PL204659A1 - Sposob wzorcowania miernikow natezenia pola magnetycznego wielkiej czestotliwosci oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu
- Google Patents
Sposob wzorcowania miernikow natezenia pola magnetycznego wielkiej czestotliwosci oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Polski Komitet Normalizacji IfiledCriticalPolski Komitet Normalizacji I
Priority to PL20465978ApriorityCriticalpatent/PL204659A1/pl
Publication of PL204659A1publicationCriticalpatent/PL204659A1/pl
PL20465978A1978-02-161978-02-16Sposob wzorcowania miernikow natezenia pola magnetycznego wielkiej czestotliwosci oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu
PL204659A1
(pl)