Przedmiotem wynalazku jest kineskop masko¬ wy. • W kineskopach kolorowych zawierajacych maski szczelinowe wiazki eilekitromowe przechodza przez szczeliny maski i padaja na ekran o strukturze mozaikowej. Polozenie szczelin maski jest takie, ze kazda wiazka uderza w ©kran i pobudza ele¬ menty luniinujace jednej barwy. Zwykle matska jest zamiocowana w sztywnej rannie, która jest zawieszona wewnatrz baniki kineskopu.W czasie pracy kineskopu maskowego elekrtiro- ny uderzajace w maske powoduja jej ogrzewa¬ nie. Poniewaz brzegi maisikd sa przytwierdzone do ramy odprowadzajacej cieplo, miedizy srodikiiem a brzegami maski powstaje róznica temperatur.Z powodu róznicy temperatur srodek maski, brze¬ gi maski i rama rozszerzaja sie' zdroznymi szyb¬ kosciami. Róznica w szybkosci rozszerzania po¬ woduje wygiecie okreslonych powierzchni maski w kierunku ekranu. Wygiecie to. ma nieznaczny wplyw na polozenie plamki wybierajacej .wzgiled- dem odpowiedniego elementu luimiinoforow^o w srodku ekranu, poniewaz kierunek projekcji wiaz¬ ki do elementów luiminoforowyich pozostaje nie¬ zmieniony przy zmianach qdHeg.osci maski od e- kraniu. Nie nastepuje wygiecie brzegów maski, gdyz sa one przymocowani na stale do raimy ze¬ wnetrznej. Dlatego maksymalny blad polozenia plamki wybierajacej spowodowany przeiz wygiecie 10 15 20 25 30 pojawia sie w przyblizeniu w polowie ..odleglosci miedzy srodkiem maski a jej brzegiem, Blad po¬ lozenia plamki jiest definiowany jako wielkosc o jaka wiazka elektronowa jest przesunieta wzgle¬ dem danego elementu Iluminujacego. Ze wizgledu na wygiecie maski wiazki elektronowe przecho¬ dzace przez nia przesuwaja sie wzgledem danego elementu kiimunofoirowego ekranu.Opisywany efekt wygiecia pojawia sie po 3 do 5 minutach pracy laimpy i dofmamujjie w dzialaniu lampy kineskopowej przez nastepne 10 do 15 mi¬ nut. Po osiagnieciu tamjperaiturowego staniu usta¬ lonego blad polozenia plamki wybierajacej spo^ wodowany przez rozszerzenie maski jest kompen- sowany przez element noisny ramy czaily na tem¬ perature, który przesuwa zeispól maska — rama w kierunku ekranu. Taki eftemetrat noisny kom¬ pensujacy temperaturowo znany jest z opisu pa¬ tentowego Stanów Zjedinoiczonycn Ameryki nr 3 803 436.Innym problemem zwiazanym z wygieciem sa znieksztalcenia pecherzykowe. Pecherzykii powsta¬ ja podczas pracy lampy i sa spowodowane przez wzorzec wizyjny taki jak Utrzymujaca sie biala plamka na obrazie telewizyjnym, kt6ra powoduje lokalne podgrzanie sie czesci maski..Celem wynalazku jest opracowanie kineskopu maskowego, w którym zapewnione jest zmniej¬ szenie efektu odchylenia plaimM wyfaierajacej spo- 113 474113 4 S wodowanego wygieciem maski w porównaniu ze znanymi kineskopami.Cel wynalaaku zoistal osiagniety przez to, ze w kineskopie maskowym zawierajacymi perforowa¬ na maske cieniowa dila trafiania wiazek elektro- 8 nów w elementy luminoforu na katodotanine- scencyjnym elkranie odleglosc pomiedzy maska a ekranem z/mienia sie w przyblizeniu proporcjo- 'nalmle do zmian odleglosci pomiejdzy sasiednimi szczelinami maski, a co najimnieij czesc maski ma zwiekszona krzywizne tak, ze stosunek maksi¬ mum do minimum odleglosci miedzy maska a e- kranem dla wymienionej czesci jest wiejkszy niz 1,15. Stosunek ten wystepuje miedzy brzegiem a srodkiem maski.Korzystnie jes/t, gdy odleglosc miedzy maiska a ekranem zmienia sie w przyblizeniu proporcjo^ nalnie do zimiain odleglosci miedzy sasiednimi szczelinami maski," a stosunek zmian odleglosci ^ 20 miedtzy maska a ekranem zmienia co naijmniej raz polaryzacje od srodka do brzegu maski oraz, ze odleglosc rjomtiedzy maska" a ekranem kineskopu w kierunku od srodka do brzegu maiski najpierw wtorasta a nastepnie maleje.Korzystnie, gdy ekran kineskopu zawiera ele¬ menty luiminoforowe w postaci pionowych pa^ sków, wówczas szczeliny w masce sa szczelnaimi pionowymi." Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przy- 3e kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia kineskop maskowy znanego typu w przekroju osiowym, fig. 2 — fragment ekranu z prawidlowo polozona plaimka wybierajaca, fig. 3 — fragment ekiranu z tak odchyltona pilarka, ze 35 zauwazalne jest zmniejszenie jaskrawosci koloru, fig. 4 — fragment ekiranu z tak odchylona plam¬ ka, ze zauwazalne Jest zmniiejszeniie czystosci ko¬ loru, fig. 5 — wykres bledu polozenia plamki w polowie odleglosci miejdzy srodikiem a brzegiem 40 maski w funkcji czasu, fig. 6 — w powiekszeniu fragment maski i ekranu w mliejiscu oznaczonym na fig.' 1 odnlosnilkiem 6, fig. 7 — schematycznie zaleznosci geoimetryazne miedzy wiazka elektrono¬ wa, maska i ekranem w rzucie bocznym, fig. 8 — 45 plyte czolowa lampy z maska znanego typu w widoku od tylu i czesciowym przekroju, fig. 8A, 8B, 8C — fragmenty maslki oznaczone, na fig. 8 w powiekszeniu, fig. 9 — plyte czolowa lampy z maska wedlug wynalazku w widoku od tylu i cze- 50 sciowym przekroju, fig. 9A, 9B i 9C — fragmen¬ ty maslki oznaczone na fig. 9 w powiekszeniu, fig. 10 — kineskop maskowy z plaska plyta czo¬ lowa w widoku z boku, z czesciowym przekro¬ jem, fig. 11 — inne rozwiazanie kineskopu masko- 55 wego z plaska plyta czolowa.Figura 1 przedstawia prostokatny kineskop ma¬ skowy znanego typu, z prózniowa banka szkla^ na 20 skladajaca sie z prostokatnej czesci 22 z milskowo zagietymi brzegami i szyjki 24, pola- 60 czonyeh czescia stozkowa 26. Piroitbkaltna czesc 22 zawiera ' plyte czolowa 28 i scianke boczna 30, która jest przytwierdzona do krawejdizi- czesci stoz¬ kowej 26. Ekran 32 w poistadi trójkolorowej mo- zaikd" jest uimaeszozony na wewnetrznej stronie *5 4 plyty czolowej 28. Ekran 32 stanowi siatke kimi- noforowych pasków, przy czym paski te przebie- gaja zasadniczo równolegle do osi pionowej lam¬ py.Obszar miedzy paskami lidminbifbrowymi jest wypelniony materialem pochlaniajacym swiatlo.W okreslonym polozeniu wzgledem ekranu 32 jest zamocowana w sposób umozliwiajacy demon¬ taz wieloszczelinowa maska 34. W szyjce 24 usy¬ tuowana jest wyrzuJtnia elektronowa 36 z trze¬ ma katodami ustawionymi w jednej linii, wy¬ twarzajaca trzy wiazlki elektronowe 38B, 3SR i 38G kierowane wzdluz zbieznych torów przez ma¬ ske 34 na ekran 32. Przez przylozenie do jarzma 40 odpowiedniego napiecia trzy wiazki 38B, 38R i 38G zostaja poddane dzialaniu pól magnetycz¬ nych odchylania pionowego i poziomego, które powoduja przesuwanie wiazek po ekranie 32 po¬ ziomo i pionowo w prostokatnym obszarze obra¬ zu.Dla uproszczenia na fig. 1 nie pokazano krzy-~ wizny torów wiazek odchylonych w plaszczyznie odchylania. Natomiast zostaly pokazane schema¬ tycznie wiazki z chwilowym odchydeniem w plasz¬ czyznie odchylania P-P.Chociaz niniejszy wynalazek opisany zostal w odniesieniu "do kineskopu maskowego z ekranem paskowym i wyrzutnia o katodach ustawionych w jednej linii, jednak nadaje sie do zastosowania równiez w kineskopie maskowym z ekranem punktowym i wyrzutnia elektronowa, w której dziala elektronowe ustawione sa na wierzchol¬ kach trójkata równobocznego, jak równiez w kine¬ skopach kolorowych. innych typów.Dla pelnego zrozumienia niniejszego wynalazku nalezy zdefiniowac pojejcie bledu (polozenia ^plam¬ ki wybierajacej na ekranie. Fig. 2, 3 i 4 przed¬ stawiaja plamke wytwarzana przez wiazke elek¬ tronowa 38G uderzajaca we fragment ekiranu 32.Kazdy pasek lumiinujacy 42R, 42G i 42B jest; od¬ dzielony od sasiedniego paska obszarem pokrytym matieprialem pochlaniajacym swiatlo 44. Szerokosc wiazki 38G jest nieco wieksza od szerokosci od¬ powiadajacego jej paska lumiinoforowego 42G. Od¬ pisana struktura ekranu okreslana jest dalej ja¬ ko struktura matrycowa z uijemna tolerancja i szczególnie korzystna konstrukcja ekranu dla re¬ alizacji niniejszego wynalazku.Niniejszy wynalazek mozna jednak równiez sto¬ sowac w kineskopach z ekranami o' strukturze matrycowej o dodatniej tolerancji, w których pa¬ ski luminoforowe poprzedzielane materialem po¬ chlaniajacym swiatlo sa szersze od odjpowieidnich wiazek jak równiez w kineskopach z ekranami o innej strukturze. Na fig. 2 wiazka elektronowa 38G dokladnie pokrywa odipowiedni pasek lumi¬ noforowy 42G, to znaczy zajmuje najkorzystniej¬ sze polozenia dla dobrego odfbioru barwy. W trak¬ cie nagrzewania sie kineskopu maska ulega od¬ ksztalceniu i nastepuje przesuniecie jej srodka w kierunku ekranu. Wiazka. 38G przesuwa sie wów¬ czas wzgledem odpowiedniego paska luiminofoTo- wego 42G, co przedstawia f fig. 3. Naistepiulje wte¬ dy spadek intensywnosci koloru zielonego, a na-\ 113 474 5 *' * wet w przypadku przesuniecia wiazki w obszar sasiedniego paska 42B, co przedstawia fig. 4, zmniejszenie czystosci koloru.Jak juz wspomniano odksztalcenie maski wy¬ nika z jej nierównoimiernego nagrzewania. Na fig. 5 przedstawiono wylkres w funkcji cizaisu bledu polozenia plamki odpowiadajacej danemu koloro¬ wi na pasku luminoforowym znajdujacym sie w polowie odleglosci miedzy srodkiem i brzegiem ekranu. Krzywa 50 nakreslona linia ciagla sta¬ nowi wykres bledu polozenia plamki dla znanych kineskopów, a krzywa 52 nakreslona lliiriia prze¬ rywana dla kineskopu wedlug % wynalazku. Wierz¬ cholki krzywych 50 i 52 pojawiaja sie po uply¬ wie 3 do 5 mliimuit od chwili wlaczenia lampy.Nastepnie wartosc bledu zmniejsza sie w mliare ogrzewania sie maski./Wybrzuszenie maski nastepuje, gdy czesc maski przesuwa sie w kierunku ekranu, podczas gdy . brzegi maski poizosltaja w polozeniu pierwotnym.Efekt takiego przesuniecia przedstawia fig. 6.Maska jest przedstawiona w dwu polozeniach: ja¬ ko niieogrzana i niewygiejta oznaczona .przez 34 i jako ogrzana i wygieta oznaczona przez 34'. Gra¬ nice czesci wiazki 38G przepuszczanej przez szcze¬ line nieogrzanej maskii 34 sa zaznaczone liniami przerywanymi 39, a granice czesci wiazki prze¬ chodzacej przez te sama szczeline wygietej maski 34' sa zaznaczone liniami kropkowanymi i kre¬ skowanymi 39'. Odleglosc ,:x" pokazana na fig. 6 okresla blad polozenia plamiki spowodowany przez odksztalcenie maski. Jak widac, w wyniku wy¬ brzuszenia maski *plamlka na ekranie 32 przesuwa sie w kieruniku jego srodka.W miare nagrzewania sie maski nastejpuje zirnndejiszeinie róznic temperaturowych w jej obje¬ tosci, a w zwiazku z tym zmniejszenie odksztal- cenia. Ogrzewanie maski powoduje rozszerzanie maski, a wiec i przesuwanie szczelin w masce równolegle do ekranu. To skierowane na zewnatrz przesuniecie powoduje wzrastanie bledlu poloze¬ nia plamki w miare oddalania siie od srodlka ekra¬ nu. Jednoczesnie wystepowanie efektów zmniej¬ szania sie odksztalcenia maisiki i jej rozszerzanie powoduja prawidlowe us.tawianie szczelin maski wzgledem odpowiednich pasków luniinoforowych.Rozszerzanie sie maski powoduje jednak wy¬ stepowanie wiekszego bledu w brzegowych obsza¬ rach ekranu. W celiu zmniejszenia lub wyelimi¬ nowania bledu polozenia plamki w - brzegowych obszarach ekranu zespól maski powinien byc za¬ wieszony na elementach nosnych, czulych na tem¬ perature, które przesuwaja zespól maski w kie¬ runku ekranu. Poniewaz tego rodzaju koimpensa- f cja spelnia swoje zadanie jedynie wtedy, gdy nie ma gradientu temperatury miedzy • fragmentami masiki zamocowanej w ramie .nosnej, w obszarze srodkowym ekranu pojawi sie resztkowy blad po¬ lozenia plamki. Nalezy równiez zauwazyc, ze od¬ prowadzanie . ciepla z polaczonych z rama nosna elementów, brzegowych dokonywane jest szybciej niz z pozostalych obszarów maski, i wobec tego okreslone odksztalcenie maski wystepuje zawsze, mimo zastosowania komjpen&acjH temperaturowej.Figura 7 przedstawia zaleznosci geometryczne w kineskopie maskowym. Linda P—P okresla po¬ dobnie jak na fig. 1 plaszczyzne odchylenia. Od¬ leglosc plaszczyzny P^-P od ekranu 32 jest ozna¬ czona przez „L", a odstep miedzy maska 34 a e- kranem 32, mierzony równolegle do osi A—A jest oznaczony przez „q", „S" reprezenftiuje odle¬ glosc glównej osi lampy A—A od srodka 54 wiaz¬ ki elektronowej przechodzacej prztez plaszczyzne odchylania P—P, a „a" jest rozstawieniem srod¬ ków szczelin maski 34. Zaleznosci miedzy, wymie¬ nionymi parametrami okresla w przytoczeniu rów¬ nanie: La J^ niniejszym wynalazku celem zmniejszenia e- fektów wygiecia, maska 56 jest bardziej zakrzy¬ wiona niz maski w znanych kineskopach o po¬ dobnej konstrukcji, przez co zapewnia sie wieksza mozliwosc zmiany „q'\ Równoczesnie wartosc „a" jest zmieniana proporcjonalnie do „q". To wla¬ snie rózni kineskop wedlug wynalazku od zna¬ nych kineskopów z ekranem o strukturze pasko¬ wej, gdzie „a" bylo stale dla calej maski, a „a" zmienialo sie tyllko w zaleznosci od „L" i „S".Figury 8, 8A, SB i 8C przedstawiaja znana ma¬ ske o promieniu krzywilzny równym 1 m oraz w powiekszeniu wycinki ze srodka 60, brzegu 62 i obszaru w polowie odleglosci miedzy srodkiem a krawedzia 64. Wartosc „a** i szerokosc szcze¬ liny sa podane w * miiltaelfcraeh. Wartosc „a" jest w obszarze calej maski jednakoiwa i wynosi 0,77* • 1'03 m. Natomiast szeroikosdi szczelin sa najwiek¬ sze w srodku maski i staja sie coraz mniejisze w miare zblizania sie do jej krawedzi.W kineskopie stanowiacym wyikonande niniej¬ szego wynalazku przyklad pokazany na fig. 9, 9A, 9B i 9C promien zakrzywienia maski 60 wy¬ nosi 0,85 m, rozstawienie szczelin maslki 56 ma¬ jacej wieksza krzywizne rosna od 0,77'(10"3 m w srodku 66 maski do 0,885'ilO-3 m w punkcie srod¬ kowym 68, do 1-ilO-3 m na brzegu 70 maski.Gdyby w masce 56 z fig. 9 byly uzyte te same szerokosci szczelin jak w znanej masce 34 z fig. 8,-jej sprawnosc przenoszenia zmniejszylaby sie ponizej dopuszczalnego poziomu. Dlatego tez sze¬ rokosc szczelin zostala zwiekszona w sttoisunku do szerokosci szczelin w masce znanego typu. Bo rzeczywiscie, gdyby wartosc „a" byla zmieniona do 0,77-10-8 m w srodku maski do 1,14•llO"3 m na jej brzegu,, to szerokosc szczelin moglaby byc utrzymywana, jako stala, wynoszaca 0,15• 10~3 m dla calej maski. Zwiekszenie szerokosci szczelin jest bardzo pozadane ze wzgledu na ula/twienie produkcji maski.Tablica I zawiera stosunki odleglosci maslki od ekranu, przy czym „q" mierzone jest równolegle do glównej osi kineskopu dla dwu znanych kine¬ skopów i dla dwu kineskopów skonstruowanych wedlug niniejiszego wynalazku. W pierwszej ko¬ lumnie jest podany stosunek odleglosci „q" przy brzegu maski zmierzony na wietózej osi tej ma" 10 15 20 25 30 35 40 45 . 50 55 60113 474 ski do odleglosci „q" a srodlku maski. Druga ko¬ lumna pokazuje ten sam stosunek w przypadku zmierzenia odleglosci „q" przy brzegu maski na przekatnej maski.¦*" Tablica I 19" — 90° znany kineskop 25" — 110° znany kineskop 25" kineskop 1 wig niniej¬ szego wymalaizku | 25" kineskop 2 \ Os glówna q s srodek q M3 i,ao 1,47 . a;5c Prze¬ katna q srodek q 1»1|2 1,09 1,45 1,48* | Nalezy zauiwazyc, ze stosunki odleglosci „qM przy brzegu i w srodku maski sa w kineskopach wedlug wynalazku znacznie wlejksze od takich sa¬ mych stosunków w znanyioh kineskopach. Dla o- bu kineskopów wedlug wynalazku stosunki od¬ leglosci „qM przy brzegiu i w srodku- maski sa wieksze od 1,15.Przez zwiejkszenie krzywizny' maski od warto¬ sci promienia 1 m do 0,85 m zmniejsza sie za¬ równo wybrzuiszanie maslki jak i zwiazane z nim bledy polozenia plamki. Zwiekszenie krzywizny umniejsza podatnosc na odksztalcenia, a wiec i stopien wybrzuszania sie maiski. Ponadto, jak to wynika z zaleznosci geometrycznych, gdy kineskop zostanie uruchomiony i maska nagrzeje sie, punkt na masce majacej wieksza krzywizne pnzeibyiwa krótszy odcinek w kierunku ekranu od analogicz¬ nego punkitu znajdujacego sie na masce o miniiej- sizej krzywiznie dla danego rozszerzenia maiski.W przypadku wyzej okreslonych krzywliizn ma¬ sek zmlniejisza sie wygiecie liulb przesuniecie frag¬ mentu maski w kierunku ekranu od okolo 48*10~8 m dla maisiki o promieniu 1 m do oikolo 30-110-6 m dla promienia krzyiwiizny 0$5 m. Zwiekszenie „a" umozldwia zwiekszenie tolerancji polozenia pHaimki na pasiku luniinofioirowym znajdujacym sie poza srodkiem.Odleglosc miejdzy paskami na ekranie nie moze byc zbyt duza, gdyz moze to dawac gruboziarni- stosc. Dlatego dobierana odleglosc maisi byc kom¬ promisem miedzy mozliwyim zwiekszeniem tole¬ rancji i akceptowana gmbóziarnistoscaa linii.Przez dopuszczenie malych wartosci „a" na srod¬ ku ekranu a duzych wartosci „a" na brzegach, uzyskujie sie dobry obraz na ekranie.Tablica II przedstawia wyniki ponriiaru tole¬ rancji i bledu polozenia plamki wybierajacej spo¬ wodowanego wygieciem maski dla znanego kine¬ skopu i dla kineskopu z maska o wiekszej krzy- wiznie od maski znanego kineskopu (promien 0,S5 m do 1 m) w polowie odleglosci miejdzy srod¬ kiem i krawedzia maski. Wszystkie wartosci sa podane w metrach. 10 15 20 29 JO 40 45 50 55 *¦ Kineskop znany Kineskop wedlug | wynalazku Tablica II Dopusz¬ czalna to¬ lerancja (M53-ao-3 0,007-110-* Blad po¬ lozenia .pdamiki A,079-J10-» o,ote6-ao-3 Rózinlica - -^0,006 «,oon | es Zwiekszenie dopuszczalnej tolerancji w kine¬ skopie wedlug wynalazku jest spowodowane przez zwiekszenie odleglosci „a" i zmniejiszenie bledu polozenia plaimiki wybierajajcej przez zwiekszenie krzywizny maski. Dlatego przez zwiekszenie za¬ krzywienia maski i zwiejkszenie odleglosci „a" efektywny blad polozenia plamki w punkcie e- kranu, gdzie efekty wygiecia sa najwieklsze, moze byc znacznie zmniejszone na przyklad wedlug da¬ nych z tablicy II o 0,027 nIO-3 m.Chociaz opisana tu zoistala maska o zwiekszonej krzywiznie i zróznicowanej odleglosci „a" zasto¬ sowana w kineskopie z zakrzywiona plylta czolo¬ wa, niniejszy wynalazek nadaje sie do wykorzy¬ stania równiez w kineskopach z plaska plyta czo¬ lowa. Poprzednio, chociaz maska przeznaczona do Wspólpracy z ekranem o strukturze paskowej nie miala dokladanie takiej samej krzywlizny jak wspólpracujaca z nia plyta czolowa, ale maska i plyta czolowa byly* zasadniczo równolegle.Zastosowanie plaskiej plyty czolowej jest ko¬ rzystne gdyz umoizlii/wiia zwiejkszenie kata widze¬ nia bez znieksztalcenia czesci obrazu. Fig. 10 przedstawia kineskop 72 z zakrzywiona maska 74 i z plaska plylta czolowa 76. Odleglosc „q" jest w tym kineskopie znacznie wieksza na brzegach maski w porównaniu z jej srodkiem, a odleglosc „a" miedzy szczelinami maski zwieksza ^sie w kierunku od srodka do brzegów dla zapewnienia odpowiedniego rozmieszczenia pasków luminofo- rowych na ekranie.Idea zwiekszania krzywizny maski wzglejdem krzywizn stosowanydh w kineskopach znanego ty¬ pu dla zmniejszania odksztalcenia moze zostac wykorzystana nie tylko w przypadku masek p ksztaltach sferycznych. Jak pokazano na fig. 11 krzywizna maski 78 w kineskopie z plaska plyta czolowa 80 moze mie*c ksztalt falisty celem wzmocnienia konstrukcji maski. W tym przypad¬ ku odleglosc „q" wzrasta, a nastepnie zmniejsza sie od srodka do brzegu maiski. Wartosc „a" zmie¬ nia sie zatem proporcjonalnie do zmian „q" wzra¬ stajac i zmniejszajac sie od srodka do brzegu ma¬ ski.Istota niniejszego wynailaizku, na której opiera¬ ja sie opisane konstrukcje masek, jest polaczenie zwiejkazonego zakrzywienia maiski ze zróznicowa¬ niem wartosci odleglosci „a" w miare oddalania sie od srodka ekranu. W niektórych kineskopach konwiencjonalnych odleglosc „q" maski od ekranu5 113 iii jest wieksza na krawedziach maski niz w jej srodku. Jezeli niniejszy wynalazek zostanie za¬ stosowany w takim kineskopie odleglosc maski od ekranu bedzie zmieniac sie w Jeszcze wieksizym zakresie.Nalezy zauwazyc, ze wynalazek mozna równiez zastosowac w kineskopach, w których „q" przy ihrzegiu maski jest mniejsze niiz ,,q" w srodku ma¬ ski. W takim przypadku wykorzystanie istoty niniejszego w_ynalaziku spowoduje zimiiany odleglo- Sci Mq" w wiekszym zakresie niz w innych zna¬ nych kineskopach. Taka zrmiana moze nie poja¬ wic sie w kineskopie o wiekszym „q" na brzegu od „q" w srodkiu, ale moze pojawic sie w kine¬ skopie o mniejszym „q" na brzegu Oid „q" w srod¬ ku- liub w kineskopie o stalym „q'\ W ten sposób wynalazek nie moze byc porównywany ze zna¬ nymi wynalazkami, gdyz bierze sie tu pod uwage wartosc stosuinku „q" na krawedzi i „q" w srod¬ ku oiraz zmiane „q" a nie tylko wzgledny wy¬ miar „q". Taki sam zwiazek dotyczy „a", gdyz wymiar „a" zmienia sie proporcjonalnie do zmian Zaleznosc q = La 3S umozliiwia wlasciwe roz- 10 Zastrzezenia patentowe 15 mieszczenie elementów luminoforowycA na ekra¬ nie, to znaczy ustalenie polozenia trójek elemen¬ tów luminoforowych miedzy soba, gdzie odleglosc 30 miedzy punktami lub paskami w trójce jest taka sama jak odleglosc miedzy sasiednimi punktami lub liniami róznych trójeik. 1. Kineskop maskowy zawierajacy perforowana maske cieniowa dla trafiania wiazek eiek/bronów o w elementy luminoforu na katodolumiimescenicyj- nym ekranie, znamienny tym, ze odleglosc (q) pomiedzy maska (34, 56, 74) a ekranem (32) zmie¬ nia sie w przyblizeniu proporcjonalnie do zmian odleglosci (a) pomiedzy sasiednimi szczelinami w maski, a co najmniej czesc maski ma zwiekszona krzywizne tak, ze stosunek maksimum do mini¬ mum odleglosci (q) miedzy maska a ekranem dla wymienionej czesci jest wiekszy niz 1,16. 2. Kineskop maskowy wedlug zastrz. 1, zna¬ mienny tym, ze wymieniony stosunek odleglosci (q) miedzy maska (34, 74) a ekranem (32) wy¬ stepuje w kierunku miedzy bnzegiiem a srodkiem maski. 3. Kineskop maskowi zawierajacy perforowa¬ na maske cieniowa dla trafiania wiazek elektro¬ nów w elementy luminoforu na katodolumiines- cencyjinym ekranie, znamienny tym, ze odleglosc (q) pomiedzy maska (7&) a ekranem (32) zmienia sie w przyblizeniu proporcjonalnie, do zmian od- 25 legloisai (a) pomiedzy sasiednimi szczelinami ma¬ ski a stosunek zmian odleglosci miedzy maska (74, 78) a ekranem (32) zjmienia co najmniej raz polaryzacje w obszarze od srodka (G6) do brzegu (70^ maski. 4. Kineskop niasikowy, wedlug zastrz. 3, zna¬ mienny tym, ze odleglosc pomiedzy maska (50) a ekranem (32) kineskopu w kierunku od srodka do brzegu najpierw wzrasta a nastepnie maleje. 20 44' m 44 JIAS^lis 4fi ^S-s- -JJHEj.BA- J^.BB- JJZj-BC.J^Sj.3.—JFEj-BA- J1A.3B- _J1Z/-3C.JjA.iD JEj-lL t)N-3, zam. 7&0/81 Cena 45 zl PL PL PL PL PL The invention concerns a color picture tube (CRT) containing slit masks, electron beams pass through the mask slits and fall on a mosaic-structured screen. The mask slits are arranged such that each beam strikes the screen and excites the illuminating elements of one color. Typically, the mask is mounted in a rigid frame suspended within the CRT envelope. During operation, the electrons striking the mask cause it to heat up. Because the edges of the mask are attached to a heat-removing frame, a temperature difference is created between the center and the edges of the mask. Due to the temperature difference, the center of the mask, the edges of the mask, and the frame expand at different rates. The difference in the expansion rate causes certain surfaces of the mask to bend toward the screen. This bending has little effect on the position of the scanning spot relative to the corresponding phosphor element in the center of the screen, because the direction of beam projection onto the phosphor elements remains unchanged when the mask's height changes from the screen. There is no bending of the mask edges, as they are permanently attached to the outer frame. Therefore, the maximum scanning spot position error caused by this 10 15 20 25 30 curvature occurs approximately halfway between the center of the mask and its edge. The spot position error is defined as the amount by which the electron beam is shifted relative to a given illuminant. Due to the mask curvature, the electron beams passing through it shift relative to a given luminous screen element. This curvature effect appears after 3 to 5 minutes of lamp operation and affects the operation of the cathode ray tube for the next 10 to 15 minutes. Once the temperature steady state is reached, the scanning spot position error caused by the mask expansion is compensated by a temperature-sensitive frame support element, which moves the mask-frame assembly toward the screen. Such a temperature-compensating support element is known from U.S. Patent No. 3,803,436. Another problem associated with warping is bubble distortion. The bubbles are formed during lamp operation and are caused by a visual pattern such as a persistent white spot on a television image, which causes local heating of parts of the mask. The object of the invention is to provide a mask picture tube in which the effect of spot deflection caused by mask bending is reduced compared to known picture tubes. The object of the invention is achieved by the fact that in a mask picture tube comprising a perforated shadow mask for striking electron beams on phosphor elements on a cathode-ray tube, the distance between the mask and the screen changes approximately proportionally to the changes in the distance between adjacent mask slits, and thus the least part of the mask has an increased curvature such that the ratio of the maximum to minimum distance between the mask and the screen for said part is greater than 1.15. This ratio occurs between the edge and the center of the mask. It is advantageous when the distance between the mask and the screen changes approximately proportionally to changes in the distances between adjacent mask slits, and the ratio of changes in the distance 20 between the mask and the screen changes the polarization at least once from the center to the mask edge, and that the distance between the mask and the picture tube screen in the direction from the center to the mask edge first increases and then decreases. Advantageously, when the picture tube screen contains phosphor elements in the form of vertical strips, then the slits in the mask are vertically sealed. The subject of the invention is shown in the example embodiment in the drawing, in which Fig. 1 shows a picture tube mask of a known type in axial section, Fig. 2 — a fragment of the screen with a correctly positioned scanning spot, fig. 3 — a fragment of the screen with the saw so deflected that a reduction in color brightness is noticeable, fig. 4 — a fragment of the screen with the spot so deflected that a reduction in color purity is noticeable, fig. 5 — a graph of the spot position error halfway between the center and the edge of the mask as a function of time, fig. 6 — an enlarged fragment of the mask and the screen in the place marked in fig. 1 with reference 6, fig. 7 - schematic geometrical relations between the electron beam, the mask and the screen in a side view, fig. 8 - 45 front plate of a lamp with a mask of a known type in a back view and partial cross-section, fig. 8A, 8B, 8C - fragments of the mask marked in fig. 8 in enlargement, fig. 9 - front plate of a lamp with a mask according to the invention in a back view and partial cross-section, fig. 9A, 9B and 9C - fragments of the mask marked in fig. 9 in enlargement, fig. 10 - a mask picture tube with a flat front plate in a side view, with partial cross-section, fig. 11 - another solution of a mask picture tube with flat front plate. Figure 1 shows a rectangular mask tube of known type, with a vacuum glass tube 20 consisting of a rectangular part 22 with mildly curved edges and a neck 24, connected by a conical part 26. The pyrolytic bcal part 22 comprises a front plate 28 and a side wall 30, which is attached to the edge of the conical part 26. A screen 32 in the form of a three-color mosaic is arranged on the inner side of the front plate 28. The screen 32 is a grid of kinematic strips, the strips running substantially parallel to the vertical axis of the tube. The area between the strips The bifurcated lid is filled with a light-absorbing material. A multi-slot mask 34 is removably mounted at a predetermined position relative to the screen 32. An electron gun 36 with three cathodes aligned is located in the neck 24, producing three electron beams 38B, 3SR and 38G, which are directed along converging paths through the mask 34 onto the screen 32. By applying an appropriate voltage to the yoke 40, the three beams 38B, 38R and 38G are subjected to vertical and horizontal deflection magnetic fields, which cause the beams to move across the screen 32 horizontally and vertically within a rectangular image area. For simplicity, the curvature of the beam paths deflected in the deflection plane is not shown in Fig. 1. However, beams with instantaneous deflection in the deflection plane P-P have been schematically shown. Although the present invention has been described with reference to a mask picture tube with a strip screen and a gun with aligned cathodes, it is also applicable to a mask picture tube with a dot screen and an electron gun in which the electron guns are arranged at the vertices of an equilateral triangle, as well as to other types of color picture tubes. For a complete understanding of the present invention, it is necessary to define the error (position of the scanning spot on the screen). Figs. 2, 3 and 4 show the spot produced by the electron beam 38G striking a portion of the screen 32. Each luminous strip 42R, 42G and 42B is separated from the adjacent strip by an area covered with light-absorbing material 44. The width of beam 38G is slightly greater than the width of the corresponding phosphor strip 42G. This screen structure is hereinafter referred to as a negative tolerance matrix structure and is a particularly advantageous screen structure for the implementation of the present invention. However, the present invention is also applicable to picture tubes with positive tolerance matrix screens in which the phosphor strips separated by light-absorbing material are wider than the corresponding beams, as well as to picture tubes with other screen structures. In Fig. 2, electron beam 38G completely covers the corresponding phosphor strip. 42G, i.e., it occupies the most favorable position for good color reception. As the picture tube warms up, the mask deforms and its center shifts toward the screen. The 38G beam then moves relative to the corresponding phosphor strip 42G, as shown in Fig. 3. This results in a decrease in the intensity of the green color, and even in the case of moving the beam into the area of the adjacent strip 42B, as shown in Fig. 4, a decrease in color purity. As already mentioned, the mask deformation results from its uneven heating. Fig. 5 shows a graph of the error in the position of the spot corresponding to a given color on the phosphor strip as a function of gravity. halfway between the center and the edge of the screen. Curve 50, drawn as a solid line, is a graph of the spot position error for known picture tubes, and curve 52, drawn as a dashed line, is a graph of the picture tube according to the invention. The peaks of curves 50 and 52 appear 3 to 5 milliseconds after the lamp is switched on. Then the error value decreases as the mask heats up. Mask bulging occurs when part of the mask moves toward the screen, while the edges of the mask remain in their original position. The effect of such a shift is shown in Fig. 6. The mask is shown in two positions: unheated and unwarped, indicated by 34, and heated and The boundaries of the part of the beam 38G passed through the slit of the unheated mask 34 are marked by dashed lines 39, and the boundaries of the part of the beam passing through the same slit of the bent mask 34' are marked by dashed and dotted lines 39'. The distance "x" shown in Fig. 6 determines the error in the spot position caused by the distortion of the mask. As can be seen, as a result of the mask bulging, the spot on the screen 32 moves towards its center. As the mask heats up, the temperature differences in its volume decrease, and consequently the distortion decreases. Heating the mask causes the mask to expand, and therefore the slits in the mask to move parallel to the screen. This outwardly directed This shift causes the spot position error to increase with distance from the screen center. Simultaneously, the effects of decreasing mask distortion and its expansion cause the mask slits to be properly aligned with the corresponding phosphor stripes. However, mask expansion causes a larger error in the peripheral areas of the screen. To reduce or eliminate the spot position error in the peripheral areas of the screen, the mask assembly should be suspended on temperature-sensitive support elements that move the mask assembly toward the screen. Because this type of compensation only works when there is no temperature gradient between the mask sections mounted in the support frame, a residual error will appear in the central area of the screen. The spot position is determined by the position of the spot. It should also be noted that the heat removal from the edge elements connected to the supporting frame is faster than from the remaining areas of the mask, and therefore a certain distortion of the mask always occurs, despite the use of temperature compensation. Figure 7 shows the geometrical relations in a mask picture tube. Linda P—P defines the deflection plane similarly to Figure 1. The distance of the plane P^-P from the screen 32 is designated by "L", and the distance between the mask 34 and the screen 32, measured parallel to the axis A—A, is designated by "q". "S" represents the distance of the main axis of the tube A—A from the center 54 of the electron beam passing through this plane. deflection P—P, and "a" is the spacing of the centers of the slits of the mask 34. The relationships between the above-mentioned parameters are given by the equation: La. In the present invention, in order to reduce the effects of bending, the mask 56 is more curved than the masks in known picture tubes of similar construction, thereby providing a greater possibility of changing "q". At the same time, the value of "a" is changed in proportion to "q". This is what distinguishes the picture tube according to the invention from known picture tubes with a strip screen structure, where "a" was constant for the entire mask, and "a" varied only depending on "L" and "S". Figures 8, 8A, SB and 8C show a known mask with a radius of curvature equal to 1 m. and a magnification of a section from the center 60, the edge 62 and the area halfway between the center and the edge 64. The value of "a**" and the slit width are given in * millimeters. The value of "a" is the same throughout the mask and is 0.77*10-3 m. The slit widths are greatest in the center of the mask and become smaller as one approaches its edge. In the picture tube embodying the present invention, the example shown in Figs. 9, 9A, 9B and 9C, the radius of curvature of the mask 60 is 0.85 m, the spacing of the slits of the mask 56 having the greater curvature increases from 0.77*10-3 m at the center 66 of the mask to 0.885 10-3 m at the center point 68 to 1 10-3 m at the edge 70 of the mask. If the same slit widths were used in the mask 56 of Fig. 9 as in the prior art mask 34 of Fig. 8, its transfer efficiency would be reduced below an acceptable level. Therefore, the slit width was increased in comparison to the slit widths in the prior art mask. In fact, if the value of "a" were changed to 0.77 10-8 m at the center of the mask to 1.14 10-3 m at the edge, the slit width could be kept constant at 0.15 10-3 m throughout the mask. Increasing the slit width is highly desirable for ease of manufacture. Table I gives the ratios of the distances of the mask from the screen, where "q" is measured parallel to the main axis of the picture tube, for two known picture tubes and for two picture tubes constructed in accordance with the present invention. The first column gives the ratio of the distance "q" at the edge of the mask measured on the main axis of this picture tube to the distance "q" at the center of the mask. The second column shows the same ratio when the distance "q" at the edge of the mask is measured on the diagonal of the mask. ¦*" Table I 19" — 90° known picture tube 25" — 110° known picture tube 25" picture tube of this invention | 25" picture tube 2 \ Main axis q s center q M3 i,ao 1.47 . a;5c Diagonal q center q 1»1|2 1.09 1.45 1.48* | It should be noted that the ratios of the distances 'qM' at the edge and in the center of the mask in the picture tubes according to the invention are much greater than the same ratios in the known picture tubes. For both picture tubes according to the invention, the ratios of the distances 'qM' at the edge and in the center of the mask are greater than 1.15. By increasing the curvature of the mask from a radius of 1 m to 0.85 m, both the bulging of the mask and the related spot position errors are reduced. The increase curvature reduces the susceptibility to deformation, and therefore the degree of mask bulging. Furthermore, as follows from geometric relationships, when the picture tube is turned on and the mask heats up, a point on the mask with greater curvature travels a shorter distance towards the screen than a similar point on the mask with lesser curvature for a given mask extension. For the mask curvatures specified above, the bending or displacement of the mask fragment towards the screen decreases from about 48*10~8 m for a mask with a radius of 1 m to about 30-110-6 m for a radius of curvature of 0-5 m. Increasing "a" allows for a greater tolerance of the mask position on the screen. The distance between the stripes on the screen cannot be too large, as this can result in coarse graininess. Therefore, the distance chosen should be a compromise between the possible increase in tolerance and the acceptable line fineness. By allowing small values of "a" at the center of the screen and large values of "a" at the edges, a good image is obtained on the screen. Table II shows the results of the tolerance test and the scanning spot position error caused by mask curvature for a known picture tube and for a picture tube with a mask of greater curvature than the mask of the known picture tube (radius 0.5 m to 1 m) at half the distance between the center and the edge of the mask. All values are given in meters. 10 15 20 29 JO 40 45 50 55 *¦ Known kinescope Kinescope according to | Table II Permissible tolerance (M53-ao-3 0.007-110-* Error in spot position A,079-J10-» o,ote6-ao-3 Differential - -^0.006 «,oon | es The increase in the permissible tolerance in the picture tube according to the invention is caused by increasing the distance "a" and reducing the error in spot position of the scanning spot by increasing the curvature of the mask. Therefore, by increasing the curvature of the mask and increasing the distance "a", the effective error in spot position at the point on the screen where the effects of curvature are greatest can be significantly reduced, for example, according to the data in Table II by 0.027 n0-3 m. Although the method described herein Whereas a mask of increased curvature and a varied distance "a" was used in a picture tube with a curved faceplate, the present invention is also applicable to picture tubes with a flat faceplate. Previously, although the mask designed for use with a strip screen did not have exactly the same curvature as the associated faceplate, the mask and faceplate were substantially parallel. The use of a flat faceplate is advantageous because it allows the viewing angle to be increased without distorting part of the image. Fig. 10 shows a picture tube 72 with a curved mask 74 and a flat faceplate 76. The distance "q" is in this case The curvature of the mask 78 is much greater at the edges of the mask than at its center, and the distance "a" between the mask slits increases from the center to the edges to ensure proper spacing of the phosphor stripes on the screen. The idea of increasing the mask curvature relative to the curvatures used in known type of picture tubes to reduce distortion can be used not only in the case of spherical masks. As shown in Fig. 11, the curvature of the mask 78 in a picture tube with a flat faceplate 80 can be made wavy in order to strengthen the mask structure. In this case, the distance "q" increases and then decreases from the center to the edge of the mask. The value of "a" therefore changes in proportion to the changes in "q", increasing and decreasing from the center to the edge. The essence of this invention, on which the described mask constructions are based, is the combination of increasing mask curvature with varying the value of the distance "a" as one moves away from the center of the screen. In some conventional picture tubes, the distance "q" of the mask from the screen is greater at the edges of the mask than in its center. If the present invention is applied to such a picture tube, the distance of the mask from the screen will vary to an even greater extent. It should be noted that the invention can also be applied to picture tubes in which "q" at the edge of the mask is smaller than "q" in the center of the mask. In such a case, the use of the essence of this invention will result in changing the distance Mq" to a greater extent than in other picture tubes. known picture tubes. Such a change may not appear in a picture tube with a larger "q" at the edge than "q" in the center, but it may appear in a picture tube with a smaller "q" at the edge than "q" in the center, or in a picture tube with a constant "q". In this way, the invention cannot be compared with known inventions, because what is taken into account here is the value of the ratio of "q" at the edge and "q" in the center and the change in "q", and not only the relative dimension of "q". The same relationship applies to "a", because the dimension "a" changes proportionally to the changes. The relationship q = La 3S enables the proper arrangement of the phosphor elements on the screen. no, that is, establishing the position of triplets of phosphor elements one from another, wherein the distance between dots or stripes in a triplet is the same as the distance between adjacent dots or lines of different triplets. 1. A cathode ray tube mask comprising a perforated shadow mask for striking beams of phosphors/guns o at phosphor elements on a cathode ray-emitting screen, characterized in that the distance (q) between the mask (34, 56, 74) and the screen (32) varies approximately in proportion to the changes in the distance (a) between adjacent slits in the masks, and at least a portion of the mask has an increased curvature such that the ratio of the maximum to minimum distance (q) between the mask and the screen for said portion is greater than 1.16. 2. A mask picture tube according to claim 1, characterized in that said ratio of the distance (q) between the mask (34, 74) and the screen (32) occurs in the direction between the edge and the center of the mask. 3. A mask picture tube comprising a perforated shadow mask for striking electron beams onto phosphor elements on a cathode luminescent screen, characterized in that the distance (q) between the mask (74) and the screen (32) varies approximately in proportion to the change in the distance (a) between adjacent mask slits and the ratio of the change in the distance between the mask (74, 78) and the screen (32) changes polarization at least once in the region from the center (G6) to the edge (70) of the mask. 4. A low-noise picture tube, according to claim 3, characterized in that the distance between the mask (50) and the screen (32) of the picture tube in the direction from the center to the edge first increases and then decreases. 20 44' m 44 JIAS^lis 4fi ^S-s- -JJHEj.BA- J^. BB- JJZj-BC.J^Sj.3.—JFEj-BA- J1A.3B- _J1Z/-3C.JjA.iD JEj-lL t)N-3, order 7&0/81 Price PLN 45 PL PL PL PL PL PL