med avflassing med dette mellomlag, kan det fremstilles før digelen når sluttbrukeren, slik at sluttbrukeren bare trenger å påføre et tynt overflatelag som lar seg påføre hurtigere og billigere. Videre har det overraskende vist seg at dette mellomlag i meget stor grad øker vedheftingen av overflatelaget.
I henhold til en fordelaktig utførelse av oppfinnelsen blir styrken av mellomlaget med vilje begrenset, slik at vedheftingen av mellomlaget til overflatelaget og/eller til basislegemet blir mindre enn vedheftingen av overflatelaget til en silisiumstøpe-blokk. Dersom silisiumstøpeblokken av noen grunn skulle hefte til overflatelaget under krystalliseringen av silisiumstøpeblokken, vil mellomlaget følgelig delamineres under vnkningen av de påkjenninger som genereres som følge av kjølingen av støpeblokken. Dermed blir bare belegget i digelen ødelagt, men silisiumstøpeblokken tas ut i perfekt form. En måte å begrense styrken av mellomlaget på, er å påvirke porøsiteten av dette lag. Porøsiteten kan bestemmes ved granulometrien av de partikler som inngår i laget (et flertall av store partikler vil resultere i en høy porøsitet). En annen mulighet ligger i å inkludere i sammensetningen et materiale som vil bibringe eller generere den porøsi-tet som kreves. Eksempelvis vil bruk av aluminiumoksidmikrobobler (FILLITE) av sihsiumaluminatfibere gi den krevde porøsitet. Karbonholdige materialer som for eksempel harpikser eller karbon som vil pyrolysere uten residuum men med dannelse av fine karbondioksidbobler under oppvarmingen, vil også frembringe den porøsitet som kreves.
En annen fordel med dette belegg er at det kan påføres på mange forskjellige digelmaterialer, slik at sluttbrukeren som mottar en digel med et silikaholdig mellomlag, ikke trenger å utvikle spesielle og ulike prosedyrer for belegging av forskjellige materialer. Mellomlaget kan påføres på kvarts, smeltet silika, silisiumnitrid, SiAlON, sihsiumkarbid, aluminiumoksid eller sågar digler av grafitt.
Mellomlaget har med fordel en tykkelse på 50-300 um, slik at det tilveie-bringer det meste av den tykkelse som er nødvendig for å hindre reaksjon mellom silisiumet og digelen og forurensning av silisiumet fira forurensninger i mellomlaget. Foruten silika kan mellomlaget omfatte ethvert materiale som etter oppvarming vil være stabilt og ikke vil reagere med silisium. Særlig egnede er aluminiumoksid eller sihsiumaluminarmaterialer. Karbonholdige materialer som vil pyrolysere under oppvarming kan også benyttes for visse anvendelser.
Mellomlaget kan omfatte et ikke-organisk bindemiddel (som for eksempel kolloidalt silika) og/eller organisk bindemiddel (for eksempel en organisk harpiks som for eksempel polyetylenglykol, polyvinylalkohol, polykarbonat, epoksy, karboksymetylcellulose). Mengden av det organiske og ikke-organiske bindemiddel som er innlemmet i sammensetningen, avhenger av kravene til anvendelsen (styrken av det uoppvarmede belegg, osv.). I typiske tilfeller omfatter belegget 5-20 vekt% ikke-organisk bindemiddel og inntil 5 vekt% organisk bindemiddel. Vanligvis påføres mellomlaget i vann eller i et oppløsningsmiddel ved påsprøyting eller påpensling. Fortrinnsvis benyttes påsprøvting i et vannbasert system omfattende en passende mengde vann for oppslemning av hele blandingen.
I henhold til en spesiell utførelse av oppfinnelsen omfatter digelen et ytterligere lag (et andre mellomlag) over mellomlaget. Dette ytterligere lag omfatter inntil 50 vekt% silisiumnitrid, mens resten utgjøres hovedsakelig av silisiumdioksid. Dette ytterligere lag forbedrer forlikeligheten mellom overflatelaget og det første mellomlag og forbedrer i sterk grad dets vedhefting. Når det er til stede, vil dette ytterligere lag ha en tykkelse av inntil 200 um, fortrinnsvis en tykkelse av fra 50 til 100 um.
Avhengig av anvendelsen vil overflatelaget ha en tykkelse på fra 50 um til 500 um, fortrinnsvis fra 200 um til 500 um. For å unngå enhver forurensning, er det vesentlig at overflatelaget har en meget høy renhet, med et ultralavt karboninnhold. I typiske tilfeller vil overflatelaget omfatte 50-100 vekt% Si3N4, inntil 50 vekt% Si02og inntil 20 vekt% silisium. Vanligvis vil overflatelaget bli påført ved påsprøyting eller påpensling, fortrinnsvis ved påsprøytning. I en foretrukket utførelse av fremgangs-måten ifølge oppfinnelsen etterfølges påførmgstrinnet av et oppvarmnmgstrinn ved en temperatur og med en varighet som er egnet for kalsinering av i det vesentlige all organisk forbindelse som er til stede i beleggene. Det er å merke at når ett mellomlag ifølge oppfinnelsen benyttes, kan lagets tykkelse reduseres i vesentlig grad uten at lagets egenskaper (vecmefrningsegenskaper) forringes.
Oppfinnelsen skal nå beskrives med henvisning til de vedføyede tegninger, som kun tjener til å illustrere oppfinnelsen og ikke skal anses å begrense dennes rekkevidde. Både figur 1 og figur 2 viser tverrsnitt av digler ifølge oppfinnelsen.
På disse figurer er digelen angitt ved henvisningstall 1. Den omfatter et basislegeme 2 omfattende en bunnflate 21 og sidevegger 22 som avgrenser et innvendig volum for krystallisering av silisium. Digelen omfatter et mellomlag 3 som utgjøres av inntil 100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene 22 som vender mot det innvendige volum.
På figur 2 omfatter digelen ytterligere et mellomlag 31 som omfatter inntil 50 vekr% Si3N4, mens det gjenværende hovedsakelig utgjøres av Si02. Et slikt ytterligere mellombelegg er ikke vist på figur 1. På begge figurer omfatter digelen 1 videre et overflatelag 4 omfattende Si3N4.
Oppfinnelsen skal nå illustreres ved hjelp av eksempler ifølge oppfinnelsen og sammenligningseksempler. I de følgende tabeller er vedheftingen av de forskjellige belegg bestemt i henhold til ASTM D4541 ved bruk av en "Positest pull-off adhesion tester" (fra firmaet Defelsko Corp.). Dette testapparat evaluerer vedheftingen av belegget ved bestemmelse av den største avfrekningskraft det kan tåle før belegget løsner, dvs. den kraft som kreves for å trekke et belegg med en spesifisert testdiameter vekk fra substratet ved bruk av et hydraulisk trykk. Denne kraft er uttrykt som et trykk (kPa).
De foretrukne eksempler er blandinger C og G, idet G er den mest foretrukne.
Eksempler på ytterligere mellomlag:
Den foretrukne blanding er den ifølge eksempel IB.
Eksempler på overflatelaget:
Foretrukne blandinger er SA og SB, idet den mest foretrukne er SB.
Eksempler på digler:
Det er å merke at tykkelsen av overflatelagene SB og SD var doblet i eksempler 5 og 6.
Claims (14)
1. Digel (1) for krystallisering av silisium,
karakterisert vedat den omfatter: a) et basislegeme (2) omfattende en bunnflate (21) og sidevegger (22) som definerer et innvendig volum, b) et mellomlag (3) omfattende 50-100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene (22) som vender mot det innvendige volum, og c) et overflatelag (4) omfattende 50-100 vekt% silisiumnitrid, inntil 50 vekt% silisiumdioksid og inntil 20 vekt% silisium på toppen av mellomlaget.
2. Digel ifølge krav 1,
karakterisert vedat mellomlaget har en tykkelse på mellom 50 um og 500 um, fortrinnsvis mellom 200 um og 500 um.
3. Digel ifølge krav 1 eller 2,
karakterisert vedat mellomlaget (3) omfatter et ikke-organisk bindemiddel, fortrinnsvis kolloidalt silika.
4. Digel ifølge krav 3,
karakterisert vedat det ikke-organiske bindemiddel er til stede i en mengde av fra 5 vekt% til 20 vekt%.
5. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-4,
karakterisert vedat mellomlaget (3) omfatter et organisk bindemiddel som fortrinnsvis er valgt fra gruppen bestående av polyetylenglykol, polyvinylalkohol, polykarbonat, epoksy og karboksymetylcellulose.
6. Digel ifølge krav 5,
karakterisert vedat det organiske bindemiddel er til stede i en mengde av inntil 5 vekt%.
7. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-6,
karakterisert vedat digelen (1) omfatter et ytterligere mellomlag (31) over det første mellomlag (3), omfattende hovedsakelig inntil 50 vekt% silisiumnitrid, idet det gjenværende utgjøres av silisiumdioksid.
8. Digel ifølge krav 7,
karakterisert vedat det ytterligere mellomlag (31) har en tykkelse av inntil 200 u.m, fortrinnsvis fra 50 u.m til 100 um.
9. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-8,
karakterisert vedat overflatelaget (4) har en tykkelse av mellom 50 um og 500 u.m, fortrinnsvis fra 200 um til 500 um.
10. Digel ifølge et hvilket som helst av kravene 1-9,
karakterisert vedat overflatelaget (4) omfatter fra 50 vekt% til 100 vekt% Si3N4, inntil 40 vekt% Si02og inntil 10 vekt% silisium.
11. Fremgangsmåte for fremstilling av en digel (1) for krystallisering av silisium,karakterisert vedat den omfatter trinnene: a) tilveiebringelse av et basislegeme (2) omfattende en bunnflate (21) og sidevegger (22) som definerer et innvendig volum, b) påføring av et mellomlag (3) omfattende 50-100 vekt% silika ved overflaten av sideveggene (22) som vender mot det innvendige volum, og c) påføring av et overflatelag (4) omfattende 50-100 vekt% silisiumnitrid, inntil 50 vekt% silisiumdioksid og inntil 20 vekt% silisium på toppen av mellomlaget.
12. Fremgangsmåte ifølge krav 11,
karakterisert vedat den omfatter et ytterligere trinn b') bestående i påføring av et ytterligere mellomlag (31) omfattende inntil 50 vekt% silisiumnitrid, mens resten utgjøres av silisiumdioksid, over mellomlaget (3) forut for trinn c).
13. Fremgangsmåte ifølge krav 11 eller 12,
karakterisert vedat minst ett av trinnene b), b') og c) utføres ved påsprøyt-ning.
14. Fremgangsmåte ifølge et hvilket som helst av kravene 11-13,karakterisert vedat den ytterligere omfatter et trinn hvor den belagte digel oppvarmes ved en temperatur og i et tidsrom egnet for kalsinering av hovedsakelig all organisk forbindelse som er til stede i belegget eller beleggene.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP04447105 | 2004-04-29 | ||
| PCT/BE2005/000055 WO2005106084A1 (en) | 2004-04-29 | 2005-04-26 | Crucible for the crystallization of silicon |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NO20065496L NO20065496L (no) | 2006-11-28 |
| NO339723B1 true NO339723B1 (no) | 2017-01-23 |
Family
ID=34933027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NO20065496A NO339723B1 (no) | 2004-04-29 | 2006-11-28 | Digel for krystallisering av silisium |
Country Status (15)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7378128B2 (no) |
| EP (1) | EP1745164B1 (no) |
| JP (1) | JP5059602B2 (no) |
| KR (1) | KR101213928B1 (no) |
| CN (1) | CN1946881B (no) |
| AT (1) | ATE398196T1 (no) |
| DE (1) | DE602005007484D1 (no) |
| ES (1) | ES2306141T3 (no) |
| MX (1) | MXPA06012509A (no) |
| NO (1) | NO339723B1 (no) |
| PL (1) | PL1745164T3 (no) |
| RU (1) | RU2355832C2 (no) |
| TW (1) | TWI361174B (no) |
| UA (1) | UA87842C2 (no) |
| WO (1) | WO2005106084A1 (no) |
Families Citing this family (46)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005028435B4 (de) * | 2004-06-30 | 2011-05-12 | Deutsche Solar Ag | Kokille mit Antihaftbeschichtung ihr Herstellungsverfahren und ihre Verwendung |
| US7497907B2 (en) * | 2004-07-23 | 2009-03-03 | Memc Electronic Materials, Inc. | Partially devitrified crucible |
| DE102005032789B4 (de) * | 2005-06-06 | 2010-12-30 | Deutsche Solar Ag | Behälter mit Beschichtung und Herstellungsverfahren |
| TWI400369B (zh) | 2005-10-06 | 2013-07-01 | Vesuvius Crucible Co | 用於矽結晶的坩堝及其製造方法 |
| DE102005050593A1 (de) * | 2005-10-21 | 2007-04-26 | Esk Ceramics Gmbh & Co. Kg | Dauerhafte siliciumnitridhaltige Hartbeschichtung |
| EP1811064A1 (fr) | 2006-01-12 | 2007-07-25 | Vesuvius Crucible Company | Creuset pour le traitement de silicium à l'état fondu |
| JP5153636B2 (ja) * | 2006-08-30 | 2013-02-27 | 京セラ株式会社 | シリコンインゴット製造用鋳型の形成方法、太陽電池素子用基板の製造方法、および太陽電池素子の製造方法 |
| EP2116637A3 (en) * | 2008-05-07 | 2012-03-21 | Covalent Materials Corporation | Crucible for melting silicon and release agent used to the same |
| DE102008031766A1 (de) | 2008-07-04 | 2009-10-15 | Schott Ag | Verfahren zur Herstellung eines beschichteten Tiegels aus einem Tiegelgrünkörper oder aus einem zwischengebrannten Tiegelkörper sowie die Verwendung solch eines beschichteten Tiegels |
| CN101775639B (zh) * | 2009-01-08 | 2012-05-30 | 常熟华融太阳能新型材料有限公司 | 用于多晶硅结晶炉炉壁保护的内衬及其制造方法 |
| DE102009048741A1 (de) * | 2009-03-20 | 2010-09-30 | Access E.V. | Tiegel zum Schmelzen und Kristallisieren eines Metalls, eines Halbleiters oder einer Metalllegierung, Bauteil für einen Tiegelgrundkörper eines Tiegels und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils |
| WO2011009062A2 (en) * | 2009-07-16 | 2011-01-20 | Memc Singapore Pte, Ltd. | Coated crucibles and methods for preparing and use thereof |
| KR101048586B1 (ko) * | 2009-10-06 | 2011-07-12 | 주식회사 엘지실트론 | 고강도 석영 도가니 및 그 제조방법 |
| US20110210470A1 (en) * | 2010-02-26 | 2011-09-01 | 6N Silicon Inc. | Crucible and method for furnace capacity utilization |
| CN101913776B (zh) * | 2010-09-03 | 2012-07-04 | 山东理工大学 | 氮化硅涂层石英坩埚的制备方法 |
| CN102031488A (zh) * | 2010-12-23 | 2011-04-27 | 福建福晶科技股份有限公司 | 一种提高膜层损伤阈值的坩埚 |
| CN102229502B (zh) * | 2011-06-10 | 2013-06-05 | 东海晶澳太阳能科技有限公司 | 一种晶体硅铸造用的坩埚涂层及其制备方法 |
| MY165455A (en) * | 2011-08-31 | 2018-03-22 | 3M Innovative Properties Co | Silicon-nitride-containing separating layer having high hardness |
| CN102367572B (zh) * | 2011-09-21 | 2014-01-01 | 安阳市凤凰光伏科技有限公司 | 多晶硅铸锭坩埚喷涂免烧结方法 |
| JP5148783B1 (ja) * | 2011-11-14 | 2013-02-20 | シャープ株式会社 | 複合材の製造方法およびシリコンの精製装置 |
| WO2013073204A1 (ja) * | 2011-11-14 | 2013-05-23 | シャープ株式会社 | 複合材、複合材の製造方法およびシリコンの精製装置 |
| CN103506263B (zh) * | 2011-12-30 | 2015-07-29 | 英利能源(中国)有限公司 | 多晶硅坩埚喷涂免烘干的方法及氮化硅涂层 |
| CN103183478B (zh) * | 2011-12-31 | 2015-07-08 | 浙江昱辉阳光能源有限公司 | 氮化硅坩埚涂层及其制备方法 |
| JP2013227171A (ja) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Kyodo Fine Ceramics Co Ltd | 単結晶シリコン育成用るつぼ、単結晶シリコン育成用るつぼの製造方法、及び単結晶シリコンの製造方法 |
| CN104583464A (zh) * | 2012-06-25 | 2015-04-29 | 希利柯尔材料股份有限公司 | 用于纯化硅的耐火坩埚的表面的衬里以及使用该坩埚进行熔化和进一步定向凝固以纯化硅熔融体的方法 |
| CN103774209B (zh) * | 2012-10-26 | 2016-06-15 | 阿特斯(中国)投资有限公司 | 硅铸锭用坩埚及其涂层制备方法 |
| JP6096653B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2017-03-15 | 京セラ株式会社 | シリコン鋳造用鋳型およびその製造方法 |
| RU2514354C1 (ru) * | 2013-02-27 | 2014-04-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Обнинский Внедренческий Центр "Перспективные технологии" | Способ получения изделий из пористых керамических и волокнистых материалов на основе кварцевого стекла |
| JP6355096B2 (ja) * | 2013-07-31 | 2018-07-11 | 国立大学法人山口大学 | 撥液性複合部材 |
| CN103420618A (zh) * | 2013-09-05 | 2013-12-04 | 蠡县英利新能源有限公司 | 太阳能电池坩埚及其喷涂方法 |
| FR3010715B1 (fr) * | 2013-09-16 | 2017-03-10 | Commissariat Energie Atomique | Substrat a revetement peu permeable pour solidification de silicium |
| FR3010716B1 (fr) | 2013-09-16 | 2015-10-09 | Commissariat Energie Atomique | Substrat pour la solidification de lingot de silicium |
| EP2982780B1 (de) | 2014-08-04 | 2019-12-11 | Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG | Verfahren zur herstellung eines siliziumblocks, zur verfahrensdurchführung geeignete kokille aus quarzglas oder quarzgut sowie verfahren für deren herstellung |
| US10658222B2 (en) | 2015-01-16 | 2020-05-19 | Lam Research Corporation | Moveable edge coupling ring for edge process control during semiconductor wafer processing |
| CN105133011A (zh) * | 2015-09-01 | 2015-12-09 | 晶科能源有限公司 | 一种多晶石英坩埚涂层及其制备方法 |
| JP6567987B2 (ja) * | 2016-02-24 | 2019-08-28 | クアーズテック株式会社 | 石英ガラスルツボの製造方法 |
| GB2550415A (en) * | 2016-05-18 | 2017-11-22 | Rec Solar Pte Ltd | Silicon ingot growth crucible with patterned protrusion structured layer |
| US10450669B2 (en) | 2016-07-29 | 2019-10-22 | Auo Crystal Corporation | Container for silicon ingot fabrication and manufacturing method thereof, and method for manufacturing crystalline silicon ingot |
| CN118380372A (zh) | 2017-11-21 | 2024-07-23 | 朗姆研究公司 | 底部边缘环和中部边缘环 |
| US11127572B2 (en) | 2018-08-07 | 2021-09-21 | Silfex, Inc. | L-shaped plasma confinement ring for plasma chambers |
| CN118398464A (zh) | 2018-08-13 | 2024-07-26 | 朗姆研究公司 | 可更换和/或可折叠的用于等离子鞘调整的并入边缘环定位和定心功能的边缘环组件 |
| CN110000708A (zh) * | 2019-04-15 | 2019-07-12 | 徐州协鑫太阳能材料有限公司 | 一种改造坩埚粗糙度的方法 |
| CN109955154A (zh) * | 2019-04-15 | 2019-07-02 | 徐州协鑫太阳能材料有限公司 | 一种坩埚表面粗糙度的加工方法 |
| DE102019206489A1 (de) * | 2019-05-06 | 2020-11-12 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Tiegel zur Herstellung von partikel- und stickstoff-freien Silicium-Ingots mittels gerichteter Erstarrung, Silicium-Ingot und die Verwendung des Tiegels |
| KR102905595B1 (ko) | 2020-03-23 | 2025-12-29 | 램 리써치 코포레이션 | 기판 프로세싱 시스템들에서의 중간-링 부식 보상 |
| KR102677112B1 (ko) * | 2022-05-09 | 2024-06-20 | (주)셀릭 | 저저항 대구경 잉곳 제조장치 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4741925A (en) * | 1987-09-14 | 1988-05-03 | Gte Products Corporation | Method of forming silicon nitride coating |
| JP2003041357A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Tocalo Co Ltd | シリコン保持容器およびその製造方法 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE962868C (de) * | 1953-04-09 | 1957-04-25 | Standard Elektrik Ag | Tiegel zum Herstellen reinsten Halbleitermaterials, insbesondere von Silizium und dessen Verwendung |
| US3660075A (en) | 1969-10-16 | 1972-05-02 | Atomic Energy Commission | CRUCIBLE COATING FOR PREPARATION OF U AND P ALLOYS CONTAINING Zr OR Hf |
| DE1957952A1 (de) | 1969-11-18 | 1971-05-27 | Siemens Ag | Siliciumnitridbeschichtung an Quarzwaenden fuer Diffusions- und Oxydationsreaktoren |
| JPS54141389A (en) * | 1978-04-27 | 1979-11-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Crucible used in crystal growing device, manufacture of said crucible and crystal growing method using said crucible |
| JPS54157779A (en) * | 1978-06-02 | 1979-12-12 | Toshiba Corp | Production of silicon single crystal |
| JPS6018638B2 (ja) * | 1979-08-17 | 1985-05-11 | 東芝セラミツクス株式会社 | シリコン単結晶引上装置 |
| JPS57188498A (en) * | 1981-05-15 | 1982-11-19 | Toshiba Ceramics Co Ltd | Quartz crucible for pulling up silicon single crystal |
| CN87206316U (zh) * | 1987-04-16 | 1987-12-30 | 清华大学 | 氮化硅涂层坩埚 |
| JPH0751473B2 (ja) * | 1988-12-26 | 1995-06-05 | 東芝セラミックス株式会社 | 単結晶製造用カーボンルツボ |
| JPH02172886A (ja) * | 1988-12-26 | 1990-07-04 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体単結晶引上げ装置 |
| RU2036983C1 (ru) * | 1991-06-03 | 1995-06-09 | Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет" | Покрытие графитового тигля |
| JPH0597571A (ja) * | 1991-06-13 | 1993-04-20 | Toshiba Ceramics Co Ltd | シリコン単結晶引上げ用ルツボ |
| US5431869A (en) * | 1993-01-12 | 1995-07-11 | Council Of Scientific & Industrial Research | Process for the preparation of polycrystalline silicon ingot |
| JP3533416B2 (ja) * | 1996-02-06 | 2004-05-31 | 三菱住友シリコン株式会社 | 単結晶引上装置 |
| JPH10316489A (ja) * | 1997-05-12 | 1998-12-02 | Japan Steel Works Ltd:The | 一方向凝固装置用鋳型およびその製造方法 |
| JPH11209133A (ja) * | 1998-01-23 | 1999-08-03 | Mitsubishi Materials Corp | 透明シリカガラス体とその製造方法 |
| JP4447738B2 (ja) * | 2000-05-31 | 2010-04-07 | 信越石英株式会社 | 多層構造の石英ガラスルツボの製造方法 |
-
2005
- 2005-04-26 AT AT05740520T patent/ATE398196T1/de active
- 2005-04-26 CN CN2005800134467A patent/CN1946881B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-26 TW TW094113170A patent/TWI361174B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-04-26 ES ES05740520T patent/ES2306141T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2005-04-26 UA UAA200612586A patent/UA87842C2/uk unknown
- 2005-04-26 DE DE602005007484T patent/DE602005007484D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2005-04-26 RU RU2006140280/15A patent/RU2355832C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2005-04-26 JP JP2007509835A patent/JP5059602B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-26 MX MXPA06012509A patent/MXPA06012509A/es active IP Right Grant
- 2005-04-26 WO PCT/BE2005/000055 patent/WO2005106084A1/en not_active Ceased
- 2005-04-26 EP EP05740520A patent/EP1745164B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2005-04-26 US US11/587,081 patent/US7378128B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-26 PL PL05740520T patent/PL1745164T3/pl unknown
-
2006
- 2006-10-26 KR KR1020067022285A patent/KR101213928B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-28 NO NO20065496A patent/NO339723B1/no not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4741925A (en) * | 1987-09-14 | 1988-05-03 | Gte Products Corporation | Method of forming silicon nitride coating |
| JP2003041357A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Tocalo Co Ltd | シリコン保持容器およびその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200540130A (en) | 2005-12-16 |
| KR101213928B1 (ko) | 2012-12-18 |
| ATE398196T1 (de) | 2008-07-15 |
| TWI361174B (en) | 2012-04-01 |
| EP1745164B1 (en) | 2008-06-11 |
| WO2005106084A1 (en) | 2005-11-10 |
| KR20070004901A (ko) | 2007-01-09 |
| PL1745164T3 (pl) | 2008-11-28 |
| US20070240635A1 (en) | 2007-10-18 |
| RU2355832C2 (ru) | 2009-05-20 |
| RU2006140280A (ru) | 2008-05-27 |
| CN1946881B (zh) | 2010-06-09 |
| NO20065496L (no) | 2006-11-28 |
| US7378128B2 (en) | 2008-05-27 |
| JP2007534590A (ja) | 2007-11-29 |
| UA87842C2 (uk) | 2009-08-25 |
| EP1745164A1 (en) | 2007-01-24 |
| JP5059602B2 (ja) | 2012-10-24 |
| MXPA06012509A (es) | 2007-01-31 |
| CN1946881A (zh) | 2007-04-11 |
| ES2306141T3 (es) | 2008-11-01 |
| DE602005007484D1 (de) | 2008-07-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| NO339723B1 (no) | Digel for krystallisering av silisium | |
| CA2611858C (en) | Crucible for the crystallization of silicon | |
| RU2401889C2 (ru) | Тигель для кристаллизации кремния и способ его изготовления | |
| KR101212916B1 (ko) | 용융 실리콘 처리용 도가니 | |
| CN1239423C (zh) | 石英玻璃坩埚及其制造方法 | |
| NO327122B1 (no) | Beleggingssystem | |
| US20150354897A1 (en) | Crucible liner | |
| JP4693932B1 (ja) | 筒状シリコン結晶体製造方法及びその製造方法で製造される筒状シリコン結晶体 | |
| JPS6127143B2 (no) | ||
| JP2005238275A (ja) | 多結晶シリコン塊鋳造用鋳型 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| CHAD | Change of the owner's name or address (par. 44 patent law, par. patentforskriften) |
Owner name: VESUVIUS USA CORPORATION, US |
|
| MM1K | Lapsed by not paying the annual fees |