PL205646B1 - Sposób testowania linii sprzężonej - Google Patents

Description

Opis wynalazku

Przedmiotem wynalazku jest sposób testowania linii sprzężonej przeznaczony, w szczególności do lokalizowania uszkodzeń linii wieloprzewodowych.

Znane są sposoby testowania linii sprzężonej polegające na tym, że wysyła się impuls testujący z generatora impulsów szpilkowych do jednego z przewodów linii i jednocześ nie rejestruje się i obserwuje przebiegi czasowe sygnałów napięciowych wywołanych impulsem testującym we wszystkich przewodach linii. Końce przewodów sąsiednich nie obciąża się lub obciąża rezystancją o wartości nie tłumiącej amplitudy sygnałów napięciowych. Z otrzymanych oscylogramów wyznacza się odległość do miejsca uszkodzenia linii.

W znanych sposobach w chwili wysyłania impulsu testującego w przewodach sąsiednich na początku linii sprzężonej indukują się impulsy, które przemieszczają się w linii i poprzez wzajemne sprzężenie przewodów oddziałują na siebie. Oddziaływanie impulsów na siebie powoduje, że dla niektórych rodzajów uszkodzeń linii, oscylogramy są mało czytelne i wówczas obliczanie odległości do miejsca uszkodzenia jest trudne, a nawet niemożliwe.

Istota sposobu testowania linii sprzężonej według wynalazku polega na tym, że przed wysłaniem impulsu testującego do jednego z przewodów linii, zwiera się do poziomu odniesienia początki pozostałych przewodów i niezwłocznie rozwiera po wysłaniu impulsu testującego.

Sposób testowania linii sprzężonej według wynalazku uniemożliwia indu kowanie impulsów w przewodach, do których nie wysłano impulsu testującego, dzięki ich zwarciu na początku linii w chwili wysył ania impulsu testują cego do jednego z przewodów wieloprzewodowej linii. Zarejestrowane oscylogramy po rozwarciu przewodów sąsiednich są czytelniejsze, dzięki czemu ich analiza znacznie zwiększa dokładność wyznaczenia miejsca uszkodzenia linii sprzężonej.

Przedmiot wynalazku w przykładzie wykonania objaśniony jest na rysunku przedstawiającym schemat blokowy układu do testowania trzyprzewodowej linii sprzężonej.

Z wejścia We układu do testowania trzyprzewodowej linii sprzężonej do wejścia układu opóźniającego pierwszego UOP1 podaje się impuls inicjujący, który równocześnie jako impuls załączający ZAŁ załącza zwieracze: pierwszy Z1 i drugi Z2, a tym samym zwiera przewody: drugi P2 i trzeci P3 do poziomu od niesienia. Opóźniony impuls inicjujący na wyjściu układu opóźniającego pierwszego UOP1 uruchamia generator impulsów testujących G, a na jego pierwszym wyjściu pojawia się impuls testujący, który podaje się do przewodu pierwszego P1 testowanej linii sprzężonej. Po wysłaniu impulsu testującego z pierwszego wyjścia generatora G, z drugiego jego wyjścia podaje się impuls do wejścia drugiego układu opóźniającego UOP2, z którego wyjścia opóźniony impuls jako sygnał wyłączający Wył zwieracze: pierwszy Z1 i drugi Z2 rozwiera je. Po rozwarciu zwieraczy: pierwszego Z1 i drugiego Z2 rejestruje się sygnały napięciowe w przewodach sąsiednich: drugim P2 i trzecim P3 przez układ pomiarowo - rejestrujący UPR.

Claims (1)

1. Sposób testowania linii sprzężonej, polegający na tym, że do jednego z przewodów podaje się impuls testujący z generatora impulsów szpilkowych, a równocześnie z wysłaniem impulsu testującego rejestruje się i obserwuje przebiegi czasowe sygnałów napięciowych we wszystkich przewodach linii, po czym wyznacza miejsce uszkodzenia linii, znamienny tym, że przed wysłaniem impulsu testującego do jednego z przewodów linii, zwiera się do poziomu odniesienia początki pozostałych przewodów i niezwłocznie rozwiera po wysłaniu impulsu testującego.