PL209565B1 - Sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania - Google Patents

Sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania

Info

Publication number
PL209565B1
PL209565B1 PL360650A PL36065001A PL209565B1 PL 209565 B1 PL209565 B1 PL 209565B1 PL 360650 A PL360650 A PL 360650A PL 36065001 A PL36065001 A PL 36065001A PL 209565 B1 PL209565 B1 PL 209565B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
value
write power
recording medium
parameter
straight line
Prior art date
Application number
PL360650A
Other languages
English (en)
Other versions
PL360650A1 (pl
Inventor
Aalbert Stek
Johannes H.M. Spruit
Cai G. Xu
De Pas Joris Van
Original Assignee
Koninkl Philips Electronics Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninkl Philips Electronics Nv filed Critical Koninkl Philips Electronics Nv
Publication of PL360650A1 publication Critical patent/PL360650A1/pl
Publication of PL209565B1 publication Critical patent/PL209565B1/pl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009Improvement or modification of read or write signals
    • G11B20/10481Improvement or modification of read or write signals optimisation methods
    • G11B20/105Improvement or modification of read or write signals optimisation methods selecting parameter values from a plurality of predetermined settings
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816Testing
    • G11B20/182Testing using test patterns
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045Recording
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1263Power control during transducing, e.g. by monitoring

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Pharmaceuticals Containing Other Organic And Inorganic Compounds (AREA)

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania, do wykorzystania przez optyczne urządzenie zapisujące do zapisywania informacji na optycznym nośniku zapisu za pomocą wiązki promieniowania.
Z dokumentu EP 0 737 962 znany jest sposób wyznaczania, i urządzenie do wyznaczania, optymalnej wartości poziomu zapisu. Urządzenie wykorzystuje sposób, który zawiera następujące etapy ustawiania optymalnej mocy zapisu (Popt) wiązki promieniowania. Najpierw urządzenie zapisuje ciąg wzorców testowych na nośniku zapisu, każdy wzorzec ze zwiększoną mocą zapisu (P). Następnie urządzenie to wyznacza modulację (M) każdego wzorca z sygnału odczytu, odpowiadającą wzorcowi. Oblicza się pochodną modulacji (M), jako funkcji mocy zapisu (P) i normalizuje pochodną przez jej mnożenie przez moc zapisu (P), w czasie modulacji (M). Przecięcie znormalizowanej pochodnej (γ) z założoną wartością (γ target) okreś la docelowy poziom mocy zapisu (Ptarget). Na koniec docelowa moc zapisu (Ptarget) jest mnożona przez parametr (ρ) tak, aby otrzymać poziom mocy zapisu (Popt)/ dogodny do zapisywania na nośniku zapisu. Wartość parametru (ρ) jest odczytywana z samego nośnika zapisu. Wzorce testowe są zapisywane na nośniku zapisu przez zastosowanie wartości mocy (P) w zakresie wokół danej wartości (Pind), która jest również odczytywana z samego nośnika zapisu.
W optycznym urządzeniu zapisującym istotne jest zapisywanie informacji na optycznych nośnikach zapisu z prawidłową mocą wiązki promieniowania. Producent nośników nie może podać w sposób bezwzględny prawidłowej mocy (na przykład podając jej wartość na dysku) dla każdej kombinacji nośnik zapisu-urządzenie zapisujące, ze względu na odchylenia środowisk i różnice między szczególnymi urządzeniami. Znany sposób ustawiania optymalnej mocy zapisu (Popt) uwzględnia różne charakterystyki nośnika zapisu, przez pomiar modulacji (M) zapisanych wzorców na nośniku zapisu. Ponadto sposób ten nie zależy od szczególnego urządzenia zapisującego. Sposób ten jest zaprojektowany dla zapewnienia właściwego ustawienia mocy zapisu dla każdej kombinacji urządzeń zapisujących i nośników zapisu.
Wadą tego znanego sposobu jest to, że nie jest zawsze możliwe określenie dokładnej i jednoznacznej wartości dla docelowego poziomu mocy zapisu (Ptarget), a tym samym optymalnej wartości (Popt) poziomu zapisu (P). Wynika to z błędu pomiaru wprowadzonego przez szum w czasie pomiaru wartości modulacji (M) dla każdego wzorca. Szum pomiarowy zwiększa się ze spadkiem mocy zapisu (P) wzorców testowych. Okazuje się, że nawet gdy pomierzone wartości modulacji są uśrednione tak, aby zmniejszyć szum pomiarowy, czasami występuje pewien rodzaj plateau w krzywej γ, co uniemożliwia jednoznaczne określenie wartości docelowej poziomu mocy zapisu (Ptarget).
Należy zauważyć, że w międzynarodowym zgłoszeniu patentowym WO 98/25266 został ujawniony optyczny nośnik zapisu. Jednak informacja sterująca zawarta na znanym nośniku zapisu zawiera założoną wartość (γ target), która w znanym sposobie i urządzeniu do wyznaczania optymalnej wartości mocy zapisu jest porównywana z wartościami normalizowanej pochodnej (γ) modulacji (M), w zależności od mocy zapisu (P).
Wartość współczynnika mnożenia (κ) potrzebnego do wyznaczenia optymalnej wartości poziomu mocy zależy od własności nośnika zapisu, na którym ma być zapisywana informacja. Należy zauważyć, że wartość współczynnika mnożenia (κ) może być wyprowadzona z wartości parametru (ρ), oraz założonej wartości (γ target) znanego sposobu według zależności κ = ρ·(1 + 1/γ target).
Z dokumentu WO 9850912 lub WO 9825266 znany jest sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania, który obejmuje pierwszy etap, w którym dokonuje się zapisu serii wzorców testowych na nośniku zapisu, przy czym każdy wzorzec jest zapisywany z inną wartością mocy zapisu (P) wiązki promieniowania, drugi etap, w którym odczytuje się wzorce w celu wygenerowania odpowiednich fragmentów sygnału odczytu, trzeci etap, w którym wyprowadza się wartość parametru odczytu (M) z każdego fragmentu sygnału odczytu, czwarty etap, w którym dopasowuje się za pomocą krzywej funkcję, określającą zależność pomiędzy parametrem odczytu i poziomem mocy zapisu (P), do wartości parametru odczytu (M) i wartości poziomu mocy zapisu (P), piąty etap, w którym z funkcji dopasowanej krzywą wyznacza się parametr zapisu (β), szósty etap, w którym wyznacza się wartość optymalną (Popt) poziomu mocy zapisu (P).
Celem niniejszego wynalazku jest opracowanie sposobu za pomocą którego wyznacza się dokładnie i jednoznacznie wartość optymalną (Popt) poziomu mocy zapisu (P) wiązki promieniowania.
Optymalna wartość (Popt) poziomu mocy zapisu (P) jest określona jako moc zapisu (P) dla której uzyskuje się najmniejsze fluktuacje sygnału odczytu, z informacji zapisanej na nośniku zapisu.
PL 209 565 B1
Sposób według wynalazku charakteryzuje się tym, że w czwartym etapie dopasowywana jest do wartości parametru odczytu i do wartości poziomu mocy zapisu (P) funkcja reprezentowana zasadniczo linią prostą, i w piątym etapie parametr zapisu (β) jest ustawiany w zależności od właściwości dopasowanej linii prostej, oraz w szóstym etapie wartość optymalna (Popt) poziomu mocy zapisu (P) jest wyznaczane poprzez pomnożenie wyznaczonego parametru zapisu (β) przez współczynnik mnożenia (κ).
Zaobserwowano, że w znanym sposobie szum w pomiarze parametru odczytu jest znacznie wzmocniony na etapie różniczkowania, niezbędnym do otrzymania znormalizowanej krzywej (γ). W sposobie zgodnym z wynalazkiem, wspomniany etap różniczkowania jest ominięty, funkcja jest dopasowana bezpośrednio do wartości parametru odczytu w zależności od wartości poziomu mocy zapisu. Dopasowanie krzywej może być realizowane za pomocą dowolnego algorytmu dopasowującego, jak na przykład za pomocą dobrze znanego algorytmu najmniejszych kwadratów. Optymalna wartość parametru zapisu jest otrzymywana z dopasowanego przebiegu funkcji.
Ogólnie rzecz biorąc, użyta może być funkcja o dowolnym kształcie, która określa zależność między parametrem odczytu i poziomem mocy zapisu (P). Należy jednak zauważyć, że bardzo łatwo może być dokładnie dopasowana linia prosta. Dlatego przygotowanie wartości parametru odczytu i poziomu mocy zapisu (P) w taki sposób, aby dopasowana mogła być linia prosta, jest korzystne i powinno być preferowane.
Po określeniu optymalnej wartości parametru zapisu, tzn. po jego ustawieniu na wartość zasadniczo równą wartości β, optymalną wartość (Popt) poziomu mocy zapisu (P) wiązki promieniowania uzyskuje się przez pomnożenie optymalnej wartości parametru zapisu przez współczynnik mnożenia (κ). Stąd optymalną wartość (Popt) poziomu mocy zapisu (P) uzyskuje się z zależności Popt = κ · β.
Korzystnie, współczynnik mnożenia (κ) zostaje odczytany z obszaru nośnika zapisu zawierającego informację sterującą przeznaczoną dla procesu zapisu, za pomocą którego informacja może być zapisana na wspomnianym nośniku zapisu.
Ponieważ wartość współczynnika mnożenia (κ) zależy jedynie od własności nośnika zapisu, może być określana przez producenta i zapisana zawczasu na nośniku zapisu w czasie produkcji. Alternatywnie, wartość współczynnika mnożenia (κ) może być określana przez użytkownika i zapisywana na nośniku zapisu do dalszego wykorzystania. Zgodnie ze sposobem, wartość współczynnika mnożenia (κ) zostaje odczytana z nośnika zapisu, gdy optymalna wartość (Popt) musi zostać ustawiona dla informacji zapisującej na nośniku zapisu.
Korzystnie, parametrem odczytu jest modulacja (M) amplitudy sygnału odczytu wyprowadzona z zapisanej informacji na nośniku zapisu. Modulacja (M) jest obliczana z następującej zależności
M = ((IH - IL)/IH) 100 gdzie IH jest na najwyższym poziomem amplitudy, a IL najniższym poziomem amplitudy sygnału odczytu, wyprowadzonego z zapisanej informacji na nośniku zapisu, zawierającej dłuższe znaczniki, jak na przykład znaczniki mające długość równą czternastu długościom bitu kanałowego, gdy zastosowane jest kodowanie „8 na 14 Plus” EFM+ (Eight-to-Fourteen Modulation Plus).
Korzystnie, dopasowywana funkcja ma postać Ρ·Μ = α · (P-β), gdzie α i β mają wartości wynikające z dopasowania, a optymalna wartość parametru zapisu jest tak ustawiana, aby była zasadniczo równa wartości β. Gdy wartości modulacji (M) pomnożone przez poziom mocy zapisu (P) zostają wykreślone względem poziomu mocy zapisu (P), to dopasowana może być krzywa reprezentująca zasadniczo linię prostą. Fizycznie linia prosta jest ograniczona przez najmniejszą moc zapisu i największą moc zapisu, użytą w czasie zapisywania ciągu wzorców testowych. Zaletą tej wersji sposobu zgodnego z wynalazkiem jest to, że linia prosta może być bardzo łatwo i dokładnie dopasowana za pomocą znanych algorytmów dopasowywania.
Dopasowana linia prosta jest opisywana przez jej własności α i β. Optymalna wartość parametru zapisu jest ustawiana tak, aby była zasadniczo równa wartości ρ, tzn. wartości poziomu mocy (P), dla której ekstrapolowana linia prosta przechodzi przez oś P. Kolejną zaletą tego wariantu sposobu zgodnego z wynalazkiem jest to, że każda linia prosta ma tylko jeden punkt przecięcia z każdą z osi. Wartość optymalna parametru zapisu może być zatem określona jednoznacznie, ponieważ istnieje tylko jeden punkt przecięcia dopasowanej linii prostej z osią P.
Korzystnie, dopasowanie linii prostej w czwartym etapie jest przeprowadzane w założonym zakresie dopasowania poziomów mocy zapisu. Ponieważ dopasowana linia prosta jest aproksymacją
PL 209 565 B1 pierwszego rzędu zależności między parametrem odczytu i poziomem mocy zapisu, dopasowanie powinno być przeprowadzone w odpowiednim zakresie dopasowania poziomów mocy zapisu.
Odpowiednim zakresem dopasowania jest na przykład zakres poziomów mocy zapisu wokół charakterystycznego poziomu zapisu (Pind), zapisanego na nośniku zapisu jako informacja sterująca wskazująca na proces zapisu, na przykład zakres między w1Pind i w2Pind, gdzie ω1 i ω2 są założonymi wartościami. Stwierdzono, że szczególnie korzystnym zakresem jest zakres poziomów mocy między
0,85Pind i 1,15Pind.
Pind może być określone przez producenta i wstępnie zapisane na nośniku zapisu w czasie produkcji. Do określania Pind producenci nośników muszą określić optymalną wartość (PREF) poziomu mocy zapisu (P) dla swoich nośników, w odniesieniu do urządzeń zapisujących i w warunkach standardowych. Teraz Pind może być wyprowadzona, na przykład, z PREF zgodnie z jedną z zależności Pind = PREFIP lub Pind = (PREF/k)^(1+1/Z target).
Korzystnie, sposób obejmuje również etap tymczasowego dopasowywania linii prostej, a założony zakres dopasowania poziomów mocy zapisu znajduje się między Pfit ω1 i i Pfit ω2, gdzie Pfit jest wartością wyprowadzoną z tymczasowej dopasowanej linii prostej. ω1 i ω2 mogą mieć dowolne wartości. Stwierdzono jednak, że szczególnie korzystnym zakresem dopasowania jest zakres poziomów mocy zapisu między 0,85Pfit i 1,15Pfit.
Zaobserwowano, że tymczasowa dopasowana linia prosta może być uzyskana przez jej dopasowanie w zakresie dopasowania poziomów mocy wokół drugiej wartości Pfit, która jest wyprowadzona z drugiej tymczasowej dopasowanej linii prostej. W ten sposób stworzona może zostać procedura iteracyjna, dająca optymalny zakres dopasowania poziomów mocy. Taka procedura iteracyjna może na przykład rozpocząć się od Pfit równej charakterystycznemu poziomowi mocy (Pind), zapisanemu na nośniku zapisu, jako informacja określająca proces zapisu. Procedura iteracyjna może być zakończona po wykonaniu założonej liczby iteracji, lub alternatywnie, gdy Pfit zmienia się między dwoma kolejnymi etapami iteracyjnymi mniej niż założona wartość. Należy również zauważyć, że gdy użyta jest procedura iteracyjna, Pfit może być wyprowadzona tylko na podstawie tymczasowej dopasowanej linii prostej w poprzednim etapie iteracji.
Alternatywnie Pfit może być wyprowadzone z tymczasowej linii prostej dopasowanej w poprzednim etapie iteracji, w kombinacji z przynajmniej jedną tymczasową linią prostą dopasowaną we wcześniejszych etapach iteracji.
Korzystnie, sposób zawiera również etap dopasowania co najmniej drugiej linii prostej, w przynajmniej drugim założonym zakresie dopasowania poziomów mocy zapisu, oraz tym, że w etapie piątym optymalna wartość parametru zapisu jest ustalona w zależności od własności każdej dopasowanej linii prostej. Optymalna wartość parametru zapisu może być na przykład ustalona jako wartość średnia wartości optymalnych wynikających z każdej dopasowanej linii prostej. Alternatywnie zastosowana może być ważona wartość średnia lub wartość wynikająca z procedury interpolacyjnej między wartościami optymalnymi wynikającymi z każdej dopasowanej linii prostej. Procedura interpolacyjna może być liniowa lub nieliniowa. Gdy wykorzystane są dwie linie proste, pierwszy zakres dopasowania poziomów mocy zapisu może być, na przykład, ustawiony na zakres wokół charakterystycznego poziomu mocy (Pind) pomniejszonego o ustaloną wartość, a drugi zakres dopasowania jest ustawiony wokół charakterystycznego poziomu mocy (Pind) powiększonego o ustaloną wartość. Ustalona wartość może być wybrana, na przykład, z zakresu od 0,25 mW do 1,0 mW.
Przedmiot wynalazku został objaśniony w przykładach realizacji na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat wykonania optycznego urządzenia zapisującego wykonującego sposób według wynalazku, fig. 2 przedstawia dwa fragmenty sygnału odczytu dwóch wzorców testowych, fig. 3 przedstawia wykres ilustrujący zależność między iloczynem pomierzonej modulacji i poziomu mocy w funkcji mocy zapisu oraz dopasowaną funkcję, fig. 4 przedstawia sieć działań pierwszego wariantu sposobu zgodnego z wynalazkiem, fig. 5 przedstawia wykonanie nośnika zapisu na którym dokonywany jest zapis z optymalnym poziomem mocy wyznaczonym sposobem zgodnie z wynalazkiem, fig. 6 przedstawia sieć działań procedury do ustawiania założonego zakresu dopasowania, a fig.7 przedstawia sieć działań drugiego wariantu sposobu zgodnego z wynalazkiem.
Na fig. 1 przedstawiono optyczne urządzenie zapisujące i optyczny nośnik zapisu 1 zgodnie z wynalazkiem. Nośnik zapisu 1 ma transparentne podłoże 2 i umieszczoną na niej warstwę zapisu 3.
Warstwa zapisu 3 zawiera materiał dogodny do zapisywania informacji za pomocą wiązki promienioPL 209 565 B1 wania 5. Materiałem zapisującym może być na przykład materiał typu magneto-optycznego, typu zmieniającego fazę, lub inny dogodny materiał. Informacja może być zapisywana w postaci obszarów wykrywalnych optycznie, zwanych również znacznikami, na warstwie zapisu 3. Urządzenie zawiera źródło promieniowania 4, na przykład laser półprzewodnikowy do emitowania wiązki promieniowania 5. Wiązka promieniowania jest skupiana na warstwie zapisu 3 przez dzielnik wiązki 6, soczewkę obiektywu 7 i podłoże 2. Nośnik zapisu może być alternatywnie podlegającym incydencji, wiązka promieniowania pada wtedy bezpośrednio na warstwę zapisu 3, bez przechodzenia przez podłoże. Promieniowanie odbite od nośnika 1 jest skupiane przez soczewkę obiektywu 7 i po przejściu przez dzielnik wiązki 6, pada na system detekcji 8, który konwertuje padające promieniowanie na sygnały detektora elektrycznego. Sygnały detektora są podawane do układu 9. Układ 9 wyprowadza kilka sygnałów z sygnałów detektora, takich jak sygnał SR reprezentujący informację odczytaną z nośnika zapisu 1. Źródło promieniowania 4, dzielnik wiązki 6, soczewka obiektywu 7, system detekcji 8 i układ 9 tworzą razem jednostkę czytającą 90.
Sygnał odczytu z układu 9 jest przetwarzany w pierwszym procesorze 10 dla wyprowadzenia z sygnału odczytu sygnałów reprezentujących parametr odczytu. Wyprowadzone sygnały są doprowadzone do drugiego procesora 101, a następnie trzeciego procesora 102, które to procesory przetwarzają serię wartości parametru odczytu i wyprowadzają z niego wartość sygnału sterowania mocą zapisu, niezbędną do sterowania poziomem mocy lasera.
Sygnał sterowania mocą zapisu jest doprowadzany do jednostki sterującej 12. Sygnał informacyjny 13 reprezentujący informację, która ma być zapisywana na nośniku zapisu 1, jest również doprowadzany do jednostki sterującej 12. Wyjście z jednostki sterującej 12 jest połączone ze źródłem promieniowania 4. Znacznik w warstwie zapisu 3 może być zapisywany przez pojedynczy impuls promieniowania, którego moc jest określana przez optymalny poziom mocy zapisu (Popt), jaki został określony przez procesor 102. Alternatywnie, znacznik może być również zapisywany jako ciąg impulsów promieniowania o równej lub różnej długości i jednym lub wielu poziomach określonych przez sygnał mocy zapisu.
Procesor jest tu rozumiany jako dowolny środek dogodny do przeprowadzenia obliczeń, na przykład mikroprocesor, procesor sygnałów cyfrowych, układ analogowy z wbudowanym konstrukcyjnie układem sterowania, lub układ programowalny przez użytkownika. Ponadto pierwszy procesor 10, drugi procesor 101 i trzeci procesor 102 mogą być oddzielnymi zespołami, lub alternatywnie, mogą być pomieszczone w jednym zespole wykonującym wszystkie trzy procesy.
Przed zapisaniem informacji na nośniku 1 urządzenie ustawia swoją moc zapisu (P) na wartość optymalną (Popt), przez zastosowanie sposobu zgodnie z wynalazkiem. Sposób ten został schematycznie przedstawiony za pomocą sieci działań na fig. 4.
W pierwszym etapie 41 urządzenie zapisuje ciąg wzorców testowych na nośniku zapisu 1. Wzorce testowe powinny być tak wybrane, aby zapewnić pożądany sygnał odczytu. Jeżeli parametr odczytu, który ma być wyprowadzony z sygnału odczytu, jest modulacją (M) fragmentów sygnału odczytu, które zawierają wzorzec testowy, to wzorzec testowy powinien zawierać znaczniki wystarczająco długie dla uzyskania maksymalnej modulacji fragmentów sygnału odczytu. Gdy informacja jest kodowana zgodnie z tak zwaną modulacją „8 na 14” (EFM), wzorce testowe korzystnie zawierają długie znaczniki I11 schematu modulacji. Gdy informacja jest kodowana zgodnie z modulacją EFM+, wzorce powinny zawierać długie znaczniki I14 schematu modulacji. Każdy wzorzec testowy jest zapisywany z różnym poziomem mocy zapisu (P). Zakres mocy może być wybrany na podstawie charakterystycznego poziomu mocy (Pind), zapisanego jako informacja sterująca na nośniku zapisu. Kolejne wzorce testowe mogą być zapisywane ze stopniowym wzrostem poziomu mocy zapisu (P) pod kontrolą jednostki sterującej 12. Wzorce testowe mogą być zapisywane gdziekolwiek na nośniku zapisu. Alternatywnie, mogą być one zapisywane w specjalnie do tego celu wyznaczonych obszarach na nośniku zapisu.
W drugim etapie 42, zapisane wzorce testowe są czytane przez jednostkę czytającą 90 tak, aby utworzyć sygnał odczytu SR. Na fig. 2 przedstawiono fragmenty sygnału odczytu 18 i 19 otrzymane z dwóch wzorców testowych, zapisanych dla dwóch różnych poziomów mocy zapisu. Przedstawione wzorce zawierają krótki znacznik, długi znacznik i krótki znacznik, oznaczone odpowiednio jako części sygnału 15, 16 i 17, zarówno we fragmencie sygnału odczytu 18, jak i we fragmencie sygnału odczytu 19. Rzeczywisty wzorzec może zawierać kilkaset znaczników o równej lub różnej długości.
W trzecim etapie 43, procesor 10 wyprowadza z sygnału odczytu SR parametr odczytu dla każdej porcji sygnału odczytu. Możliwym parametrem odczytu jest stosunek najniższego poziomu ampli6
PL 209 565 B1 tudy porcji sygnału odczytu (dla odczytu porcji sygnału 18 wskazany przez oznaczenie 'a' na fig. 2), do maksymalnego poziomu amplitudy tej samej porcji sygnału odczytu (oznaczonego jako 'b'). Korzystnym parametrem odczytu jest modulacja (M), będąca stosunkiem maksymalnej wartości amplitudy sygnału odczytu oznaczonej jako 'c', do maksymalnej amplitudy 'b' porcji sygnału odczytu.
W czwartym etapie 44, procesor 101 tworzy ciąg par wartości dla modulacji (M) wzorca pomnożonej przez moc zapisu (P), oraz mocy zapisu (P), dla której wzorzec był zapisany. Odpowiednie moce zapisu mogą być wzięte z wartości sygnału sterowania mocą zapisu, w czasie realizacji zapisu wzorców testowych, lub alternatywnie, z pomiaru mocy promieniowania.
Na fig. 3 przedstawiono schematycznie wynik przetworzonego sygnału odczytu uzyskanego dla wzorców testowych; każdy punkt 21 reprezentuje parę wartości, a mianowicie modulację (M) pomnożoną przez moc zapisu (P), oraz moc zapisu (P) wzorca testowego. Procesor 101 dopasowuje linię prostą 22 do pomierzonych wartości modulacji (M) pomnożonych przez moc zapisu (P), tzn. M · P. Dopasowanie może być realizowane za pomocą dobrze znanego algorytmu dopasowywania metodą najmniejszych kwadratów. Linia prosta 22 jest dopasowana do punktów 21 w założonym zakresie dopasowania 28 poziomów mocy zapisu. W tym przykładzie, zakres dopasowania rozciąga się wokół wartości Pind wskazującej na zakres dopasowania, a odczytanej z obszaru na nośniku zapisu. Dopasowana linia prosta 22 może być ekstrapolowana. Ekstrapolowana linia prosta jest reprezentowana na fig. 3 za pomocą linii przerywanej 24.
W piątym etapie 45, procesor 102 określa wyrażenie analityczne reprezentujące dopasowaną linię prostą. Wyrażenie to ma postać
P · M = a(P - β gdzie parametry α i β mają wartości wynikające z dopasowania. Wartość parametru zapisu β, określona w wyniku dopasowania, jest teraz wykorzystana przez procesor 102 do ustawiania optymalnej wartości (Popt) dla mocy zapisu (P). Realizowane jest to przez pomnożenie tej wartości parametru zapisu β przez wartość współczynnika mnożenia (K). Tak więc optymalna wartość (Popt) dla mocy zapisu jest określona przez
Popt = K · β
Współczynnik mnożenia (k) zależy od własności nośnika zapisu 1 i może być wstępnie zapisany w obszarze sterowania 32 nośnika zapisu 1. Jeżeli ma to miejsce, współczynnik mnożenia (k) jest odczytywany z nośnika zapisu 1 przez jednostkę czytającą 90.
Należy zauważyć, że wartość parametru zapisu β określona za pomocą dopasowania odpowiada wartości mocy zapisu (P), dla której ekstrapolowana linia prosta 24 przecina oś P 26. Wspomniana wartość mocy zapisu (P), a stąd parametru zapisu β, jest oznaczona na fig. 3 przez oznaczenie odsyłające 25.
Przykład procedury do ustawiania założonego zakresu dopasowania 28 poziomów mocy zapisu w sposób iteracyjny przedstawiono schematycznie za pomocą sieci działań na fig. 6. W etapie 60 wartość Pind wskazująca na zakres dopasowania jest odczytana z obszaru na nośniku zapisu 1. W etapie 611 początkowy zakres dopasowania jest ustawiony od 0,85 Pind do 1,15 Pind. W następnym etapie 621, pierwsza tymczasowa linia prosta jest dopasowana do punktów 21 w początkowym zakresie dopasowania. Na podstawie pierwszej tymczasowej linii prostej, w etapie 631, wyprowadzona jest pierwsza wartość dopasowania Pfit,1. W następnym kroku procedury iteracyjnej zakres dopasowania jest ustawiony w etapie 612 od 0,85 Pfit]1 do 1,15 Pfit]1. W etapie 622 ponownie dopasowana jest linia prosta do punktów 21 i na podstawie drugiej tymczasowej linii prostej wyprowadzona jest w etapie 632 druga wartość dopasowania Pfit,2. Następnie, w etapie 44, linia prosta 22 jest dopasowana do punktów 21 w założonym zakresie dopasowania 28 ustawionym od 0,85 Pfif]2 do 1,15 Pfit,2. Każda wartość dopasowania Pfit,N jest wyprowadzona z N-tej tymczasowej dopasowanej linii prostej. Dogodna wartość Pfit,N jest wyznaczana z zależności
PfiiN = (k · βΝ)/ρ gdzie parametr zapisu βΝ odpowiada wartości mocy zapisu (P), dla której ekstrapolowana N-ta tymczasowa linia prosta przecina oś P 26. Ponadto wartość dopasowania Pfit,N może być wyprowadzona nie tylko z N-tej tymczasowej linii prostej, ale również z wartości dopasowania w etapach wcześniejszych procedury iteracyjnej, tzn.
Pfit.N = f((k · βΝ Ip),Pind,Pfit.N-1,P fit.N-2,···)
PL 209 565 B1
Stwierdzono, że szczególnie korzystnymi wartościami dla Pfit,1 i Pfit,2 to Pfit,1 = (Pind + · β)/ρ)/2 oraz
Pfit,2 = (Pind,2 + (k · β2)/Ρ)/2
W powyż szym przykł adzie procedura iteracyjna skł ada się z trzech etapów iteracyjnych. Należ y jednak zauważyć, że może być zastosowana inna, dowolna liczba etapów iteracyjnych. Ponadto, zamiast stosowania określonej liczby etapów iteracyjnych, procedura iteracyjna może być kontynuowana aż do spełnienia kryterium stopu. Takim kryterium stopu może być, na przykład, mniejsza od założonej wartości zmiana Pfit w dwóch kolejnych krokach iteracyjnych.
Na fig. 7 przedstawiono schematycznie sieć działań drugiej wersji sposobu według wynalazku.
Zamiast dopasowywania jednej linii prostej w czwartym etapie 44 sposobu, dopasowywane są dwie linie proste. W etapie 441 dopasowywana jest pierwsza linia prosta, w pierwszym założonym zakresie dopasowania, a w etapie 442 dopasowywana jest druga linia prosta w drugim założonym zakresie dopasowania. Pierwszy zakres dopasowania rozciąga się wokół Pind-0,5 mW, a drugi zakres dopasowania rozciąga się wokół Pind+0,5 mW. Alternatywnie mogą być zastosowane inne zakresy. Pierwsza dopasowana linia prosta jest opisana za pomocą zależności P · M = α1,· (P - β1), a druga dopasowana linia prosta jest opisana za pomocą zależności P · M = α2, · (P - β2). W piątym etapie 45 sposobu, optymalna wartość (Popt) mocy zapisu jest zależna tak od wartości parametru zapisu β1, jak i wartości parametru zapisu β2. Na przykład Popt może być wyprowadzone ze średniej wartości parametrów zapisu β1 i β2, tzn.
Popt = K · (βι + ββ\2
Alternatywnie, Popt może być wyprowadzone z liniowej interpolacji między parametrami zapisu β1 i β2, z uwzględnieniem odpowiednich zakresów dopasowania.
Na fig. 5a przedstawiono wykonanie nośnika zapisu 1 wyposażonego w ścieżkę 30. Ścieżka ma kształt kolisty lub spiralny i ma formę wytłaczanych rowków lub występów. Obszar nośnika zapisu jest podzielony na obszar zapisu informacji 31 do zapisywania informacji użytkownika i obszar sterowania 32 do przechowywania informacji odnoszącej się do zapisywania, odczytywania i usuwania informacji na nośniku zapisu i zasadniczo nie jest przeznaczony do zapisywania informacji użytkownika. Obszar sterowania 32 jest oznaczony na fig. 5 za pomocą linii przerywanej. Obszar zapisu informacji 31 jest takiego typu, który podlega zmianie w odniesieniu do optycznie wykrywalnych własności, gdy jest on wystawiony na promieniowanie przekraczające szczególny poziom mocy zapisu. Informacja na nośniku zapisu jest reprezentowana za pomocą wzorców znaczników.
Informacja jest zapisywana na ścieżce 30, w obszarze zapisu informacji 31 za pomocą procesu zapisu, w którym każdy znacznik jest formowany przez jeden lub więcej impulsów zapisu o stałej lub zmiennej mocy zapisu, na przykład w zależności od długości znaczników, które mają być zapisane. Parametry zapisu, dla tego procesu zapisu, są zapamiętane w obszarze sterowania 32 w postaci wzorców znaczników 34 reprezentujących informacje sterującą wskazującą na proces zapisu. Na fig. 5b przedstawiono silnie powiększoną porcję 33 ścieżki 30 zawierającej przykład wzorca znaczników 34, w których zakodowana jest informacja sterująca.
Wartość współczynnika mnożenia (K) i wartość wskazująca na zakres dopasowania Pind są zapamiętane jako wzorce znaczników reprezentujące informację sterującą w obszarze sterowania 32 nośnika zapisu 1. Gdy wytłaczany jest obszar sterowania 32, producent nośnika musi wstępnie zapisać w czasie produkcji wartości K i Pind. Alternatywnie, użytkownik może zapisać wartość K na nośniku zapisu, na przykład w czasie inicjalizacji nośnika zapisu.
Alternatywnie może być użyty nośnik zapisu wyposażony w informację sterującą w inny sposób. Takim alternatywnym nośnikiem zapisu jest, na przykład, nośnik zapisu mający informację sterującą wskazująca na proces zapisu kodowany za pomocą okresowej modulacji wytłoczonego rowka (znanego jako wychylenie). Teraz wartości współczynnika mnożenia (K) i wartości wskazującej na zakres dopasowania Pind są kodowane na sygnał pomocniczy, który jest na przykład użyty do modulacji częstotliwościowej wychylenia.
Należy zauważyć, że wspomniane powyżej wersje i wykonania ilustrują, a nie ograniczają zakres wynalazku i znawcy tematyki będą mogli zaprojektować inne warianty bez odejścia od zakresu dołączonych zastrzeżeń. Na przykład, wynalazek może być objaśniony na podstawie wykonania wy8
PL 209 565 B1 korzystującego modulację sygnału odczytu (M) jako parametr odczytu i nośnik zapisu w kształcie dysku. Jednak będzie oczywiste dla znawców tematyki, że można zastosować inne parametry odczytu i inne kształty nośnika zapisu. Jako parametr odczytu można, na przykład, wykorzystać fluktuacje sygnału odczytu. Ponadto, każde oznaczenie odsyłające zawarte w nawiasach w zastrzeżeniach nie może być interpretowane jako ograniczające zastrzeżenie. Słowo „zawiera” i jego odmiany nie wykluczają istnienia etapów lub elementów innych niż te wyszczególnione w zastrzeżeniach.

Claims (9)

1. Sposób wyznaczania optymalnej wartości (Popt) poziomu mocy zapisu (P) wiązki promieniowania, który to sposób jest przeznaczony do wykorzystania w optycznym urządzeniu zapisującym do zapisywania informacji na optycznym nośniku zapisu (1) za pomocą wiązki promieniowania (5), który to sposób obejmuje
- pierwszy etap (41), w którym dokonuje się zapisu serii wzorców testowych na nośniku zapisu, przy czym każdy wzorzec jest zapisywany z inną wartością mocy zapisu (P) wiązki promieniowania,
- drugi etap (42), w którym odczytuje się wzorce w celu wygenerowania odpowiednich fragmentów sygnału odczytu (18, 19),
- trzeci etap (43), w którym wyprowadza się wartość parametru odczytu (M) z każdego fragmentu sygnału odczytu (18, 19),
- czwarty etap (44), w którym dopasowuje się za pomocą krzywej funkcję, określającą zależność pomiędzy parametrem odczytu i poziomem mocy zapisu (P), do wartości parametru odczytu (M) i wartości poziomu mocy zapisu (P),
- piąty etap (45), w którym z funkcji dopasowanej krzywą wyznacza się parametr zapisu (β),
- szósty etap, w którym wyznacza się wartość optymalną (Popt) poziomu mocy zapisu (P), znamienny tym, że w czwartym etapie (44) dopasowywana jest do wartości parametru odczytu i do wartości poziomu mocy zapisu (P) funkcja reprezentowana zasadniczo linią prostą, i w piątym etapie (45) parametr zapisu (β) jest ustawiany w zależności od właściwości dopasowanej linii prostej (22), oraz w szóstym etapie wartość optymalna (Popt) poziomu mocy zapisu (P) jest wyznaczana poprzez pomnożenie wyznaczonego parametru zapisu (β) przez współczynnik mnożenia (k).
2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że parametr odczytu jest modulacją (M) amplitudy sygnału odczytu wyznaczonego z informacji zapisanej na nośniku zapisu.
3. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że dopasowywana linia prosta (22) jest postaci P M = α · (P - β), gdzie α i β mają wartości wynikające z dopasowania.
4. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że dopasowywanie linii prostej (22) w etapie czwartym jest wykonywane w określonym z góry przedziale (28) poziomów mocy zapisu.
5. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że określony z góry przedział dopasowania poziomów mocy zapisu znajduje się pomiędzy Pindw1 i Pindw2 gdzie Pind jest wartością odczytaną z obszaru na nośniku zapisu, który zawiera informacje sterujące przeznaczone dla procesu zapisu, i gdzie ω1 oraz ω2 są wartościami określonymi z góry.
6. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że sposób obejmuje ponadto etap dopasowywania tymczasowej linii prostej, i tym, że określony z góry przedział dopasowania poziomów mocy zapisu znajduje się pomiędzy Pfitw1 i Pfitoi2, gdzie Pfit jest wartością wyprowadzoną z tymczasowej dopasowanej linii prostej, i gdzie ω1 oraz ω2 są wartościami określonymi z góry.
7. Sposób według zastrz. 5 albo 6, znamienny tym, że ω1 ma wartość zasadniczo równą 0,85, a ω2 ma wartość zasadniczo równą 1,15.
8. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że sposób obejmuje ponadto etap dopasowywania co najmniej drugiej linii prostej, w co najmniej drugim przedziale dopasowania poziomów mocy, i tym, że w piątym etapie wartość optymalna parametru zapisu jest ustawiana w zależności od właściwości każdej z dopasowanych linii prostych.
9. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że współczynnik mnożenia (k) jest odczytywany z obszaru (32) na nośniku zapisu, który zawiera informację sterującą przeznaczoną dla procesu zapisu, za pomocą którego informacja może zostać zapisana na nośniku zapisu.
PL360650A 2000-11-17 2001-11-12 Sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania PL209565B1 (pl)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP00204046 2000-11-17
EP00125983 2000-11-28
PCT/EP2001/013159 WO2002041306A1 (en) 2000-11-17 2001-11-12 Methods, optical recording apparatus using such methods and optical recording medium for use by the methods and the apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL360650A1 PL360650A1 (pl) 2004-09-20
PL209565B1 true PL209565B1 (pl) 2011-09-30

Family

ID=26071617

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL360650A PL209565B1 (pl) 2000-11-17 2001-11-12 Sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania

Country Status (31)

Country Link
US (1) US7110336B2 (pl)
EP (1) EP1338007B1 (pl)
JP (1) JP4263480B2 (pl)
KR (1) KR100922708B1 (pl)
CN (2) CN1794347A (pl)
AR (1) AR032774A1 (pl)
AT (1) ATE435484T1 (pl)
AU (2) AU2002221849B2 (pl)
BG (1) BG65343B1 (pl)
BR (1) BR0107658B1 (pl)
CA (1) CA2406728C (pl)
CZ (1) CZ304715B6 (pl)
DE (1) DE60139143D1 (pl)
DK (1) DK1338007T3 (pl)
EA (1) EA010523B1 (pl)
EE (1) EE05252B1 (pl)
EG (1) EG23007A (pl)
ES (1) ES2328905T3 (pl)
HU (1) HU230704B1 (pl)
IL (2) IL150735A0 (pl)
MX (1) MXPA02006982A (pl)
MY (1) MY131219A (pl)
NO (1) NO20023412L (pl)
PL (1) PL209565B1 (pl)
PT (1) PT1338007E (pl)
SI (1) SI1338007T1 (pl)
SK (1) SK287427B6 (pl)
TW (1) TWI249736B (pl)
UA (1) UA82174C2 (pl)
WO (1) WO2002041306A1 (pl)
ZA (1) ZA200205675B (pl)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2003216646A1 (en) * 2002-04-23 2003-11-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device for recording data on a medium, method implemented in such a device and recording medium obtained from said device.
US8018817B2 (en) * 2002-05-20 2011-09-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of recording erase pattern information on an optical recording medium, erasing information on the optical recording medium based on the erase pattern information, and optical recording medium therefor
US7369470B2 (en) * 2002-05-20 2008-05-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of recording erase pattern information on an optical recording medium, erasing information on the optical recording medium based on the erase pattern information, and optical recording medium therefor
US7123562B2 (en) * 2002-06-20 2006-10-17 Koninklijke Philips Electronics N. V. Method and device for determining a set of recording pulse series parameters for optical carrier recording and optical record carrier
JP2006519457A (ja) * 2003-03-05 2006-08-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 光媒体における情報書き込み/消去用パワーパラメータを決定する装置及び方法
JP2005216347A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Sony Corp 記録パルス最適化方法
AU2005302106A1 (en) 2004-11-04 2006-05-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method, optical recording apparatus using such method and optical recording medium for use by the method and the apparatus
EP1831882B1 (en) 2004-12-23 2008-10-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. A method for selecting an optimum writing parameter of an optical recording apparatus
WO2006077513A1 (en) 2005-01-18 2006-07-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method and apparatus for selecting an optimum write parameter, and optical recording medium for use by said method and apparatus
KR20070003511A (ko) * 2005-06-30 2007-01-05 엘지전자 주식회사 기록매체 및 기록매체 기록/재생방법 및 장치
US20080225777A1 (en) * 2005-11-04 2008-09-18 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Method and Device for Controlling Write Power in a Recordable Optical Storage System

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3124720B2 (ja) 1995-04-14 2001-01-15 株式会社リコー 情報記録再生方法、情報記録再生装置及び情報記録媒体
CH649797A5 (de) * 1980-09-09 1985-06-14 Canron Inc Crissier Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der bei gleiskorrekturarbeiten ausgefuehrten gesamtverstellung des gleises.
US5418764A (en) * 1988-01-22 1995-05-23 U.S. Philips Corporation Recording device, a record carrier having preformatted address codes and auxiliary codes providing control data for use by the recording device, and an information recording system including both the recording device and the record carrier
NL9000328A (nl) * 1989-06-23 1991-01-16 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het aanbrengen van informatiepatronen op een registratiedrager.
EP0397238B1 (en) 1989-05-08 1995-11-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Information recording system, and recording device and record carrier for use in such an information recording system
US5303217A (en) * 1989-06-23 1994-04-12 U.S. Philips Corporation Optical recording device wherein recording beam intensity is set in accordance with an optimum value of the DC component of a recorded signal
US5185733A (en) * 1990-03-01 1993-02-09 International Business Machines Corporation Calibrating lasers for optical recording using a maximal readback signal amplitude as a criterion
US5341360A (en) * 1992-06-05 1994-08-23 Maxoptix Corporation Method and apparatus for calibrating laser write power by averaging upper and lower knees of a calibration profile
JP3254120B2 (ja) * 1996-01-22 2002-02-04 株式会社リコー 光ディスク装置
US5793737A (en) * 1996-12-06 1998-08-11 U.S. Philips Corporation Method and apparatus for writing optical recording media with optimum value of write power
US6134209A (en) * 1996-12-06 2000-10-17 U.S. Philips Corporation Producing optical recording using optimum write power
KR100557275B1 (ko) * 1996-12-06 2006-05-23 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 광기록매체
WO1998025266A1 (en) * 1996-12-06 1998-06-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optical recording medium
TW358935B (en) * 1996-12-06 1999-05-21 Philips Electronics Nv Method and apparatus for writing optical recording media
RU2214629C2 (ru) * 1996-12-24 2003-10-20 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Способ оптической записи и устройство, использующее этот способ

Also Published As

Publication number Publication date
US7110336B2 (en) 2006-09-19
CN1416566A (zh) 2003-05-07
UA82174C2 (uk) 2008-03-25
AU2184902A (en) 2002-05-27
CN1794347A (zh) 2006-06-28
DK1338007T3 (da) 2009-11-02
CZ304715B6 (cs) 2014-09-10
BG106913A (en) 2003-03-31
KR20020070481A (ko) 2002-09-09
ATE435484T1 (de) 2009-07-15
BG65343B1 (bg) 2008-02-29
KR100922708B1 (ko) 2009-10-22
BR0107658A (pt) 2002-11-19
IL150735A0 (en) 2003-02-12
HU230704B1 (hu) 2017-10-30
ZA200205675B (en) 2003-11-06
MXPA02006982A (es) 2004-09-06
EP1338007B1 (en) 2009-07-01
AU2002221849B2 (en) 2006-12-07
SK10422002A3 (sk) 2002-12-03
DE60139143D1 (de) 2009-08-13
CA2406728C (en) 2013-04-02
NO20023412D0 (no) 2002-07-15
HUP0204230A2 (en) 2003-04-28
JP4263480B2 (ja) 2009-05-13
CZ20022449A3 (cs) 2002-11-13
CA2406728A1 (en) 2002-05-23
EE200200396A (et) 2003-12-15
IL150735A (en) 2010-06-30
CN1294576C (zh) 2007-01-10
NO20023412L (no) 2002-09-17
US20020114235A1 (en) 2002-08-22
BR0107658B1 (pt) 2014-08-12
MY131219A (en) 2007-07-31
SI1338007T1 (sl) 2009-12-31
PT1338007E (pt) 2009-10-01
SK287427B6 (sk) 2010-09-07
EA200300582A1 (ru) 2003-10-30
ES2328905T3 (es) 2009-11-19
AR032774A1 (es) 2003-11-26
PL360650A1 (pl) 2004-09-20
EA010523B1 (ru) 2008-10-30
TWI249736B (en) 2006-02-21
EE05252B1 (et) 2009-12-15
EP1338007A1 (en) 2003-08-27
EG23007A (en) 2003-12-31
JP2004514233A (ja) 2004-05-13
WO2002041306A1 (en) 2002-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5793737A (en) Method and apparatus for writing optical recording media with optimum value of write power
US20020085462A1 (en) Method and optical recording apparatus for determining the optimum write power
EP0888614B1 (en) Optical recording medium
PL209565B1 (pl) Sposób wyznaczania optymalnej wartości poziomu mocy zapisu wiązki promieniowania
US6842413B2 (en) Method of calculating write condition detection index and optical disk writing method and apparatus using the method
US6134209A (en) Producing optical recording using optimum write power
CA2322589C (en) Methods of determining the optimal erase and write power, and recording apparatus with devices for said methods
KR100281370B1 (ko) 기록 캐리어에 신호를 기록하는 방법 및 기록장치
AU2002221849A1 (en) Methods, optical recording apparatus using such methods and optical recording medium for use by the methods and the apparatus
JP3916675B2 (ja) 光学的記録方法及び該方法を使用する装置
KR100516813B1 (ko) 광기록매체의기록방법및장치
US20050195724A1 (en) Optical disk device
US20020031068A1 (en) Method and apparatus for writing optical recording media
WO2004114291A1 (en) Method and apparatus for determining the optimal laser power in recordable optical storage systems
EP0916132A2 (en) Method and apparatus for writing optical recording media
AU2007200747A1 (en) Methods, optical recording apparatus using such methods and optical recording medium for use by the methods and the apparatus
JP2009515283A (ja) レコーダブル光記憶システムにおいて書込みパワーを制御する方法及び装置